KR20170122321A - 표시 패널의 광학 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

표시 패널의 광학 검사 방법에 있어서, 표시 패널을 촬영하여 제1 영역, 제1 영역을 둘러싸는 제2 영역, 및 제2 영역을 둘러싸는 제3 영역을 포함하는 영상을 획득할 수 있다. 영상의 제1 영역 및 제2 영역으로부터 주기적으로 배열되는 단위 패턴들을 추출할 수 있다. 단위 패턴들을 이용하여 생성된 가상 패턴들을 제3 영역에 붙일 수 있다. 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 단위 패턴들 및/또는 가상 패턴들과 비교할 수 있다. 단위 패턴들 각각에 결함이 존재하는지 여부를 판단하고, 결함이 존재하는 경우 결함의 위치 정보를 획득할 수 있다.

Description

표시 패널의 광학 검사 방법{METHOD FOR OPTICAL INSPECTION OF DISPLAY PANEL}
본 발명은 광학 검사 방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 표시 패널의 자동 광학 검사 방법에 관한 것이다.
평판 표시(flat panel display) 장치는 경량 및 박형 등의 특성으로 인하여, 음극선관 표시(cathode ray tube display) 장치를 대체하는 표시 장치로서 사용되고 있다. 이러한 평판 표시 장치의 대표적인 예로서 액정 표시(liquid crystal display; LCD) 장치와 유기 발광 표시(organic light emitting display; OLED) 장치가 있다. 이러한 평판 표시 장치의 제조 과정에서 표시 패널에 결함이 발생될 수 있다.
이러한 표시 패널의 결함의 존재 여부 및 위치를 검사자가 육안을 통해 파악할 수 있다. 하지만, 검사자가 육안으로 표시 패널을 검사하면, 검사자의 컨디션에 따라 검사 시간이 결정되며, 검사자 별로 검사 기준이 다르기 때문에 표시 패널의 품질이 균일하게 유지되지 못하는 문제점이 있다. 또한, 육안 검사는 검사 시간이 오래 걸리는 단점이 있다.
본 발명의 목적은 표시 패널의 결함을 자동으로 파악하고, 표시 패널의 검사 영역을 확장할 수 있는 표시 패널의 광학 검사 방법을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적이 이와 같은 목적들에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
전술한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 일부 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법에 따르면, 표시 패널을 촬영하여 제1 영역, 상기 제1 영역을 둘러싸는 제2 영역, 및 상기 제2 영역을 둘러싸는 제3 영역을 포함하는 영상을 획득할 수 있다. 상기 영상의 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역으로부터 주기적으로 배열되는 단위 패턴들을 추출할 수 있다. 상기 단위 패턴들을 이용하여 생성된 가상 패턴들을 상기 제3 영역에 붙일 수 있다. 상기 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들 및/또는 상기 가상 패턴들과 비교할 수 있다. 상기 단위 패턴들 각각에 결함이 존재하는지 여부를 판단하고, 결함이 존재하는 경우 결함의 위치 정보를 획득할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 표시 패널은 중앙 영역 및 가장자리 영역을 포함하는 표시 영역, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함할 수 있다. 상기 제1 영역은 상기 중앙 영역에 대응하고, 상기 제2 영역은 상기 가장자리 영역에 대응하며, 상기 제3 영역은 상기 주변 영역에 대응할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 가상 패턴들은 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들을 이용하여 생성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 제1 영역의 상기 단위 패턴들 각각은 이를 둘러싸는 상기 제1 영역 및/또는 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들과 비교할 수 있다. 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들 각각은 이를 둘러싸는 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들, 및 상기 제3 영역의 상기 가상 패턴들과 비교할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 단위 패턴들 각각은 이를 둘러싸는 여덟 개의 상기 단위 패턴들 및/또는 상기 가상 패턴들과 비교할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 단위 패턴들 및 상기 가상 패턴들 각각은 상기 표시 패널에 포함되는 화소들에 대응되는 화소 패턴들을 포함할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들 및/또는 상기 가상 패턴들과 비교하는 경우에, 상기 단위 패턴들 및 상기 가상 패턴들 각각에 포함된 상기 화소 패턴들 중 서로 상응하는 화소 패턴들을 비교할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 서로 상응하는 화소 패턴들을 비교하는 경우에, 상기 서로 상응하는 화소 패턴들의 계조 값들을 비교할 수 있다.
