JPH0697362A - 多層配線基板、この基板を用いた半導体装置及び多層配線基板の製造方法 - Google Patents

多層配線基板、この基板を用いた半導体装置及び多層配線基板の製造方法

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JPH0697362A
JPH0697362A JP5083573A JP8357393A JPH0697362A JP H0697362 A JPH0697362 A JP H0697362A JP 5083573 A JP5083573 A JP 5083573A JP 8357393 A JP8357393 A JP 8357393A JP H0697362 A JPH0697362 A JP H0697362A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】この発明は、マルチチップモジュールに使用さ
れる多層配線基板の形成プロセスを簡単化することを目
的とする。 【構成】電源用と接地用の面状導体パターン12、13が絶
縁シートを介して交互に積層されてセラミックベース基
板11が構成され、このセラミックベース基板11の中央部
には内部の電源用と接地用の面状導体パターンと電気的
に接続されたビア・ホールコンタクト15、16が規則的に
交互に配置され、セラミックベース基板11の主面上には
上記各ビア・ホールコンタクト15、16と選択的に接続さ
れた電源及び接地用の薄膜配線と信号用の薄膜配線とが
形成された多層薄膜配線部22が設けられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は半導体マルチチップモ
ジュール実装に使用される多層配線基板、この基板を用
いた半導体装置及び多層配線基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体技術の進歩により、LSI
の高集積度化、高速化が進んでいる。これらの高性能な
LSIを用いてコンピュータや通信機器を構成する場
合、LSI自体の高速化により、信号がLSI間を伝送
するときの実装遅延が相対的に大きな比率を占めるよう
になり、システム性能を制限する要因となってきてい
る。
【0003】この解決手法として、LSIをベアチップ
のまま高密度に実装するマルチチップモジュール(MC
M:Multi Chip Module )の開発が盛んになってきた。
MCMには、用いる基板の種類によって、プリント基板
に直接、ベアチップを実装するMCM−L、グリーンシ
ートと称されるセラミクス薄膜を積層し、焼成したセラ
ミック基板を用いるMCM−C、薄膜多層配線基板を用
いるMCM−Dに分類することができる。その中でも、
電気的特性や配線密度等の観点からMCM−Dが注目さ
れている。
【0004】このMCM−Dの場合、薄膜多層配線を形
成するためには土台となるベース基板が必要になり、こ
のベース基板としては通常、シリコンウエハ、アルミニ
ウム等の金属板、アルミナ、窒化アルミニウム等からな
るセラミック基板が用いられている。セラミック基板を
用いた場合には、ベース基板内部に配線を形成すること
ができ、しかもベース基板がパッケージを兼ねることが
できるために実装密度を向上させることができる。
【0005】このセラミック基板を用いたベース基板
は、従来、スーパーコンピュータ等のハイエンドの分野
で使われてきたため、そのコストは高くても許容されて
いた。しかし、この技術をワークステーションやパーソ
ナルコンピュータの分野に適用する場合は、多種多様な
ものを短期間に製作し、そのコストを低減することが必
要になってきた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】これまでのMCMに使
用されるベース基板は、配線導体パターンの形成、絶縁
層とヴィア・ホール(via hole)の形成を、必要層数分
を一層ごと形成する必要があった。このプロセスはシー
ケンシャルであるため、ベース基板が完成するまでに必
要とされる時間がかかり、コストの低減が難しいという
問題があった。
【0007】この発明は上記のような事情を考慮してな
されたものであり、その目的は、マルチチップモジュー
ルに使用されるベース基板の形成プロセスを簡単化し、
コストの低減化及び製作所要時間の短縮が可能な多層配
線基板、この基板を用いた半導体装置及び多層配線基板
の製造方法を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明の多層配線基板
は、電源用及び接地用の面状導体パターンが絶縁層を介
して交互に積層されたベース基板と、上記ベース基板の
電源用及び接地用の面状導体パターンのそれぞれと電気
的に接続され、上記ベース基板の中央部に規則的に交互
に配置されこのベース基板を貫通するように形成された
それぞれ複数の電源用及び接地用ヴィア・ホールコンタ
クト部と、上記ベース基板の主面上に設けられ、上記電
源用及び接地用ヴィア・ホールコンタクト部に対して選
択的に接続された電源及び接地用の薄膜配線と信号用の
薄膜配線とが形成された多層薄膜配線部とを具備したこ
とを特徴とする。
【0009】
【作用】多種多様なマルチチップモジュールを製作する
ための多層配線基板を、ASICに使われるゲート・ア
レイのように、短時間に安価に提供する必要があり、こ
のために、予め表面に電源用と接地用の面状導体パター
ンのみを形成した絶縁層を積層したベース基板をセミカ
スタムとして用意し、用途に応じて信号配線を薄膜プロ
セスで最小限の層数形成する。このとき、ベース基板の
中央部には、内部の電源用と接地用の面状導体パターン
と接続されるヴィア・ホールコンタクト部を規則的に交
互に配置し、またベース基板の外周部には信号配線と接
続されるヴィア・ホールコンタクト部を配置する。そし
て、薄膜技術により形成される配線により、電源と接地
及び信号配線を接続する。これにより、用途毎に任意の
サイズのLSIの任意な配置に対応して、LSIの電源
及び接地配線はベース基板に規則的に配置されたビア・
ホールコンタクト部にできるだけ短い距離で接続するこ
とができる。また、信号配線は、半導体装置内の半導体
チップ間を接続する配線と、半導体チップと半導体装置
外部とを接続する配線を形成するが、導体配線層は最少
