JPH0727714A - 平面型表示パネル検査装置 - Google Patents

平面型表示パネル検査装置

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JPH0727714A
JPH0727714A JP5173387A JP17338793A JPH0727714A JP H0727714 A JPH0727714 A JP H0727714A JP 5173387 A JP5173387 A JP 5173387A JP 17338793 A JP17338793 A JP 17338793A JP H0727714 A JPH0727714 A JP H0727714A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】表示パネルの大きさに拘わらず、欠陥を確実に
検出できるともに、検査に要する時間を短縮することを
目的とする。 【構成】検査パターン発生装置７０によって液晶パネル
５０に、検査項目に応じた検査パターンを表示させ、複
数のカメラ２０でそれを撮像し、カメラ２０からの画像
信号を、高速画像処理装置８０で検査項目に応じて処理
して欠陥を検出するようにしており、さらに、検査項目
によっては、複数の検査パターンを、液晶パネル５０の
領域を複数に分割して同時に表示させて同時に検査でき
るようにし、あるいは、液晶パネル５０の予め定められ
た領域のみを検査するようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プラズマ表示、ＥＬ表
示、液晶表示等の平面型表示パネルの黒点、輝点、線欠
陥、表示ムラ、コントラスト差等の欠陥を検出して、そ
の大きさ、個数、色識別及び欠陥の存在している位置等を
特定する検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の平面型表示パネル、例え
ば、液晶パネルの検査では、該液晶パネルを点灯させて
その表示面を作業者が目視によって欠陥を検出する方法
が行われているが、このような目視による検査では、作
業者の能力や体調等によって検出精度にムラや欠陥箇所
の見落とし等の発生もあり、また、単なる目視検査では
液晶パネル上の欠陥位置の確認は行えず、欠陥位置を特
定するためには顕微鏡等の光学機器を使用する必要があ
り、このような方法では検査に時間を要するという難点
がある。 このため、最近では、点灯させた液晶パネルの表示面を
ＣＣＤカメラやイメージスキャナー等の撮像装置で読み
取って、画像処理技術により液晶パネル面にある種々の
欠陥を自動的に検出する方法が開発されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、液晶パネル
はその大きさ(対角寸法)が例えば０．７インチから１５
インチと種々のサイズの製品が現在商品化されており、
今後さらにサイズの大きい物が開発されて市場に出てく
るであろうが、このような各種の大きさの液晶パネルを
１台のカメラで撮像し、画像処理を行って液晶パネル上
の欠陥を検出する場合には、装置は簡単になるけれど
も、液晶パネルが大きくなるに従ってその解像度は悪く
なり、液晶パネル上に発生させた文字、図形、絵等のカケ
や濃度、表示ムラ等を検出する場合は問題は少ないけれ
ども、小さい黒点や輝点或いはそれらの連結した線状欠
陥を検出しようとする場合には、ある大きさの寸法以上
の液晶パネルでは、その欠陥検査の目的を達成すること
ができなくなる。 また、液晶パネルの検査項目は、黒点（白表示のとき光
を透過しない黒欠陥）、輝点（黒表示のとき光が抜ける
白欠陥）、線状に黒点や輝点が生じる線状欠陥、画面の一
部にコントラストや色度の異なる領域ができる表示ムラ
等沢山の検査項目がある。これらの検査項目を全て実施
するには各検査項目毎に、沢山の画像を読み取り、これ
らを逐次画像処理をしなければならず、検査時間が長く
かかることになる。 本発明は、上述の点に鑑みて為されたものであって、表
示パネルの大きさに拘わらず、欠陥を確実に検出できる
ともに、検査に要する時間を短縮して表示パネルの生産
ラインでの効率的な検査を可能にすることを目的とす
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明では、上述の目的
を達成するために、次のように構成している。
【０００５】すなわち、請求項第１項に記載の本発明
は、複数の画素を平面上に配置し、前記画素を選択的に
駆動することにより画像表示を行う平面型表示パネルの
表示欠陥を検査する装置において、前記表示パネルの画
像を読み取る複数の読み取り手段と、前記表示パネル
に、検査項目に応じた検査パターンを表示させる表示制
御手段と、前記検査パターンを読み取った読み取り手段
