JPH07297359A - マルチチップモジュールとマルチチップモジュール用コネクタ - Google Patents
マルチチップモジュールとマルチチップモジュール用コネクタInfo
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- JPH07297359A JPH07297359A JP5194363A JP19436393A JPH07297359A JP H07297359 A JPH07297359 A JP H07297359A JP 5194363 A JP5194363 A JP 5194363A JP 19436393 A JP19436393 A JP 19436393A JP H07297359 A JPH07297359 A JP H07297359A
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- chip
- chips
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 マルチチップモジュールに関し、特に3次元
マルチチップモジュールの高密度・高性能化を目的とす
る。 【構成】 ICチップ110 は複数の基板100 上に列をな
してマウントされる。その列に平行に連結バー150 が配
備され、連結バー150 には隣接する基板100 上のチップ
110 間に信号伝送を行うための信号伝達経路を具備す
る。また、連結バー150 は隣接する基板100 間のスペー
サともなり、これによって、冷却チャネル160 が形成さ
れる。ICチップ110 は冷却流体が貫流する冷却チャネ
ル160 中に配置されて、冷却流体がICチップ110 に直
接に接触する。ICチップ110 に電源供給する電源スト
ラップ170 は、雑音を最小とするため、基板100 のIC
チップ列の下の反対面にマウントされる。また、電源フ
ィードストラップに接続されて、ICチップ110 への非
常に低インピーダンスの電源供給経路が確保される。
マルチチップモジュールの高密度・高性能化を目的とす
る。 【構成】 ICチップ110 は複数の基板100 上に列をな
してマウントされる。その列に平行に連結バー150 が配
備され、連結バー150 には隣接する基板100 上のチップ
110 間に信号伝送を行うための信号伝達経路を具備す
る。また、連結バー150 は隣接する基板100 間のスペー
サともなり、これによって、冷却チャネル160 が形成さ
れる。ICチップ110 は冷却流体が貫流する冷却チャネ
ル160 中に配置されて、冷却流体がICチップ110 に直
接に接触する。ICチップ110 に電源供給する電源スト
ラップ170 は、雑音を最小とするため、基板100 のIC
チップ列の下の反対面にマウントされる。また、電源フ
ィードストラップに接続されて、ICチップ110 への非
常に低インピーダンスの電源供給経路が確保される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はマルチチップモジュー
ル、特に、複数のIC(集積回路)チップを3次元アレ
イとして封入し組み立てる3次元マルチチップモジュー
ルと、マルチチップモジュール用コネクタの構造に関す
る。
ル、特に、複数のIC(集積回路)チップを3次元アレ
イとして封入し組み立てる3次元マルチチップモジュー
ルと、マルチチップモジュール用コネクタの構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】多数の回路素子からなるICチップは、
今や現代社会の到る所で使われている。すなわち、あら
ゆるレベルの演算に用いられる中央処理装置から、いろ
いろな種類の装置や機器を制御するのに用いられ極めて
高度に専用化されたコントローラに至るまで、あらゆる
種類の回路素子および回路部品が集積回路として普通に
利用されるようになった。
今や現代社会の到る所で使われている。すなわち、あら
ゆるレベルの演算に用いられる中央処理装置から、いろ
いろな種類の装置や機器を制御するのに用いられ極めて
高度に専用化されたコントローラに至るまで、あらゆる
種類の回路素子および回路部品が集積回路として普通に
利用されるようになった。
【0003】ICチップが最初に使用されてから今日に
至るまでに、1つのチップに集積される素子数は著しい
増大を示し、またそれと同時に、チップに形成される個
々の電子部品要素のサイズは劇的に減少し、線幅が1ミ
クロンであるような素子の幾何学的構造は普通のことと
なった。そして、1個のICチップが100万を越える
素子を有していることもごく普通のこととなっており、
素子の集積密度はさらに増大していくものと予想され
る。
至るまでに、1つのチップに集積される素子数は著しい
増大を示し、またそれと同時に、チップに形成される個
々の電子部品要素のサイズは劇的に減少し、線幅が1ミ
クロンであるような素子の幾何学的構造は普通のことと
なった。そして、1個のICチップが100万を越える
素子を有していることもごく普通のこととなっており、
素子の集積密度はさらに増大していくものと予想され
る。
【0004】いろいろな多くの種類のICチップの素子
集積度が増大し、また素子の大きさが減少するに従っ
て、チップ間および外部デバイスとの配線接続が急激に
複雑なものとなってきた。
集積度が増大し、また素子の大きさが減少するに従っ
て、チップ間および外部デバイスとの配線接続が急激に
複雑なものとなってきた。
【0005】これらの要因に加えてさらに次の要因、す
なわち、多くのディジタル素子がより高速度で動作する
ようになっているという現象と関連する要因によって、
ICチップの単位体積当たりに発生する熱が増大し、熱
的損傷を避けるためにはアクティブな冷却方法が必要と
なっている。
なわち、多くのディジタル素子がより高速度で動作する
ようになっているという現象と関連する要因によって、
ICチップの単位体積当たりに発生する熱が増大し、熱
的損傷を避けるためにはアクティブな冷却方法が必要と
なっている。
【0006】コンピュータ等の多くの装置では、多数の
独立したICチップが用いられており、例えば、コンピ
ュータでは、1つ以上の中央処理装置(CPU)チッ
プ,多くのメモリチップ,制御チップ,入出力(I/
O)装置チップ等が使われる。
独立したICチップが用いられており、例えば、コンピ
ュータでは、1つ以上の中央処理装置(CPU)チッ
プ,多くのメモリチップ,制御チップ,入出力(I/
O)装置チップ等が使われる。
【0007】従来は、各ICチップがそれぞれ別々に個
々のパッケージに封入され、これらのパッケージをプリ
ント基板、例えばコンピュータのマザーボードに実装す
ることにより、チップへの電源供給や、基板上のチップ
間あるいはいろいろなI/O装置への信号伝達を実現し
ていた。
々のパッケージに封入され、これらのパッケージをプリ
ント基板、例えばコンピュータのマザーボードに実装す
ることにより、チップへの電源供給や、基板上のチップ
間あるいはいろいろなI/O装置への信号伝達を実現し
ていた。
【0008】しかしながら、多数のICチップを用いる
電子装置では、チップをそれぞれ別個にパッケージした
のでは、これらのチップをすべて配線接続するのに必要
なプリント基板の面積が非常に大きなものとなってしま
う。
電子装置では、チップをそれぞれ別個にパッケージした
のでは、これらのチップをすべて配線接続するのに必要
なプリント基板の面積が非常に大きなものとなってしま
う。
【0009】さらに、デバイスの速度が増大するにつれ
て、個々の部品間の距離がますます重要な要因となって
きているため、多くの応用において、システムのチップ
間の信号経路をいかにして最小化するかが重要な事柄に
なっている。
て、個々の部品間の距離がますます重要な要因となって
きているため、多くの応用において、システムのチップ
間の信号経路をいかにして最小化するかが重要な事柄に
なっている。
【0010】上記の問題を克服するために、多くのデバ
イス製造業者は“マルチチップモジュール”すなわち独
立したICチップを複数封入したパッケージを使用し始
めた。
イス製造業者は“マルチチップモジュール”すなわち独
立したICチップを複数封入したパッケージを使用し始
めた。
【0011】典型的なマルチチップモジュールは、IC
チップを外部のデバイスと接続するための手段を有する
だけでなく、モジュールの中のICチップ間を配線接続
するための手段をも具えている。
チップを外部のデバイスと接続するための手段を有する
だけでなく、モジュールの中のICチップ間を配線接続
するための手段をも具えている。
【0012】マルチチップモジュールの開発の歴史を含
む一般的な紹介が「マルチチップモジュール:システム
の利点と主要な構成技術と材料技術」と題されたR.
W.ジョンソン他の編によるテキスト(IEEE出版、
1991年)に記述されており、マルチチップモジュー
ルを用いると、ICチップをケースに封入するのに必要
な全体のスペースを非常に低減できると共に、モジュー
ルの中のチップ間距離を低減することができるため、高
速デバイスの動作が容易となる。
む一般的な紹介が「マルチチップモジュール:システム
の利点と主要な構成技術と材料技術」と題されたR.