信号用の2層構成の薄膜配線で済ますことができる。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明を実施例によ
り説明する。
【0011】図1はこの発明の第1の実施例に係るベー
ス基板の構成を示すパターン平面図であり、図2は図1
のベース基板を用いて構成された半導体装置の構成を示
す断面図である。
【0012】図1のベース基板11は、例えばアルミナ
(Al2 3 )やアルミニウム・ナイトライド(Al
N)等からなるセラミックスグリーンシートと称される
絶縁シートの表面上に、例えばタングステン・ペースト
をスクリーン印刷することによって面状導体パターンを
形成したものを複数層重ねた後に焼成技術を用いて焼結
することによって形成される。
【0013】上記複数層の絶縁シートの各表面上に形成
された面状導体パターンには、電源電圧が接続される面
状導体パターン12と、接地電圧(基準電圧)が接続され
る面状導体パターン13との2種類がある。上記ベース基
板11は、この2種類の面状導体パターンがそれぞれ形成
されたグリーンシートを予め2層ずつ用意し、各面状導
体パターン相互間にコンデンサが形成されるように厚み
方向に交互に重ね合わせた後に焼成されている。
【0014】図1のベース基板11の中央部14は内部の電
源用と接地用の主たる面状導体パターン12、13が形成さ
れている領域である。そして、この中央部14には、電源
用の面状導体パターン12と接続され、図中、白丸で示し
たヴィア・ホールコンタクト15と、接地用の面状導体パ
ターン13と接続され、図中、黒丸で示したヴィア・ホー
ルコンタクト16とが規則的に交互に配置して形成されて
いる。また、ベース基板11の周辺部には、信号配線、及
び電源/接地配線を外部に取り出すためのヴィア・ホー
ルコンタクト17が複数配置されている。
【0015】上記各ヴィア・ホールコンタクト15、16、
17はそれぞれ、上記各層の絶縁シートに形成された貫通
口(ヴィア・ホール)内に例えばタングステン・ペース
トを充填し、グリーンシートの焼成時に同時に焼成する
ことによって上下方向で電気的接続が図られている。従
って、各絶縁層の電源用の面状導体パターン12どおしは
並列接続された状態となり、同様に接地用の面状導体パ
ターン13どおしも並列接続された状態となり、それぞれ
の配線経路に存在するインダクタンス成分が十分に小さ
くなるように構成されている。
【0016】なお、図2に示したベース基板11は、上面
18が薄膜配線形成面である主面となり、下面19が外部端
子引出し面の場合である。そして、上面18には、上記電
源用のヴィア・ホールコンタクト15、接地用のヴィア・
ホールコンタクト16及びヴィア・ホールコンタクト17の
各先端面が露出している。また、上面18側の絶縁シート
はその表面が研磨されている。さらに上面18側の絶縁シ
ート表面の各ヴィア・ホールコンタクトの露出部には、
後述する薄膜配線部22との接続を図るための図示しない
パッド電極が形成されている。
【0017】上記ベース基板11の上面18には、ポリイミ
ド絶縁層20、銅及びこの銅とポリイミド絶縁層との間の
密着性の向上を図るためのバリアメタルとしてのチタン
層もしくはクロム層等からなる薄膜配線層21を有する多
層配線構造の薄膜配線部22が形成されている。そして、
上記ベース基板11とこの薄膜配線部22とによって多層配
線基板が構成されている。
【0018】上記薄膜配線部22上には複数個の半導体チ
ップ、例えばLSIチップ23が搭載されている。これら
各LSIチップ23の上面には、図示しない電源電圧用、
接地電圧用及び信号用の電極(パッド電極)が形成され
ており、これらLSIチップ23上の電極は、ボンディン
グワイア24及び薄膜配線部22内の薄膜配線層21を介し
て、ベース基板11のヴィア・ホールコンタクト15、16の
うち各LSIチップ23に最も近い位置のものとそれぞれ
電気的に接続されていると共に、ヴィア・ホールコンタ
クト17にも接続されている。
【0019】すなわち、ベース基板11の周辺部に配置さ
れているヴィア・ホールコンタクト17の一部はベース基
板内で内部の電源用もしくは接地用の面状導体パターン
12、13と直接に接続されており、このヴィア・ホールコ
ンタクト17を介して電源電圧もしくは接地電圧が各面状
導体パターン12、13に供給され、さらにヴィア・ホール
コンタクト15、16、薄膜配線層21及びボンディングワイ
ア24を経由して各LSIチップ23に供給される。また、
各LSIチップ23と外部との間の信号の授受は、ベース
基板11の周辺部に配置されているヴィア・ホールコンタ
クト17の一部、薄膜配線層21及びボンディングワイア24
を経由して行われる。
【0020】ベース基板11の下面19には、リードピンが
ろう付けされるか、もしくはコネクタと接触させるため
のパッド電極が形成されるが、この例ではパッド電極25
を設けた場合を示している。
【0021】図3は上記ベース基板11を構成する絶縁シ
ート表面に形成された、例えば電源用の面状導体パター
ン12の形状を示すパターン平面図である。図中、斜線を
施した領域がタングステンペーストを印刷し、その後に
焼成することによって形成された面状導体パターン12で
あり、接地用のヴィア・ホールコンタクト16の周囲付近
にはこのヴィア・ホールコンタクト16とのショートを防
止するために導体パターンは形成されていない。また、
接地用の面状導体パターン13もこれと同様に形成されて
いる。
【0022】このように構成された多層配線基板では、
多種多様なMCMを製作する際に、用途毎に任意のサイ
ズのLSIチップの任意な配置に対応して、LSIチッ
プの電源及び接地配線はベース基板11に配置された最も
近い位置のヴィア・ホールコンタクトから、薄膜配線部
22内をほとんど引き回すことなく結線することができ
る。また、信号配線は、LSIチップ間を接続する配線
と、LSIチップと外部とを接続する配線を形成する
が、薄膜配線部における導体配線層は最少信号の2層構
成の薄膜配線層21で済ますことができる。このため、多
種多様なMCMを低コストでかつ従来よりも短縮された
製作所要時間で提供することができる。
【0023】なお、この実施例では電源系が2種類の電
位(電源電位と接地電位)を持つ場合について説明した
が、これは使用する電源系の電位が2種類以上の場合に
はこれら電位用のヴィア・ホールコンタクトを設け、こ
