JPH08292206A - 物理量検出装置 - Google Patents

物理量検出装置

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JPH08292206A
JPH08292206A JP7098846A JP9884695A JPH08292206A JP H08292206 A JPH08292206 A JP H08292206A JP 7098846 A JP7098846 A JP 7098846A JP 9884695 A JP9884695 A JP 9884695A JP H08292206 A JPH08292206 A JP H08292206A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高集積化が可能で調整の簡単な物理量検出装
置を提供する。 【構成】 可動部を有し、該可動部の変位に応じた電圧
信号Vinを出力すると共に、制御電圧V1,V2により
可動部の位置制御が可能なセンサエレメント16と、電
圧信号Vinを数値化しデジタルデータDaにして出力す
るA/D変換器20と、デジタルデータDaに基づき可
動部の位置を制御するための制御量Doを設定し、該制
御量Doに従って生成されるパルス幅変調信号PTによ
り、スイッチング回路18を介して制御電圧V1,V2
を発生させ、センサエレメント16の可動部を位置制御
する制御回路22と、を備える。センサエレメント16
以外は全てデジタル回路にて構成されるため、高集積化
が可能であり、また電圧信号Vinを数値化し、デジタル
値の演算処理により制御量Doを求めているため、オフ
セットや感度の調整も演算処理により簡単にできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、所定の物理量に応じた
電気信号を出力するセンサエレメントを、所定の出力と
なるように制御し、その制御量を検出出力とする物理量
検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来よりこの種の物理量検出装置とし
て、半導体基板上に梁構造を有する可動部を形成してな
るセンサエレメントを備え、これと同一基板上に、セン
サエレメントに加えられる加速度に対して可動部が変位
しないように制御して、その制御信号を加速度に応じた
検出信号として出力する制御回路を一体化した加速度セ
ンサが知られている。
【0003】そして、このような加速度センサでは、通
常、センサエレメントの可動部に可動電極,基板上の可
動電極近傍の両側に固定電極が配設され、センサエレメ
ントに加速度が作用して可動部が変位した時に、可動電
極と各固定電極とで形成される2つの可変容量コンデン
サの静電容量が変化することを利用して可動部の変位が
検出されると共に、可動電極及び固定電極間に電圧印加
すると電極間に生じる静電気力により可動部の位置が制
御される。
【0004】このようなセンサエレメントを有する加速
度センサの制御回路として、例えば、特表平4−504
003号公報には、互いに位相が反転した搬送波を各固
定電極に印加する信号源と、これにより中心電極に表れ
る2つの搬送波の合成信号を復調して静電容量差(即
ち、可動部の変位量)に応じた電圧信号を出力する復調
器とを備えたものが開示されている。即ち、各固定電極
に印加された搬送波は、各固定電極が夫々可動電極と構
成する可変容量コンデンサの静電容量に応じて位相変調
され、更に可動電極にて合成される。そして、この合成
信号は、各コンデンサの静電容量差に応じて振幅及び位
相が変調されているため、この合成信号を復調すること
により、静電容量差、延いては、可動部の変位に応じた
電圧信号が得られることになる。
【0005】そして、この装置では、更に、各固定電極
の一方には正のバイアス電圧が、他方には負のバイアス
電圧が印加されると共に、可動電極には復調器の出力電
圧が印加されており、出力電圧に応じて、可動電極の電
位を変化させることにより、可動電極と各固定電極との
間の電位差を変化させ、これら電極間に働く静電気力を
制御している。
【0006】また、特開平1−253657号公報に
は、可動電極と各固定電極とで形成される2つの可変容
量コンデンサのうち一方のコンデンサの静電容量の変化
を検出して電圧値に変換するスイッチドキャパシタと、
スイッチドキャパシタより入力される電圧値を積分する
積分回路と、積分回路の出力を当該検出器の出力とする
と共に、所定振幅を有し且つ積分回路の出力電圧に応じ
たパルス幅を有するパルス幅変調(PWM)信号を出力
するPWM回路とを備えたセンサエレメントの制御回路
が開示されている。
【0007】そして、この制御回路では、一方の固定電
極には所定のバイアス電圧を印加し、他方の固定電極に
は、PWM回路が出力するPWM信号を印加することに
より、可動電極および固定電極間への電圧印加時間をP
WM信号にて制御することにより電極間に発生する静電
気力を制御している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかし、いずれの制御
回路も、センサエレメントからの検出信号をアナログ信
号のまま処理するアナログ回路にて構成されているた
め、センサエレメントと制御回路とを同一基板上に一体
化したセンサを構成する場合、センサの寸法が大きくな
ってしまう問題があった。
【0009】即ち、回路を基板上に集積する場合、トラ
ンジスタ等のスイッチング素子に比べて抵抗やコンデン
サ等は、素子寸法が大きいため、これら抵抗やコンデン
サを多用するアナログ回路にて制御回路が構成されてい
ると、センサの寸法は大きくなってしまうのである。
【0010】また、アナログ回路にて構成された制御回
路では、オフセットや感度の調整を、薄膜抵抗のトリミ
ング等により行う必要があるため、時間とコストがかか
るという問題があった。更に、アナログ増幅器を使用し
て制御回路を構成している場合、高温で使用すると、リ
ーク電流の発生等によりアナログ増幅器が誤動作し、場
合によっては動作不能となるという問題があった。
【0011】また更に、こういった加速度センサからの
検出信号をCPU等に取り込み、この検出信号に基づき
各種機能部品や被制御装置の制御を実行するシステムを
構成する場合、センサからの検出信号をA/D変換器等
を用いてデジタル値に変換する必要があり、システム設
計が面倒であるという問題もあった。
【0012】本発明は、上記問題点を解決するために、
高集積化が可能で調整の簡単な物理量検出装置を提供す
ることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
になされた請求項1に記載の発明は、通電により動作
し、所定の物理量に応じた電気信号を出力するセンサエ
レメントと、該センサエレメントが出力する電気信号を
数値化するA/D変換器と、該A/D変換器により数値
化されたデジタルデータに基づき、上記電気信号が所定
の出力となるように上記センサエレメントを制御するた
めの制御量を算出し、該制御量に応じた制御信号を生成
する制御手段と、該制御手段からの制御信号に応じて上
記センサエレメントを通電する通電手段と、を備え、上
記制御量あるいは上記制御信号を上記物理量を表す検出
信号として出力することを特徴とする物理量検出装置を
要旨とする。
【0014】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載の物理量検出装置において、上記A/D変換器
は、入力信号を反転して出力すると共に反転動作時間が
電源電圧により変化する反転回路が奇数個リング状に連
結される共に、該反転回路の一つが反転動作を外部から
制御可能な起動用反転回路として構成され、該起動用反
転回路の動作開始に伴いパルス信号を周回させるパルス
周回回路と、上記パルス周回回路内での上記パルス信号
の周回回数をカウントし、該カウント結果を二進数デジ
タルデータとして出力するカウンタと、上記各反転回路
からの出力信号に基づき上記パルス周回回路内での上記
パルス信号の周回位置を検出し、該周回位置に応じた二
進数デジタルデータを発生する周回位置検出手段と、上
記起動反転回路を動作させて上記パルス周回回路の周回
動作を起動し、その後所定時間経過した時点で上記周回
位置検出手段を動作させる検出制御手段と、を備え、上
記センサエレメントが出力する電気信号もしくは上記セ
ンサエレメントが出力する電気信号に応じて変化する電
気信号を上記パルス周回回路の電源電圧とし、上記周回
位置検出手段からの二進数デジタルデータを下位ビッ
ト,上記カウンタからの二進数デジタルデータを上位ビ
ットとする複数ビットのデジタルデータをA/D変換結
果として出力することを特徴とする。
【0015】また、請求項3に記載の発明は、請求項1
または請求項2に記載の物理量検出装置において、上記
制御手段は、反転回路が奇数個リング状に連結される共
に、該反転回路の一つが反転動作を外部から制御可能な
起動用反転回路として構成され、入力信号により該起動
用反転回路が起動されるとパルス信号を周回させ所定の
時間間隔で発振パルスを出力する発振器と、該発振器か
らの発振パルスをカウントし、カウント値が予め設定さ
れた所定の値となるとパルス信号を発生するカウント手
段と、該カウント手段からのパルス信号を通過させる基
本経路と,複数の反転回路を縦続接続してなり該パルス
信号を所定の遅延時間だけ遅延して通過させる遅延経路
と,外部から入力されるデジタルデータに応じて上記基
本経路と遅延経路とのいずれか一方を入力信号の経路と
して選択するセレクタと、からなる複数の遅延段を縦続
接続し、上記発振器の発振パルスの時間間隔未満の遅延
時間だけ遅延させて遅延信号として出力する、当該遅延
時間をデジタルデータにより変更可能なプログラム可能
遅延線と、上記入力信号の遅延時間を表す所定ビットの
デジタル制御データを受け、該デジタル制御データの上
位ビットを上記カウント発生手段のカウント値として設
定し、該デジタル制御データの下位ビットを上記プログ
ラム可能遅延線に供給して上記プログラム可能遅延線の
遅延時間を設定する制御データ供給手段と、上記入力信
号を所定周期で発生して上記発振器を起動させ、上記プ
ログラム可能遅延線から遅延信号が出力されると上記発
振器を停止させると共に、上記入力信号の発生後、上記
プログラム可能遅延線から遅延信号が出力されるまでの
間、ハイレベルとなる出力信号を生成する出力手段と、
からなり、上記制御量を上記デジタル制御データとし、
上記制御量に応じたパルス幅を有する出力信号を上記制
御信号として出力するパルス幅変調回路を備え、該パル
ス幅変調回路が出力するパルス幅変調信号により上記通
電手段による上記センサエレメントへの通電時間を制御
することを特徴とする。
【0016】また、請求項4に記載の発明は、請求項1
または請求項2に記載の物理量検出装置において、上記
制御手段は、上記デジタルデータと所定の基準データと
を大小比較する比較手段と、該比較手段の比較結果に基
づきカウント値を増減させ、該カウント値を上記制御量
として出力するアップダウンカウンタと、を備え、上記
アップダウンカウンタが出力するカウント値に応じた電
圧値により上記通電手段による上記センサエレメントへ
の通電量を制御することを特徴とする。
【0017】次に、請求項5に記載の発明は、請求項3
に記載の物理量検出装置において、上記センサエレメン
トは、該センサエレメント本体に対して変位可能に形成
された可動部と、上記可動部あるいは上記センサエレメ
ント本体のいずれか一方に設けられた中心電極と、上記
可動部あるいは上記センサエレメント本体のうち、上記
中心電極が設けられていない側の上記中心電極近傍かつ
該中心電極の上記可動部変位方向両側に夫々設けられた
制御電極と、上記可動部の変位に応じた電気信号を出力
する変位検出手段と、からなり、上記変位検出手段の出
力が上記A/D変換に入力されると共に、上記中心電極
及び上記各制御電極間への電圧印加により生じる静電気
力によって上記可動部の位置が調整可能なように構成さ
れ、上記通電手段は、上記中心電極及び上記各制御電極
により構成される2つの電極対に所定の駆動電圧を夫々
印加する一対のスイッチを有し、上記パルス幅変調回路
が出力するパルス幅変調信号の信号レベルに対応して交
互にオンオフされることを特徴とする。
【0018】また、請求項6に記載の発明は、請求項4
に記載の物理量検出装置において、上記センサエレメン
トは、該センサエレメント本体に対して変位可能に形成
された可動部と、上記可動部あるいは上記センサエレメ
ント本体のいずれか一方に設けられた中心電極と、上記
可動部あるいは上記センサエレメント本体のうち、上記
中心電極が設けられていない側の上記中心電極近傍かつ
該中心電極の上記可動部変位方向両側に夫々設けられた
制御電極と、上記可動部の変位に応じた電気信号を出力
する変位検出手段と、からなり、上記変位検出手段の出
力が上記A/D変換に入力されると共に、上記中心電極
及び上記各制御電極間への電圧印加により生じる静電気
