TWI598785B - 觸控面板之檢測方法及裝置 - Google Patents

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Description

觸控面板之檢測方法及裝置
本發明係關於一種觸控面板之檢測方法及裝置,特別是關於一種利用至少一條紋光圖案以進行觸控面板之檢測的方法及裝置。
於現有技術中,當進行觸控面板的檢測,尤其是針對具有曲面邊緣區域的觸控面板進行檢測時,乃是以人工目測方式,將觸控面板拿在燈光底下進行各種角度的端詳及檢查。
前述以人工目測的面板檢測方式,理論上雖可得到較為嚴謹的檢測結果,不過一旦所生產的觸控面板皆須進行全面檢測,則所需要的檢測人員便會相應地增加,並連帶地提高相關人力成本。
另一方面,以人工目測的方式進行面板檢測,不免會受到檢測人員的體能、情緒狀態等因素的影響,而造成檢測結果的疏漏。再者,人工檢測的效率向來就具有一定的瓶頸,當達到一檢測數量的上限值後,除了增加檢測人員的人數外,便難以有所突破。
有鑑於此,如何提供一種可以快速檢測觸控面板之方法及裝置,以取代使用人工目測之檢測,乃為此業界亟待解決的問題。
本發明之一目的在於提供一種可用以檢測一觸控面板之缺 陷的方法及裝置,以達到可迅速地進行觸控面板之檢測的目的。
本發明之另一目的在於提供一種檢測方法,其可針對具有 至少一開孔及曲面邊緣區域的觸控面板進行如「開孔缺陷」、「邊緣區域缺陷」、「開孔壘缺陷」及「中央區域與邊緣區域交接處缺陷」等現象之檢測,從而快速地完成相關檢測作業。
為達上述目的,本發明之一種檢測裝置包含一液晶顯示螢 幕、一運輸裝置、至少一攝影機及一處理器。液晶顯示螢幕用以輸出至少一條紋光圖案。運輸裝置適可抓取觸控面板並置放於液晶顯示銀幕上。至少一攝影機係設置於液晶顯示螢幕上方。處理器係與至少一攝影機電性連接。其中,至少一攝影機適可擷取至少一條紋光圖案穿透觸控面板後之一影像,處理器於分析該影像後,適可完成觸控面板之檢測作業。
為達上述目的,本發明檢測裝置所具有之至少一條紋光圖 案係具有複數平行條紋,以對觸控面板之二短邊進行檢測。
為達上述目的,本發明檢測裝置所具有之至少一條紋光圖 案係具有複數平行條紋,以對觸控面板之二長邊進行檢測。
為達上述目的,本發明檢測裝置所用以檢測之觸控面板係 為一射出成形觸控面板。
為達上述目的,本發明之一種觸控面板之檢測方法,包含 下列步驟:(a)利用一運輸裝置移動一觸控面板;(b)將觸控面板置放於一液晶顯示螢幕;(c)使液晶顯示螢幕輸出至少一條紋光圖案;利用至少一攝影機擷取至少一條紋光圖案穿透觸控面板後之一影像;以及利用一處理器分析影像,以完成觸控面板之檢測作業。
為達上述目的,本發明檢測方法所具有之觸控面板包含一正面及相對該正面設置之一背面;正面包含一中央區域及四邊緣區域,四邊緣區域係環繞中央區域設置,四邊緣區域為曲面邊緣區域,且中央區域形成有至少一開孔。
為達上述目的,當本發明檢測方法所具有之至少一開孔之一部分形成於四邊緣區域至少其中之一時,至少一條紋光圖案穿透至少一開孔之部分將呈現一第一折射影像,以供處理器判斷為不良。
為達上述目的,當本發明檢測方法所具有之四邊緣區域具有一橫線紋路時,至少一條紋光圖案穿透橫線紋路將呈現一第二折射影像,以供處理器判斷為不良。
為達上述目的,當本發明檢測方法所具有之至少一開孔具有一開口壘缺陷時,至少一條紋光圖案穿透開口壘缺陷將呈現一第三折射影像,以供處理器判斷為不良。
為達上述目的,當本發明檢測方法所具有之中央區域與四邊緣區域之交界處具有一缺陷時,至少一條紋光圖案穿透該缺陷將呈現一第四折射影像,以供處理器判斷為不良。
為達上述目的,本發明檢測方法所具有之至少一條紋光圖案係具有複數平行條紋,以對觸控面板之二短邊進行檢測。
為達上述目的,本發明檢測方法所具有之至少一條紋光圖案係具有複數平行條紋,以對觸控面板之二長邊進行檢測。
為達上述目的,本發明檢測方法所用以檢測之觸控面板係為一射出成形觸控面板。
為了讓上述的目的、技術特徵和優點能夠更為本領域之人士所知悉並應用,下文係以本發明之數個較佳實施例以及附圖進行詳細的說明。