W.ジョンソン他の編によるテキスト(IEEE出版、
1991年)に記述されており、マルチチップモジュー
ルを用いると、ICチップをケースに封入するのに必要
な全体のスペースを非常に低減できると共に、モジュー
ルの中のチップ間距離を低減することができるため、高
速デバイスの動作が容易となる。
【0013】最初のマルチチップモジュールは2次元、
すなわちパッケージに封入されるICチップがすべて1
枚の平板基板上にマウントされたものであった。続い
て、3次元マルチチップモジュールが開発され、これに
よって1つのパッケージ内に封入することができるIC
チップ密度をさらに増大することが可能となった。
すなわちパッケージに封入されるICチップがすべて1
枚の平板基板上にマウントされたものであった。続い
て、3次元マルチチップモジュールが開発され、これに
よって1つのパッケージ内に封入することができるIC
チップ密度をさらに増大することが可能となった。
【0014】しかしながら、比較的小さな面積により多
くのICチップを実装することによって、チップアレイ
が発生する単位体積当たりの熱量が全体として増大し、
従って、チップをアクティブに冷却するための複雑な技
術が必要となった。
くのICチップを実装することによって、チップアレイ
が発生する単位体積当たりの熱量が全体として増大し、
従って、チップをアクティブに冷却するための複雑な技
術が必要となった。
【0015】また、多数のICチップを高密度に互いに
近接させて配置したことによって、チップへの電源供給
およびチップへの信号の入出力が複雑になった。3次元
マルチチップに関する多くの問題点については、本発明
の発明者の1人による「サブナノ秒で信号を伝送する際
のシステム配線における問題」と題された論文(L.モ
レスコ、配線およびパッケージングの進展に関する国際
学会論文集、第2分冊、マイクロエレクトロニクスの配
線とパッケージング:システムとプロセスの集積化、
S.K.テュークスベリー他編、光技術国際学会論文
集、SPIE、1390巻、1990年)に記述されて
いる。
近接させて配置したことによって、チップへの電源供給
およびチップへの信号の入出力が複雑になった。3次元
マルチチップに関する多くの問題点については、本発明
の発明者の1人による「サブナノ秒で信号を伝送する際
のシステム配線における問題」と題された論文(L.モ
レスコ、配線およびパッケージングの進展に関する国際
学会論文集、第2分冊、マイクロエレクトロニクスの配
線とパッケージング:システムとプロセスの集積化、
S.K.テュークスベリー他編、光技術国際学会論文
集、SPIE、1390巻、1990年)に記述されて
いる。
【0016】3次元アレイに関しては、このように複雑
な要因が存在するため、今日のところ一般的には依然と
して2次元マルチチップアレイが使用されている。マル
チチップモジュールにおける電源および信号供給のため
の主要な基板技術として以下の2つのものが開発され
た。
な要因が存在するため、今日のところ一般的には依然と
して2次元マルチチップアレイが使用されている。マル
チチップモジュールにおける電源および信号供給のため
の主要な基板技術として以下の2つのものが開発され
た。
【0017】最初のものは、共焼成セラミック基板技術
を用いるものであるが、次に開発された薄膜基板技術の
方が次第に用いられるようになりつつある。これらの何
れの場合においても、電源を供給するのに必要な電源ラ
イン、およびチップ間を接続したり外部デバイスとの接
続に必要な信号ラインをすべて備えている多層化基板
に、複数のICチップがマウントされる。
を用いるものであるが、次に開発された薄膜基板技術の
方が次第に用いられるようになりつつある。これらの何
れの場合においても、電源を供給するのに必要な電源ラ
イン、およびチップ間を接続したり外部デバイスとの接
続に必要な信号ラインをすべて備えている多層化基板
に、複数のICチップがマウントされる。
【0018】必要な数の配線接続を実現するために、基
板の多層化が行われるが、その際の層数は時には数十層
にもなることがある。例えば、初期のセラミック基板技
術においてさえも、マルチチップ基板として35層もの
多くの層を有するものが用いられた。
板の多層化が行われるが、その際の層数は時には数十層
にもなることがある。例えば、初期のセラミック基板技
術においてさえも、マルチチップ基板として35層もの
多くの層を有するものが用いられた。
【0019】しかしながら、このような多層化基板にお
いては、信号ラインを互いに近接して、あるいは電源ラ
インに対して近接して配置することによる問題が生じ
る。このような問題を解決するには(あるいは問題を生
じる原因として)基板材料の誘電率が重要な役割を担っ
ている。
いては、信号ラインを互いに近接して、あるいは電源ラ
インに対して近接して配置することによる問題が生じ
る。このような問題を解決するには(あるいは問題を生
じる原因として)基板材料の誘電率が重要な役割を担っ
ている。
【0020】基板材料として用いられる典型的なセラミ
ックは大きな誘電率を有している。そのためセラミック
を利用する技術はあまり用いられなくなりつつあり、こ
れに代わって、ポリイミドなどの低誘電率材料による薄
膜基板がより普通に用いられるようになってきた。
ックは大きな誘電率を有している。そのためセラミック
を利用する技術はあまり用いられなくなりつつあり、こ
れに代わって、ポリイミドなどの低誘電率材料による薄
膜基板がより普通に用いられるようになってきた。
【0021】既知のマルチチップモジュールにおいて
は、個々のICチップは容器に埋め込まれるか、あるい
は封入される。その際、チップと外部との間で熱的に良
好な接触が維持され、チップ内部が発熱しないようにな
されていることが重要である。
は、個々のICチップは容器に埋め込まれるか、あるい
は封入される。その際、チップと外部との間で熱的に良
好な接触が維持され、チップ内部が発熱しないようにな
されていることが重要である。
【0022】いろいろな種類のアクティブな冷却技術が
マルチチップモジュールに対して適用されているが、そ
の中のあるものは非常に手の込んだものであり、しばし
ば、基板中あるいは全体構造の他の部分に冷却経路を形
成し、ここに冷却流体を強制的に流すようなる。
マルチチップモジュールに対して適用されているが、そ
の中のあるものは非常に手の込んだものであり、しばし
ば、基板中あるいは全体構造の他の部分に冷却経路を形
成し、ここに冷却流体を強制的に流すようなる。
【0023】しかしながら、既知のデバイスにおけるチ
ップの冷却は、どの場合においても、チップが発生した
熱を、チップから離れアクティブに冷却されている1つ
以上の表面まで固体中の熱伝導によって移送することに
なる。
ップの冷却は、どの場合においても、チップが発生した
熱を、チップから離れアクティブに冷却されている1つ
以上の表面まで固体中の熱伝導によって移送することに
なる。
【0024】この方法は、たとえ大きな熱伝導度を有す
る固体をチップと冷却表面との間に用いた場合でさえ
も、効率が非常に良いとはいえない。その結果、パワー
が大きく、高密度な3次元チップモジュールにおいて
は、依然として熱の除去が深刻な問題となっている。
る固体をチップと冷却表面との間に用いた場合でさえ
も、効率が非常に良いとはいえない。その結果、パワー
が大きく、高密度な3次元チップモジュールにおいて
は、依然として熱の除去が深刻な問題となっている。
【0025】ICチップをマルチチップアレイにパッケ
ージする従来の方法における他の問題は、チップへ如何
にして電源を供給するかに関するものである。上述した
ように、この問題の1つの側面は、チップに信号を伝達
するために用いるのと同一の基板を介して電源ラインを
供給することによって生じている。
ージする従来の方法における他の問題は、チップへ如何
にして電源を供給するかに関するものである。上述した
ように、この問題の1つの側面は、チップに信号を伝達
するために用いるのと同一の基板を介して電源ラインを
供給することによって生じている。
【0026】同様に重要なこととして、従来のマルチチ
ップモジュールに用いられる基板の厚さが薄いため、I
Cチップへの電源供給ラインのインピーダンスが比較的
大きくなってしまうという事実がある。このようにイン
ピーダンスが大きくなることによって、雑音や電力損失
および過剰な熱エネルギーの発生など望ましくない現象
が起こる。
ップモジュールに用いられる基板の厚さが薄いため、I