전술한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 다른 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법에 따르면, 표시 패널을 촬영하여 제1 영역, 상기 제1 영역을 둘러싸는 제2 영역, 및 상기 제2 영역을 둘러싸는 제3 영역을 포함하는 영상을 획득할 수 있다. 상기 영상의 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역으로부터 주기적으로 배열되는 단위 패턴들을 추출할 수 있다. 상기 제1 영역의 상기 각 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들과 비교할 수 있다. 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들과 비교할 수 있다. 상기 단위 패턴들 각각에 결함이 존재하는지 여부를 판단하고, 결함이 존재하는 경우 결함의 위치 정보를 획득할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 표시 패널은 중앙 영역 및 가장자리 영역을 포함하는 표시 영역, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함할 수 있다. 상기 제1 영역은 상기 중앙 영역에 대응하고, 상기 제2 영역은 상기 가장자리 영역에 대응하며, 상기 제3 영역은 상기 주변 영역에 대응할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 제1 영역의 상기 단위 패턴들 각각은 이를 둘러싸는 여덟 개의 상기 단위 패턴들과 비교할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들 각각은 이에 인접하는 두 개의 상기 단위 패턴들과 비교할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 단위 패턴들 각각은 상기 표시 패널에 포함되는 화소들에 대응되는 화소 패턴들을 포함할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 제1 영역의 상기 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들과 비교하고, 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들과 비교하는 경우에, 상기 단위 패턴들 각각에 포함된 상기 화소 패턴들 중 서로 상응하는 화소 패턴들을 비교할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 서로 상응하는 화소 패턴들을 비교하는 경우에, 상기 서로 상응하는 화소 패턴들의 계조 값들을 비교할 수 있다.
본 발명의 일부 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법에 따르면, 가상 패턴들을 제3 영역에 붙이고, 제2 영역의 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 제1 영역 및 제2 영역의 단위 패턴들, 및 제3 영역의 가상 패턴들과 비교함으로써, 표시 패널의 검사 영역을 확장할 수 있다. 또한, 본 발명의 다른 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법에 따르면, 제2 영역의 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 제2 영역의 단위 패턴들과 비교함으로써, 표시 패널의 검사 영역을 확장할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과가 전술한 효과에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법에 의해 검사되는 표시 패널을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법을 나타내는 순서도이다.
도 3은 도 2의 영상을 획득하는 단계에 의해 획득된 영상을 나타내는 도면이다.
도 4는 도 2의 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 단위 패턴들과 비교하는 단계의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 5는 도 4의 가상 패턴들을 제3 영역에 붙이는 단계에 의한 영상을 나타내는 도면이다.
도 6은 도 4의 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 단위 패턴들 및/또는 가상 패턴들과 비교하는 단계에 의한 비교 방법을 나타내는 도면이다.
도 7은 도 2의 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 단위 패턴들과 비교하는 단계의 다른 예를 나타내는 순서도이다.
도 8은 도 7의 단계들에 의한 비교 방법을 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법들을 보다 상세하게 설명한다. 도면들 상의 동일한 구성 요소들에 대해서는 동일하거나 유사한 참조 부호들을 사용한다.
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법에 의해 검사되는 표시 패널을 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 표시 패널(100)은 표시 영역(110) 및 표시 영역(110)에 인접하는 주변 영역(120)을 포함할 수 있다. 예시적인 실시예들에 있어서, 표시 영역(110)은 표시 패널(100)의 중앙에 위치할 수 있고, 주변 영역(120)은 표시 영역(110)을 둘러쌀 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(100)은 유기 발광 표시 장치용 패널 또는 액정 표시 장치용 패널일 수 있다.
표시 영역(110)에는 화소들(130)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 화소들(130)은 제1 방향 및 상기 제1 방향에 실질적으로 직교하는 제2 방향으로 배열될 수 있다. 표시 영역(110)에서는 화소들(130)로부터 방출되는 광들의 집합인 영상이 표시될 수 있다. 표시 영역(110)은 표시 영역(110)의 중앙에 위치하는 중앙 영역(112) 및 중앙 영역(112)을 둘러싸는 가장자리 영역(114)으로 구분될 수 있다.