れらを交互に配置するようにしてもよい。
【0024】図4はこの発明の第2の実施例に係る多層
配線基板の構成を示す断面図である。上記第1の実施例
に係るベース基板11では、電源電圧に接続される面状導
体パターン12と接地電圧に接続される面状導体パターン
13をそれぞれ2層設ける場合について説明したが、この
実施例のベース基板11の場合には、電源電圧に接続され
る面状導体パターン12と接地電圧に接続される面状導体
パターン13をそれぞれ1層のみ設けるようにしたもので
ある。なお、図4において図2と対応する箇所には同じ
符号を付してその説明は省略する。
【0025】基本的にはこの図4の実施例のものでも十
分に実用に耐える。しかし、上記面状導体パターン12、
13の層をより多く設けるようにすれば、さらに容量の大
きなコンデンサが形成されて電源ノイズの削減を図るこ
とができると共に定常動作時における直流電流供給能力
を増大させることができる。
【0026】図5は第3の実施例に係るベース基板の構
成を示すパターン平面図であり、図6は図5のベース基
板を用いて構成された半導体装置の構成を示す断面図で
ある。なお、この図5及び図6において、前記図1及び
図2と対応する箇所は同じ符号を付してその説明は省略
する。従って、この実施例においてベース基板11が前記
図1に示すものと異なっている点のみを説明する。すな
わち、この実施例では、外部端子として使用される前記
パッド電極25がベース基板11の上面18側の外周部に配置
されている点である。また、ベース基板11の上面18には
シールド用のリングメタル26が形成され、シームウェル
ド法やレーザー溶接法により、このリングメタル26上に
リッド(蓋)27が溶接されて気密封止が行われる。
【0027】さらに、信号配線と上記パッド電極25との
接続を図るためにリングメタル26の下部にはタングステ
ンによって構成された迂回用配線28が形成されると共に
信号配線用のヴィア・ホールコンタクト29が形成され
る。
【0028】なお、図示しないが、ベース基板11の上面
18側の外周部には電源及び接地電圧用の複数のヴィア・
ホールコンタクトが配置され、面状導体パターン12、13
はこれらのヴィア・ホールコンタクトと直接に接続され
ている。
【0029】また、この実施例のベース基板11のよう
に、その上面18にパッド電極25を設けることにより、ベ
ース基板11の下面19に熱伝導率の良いグリース等を用い
て放熱フィンを設けることができる。ベース基板におけ
る各層の絶縁シートの材料であるアルミニウム・ナイト
ライド(AlN)の熱伝導率は、アルミナ(Al
2 3)に比べると、アルミナが約15(℃/Wm)に
対してアルミニウム・ナイトライドが約170(℃/W
m)と10倍程度良好である。このため、放熱フィンを
設けることによって冷却能力を高めることができる。ま
た、薄膜配線部22の熱抵抗を下げるために、ポリイミド
絶縁層20中にいわゆるサーマルヴィアを形成するとさら
に効果的である。
【0030】図7は上記各実施例の多層配線基板の上面
18側を拡大して示す断面図である。多層配線基板を構成
するベース基板は、前記の面状導体パターン12、13に相
当しそれぞれタングステンからなる複数層の面状導体パ
ターン31と、これら面状導体パターン31の相互間に設け
られた絶縁シート32と、上面18側に設けられた絶縁シー
ト33とから構成されている。そして、前記のように上記
絶縁シート33はその表面が研磨され、他の絶縁シート32
に対してその厚さが十分に薄くされている。また、薄膜
配線部22のポリイミド絶縁層20内には、それぞれ銅及び
バリアメタルで構成された第1層目の薄膜配線層21−1
及び第2層目の薄膜配線層21−2が形成されている。
【0031】このようにベース基板の最上面に膜厚が薄
くされた絶縁シート33を設けることにより、薄膜配線部
22内の薄膜配線層21−1及び21−2と、接地電圧が供給
される面状導体パターン31との間の容量結合が大きくな
る。この結果、薄膜配線部22内における信号配線の特性
インピーダンスを容易に制御することができ、配線間の
クロストークノイズを容易に除去することができる。す
なわち、薄膜配線部22内の信号配線の特性インピーダン
スはその配線幅と、絶縁シート33の厚さ、すなわち、接
地電圧が供給される面状導体パターン31との間の距離を
調整することによって制御される。
【0032】なお、主面側の絶縁シート33はその表面を
研磨することによってその厚さを薄くする場合について
説明したが、これはグリーンシートの厚さを予め他のも
のよりも薄くしておき、その後、一体的に焼成するよう
にしてもよい。
【0033】図8はこの発明の第4の実施例に係る半導
体装置の構成を示す断面図である。この実施例装置は、
セラミックグリーンシートを用いて構成したベース基板
11上に薄膜配線部22を形成し、かつその上に複数のLS
Iチップ23を搭載し、リングメタル26とリッド27によっ
て気密封止を行ってMCM40を構成し、このMCM40に
設けたリードピン41を、多層のプリント基板42のスルー
ホール43内に挿入することによって実装を行うようにし
たものである。なお、図中の符号44はプリント基板42の
配線パターンである。
【0034】この場合、外部端子として特にリードピン
41を設けずに、ベース基板に設けられた図示しないパッ
ド電極をプリント基板表面の配線パターン上に半田付け
する等して実装することもできる。
【0035】図9はこの発明の第5の実施例に係る半導
体装置の構成を示す断面図である。この実施例装置は、
LSIチップ搭載面がプリント基板42と対向するように
して実装した場合であり、MCM40の外部端子であるパ
ッド電極25とプリント基板42との接続にフレキシブル・
フラット・ケーブル45を用いたものである。なお、MC
M40のベース基板11は角部において、図示しないスペー
サー等により支持されている。また、セラミックベース
基板11におけるLSIチップ搭載面と反対の面には放熱
フィン46が設けられている。
【0036】図10はこの発明の第6の実施例に係る半
導体装置の構成を示す断面図である。この実施例装置
は、ベース基板11として前記図8と同様のタイプのもの
を使用し、ベース基板11の外部端子であるパッド電極25
とプリント基板42との接続を、金属薄膜の打ち抜き加工
やエッチングによって形成されたリードフレーム47を用