力によって上記可動部の位置が調整可能なように構成さ
れ、上記通電手段は、上記アップダウンカウンタのカウ
ント値に応じた電位を上記中心電極に印加する中心電圧
印加手段と、上記各制御電極の電位を、上記中心電極に
対する極性が互いに異なり、上記中心電極との電位差が
周期的に同じ大きさだけ増減するように制御する制御電
圧印加手段と、により構成されていることを特徴とす
る。
【0019】また次に、請求項7に記載の発明は、請求
項5または請求項6に記載の物理量検出装置において、
上記変位検出手段は、上記センサエレメントの中心電極
の電位を、上記可動部の変位を表す上記電気信号として
上記A/D変換器に入力することを特徴とする。
【0020】また、請求項8に記載の発明は、請求項5
または請求項6に記載の物理量検出装置において、上記
変位検出手段は、上記可動部に設けられた変位検出用可
動電極と、上記基板上かつ上記変位検出用可動電極の両
側に不純物拡散層を形成してなる変位検出用固定電極と
により構成され、上記変位検出用可動電極を可動ゲート
とするMIS型トランジスタからなり、上記可動部の変
位を、上記変位検出用固定電極間に流れる電流の変化か
ら検出することを特徴とする。
【0021】
【作用および発明の効果】上記のように構成された請求
項1に記載の物理量検出装置においては、センサエレメ
ントが、所定の物理量に応じた電気信号を出力すると、
A/D変換器が、センサエレメントが出力する電気信号
を数値化し、制御手段が、A/D変換器により数値化さ
れたデジタルデータに基づき、センサエレメントが出力
する電気信号が所定の出力となるようにセンサエレメン
トを制御するための制御量を算出し、また、この制御量
に応じた制御信号を生成する。そして、この制御信号に
応じて通電手段が、センサエレメントを通電する。
【0022】この時、制御量あるいは制御信号が物理量
を表す検出信号として当該物理量検出装置から出力され
る。このように、本発明の物理量検出装置によれば、A
/D変換器を用いてセンサエレメントの出力を数値化
し、数値化されたデジタルデータにて処理が行われるた
め、センサエレメントを除く当該装置の略全ての部分を
デジタル回路にて構成することができる。そして、デジ
タル回路は、アナログ回路に比べて高集積化が可能なた
め、特に、当該物理量検出装置を全て同一基板上に一体
化する場合、装置全体の寸法を極めて小型にできる。し
かも、デジタル回路であれば、プロセスの加工精度の向
上に応じて、更なる高集積化が期待でき、延いては装置
寸法の更なる小型化を実現できる。
【0023】また、本発明によれば、A/D変換器によ
り、センサエレメントからの電圧信号を数値化し、デジ
タルデータの演算処理により制御量を設定するため、オ
フセットや感度の調整も演算処理により行われる。その
結果、アナログ回路における薄膜抵抗のトリミングとい
った高コストで時間のかかる調整が不要となるため、容
易に調整作業を行うことができる。
【0024】また、本発明によれば、デジタルデータで
ある制御量が当該物理量検出装置の検出信号として出力
されるため、当該物理量検出装置を用いて検出した物理
量をCPU等に取り込み、この検出した物理量に基づき
各種被制御装置の制御を実行するシステムを構成する場
合に、当該物理量検出装置の検出信号を、改めてデジタ
ル化することなく直接CPUに取り込ませることができ
るため、システム構成を簡単なものにできる。
【0025】次に、請求項2に記載の物理量検出装置に
おいては、A/D変換器が、パルス周回回路、カウン
タ、周回位置検出手段、検出制御手段により構成されて
いる。そして、パルス周回回路では、起動反転回路が反
転動作を開始すると、パルス周回回路を構成する各反転
回路の出力が順次反転し、パルス周回回路を構成する反
転回路の連結段数xと各反転回路での反転動作時間Td
にて決定される一定時間(x・Td)でパルス信号がパ
ルス周回回路上を周回する。
【0026】一方、周回回路内の各反転回路の電源ライ
ンには、電圧信号入力端子を介して、A/D変換すべき
電圧信号が各反転回路の電源電圧として印加されている
ため、この電圧信号の電圧レベルに応じて各反転回路の
反転動作時間Tdが変化する。従って、パルス周回回路
内でのパルス信号の周回時間及び周回位置は、電圧信号
入力端子に入力される電圧信号により決定されることと
なる。
【0027】そして、カウンタが、パルス周回回路内で
のパルス信号の周回回数をカウントして、そのカウント
結果を二進数デジタルデータとして出力すると共に、周
回位置検出手段が、各反転回路からの出力信号に基づき
パルス周回回路内でのパルス信号の周回位置を検出し
て、その周回位置に応じた二進数デジタルデータを発生
し、データ出力ラインが、周回位置検出手段からの二進
数デジタルデータを下位ビット、カウンタからの二進数
デジタルデータを上位ビットとする複数ビットのデジタ
ルデータをA/D変換結果として出力する。
【0028】またパルス周回回路内での起動用反転回路
と周回位置検出手段の動作タイミングは、検出制御手段
により制御され、この検出制御手段により、パルス周回
回路の周回動作開始後、周回位置検出手段がパルス信号
の周回位置を検出するまでの時間(サンプリング時間)
が、所定時間に設定される。
【0029】即ち、当該A/D変換器においては、パル
ス周回回路内に設けられた反転回路の電源電圧としてA
/D変換の対象となる電圧信号を使用することにより、
パルス周回回路内でのパルス信号の周回時間を電圧信号
により変化させ、パルス周回回路が所定のサンプリング
時間周回動作する間の、パルス周回回路内でのパルス信
号の周回回数及び周回位置を検出することにより、電圧
信号をデジタルデータに変換するようにされている。
【0030】このように本発明の物理量検出装置によれ
ば、A/D変換器が、電圧信号の変動を反転回路の遅延
時間の変動に対応させてA/D変換を行うことにより、
アナログ回路を用いることなくデジタル回路のみにより
構成されているため、半導体基板上に集積した場合に小
型に構成でき、請求項1に記載の物理量検出装置と比べ
て、更に装置全体の小型化を図ることができる。また、
デジタル回路のみにより構成されたA/D変換器では、
周囲温度が高温であっても誤動作することなく安定した
A/D変換が行われるため、これに基づきセンサエレメ
ントの制御を安定して行うことができ、延いては、安定
した物理量の検出を実現できる。
【0031】また、本発明によれば、A/D変換器が反
転回路の遅延時間を1単位として電圧信号を数値化する
ようにされているので、電圧信号の微少な変化を数値化
することができ、この数値化されたデジタルデータに基
づき制御部では、高精度な制御量や制御信号を設定,生
成することができる。
【0032】次に、請求項3に記載の物理量検出装置に
おいては、制御手段が、制御量に応じたパルス幅を有す
るパルス幅変調信号を生成するパルス幅変調回路を備
え、このパルス幅変調回路が出力するパルス幅変調信号
により、通電手段によるセンサエレメントへの通電時間
を制御することにより、可動部の位置制御を実行する。
【0033】そして、パルス幅変調回路では、制御デー
タ供給手段が、入力信号の遅延時間を表す所定ビットの
デジタル制御データを受けて、そのデジタル制御データ
の上位ビットをカウント発生手段のカウント値として設
定すると共に、そのデジタル制御データの下位ビットを
プログラム可能遅延線に供給することによりプログラム
可能遅延線の遅延時間を設定する。
【0034】出力手段から発振器に入力信号が入力され
ると、起動用反転回路が起動され、リング状に連結され
た反転回路をパルス信号が周回することにより、発振器
から所定の時間間隔で発振パルスが出力される。する
と、カウント手段が、その発振パルスをカウントして、
そのカウント値が予め設定された所定の値となるとパル
ス信号を発生し、プログラム可能遅延線が、そのパルス
信号を、デジタルデータに応じて各遅延段毎に基本経路
または遅延経路のいずれかを順次通過させることによ
り、発振器の発振パルスの時間間隔未満の遅延時間だけ
遅延させる。
【0035】ここで、出力手段は、入力信号を所定周期
で発生させ発振器を起動すると共に、上記プログラム可
能遅延線から遅延信号が出力されると上記発振器を停止
し、更に、入力信号の発生後、プログラム可能遅延線か
ら遅延信号が出力されるまでの間、ハイレベルとなる信
号を生成する。このデジタル制御データに応じたパルス
幅を有する信号が、パルス幅変調信号として出力され
る。
【0036】このように本発明の物理量検出装置によれ
ば、センサエレメントの通電時間を制御するためのパル
ス幅変調信号を生成するパルス幅変調回路を、アナログ
回路を用いることなくデジタル回路のみにより構成でき
るため、半導体基板上に集積した場合に小型に構成でき
る。
【0037】また、本発明によれば、パルス幅変調回路
が、プログラム可能遅延線を構成する反転回路の遅延時
間を1単位としてパルス幅を変調するようにされている
ので、センサエレメントへの通電量を細かく変化させる
ことができ、センサエレメントを高精度に制御できる。
【0038】特に、請求項2に記載のA/D変換器と組
み合わせて使用される場合には、センサエレメントから
の電気信号の検出と、センサエレメントの制御とをいず
れも高精度に行うことができ、従って、物理量の検出を
極めて高精度に行うことができる。
【0039】次に、請求項4に記載の物理量検出装置に
おいては、制御手段が、A/D変換器からのデジタルデ
ータと所定の基準データとを大小比較する比較手段と、
この比較結果に基づき、カウント値を増減させ、このカ
ウント値を制御量として出力するアップダウンカウンタ
と、により構成されいる。
【0040】そして、通電手段は、アップダウンカウン
タが出力するカウント値に応じた電圧値により、センサ
エレメントへの通電量を制御する。従って、本発明によ
れば、制御手段の回路構成をきわめて簡易なものとする
ことができる。
【0041】次に、上記請求項3及び請求項4に記載の
物理量検出装置において、センサエレメントは、次のよ
うに構成されたものを使用することができる。即ち、セ
ンサエレメント本体に対して変位可能に形成された可動
部、及び可動部の変位に応じた電気信号を出力する変位
検出手段を有し、この変位検出手段からの電気信号をA
/D変換器に入力すると共に、センサエレメント本体,
及び可動部のうち、一方には中心電極、他方には、中心
電極の近傍かつ中心電極の可動部変位方向両側に夫々制
御電極が設けられ、これら中心電極および各制御電極間
への電圧印加により生じる静電気力により、可動部の位
置を調整可能に構成されている。
【0042】このように構成されたセンサエレメントで
は、通電手段により、中心電極及び各制御電極により構
成される2つの電極対に夫々電圧を印加し、常に中心電
極が両制御電極の中心(中立位置)に位置するような静
電気力を生じさせれば、この静電気力が可動部を変位さ
せようとする外力と釣り合うことになる。
【0043】そして、請求項5に記載の物理量検出装置
では、上述のセンサエレメントを適用した請求項3に記
載の物理量検出装置において可動部を位置制御するため
の静電気力を発生させるために、通電手段が、中心電極
及び各制御電極により構成される2つの電極対に、所定
の駆動電圧を夫々印加する一対のスイッチを有し、パル
ス幅変調回路が出力するパルス幅変調信号の信号レベル
に対応させて、一対のスイッチを交互にオンオフするよ
うに構成されている。
【0044】このため、パルス幅変調信号のデューティ
比が50%の時には、各電極対に、交互に同じ時間だけ
同じ大きさの電圧が印加されるため、時間的に平均すれ
ば、各電極対には同じ大きさの静電気力が働くことにな
り、中心電極にはいずれの方向にも力が作用しないこと
になる。
【0045】一方、パルス幅変調信号のデューティ比が
50%以外の時には、各電極対への電圧印加時間に差が
生じ、電圧印加時間の長い方の電極対に働く静電気力の
方が大きくなり、中心電極には、電圧印加時間の長い方
の電極対を構成する制御電極側に力が作用することにな
る。
【0046】このように、パルス幅変調信号のデューテ
ィ比を制御することにより、中心電極(即ち、可動部)
を位置制御でき、中心電極が中立位置に保持された時の
パルス幅変調信号のデューティ比から可動部を変位させ
ようとする外力の大きさを検出できるのである。
【0047】そして、本発明によれば、通電手段が、信
号レベルに応じてオンオフされるスイッチにて構成され
ており、パルス幅変調信号にて直接駆動が可能なため、
この通電手段をアナログ回路を用いることなく構成で
き、よりデジタル化された物理量検出装置を構成でき
る。
【0048】また、請求項6に記載の物理量検出装置で
は、上述のセンサエレメントを適用した請求項4に記載
の物理量検出装置において可動部を位置制御するための
静電気力を発生させるために、通電手段が、アップダウ
ンカウンタのカウント値に応じた電位を中心電極に印加
する中心電圧印加手段と、各制御電極の電位を中心電極
に対する極性が互いに異なり、中心電極との電位差が周