주변 영역(120)에는 화소들(130)을 구동시키기 위한 구동부(140), 팬-아웃(fan-out)부(150) 등이 배치될 수 있다. 예를 들어, 구동부(140)는 주변 영역(120) 중 표시 영역(110)으로부터 상기 제1 방향 및/또는 상기 제1 방향과 반대 방향에 인접하는 영역에 배치될 수 있고, 팬-아웃부(150)는 주변 영역(120) 중 표시 영역(110)으로부터 상기 제2 방향에 인접하는 영역에 배치될 수 있다.
표시 패널(100)의 제조 과정에서, 기판 상에 배치되는 절연막, 도전막 등과 같은 박막들을 증착, 에칭 및 세정하는 패터닝 공정이 수행될 수 있다. 이 경우, 상기 패터닝 공정에서 표시 패널(100)에 결함이 발생할 수 있다. 또한, 표시 패널(100)의 제조 과정에서, 외부로부터 표시 패널(100)에 이물질이 유입되어 표시 패널(100)에 결함이 발생할 수도 있다.
이러한 표시 패널(100)의 결함을 검출하기 위하여, 표시 패널(100)의 제조 과정 중에 또는 제조 완료 후에 검사 공정을 진행할 수 있다. 예를 들어, 이러한 검사 공정으로는 표시 패널(100)에 광을 조사하고, 반사되는 광을 이용하여 표시 패널(100)을 검사하는 광학 검사 방법이 수행될 수 있다. 특히, 자동 광학 검사(automatic optical inspection; AOI) 방법을 수행하는 경우에 표시 패널(100)의 결함을 자동으로 파악할 수 있다.
도 2는 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법을 나타내는 순서도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 예시적인 실시예들에 따르는 표시 패널의 광학 검사 방법에 있어서, 표시 패널을 촬영하여 영상을 획득할 수 있고(S100), 상기 영상으로부터 주기적으로 배열되는 단위 패턴들을 추출할 수 있다(S200). 상기 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 상기 단위 패턴들과 비교할 수 있고(S300), 상기 단위 패턴들 각각에 결함이 존재하는지 여부를 판단하고, 결함이 존재하는 경우 결함의 위치 정보를 획득할 수 있다(S400).
도 3은 도 2의 영상을 획득하는 단계에 의해 획득된 영상을 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 표시 패널(100)을 촬영하여 영상(200)을 획득할 수 있다(S100). 예를 들어, 광원을 이용하여 표시 패널(100)에 광을 조사하고, 카메라를 이용하여 표시 패널(100)로부터 반사된 광을 수집하여 영상(200)을 획득할 수 있다. 이에 따라, 결함을 파악하기 위하여 표시 패널(100)을 직접 검사하지 않고, 표시 패널(100)을 촬영한 영상(200)을 이용하여 간접적으로 표시 패널(100)을 검사할 수 있다.
영상(200)은 제1 영역(212), 제2 영역(214) 및 제3 영역(220)을 포함할 수 있다. 제1 영역(212)은 영상(200)의 중앙에 위치할 수 있고, 제2 영역(214)은 제1 영역(212)을 둘러쌀 수 있으며, 제3 영역(220)은 제2 영역(214)을 둘러쌀 수 있다. 예시적인 실시예들에 있어서, 제1 영역(212)은 표시 패널(100)의 중앙 영역(112)에 대응될 수 있고, 제2 영역(214)은 표시 패널(100)의 가장자리 영역(114)에 대응될 수 있으며, 제3 영역(220)은 표시 패널(100)의 주변 영역(120)에 대응될 수 있다.
이후, 영상(200)으로부터 주기적으로 배열되는 단위 패턴들(210)을 추출할 수 있다(S200). 영상(200)을 분석하여 표시 패널(100)에 규칙적으로 배열되는 형상들을 추출할 수 있고, 상기 형상들을 단위 패턴들(210)로 정의할 수 있다. 예시적인 실시예들에 있어서, 영상(200)에는 표시 패널(100)의 표시 영역(110)에 배치된 화소들(130)에 대응되는 화소 패턴들(230)이 표시될 수 있고, 일정한 수의 화소 패턴들(230)을 하나의 단위 패턴(210)으로 정의할 수 있다. 이에 따라, 제1 영역(212) 및 제2 영역(214) 각각은 단위 패턴들(210)을 포함할 수 있다. 도 3에는 각 단위 패턴(210)이 여섯 개의 화소 패턴들(230)을 포함하는 것으로 예시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 아니하고, 각 단위 패턴(210)이 임의의 수의 화소 패턴들(230)을 포함할 수 있다. 또한, 표시 패널(100)의 주변 영역(120)에는 화소들(130)과 같은 규칙적으로 배열되는 형상들이 존재하지 않으므로, 제3 영역(220)은 단위 패턴들(210)을 포함하지 않을 수 있다.