いて行うようにしたものである。この場合にも、ベース
基板11のLSIチップ搭載面と反対の面には放熱フィン
46が設けられている。そして、各LSIチップ23で発生
した熱はベース基板11を経由して放熱フィン46に伝えら
れる。このとき、アルミナよりもアルミニウム・ナイト
ライドの方が熱抵抗が低いため、アルミニウム・ナイト
ライドで構成されたグリーンシートを用いてベース基板
を形成すれば効果的に放熱を行わせることができる。
【0037】図11はこの発明の第7の実施例に係る半
導体装置の断面図である。この実施例装置は、セラミッ
クグリーンシートを用いて構成したベース基板11上に薄
膜配線部22を形成し、かつその薄膜配線部22上に接着層
51を介してLSIチップ23を搭載し、かつリングメタル
26とリッド27によって気密封止を行ってマルチチップモ
ジュールを構成したものである。
【0038】なお、この実施例の場合、LSIチップ23
上の電極(パッド電極)と薄膜配線部22上のボンディン
グパッド53との接続はTAB(Tape Autmated Bonding
)技術によりリードフレーム52を用いて行われてい
る。
【0039】この実施例において、ベース基板11には電
源用のヴィア・ホールコンタクト15、接地用のヴィア・
ホールコンタクト16及び信号用のヴィア・ホールコンタ
クト17がそれぞれ設けられている。また、ベース基板11
の両面にはそれぞれ上記各ヴィア・ホールコンタクトと
接続されたパッド電極54が形成されてる。そして、薄膜
配線部22側に形成されたパッド電極54は薄膜配線部22の
薄膜配線層21に選択的に接続され、薄膜配線部22と反対
側に形成されたパッド電極54には前記リードピン41がろ
う付けされている。
【0040】この実施例で使用されるベース基板11は、
電源用、接地用、信号用のヴィア・ホールコンタクト1
5、16、17が一定の割合で配置され、かつこれらのヴィ
ア・ホールコンタクトに接続されたパッド電極54が形成
された大きな面積の元基板を必要な大きさの分だけ切断
することによって形成される。
【0041】図12はこの元基板60のパターン平面図で
あり、この元基板60は前記と同様に、例えばアルミナ
(Al2 3 )やアルミニウム・ナイトライド(Al
N)等からなるセラミックスグリーンシートと称される
絶縁シートの表面上に、例えばタングステン・ペースト
をスクリーン印刷することによって面状導体パターンを
形成したものを複数層重ねた後に焼成技術を用いて焼成
されることによって形成されている。この元基板60の表
面には複数のパッド電極が一定の間隔で規則的に配置形
成されている。図中、黒丸で示したパッド電極54−1は
電源用であり、斜線を施したパッド電極54−2は接地用
であり、さらに白丸で示したパッド電極54−3は信号用
のものである。そして、図12中破線で囲んだ領域を基
本単位としてこれが上下左右方向に複数繰り返した状態
で配置されている。
【0042】図13(a)は上記図12の元基板60の一
部を抽出し、拡大して示したものである。また、図13
(b)はこの元基板60を構成する特定の層の絶縁シート
表面に形成された電源用の面状導体パターンの形状を示
すパターン平面図である。図中、斜線を施した領域がタ
ングステンペーストを印刷し、その後に焼成することに
よって形成された面状導体パターン12であり、接地用及
び信号用のヴィア・ホールコンタクト16、17それぞれの
周囲付近にはそれぞれのヴィア・ホールコンタクトとの
ショートを防止するために導体パターンは形成されてい
ない。図13(c)はこの元基板60を構成する特定の層
の絶縁シート表面に形成された接地用の面状導体パター
ンの形状を示すパターン平面図である。図中、斜線を施
した領域がタングステンペーストを印刷し、その後に焼
成することによって形成された面状導体パターン13であ
り、電源用及び信号用のヴィア・ホールコンタクト15、
17それぞれの周囲付近にはそれぞれのヴィア・ホールコ
ンタクトとのショートを防止するために導体パターンは
形成されていない。また、図14は上記図13(a)中
のA−A′線の位置で上記元基板60を切断した場合の断
面図を示している。
【0043】上記図11に示される半導体装置で使用さ
れるベース基板は、上記図12に示す元基板60を必要な
大きさに切断することによって形成される。例えば図1
5に示すように破線で囲まれた領域毎に元基板60を切断
することによって同一種類のベース基板11を多数形成す
ることができる。また、切断する大きさを変えることに
よって異なるMCMに適合したベース基板を形成するこ
とができる。
【0044】このように広い面積の元基板60からベース
基板11を切り出して使用することにより、異なるMCM
に対してもただ1種類の元基板60を用意すれば良いの
で、大幅なコストダウンが可能である。ところで、上記
元基板60から切り出されたベース基板11では、電源用、
接地用及び信号用のパッド電極54−1、54−2、54−3
の位置を自由に決定することはできない。しかし、ベー
ス基板11上に設けられる前記薄膜配線部22では微細な配
線を形成することが可能であり、ベース基板11上の任意
のパッド電極54と薄膜配線部22上のボンディングパッド
53とを自由に接続できるため、ベース基板11上のパッド
電極54はその位置やサイズをほとんど考慮する必要がな
く、前記リードピン41のピッチと一致するように配置す
ることにより、ベース基板11の内部あるいは表面に電源
や接地用以外の配線を設ける必要がなくなる。また、電
源用のパッド電極54−1、接地用のパッド電極54−2及
び信号用のパッド電極54−3が局在することなく一定の
割合で均等に配置されていれば、異なるMCMを構成す
る場合においてもLSIチップ23の近傍のパッド電極を
用いることができるため、配線長が著しく長くなること
がなく、特性を劣化させない。また、前記リードピン41
は2次元的に配置されるため、リードピン41のピッチを
著しく小さくしなくても必要な入出力数を確保できるた
め、必要以上に基板サイズを大きくすることもない。
【0045】なお、上記元基板60からベース基板11を切
断する時は、複数枚のセラミックグリーシートを重ね合
わせ、焼成した後でも良いし、焼成前でも良い。焼成前
であれば金型を用いた打ち抜き加工により用意に切断す
ることができ、個々のベース基板に切断した後に焼成す