Cチップへの電源供給ラインのインピーダンスが比較的
大きくなってしまうという事実がある。このようにイン
ピーダンスが大きくなることによって、雑音や電力損失
および過剰な熱エネルギーの発生など望ましくない現象
が起こる。
【0027】また、製造歩留まりは複雑なマルチチップ
モジュールを設計、作成するにあたっての非常に重要な
問題であり、多くの設計では、モジュールの中のどれか
1つの素子が不良であると、モジュール全体が役立たな
くなってしまう。
モジュールを設計、作成するにあたっての非常に重要な
問題であり、多くの設計では、モジュールの中のどれか
1つの素子が不良であると、モジュール全体が役立たな
くなってしまう。
【0028】
【発明が解決しようとする課題】前記従来技術に鑑みて
なされた本発明の目的は、個々のICチップをより良く
冷却することが可能な、マルチチップモジュールのため
の新規な構造を供給することである。
なされた本発明の目的は、個々のICチップをより良く
冷却することが可能な、マルチチップモジュールのため
の新規な構造を供給することである。
【0029】本発明の他の目的は、マルチチップモジュ
ールにおける集積回路への信号ラインおよび電源ライン
の供給を改良することである。本発明のさらに他の目的
は、マルチチップモジュールのチップへ電源を供給する
ための低インピーダンス手段を供給することである。
ールにおける集積回路への信号ラインおよび電源ライン
の供給を改良することである。本発明のさらに他の目的
は、マルチチップモジュールのチップへ電源を供給する
ための低インピーダンス手段を供給することである。
【0030】本発明のさらに他の目的は、モジュールを
最終的に組み立てる前に、個々の構成要素ごとにあらか
じめテストを行うことができ、また少なくとも上記の構
成要素を交換することが可能なように、高度にモジュー
ル化された3次元マルチチップモジュールを供給するこ
とである。
最終的に組み立てる前に、個々の構成要素ごとにあらか
じめテストを行うことができ、また少なくとも上記の構
成要素を交換することが可能なように、高度にモジュー
ル化された3次元マルチチップモジュールを供給するこ
とである。
【0031】
【課題を解決するための手段】本発明の1つの実施例に
おいては、複数のICチップ110が主基板100の一
部を用いて形成された冷却チャネル160内にマウント
され、個々のICチップ110が直接に冷却チャネル1
60中を流れる冷却流体と接触するように冷却チャネル
160中に配置させる。
おいては、複数のICチップ110が主基板100の一
部を用いて形成された冷却チャネル160内にマウント
され、個々のICチップ110が直接に冷却チャネル1
60中を流れる冷却流体と接触するように冷却チャネル
160中に配置させる。
【0032】本発明の他の実施例においては、異なる主
基板100にマウントされたICチップ110間を互い
に配線接続するのに用いる連結バー150が、各基板1
00上にマウントされ、複数の該基板100を積み重ね
て3次元アレイを形成する際に、この連結バー150が
冷却チャネル160の壁を形成するようになされる。ま
た、好ましくは、主基板100とチップ110との間に
配備された中間基板140にICチップ110が“フリ
ップチップ”ボンドされる。これらの中間基板140
に、いろいろなキャパシターや抵抗を具備させて、チッ
プ110のごく近傍にこれらを配置するようにできる。
基板100にマウントされたICチップ110間を互い
に配線接続するのに用いる連結バー150が、各基板1
00上にマウントされ、複数の該基板100を積み重ね
て3次元アレイを形成する際に、この連結バー150が
冷却チャネル160の壁を形成するようになされる。ま
た、好ましくは、主基板100とチップ110との間に
配備された中間基板140にICチップ110が“フリ
ップチップ”ボンドされる。これらの中間基板140
に、いろいろなキャパシターや抵抗を具備させて、チッ
プ110のごく近傍にこれらを配置するようにできる。
【0033】本発明の他の態様においては、ICチップ
110は好適には列をなしてマウントされ、上記の基板
100とは別個に作成された低インピーダンス電源スト
ラップ170が、チップ110の各列の下の部分の基板
100の反対側にマウントされる。これらの電源ストラ
ップ170は基板100の端を越えて延伸させ、電源フ
ィードストラップ180と接続させる。
110は好適には列をなしてマウントされ、上記の基板
100とは別個に作成された低インピーダンス電源スト
ラップ170が、チップ110の各列の下の部分の基板
100の反対側にマウントされる。これらの電源ストラ
ップ170は基板100の端を越えて延伸させ、電源フ
ィードストラップ180と接続させる。
【0034】この独特の電源ストラップ構造を用いるこ
とによって、低インピーダンスで、低雑音な電源供給
を、マルチチップモジュール全体の機械的な歪みを緩和
させることができるような構造で実現することが可能で
ある。
とによって、低インピーダンスで、低雑音な電源供給
を、マルチチップモジュール全体の機械的な歪みを緩和
させることができるような構造で実現することが可能で
ある。
【0035】そして、信号ラインは、電源が供給される
側の基板の端と直交する基板の端に配備されたエッジコ
ネクタ700を用いて3次元モジュールに接続される。
このようにすることによって、チップ110への電源供
給と信号結線とが互いに可能な限り分離される。
側の基板の端と直交する基板の端に配備されたエッジコ
ネクタ700を用いて3次元モジュールに接続される。
このようにすることによって、チップ110への電源供
給と信号結線とが互いに可能な限り分離される。
【0036】好適な実施例においては、マルチチップモ
ジュールの主要な構成要素、すなわち、チップ110,
主基板100,中間基板140,連結バー150,電源
ストラップ170,電源フィードストラップ180,お
よびエッジコネクタ700は、それぞれ別個に作成され
て、最終的に組み立てる前に、あらかじめこれらのテス
トが行われる。
ジュールの主要な構成要素、すなわち、チップ110,
主基板100,中間基板140,連結バー150,電源
ストラップ170,電源フィードストラップ180,お
よびエッジコネクタ700は、それぞれ別個に作成され
て、最終的に組み立てる前に、あらかじめこれらのテス
トが行われる。
【0037】同様に、構成要素を結合して副構成要素を
形成し、すなわち、チップ110を中間基板140にマ
ウントして、これらをさらに組み立てる前に、再度テス
トが行われる。多くの構成要素は不良が生じた場合には
交換可能なように設計されている。
形成し、すなわち、チップ110を中間基板140にマ
ウントして、これらをさらに組み立てる前に、再度テス
トが行われる。多くの構成要素は不良が生じた場合には
交換可能なように設計されている。
【0038】また、本発明には、3次元モジュールの各
層にマウントするICチップ110の数を最適化する方
法と、この方法によって作成されたマルチチップモジュ
ールも含まれるものである。
層にマウントするICチップ110の数を最適化する方
法と、この方法によって作成されたマルチチップモジュ
ールも含まれるものである。
【0039】
【作用】以上説明したように本発明の第1の目的は、I
Cチップを冷却チャネル内にマウントし、そのICチッ
プは冷却チャネル中を流れる冷却流体により直接的に冷
却させることによって、きわめて効果的に達成されるよ
うになり、高密度・高性能な3次元マルチチップモジュ
ールを可能にする。
Cチップを冷却チャネル内にマウントし、そのICチッ
プは冷却チャネル中を流れる冷却流体により直接的に冷
却させることによって、きわめて効果的に達成されるよ
うになり、高密度・高性能な3次元マルチチップモジュ
ールを可能にする。
【0040】従来の既知のマルチチップモジュール技術
においては、熱が冷却流体によって運び去られる前に、
まず最初に熱が固体中を流れなければならないような構
造に個々のICチップが容器に封入あるいは封止されて
おり、このような技術は効率が悪く、そのためマルチチ
ップモジュールが安全に取り扱えるパワーが制約されて
いた。
においては、熱が冷却流体によって運び去られる前に、
まず最初に熱が固体中を流れなければならないような構
造に個々のICチップが容器に封入あるいは封止されて
おり、このような技術は効率が悪く、そのためマルチチ
ップモジュールが安全に取り扱えるパワーが制約されて
いた。
【0041】しかるに、本発明によりICチップが直接