からの画像信号を、検査項目に応じて処理して表示パネ
ル面上の表示欠陥および欠陥位置を特定する検査手段と
を備え、前記表示制御手段は、所定の複数の検査項目に
ついては、対応する複数の検査パターンを、前記表示パ
ネルの領域を複数に分割して同時に表示させるようにし
ている。
【０００６】また、請求項第２項に記載の本発明では、
複数の画素を平面上に配置し、前記画素を選択的に駆動
することにより画像表示を行う平面型表示パネルの表示
欠陥を検査する装置において、前記表示パネルの画像を
読み取る複数の読み取り手段と、前記表示パネルに、検
査項目に応じた検査パターンを表示させる表示制御手段
と、前記検査パターンを読み取った読み取り手段からの
画像信号を、検査項目に応じて処理して表示パネル面上
にある表示欠陥および欠陥位置を特定する検査手段とを
備え、前記検査手段は、所定の検査項目については、前
記表示パネルの予め定めた領域の画像信号のみを処理し
て表示パネル面上の表示欠陥および欠陥位置を特定する
ようにしている。
【０００７】
【作用】上記構成によれば、複数の読み取り手段で表示
パネルの画像を読み取って欠陥を検出するので、表示パ
ネルのサイズが大きい場合には、複数に分割した表示パ
ネルの各領域の画像を、各読み取り手段でそれぞれ部分
的に読み取ることにより、解像度が向上し、表示パネル
のサイズが大きくなっても欠陥を確実に検出できること
になる。
【０００８】さらに、検査項目によっては、表示パネル
の領域を複数に分割して複数の検査パターンを各領域に
それぞれ同時に表示して複数の検査項目を同時に検査す
ることができ、あるいは、表示パネルの予め定めた領
域、すなわち、表示領域の一部の画像信号のみを処理し
て検査を行うので、検査に要する時間が短縮される。
【０００９】
【実施例】以下、図面によって本発明の実施例につい
て、詳細に説明する。
【００１０】図１は、発明の一実施例の液晶パネルの検
査装置の概略構成図である。
【００１１】撮像部１０は、撮像位置にセットされた検
査対象のＴＦＴ液晶パネル５０の表示パターンを撮像
し、画像処理部１００に画像データを送出するものであ
り、この撮像部１０は、液晶パネル５０を撮像する４台
の読み取り手段としてのモノクロのカメラ２０と、暗室
１５０外の画像モニタ３０と、検査開始や緊急停止用の
操作スイッチ６０とを備えている。
【００１２】画像処理部１００は、高速画像処理装置８
０と検査パターン発生装置７０とを備えている。表示制
御手段としての検査パターン発生装置７０は、検査項
目、例えば、黒点、輝点、線状欠陥あるいは階調不良等
に応じた検査パターンを発生させてドライバーＩＣ４０
を介して液晶パネル５０に表示させる。検査手段として
の高速画像処理装置８０は、撮像部１０の各カメラ２０
からの画像信号に基づいて、規定のポジションに表示さ
れているかどうか、さらに、黒点、輝点、線状欠陥、表
示ムラ、階調不良等の欠陥が無いかどうかを後述のよう
に検出し、ＴＦＴ液晶パネル５０の品質を判定する検査
手段としての機能を有する。
【００１３】データ処理部１１０は、画像処理部１００
の高速画像処理装置 ８０で検出された検査情報と合否
判定情報をコンピュータ１４０に集積し、モニタ １２
０、プリンタ１３０に出力するものであり、本検査装置
の操作は、このデータ処理部１１０と操作スイッチ６０
から行う。
【００１４】カメラ位置自動調整機構９０は、液晶パネ
ル５０のサイズに応じて各カメラ２０を、予め定めた対
応する位置に自動的に移動させるものであり、水平な液
晶パネル５０に対して、各カメラ２０を水平方向（Ｘ，
Ｙ方向）および垂直方向（Ｚ方向）に移動させる。
【００１５】この実施例では、液晶パネル５０のサイズ
が大きくても確実に欠陥を検出できるようにするため
に、撮像部１０の４台のカメラ２０によって、検査対象
である液晶パネル５０の画像２００を、図２に示される
ように、４つの領域〜に分割して撮像し、しかも、
第３図のように、カメラ２０の視野（ａ×ｂ）の一部を
オーバーラップ（幅ｃ又は幅ｄ）させて撮像する。液晶
パネル５０はそのサイズの如何にかかわらずその中心
が、４台の全てのカメラ２０の視野がオーバーラップす
る部分の中心Ａにくるようにセッティングされる。
【００１６】これら４台のカメラ２０は、画像の読み取
り条件が同一となるように、カメラの焦点・絞り・位置
の自動調整機構９０により、レンズの焦点および絞りが
調整される。すなわち、各カメラ２０の撮像画面が同一
となる所定の画面を液晶パネル５０に表示し、そのとき
の各カメラ２０からの画像信号のレベルが同一となるよ
うに各カメラ２０の焦点および絞りが調整される。
【００１７】一方、画像処理部１００におけるカメラ２
０の視野がオーバラップする部分の処理は、その中に欠
陥のある場合には関連する各カメラ２０で欠陥の存在を
確認して、予め定められた１台のカメラ２０の視野の画
像を処理するようにしている。