100‧‧‧檢測裝置
110‧‧‧液晶顯示螢幕
112‧‧‧條紋光圖案
120‧‧‧運輸裝置
130‧‧‧攝影機
140‧‧‧處理器
200‧‧‧觸控面板
210‧‧‧正面
212‧‧‧中央區域
214‧‧‧邊緣區域
216‧‧‧開孔
220‧‧‧背面
第1圖為本發明之檢測裝置的檢測示意圖;第2圖為本發明之檢測方法的步驟圖;第3A、3B圖為利用本發明之檢測方法,檢測觸控面板上之至少一開孔口是否有進入到邊緣區域時之不良示意圖與合格示意圖;第4A、4B圖為利用本發明之檢測方法,檢測觸控面板上之邊緣區域是否具有一邊緣區域缺陷之不良示意圖與合格示意圖;第5A、5B圖為利用本發明之檢測方法,檢測觸控面板上之開孔是否具有一開孔壘缺陷之不良示意圖與合格示意圖;及第6A、6B圖為利用本發明之檢測方法,檢測觸控面板上之中央區域與邊緣區域之交界處是否具有一交界處缺陷之不良示意圖與合格示意圖。
本發明係關於一種對具有曲面邊緣區域的一觸控面板200進行檢測的裝置及方法。
為方便理解,以下謹先針對本發明之檢測裝置所具有之元件的各技術特徵進行說明。
首先,如第1圖所示,本發明之一檢測裝置100具有一液晶顯示螢幕110、一運輸裝置120、一攝影機130及一處理器140。
其中,液晶顯示螢幕110係用以輸出並顯示至少一條紋光圖 案112,運輸裝置120適可抓取待檢測之觸控面板200並置放於液晶顯示銀幕110上,攝影機130係設置於液晶顯示螢幕110之上方,且處理器140係與攝影機130電性連接。
因此,藉由上述配置,設置於液晶顯示螢幕110上方之攝影 機130將可因此擷取至少一條紋光圖案112自液晶顯示螢幕110顯示後、繼而穿透觸控面板200之一影像;而透過處理器140分析該影像後,即可藉由分析檢測結果完成觸控面板200之檢測作業。
詳細而言,於上述配置中,液晶顯示銀幕110較佳係具有大 於觸控面板200之面積,以確保待測之觸控面板200之周緣皆可被液晶顯示銀幕110所輸出之條紋光圖案112給穿透。
此外,於第1圖所示之態樣中,攝影機130雖係設置於觸控 面板200與液晶顯示銀幕110之正上方,但並非以此作為限制。換言之,攝影機130亦可具有傾斜地設置於觸控面板200與液晶顯示銀幕110上方之態樣,以獲得條紋光圖案112由下而上地穿透觸控面板200後之影像。
如第2圖所示,本發明亦揭示一種觸控面板之檢測方法,其 包含下列步驟:首先,如步驟201所示,利用一運輸裝置120移動待測試之一觸控面板200;如步驟202所示,將觸控面板200置放於一液晶顯示螢幕110上;如步驟203所示,使液晶顯示螢幕110輸出並顯示至少一條紋光圖案112;如步驟204所示,利用至少一攝影機130擷取至少一條紋光圖案112穿透觸控面板110後之一影像;最後,如步驟205所示,利用一處理器140分析該影像,以完成觸控面板200之檢測作業。
因此,藉由使液晶顯示螢幕110輸出並顯示至少一條紋光圖 案112,將得以針對放置於其上的觸控面板200進行如「開孔缺陷」、「邊緣區域缺陷」、「開孔壘缺陷」及「中央區域與邊緣區域交界處缺陷」等現象之檢測作業。
以下將分別針對「開孔缺陷」、「邊緣區域缺陷」、「開孔壘 缺陷」及「中央區域與邊緣區域交接處缺陷」等現象之內容進行說明。
一、「開孔缺陷」檢測:於本發明中,觸控面板200係具有一正面210及相對正面210設置之一背面220,正面210包含一中央區域212及四邊緣區域214。其中,四邊緣區域214係環繞中央區域212設置,四邊緣區域214為曲面邊緣區域,且中央區域212形成有一開孔216。
當觸控面板200設置於液晶顯示螢幕110上時,係以背面220接觸液晶顯示螢幕110,並使液晶顯示螢幕110輸出並顯示之至少一條紋光圖案112依序由下而上地穿透背面220、正面210,而為設置於上方之攝影機130所接收。
因此,當欲檢測開孔216是否有進入到邊緣區域214的曲面部分時,可利用至少一條紋光圖案112穿透開孔216與四邊緣區域214之交界處來判斷。