に冷却流体で冷却されるマルチチップモジュールは、1
平方センチメートル当たり100アンペア以上の電流密
度と1平方センチ当たり125ワットの発生パワーを取
り扱えるようになる。(パワー密度は一般には面積に関
して表されるが、3次元構造においては、意味のあるパ
ワー密度は体積に関連した表示である。本発明は、1立
方センチ当たり135ワット以上のパワー密度を取り扱
えることを企図したものである。)本発明の第2の目的
と第3の目的、すなわち、マルチチップモジュールにお
けるICチップの信号ラインおよび電源ラインの改良
と、チップへ電源を供給する経路の低インピーダンス化
は、冷却チャネル160の壁を形成し基板100間のス
ペーサとしても働く連結バー150に、基板100上の
チップ110が他の基板100上のチップ110と信号
伝送を行うことを可能とする信号伝達経路を設け、IC
チップ110をマウントした基板100の他の側(上面
にチップ110をマウントしたときの下面)かつチップ
列の下に電源ストラップ170をマウントすることであ
り、そのことによってチップ110の高集積化に伴う複
雑なチップ間配線を簡素化し、一層の高集積化が可能に
なると共に、ストラップ170からチップ110への電
源供給経路を最小化することによって、雑音や電力消費
を低減可能にする。
に冷却流体で冷却されるマルチチップモジュールは、1
平方センチメートル当たり100アンペア以上の電流密
度と1平方センチ当たり125ワットの発生パワーを取
り扱えるようになる。(パワー密度は一般には面積に関
して表されるが、3次元構造においては、意味のあるパ
ワー密度は体積に関連した表示である。本発明は、1立
方センチ当たり135ワット以上のパワー密度を取り扱
えることを企図したものである。)本発明の第2の目的
と第3の目的、すなわち、マルチチップモジュールにお
けるICチップの信号ラインおよび電源ラインの改良
と、チップへ電源を供給する経路の低インピーダンス化
は、冷却チャネル160の壁を形成し基板100間のス
ペーサとしても働く連結バー150に、基板100上の
チップ110が他の基板100上のチップ110と信号
伝送を行うことを可能とする信号伝達経路を設け、IC
チップ110をマウントした基板100の他の側(上面
にチップ110をマウントしたときの下面)かつチップ
列の下に電源ストラップ170をマウントすることであ
り、そのことによってチップ110の高集積化に伴う複
雑なチップ間配線を簡素化し、一層の高集積化が可能に
なると共に、ストラップ170からチップ110への電
源供給経路を最小化することによって、雑音や電力消費
を低減可能にする。
【0042】モジュールの構成要素ごとにテストおよび
交換することが可能にする本発明の第4の目的は、マル
チチップモジュールの主要な構成要素、すなわち、チッ
プ110,主基板100,中間基板140,連結バー1
50,電源ストラップ170,電源フィードストラップ
180,およびエッジコネクタ700は、それぞれ別個
に作成させることにより達成され、最終的組み立て前の
テストで発見された不良構成要素を排除することで、組
立て後の要素交換がなくなり生産性が向上すると共に、
各要素の個別性能が把握されるため完成品の性能も向上
可能にする。
交換することが可能にする本発明の第4の目的は、マル
チチップモジュールの主要な構成要素、すなわち、チッ
プ110,主基板100,中間基板140,連結バー1
50,電源ストラップ170,電源フィードストラップ
180,およびエッジコネクタ700は、それぞれ別個
に作成させることにより達成され、最終的組み立て前の
テストで発見された不良構成要素を排除することで、組
立て後の要素交換がなくなり生産性が向上すると共に、
各要素の個別性能が把握されるため完成品の性能も向上
可能にする。
【0043】
【実施例】本発明には、多数のICチップを高密度アレ
イにパッケージングするのに用いるため、高度にモジュ
ール化された3次元マルチチップモジュールが含まれて
いる。
イにパッケージングするのに用いるため、高度にモジュ
ール化された3次元マルチチップモジュールが含まれて
いる。
【0044】現代のディジタルIC技術の傾向として、
信号速度がますます高速になっていく傾向、すなわち、
非常に高周波数で動作するようになっていく傾向があ
り、今や、多くのデバイスがマイクロ波の領域で動作し
ており、構成要素間の物理的な距離が構成要素の特性に
重大な影響を与え得る状況となっている。
信号速度がますます高速になっていく傾向、すなわち、
非常に高周波数で動作するようになっていく傾向があ
り、今や、多くのデバイスがマイクロ波の領域で動作し
ており、構成要素間の物理的な距離が構成要素の特性に
重大な影響を与え得る状況となっている。
【0045】そのため、多数のチップを互いに近接して
封入するための新しいICチップパッケージ技術が開発
された。そして、3次元チップアレイを用いることが、
チップ密度を最も高密度にする方法である。
封入するための新しいICチップパッケージ技術が開発
された。そして、3次元チップアレイを用いることが、
チップ密度を最も高密度にする方法である。
【0046】3次元マルチチップモジュールでは、複数
の個々のICチップを通常は平面基板上にまず平面アレ
イ状にマウントし、ついで、これらの平面基板を積層す
るが、便宜上、X方向およびY方向に平面軸を定義し、
平面基板の積層方向に対応するZ軸を、X軸とY軸を含
む平面と直交する方向に定める。
の個々のICチップを通常は平面基板上にまず平面アレ
イ状にマウントし、ついで、これらの平面基板を積層す
るが、便宜上、X方向およびY方向に平面軸を定義し、
平面基板の積層方向に対応するZ軸を、X軸とY軸を含
む平面と直交する方向に定める。
【0047】チップからチップへの信号速度が制約要因
となっている場合において、3次元アレイ状にチップを
配列する際の最適な配列を決定するにあたっては、モジ
ュールの機能ユニット当たりのチップ数(NF )、Xお
よびY方向のチップ間ピッチ(PX 、PY )、Z方向の
基板間のピッチ(PZ )、および他の機能ユニットと連
結させることが必要な機能ユニット数(NS ) について
考慮する必要がある。
となっている場合において、3次元アレイ状にチップを
配列する際の最適な配列を決定するにあたっては、モジ
ュールの機能ユニット当たりのチップ数(NF )、Xお
よびY方向のチップ間ピッチ(PX 、PY )、Z方向の
基板間のピッチ(PZ )、および他の機能ユニットと連
結させることが必要な機能ユニット数(NS ) について
考慮する必要がある。
【0048】ここで機能ユニットは、1つ以上のチップ
を集合させて、例えばCPU,コントローラなどのユニ
ットとして働くようにしたものとして定義され、すべて
の信号配線経路がシステムの軸に沿った方向となるよう
に行うものと仮定すると、基板当たりのチップ最適数
(Nb )は次の方程式により算出することができる。
を集合させて、例えばCPU,コントローラなどのユニ
ットとして働くようにしたものとして定義され、すべて
の信号配線経路がシステムの軸に沿った方向となるよう
に行うものと仮定すると、基板当たりのチップ最適数
(Nb )は次の方程式により算出することができる。
【0049】 Nb =[2NS NF PZ VXY/(PX +PY )VZ ]2/3 ただし、VXYおよびVZ はそれぞれ電磁波のXY方向お
よびZ方向への伝搬速度であり、これらの値はそれぞれ
の方向の電気的接続にどのような材料を用いるかに依存
する。
よびZ方向への伝搬速度であり、これらの値はそれぞれ
の方向の電気的接続にどのような材料を用いるかに依存
する。
【0050】この計算は、モジュール当たりのチップ数
が与えられたとき、任意の2つのチップ間の距離(即ち
信号経路長さ)を最小化するとの仮定の下に行われる。
一般的に、チップ間距離を最小化するためには、各平面
基板は一般に正方形である必要があり、VXY=VZ であ
るときにはモジュール全体としては立方体となっていな
ければならないことが明らかであろう。
が与えられたとき、任意の2つのチップ間の距離(即ち
信号経路長さ)を最小化するとの仮定の下に行われる。
一般的に、チップ間距離を最小化するためには、各平面
基板は一般に正方形である必要があり、VXY=VZ であ
るときにはモジュール全体としては立方体となっていな
ければならないことが明らかであろう。
【0051】もし、PX =PY であるときには、基板の
XおよびY軸に沿って配置されるチップ数は、最適には