れば良い。
【0046】図16はこの発明の第8の実施例に係る半
導体装置の断面図である。この実施例装置は、LSIチ
ップの発熱量が大きく、ベース基板に放熱フィンを接続
して放熱を行わなければならない場合のMCMにこの発
明を実施したものである。なお、この実施例において、
前記図11と対応する箇所には同じ符号を付してその説
明は省略する。この実施例のMCMではベース基板11に
放熱フィンを接続する必要があるために、リードピン41
は図11の場合とは反対側、すなわち薄膜配線部22の形
成面側に出されている。従って、この実施例では信号用
のヴィア・ホールコンタクト17にリードピン41を直接に
接続することができない。そのため、この実施例では、
個々のベース基板11に切断した後に薄膜配線部22とは反
対側の表面に薄膜あるいは厚膜技術もしくはメッキ法等
により配線層55を選択的に形成し、この配線層55を介し
て所定の信号用のヴィア・ホールコンタクト17どおしを
接続するようにしている。
【0047】この場合にもベース基板11とし共通のもの
を使用することができ、異なるMCMの場合でも上記配
線層55のパターン形状のみを変更すれば良いので、コス
トダウンが可能になる。
【0048】なお、この発明は上記実施例に限定される
ものてはなく種々の変形が可能であることはいうまでも
ない。例えば上記各実施例ではグリーンシート積層法に
より形成されたセラミックベース基板をベース基板とし
て用いた多層配線基板について説明したが、これはガラ
スエポキシ基板等の樹脂基板を用いるようにしても良
い。
【0049】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
マルチチップモジュールに使用される多層配線基板の形
成プロセスが簡単化され、セミカスタム基板としてコス
トの低減化及び製作所要時間の短縮が可能な多層配線基
板、この基板を用いた半導体装置及び多層配線基板の製
造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施例に係る多層配線基板の構成を示す
パターン平面図。
【図2】図1の多層配線基板を用いて構成された半導体
装置の構成を示す断面図。
【図3】図1の多層配線基板で使用される絶縁層に形成
された面導体パターンのパターン平面図。
【図4】第2の実施例に係る多層配線基板の構成を示す
断面図。
【図5】第3の実施例に係る多層配線基板の構成を示す
パターン平面図。
【図6】図5の多層配線基板を用いて構成された半導体
装置の構成を示す断面図。
【図7】第1ないし第3の実施例で使用されるセラミッ
クベース基板の上面側を拡大して示す断面図。
【図8】第4の実施例に係る半導体装置の構成を示す断
面図。
【図9】第5の実施例に係る半導体装置の構成を示す断
面図。
【図10】第6の実施例に係る半導体装置の構成を示す
断面図。
【図11】第7の実施例に係る半導体装置の断面図。
【図12】図11の半導体装置で使用されるベース基板
を形成するための元基板のパターン平面図。
【図13】図12の元基板の一部を抽出し、拡大して示
すパターン平面図。
【図14】図13の元基板を切断した場合の断面図。
【図15】図11の半導体装置で使用される元基板のパ
ターン平面図。
【図16】第8の実施例に係る半導体装置の断面図。
【符号の説明】
11…ベース基板、12,13…面導体パターン、14…ベース
基板の中央部、15,16,17…ヴィア・ホールコンタク
ト、18…ベース基板の上面、19…ベース基板の下面、20
…ポリイミド絶縁層、21…薄膜配線層、22…薄膜配線
部、23…LSIチップ、24…ボンディングワイア、25…
パッド電極、26…リングメタル、27…リッド、28…迂回
用配線パターン、29…信号配線用及び電圧供給用のヴィ
ア・ホールコンタクト、31…面導体パターン、32…絶縁
シート、33…面導体パターンが形成されていない絶縁シ
ート、40…マルチチップモジュール(MCM)、41…リ
ードピン、42…プリント基板、43…スルーホール、44…
プリント基板の配線パターン、45…フレキシブル・フラ
ット・ケーブル、46…放熱フィン、47…リードフレー
ム。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源系の各電位をそれぞれ伝達する面状
    導体パターンが絶縁層を介して交互に積層されたベース
    基板と、 上記ベース基板の電源系の各電位用の面状導体パターン
    のそれぞれと電気的に接続され、上記ベース基板の中央
    部に規則的に交互に配置されこのベース基板を貫通する
    ように形成されたそれぞれ複数の電源系の各電位用ヴィ
    ア・ホールコンタクト部と、 上記ベース基板の主面上に設けられ、上記各ヴィア・ホ
    ールコンタクト部に対して選択的に接続された電源系の
    各電位用の薄膜配線と信号用の薄膜配線とが形成された
    多層薄膜配線部とを具備したことを特徴とする多層配線
    基板。
  2. 【請求項2】 電源用及び接地用の面状導体パターンが
    絶縁層を介して交互に積層されたベース基板と、 上記ベース基板の電源用及び接地用の面状導体パターン
    のそれぞれと電気的に接続され、上記ベース基板の中央
    部に規則的に交互に配置されこのベース基板を貫通する
    ように形成されたそれぞれ複数の電源用及び接地用ヴィ
    ア・ホールコンタクト部と、 上記ベース基板の主面上に設けられ、上記電源用及び接
    地用ヴィア・ホールコンタクト部に対して選択的に接続
    された電源及び接地用の薄膜配線と信号用の薄膜配線と
    が形成された多層薄膜配線部とを具備したことを特徴と
    する多層配線基板。
  3. 【請求項3】 前記ベース基板の絶縁層がアルミニウム
    ・ナイトライドで構成されていることを特徴とする請求
    項2に記載の多層配線基板。
  4. 【請求項4】 前記ベース基板の主面には他の絶縁層よ
    りも厚みが十分に薄くされた絶縁層が設けられているこ
    とを特徴とする請求項2に記載の多層配線基板。
  5. 【請求項5】 電源用及び接地用の面状導体パターンが
    絶縁層を介して交互に積層されたベース基板と、 上記ベース基板の電源用及び接地用の面状導体パターン
    それぞれと電気的に接続され、上記ベース基板の中央部