期的に同じ大きさだけ増減するように制御する制御電圧
印加手段とを備え、中心電極の電位を制御することによ
り各電極対の静電気力を制御するように構成されてい
る。
【0049】そして、中心電極が中立位置にあり、中心
電極の電位が、両制御電極の電位の中心(中心電位)に
あるときには、中心電極と各制御電極との間には同じ大
きさの静電気力が働くことになるため、中心電極には、
いずれの方向にも力が作用しないことになる。
【0050】一方、中心電極の電位を中心電位から変化
させると、中心電極と各制御電極との電位差に差が生
じ、電位差が大きいほど静電気力は大きいので、中心電
極には、中心電極との電位差の大きい制御電極側に力が
作用することになる。このように、中心電極の電位を制
御することにより、中心電極を位置制御でき、中心電極
(即ち、可動部)が中立位置に保持された時の中心電極
の電位から、可動部を変位させようとする外力の大きさ
を検出できるのである。
【0051】次に、請求項7に記載の物理量検出装置に
おいては、変位検出手段は、センサエレメントの中心電
極の電位を、可動部の変位を表す電気信号としてA/D
変換器に入力している。即ち、可動部が変位すると、中
心電極と各制御電極とで形成される差動容量コンデンサ
の容量が変化し、これに応じて中心電極の電位が変化す
るため、この中心電極の電位から可動部の変位を検出で
きるのである。
【0052】このように、本発明によれば、可動部の位
置制御用の中心電極および制御電極を変位検出用にも兼
用しているので、変位検出用に新たな手段を追加する必
要がなく、装置構成を簡単にできる。次に、請求項8に
記載の物理量検出装置においては、変位検出手段は、可
動部に設けられた変位検出用可動電極と、基板上かつ変
位検出用可動電極の両側に不純物拡散層を形成してなる
変位検出用固定電極とにより構成されたMIS型トラン
ジスタからなる。
【0053】このMIS型トランジスタは、変位検出用
可動電極を可動ゲート、変位検出用固定電極をソース及
びドレイン、これら変位検出用可動電極と、変位検出用
固定電極との空隙を絶縁層とする一種の電界効果トラン
ジスタであり、可動部が変位すると、変位検出用固定電
極と変位検出用可動電極との対向面積が変化し、変位検
出用固定電極間に形成されるチャネル幅が変化するた
め、変位検出用固定電極間に流れる電流が変化する。
【0054】このように、本発明によれば、可動部の変
位の検出をMIS型トランジスタを用いて行っているた
め、中心電極及び両制御電極からなる差動容量コンデン
サの出力に比べ、大きな電流を流すことができる。その
結果、この可動部の変位を表す電気信号を取り込むA/
D変換器の入力インピーダンスを低くすることができ、
ノイズに強い装置を構成できる。
【0055】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面と共に説明す
る。図1は、本発明が適用された第1実施例の加速度セ
ンサの全体構成を表すブロック図である。
【0056】図1に示すように、本実施例の加速度セン
サは、変位可能な中心電極10,及び中心電極10の両
側に夫々配設された制御電極12,14を有し、中心電
極10と各制御電極12,14とからなる第1及び第2
のコンデンサC1,C2により差動容量コンデンサを形
成するセンサエレメント16と、センサエレメント16
の中心電極10を表す電圧信号Vinを数値化し、デジタ
ルデータDaにして出力するA/D変換器20と、A/
D変換器20からのデジタルデータDaに基づき、パル
ス幅変調(PWM)信号PTを生成する制御回路22
と、制御回路22が生成するPWM信号PTに応じてセ
ンサエレメント16の各制御電極12,14に、所定の
制御電圧V1,V2を印加するスイッチング回路18
と、制御回路22から出力されるPWM信号PTから、
そのデューティ比に応じたアナログ電圧の検出信号Vo
を生成するためのローパスフィルタ(LPF)24と、
A/D変換器20及び制御回路22を動作させるための
基準クロックCK0,及び基準クロックCK0を分周し
た分周クロックCK1を生成するクロック発生器26
と、により構成されている。なお、センサエレメント1
6の中心電極10には、電流制限用の抵抗Rbを介して
所定のバイアス電圧Vbが印加されている。
【0057】図2は、センサエレメント16の全体構成
を示す斜視図である。図2に示すように、センサエレメ
ント16は、両端がシリコン基板上に絶縁膜28を介し
て夫々固定され、平行に配設された棒状の一対の梁部3
0a,30bと、格子状に形成され各梁部30a,30
bを架橋する質量部32と、梁部30a,30b間の略
中央にて梁部30a,30bと平行に質量部32の両側
から夫々突設された中心電極10a,10bと、シリコ
ン基板上に、各中心電極10a,10bを一定の距離を
隔てて挟むように夫々対向配設された制御電極12a,
14a,12b,14bと、により構成されている。
【0058】なお、梁部30a,30b,質量部32,
中心電極10a,10bを併せて可動部16aと呼び、
中心電極10a,10b(以下、併せて単に中心電極1
0とする)は互いに導通している。また、中心電極10
と梁部30aとの間に配設された制御電極12a,12
b(以下、併せて単に制御電極12とする)は、互いに
導通しており、中心電極10と第1のコンデンサC1を
形成し、同様に、中心電極10と梁部30bとの間に配
設された制御電極14a,14b(以下、併せて単に制
御電極14とする)は、互いに導通しており、中心電極
10と第2のコンデンサC2を形成する。
【0059】このように構成されたセンサエレメント1
6では、外部より加速度が加えられる等して、可動部1
6aが梁部30a,30bの長手方向と直交する方向に
変位すると、第1及び第2コンデンサC1,C2の静電
容量が変化する。即ち、例えば可動部16aが図2中X
方向に変位したとすると、中心電極10と制御電極12
との間隙が小さくなると共に、中心電極10と制御電極
14との間隙が大きくなり、その結果、第1のコンデン
サC1の静電容量が増大し、逆に、第2のコンデンサC
2の静電容量が減少する。なお、中心電極10は、加速
度が加わっていない状態では、制御電極12,14の中
間(中立位置)に位置し、第1及び第2のコンデンサC
1,C2の静電容量は等しくなっている。
【0060】また、センサエレメント16では、中心電
極10と制御電極12との間,及び中心電極10と制御
電極14との間に夫々電圧印加すると、各電極間に発生
する静電気力に応じて中心電極10の位置が変位する。
即ち、外部よりこの静電気力を制御することにより中心
電極10を位置制御が可能なようにされている。
【0061】次に、スイッチング回路18は、図1に示
すように、各制御電極12,14に、夫々電源電圧VDD
或はバイアス電圧Vbのいずれかを択一的に印加するス
イッチS11,S12を有している。このスイッチS1
1,S12は、制御回路22から出力される制御信号P
Tにより駆動され、PWM信号PTがHighレベルの時に
は、制御電極12に電源電圧VDD,制御電極14にバイ
アス電圧Vbを、制御信号PTがLow レベルの時には、
制御電極12にバイアス電圧Vb,制御電極14に電源
電圧VDDを印加するように動作する。
【0062】つまり、制御電極12,14には、信号レ
ベルが電源電圧VDDとバイアス電圧Vbとで交互に切り
換わる、互いに位相が反転した制御電圧V1,V2が夫
々印加される。そして、スイッチング回路18により、
制御電極12に電源電圧VDD,制御電極14にバイアス
電圧Vbが印加されると、第1のコンデンサC1では、
両電極10,12間に生じる電位差(VDD−Vb)によ
り電荷が充電されると共に、第2のコンデンサC2で
は、両電極10,14が同電位となることにより電荷が
放電される。また、スイッチング回路18により制御電
極12,14への印加電圧が互いに切り換えられると、
今度は、第1のコンデンサC1では電荷が放電され第2
のコンデンサC2では電荷が充電される。このように、
スイッチング回路18により制御電極12,14への印
加電圧が切り換えられる毎に、第1及び第2のコンデン
サC1,C2は電荷の充放電を交互に繰り返す。
【0063】この時、第1及び第2のコンデンサC1,
C2の静電容量が等しければ、制御電極12,14への
印加電圧の切換時に、両コンデンサC1,C2が充放電
する電荷量は等しく、一方のコンデンサから放電された
電荷が、すべて他方のコンデンサに充電されるため、中
心電極10の電位は、常にバイアス電圧Vbに保たれ
る。
【0064】一方、第1及び第2のコンデンサC1,C
2の静電容量が異なれば、両コンデンサC1,C2間で
同じ電位を発生させるための電荷量が異なるため、制御
電極12,14への印加電圧の切換時に、中心電極10
には静電容量差に応じた電荷が、バイアス電圧Vbを印
加する電源から充放電される。ところが、抵抗Rbによ
り電流が制限されているため、短期的には中心電極10
の電荷はほとんど移動せず、その結果、中心電極10の
電位は、各コンデンサC1,C2間で充放電される電荷
量が等しくなるよう、即ち、静電容量が減少したコンデ
ンサの両極間の電位差が大きく、静電容量が増大したコ
ンデンサの両極間の電位差が小さくなるように変化す
る。
【0065】例えば、第2のコンデンサC2に電源電圧
VDDが印加されている時に、中心電極10が制御電極1
2側に変位し、第1のコンデンサC1の静電容量が大き
くなり、第2のコンデンサC2の静電容量が小さくなる
と、第2のコンデンサC2の電極間の電位差が大きくな
り、その結果、中心電極10の電位がバイアス電圧Vb
より低くなる。その後、制御電極12,14への印加電
圧が切り換わり、第1のコンデンサC1に電源電圧VDD
が印加されると、第2のコンデンサC2の電荷が放電さ
れ第1のコンデンサC1に充電されるが、第1のコンデ
ンサC1は第2のコンデンサC2より静電容量が大きい
ため、第1のコンデンサC1の電極間に発生する電位差
は(VDD−Vb)より小さくなり、その結果、中心電極
10の電位がバイアス電圧Vbより高くなる。以後、両
コンデンサC1,C2間に静電容量差がある限り、同様
の動作を繰り返し、中心電極10の電位はバイアス電圧
Vbを中心に振動することになる。なお、中心電極10
が制御電極14側に変位し、第1のコンデンサC1が第
2のコンデンサC2より静電容量が小さい時には、当
然、中心電極10の電位の変化が上述したものとは逆に
なる。
【0066】また次に、スイッチング回路18により電
源電圧VDDが印加された制御電極12,14とバイアス
電圧Vbが印加された中心電極10との間には、その電
位差(VDD−Vb)に応じた静電気力が働く。従って、
中心電極10が中立位置にあり、スイッチング回路18
を駆動するPWM信号のデューティが50%であり、各
制御電極12,14への電源電圧VDDの印加時間比が均
等であれば、中心電極10と各制御電極12,14との
間には平均的に同じ大きさの静電気力が生じ、互いに静
電気力を打ち消し合うため、中心電極10に静電気力が
働かないのと等価となる。
【0067】一方、PWM信号のデューティが50%で
なく、各制御電極12,14への電源電圧VDDの印加時
間比が均等でなければ、中心電極10と各制御電極1
2,14との間に働く平均的な静電気力に差が生じ、そ
の結果、中心電極10には、この差分の静電気力が電源
電圧VDDの印加時間の長い制御電極方向に働くことにな
る。
【0068】このように、本実施例のセンサエレメント
16では、制御電極12,14への印加電圧の切換時に
生じる中心電極10の電位の変化から、第1及び第2の
コンデンサC1,C2の容量変化(即ち、中心電極10
の変位)を検出でき、また、スイッチング回路18を駆
動するPWM信号PTのデューティ比、即ち制御電極1
2,14への電源電圧VDDの印加電圧時間比を制御する
ことにより、中心電極10及び制御電極12,14間に
働く静電気力を、延いては、中心電極10の位置を制御
できる。なお、PWM信号PTの周期は、印加電圧の切
り換えに応じて可動部が振動することがないように、可
動部16aが有する固有振動(数百Hz〜数KHz程
度)の周期より十分に小さくなるように設定される。
【0069】次に、制御回路22について説明する。図
1に示すように、制御回路22は、A/D変換器20か
ら出力される中心電極10の電位を数値化したデジタル
データDaを保持する第1レジスタ34と、第1レジス
タ34に格納されたデータが転送される第2レジスタ3
6と、第2レジスタ36に格納されたデータと第1レジ
スタ34に格納されたデータとの差分を演算する減算回
路38と、減算回路38の演算結果を格納する第3レジ
スタ40と、第3レジスタ40に格納されたデジタル値
Dbに基づき、中心電極10を中立位置に制御するため
の微分制御量△Doを設定する制御量設定部42と、現
在の制御量Doを格納する第4レジスタ46と、第4レ
ジスタ46に格納された現在の制御量Doに制御量設定
部42からの微分制御量△Dを加算する加算回路44