同じでなければならないが、マウントするチップ数が少
数の場合でさえ、上記方程式は驚くべき結果を与える。
XおよびY軸に沿って配置されるチップ数は、最適には
同じでなければならないが、マウントするチップ数が少
数の場合でさえ、上記方程式は驚くべき結果を与える。
【0052】例えば、チップの数がたった4であるよう
な場合を考えると、典型的な環境条件においては、基板
当たりの最適チップ数はただの1である。すなわち、チ
ップを単に積み重ねるのが最適であるという結論が得ら
れる。しかし、上記の方程式は、チップ数が大きい場
合、例えば10以上であるような場合において非常に重
要である。
な場合を考えると、典型的な環境条件においては、基板
当たりの最適チップ数はただの1である。すなわち、チ
ップを単に積み重ねるのが最適であるという結論が得ら
れる。しかし、上記の方程式は、チップ数が大きい場
合、例えば10以上であるような場合において非常に重
要である。
【0053】複数のチップを3次元アレイに詰め込むこ
とによって、熱の除去の問題が一層重要なものとなる。
また、密度をより高密度にすると、チップへの信号ライ
ンの供給および電源の供給が複雑な課題となってくる。
とによって、熱の除去の問題が一層重要なものとなる。
また、密度をより高密度にすると、チップへの信号ライ
ンの供給および電源の供給が複雑な課題となってくる。
【0054】これらの問題について以下に、図面を用い
て説明する。図1は本発明の1実施例による3次元マル
チチップモジュールの側面図、図2は本発明のマルチチ
ップモジュールの1つの主基板についての部分断面斜視
図、図3は本発明によるマルチチップモジュールの平面
図、図4は本発明によるマルチチップモジュールの下面
図、図5は本発明に用いるための電源供給ストラップお
よび電源フィードストラップの1実施例について示した
部分斜視図、図6は本発明に用いるための電源供給スト
ラップおよび電源フィードストラップの他の実施例につ
いて示した部分等角図、図7は本発明によるマルチチッ
プモジュールの接続に用いられるエッジコネクタの斜視
図、図8は図7のエッジコネクタの1実施例において製
造の途中の段階をさらに詳細に示した拡大側面図、図9
は図7のエッジコネクタの1実施例において図8のエッ
ジコネクタの完成した状態についての1実施例を示した
側面図、図10は図7のエッジコネクタの1実施例にお
いて図8のエッジコネクタの完成した状態についての他
の実施例を示した側面図、図11は図7のエッジコネク
タの矢印線9−9における断面図、図12は図6に示し
たタイプの複数の柔軟なウェッブについて製造途中段階
を示した斜視図である。
て説明する。図1は本発明の1実施例による3次元マル
チチップモジュールの側面図、図2は本発明のマルチチ
ップモジュールの1つの主基板についての部分断面斜視
図、図3は本発明によるマルチチップモジュールの平面
図、図4は本発明によるマルチチップモジュールの下面
図、図5は本発明に用いるための電源供給ストラップお
よび電源フィードストラップの1実施例について示した
部分斜視図、図6は本発明に用いるための電源供給スト
ラップおよび電源フィードストラップの他の実施例につ
いて示した部分等角図、図7は本発明によるマルチチッ
プモジュールの接続に用いられるエッジコネクタの斜視
図、図8は図7のエッジコネクタの1実施例において製
造の途中の段階をさらに詳細に示した拡大側面図、図9
は図7のエッジコネクタの1実施例において図8のエッ
ジコネクタの完成した状態についての1実施例を示した
側面図、図10は図7のエッジコネクタの1実施例にお
いて図8のエッジコネクタの完成した状態についての他
の実施例を示した側面図、図11は図7のエッジコネク
タの矢印線9−9における断面図、図12は図6に示し
たタイプの複数の柔軟なウェッブについて製造途中段階
を示した斜視図である。
【0055】本発明の好適な実施例について示す図1に
おいて、マルチチップモジュール10は、実質的に同様
な複数の基板(主基板)100などからなっており、こ
れらの基板100には、複数のICチップ110がマウ
ントされている。
おいて、マルチチップモジュール10は、実質的に同様
な複数の基板(主基板)100などからなっており、こ
れらの基板100には、複数のICチップ110がマウ
ントされている。
【0056】図1では3枚の基板100を積み重ねもの
であるが、その好適な積層数は、上記の最適数Nb の方
程式を考慮すると、個々の特定の設計ごとにその必要性
に応じて変わり、各基板100のICチップ110は、
好ましくは列をなしてマウントされる。
であるが、その好適な積層数は、上記の最適数Nb の方
程式を考慮すると、個々の特定の設計ごとにその必要性
に応じて変わり、各基板100のICチップ110は、
好ましくは列をなしてマウントされる。
【0057】各基板100は、アクティブな配線基板1
30がその上に形成されている、あるいは、図示するよ
うに堅固な支持基板120にアクティブな配線基板13
0がマウントされている。
30がその上に形成されている、あるいは、図示するよ
うに堅固な支持基板120にアクティブな配線基板13
0がマウントされている。
【0058】支持基板120は、主に、基板100に対
して構造的な堅固さを与えるために用いられるものであ
り、セラミック,窒化アルミニュウム,銅・タングステ
ン粉末焼結材料、あるいは、銅などの任意の適当な材料
を用いて作成することができる。
して構造的な堅固さを与えるために用いられるものであ
り、セラミック,窒化アルミニュウム,銅・タングステ
ン粉末焼結材料、あるいは、銅などの任意の適当な材料
を用いて作成することができる。
【0059】ただし、そりが発生したり、基板120と
配線基板130との間ではがれが生じたりするのを防ぐ
ために、基板120の熱膨張係数が配線基板130の熱
膨張係数とあまり異なったものであってはならない。
配線基板130との間ではがれが生じたりするのを防ぐ
ために、基板120の熱膨張係数が配線基板130の熱
膨張係数とあまり異なったものであってはならない。
【0060】好適な本実施例において、配線基板130
はマルチチップモジュールの中のいろいろなチップを接
続するための信号線路を有する複数の銅/ポリイミド
(Cu/PI)層からなっている。
はマルチチップモジュールの中のいろいろなチップを接
続するための信号線路を有する複数の銅/ポリイミド
(Cu/PI)層からなっている。
【0061】銅/ポリイミドの配線基板130は、マル
チチップモジュールに普通に用いられており、これらの
設計・製造方法は当業者にはよく知られていることがら
である。
チチップモジュールに普通に用いられており、これらの
設計・製造方法は当業者にはよく知られていることがら
である。
【0062】しかしながら、以下に述べるように、本発
明の銅/ポリイミド基板130には従来とは異なる新し
い側面がある。本発明による好適な実施例の配線基板1
30は、9層以上の金属層を有することができる。その
ような層の数は、必要なすべての配線を行う際の位相幾
何学的な困難さによって定まる。
明の銅/ポリイミド基板130には従来とは異なる新し
い側面がある。本発明による好適な実施例の配線基板1
30は、9層以上の金属層を有することができる。その
ような層の数は、必要なすべての配線を行う際の位相幾
何学的な困難さによって定まる。
【0063】しかし、以下に説明するように配線基板面
上には電源ラインの配線が施されない、さらにまた、中
間基板を用いて高周波キャパシタおよび終端抵抗を供給
することができるので、アクティブ配線基板130にお
ける銅/ポリイミド層の構成層数は、多くの従来技術の
場合と比較して少なくて済む。
上には電源ラインの配線が施されない、さらにまた、中
間基板を用いて高周波キャパシタおよび終端抵抗を供給
することができるので、アクティブ配線基板130にお
ける銅/ポリイミド層の構成層数は、多くの従来技術の
場合と比較して少なくて済む。
【0064】なお、好適な実施例において配線基板13
0は、銅/ポリイミドによって構成されるものとして説
明したが、当業者には、他の方法あるいは材料を用いて
本発明の範囲に属するアクティブ配線基板を作成するこ
とが可能であることは明らかであろう。
0は、銅/ポリイミドによって構成されるものとして説
明したが、当業者には、他の方法あるいは材料を用いて
本発明の範囲に属するアクティブ配線基板を作成するこ
とが可能であることは明らかであろう。
【0065】支持基板120と配線基板130とから構