    に規則的に交互に配置されこのベース基板を貫通するよ
    うに形成されたそれぞれ複数の電源用及び接地用ヴィア
    ・ホールコンタクト部と、 上記ベース基板の主面上に設けられ、上記電源用及び接
    地用ヴィア・ホールコンタクト部に対して選択的に接続
    された電源及び接地用の薄膜配線と信号用の薄膜配線と
    が形成された多層薄膜配線部と、 上記多層薄膜配線部上に搭載され、複数の表面電極を有
    し、これらの表面電極が上記多層薄膜配線部の薄膜配線
    層と選択的に接続された少なくとも1個の半導体チップ
    とを具備したことを特徴とする半導体装置。
  6. 【請求項6】 前記ベース基板の主面には他の絶縁層よ
    りも厚みが十分に薄くされた絶縁層が設けられているこ
    とを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 電源用及び接地用の面状導体パターンが
    絶縁層を介して交互に積層されたベース基板と、 上記ベース基板の電源用及び接地用の面状導体パターン
    のそれぞれと電気的に接続され、上記ベース基板を貫通
    するように形成されたそれぞれ複数の電源用及び接地用
    ヴィア・ホールコンタクト部と、 上記ベース基板に上記電源用及び接地用ヴィア・ホール
    コンタクト部と共に配置され、上記ベース基板を貫通す
    るように形成された複数の信号用ヴィア・ホールコンタ
    クト部と、 上記ベース基板の主面上に形成され、上記各ヴィア・ホ
    ールコンタクト部と接続された複数のパッド電極とを具
    備したことを特徴とする多層配線基板。
  8. 【請求項8】 前記ベース基板の絶縁層がアルミニウム
    ・ナイトライドで構成されていることを特徴とする請求
    項7に記載の多層配線基板。
  9. 【請求項9】 電源用及び接地用の面状導体パターンが
    絶縁層を介して交互に積層され、これら電源用及び接地
    用の面状導体パターンのそれぞれと電気的に接続された
    それぞれ複数の電源用及び接地用ヴィア・ホールコンタ
    クト部及び複数の信号用ヴィア・ホールコンタクト部を
    有するベース基板を形成し、 上記ベース基板を必要な寸法に切断して個々の多層配線
    基板に分離することを特徴とする多層配線基板の製造方
    法。
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KR (1) KR970005707B1 (ja)
DE (1) DE4325668C2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2004091268A1 (ja) * 2003-04-07 2006-07-06 イビデン株式会社 多層プリント配線板
KR100812104B1 (ko) * 2000-03-24 2008-03-12 소니 가부시끼 가이샤 반도체 장치 및 그 제조 공정
JPWO2011074221A1 (ja) * 2009-12-14 2013-04-25 パナソニック株式会社 半導体装置

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3210503B2 (ja) * 1993-09-30 2001-09-17 株式会社東芝 マルチチップモジュールおよびその製造方法
JPH07109573A (ja) * 1993-10-12 1995-04-25 Semiconductor Energy Lab Co Ltd ガラス基板および加熱処理方法
US5583376A (en) * 1995-01-03 1996-12-10 Motorola, Inc. High performance semiconductor device with resin substrate and method for making the same
JPH09107048A (ja) * 1995-03-30 1997-04-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体パッケージ
WO1996039716A1 (en) * 1995-06-06 1996-12-12 International Business Machines Corporation Multilayer module with thinfilm redistribution area
FR2735648B1 (fr) * 1995-06-13 1997-07-11 Bull Sa Procede de refroidissement d'un circuit integre monte dans un boitier
US5675183A (en) * 1995-07-12 1997-10-07 Dell Usa Lp Hybrid multichip module and methods of fabricating same
US5751165A (en) * 1995-08-18 1998-05-12 Chip Express (Israel) Ltd. High speed customizable logic array device
US5756395A (en) * 1995-08-18 1998-05-26 Lsi Logic Corporation Process for forming metal interconnect structures for use with integrated circuit devices to form integrated circuit structures
US5623160A (en) * 1995-09-14 1997-04-22 Liberkowski; Janusz B. Signal-routing or interconnect substrate, structure and apparatus
US5789783A (en) * 1996-04-02 1998-08-04 Lsi Logic Corporation Multilevel metallization structure for integrated circuit I/O lines for increased current capacity and ESD protection