と、第4レジスタ46に格納された制御量Doに基づ
き、制御量Doが大きいほど広いパルス幅(Highレベル
値)のパルス幅変調(PWM)信号PTを生成するPW
M回路48と、により構成されている。なお、第4レジ
スタ46の出力である制御量Doは、当該加速度センサ
のデジタル検出値として外部に出力される。また、各レ
ジスタ34,36,40,46及び制御量設定部42
は、基準クロックCK0に基づき、また、PWM回路4
8は、分周クロックCK1に基づき、全てが同期して動
作する。
【0070】このように構成された制御回路22におい
ては、第1レジスタ34が基準クロックCK0に基づく
所定のタイミングでA/D変換器20からのデジタルデ
ータDaを取り込み、次のタイミングで、減算回路38
が第2レジスタ36に格納された前回のデジタルデータ
から第1レジスタ34に格納された今回のデジタルデー
タを減算する演算を実行し、その演算結果を第3レジス
タ40が格納する。
【0071】従って、第1及び第2のコンデンサC1,
C2の各静電容量が等しければ、中心電極10の電位は
一定であり、これを数値化したデジタルデータDaも一
定となるため、第3レジスタ40に格納される演算値D
bは0となる。一方、第1及び第2のコンデンサC1,
C2の静電容量が等しくなければ、この静電容量差に応
じた演算値Db(≠0)が第3レジスタ40に格納され
ることになる。
【0072】なお、中心電極10の電位は、制御電圧V
1,V2に応じて振動するため、演算値Dbは、その度
に符号が反転するが、第1のコンデンサC1に電圧印加
時のデジタルデータDaから第2のコンデンサC2に電
圧印加時のデジタルデータDaを差し引いた値を正転デ
ータ(ST=0)とし、逆に第2のコンデンサC2に電
圧印加時のデジタルデータDaから第1のコンデンサC
1に電圧印加時のデジタルデータDaを差し引いた値を
反転データ(ST=1)とする。
【0073】ここで第3レジスタ40の演算値Dbに基
づき微分制御量△Doを設定する制御量設定部42は、
論理回路の組み合わせにより簡単に構成されるものであ
るため、ここではその詳細な回路構成は省略し、制御量
設定部42が実行する処理についてのみ図3に示すフロ
ーチャートに沿って説明する。
【0074】即ち、S100では、第3レジスタ40に
格納された演算値Dbが、正転データ(ST=0)であ
るか否かを判断し、正転データであれば、S110に移
行して、演算値値Dbをそのまま判定値Drとして設定
後、S130に進む。また、S100にて、演算値Db
が正転データではない、即ち反転データ(ST=1)で
あると判断された場合は、S120に移行して、演算値
Dbの符号を反転させた値を判定値Drとして設定後、
S130に進む。
【0075】即ち、S110及びS120の処理によ
り、判定値Drは、第1のコンデンサC1が第2のコン
デンサC2より静電容量が大きい場合には、正値とな
り、逆に第1のコンデンサC1が第2のコンデンサC2
より静電容量が小さい場合には負値となり、各コンデン
サC1,C2の静電容量が等しければ0となる。
【0076】S130では、判定値Drが0より大きい
か否かを判断し、0より大きければ、S150に移行
し、現在の制御量Doを補正するための微分制御量△D
oとして所定値Dpを設定後、本処理を終了し、一方、
判定値Drが0以下であると判断されれた場合は、S1
40に移行する。
【0077】S140では、判定値Drが0であるか否
かを判断し、0であれば、S160に移行して微分制御
量△Doとして0を設定後、本処理を終了する。一方、
S140にて、判定値値Drが0より小さいと判断され
た場合は、S170に移行し、微分制御量△Doとして
所定値−Dpを設定後、本処理を終了する。
【0078】このように設定された微分制御量△Do
を、加算回路44が第4レジスタ46に格納された制御
量Doに加算して制御量Doを更新し、この更新された
制御量DoがPWM回路48に入力される。そして、P
WM回路48では、この制御量Doに応じたパルス幅を
有するPWM信号PTを生成,出力する。
【0079】つまり、第1のコンデンサC1が第2のコ
ンデンサC2より静電容量が大きい時には、制御量Do
を所定値Dpだけ増加させ、よりパルス幅の広い、即
ち、制御電極12側の静電気力を増大させるようなPW
M信号PTを生成し、逆に第1のコンデンサC1が第2
のコンデンサC2より静電容量が小さい時には、制御量
Doを所定値Dpだけ減少させ、よりパルス幅の狭い、
即ち制御電極14側の静電気力が増大させるようなPW
M信号PTを生成し、また、両コンデンサC1,C2の
静電容量が同じ時には、現在の制御量Doを維持し、現
状を維持するPWM信号PTを生成する。
【0080】以上のように構成された第1実施例の加速
度センサの動作を図4に示すタイミング図に沿って説明
する。即ち、加速度センサに加速度が加えられていない
状態(G=0)では、制御回路22からは、デューティ
50%のPWM信号が出力され、その結果、中心電極1
0と各制御電極12,14との間には、平均的に同じ大
きさの静電気力が働くため、中心電極は中立位置に保持
される。また、この時、第1及び第2のコンデンサC
1,C2の静電容量は等しいため、中心電極10の電位
は、制御電極12,14への印加電圧の切換時に変動す
ることなく、常に一定(バイアス電圧Vb)に保たれ
る。
【0081】次に、加速度センサに加速度が加えられ
(G≠0)、中心電極10が制御電極12との間隙が狭
くなる方向に変位し、第1のコンデンサC1が第2のコ
ンデンサC2より静電容量が大きくなると、中心電極1
0の電位は、制御電極12,14への印加電圧の切り換
えに応じて振動する。そして、制御回路22が、A/D
変換器20の出力を演算することにより、この中心電極
10の電位の変動を検出すると、中心電極10を制御電
極14側に引き付ける静電気力が大きくなるように、Hi
ghレベルの期間が短くLow レベルの期間が長くなるよう
に変化させたPWM信号PTを出力する。その結果、中
心電極10は制御電極14側に引き付けられ、加速度に
よる力と静電気力とが釣り合う位置まで中心電極10は
移動する。この動作が繰り返されることにより、中心電
極10が中立位置に戻されると、第1及び第2のコンデ
ンサC1,C2の静電容量が等しくなり、中心電極10
の電位が一定(バイアス電圧Vb)となり、以後、制御
回路22からは、この時のデューティを保持したPWM
信号PTが出力される。
【0082】この時、加速度センサに加えられている加
速度による力と、中心電極10に加えられている静電気
力とが釣り合っているため、この静電気力を発生させる
ための制御量DoやLPF24を介して得られるPWM
信号の平均電圧を示すアナログ検出値Voは、加速度に
応じた値となっている。
【0083】なお、A/D変換器20は、ほぼ基準クロ
ックCK0の立下がりのタイミングにて動作し、第1な
いし第4レジスタ34,36,40,44は、基準クロ
ックCK0の立上がりタイミングにて動作するため、加
速度が変化してからPWM信号PTのデューティ,延い
ては制御電極12,14に印加される電圧時間比が変化
するまでに、実際には、少なくとも3クロックは遅延す
るのであるが、図4では図を簡単化するため、2クロッ
ク遅延後にPWM信号PTが変化を開始するように記述
されている。以下、図11,図14のタイミング図も同
様である。
【0084】ここで、上記A/D変換器20及びPWM
回路48について説明する。A/D変換器20及びPW
M回路48として、様々なものが適用可能であるが、本
実施例では、特に、アナログ回路を用いることなく次の
ように構成されている。なお、図5は、A/D変換器2
0の詳細な構成を示す回路図、図6は、その動作を示す
タイミング図である。
【0085】図5に示すように、A/D変換器20は、
入力パルスPA,PBの位相差を符号化するパルス位相
差符号化回路50と、外部より入力される基準クロック
CK0に基づきパルス信号PA,PBを発生する制御回
路51とから構成され、更に、パルス位相差符号化回路
50は、ナンドゲートNAND,及び偶数個のインバー
タINVをリング状に連結したパルス周回回路52と、
カウンタ54と、ラッチ回路56と、パルスセレクタ5
8と、エンコーダ60と、信号処理回路62とにより構
成されている。
【0086】このうちパルス位相差符号化回路50は、
本願出願人が特願平4−58027号にて先に提案した
回路であり、次のように動作する。即ち、パルス周回回
路52では、制御回路51から出力される否定論理積回
路NANDの入力端に与えられるパルス信号PAがHigh
レベルになると、パルス信号の周回動作を開始し、パル
ス信号PAがHighレベルである間パルス信号を周回させ
る。またその周回回数は、否定論理積回路NANDの前
段に接続されたインバータINVの出力の反転をカウン
トするカウンタ54によりカウントされ、制御回路51
から出力されるパルス信号PBがHighレベルとなった時
点で、そのカウント結果がラッチ回路56にラッチされ
る。一方、制御回路51から出力されるパルス信号PB
がHighレベルになると、パルスセレクタ58が、パルス
周回回路52の各反転回路(否定論理積回路NAND,
インバータINV)の出力に基づき、パルス周回回路5
2内でのパルス信号の周回位置を検出し、エンコーダ6
0がその周回位置に対応した二進数デジタルデータを発
生する。すると信号処理回路62が、エンコーダ60か
らの二進数デジタルデータを下位ビット,ラッチ回路5
6にラッチされたデジタルデータを上位ビットとして、
パルス信号PAの立上がりからパルス信号PBの立上が
りまでの時間Tcに対応した二進数のデジタルデータD
aを生成し外部に出力する。
【0087】そして、このA/D変換器20では、パル
ス周回回路52内の各反転回路(否定論理積回路NAN
D,インバータINV)に電源供給を行うための電源ラ
イン52aに、A/D変換すべき電圧信号Vinの入力端
子20aが接続されており、各反転回路には電圧信号V
inが電源電圧として印加される。各反転回路の反転動作
時間は、電源電圧により変化するため、上記時間Tcが
一定であれば、信号処理回路62から出力されるデジタ
ルデータDaは、電圧信号Vinの電圧レベルに応じたデ
ジタルデータDaが出力されることとなる。
【0088】そこで制御回路51は、基準クロックCK
0の立上がりを検出するエッジ検出回路と、検出された
エッジ信号をパルス信号PAをHighレベルに保持すべき
期間だけ遅延させる遅延回路と、エッジ信号によりセッ
トされ、遅延信号によりリセットされるRSフリップフ
ロップとを備え、基準クロックCK0と同周期のパルス
信号PAを生成すると共に、同様の回路にて、エッジ検
出回路は、基準クロックCK0の立下がりを検出し、遅
延回路は、パルス信号PBをHighレベルに保持すべき期
間だけ遅延することにより、パルス信号Aの立上がりか
ら所定時間Tc(基準クロックCK0の半周期)だけ遅
れて立上がるパルス信号Bを生成するように構成されて
いる。
【0089】この結果、図6に示すように、電圧信号V
inに対応したデジタルデータDaがパルス位相差符号化
回路50から出力されることとなり、しかもそのA/D
変換動作は、制御回路51のパルス信号PA,PB、延
いては基準クロックCK0の周期に対応して周期的に実
行されるため、デジタルデータDaは、電圧信号Vinの
変化に対応して、値D0,D1,D2…として変化する
こととなる。
【0090】尚、パルス位相差符号化回路50について
は、特願平4−58027号に詳述されているため、こ
れ以上の説明は省略する。このように、A/D変換器2
0は、アナログ回路を用いることなく構成されいるだけ
でなく、電圧信号Vinの変化を反転回路の遅延時間の変
化に変換し、この反転回路の遅延を単位として数値化す
るため、電圧信号Vinの微少な変化も数値化でき、電圧
信号Vinに対応した高精度のデジタルデータDaが得ら
れる。
【0091】また次に、PWM回路48は、A/D変換
器20と同様に、アナログ回路を用いることなく、次の
ように構成されている。なお、図7は、PWM回路48
の全体構成を表すブロック図である。PWM回路48
は、図7に示すように、外部より入力される制御量Do
をラッチし、その制御量Doを下位5ビットの下位ビッ
トデータCDLと下位6ビットから上の上位ビットデー
タCDHとに分けて出力するデータラッチ回路64と、
外部から入力される制御パルスPTが、Highレベルであ
るとき、所定の時間間隔Tで発振パルスCKrを出力す
る発振器66と、発振器66から出力される発振パルス
CKrをカウントし、そのカウント値がデータラッチ回
路64から出力される上位ビットデータCDHに対応し
た値となったときに検出信号TCPを出力するダウンカ
ウンタ68と、ダウンカウンタ68から検出信号TCP
が出力されているときに発振パルスCKrを取り込みパ
ルス信号DIを出力するパルス発生回路70と、パルス
発生回路70からのパルス信号DIをデータラッチ回路
64から出力される下位ビットデータCDLに対応した