成される基板100をここでは一般に主基板と呼ぶこと
にし、本発明の好適な実施例においてICチップ110
は、主基板100に直接にマウントするのではなく、挿
入基板あるいは挿入板と呼ぶこともできる中間基板14
0上にマウントする。
成される基板100をここでは一般に主基板と呼ぶこと
にし、本発明の好適な実施例においてICチップ110
は、主基板100に直接にマウントするのではなく、挿
入基板あるいは挿入板と呼ぶこともできる中間基板14
0上にマウントする。
【0066】中間基板140は、好適には、いろいろな
信号ライン終端抵抗と高周波バイパスキャパシタとを具
備しており、これによって、ICチップに供給される信
号に対する終端が正しく行われるようになし、また電源
をクリーンな状態で、すなわち、雑音なしに供給するこ
とができるようになされている。
信号ライン終端抵抗と高周波バイパスキャパシタとを具
備しており、これによって、ICチップに供給される信
号に対する終端が正しく行われるようになし、また電源
をクリーンな状態で、すなわち、雑音なしに供給するこ
とができるようになされている。
【0067】高周波での動作においては、寄生効果を最
小にするため、これらの構成部品がICチップのごく近
傍に配置されていることが重要である。また、これらの
構成部品を主基板100にではなく中間基板140上に
配備することによって、主基板100の構成を簡略にで
きるという利点が得られ、これによって主基板100の
作成は簡易に行うことができるようになり、またさら
に、システム全体に対するモジュール化が可能となる。
小にするため、これらの構成部品がICチップのごく近
傍に配置されていることが重要である。また、これらの
構成部品を主基板100にではなく中間基板140上に
配備することによって、主基板100の構成を簡略にで
きるという利点が得られ、これによって主基板100の
作成は簡易に行うことができるようになり、またさら
に、システム全体に対するモジュール化が可能となる。
【0068】中間基板140は標準的な銅/ポリイミド
技術、あるいは適当な配線密度を実現でき、かつ必要な
終端抵抗とバイパスキャパシタとを構成することが可能
な他の既知の技術を用いて作成することができる。
技術、あるいは適当な配線密度を実現でき、かつ必要な
終端抵抗とバイパスキャパシタとを構成することが可能
な他の既知の技術を用いて作成することができる。
【0069】好適には、ICチップ110は中間基板1
40にフリップチップボンディングされる。即ち、チッ
プ110はアクティブな表面が中間基板140に接する
ようにしてマウントされ、こうようにすることによって
配線密度を増加させることができる。
40にフリップチップボンディングされる。即ち、チッ
プ110はアクティブな表面が中間基板140に接する
ようにしてマウントされ、こうようにすることによって
配線密度を増加させることができる。
【0070】フリップチップボンディングは非常によく
知られている技術であるから、ここでさらに詳細に説明
する必要はないであろう。なお、フリップチップボンデ
ィングが本発明にとって必須というわけではなく、本発
明の精神と範囲から逸脱することなしに他のボンディン
グ方法を用いることが可能であることは、当業者にとっ
て明らかであろう。
知られている技術であるから、ここでさらに詳細に説明
する必要はないであろう。なお、フリップチップボンデ
ィングが本発明にとって必須というわけではなく、本発
明の精神と範囲から逸脱することなしに他のボンディン
グ方法を用いることが可能であることは、当業者にとっ
て明らかであろう。
【0071】同様に、本発明を最も広い観点からみたと
きには、中間基板140を使用することは、本発明にと
って本質的なことがらではない。以上説明したように本
発明では、モジュール10にマウントされる各チップ1
10ごとに1つの中間基板140を用いるように説明し
たが、これに限られることなく他の実施例として、複数
のチップ110を1つの中間基板140にマウントする
こともできる。
きには、中間基板140を使用することは、本発明にと
って本質的なことがらではない。以上説明したように本
発明では、モジュール10にマウントされる各チップ1
10ごとに1つの中間基板140を用いるように説明し
たが、これに限られることなく他の実施例として、複数
のチップ110を1つの中間基板140にマウントする
こともできる。
【0072】同様に、中間基板140と同数のチップ1
10がある場合に、これらの大きさを互いに同じとする
ことが望ましいが、そのようにすることが必須であると
いうわけではない。
10がある場合に、これらの大きさを互いに同じとする
ことが望ましいが、そのようにすることが必須であると
いうわけではない。
【0073】“Z軸コネクター”とも呼ばれる複数の連
結バー150が、主基板100上のICチップ110の
各列のそれぞれの側に1つずつ配備されており、図2に
さらに明瞭に示されているように、連結バー150によ
ってマルチチップモジュール10の異なる主基板100
のチップ110を結線するための信号経路が構成され、
さらに、連結バー150は上下方向に隣接する主基板1
00の間のスペーサの役割も果たす。
結バー150が、主基板100上のICチップ110の
各列のそれぞれの側に1つずつ配備されており、図2に
さらに明瞭に示されているように、連結バー150によ
ってマルチチップモジュール10の異なる主基板100
のチップ110を結線するための信号経路が構成され、
さらに、連結バー150は上下方向に隣接する主基板1
00の間のスペーサの役割も果たす。
【0074】連結バー150は、その上面および下面に
複数の接合点210を有しており(上面接合点210は
図2に示されており、下面接合点は図4に示されてい
る)、単に、分かり易くするためだけの理由で図2には
接続点を数個しか示していないが、本発明の応用によっ
ては、数千個の接続点を各連結バー150に設けること
が可能である。
複数の接合点210を有しており(上面接合点210は
図2に示されており、下面接合点は図4に示されてい
る)、単に、分かり易くするためだけの理由で図2には
接続点を数個しか示していないが、本発明の応用によっ
ては、数千個の接続点を各連結バー150に設けること
が可能である。
【0075】好適な実施例においては、連結バー150
はそれぞれ別個に作成され、その接合点210は単純な
直通コネクタあるいは直通通路となるように構成し、こ
の接合点210に対応する接続点310が主基板100
の両側に図3に示されているように配備される。
はそれぞれ別個に作成され、その接合点210は単純な
直通コネクタあるいは直通通路となるように構成し、こ
の接合点210に対応する接続点310が主基板100
の両側に図3に示されているように配備される。
【0076】各連絡バー150は、まず最初にその一方
の側の接合点210を主基板100の接続点310と位
置合わせをしたのち、主基板100の一方の側に恒久的
に半田付け(あるいは接合)される。
の側の接合点210を主基板100の接続点310と位
置合わせをしたのち、主基板100の一方の側に恒久的
に半田付け(あるいは接合)される。
【0077】図2においては、わかりやすくするため
に、連結バー150は、まず最初に主基板100の上面
(すなわち、アクティブ配線基板130を有する側の表
面)にマウントされるものとしているが、図4に示した
ように、連結バー150を主基板100の下面に先に恒
久的にマウントしてもよい。
に、連結バー150は、まず最初に主基板100の上面
(すなわち、アクティブ配線基板130を有する側の表
面)にマウントされるものとしているが、図4に示した
ように、連結バー150を主基板100の下面に先に恒
久的にマウントしてもよい。
【0078】主基板100が堅固な支持基板120と配
線基板130にて構成されたとき連結バー150は、ま
ず最初に基板120にマウントすることが望ましいが、
どのような方法によって、連結バー150を最初に(恒
久的に)マウントするにしろ、次にこれらの連結バー1
50は、隣接する主基板100の他方の側の対応する接
続点に対して、まず位置合わせを行った上で、取り外し
可能に取り付ける。取り外し可能に取り付けるためのよ
く知られた方法の1つは、半田付けによる方法である。
取り外し可能なように連結バー150を取り付けること
によって、各基板100の間の連結バー150および各
種構成要素の修理や交換が可能となる。
線基板130にて構成されたとき連結バー150は、ま