이후, 제1 영역(212) 및 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각을 이에 인접하는 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있다(S300). 예시적인 실시예들에 있어서, 단위 패턴들(210)에 포함된 화소 패턴들(230) 중 서로 상응하는 화소 패턴들(230)을 비교할 수 있다. 예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 단위 패턴들(210) 각각은 두 개의 화소 행과 세 개의 화소 열로 이루어진 여섯 개의 화소 패턴들(230)을 포함할 수 있다. 이 경우, 각 단위 패턴(210) 내의 동일한 위치에 있는 서로 상응하는 화소 패턴들(230)을 비교할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 단위 패턴들(210)의 서로 상응하는 화소 패턴들(230)의 계조 값들을 비교할 수 있다. 화소(130)에 결함이 있는 경우에 결함은 화소(130)에 광을 조사하였을 때 반사되는 광의 계조 값의 차이를 통해 드러날 수 있다. 이에 따라, 일 단위 패턴(210)의 화소 패턴(230)이 상기 일 단위 패턴(210)에 인접하는 단위 패턴들(210)의 서로 상응하는 화소 패턴들(230)과 상이한 계조 값을 갖는 경우, 상기 일 단위 패턴(210)에 결함이 존재하는 것으로 판단할 수 있다.
종래의 표시 패널의 광학 검사 방법에 있어서, 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 단위 패턴들과 비교할 수 있다. 예를 들어, 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 여덟 개의 단위 패턴들과 비교할 수 있다. 하지만, 표시 패널의 가장자리 영역에 대응되는 영역에 위치하는 단위 패턴들은 단위 패턴들이 배치되지 않는 표시 패널의 주변 영역에 대응되는 영역에 인접할 수 있다. 상기 표시 패널의 가장자리 영역에 대응되는 영역에 위치하는 일 단위 패턴을 이를 둘러싸는 여덟 개의 단위 패턴들과 비교하는 경우, 상기 일 단위 패턴을 단위 패턴들이 배치되지 않는 표시 패널의 주변 영역에 대응되는 영역과 비교함에 따라, 상기 일 단위 패턴에 결함이 없는 경우에도 상기 일 단위 패턴에 결함이 있는 것으로 판단할 수 있다. 이에 따라, 종래의 표시 패널의 광학 검사 방법에 따르면, 상기 표시 패널의 가장자리 영역에 대응되는 영역은 검사 영역에서 제외될 수 있다. 하지만, 이로 인해, 표시 패널의 검사 영역이 축소되고, 표시 패널의 가장자리 영역의 결함이 광학 검사 공정에 의해서도 발견되지 않을 수 있다.
도 4는 도 2의 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 단위 패턴들과 비교하는 단계의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 4를 참조하면, 단위 패턴들을 이용하여 생성된 가상 패턴들을 제3 영역에 붙일 수 있다(S310). 이후, 상기 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들 및/또는 상기 가상 패턴들과 비교할 수 있다(S320).