舉例而言,如第3A圖所示,當開孔216進入到邊緣區域214的曲面部分時(即:觸控面板200將被判定為不良時),則穿透此區域之條紋光圖案112便會受到開孔216之邊緣的影響,從而產生一第一折射影像。
反之,如第3B圖所示,當開孔216未進入到邊緣區域214的 曲面部分時(即:觸控面板200將被判定為合格時),則穿透此區域之條紋光圖案112便不會受到開孔216之邊緣的影響,從而依舊呈現一條紋圖案。
其中,前述用以判定為不良之第一折射影像,實務上可為 一圓弧狀區段或一彎曲影像,而可供檢測者或處理器迅速地進行相關判斷作業。
二、「邊緣區域缺陷」檢測:當要檢測四邊緣區域214是否在觸控面板200射出成形的過程中形成邊緣區域缺陷(或稱:橫線紋路缺陷)時,可利用至少一條紋光圖案112穿透該邊緣區域來判斷。
亦即,如第4A圖所示,當觸控面板200於射出成形的過程中存在邊緣區域缺陷時,則在將至少一條紋光圖案112穿透四邊緣區域214的過程中,將呈現一第二折射影像,導致至少一條紋光圖案112所呈現之條紋出現變化,以供處理器判斷觸控面板200為不良。
反之,如第4B圖所示,當觸控面板200於射出成形的過程中不存在邊緣區域缺陷時(即:觸控面板200將被判定為合格時),則穿透四邊緣區域214之條紋光圖案112便不會受到邊緣區域缺陷的影響,從而依舊呈現一條紋圖案。
三、「開孔壘缺陷」檢測:當欲檢測觸控面板200之開孔216附近平面的平整度時,則可將開孔216周緣平面的平整度定義為「開孔壘」(或稱開口壘),且同樣利用至少一條紋光圖案112穿透開孔壘來判斷。
亦即,如第5A圖所示,當觸控面板200於射出成形的過程中 存在開孔壘缺陷時,則在將至少一條紋光圖案112穿透開孔壘缺陷的過程中,將呈現一第三折射影像,以供處理器判斷觸控面板200為不良。
反之,如第5B圖所示,當觸控面板200於射出成形的過程中不存在開孔壘缺陷時(即:觸控面板200將被判定為合格時),則穿透開孔216附近平面之條紋光圖案112便不會受到開孔壘缺陷的影響,從而依舊呈現一條紋圖案。
其中,前述用以判定為不良之第三折射影像,實務上可為一條紋暈開影像,而可供檢測者或處理器迅速地進行相關判斷作業。
四、「中央區域與邊緣區域交界處缺陷」檢測:當要檢測中央區域212與各邊緣區域214交界處是否在觸控面板200射出成形的過程中形成交界處缺陷時,亦可利用至少一條紋光圖案112穿透中央區域212與各邊緣區域214交界處來判斷。
詳細而言,如第6A圖所示,當觸控面板200於射出成形的過程中存在交界處缺陷時,則在將至少一條紋光圖案112穿透該交界處缺陷的過程中,將呈現一第四折射影像,以供處理器判斷觸控面板200為不良。
反之,如第6B圖所示,當觸控面板200於射出成形的過程中不存在交界處缺陷時(即:觸控面板200將被判定為合格時),則穿透中央區域212與各邊緣區域214交界處之條紋光圖案112便不會受到影響,從而依舊呈現一條紋圖案。
其中,前述用以判定為不良之第四折射影像,實務上可為一錯開影像,而可供檢測者或處理器迅速地進行相關判斷作業。
如此一來,本案便可在僅藉由液晶顯示螢幕110輸出並顯示 單一條紋光圖案112或複數條紋光圖案112的情況下,針對具有曲面邊緣區域的觸控面板200進行如「開孔缺陷」、「邊緣區域缺陷」、「開孔壘缺陷」及「中央區域與邊緣區域交界處缺陷」等現象之檢測作業,從而縮短檢測時間並進一步增加檢測效率。
需特別說明的是,前述之至少一條紋光圖案112可為具有複數平行條紋之態樣,以分別對觸控面板200之二短邊或二長邊進行檢測。
此外,於一較佳實施例中,前述之觸控面板200係為一射出成形觸控面板。
綜上所述,藉由本發明之檢測裝置100所具有的液晶顯示螢幕110、運輸裝置120、攝影機130及處理器140之間的設置關係,以及相關檢測方法,當欲進行觸控面板200之檢測作業時,僅需藉由液晶顯示螢幕110輸出並顯示至少一條紋光圖案112,即可針對設置於液晶顯示螢幕110上方的觸控面板200進行如「開孔缺陷」、「邊緣區域缺陷」、「開孔壘缺陷」及「中央區域與邊緣區域交界處缺陷」等現象之檢測作業,從而達到快速檢測觸控面板200之目的,並避免先前技術中以人工目測方式進行檢測之缺失。