遅延時間だけ遅延させるプログラム可能遅延線72と、
外部から入力されるクロックCK1の立上がりエッジを
検出するエッジ検出回路74と、エッジ検出回路74か
らのエッジ信号の入力時に制御パルスPTをHighレベル
として発振器66の発振動作を開始させ、プログラム可
能遅延線72から出力される遅延パルスPOを受けると
制御パルスPTをLow レベルとして発振器66の発振動
作を停止させるRSフリップフロップ76と、により構
成されている。そして、制御パルスPTがPWM信号と
して出力される。
【0092】このうち発振器66は、否定論理積回路と
複数個のインバータをリング状に連結したリングオシレ
ータを備え、否定論理積回路の一方の入力端にRSフリ
ップフロップ76から出力される制御パルスPTが入力
されるように構成されている。そして、制御パルスPT
がHighレベルの間、リングオシレータ内をパルス信号が
周回し、その周回周期に同期して所定のインバータから
発振パルスCKrが出力され、しかも、発振パルスCK
rの時間間隔Tは、インバータ32段分(25)の遅延
になるように設定されている。
【0093】また、プログラム可能遅延線72は、入力
信号を通過させる基本経路と、入力信号を基本経路に対
して所定の遅延時間だけ遅延して通過させる遅延経路
と、基本経路と遅延経路とのいずれか一方を入力信号の
経路として選択するマルチプレクサとからなる遅延段を
5つ縦続接続することにより構成されている。
【0094】そして、1段目の遅延段は、基本経路と遅
延経路との入力信号の通過時間差が、発振器が発生する
発振パルスCKOの時間間隔の半分になるように構成さ
れ、以下、2〜5段目の遅延段は、1/4,1/8,1
/16,1/32となるように、即ち、5段目は、イン
バータ1段分の遅延時間となるようにされている。な
お、これらの遅延は、リングオシレータを形成するイン
バータを縦続接続することにより構成される。つまり、
プログラム可能遅延線72では、マルチプレクサにデジ
タル値の1が設定された場合に遅延経路を選択すること
により、遅延時間を、インバータの1段分の遅延時間を
単位として、下位データCDLに応じて、32段階に切
り換えることができるようにされている。
【0095】なお、このように構成されたPWM回路4
8の主要部(データラッチ回路64,発振器66,ダウ
ンカウンタ68,パルス発生回路70,プログラム可能
遅延線72)は、本願出願人が特願平4−227492
号にて先に提案した回路と同一であるので、これ以上の
詳細な説明は省略する。
【0096】次に、このように構成されたPWM回路4
8の動作を、図8に示すタイミング図に沿って説明す
る。図8に示すように、分周クロックCK1が立ち上が
ると、制御パルスPTがHighレベルとなり、発振器66
のリングオシレータを周回することにより、発振器66
からインバータ32個分の遅延時間に相当する所定の時
間間隔で発振パルスCKrが出力され、ダウンカウンタ
68がこの発振パルスCKrのダウンカウントを行う。
【0097】そして、ダウンカウンタ68は、上位ビッ
トデータCDH(=m)だけ発振器から発振パルスCK
rが出力されたときに、検出信号TCPを出力し、この
検出信号TCPがパルス発生回路70にて図中点線にて
示すように遅延されることにより、パルス発生回路70
からは、その次に発振器66から出力される発振パルス
CKrに同期したパルス信号DIが出力される。なお、
ダウンカウンタ68は、検出信号TCP出力後の最初の
発振パルスCKOによりプリセットされる。
【0098】次に、パルス発生回路70から出力された
パルス信号DIは、プログラム可能遅延線72にて、下
位ビットデータCDLに応じた所定時間遅延されて遅延
パルスPOとして出力される。この遅延パルスPOは、
RSフリップフロップ76をリセットし、制御パルスP
TをLow レベルにするため、発振器66の発振動作は停
止する。このため、制御パルスPTは、データラッチ回
路64にラッチされた制御量Doに応じたパルス幅を有
するPWM信号となる。また、この遅延パルスPOはデ
ータラッチ回路64にも入力されており、制御データC
DIを更新する。
【0099】このように、PWM回路48は、アナログ
回路を用いることなく構成されているだけでなく、反転
回路の遅延時間を単位としてパルス幅の設定が可能であ
るため、中心電極10及び制御電極12,14間の静電
気力の微妙な制御を実現できる。
【0100】以上説明したように本実施例の加速度セン
サによれば、センサエレメント16以外の部分が、アナ
ログ回路を用いることなく、全てデジタル回路にて構成
されているため、加速度センサの全てを単一のシリコン
基板上に構成する場合に、センサエレメント以外の部分
を高集積化でき、当該加速度センサの素子サイズをきわ
めて小型に構成できる。
【0101】また、このようにデジタル回路にて構成さ
れているため、アナログ回路に比べて、対ノイズ性に優
れ、高温動作も可能であるため、様々な環境の元で、様
々な用途に使用できる。更に、本実施例によれば、A/
D変換器20により、センサエレメント16の可動部1
6aの変位を表す電圧信号Vinを数値化し、デジタル値
の演算処理により制御量Doを求めているため、オフセ
ットや感度の調整も演算処理により簡単にできる。
【0102】例えば、第3レジスタに格納されたデジタ
ルデータDbにオフセットデータを加算すれば、A/D
変換器20からのデジタルデータDaに含まれる誤差を
除去でき、また、同じくデジタルデータDbを適当な倍
率で乗算したり、制御量設定部42にて設定する微分制
御量△Doの値を変更するすることにより感度を調整で
きる。
【0103】また、本実施例の加速度センサによれば、
A/D変換器20では、電圧の変化をインバータの遅延
時間を単位として数値化し、また、PWM回路48で
は、インバータの遅延時間を単位としてパルス幅を変調
するようにされており、中心電極10の微少な変化を検
出して数値化できる共に、静電気力を細かく調整できる
ため、可動部16aの位置を高精度に制御でき、延いて
は当該加速度センサに加えられる加速度を高精度に検出
できる。
【0104】また更に、本発明の加速度センサによれ
ば、当該加速度センサに加えられる加速度に応じた制御
量Doがデジタル値にて出力されるため、当該加速度セ
ンサの出力をCPU等に取り込み各種制御を行うシステ
ムを構成する場合に、加速度センサの出力を直接CPU
に取り込ませることができるため、システム構成を簡単
なものにできる。
【0105】次に、第2実施例の加速度センサについて
説明する。なお、第1実施例では、中心電極10の位置
制御のために、制御回路22は、PWM信号を生成し、
制御電極12,14への電圧印加時間を制御することに
より、中心電極10及び各制御電極12,14間の静電
気力を制御していたが、本実施例では、制御電極12,
14には、中心電極10の電位に対して互いに極性が反
対となる所定電圧を印加し、中心電極10の電位を制御
することにより、静電気力を制御するようにされてい
る。
【0106】第2実施例の加速度センサは、図9に示す
ように、中心電極10と制御電極12,14とからなる
第1及び第2のコンデンサC1,C2により差動容量コ
ンデンサを形成するセンサエレメント16と、センサエ
レメント16の各制御電極12,14に夫々所定の制御
電圧V1,V2を印加するスイッチング回路80と、中
心電極10からの電圧信号Vinを数値化し、デジタルデ
ータDaにして出力するA/D変換器20と、A/D変
換器20からのデジタルデータDaに基づき、中心電極
10の電位を制御量Doとして設定する制御回路82
と、制御回路82が出力する制御量Doに基づきバイア
ス電圧Vb生成するD/A変換器84と、基準クロック
CK0及び基準クロックCK0を分周した分周クロック
CK1を生成するクロック発生器26と、により構成さ
れている。そして、D/A変換器84にて生成されたバ
イアス電圧Vbは、電流制限用の抵抗Rbを介して中心
電極10に印加されている。
【0107】なお、センサエレメント16,A/D変換
器20,クロック発生器26は、第1実施例と全く同じ
ものであるため、ここでは説明を省略する。まず、スイ
ッチング回路80は、制御電極12に第1の駆動電圧V
DD或は第2の駆動電圧VHのいずれかを択一的に印加す
るスイッチS21と、制御電極14に第3の駆動電圧V
SS或は第4の駆動電圧VLのいずれかを択一的に印加す
るスイッチS22と、からなり、分周クロックCK1に
より駆動され、各制御電極12,14に、分周クロック
CK1がHighレベルの時には第1及び第3の駆動電圧V
DD,VSSを、分周クロックCK1がLow レベルの時に
は、第2及び第4の駆動電圧VH,VLを印加するよう
に構成されている(図11参照)。
【0108】なお、各駆動電圧VDD,VH,VSS,VL
は、次の(1)(2)式のような関係を有するように設
定されている。 VDD>VH>VL>VSS (1) VDD−VH=VL−VSS (2) また、D/A変換器84が制御量Doに応じて生成する
バイアス電圧Vbは、第2の駆動電圧VH以下で第4の
駆動電圧以上(VH≧Vb≧VL)となるように生成さ
れ、電流制限用の抵抗Rbを介して中心電極10に印加
される。
【0109】つまり、各制御電極12,14には、中心
電極10の電位に対する極性が互いに異なり、かつ、中
心電極10との電位差が周期的に同じ大きさ(VDD−V
H,VL−VSS)だけ変化する制御電圧V1,V2が印
加されることなる。そして、このようなスイッチング回
路18が接続されたセンサエレメント16においては、
中心電極10が中立位置にあり、中心電極10の電位が
各制御電極12,14への印加電圧の中心電位Vc(=
(VDD+VSS)/2=(VH+VL)/2))にあれ
ば、中心電極10,制御電極12間、及び中心電極1
0,制御電極14間の電位差はいずれも同じとなり、従
って、これら電極間に働く静電気力も同じ大きさとなる
ため、互いに静電気力を打ち消し合い、中心電極10に
静電気力が働かないのと等価となる。
【0110】一方、中心電極10の電位が中心電位Vc
になければ、中心電極10と各制御電極12,14との
間の電位差は異なったものとなるため、中心電極10に
は、電位差の大きい制御電極の方向に力が働くことにな
る。また、第1及び第2のコンデンサC1,C2では、
スイッチング回路80による各制御電極12,14への
印加電圧の切換時に、充電電荷が変化するが、中心電極
10では、抵抗Rbの電流制限により中心電極10の電
荷は短期的には変化しないため、極性の異なる同量の電
荷が互いに消滅/分極し合うだけであり、その結果、両
コンデンサC1,C2の充電電荷は、常に同量だけ増減
することになる。
【0111】そして、両コンデンサC1,C2の静電容
量が等しければ、各コンデンサC1,C2における両極
間の電位差の変化は同じであるため、中心電極10の電
位は、印加電圧の切換前後で変化することなく、一定に
保持される。一方、両コンデンサC1,C2の静電容量
が異なれば、各コンデンサC1,C2における両極間の
電位差の変化も異なるため、中心電極10の電位は印加
電圧の切換前後で変化し、しかも、印加電圧の切換は、
周期的に行われるため、中心電極10の電位は、両コン
デンサC1,C2間の静電容量差がある限り振動するこ
とになる。
【0112】このように、本実施例のセンサエレメント
16では、制御電極12,14への印加電圧の切換時に
生じる中心電極10の電位の変化から、第1及び第2の
コンデンサC1,C2の容量変化(即ち、中心電極10
の変位)を検出でき、また、中心電極10の電位を制御
することにより、中心電極10及び制御電極12,14
間に働く静電気力を、延いては、中心電極10の位置を
制御できる。
【0113】次に、D/A変換器84にバイアス電圧V
bを生成させるための制御量Doを設定する制御回路8
2について説明する。図9に示すように、制御回路82
は、第1実施例と同様に構成された第1ないし第3レジ
スタ34,36,40及び減算回路38と、カウント値
を、中心電極10に印加すべきバイアス電圧Vbを生成
するための制御量Doとして出力するアップダウンカウ
ンタ(U/Dカウンタ)88と、第3レジスタ40に格
納されたデジタルデータDbに基づき、U/Dカウンタ
88のカウント値の増減を判定し、判定結果に従ってU
/Dカウンタ88を操作するためのアップカウント信号
UC或はダウンカウント信号DCを出力する判定部86
と、により構成されている。
【0114】なお、第1ないし第3レジスタ34,3
6,40及び減算回路38の動作については、第1実施
例と同じであるため説明を省略する。ここで、判定部8
6は、論理回路の組み合せにより簡単に構成されるもの
であるため、ここではその詳細な回路構成は省略し、判
定部が実行する処理についてのみ図10に示すフローチ
ャートに沿って説明する。
【0115】まず、S210およびS220は、第1実
施例における制御量設定部42の処理を表すフローチャ
ートのS110及びS120と同じであり、デジタルデ