도 5는 도 4의 가상 패턴들을 제3 영역에 붙이는 단계에 의한 영상을 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 단위 패턴들(210)을 이용하여 생성된 가상 패턴들(240)을 영상(200)의 제3 영역(220)에 붙일 수 있다(S310). 예를 들어, 영상(200)의 제1 영역(212) 또는 제2 영역(214)에 위치하는 단위 패턴들(210)을 복사하여 가상 패턴들(240)을 만들 수 있고, 이러한 가상 패턴들(240)을 단위 패턴들(210)이 위치하지 않는 제3 영역(220)에 붙일 수 있다. 가상 패턴들(240) 각각은 화소 패턴들(230)을 포함할 수 있다. 이에 따라, 영상(200)에서 단위 패턴들(210) 및 가상 패턴들(240)을 포함하는 패턴들이 위치하는 영역이 확장될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 가상 패턴들(240)은 제2 영역(214)의 단위 패턴들을 이용하여 생성될 수 있다. 예를 들어, 영상(200)의 제2 영역(214)에 위치하는 단위 패턴들(210)을 복사하여 가상 패턴들(240)을 만들 수 있고, 이러한 가상 패턴들(240)을 제3 영역(220)에 붙일 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 영역(214)의 상면, 하면, 좌면 및 우면 각각을 복사하여 각기 가상 패턴들(240)을 포함하는 네 개의 서브 영상들을 만들 수 있고, 상기 네 개의 서브 영상들을 각기 인접하는 제3 영역(220)에 붙일 수 있다. 여기서, 제2 영역(214)의 상면, 하면, 좌면 및 우면은 각기 제2 영역(214)에서 상기 제2 방향과 반대 방향, 상기 제2 방향, 상기 제1 방향과 반대 방향 및 상기 제1 방향에 위치할 수 있다. 예를 들어, 제2 영역(214)의 상면을 복사하여 이에 인접하는 제3 영역(220)의 상면에 붙일 수 있고, 제2 영역(214)의 하면을 복사하여 인접하는 제3 영역(220)의 하면에 붙일 수 있으며, 제2 영역(214)의 좌면을 복사하여 인접하는 제3 영역(220)의 좌면에 붙일 수 있고, 제2 영역(214)의 우면을 복사하여 인접하는 제3 영역(220)의 우면에 붙일 수 있다.
도 6은 도 4의 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 단위 패턴들 및/또는 가상 패턴들과 비교하는 단계에 의한 비교 방법을 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 영상(200)의 제1 영역(212) 및 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각을 이를 둘러싸는 단위 패턴들(210) 및/또는 가상 패턴들(240)과 비교할 수 있다(S320).
예시적인 실시예들에 있어서, 제1 영역(212)의 단위 패턴들(210) 각각은 이를 둘러싸는 제1 영역(212) 및/또는 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있고, 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각은 이를 둘러싸는 제1 영역(212) 및 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210), 및 제3 영역(220)의 가상 패턴들(240)과 비교할 수 있다. 예를 들어, 제1 영역(212)의 일 단위 패턴(210a)에 포함된 일 화소 패턴(230a)의 계조 값을 상기 일 단위 패턴(210a)을 둘러싸는 제1 영역(212) 및/또는 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210)에 포함된 상기 일 화소 패턴(230a)에 상응하는 화소 패턴들(230)의 계조 값들과 비교할 수 있다. 또한, 제2 영역(214)의 일 단위 패턴(210b)에 포함된 일 화소 패턴(230b)의 계조 값을 상기 일 단위 패턴(210b)을 둘러싸는 제1 영역(212) 및 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210), 및 제3 영역(220)의 가상 패턴들(240)에 포함된 상기 일 화소 패턴(230b)에 상응하는 화소 패턴들(230)의 계조 값들과 비교할 수 있다. 이 경우, 제3 영역(220)의 가상 패턴들(240) 각각은 제1 영역(212) 또는 제2 영역(214)의 단위 패턴(210)으로부터 복사된 가상의 패턴이므로, 이를 둘러싸는 단위 패턴들(210) 및 가상 패턴들(240)과 비교하지 않을 수 있다. 이에 따라, 제1 영역(212)의 단위 패턴들(210)과 같이 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210)도 이를 둘러싸는 단위 패턴들(210) 및 가상 패턴들(240)과 비교하여 결함을 검출할 수 있고, 이에 따라, 표시 패널(100)의 검사 영역이 확장될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 단위 패턴들(210) 각각은 이를 둘러싸는 여덟 개의 단위 패턴들(210) 및/또는 가상 패턴들(240)과 비교할 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 영역(212)의 단위 패턴들(210) 각각은 여덟 개의 단위 패턴들(210)에 인접할 수 있고, 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각은 여덟 개의 단위 패턴들(210) 및 가상 패턴들(240)에 인접할 수 있다. 이에 따라, 제1 영역(212)의 단위 패턴들(210) 각각에 포함된 화소 패턴(230)은 이에 인접하며 둘러싸는 여덟 개의 단위 패턴들(210)에 포함된 상응하는 화소 패턴들(230)과 비교할 수 있고, 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각에 포함된 화소 패턴(230)은 이에 인접하며 둘러싸는 여덟 개의 단위 패턴들(210) 및 가상 패턴들(240)에 포함된 상응하는 화소 패턴들(230)과 비교할 수 있다. 따라서, 검사하고자 하는 단위 패턴(210)을 보다 많은 단위 패턴들(210) 및 가상 패턴들(240)과 비교할 수 있고, 광학 검사의 성능을 향상시킬 수 있다.