ず最初に基板120にマウントすることが望ましいが、
どのような方法によって、連結バー150を最初に(恒
久的に)マウントするにしろ、次にこれらの連結バー1
50は、隣接する主基板100の他方の側の対応する接
続点に対して、まず位置合わせを行った上で、取り外し
可能に取り付ける。取り外し可能に取り付けるためのよ
く知られた方法の1つは、半田付けによる方法である。
取り外し可能なように連結バー150を取り付けること
によって、各基板100の間の連結バー150および各
種構成要素の修理や交換が可能となる。
【0079】このような方法に代わる実施例として、連
結バー150の両側を主基板100に取り付けるのでは
なく、図示しないエラストマーコネクタを、取り外し可
能なように取り付けを行おうとしている場所に対して、
連結バー150と主基板100との間に介在させるよう
にしてもよい。なお、エラストマーコネクタとしては、
いろいろなものが市販されており、それらが利用可能で
ある。
結バー150の両側を主基板100に取り付けるのでは
なく、図示しないエラストマーコネクタを、取り外し可
能なように取り付けを行おうとしている場所に対して、
連結バー150と主基板100との間に介在させるよう
にしてもよい。なお、エラストマーコネクタとしては、
いろいろなものが市販されており、それらが利用可能で
ある。
【0080】連結バー150は既知のいろいろな方法お
よび材料で作ることができる。例えば、共焼成セラミッ
クを用いることができる。即ち、本発明を実施するのに
適した連結バー150を、典型的な共焼成セラミック技
術である以下のステップを用いて形成することが可能で
あり、その方法はまず最初に、適当なセラミック材料に
よって大きな平板状のグリーンシートを形成する。この
グリーンシートの厚さは、一般には、可能な限り厚いほ
うがよいが、シートに穴を形成するのに用いる技術によ
って制約される。
よび材料で作ることができる。例えば、共焼成セラミッ
クを用いることができる。即ち、本発明を実施するのに
適した連結バー150を、典型的な共焼成セラミック技
術である以下のステップを用いて形成することが可能で
あり、その方法はまず最初に、適当なセラミック材料に
よって大きな平板状のグリーンシートを形成する。この
グリーンシートの厚さは、一般には、可能な限り厚いほ
うがよいが、シートに穴を形成するのに用いる技術によ
って制約される。
【0081】例えば、厚さが約200μm のセラミック
シートに、レーザあるいは機械的な穴開け方法、あるい
は単純な機械的な打ち抜きなどの多くの既知の手段のな
かの任意のものを用いて、所望の直径(例えば150μ
m)の穴をシートに形成する。その穴の大きさと間隔は、
所望接合数および連結バー150の所望幅とによって定
まる。
シートに、レーザあるいは機械的な穴開け方法、あるい
は単純な機械的な打ち抜きなどの多くの既知の手段のな
かの任意のものを用いて、所望の直径(例えば150μ
m)の穴をシートに形成する。その穴の大きさと間隔は、
所望接合数および連結バー150の所望幅とによって定
まる。
【0082】このようにして、穴と穴との間のピッチ
が、例えば約380μm に定めあけられると、次に、こ
れらの穴を例えばガラスとタングステン粉末あるいはそ
の他の耐熱性金属粉末によるペーストなどの導電性材料
によって満たす。
が、例えば約380μm に定めあけられると、次に、こ
れらの穴を例えばガラスとタングステン粉末あるいはそ
の他の耐熱性金属粉末によるペーストなどの導電性材料
によって満たす。
【0083】しかるのち、セラミックシートを単片に切
断するが、その際、その大きさは以下に説明する焼成工
程を行った後、各単片の大きさが、所望の幅と奥行きと
を有する連結バー150が得られるような大きさとなる
ように定められる。
断するが、その際、その大きさは以下に説明する焼成工
程を行った後、各単片の大きさが、所望の幅と奥行きと
を有する連結バー150が得られるような大きさとなる
ように定められる。
【0084】次に、これらの単片を所望の高さに積層す
る。単片を積層する際に、導電経路が連結バー150の
上部から底部まで連続して形成されるように、充填され
た穴が正しく位置合わせされていることが必要であり、
現在利用可能な技術を用いて、数十層をこのように積層
させることが可能である。
る。単片を積層する際に、導電経路が連結バー150の
上部から底部まで連続して形成されるように、充填され
た穴が正しく位置合わせされていることが必要であり、
現在利用可能な技術を用いて、数十層をこのように積層
させることが可能である。
【0085】次に、この集成体全体を高温度で焼成し
て、連結バー150を形成する。その後、半田バンプあ
るいはその他のコネクタを導電経路の両方の端に取り付
けるようにしてもよい。
て、連結バー150を形成する。その後、半田バンプあ
るいはその他のコネクタを導電経路の両方の端に取り付
けるようにしてもよい。
【0086】以上に、本発明の連結バー150を形成す
る1つの方法を示したが、これに限らず、必要な数の接
続を確実に形成できるものであれば任意の構造を用いる
ことができる。そして、連結バー150の熱膨張係数は
基板100の熱膨張係数と近いものとなっていることが
望ましい。
る1つの方法を示したが、これに限らず、必要な数の接
続を確実に形成できるものであれば任意の構造を用いる
ことができる。そして、連結バー150の熱膨張係数は
基板100の熱膨張係数と近いものとなっていることが
望ましい。
【0087】複数(図は3枚)の基板100を積層した
とき、図1に示されているように、断面形状が一般に長
方形である複数のチャネル160が、隣接した主基板1
00の間に形成される。このチャネル160の壁は連結
バー150と主基板100から構成されている。
とき、図1に示されているように、断面形状が一般に長
方形である複数のチャネル160が、隣接した主基板1
00の間に形成される。このチャネル160の壁は連結
バー150と主基板100から構成されている。
【0088】そこで、信号供給経路を形成する必要がな
い不活性な蓋基板(図示せず)を、最上層の主基板10
0の連結バー150の上に配置して、そこにもチャネル
160を形成し、各チャネル160には、非腐食性で非
導電性の冷却流体(例えばフロリナート;商標名,3M
社)を、図示しない通常の手段によってチャネル160
中に強制的に流す。
い不活性な蓋基板(図示せず)を、最上層の主基板10
0の連結バー150の上に配置して、そこにもチャネル
160を形成し、各チャネル160には、非腐食性で非
導電性の冷却流体(例えばフロリナート;商標名,3M
社)を、図示しない通常の手段によってチャネル160
中に強制的に流す。
【0089】ただし、最上層の主基板100の連結バー
150に信号供給経路が不必要であれば、その連結バー
150を不活性にすることもできる。本発明の重要な特
徴は、ICチップ110がチャネル160中に配置さ
れ、冷却流体がこれらのICチップ110の各々と直接
に接触するようになされているという点であり、そのこ
とによって、1平方センチメートル当たり100アンペ
ア以上の電流密度と1平方センチ当たり125ワットの
発生パワーを取り扱い可能にする。
150に信号供給経路が不必要であれば、その連結バー
150を不活性にすることもできる。本発明の重要な特
徴は、ICチップ110がチャネル160中に配置さ
れ、冷却流体がこれらのICチップ110の各々と直接
に接触するようになされているという点であり、そのこ
とによって、1平方センチメートル当たり100アンペ
ア以上の電流密度と1平方センチ当たり125ワットの
発生パワーを取り扱い可能にする。
【0090】以上説明したように本発明の冷却チャネル
は、基板100を積層して本発明による3次元モジュー
ルを形成する工程中に形成される。言い換えれば、特別
な構造も特別な工程も必要なしにチャネルを形成するこ
とができる。
は、基板100を積層して本発明による3次元モジュー
ルを形成する工程中に形成される。言い換えれば、特別
な構造も特別な工程も必要なしにチャネルを形成するこ
とができる。
【0091】また、本発明のマルチチップモジュール1
0は、各主基板100にマウントされたICチップ11
0に電源を供給するための新規な手段も有しており、そ
の電源ストラップ170は各チップ列の下の主基板10
0の反対側の面の、チップ列の直下にマウントされる。
0は、各主基板100にマウントされたICチップ11
0に電源を供給するための新規な手段も有しており、そ