上述之實施例僅用來例舉本發明之實施態樣,以及闡釋本發明之技術特徵,並非用來限制本發明之保護範疇。任何熟悉此技術者可輕易完成之改變或均等性之安排均屬於本發明所主張之範圍,本發明之權利保護範圍應以申請專利範圍為準。
100‧‧‧檢測裝置
110‧‧‧液晶顯示螢幕
112‧‧‧條紋光圖案
120‧‧‧運輸裝置
130‧‧‧攝影機
140‧‧‧處理器
200‧‧‧觸控面板
210‧‧‧正面
212‧‧‧中央區域
214‧‧‧邊緣區域
220‧‧‧背面

Claims (13)

  1. 一種觸控面板之檢測方法,包含下列步驟:利用一運輸裝置移動一觸控面板;將該觸控面板置放於一液晶顯示螢幕;使該液晶顯示螢幕輸出至少一條紋光圖案;利用至少一攝影機擷取該至少一條紋光圖案穿透該觸控面板後之一影像;以及利用一處理器分析該影像,以完成該觸控面板之檢測作業。
  2. 如請求項1所述之檢測方法,其中該觸控面板具有一正面及相對該正面設置之一背面,該正面包含一中央區域及四邊緣區域,該四邊緣區域係環繞該中央區域設置,該四邊緣區域為曲面邊緣區域,且該中央區域形成有至少一開孔。
  3. 如請求項2所述之檢測方法,其中當該至少一開孔之一部分形成於該四邊緣區域至少其中之一時,該至少一條紋光圖案穿透該至少一開孔之該部分將呈現一第一折射影像,以供該處理器判斷為不良。
  4. 如請求項2所述之檢測方法,其中當該四邊緣區域具有一橫線紋路時,該至少一條紋光圖案穿透該橫線紋路將呈現一第二折射影像,以供該處理器判斷為不良。
  5. 如請求項2所述之檢測方法,其中當該至少一開孔具有一開孔壘缺陷時,該至少一條紋光圖案穿透該開孔壘缺陷將呈現一第三折射影像,以供該處理器判斷為不良。
  6. 如請求項2所述之檢測方法,其中當該中央區域與該四邊緣區 域之交界處具有一交界處缺陷時,該至少一條紋光圖案穿透該交界處缺陷將呈現一第四折射影像,以供該處理器判斷為不良。
  7. 如請求項1所述之檢測方法,其中該至少一條紋光圖案係具有複數平行條紋,以對該觸控面板之二短邊進行檢測。
  8. 如請求項1所述之檢測方法,其中該至少一條紋光圖案係具有複數平行條紋,以對該觸控面板之二長邊進行檢測。
  9. 如請求項1所述之檢測方法,其中該觸控面板係為一射出成形觸控面板。
  10. 一種檢測裝置,用以檢測如請求項1所述之觸控面板,包含:一液晶顯示螢幕,用以輸出至少一條紋光圖案;一運輸裝置,適可抓取該觸控面板並置放於該液晶顯示銀幕;至少一攝影機,係設置於該液晶顯示螢幕上方;以及一處理器,係與該至少一攝影機電性連接;其中,該至少一攝影機適可擷取該至少一條紋光圖案穿透該觸控面板後之一影像,該處理器於分析該影像後,適可完成該觸控面板之檢測作業。
  11. 如請求項10所述之檢測裝置,其中該至少一條紋光圖案係具有複數平行條紋,以對該觸控面板之二短邊進行檢測。
  12. 請求項10所述之檢測裝置,其中該至少一條紋光圖案係具有複數平行條紋,以對該觸控面板之二長邊進行檢測。
  13. 請求項10所述之檢測裝置,其中該觸控面板係為一射出成形觸控面板。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI598785B (zh) * 2015-01-29 2017-09-11 政美應用股份有限公司 觸控面板之檢測方法及裝置
CN107220969A (zh) * 2017-05-23 2017-09-29 太仓市同维电子有限公司 产品灯位的测试方法及检测系统
CN110047066B (zh) * 2019-03-30 2023-03-21 天津大学 一种基于条纹偏折的光滑内壁微小缺陷检测方法
CN118297946B (zh) * 2024-06-05 2024-09-06 成都数之联科技股份有限公司 一种面板边缘缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2671241B2 (ja) * 1990-12-27 1997-10-29 日立電子エンジニアリング株式会社 ガラス板の異物検出装置