US6323549B1 (en) * 1996-08-29 2001-11-27 L. Pierre deRochemont Ceramic composite wiring structures for semiconductor devices and method of manufacture
US5886597A (en) * 1997-03-28 1999-03-23 Virginia Tech Intellectual Properties, Inc. Circuit structure including RF/wideband resonant vias
US6303879B1 (en) * 1997-04-01 2001-10-16 Applied Materials, Inc. Laminated ceramic with multilayer electrodes and method of fabrication
US5888445A (en) * 1997-06-02 1999-03-30 Eastman Kodak Company Method for making ceramic micro-electromechanical parts and tools
US6317333B1 (en) 1997-08-28 2001-11-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Package construction of semiconductor device
JP4190602B2 (ja) * 1997-08-28 2008-12-03 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JP3985016B2 (ja) * 1997-10-31 2007-10-03 沖電気工業株式会社 半導体装置
US5969421A (en) * 1997-11-18 1999-10-19 Lucent Technologies Inc. Integrated circuit conductors that avoid current crowding
US6828666B1 (en) * 1998-03-21 2004-12-07 Advanced Micro Devices, Inc. Low inductance power distribution system for an integrated circuit chip
US6218729B1 (en) * 1999-03-11 2001-04-17 Atmel Corporation Apparatus and method for an integrated circuit having high Q reactive components
TW409330B (en) * 1999-03-20 2000-10-21 United Microelectronics Corp Repairable multi-chip module package
US6198635B1 (en) * 1999-05-18 2001-03-06 Vsli Technology, Inc. Interconnect layout pattern for integrated circuit packages and the like
JP2000331835A (ja) * 1999-05-21 2000-11-30 Taiyo Yuden Co Ltd 積層電子部品及び回路モジュール
US7215022B2 (en) * 2001-06-21 2007-05-08 Ati Technologies Inc. Multi-die module
DE10217565A1 (de) * 2002-04-19 2003-11-13 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauelement mit integrierter gitterförmiger Kapazitätsstruktur
JP3632684B2 (ja) * 2002-08-26 2005-03-23 株式会社日立製作所 半導体素子及び半導体パッケージ
DE10260786A1 (de) * 2002-12-23 2004-07-15 Daimlerchrysler Ag Flachkabelstrang
US7047628B2 (en) * 2003-01-31 2006-05-23 Brocade Communications Systems, Inc. Impedance matching of differential pair signal traces on printed wiring boards
US7061096B2 (en) * 2003-09-24 2006-06-13 Silicon Pipe, Inc. Multi-surface IC packaging structures and methods for their manufacture
WO2005036610A2 (en) * 2003-10-10 2005-04-21 Silicon Pipe, Inc. Multi-surface contact ic packaging structures and assemblies
US7280372B2 (en) * 2003-11-13 2007-10-09 Silicon Pipe Stair step printed circuit board structures for high speed signal transmissions
US7652381B2 (en) 2003-11-13 2010-01-26 Interconnect Portfolio Llc Interconnect system without through-holes
US7278855B2 (en) 2004-02-09 2007-10-09 Silicon Pipe, Inc High speed, direct path, stair-step, electronic connectors with improved signal integrity characteristics and methods for their manufacture