ータDbに基づき判定値Drを設定後S230に進む。
但し、本実施例において、デジタル値Dbは、各制御電
極12,14に第1及び第3の駆動電圧VDD,VSSを印
加時のA/D変換値から、第2及び第4の駆動電圧V
H,VLを印加時のA/D変換値が差し引かれた値を正
転データ(ST=0)とし、逆に第2及び第4の駆動電
圧VH,VLを印加時のA/D変換値から、第1及び第
3の駆動電圧VDD,VSSを印加時のA/D変換値が差し
引かれた値を反転データ(ST=1)とする。
【0116】そして、S230では、判定値Drが0で
あるか否かを判断し、0であればそのまま処理を終了
し、一方、デジタルデータDbが0でなければS240
に移行する。S240では、デジタルデータDbが0よ
り大きいか否かを判断し、0より大きければ、S250
に移行して、U/Dカウンタ88をインクリメントする
アップカウント信号UCを出力後、本処理を終了する。
一方、S240にてデジタル値Drが0より小さいと判
断された場合は、S260に移行し、U/Dカウンタ8
8をデクリメントするダウンカウント信号DCを出力
後、本処理を終了する。
【0117】そして、U/Dカウンタ88は、判定部8
6より出力されるアップカウント信号UC及びダウンカ
ウント信号DCによりカウント値を増減される。即ち、
判定部86は、第1のコンデンサC1が第2のコンデン
サC2より静電容量が大きい時には、カウント値(即
ち、制御量Do)を増加させ、逆に第1のコンデンサC
1が第2のコンデンサC2より静電容量が小さい時に
は、制御量Doを減少させ、両コンデンサC1,C2の
静電容量が同じ時には、現在の制御量Doを維持するよ
うに動作する。
【0118】このようにして設定された制御量Doは、
D/A変換器84にて所定の電圧値に変換され、中心電
極10にバイアス電圧Vbとして印加される。以上のよ
うに構成された第2実施例の加速度センサの動作を、図
11に示すタイミング図に沿って説明する。
【0119】即ち、加速度センサに加速度が加えられて
いない状態(G=0)では、中心電極10の電位は、D
/A変換器84により、中心電位Vcにされている。そ
の結果、中心電極10には、両制御電極12,14との
間に同じ大きさの静電気力が互いに逆方向に働くことに
なり、中心電極10は中立位置に保持される。また、こ
の時、第1及び第2のコンデンサC1,C2の静電容量
は等しいため、制御電極12,14への印加電圧の切換
時に、中心電極10の電位が変動することなく、一定
(中心電圧Vc)に保たれる。
【0120】次に、加速度センサに加速度が加えられ
(G≠0)、中心電極10が制御電極12との間隙が狭
くなる方向に変位し、第1のコンデンサC1が第2のコ
ンデンサC2より静電容量が大きくなると、中心電極1
0の電位は、中間電位Vcより大きくなり、しかも、制
御電極12,14への印加電圧の切換に応じて振動す
る。そして、制御回路82が、A/D変換器20の出力
を演算することにより、この中心電極10の電位の変動
を検出すると、中心電極10を制御電極14側に引き付
ける静電気力が大きくなるように、D/A変換器84に
より高いバイアス電圧Vbを発生させるための制御量D
oを出力し、この制御量Doに基づき、D/A変換器8
4がバイアス電圧Vb(図11中点線で示す)を生成し
て中心電極10に印加する。すると、中心電極10に
は、静電気力を発生させるための電荷が除々に充電さ
れ、中心電極10は制御電極14側に引き付けられ、こ
の静電気力と加速度による力とが釣り合う位置まで中心
電極10は移動する。以上の動作が繰り返されることに
より、中心電極10が中立位置に戻されると、第1及び
第2のコンデンサC1,C2の静電容量が等しくなり、
中心電極10の電位は、D/A変換器84から出力され
るバイアス電圧Vbと同じ一定値になる。
【0121】この時、加速度センサに加えられている加
速度による力と、中心電極10に加えられている静電気
力とは釣り合っているため、この静電気力を発生させる
ための制御量Doや中心電極10の電位Vo(=Vin)
は、加速度に応じた値となっている。
【0122】以上説明したように、第2実施例の加速度
センサによれば、センサエレメント16及びD/A変換
器84以外は全てデジタル回路により構成されるため、
第1実施例の加速度センサに準じた効果を得ることがで
きる。また、本実施例の加速度センサによれば、A/D
変換器20は、常に、一定時間間隔にて変化する信号を
A/D変換すればよいため、第1実施例のようなデュー
ティが変化する信号を処理する場合に比べて処理時間に
余裕があり、A/D変換器20の設計を容易にできる。
【0123】なお、本実施例では、U/Dカウンタ88
の出力をD/A変換器84により電圧値に変換して抵抗
を介して中心電極10に印加しているが、第1実施例の
ように、制御量Doに応じてPWM信号を生成し、この
PWM信号をローパスフィルタを通すことにより、アナ
ログ電圧を生成し、これを抵抗を介して中心電極10に
印加するようにしてもよい。この場合、D/A変換器8
4を使用することなく構成できるため、第1実施例の加
速度センサと同様の効果を得ることができる。
【0124】次に、上記第1及び第2実施例の加速度セ
ンサにおいて、センサエレメント16は、中心電極10
と制御電極12,14とにより、可動部の変位検出と可
動部の位置制御とをいずれも行っているが、図12に示
すような、センサエレメント90を使用し、可動部の変
位検出を別の手段にて行うことも可能である。
【0125】即ち、図12に示すように、センサエレメ
ント90は、第1実施例のセンサエレメント16に、更
に、各梁部30a,30bの略中心から、質量部32と
は反対方向に突設された可動電極(変位検出用可動電
極)Gと、可動電極G直下のシリコン基板上に可動電極
Gと平行且つ各可動電極Gを夫々挟むように形成された
不純物拡散層からなる固定電極(変位検出用固定電極)
S,Dとにより、可動電極Gを可動ゲート、固定電極
S,Dをソース及びドレインとし、可動電極G及び固定
電極S,D間の空隙を絶縁層としてなる一対のMIS
(Metal Insulator Semiconductor) 型トランジスタ9
2,94を備えている。そして、可動電極Gと固定電極
S,Dとは、可動部Gが中立位置にある時に、その面積
の略半分が互いに対向し合うように形成されている。な
お、梁部30a,30b、質量部32、中心電極10、
可動電極Gを併せて可動部90aと呼ぶ。
【0126】このように構成されたセンサエレメント9
0では、MIS型トランジスタ92,94の可動電極G
に電圧が印加されると、固定電極S,D間の可動電極G
と対向した部分にチャネルが形成され、ドレイン電流が
流れる。そして、可動電極Gの変位に応じて、固定電極
S,D間に形成されるチャネル幅が変化し、ドレイン電
流が変調される。なお、各トランジスタ92,94の可
動電極Gは、可動部90aの変位方向に沿って互いに逆
向きに形成されているため、例えば、中心電極10と制
御電極12との間隙が狭くなる方向に可動部90aが変
位すると、MIS型トランジスタ92では、可動電極G
と固定電極S,Dとが互いに対向し合う面積が増大して
ドレイン電流が増大し、一方、MIS型トランジスタ9
4では、逆にこの面積が減少してドレイン電流が減少す
る。
【0127】このように、センサエレメント90におい
ては、中心電極10及び制御電極12は、可動部90a
の位置制御にのみに使用され、可動部90aの変位検出
には、MIS型トランジスタ92,94が使用される。
【0128】次に、このようなセンサエレメント90を
用いて構成した第3実施例の加速度センサについて説明
する。本実施例の加速度センサは、図13に示すよう
に、中心電極10,制御電極12,14及びMIS型ト
ランジスタ92,94を備えたセンサエレメント90
と、MIS型トランジスタ92,94に夫々接続され、
各トランジスタ92,94のドレイン電流を電圧信号に
変換する抵抗96,98と、抵抗96,98により電圧
信号Vx,Vyに変換されたセンサエレメント90の出
力を夫々数値化し、デジタルデータDx,Dyにして出
力するA/D変換器20a,20bと、A/D変換器2
0a,20bからのデジタルデータDx,Dyに基づ
き、パルス幅変調信号PTを生成する制御回路100
と、第1実施例と同様に構成されたスイッチング回路1
8,LPF24,クロック発生器26と、により構成さ
れている。そして、中心電極10及びMIS型トランジ
スタ92,94の可動電極Gには、電源電圧VDDが印加
されており、中心電極10は、制御電極12,14にバ
イアス電圧Vbが印加された場合に静電気力が働くよう
にされている。
【0129】次に、制御回路100について説明する。
第1実施例の制御回路22では、第1レジスタ34にて
今回のA/D変換値,第2レジスタ36にて前回のA/
D変換値を保持し、減算回路38にて第1レジスタ34
に保持された今回のA/D変換値との差を算出して第3
レジスタ40に保持するように構成されているが、本実
施例の制御回路100では、第1及び第2レジスタ34
a,34bは各A/D変換器20a,20bからの出力
を夫々保持し、減算回路38は、第1レジスタ34aと
第2レジスタ34bとの差分を演算し、その算出結果を
第3レジスタ40に格納するように構成されている。
【0130】そして、MIS型トランジスタ92,94
の出力は、単純に可動部90aの変位に応じた信号レベ
ルを有する信号となり、第1及び第2実施例のように、
第3レジスタ40に格納されるデジタルデータDbを反
転する必要がなく、デジタルデータDbを、そのまま判
定値Drとして使用可能なため、制御量設定部42の処
理は、S100〜S130が省略される。
【0131】以下、制御量設定部42が、判定値Drに
基づき微分制御量△Doを設定し、これを累積して制御
量Doを算出し、この制御量Doに基づきPWM回路4
8にてPWM信号を生成し、可動部90aの位置制御を
行う処理は、第1実施例と全く同様である。
【0132】以上説明したように、第3実施例の加速度
センサによれば、可動部90aの変位の検出をMIS型
トランジスタ92,94にて行っており、中心電極10
及び制御電極12,14により構成される差動容量コン
デンサの出力に比べ、大きな電流を流すことができ、こ
の検出信号を取り込むA/D変換器20a,20bの入
力インピーダンスを低くすることができ、ノイズに強い
装置を構成できる。
【0133】また、本実施例において、MIS型トラン
ジスタ92,94の出力は、単純に可動部90aの変位
に応じた信号レベルを有する信号となるため、第1及び
第2実施例のように、第3レジスタ40に格納されるデ
ジタルデータDbを1クロック毎に反転させる必要がな
く、制御を簡単にできる。
【0134】なお、本実施例においては、A/D変換器
20a,20bを2つ備えているが、これを一つにし
て、MIS型トランジスタ92,94からの各出力を時
分割で交互に数値化するように構成してもよい。以上、
本発明の実施例について説明したが、本発明は上記実施
例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲において様々な態様にて実施できる。
【0135】例えば、上記実施例では、センサエレメン
ト16(90)において、中心電極10を可動部16a
(90a)に、制御電極12,14を基板上に形成した
が、逆に、中心電極10を基板上に、制御電極12,1
4を可動部16a(90a)に形成してもよい。また、
中心電極10及び制御電極12,14を質量部32を挟
んで2箇所に設けたが、3箇所以上に設けてもよい。
【0136】また、第1及び第3実施例においては、ス
イッチング回路18を駆動するために、PWM信号を用
いているが、図14に示すように、パルスの出力周期を
変化させるパルス密度変調信号を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1実施例の加速度センサの全体構成を示す
ブロック図である。
【図2】 センサエレメント16の全体構成を表す斜視
図である。
【図3】 制御量設定部42にて実行される処理を説明
するフローチャートである。
【図4】 第1実施例の加速度センサの動作を表すタイ
ミング図である。
【図5】 A/D変換器20の詳細な構成を表す回路図
である。
【図6】 A/D変換器20の動作を表すタイミング図
である。
【図7】 PWM回路48の構成を表すブロック図であ
る。
【図8】 PWM回路48の動作を表すタイミング図で
ある。
【図9】 第2実施例の加速度センサの全体構成を表す
ブロック図である。
【図10】 判定部86にて実行される処理を説明する
フローチャートである。
【図11】 第2実施例の加速度センサの動作を表すタ
イミング図である。
【図12】 他のセンサエレメント90の構成を表す斜
視図である。
【図13】 第3実施例の加速度センサの全体構成を表
すブロック図である。
【図14】 第1又は第3実施例にてスイッチング回路
18をパルス周期変調信号にて制御する場合の動作を表
