JP6961784B1 - パワー半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】配線の低インダクタンス化と、リードパッケージと基板との位置決め性の向上と、を両立させたパワー半導体装置を提供する。【解決手段】パワー半導体装置は、一対の導体部と前記一対の導体部の間に挟まれるパワー半導体素子とを有する回路体と、貫通孔が形成された基板と、前記回路体と前記基板とのそれぞれ少なくとも一部を封止する封止材と、を備え、前記回路体は、前記貫通孔に挿入されるともに、前記封止材から露出する第1露出面及び第2露出面を有し、前記基板は、前記貫通孔内において、前記貫通孔の中心に向かって突出しかつ前記回路体と接続する第1突出部及び第2突出部を有し、前記第1突出部と前記第2突出部は、前記貫通孔内で互いに対向する位置に形成され、前記第1突出部と前記第2突出部の少なくとも一方が、前記パワー半導体素子に電力を伝達する端子である。【選択図】図10

Description

本発明は、パワー半導体装置に関する。
モータ・インバータ一体型のパワー半導体装置において、製造過程での小型・低背化要求が厳しくなってきている。そのため、こうした要求に応えつつ生産性の高い装置の実現に向けて、日々技術改善が成されている。
本願発明の背景技術として、下記の特許文献1では、スプレッダ(リード)伝熱部を基板の貫通孔に挿入し、スプレッダの張り出し部を基板表面に接続することで、ハンダ層の厚みをなるべく一定にさせて、基板の反対側の面からの電気伝導部の突出量をより安定化させる技術が開示されている。
特許第5445562号
特許文献1の構成では、基板内部の配線を迂回し、表面で配線する必要があり、配線が伸びてインダクタンスが増加する課題があった。以上を鑑みて、本発明は、配線の低インダクタンス化と、リードパッケージと基板との位置決め性の向上と、を両立させたパワー半導体装置を提供することが目的である。
本発明のパワー半導体装置は、一対の導体部と前記一対の導体部の間に挟まれるパワー半導体素子とを有する回路体と、貫通孔が形成された基板と、前記回路体と前記基板とのそれぞれ少なくとも一部を封止する封止材と、を備え、前記回路体は、前記貫通孔に挿入されるともに、前記封止材から露出する第1露出面及び第2露出面を有し、前記基板は、前記貫通孔内において、前記貫通孔の中心に向かって突出しかつ前記回路体と接続する第1突出部及び第2突出部を有し、前記第1突出部と前記第2突出部は、前記貫通孔内で互いに対向する位置に形成され、前記第1突出部と前記第2突出部の少なくとも一方が、前記パワー半導体素子に電力を伝達する端子であって、前記基板に内蔵される交流配線と前記第2突出部とは、前記基板内で互いに対向して配置される。
本発明によれば、配線の低インダクタンス化と、リードパッケージと基板との位置決め性の向上と、を両立させたパワー半導体装置を提供できる。
インバータ全体の斜視図。 インバータの蓋体解放後の全体斜視図。 インバータの蓋体解放後のA−A断面のカット斜視図。 図3の断面図。 主回路ユニットと冷却水路の展開図。 主回路ユニットの斜視図。 主回路ユニットの封止樹脂を省略した斜視図。 本発明の一実施形態に係る、主回路ユニットの封止樹脂を省略したカット斜視図。 本発明の一実施形態に係る、リードパッケージの展開斜視図。 図8のC−C断面図。 図6のB−B断面図。 本発明の一実施形態に係る、スイッチング過渡電流を示す図6のB−B断面図。 インバータの電気回路図。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下の記載および図面は、本発明を説明するための例示であって、説明の明確化のため、適宜、省略および簡略化がなされている。本発明は、他の種々の形態でも実施する事が可能である。特に限定しない限り、各構成要素は単数でも複数でも構わない。
図面において示す各構成要素の位置、大きさ、形状、範囲などは、発明の理解を容易にするため、実際の位置、大きさ、形状、範囲などを表していない場合がある。このため、本発明は、必ずしも、図面に開示された位置、大きさ、形状、範囲などに限定されない。
(一実施形態および全体構成)
図1は、インバータ全体の斜視図である。
インバータ100は、冷却水路及び構成部品が筐体1に内蔵され、蓋体2によって内蔵部品が封止されている。筐体1から外部に交流コネクタ3と直流コネクタ4が突出し、さらに信号コネクタ5が出力されている。