【００１８】さらに、４台のカメラ２０で撮像する液晶
パネル５０の表示面の中央部と周辺部では、周囲の暗室
１５０からの光漏れやバックライトシステムの照度の分
布バラツキなどによって輝度が異なるので、この実施例
では、図４に示されるように、液晶パネル５０の表示面
に複数のウィンドを設け、各ウィンドＷ１〜Ｗ７毎に欠
陥検出のための閾値の設定を予め行っており、これによ
って、検査条件が均一になるようにしている。なお、本
発明の他の実施例として、絵素２０×２０ドットにエリ
アを分割するようにしてもよい。
【００１９】検査パターン発生装置７０は、各カメラ２
０の焦点および絞りを上述のように調整するための表示
パターンや図５に示されるような位置をチェックするた
めの基準となるパターン、さらに、検査項目に応じた検
査パターンを後述のように発生して液晶パネル５０に表
示させるものであり、例えば、黒点を検査する場合に
は、Ｒ，Ｇ，Ｂの各画面を順次表示させるものである。
【００２０】この実施例の検査パターン発生装置７０
は、検査時間を短縮するために、階調検査の検査パター
ンを、液晶パネル５０の領域を分割して同時表示してい
る。すなわち、一般に、Ｒ，Ｇ，Ｂの８階調の水平画面
を検査する場合には、図６に示されるように、Ｒ，Ｇ，
Ｂのそれぞれについて８階調の検査パターンを順次表示
する、したがって、３画面を順次表示するのであるが、
この実施例では、図７に示されるように、液晶パネル５
０の領域を中央部で垂直方向に分割し、Ｒ，Ｇの８階調
を左右の領域に同時に表示して検査し、次にＢの８階調
を一方の領域に表示して検査するものである。したがっ
て、従来では、３画面の表示が必要であったのが、２画
面の表示で済むことになる。
【００２１】さらに、検査時間を短縮するために、この
実施例の高速画像処理装置８０は、線状欠陥の検査を、
液晶パネル５０のすべての表示領域について行うのでは
なく、予め定めた領域のみについて行うようにしてい
る。すなわち、図８に示されるように、線欠陥２３は、
液晶パネル５０の上から下、左から右といったように、
端から端に表れるので、図９に示されるように、液晶パ
ネル５０の画像２００の周囲３０に対応する画像信号の
みを処理して欠陥を検出するようにしている。なお、図
８において、２２は点欠陥である。
【００２２】この実施例では、液晶モジュールは、図１
０に示される構成となっている。同図において、２４は
ソースドライバー、２５はゲートドライバー、２６はコ
ントローラ、２７は液晶パネルであり、ドット構成は水
平 ６４０ × ３(ＲＧＢ)垂直 ４８０であり、ソースド
ライバー２４は複数個例えば上下に各８個づつ配置され
ており、各ソースドライバーＩＣ１個は水平の８０ドッ
トの内、奇数又は偶数を上下のＩＣで駆動するように設
計されている。そこで検査パターンで奇数・偶数のチェッ
クを行うことによって、欠陥のある場合には、どのソー
スドライバーＩＣが異常であるかを特定することができ
る。 次に、以上の構成を有する検査装置による検査の手順を
図１１のフローチャートに基づいて説明する。
【００２３】例えば、生産ライン上で液晶パネル５０が
載置されたパレットが撮像部１０に運び込まれると、パ
レットに明示されたバーコードを読み取って液晶パネル
５０の寸法および機種等を確認する（ステップｎ１）。
【００２４】そして、前回検査した液晶パネル５０と寸
法や機種が異なる場合には、カメラ位置自動調整機構９
０によって各カメラ２０の位置が自動調整される（ステ
ップｎ２）。
【００２５】次に、検査スタート信号を発生し（ステッ
プｎ３）、検査項目を選定する（ステップｎ４）。これ
によって、検査項目に応じた検査パターンを液晶パネル
５０に表示し（ステップｎ５）、４台のカメラ２０で画
像を読み取り（ステップｎ６）、画像情報を処理する
（ステップｎ７）。その上で、検査位置特定用基準点を
特定した後（ステップｎ８）、欠陥を抽出して種類、個
数、位置等を特定する（ステップｎ９）。そして、予め
定めた検査基準に基づいて、液晶パネル５０の良品、不
良品を判別する（ステップｎ１０）。
【００２６】例えば、黒点欠陥の場合には、Ｒ，Ｇ，Ｂ
の各画面について順次検査して黒点がどの色のどの位置
に発生するかを特定することができる。
【００２７】輝点欠陥の場合には、階調変化がないこと
に着目し、Ｒ，Ｇ，Ｂのそれぞれについて、階調の差分
をとるようにしている。例えば、ＲについてＡ階調の画
面とＢ階調の画面とを順次表示し、その差分をとり、そ
の差分が一定以下である点は、階調の変化がない、すな
わち、輝点であるとするものであり、これを、Ｇ，Ｂに
ついても同様に行うものである。
【００２８】階調検査の場合には、上述の図７に示され
るように液晶パネル５０の領域を分割して階調パターン
表示して検査を行う。
【００２９】また、線状欠陥の場合には、上述の図９に