すタイミング図である。
【符号の説明】
10…中心電極 12,14…制御電極 16,9
0…センサエレメント 18,80…スイッチング回路 20…A/D変換器 22,82,100…制御回路 24…LPF 2
6…クロック発生器 28…絶縁膜 30a,30b…梁部 32…質量
部 34,36,40,46…レジスタ 38…減算回路 42…制御量設定部 44…加算回路 48…PW
M回路 50…パルス位相差符号化回路 51…制御回路
52…パルス周回回路 54…カウンタ 56…ラッチ回路 58…パルス
セレクタ 60…エンコーダ 62…信号処理回路 64…デ
ータラッチ回路 66…発振器 68…ダウンカウンタ 70…パル
ス発生回路 72…プログラム可能遅延線 74…エッジ検出回路 76…RSフリップフロップ 84…D/A変換器
86…判定部 88…U/Dカウンタ 92,94…MIS型トラン
ジスタ 96,98…抵抗

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 通電により動作し、所定の物理量に応じ
    た電気信号を出力するセンサエレメントと、 該センサエレメントが出力する電気信号を数値化するA
    /D変換器と、 該A/D変換器により数値化されたデジタルデータに基
    づき、上記電気信号が所定の出力となるように上記セン
    サエレメントを制御するための制御量を算出し、該制御
    量に応じた制御信号を生成する制御手段と、 該制御手段からの制御信号に応じて上記センサエレメン
    トを通電する通電手段と、 を備え、上記制御量あるいは上記制御信号を上記物理量
    を表す検出信号として出力することを特徴とする物理量
    検出装置。
  2. 【請求項2】 上記A/D変換器は、 入力信号を反転して出力すると共に反転動作時間が電源
    電圧により変化する反転回路が奇数個リング状に連結さ
    れる共に、該反転回路の一つが反転動作を外部から制御
    可能な起動用反転回路として構成され、該起動用反転回
    路の動作開始に伴いパルス信号を周回させるパルス周回
    回路と、 上記パルス周回回路内での上記パルス信号の周回回数を
    カウントし、該カウント結果を二進数デジタルデータと
    して出力するカウンタと、 上記各反転回路からの出力信号に基づき上記パルス周回
    回路内での上記パルス信号の周回位置を検出し、該周回
    位置に応じた二進数デジタルデータを発生する周回位置
    検出手段と、 上記起動反転回路を動作させて上記パルス周回回路の周
    回動作を起動し、その後所定時間経過した時点で上記周
    回位置検出手段を動作させる検出制御手段と、 を備え、上記センサエレメントが出力する電気信号もし
    くは上記センサエレメントが出力する電気信号に応じて
    変化する電気信号を上記パルス周回回路の電源電圧と
    し、上記周回位置検出手段からの二進数デジタルデータ
    を下位ビット,上記カウンタからの二進数デジタルデー
    タを上位ビットとする複数ビットのデジタルデータをA
    /D変換結果として出力することを特徴とする請求項1
    に記載の物理量検出装置。
  3. 【請求項3】 上記制御手段は、 反転回路が奇数個リング状に連結される共に、該反転回
    路の一つが反転動作を外部から制御可能な起動用反転回
    路として構成され、入力信号により該起動用反転回路が
    起動されるとパルス信号を周回させ所定の時間間隔で発
    振パルスを出力する発振器と、 該発振器からの発振パルスをカウントし、カウント値が
    予め設定された所定の値となるとパルス信号を発生する
    カウント手段と、 該カウント手段からのパルス信号を通過させる基本経路
    と,複数の反転回路を縦続接続してなり該パルス信号を
    所定の遅延時間だけ遅延して通過させる遅延経路と,外
    部から入力されるデジタルデータに応じて上記基本経路
    と遅延経路とのいずれか一方を入力信号の経路として選
    択するセレクタと、からなる複数の遅延段を縦続接続
    し、上記発振器の発振パルスの時間間隔未満の遅延時間
    だけ遅延させて遅延信号として出力する、当該遅延時間
    をデジタルデータにより変更可能なプログラム可能遅延
    線と、 上記入力信号の遅延時間を表す所定ビットのデジタル制
    御データを受け、該デジタル制御データの上位ビットを
    上記カウント発生手段のカウント値として設定し、該デ
    ジタル制御データの下位ビットを上記プログラム可能遅
    延線に供給して上記プログラム可能遅延線の遅延時間を
    設定する制御データ供給手段と、 上記入力信号を所定周期で発生して上記発振器を起動さ
    せ、上記プログラム可能遅延線から遅延信号が出力され
    ると上記発振器を停止させると共に、上記入力信号の発
    生後、上記プログラム可能遅延線から遅延信号が出力さ
    れるまでの間、ハイレベルとなる出力信号を生成する出
    力手段と、 からなり、上記制御量を上記デジタル制御データとし、
    上記制御量に応じたパルス幅を有する出力信号を上記制
    御信号として出力するパルス幅変調回路を備え、該パル
    ス幅変調回路が出力するパルス幅変調信号により上記通
    電手段による上記センサエレメントへの通電時間を制御
    することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の
    物理量検出装置。
  4. 【請求項4】 上記制御手段は、 上記デジタルデータと所定の基準データとを大小比較す
    る比較手段と、 該比較手段の比較結果に基づきカウント値を増減させ、
    該カウント値を上記制御量として出力するアップダウン
    カウンタと、 を備え、上記アップダウンカウンタが出力するカウント
    値に応じた電圧値により上記通電手段による上記センサ
    エレメントへの通電量を制御することを特徴とする請求
    項1または請求項2に記載の物理量検出装置。
  5. 【請求項5】 請求項3に記載の物理量検出装置におい
    て、 上記センサエレメントは、 該センサエレメント本体に対して変位可能に形成された
    可動部と、 上記可動部あるいは上記センサエレメント本体のいずれ
    か一方に設けられた中心電極と、 上記可動部あるいは上記センサエレメント本体のうち、
    上記中心電極が設けられていない側の上記中心電極近傍
    かつ該中心電極の上記可動部変位方向両側に夫々設けら
    れた制御電極と、 上記可動部の変位に応じた電気信号を出力する変位検出
    手段と、 からなり、上記変位検出手段の出力が上記A/D変換に
    入力されると共に、上記中心電極及び上記各制御電極間
    への電圧印加により生じる静電気力によって上記可動部
    の位置が調整可能なように構成され、 上記通電手段は、上記中心電極及び上記各制御電極によ
    り構成される2つの電極対に所定の駆動電圧を夫々印加
    する一対のスイッチを有し、上記パルス幅変調回路が出
    力するパルス幅変調信号の信号レベルに対応して交互に
    オンオフされることを特徴とする物理量検出装置。
  6. 【請求項6】 請求項4に記載の物理量検出装置におい
    て、 上記センサエレメントは、 該センサエレメント本体に対して変位可能に形成された
    可動部と、 上記可動部あるいは上記センサエレメント本体のいずれ
    か一方に設けられた中心電極と、 上記可動部あるいは上記センサエレメント本体のうち、
    上記中心電極が設けられていない側の上記中心電極近傍
    かつ該中心電極の上記可動部変位方向両側に夫々設けら
    れた制御電極と、 上記可動部の変位に応じた電気信号を出力する変位検出
    手段と、 からなり、上記変位検出手段の出力が上記A/D変換に
    入力されると共に、上記中心電極及び上記各制御電極間
    への電圧印加により生じる静電気力によって上記可動部
    の位置が調整可能なように構成され、 上記通電手段は、 上記アップダウンカウンタのカウント値に応じた電位を
    上記中心電極に印加する中心電圧印加手段と、 上記各制御電極の電位を、上記中心電極に対する極性が
    互いに異なり、上記中心電極との電位差が周期的に同じ
    大きさだけ増減するように制御する制御電圧印加手段
    と、 により構成されていることを特徴とする物理量検出装
    置。
  7. 【請求項7】 請求項5または請求項6に記載の物理量
    検出装置において、 上記変位検出手段は、上記センサエレメントの中心電極
    の電位を、上記可動部の変位を表す上記電気信号として
    上記A/D変換器に入力することを特徴とする物理量検
    出装置。
  8. 【請求項8】 請求項5または請求項6に記載の物理量
    検出装置において、 上記変位検出手段は、上記可動部に設けられた変位検出
    用可動電極と、上記基板上かつ上記変位検出用可動電極
    の両側に不純物拡散層を形成してなる変位検出用固定電
    極とにより構成され、上記変位検出用可動電極を可動ゲ
    ートとするMIS型トランジスタからなり、 上記可動部の変位を、上記変位検出用固定電極間に流れ
    る電流の変化から検出することを特徴とする物理量検出
    装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100668336B1 (ko) * 2005-04-07 2007-01-12 삼성전자주식회사 액츄에이터 장치 및 그의 액츄에이팅 방법
JP2007171203A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Honeywell Internatl Inc 時間間隔調整型の差動容量センサ装置
JP2007334987A (ja) * 2006-06-14 2007-12-27 Fujitsu Ltd ヘッド退避装置、記憶装置およびヘッド退避方法
JP2008298775A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Northrop Grumman Guidance & Electronics Co Inc 静電力平衡計器における誤差を軽減するシステムおよび方法
US7490515B2 (en) 2004-03-25 2009-02-17 Yazaki Corporation Liquid level measuring system
JP2011089980A (ja) * 2009-09-09 2011-05-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co Ltd 微小電気機械システム、システム、及びその動作方法
JP2012002752A (ja) * 2010-06-18 2012-01-05 Denso Corp 容量式慣性力センサ
WO2016132447A1 (ja) * 2015-02-17 2016-08-25 株式会社日立製作所 加速度センサ
WO2016189690A1 (ja) * 2015-05-27 2016-12-01 株式会社日立製作所 加速度センサシステム
JP2017523396A (ja) * 2014-06-27 2017-08-17 アトランティック・イナーシャル・システムズ・リミテッドAtlantic Inertial Systems Limited 加速度計

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6144885A (en) * 1997-06-03 2000-11-07 Scarrah; Warren P. Method for the interactive improvement of manufacturing processes
JP2000241202A (ja) * 1999-02-24 2000-09-08 Denso Corp センサ装置
AU3517600A (en) * 1999-03-17 2000-10-04 Input/Output, Inc. Calibration of sensors
JP2001183163A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Mitsutoyo Corp 変位測定装置
JP2002040047A (ja) * 2000-07-25 2002-02-06 Denso Corp 容量型物理量検出センサ
JP2003166999A (ja) * 2001-12-03 2003-06-13 Denso Corp 半導体力学量センサ
TW200539574A (en) * 2004-05-21 2005-12-01 Chung Shan Inst Of Science Circuitry and method for measuring time interval with ring oscillator