図2は、インバータの蓋体解放後の全体斜視図である。A−A断線は図3および図4で用いる。
インバータ100の筐体内には、モータ制御基板6、ゲートドライブ基板7、平滑キャパシタ8、EMCフィルタ9、冷却水路10、主回路ユニット11、プリント基板主回路25(図6参照)、が配置されている。モータ制御基板6は、ゲートドライブ基板7と冷却水路10及び主回路ユニット11を覆うように図2の上方に搭載されている。モータ制御基板6の上には、信号コネクタ5が搭載されており、蓋体2(図1)を貫通して外部に出力されている。
図3は、インバータの蓋体解放後のA−A断面のカット斜視図であり、図4は、図2のA−A断面図である。
ゲートドライブ基板7上には、基板接合ピン12が搭載されており、主回路ユニット11が有する基板接合スル―ホール(図6参照)と、はんだ等の接合材料によって電気的に接続されている。図4では、主回路ユニット11が冷却水路10の間にはさまれていることがわかる。
図5は、主回路ユニットと冷却水路の展開図である。
主回路ユニット11は、冷却水路10で挟まれて固定されている。この構造により、冷却水路10は、主回路ユニット11内の複数のリードパッケージに搭載されたパワー半導体素子と、各部主回路配線と、を冷却している。
図6は、主回路ユニットの斜視図、図7は、主回路ユニットの封止樹脂を省略した斜視図である。
主回路ユニット11は、プリント基板主回路25上に、複数のリードパッケージ26を搭載しており、これら全体は封止樹脂13でモールドされている。プリント基板主回路25上には、交流接続部20と直流接続部21が形成されており、それぞれ、ねじ締結によって交流バスバーや直流バスバー(ともに図示なし)と電気接続されている。
また、基板接合スル―ホール22やキャパシタ接合スルーホール23は、ゲートドライブ基板や平滑キャパシタ(図2および図3参照)がそれぞれプリント基板主回路25上で、はんだ等の接合材料によって電気的に接続されるために設けられている。固定穴24は、図5に記載の冷却水路との接続のために設けられている。
図8は、本発明の一実施形態に係る、主回路ユニットの封止樹脂を省略したカット斜視図である。C―C断線は、図10で用いる。
リードパッケージ26である、ダイオードリードパッケージ26DとIGBTリードパッケージ26Tは、プリント基板主回路25に形成された貫通孔27に挿入され、それぞれの接続端子がプリント基板主回路25の該当する接続部(図10で後述)に、はんだ等によって電気的に接続される。
リードパッケージ26の第1リードフレーム32と第2リードフレーム33(IGBTリードパッケージ26Tとダイオードリードパッケージ26Dに共通)は、IGBTあるいはダイオード素子の両面の電極を挟み込むようにして、電気的に接合されている。
第1リードフレーム32に設けられた第1接続部30は、貫通孔27内部に設けられた第1突出部と第2突出部(後述)に電気的に接合されている。第2リードフレーム33に設けられた第2接続部31は、プリント基板主回路25の表面配線と接続され、主回路配線を形成している。スナバキャパシタ(スナバコンデンサ)40は、プリント基板主回路25上に設けられた、正極配線と負極配線(後述)に接続され、スイッチング時の過渡電流を供給している。
図9は、本発明の一実施形態に係る、リードパッケージの展開斜視図である。
図9のダイオードリードパッケージ26DとIGBTリードパッケージ26Tは、それぞれ図8のダイオードリードパッケージ26DとIGBTリードパッケージ26Tを、紙面奥側から見て展開した図である。
ダイオードリードパッケージ26Dにはダイオード36が、IGBTリードパッケージ26TにはIGBT35が、それぞれ第1リードフレーム32と第2リードフレーム33との間に挟まれている。第1リードフレーム32には、第1接続部30が第1リードフレーム32の両端に互いに対向する位置で設けられている。第2リードフレーム33には、第2接続部31が図9の下側に向かって突出するような形状で設けられている。
ダイオードリードパッケージ26Dでの第1リードフレーム32上、および、IGBTリードパッケージ26Tでの第2リードフレーム33上、には、第1リードフレーム32と第2リードフレーム33との間に挟む素子の表面電極と絶縁距離を取りつつ接続するための、台座電極34が設けられている。
図10は、図8のC−C断面図である。