본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널(100)의 광학 검사 방법에 따르면, 제1 영역(212)의 단위 패턴(210)뿐만 아니라 제2 영역(214)의 단위 패턴(210)도 이를 둘러싸는 단위 패턴들(210) 및/또는 가상 패턴들(240)과 비교할 수 있으므로, 표시 패널(100)의 검사 영역이 확장되고, 표시 패널(100)의 제조 시간 및 제조비용을 절감할 수 있다.
도 7은 도 2의 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 단위 패턴들과 비교하는 단계의 다른 예를 나타내는 순서도이다. 도 8은 도 7의 단계들에 의한 비교 방법을 나타내는 도면이다.
도 7을 참조하면, 제1 영역의 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 단위 패턴들과 비교할 수 있다(S330). 또한, 제2 영역의 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 제2 영역의 단위 패턴들과 비교할 수 있다(S340).
도 8을 참조하면, 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각은 이에 인접하는 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있다. 예를 들어, 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각에 포함된 화소 패턴(230)의 계조 값을 이에 인접하는 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210)에 포함된 상응하는 화소 패턴들(230)의 계조 값들과 비교할 수 있다. 예시적인 실시예들에 있어서, 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각은 이에 인접하는 제2 영역(214)의 두 개의 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있다. 예를 들어, 제2 영역(214)의 좌면 또는 우면에 위치하는 일 단위 패턴(210c)은 이의 상측 및 하측에 위치하는 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있다. 또한, 제2 영역(214)의 상면 또는 하면에 위치하는 일 단위 패턴(210d)은 이의 좌측 및 우측에 위치하는 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있다. 이에 따라, 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210) 각각을 제3 영역(220)과는 비교하지 않고, 이에 인접하는 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210)과만 비교함으로써 결함을 검출할 수 있다.
제1 영역(212)의 단위 패턴들(210) 각각은 이를 둘러싸는 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있다. 예를 들어, 제1 영역(212)의 단위 패턴들(210) 각각에 포함된 화소 패턴(230)의 계조 값을 이를 둘러싸는 제1 영역(212) 및/또는 제2 영역(214)의 단위 패턴들(210)에 포함된 상응하는 화소 패턴들(230)의 계조 값들과 비교할 수 있다. 예시적인 실시예들에 있어서, 제1 영역(212)의 일 단위 패턴(210e)을 이를 둘러싸는 여덟 개의 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있다. 이에 따라, 검사하고자 하는 제1 영역(212)의 단위 패턴(210)을 보다 많은 단위 패턴들(210)과 비교할 수 있고, 광학 검사의 성능을 향상시킬 수 있다.
다시 도 2를 참조하면, 단위 패턴들 각각에 결함이 존재하는지 여부를 판단할 수 있고, 결함이 존재하는 경우에 결함의 위치 정보를 획득할 수 있다(S400). 예를 들어, 전술한 바와 같이, 검사 대상이 되는 단위 패턴(210)에 포함되는 화소 패턴(230)의 계조 값과 이에 인접하는 단위 패턴들(210)에 포함되는 상응하는 화소 패턴들(230)의 계조 값들을 비교함으로써, 단위 패턴(210)에 결함이 존재하는지 여부를 판단할 수 있다. 이후, 결함이 존재하는 것으로 판단된 경우에 결함이 존재하는 단위 패턴(210) 및 단위 패턴(210)에 포함된 화소 패턴(230)의 위치 정보를 획득할 수 있다. 이에 따라, 결함의 존재 여부 및 결함의 위치 정보를 이용하여 표시 패널(100)의 결함을 제조 과정 중에 또는 제조 완료 후에 파악함으로써, 결함을 신속히 제거하고, 표시 패널(100)의 제조비용을 절감할 수 있다.
본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법은 컴퓨터, 노트북, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 피엠피(personal media player; PMP), 피디에이(personal digital assistance; PDA), MP3 플레이어 등의 전자 기기에 포함된 표시 장치의 광학 검사 공정에 적용될 수 있다.
이상, 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 표시 패널의 광학 검사 방법들에 대하여 도면들을 참조하여 설명하였지만, 설시한 실시예들은 예시적인 것으로서 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다.