示されるように、液晶パネル５０の周囲の領域のみを検
査する。この実施例では、黒点や輝点が線状に発生する
線状欠陥を検査し、線状欠陥の異常のないものについて
のみ、黒点および輝点の検査を行うようにしている。
【００３０】その他、表示ムラやコントラスト差などの
検査が行われる。
【００３１】以上のように、４台のカメラ２０で液晶パ
ネル５０を部分的に撮像して画像処理することにより、
欠陥を検出するので、液晶パネル５０のサイズが大きく
ても確実に欠陥を検出することが可能となり、また、階
調検査の場合には、液晶パネル５０の領域を分割して階
調パターンを同時に表示して検査し、さらに、線状欠陥
の場合には、液晶パネル５０の周囲の領域のみを検査す
るだけであるので、検査時間が短縮されることになる。
【００３２】なお、検査する液晶パネル５０のサイズが
小さい場合には、必ずしも４台のカメラ２０で分割して
撮像する必要はなく、それぞれ液晶パネル５０の全体を
撮像し、予め定めた１台のカメラ２０の画像信号を処理
して欠陥を検出するようにしてもよい。
【００３３】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、複数の読
み取り手段で表示パネルの画像を読み取って欠陥を検出
するので、表示パネルのサイズが大きくなっても欠陥を
確実に検出できることになる。
【００３４】さらに、検査項目によっては、表示パネル
の領域を複数に分割して複数の検査パターンを各領域に
それぞれ同時に表示して複数の検査項目を同時に検査
し、あるいは、表示パネルの予め定めた領域の画像信号
のみを処理して検査を行うので、検査に要する時間が短
縮されることになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例の概略構成図である。
【図２】各カメラの撮像領域を示す図である。
【図３】各カメラの撮像領域の重なりを示す図である。
【図４】検査条件を均一化するためのウィンドの領域を
示す図である。
【図５】基準位置チェック用の表示パターンを示す図で
ある。
【図６】従来の階調検査のパターンを示す図である。
【図７】実施例の階調検査のパターンを示す図である。
【図８】表示画面の欠陥の例を示す図である。
【図９】線欠陥の検査領域を示す図である。
【図１０】液晶モジュールの構成図である。
【図１１】動作説明に供するフローチャートである。
【符号の説明】
１０ 撮像部 ２０ カメラ（読み取り手段） ５０ 液晶パネル ７０ 検査パターン発生装置（表
示制御手段） ８０ 高速画像処理装置（検査手
段）
フロントページの続き (72)発明者 田中 敏昭 東京都文京区本郷２丁目10−９（富士ビル ）株式会社エー・ディー・エス内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 複数の画素を平面上に配置し、前記画素
    を選択的に駆動することにより画像表示を行う平面型表
    示パネルの表示欠陥を検査する平面型表示パネル検査装
    置において、前記平面型表示パネルの画像を読み取る複
    数の読み取り手段と、前記平面型表示パネルに、検査項
    目に応じた検査パターンを表示させる表示制御手段と、 前記検査パターンを読み取った読み取り手段からの画像
    信号を、検査項目に応じて処理して表示パネル面上にあ
    る表示欠陥および欠陥位置を特定する検査手段とを備
    え、 前記表示制御手段は、所定の複数の検査項目について
    は、対応する複数の検査パターンを、前記平面型表示パ
    ネルの領域を複数に分割して同時に表示させるものであ
    ることを特徴とする平面型表示パネル検査装置。
  2. 【請求項２】 複数の画素を平面上に配置し、前記画素
    を選択的に駆動することにより画像表示を行う平面型表
    示パネルの表示欠陥を検査する平面型表示パネル検査装
    置において、前記平面型表示パネルの画像を読み取る複
    数の読み取り手段と、前記平面型表示パネルに、検査項
    目に応じた検査パターンを表示させる表示制御手段と、 前記検査パターンを読み取った読み取り手段からの画像
    信号を、検査項目に応じて処理して表示パネル面上にあ
    る表示欠陥および欠陥位置を特定する検査手段とを備
    え、 前記検査手段は、所定の検査項目については、前記表示
    パネルの予め定めた領域の画像信号のみを処理して表示
    パネル面上の表示欠陥および欠陥位置を特定することを
    特徴とする平面型表示パネル検査装置。
JP17338793A 1993-07-13 1993-07-13 平面型表示パネル検査装置 Expired - Fee Related JP3297950B2 (ja)

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