一対の導体である第1リードフレーム32と第2リードフレーム33と、その間に挟まれるパワー半導体素子であるIGBT35またはダイオード36によって、回路体が形成されている。プリント基板主回路25において、第1突出部28及び第2突出部29は、各回路体が挿入される貫通孔27の中心に向かって突出し、かつ貫通孔内27で互いに対向する位置にそれぞれ形成されている。また、第2突出部29は、直流正極配線62、直流負極配線63と電気的に接続されている端子である。
第1リードフレーム32の第1接続部30と、貫通孔27内の第1突出部28及び第2突出部29とが、はんだ等によって電気的に接続される。また、第2リードフレーム33の第2接続部31と基板表面配線50とが、はんだ等によって電気的に接続される。また、IGBT35の信号パッド(図示せず)は、プリント基板主回路25の表面に形成された信号用配線に、ワイヤボンディング等で電気的に接続される。
図11は、図6のB−B断面図である。
図10で、リードパッケージ26とプリント基板主回路25との接続が完了した後、リードパッケージ26とプリント基板主回路25は、封止樹脂13で全体が覆われて固定される。このとき、各はんだ接合部は、封止樹脂13で固定されて、クラックなどの疲労破壊に対しての耐量が確保される。なお、封止樹脂13を用いず、基板に回路体を設置した状態で上下からの部品による挟み固定やねじ止め等で固定してもよい。これにより封止樹脂13でモールドする過程を省略できる。
封止樹脂13による封止後、封止樹脂13表面から各リードフレーム32および33の放熱面である第1露出面51及び第2露出面52が形成される。IGBT及びダイオードの発熱は、絶縁層を介して、第1露出面51及び第2露出面52から冷却水路に放熱される。
この構成と接続により、回路体と基板全体をトランスファーモールドする際のチップ破壊や、放熱面の樹脂被りの原因となる設置時のリードパッケージ26の傾きを改善して位置決め性を向上させ、さらに基板に設けられた突出部とリードフレームとの接続によって配線長を短くしたため低インダクタンス化させている。
図12は、本発明の一実施形態に係る、スイッチング過渡電流を示す図6のB−B断面図である。
スイッチング時には、スナバキャパシタ40(図12では図示せず)から過渡電流65が供給され、このスイッチング過渡電流65は、プリント基板主回路25上の直流正極配線62から第2突出部29を介して上下アーム回路のそれぞれのリードパッケージ26Dおよび26Tと、交流配線64と、を介し、もう一方の第2突出部と接続している直流負極配線63に向かって一周するように流れる。
ここで、図10に示したように、回路体の一部を構成する第2リードフレーム33と、貫通孔27に形成された第2突出部29とは、プリント基板主回路25を間に挟んで対向する位置に形成されている。また、基板に内蔵される交流配線64と、第2突出部29は、基板内部で対向して配置されている。これらの配置により、互いに逆向きの電流経路になることで磁界が相殺される構造になっており、ノイズの影響を低減できる。
図13は、インバータの電気回路図(等価回路)である。
等価回路図には、スナバキャパシタ40から供給されているスイッチング時の過渡電流65の経路が示されている。
以上説明した本発明の一実施形態によれば、以下の作用効果を奏する。
(1)パワー半導体装置である主回路ユニット11は、一対の導体部である第1リードフレーム32および第2リードフレーム33と、第1リードフレーム32と第2リードフレーム33の間に挟まれるパワー半導体素子(IGBT35、ダイオード36)とを有する回路体と、貫通孔27が形成されたプリント基板主回路25と、回路体とプリント基板主回路25とのそれぞれ少なくとも一部を封止する封止樹脂13と、を備える。回路体は、貫通孔27に挿入されるともに、封止樹脂13から露出する第1露出面51及び第2露出面52を有する。プリント基板主回路25は、貫通孔27内において、貫通孔27の中心に向かって突出しかつ回路体と接続する第1突出部28及び第2突出部29を有する。第1突出部28と第2突出部29は、貫通孔27内で互いに対向する位置に形成され、第1突出部28と第2突出部29の少なくとも一方が、パワー半導体素子に電力を伝達する端子である。このようにしたことで、配線の低インダクタンス化と、リードパッケージと基板との位置決め性の向上と、を両立させたパワー半導体装置を提供できる。
(2)第2リードフレーム33と、貫通孔27に形成された第2突出部29は、プリント基板主回路25を間に挟んで対向する位置に形成されている。このようにしたことで、逆向きの電流経路による磁界の相殺構造によって、ノイズの影響を低減できる。