JP4128191B2 (ja) * 2005-05-19 2008-07-30 国立大学法人名古屋大学 デジタルデータ記録装置、及び、そのサンプリングデータ特定方法並びにサンプリングデータ特定用プログラム
DE102006049960A1 (de) * 2006-05-29 2007-12-06 Conti Temic Microelectronic Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Einstellen eines Offsets eines Sensorelements
DE102007057136A1 (de) * 2007-11-28 2009-06-04 Robert Bosch Gmbh Schaltung für einen mikromechanischen Körperschallsensor und Verfahren zum Betrieb eines mikromechanischen Körperschallsensors
JP4836985B2 (ja) * 2008-04-04 2011-12-14 パナソニック株式会社 物理量検出回路
JP4794596B2 (ja) * 2008-04-04 2011-10-19 パナソニック株式会社 物理量検出回路、物理量センサ装置
GB0904180D0 (en) 2009-03-11 2009-04-22 Renishaw Plc Apparatus and method for digitising impedance
KR100919477B1 (ko) * 2009-06-16 2009-09-28 박흥준 측정 오차를 제거하기 위한 유도 전압을 이용한 하중 측정 트랜스듀서 및 그 트랜스듀서를 이용한 하중 측정 시스템
JP5554684B2 (ja) * 2010-10-28 2014-07-23 日立オートモティブシステムズ株式会社 物理量検出装置、ネットワークシステム
US9525925B2 (en) * 2011-02-25 2016-12-20 Infineon Technologies Ag Sensor with movable part and biasing
FR2976674B1 (fr) * 2011-06-15 2013-12-13 Sagem Defense Securite Dispositif et procede de mesure d'acceleration avec demodulation numerique
FR3002324B1 (fr) 2013-02-19 2016-01-22 Sagem Defense Securite Capteur a accelerometre pendulaire electrostatique et procede de commande d'un tel capteur
US10006930B2 (en) * 2014-06-03 2018-06-26 Northrop Grumman Systems Corporation Performance optimization of a differential capacitance based motion sensor
JP6357090B2 (ja) * 2014-12-02 2018-07-11 株式会社堀場エステック 静電容量型センサ
JP6380229B2 (ja) * 2015-05-14 2018-08-29 株式会社デンソー 復調装置
RU2624624C2 (ru) * 2015-08-06 2017-07-04 Общество с ограниченной ответственностью "Эталон-Центр" Устройство погружной телеметрии
US9596666B1 (en) 2015-12-11 2017-03-14 Uber Technologies, Inc. System for processing asynchronous sensor data
US10101747B2 (en) 2015-12-11 2018-10-16 Uber Technologies, Inc. Formatting sensor data for use in autonomous vehicle communications platform
US9537956B1 (en) * 2015-12-11 2017-01-03 Uber Technologies, Inc. System for acquiring time-synchronized sensor data
US9785150B2 (en) 2015-12-11 2017-10-10 Uber Technologies, Inc. Formatting sensor data for use in autonomous vehicle communications platform
US10114103B2 (en) 2016-03-31 2018-10-30 Uber Technologies, Inc. System and method for sensor triggering for synchronized operation
US10482559B2 (en) 2016-11-11 2019-11-19 Uatc, Llc Personalizing ride experience based on contextual ride usage data
JP6571064B2 (ja) * 2016-11-21 2019-09-04 株式会社東芝 検出装置およびセンサ装置
CN109600140B (zh) * 2018-12-21 2023-04-28 陕西航天时代导航设备有限公司 实现电压频率转换电路的数字化方法
US11595027B2 (en) 2021-03-01 2023-02-28 Nxp Usa, Inc. High frequency pulse width modulation shaping

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5963792U (ja) * 1982-10-22 1984-04-26 ニツタン株式会社 光電式煙検出端末機
JPS6413419A (en) * 1987-07-08 1989-01-18 Shimadzu Corp Flow rate sensor
JPH0672899B2 (ja) * 1988-04-01 1994-09-14 株式会社日立製作所 加速度センサ
JPH0368209A (ja) * 1989-08-07 1991-03-25 Fujitsu Ltd 信号変換器
JPH0385014A (ja) * 1989-08-29 1991-04-10 Sharp Corp Pwm/dc電圧変換回路
JP2868266B2 (ja) * 1990-01-25 1999-03-10 株式会社日本自動車部品総合研究所 信号位相差検出回路及び信号位相差検出方法
US5283474A (en) * 1990-06-27 1994-02-01 Idec Izumi Corporation Circuit for driving a load by using selectively one of two different DC power sources
JPH0644008B2 (ja) * 1990-08-17 1994-06-08 アナログ・ディバイセス・インコーポレーテッド モノリシック加速度計
US5506454A (en) * 1991-03-20 1996-04-09 Hitachi, Ltd. System and method for diagnosing characteristics of acceleration sensor
JP3047927B2 (ja) * 1991-04-09 2000-06-05 三菱電機株式会社 映像信号クランプ回路
US5331852A (en) * 1991-09-11 1994-07-26 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Electromagnetic rebalanced micromechanical transducer
US5465076A (en) * 1991-10-04 1995-11-07 Nippondenso Co., Ltd. Programmable delay line programmable delay circuit and digital controlled oscillator
US5428352A (en) * 1992-01-06 1995-06-27 Motorola, Inc. Closed loop circuit for a differential capacitive sensor
JP3064644B2 (ja) * 1992-03-16 2000-07-12 株式会社デンソー A/d変換回路
US5440501A (en) * 1992-06-26 1995-08-08 Mitutoyo Corporation Energy saving capacitance type measuring device for absolute measurement of positions
JP2804420B2 (ja) * 1992-07-08 1998-09-24 ローム株式会社 加速度センサ
JP3455982B2 (ja) * 1993-01-14 2003-10-14 株式会社デンソー 偶数段リングオシレータ及びパルス位相差符号化回路
JPH06229777A (ja) * 1993-02-02 1994-08-19 Yamatake Honeywell Co Ltd センサのオフセット調整装置
JP3203909B2 (ja) * 1993-11-26 2001-09-04 株式会社デンソー A/d変換装置
JP2900772B2 (ja) * 1993-12-24 1999-06-02 株式会社デンソー パルス位相差符号化回路とパルス発生回路との複合装置及びデジタル制御pll装置
JP3269274B2 (ja) * 1994-03-15 2002-03-25 株式会社デンソー 加速度センサ

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7490515B2 (en) 2004-03-25 2009-02-17 Yazaki Corporation Liquid level measuring system
KR100668336B1 (ko) * 2005-04-07 2007-01-12 삼성전자주식회사 액츄에이터 장치 및 그의 액츄에이팅 방법
JP2007171203A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Honeywell Internatl Inc 時間間隔調整型の差動容量センサ装置
JP2007334987A (ja) * 2006-06-14 2007-12-27 Fujitsu Ltd ヘッド退避装置、記憶装置およびヘッド退避方法
JP2008298775A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Northrop Grumman Guidance & Electronics Co Inc 静電力平衡計器における誤差を軽減するシステムおよび方法
JP2011089980A (ja) * 2009-09-09 2011-05-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co Ltd 微小電気機械システム、システム、及びその動作方法
JP2012002752A (ja) * 2010-06-18 2012-01-05 Denso Corp 容量式慣性力センサ
JP2017523396A (ja) * 2014-06-27 2017-08-17 アトランティック・イナーシャル・システムズ・リミテッドAtlantic Inertial Systems Limited 加速度計
WO2016132447A1 (ja) * 2015-02-17 2016-08-25 株式会社日立製作所 加速度センサ
JPWO2016132447A1 (ja) * 2015-02-17 2017-06-29 株式会社日立製作所 加速度センサ
WO2016189690A1 (ja) * 2015-05-27 2016-12-01 株式会社日立製作所 加速度センサシステム
JPWO2016189690A1 (ja) * 2015-05-27 2017-06-08 株式会社日立製作所 加速度センサシステム

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