100: 표시 패널 110: 표시 영역
112: 중앙 영역 114: 가장자리 영역
120: 주변 영역 130: 화소들
200: 영상 210: 단위 패턴들
212: 제1 영역 214: 제2 영역
220: 제3 영역 230: 화소 패턴들
240: 가상 패턴들

Claims (15)

  1. 표시 패널을 촬영하여 제1 영역, 상기 제1 영역을 둘러싸는 제2 영역, 및 상기 제2 영역을 둘러싸는 제3 영역을 포함하는 영상을 획득하는 단계;
    상기 영상의 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역으로부터 주기적으로 배열되는 단위 패턴들을 추출하는 단계;
    상기 단위 패턴들을 이용하여 생성된 가상 패턴들을 상기 제3 영역에 붙이는 단계;
    상기 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들 및/또는 상기 가상 패턴들과 비교하는 단계; 및
    상기 단위 패턴들 각각에 결함이 존재하는지 여부를 판단하고, 결함이 존재하는 경우 결함의 위치 정보를 획득하는 단계를 포함하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 표시 패널은 중앙 영역 및 가장자리 영역을 포함하는 표시 영역, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하고,
    상기 제1 영역은 상기 중앙 영역에 대응되고, 상기 제2 영역은 상기 가장자리 영역에 대응되며, 상기 제3 영역은 상기 주변 영역에 대응되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 가상 패턴들은 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들을 이용하여 생성된 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제1 영역의 상기 단위 패턴들 각각은 이를 둘러싸는 상기 제1 영역 및/또는 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들과 비교하고,
    상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들 각각은 이를 둘러싸는 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들, 및 상기 제3 영역의 상기 가상 패턴들과 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 단위 패턴들 각각은 이를 둘러싸는 여덟 개의 상기 단위 패턴들 및/또는 상기 가상 패턴들과 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 단위 패턴들 및 상기 가상 패턴들 각각은 상기 표시 패널에 포함되는 화소들에 대응되는 화소 패턴들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들 및/또는 상기 가상 패턴들과 비교하는 단계는 상기 단위 패턴들 및 상기 가상 패턴들 각각에 포함된 상기 화소 패턴들 중 서로 상응하는 화소 패턴들을 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 서로 상응하는 화소 패턴들을 비교하는 것은 상기 서로 상응하는 화소 패턴들의 계조 값들을 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  9. 표시 패널을 촬영하여 제1 영역, 상기 제1 영역을 둘러싸는 제2 영역, 및 상기 제2 영역을 둘러싸는 제3 영역을 포함하는 영상을 획득하는 단계;
    상기 영상의 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역으로부터 주기적으로 배열되는 단위 패턴들을 추출하는 단계;
    상기 제1 영역의 상기 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들과 비교하는 단계;
    상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들과 비교하는 단계; 및
    상기 단위 패턴들 각각에 결함이 존재하는지 여부를 판단하고, 결함이 존재하는 경우 결함의 위치 정보를 획득하는 단계를 포함하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 표시 패널은 중앙 영역 및 가장자리 영역을 포함하는 표시 영역, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하고,
    상기 제1 영역은 상기 중앙 영역에 대응되고, 상기 제2 영역은 상기 가장자리 영역에 대응되며, 상기 제3 영역은 상기 주변 영역에 대응되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  11. 제9항에 있어서, 상기 제1 영역의 상기 단위 패턴들 각각은 이를 둘러싸는 여덟 개의 상기 단위 패턴들과 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  12. 제9항에 있어서, 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들 각각은 이에 인접하는 두 개의 상기 단위 패턴들과 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  13. 제9항에 있어서, 상기 단위 패턴들 각각은 상기 표시 패널에 포함되는 화소들에 대응되는 화소 패턴들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  14. 제13항에 있어서, 상기 제1 영역의 상기 단위 패턴들 각각을 이를 둘러싸는 상기 단위 패턴들과 비교하는 단계 및 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들 각각을 이에 인접하는 상기 제2 영역의 상기 단위 패턴들과 비교하는 단계는 상기 단위 패턴들 각각에 포함된 상기 화소 패턴들 중 서로 상응하는 화소 패턴들을 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
  15. 제14항에 있어서, 상기 서로 상응하는 화소 패턴들을 비교하는 것은 상기 서로 상응하는 화소 패턴들의 계조 값들을 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 광학 검사 방법.
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