(3)プリント基板主回路25に内蔵される交流配線64と、第2突出部29は、プリント基板主回路25内で対向して配置される。このようにしたことで、ノイズの影響を低減できる。
(4)パワー半導体装置である主回路ユニット11は、一対の導体部である第1リードフレーム32および第2リードフレーム33と、である第1リードフレーム32と第2リードフレーム33の間に挟まれるパワー半導体素子(IGBT35、ダイオード36)とを有する回路体と、貫通孔27が形成されたプリント基板主回路25と、を備え、封止樹脂13を備えなくてもよい。この場合でも、回路体は、貫通孔27に挿入され、プリント基板主回路25は、貫通孔27内において、貫通孔27の中心に向かって突出しかつ回路体と接続する第1突出部28及び第2突出部29を有し、第1突出部28と第2突出部29は、貫通孔27内で互いに対向する位置に形成され、第1突出部28と第2突出部29の少なくとも一方が、パワー半導体素子に電力を伝達する端子である。このようにすれば、封止樹脂なしで位置決め性を向上させたパワー半導体装置を提供できる。
なお、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内で様々な変形や他の構成を組み合わせることができる。また本発明は、上記の実施形態で説明した全ての構成を備えるものに限定されず、その構成の一部を削除したものも含まれる。
1…筐体
2…蓋体
3…交流コネクタ
4…直流コネクタ
5…信号コネクタ
6…モータ制御基板
7…ゲートドライブ基板
8…平滑キャパシタ
9…EMCフィルタ
10…冷却水路
11…主回路ユニット
12…基板接合ピン
13…封止樹脂
20…交流接続部
21…直流接続部
22…基板接合スルーホール
23…キャパシタ接合スル―ホール
24…固定穴
25…プリント基板主回路
26…リードパッケージ
26D…ダイオードリードパッケージ
26T…IGBTリードパッケージ
27…貫通孔
28…第1突出部
29…第2突出部
30…第1接続部
31…第2接続部
32…第1リードフレーム
33…第2リードフレーム
34…台座電極
35…IGBT
36…ダイオード
40…スナバキャパシタ(スナバコンデンサ)
41…IGBT素子
42…ダイオード素子
50…基板表面配線
51…第1露出面
52…第2露出面
61…配線インダクタンス
62…直流正極配線
63…直流負極配線
64…交流配線
65…スイッチング過渡電流
100…インバータ

Claims (3)

  1. 一対の導体部と前記一対の導体部の間に挟まれるパワー半導体素子とを有する回路体と、
    貫通孔が形成された基板と、
    前記回路体と前記基板とのそれぞれ少なくとも一部を封止する封止材と、を備え、
    前記回路体は、前記貫通孔に挿入されるともに、前記封止材から露出する第1露出面及び第2露出面を有し、
    前記基板は、前記貫通孔内において、前記貫通孔の中心に向かって突出しかつ前記回路体と接続する第1突出部及び第2突出部を有し、
    前記第1突出部と前記第2突出部は、前記貫通孔内で互いに対向する位置に形成され、前記第1突出部と前記第2突出部の少なくとも一方が、前記パワー半導体素子に電力を伝達する端子であって、
    前記基板に内蔵される交流配線と前記第2突出部とは、前記基板内で互いに対向して配置される
    パワー半導体装置。
  2. 請求項1に記載のパワー半導体装置であって、
    前記導体部と、前記貫通孔に形成された前記第2突出部は、前記基板を間に挟んで対向する位置に形成されている
    パワー半導体装置。
  3. 一対の導体部と前記一対の導体部の間に挟まれるパワー半導体素子とを有する回路体と、
    貫通孔が形成された基板と、を備え、
    前記回路体は、前記貫通孔に挿入され、
    前記基板は、前記貫通孔内において、前記貫通孔の中心に向かって突出しかつ前記回路体と接続する第1突出部及び第2突出部を有し、
    前記第1突出部と前記第2突出部は、前記貫通孔内で互いに対向する位置に形成され、前記第1突出部と前記第2突出部の少なくとも一方が、前記パワー半導体素子に電力を伝達する端子であって、
    前記基板に内蔵される交流配線と前記第2突出部とは、前記基板内で互いに対向して配置される
    パワー半導体装置。
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