JP3297950B2 (ja) 1993-07-13 2002-07-02 シャープ株式会社 平面型表示パネル検査装置
JP2000196954A (ja) * 1998-12-28 2000-07-14 Canon Inc 写真フィルム画像識別装置及びカメラ
JP4003746B2 (ja) * 2004-01-07 2007-11-07 ソニー株式会社 表示装置
JP4402004B2 (ja) 2005-04-15 2010-01-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ 検査装置
TW200844429A (en) 2007-05-15 2008-11-16 Chi-Hao Yeh An automatic optical inspection approach for detecting and classifying the surface defects on coating brightness enhancement film
JP5332392B2 (ja) * 2008-08-12 2013-11-06 ソニー株式会社 撮像装置
TWI393878B (zh) * 2008-08-18 2013-04-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd 面板檢測裝置及檢測面板的方法
US8963849B2 (en) * 2008-12-04 2015-02-24 Mitsubishi Electric Corporation Display input device
KR20100129424A (ko) * 2009-06-01 2010-12-09 한국표준과학연구원 터치스크린의 접촉위치 및 접촉힘의 세기를 이용한 사용자 인터페이스 제공 방법 및 장치
JP2011180843A (ja) * 2010-03-01 2011-09-15 Sony Corp 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム
JP2011211678A (ja) * 2010-03-12 2011-10-20 Omron Corp 画像処理装置および画像処理プログラム
US8428334B2 (en) 2010-03-26 2013-04-23 Cooper S.K. Kuo Inspection System
US8610681B2 (en) * 2010-06-03 2013-12-17 Sony Corporation Information processing apparatus and information processing method
CN202471611U (zh) * 2012-03-19 2012-10-03 宏濑科技股份有限公司 光学检测系统
CN102608797A (zh) * 2012-04-09 2012-07-25 友达光电股份有限公司 一种用于液晶显示设备组装时的对准方法
TWM441822U (en) 2012-07-04 2012-11-21 Favite Inc System for panel inspection, defect display, and cleaning operation
CN103064206B (zh) * 2013-01-08 2015-04-22 深圳市华星光电技术有限公司 玻璃基板的缺陷检测方法
TWM457889U (zh) 2013-03-26 2013-07-21 中原大學 面板瑕疵檢測之裝置
TWM470256U (zh) 2013-10-17 2014-01-11 Synpower Co Ltd 光學式瑕疵檢測裝置
TWI598785B (zh) * 2015-01-29 2017-09-11 政美應用股份有限公司 觸控面板之檢測方法及裝置

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