JP4844080B2 (ja) * 2005-10-18 2011-12-21 日本電気株式会社 印刷配線板及びその電源雑音抑制方法
JP2007207826A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Orion Denki Kk プリント基板
US7629683B1 (en) * 2006-02-28 2009-12-08 Juniper Networks, Inc. Thermal management of electronic devices
US7510323B2 (en) * 2006-03-14 2009-03-31 International Business Machines Corporation Multi-layered thermal sensor for integrated circuits and other layered structures
US20070252283A1 (en) * 2006-04-28 2007-11-01 Keller Christopher L High speed, high density board to board interconnect
US7911059B2 (en) * 2007-06-08 2011-03-22 SeniLEDS Optoelectronics Co., Ltd High thermal conductivity substrate for a semiconductor device
US7906838B2 (en) * 2007-07-23 2011-03-15 Headway Technologies, Inc. Electronic component package and method of manufacturing same
JP4492695B2 (ja) * 2007-12-24 2010-06-30 株式会社デンソー 半導体モジュールの実装構造
US20110075392A1 (en) 2009-09-29 2011-03-31 Astec International Limited Assemblies and Methods for Directly Connecting Integrated Circuits to Electrically Conductive Sheets
JP2015207677A (ja) * 2014-04-22 2015-11-19 京セラサーキットソリューションズ株式会社 配線基板
US10586012B2 (en) 2018-04-25 2020-03-10 International Business Machines Corporation Semiconductor process modeling to enable skip via in place and route flow

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AR228608A1 (es) * 1980-07-11 1983-03-30 Du Pont Procedimiento para formar una conexion esteril entre tubos,aparato,disposicion y recipiente para llevarlo a cabo
JPS58111396A (ja) * 1981-12-25 1983-07-02 株式会社日立製作所 多層配線基板
JPS6014494A (ja) * 1983-07-04 1985-01-25 株式会社日立製作所 セラミツク多層配線基板およびその製造方法
JPS6156493A (ja) * 1984-08-28 1986-03-22 日本電気株式会社 多層回路基板の電源配線構造
US4721831A (en) * 1987-01-28 1988-01-26 Unisys Corporation Module for packaging and electrically interconnecting integrated circuit chips on a porous substrate, and method of fabricating same
JPS63245952A (ja) * 1987-04-01 1988-10-13 Hitachi Ltd マルチチップモジュ−ル構造体
JPH01191461A (ja) * 1988-01-27 1989-08-01 Nec Corp Icパッケージ
JPH02168662A (ja) * 1988-09-07 1990-06-28 Hitachi Ltd チップキャリア
JPH0353795A (ja) * 1989-07-21 1991-03-07 Nec Corp 誤動作検出方式
JPH0378290A (ja) * 1989-08-21 1991-04-03 Hitachi Ltd 多層配線基板
JP2574902B2 (ja) * 1989-09-20 1997-01-22 株式会社日立製作所 半導体装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100812104B1 (ko) * 2000-03-24 2008-03-12 소니 가부시끼 가이샤 반도체 장치 및 그 제조 공정
JPWO2004091268A1 (ja) * 2003-04-07 2006-07-06 イビデン株式会社 多層プリント配線板
JP2010283396A (ja) * 2003-04-07 2010-12-16 Ibiden Co Ltd 多層プリント配線板
US8129625B2 (en) 2003-04-07 2012-03-06 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed wiring board
JPWO2011074221A1 (ja) * 2009-12-14 2013-04-25 パナソニック株式会社 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE4325668C2 (de) 1999-06-24
US5475264A (en) 1995-12-12
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