の電源ストラップ170は各チップ列の下の主基板10
0の反対側の面の、チップ列の直下にマウントされる。
【0092】好適な電源ストラップ170は、さらに以
下に詳細に説明するように、比較的厚い銅片で構成され
る。即ち、図2に示されているように電源は、電源スト
ラップ170から主基板100および中間基板140を
直通してICチップ110に直接に接続し、そのことに
よって、電源ストラップ170からICチップ110へ
の供給経路が最小化される。
下に詳細に説明するように、比較的厚い銅片で構成され
る。即ち、図2に示されているように電源は、電源スト
ラップ170から主基板100および中間基板140を
直通してICチップ110に直接に接続し、そのことに
よって、電源ストラップ170からICチップ110へ
の供給経路が最小化される。
【0093】このように構成することによって、電源を
チップ110に供給するための全体構造を非常に低イン
ピーダンスに構成することができる。かかる低インピー
ダンス電源供給構造は、電流密度が上記のような高密度
である場合に非常に有用であり、本発明の1実施例にお
けるチップ110までの電源供給経路を見積もってみる
と、主基板100の最も遠い角から中央位置のチップ1
10の表面までの電源供給経路の抵抗、すなわち、この
構造中の最も長い電源供給経路の抵抗は100ミリオー
ムである。
チップ110に供給するための全体構造を非常に低イン
ピーダンスに構成することができる。かかる低インピー
ダンス電源供給構造は、電流密度が上記のような高密度
である場合に非常に有用であり、本発明の1実施例にお
けるチップ110までの電源供給経路を見積もってみる
と、主基板100の最も遠い角から中央位置のチップ1
10の表面までの電源供給経路の抵抗、すなわち、この
構造中の最も長い電源供給経路の抵抗は100ミリオー
ムである。
【0094】電源ストラップ170は、図3および図4
に示されているように、電源フィードストラップ180
に接続されている。電源フィードストラップ180は、
主基板100の端に平行し、電源ストラップ170と直
交する方向に走っている。
に示されているように、電源フィードストラップ180
に接続されている。電源フィードストラップ180は、
主基板100の端に平行し、電源ストラップ170と直
交する方向に走っている。
【0095】電源フィードストラップ180は電源スト
ラップ170と同様にして、以下にさらに詳細に説明す
るように作成することが可能であり、電源ストラップ1
70および電源フィードストラップ180は複数の動作
電圧をチップ110に供給することができるように多数
の供給経路を有している。
ラップ170と同様にして、以下にさらに詳細に説明す
るように作成することが可能であり、電源ストラップ1
70および電源フィードストラップ180は複数の動作
電圧をチップ110に供給することができるように多数
の供給経路を有している。
【0096】また、本発明のマルチチップモジュールの
ICチップ110に電源を供給するための手段において
は、一般に電源供給ラインをチップ110からのあるい
はチップ110への信号ラインから十分に分離している
という点にも注意すべきである。
ICチップ110に電源を供給するための手段において
は、一般に電源供給ラインをチップ110からのあるい
はチップ110への信号ラインから十分に分離している
という点にも注意すべきである。
【0097】電源供給ラインと信号ラインとが互いに接
近するのは、電源供給ストラップとICチップ110と
の間の領域だけである。先に述べたように、ストラップ
170とチップ110との間の経路は、上記のような近
接領域が最小となるように、比較的短くまた直線上に形
成されている。
近するのは、電源供給ストラップとICチップ110と
の間の領域だけである。先に述べたように、ストラップ
170とチップ110との間の経路は、上記のような近
接領域が最小となるように、比較的短くまた直線上に形
成されている。
【0098】これと対比して、従来技術によるマルチチ
ップモジュールでは、一般に、同一のアクティブ配線基
板が、信号ラインと電源ラインとの両方の供給に用いら
れている。このようになされている場合には、電源ライ
ンの雑音が信号ラインと結合する場合があって問題であ
り、さらには、アクティブ配線基板中に電源供給ライン
を形成すると、比較的厚いラインを用いることができな
いためにインピーダンスが増大してしまい、雑音と発熱
の問題をさらに悪化させてしまう。
ップモジュールでは、一般に、同一のアクティブ配線基
板が、信号ラインと電源ラインとの両方の供給に用いら
れている。このようになされている場合には、電源ライ
ンの雑音が信号ラインと結合する場合があって問題であ
り、さらには、アクティブ配線基板中に電源供給ライン
を形成すると、比較的厚いラインを用いることができな
いためにインピーダンスが増大してしまい、雑音と発熱
の問題をさらに悪化させてしまう。
【0099】本発明の1実施例による電源ストラップ1
70および電源フィードストラップ180を示す図5に
おいて、各電源ストラップ170は、複数の絶縁スペー
サ520によって互いに分離された複数の銅のバー51
0からなっている。同様に、各電源フィードストラップ
180は、複数の絶縁スペーサ540によって互いに分
離された複数の銅のバー530からなっている。
70および電源フィードストラップ180を示す図5に
おいて、各電源ストラップ170は、複数の絶縁スペー
サ520によって互いに分離された複数の銅のバー51
0からなっている。同様に、各電源フィードストラップ
180は、複数の絶縁スペーサ540によって互いに分
離された複数の銅のバー530からなっている。
【0100】電源ストラップ170を構成している各バ
ー510は電気的に電源フィードストラップ180の対
応するバー530に図示のように接点550によって接
続されている。バー530は延伸接点560を有してお
り、この接点560はバー510との接触を果たすのに
用いられる。
ー510は電気的に電源フィードストラップ180の対
応するバー530に図示のように接点550によって接
続されている。バー530は延伸接点560を有してお
り、この接点560はバー510との接触を果たすのに
用いられる。
【0101】電源ストラップ170のバー510と電源
フィードストラップ180のバー530との間の電気的
な接続は、例えばバー510と接点560との接触位置
550においてろう付けを行うなど、任意の既知の手段
によって実現可能である。
フィードストラップ180のバー530との間の電気的
な接続は、例えばバー510と接点560との接触位置
550においてろう付けを行うなど、任意の既知の手段
によって実現可能である。
【0102】なお、等価的に、延伸接点560に替え接
点560に相当する接点をバー510の上に形成するよ
うにすることもできる。バー510を主基板100に接
合する方法について、次に以下に説明する。
点560に相当する接点をバー510の上に形成するよ
うにすることもできる。バー510を主基板100に接
合する方法について、次に以下に説明する。
【0103】図5の場合には、電源ストラップ170お
よび電源フィードストラップ180は3つのバー510
または530を有するが、バー510,530の数を必
要に応じて変えることができることは、当業者にとって
明らかであろう。
よび電源フィードストラップ180は3つのバー510
または530を有するが、バー510,530の数を必
要に応じて変えることができることは、当業者にとって
明らかであろう。
【0104】同様に、銅以外の導電性材料をバー51
0,530の材料として用いることも可能である。図5
の例では、各銅のバー510,530はそれぞれがチッ
プに供給される別々の電圧に関するものであり、そのう
ちの少なくとも1つのバー510,530はアース帰還
経路(アースライン)として用いられ、場合によっては
複数のアースラインを用いるようにするのが望ましく、
他の実施例においては、少なくとも5つの独立した電圧
と、複数のアース経路とを用いた。
0,530の材料として用いることも可能である。図5
の例では、各銅のバー510,530はそれぞれがチッ
プに供給される別々の電圧に関するものであり、そのう
ちの少なくとも1つのバー510,530はアース帰還
経路(アースライン)として用いられ、場合によっては
複数のアースラインを用いるようにするのが望ましく、
他の実施例においては、少なくとも5つの独立した電圧
と、複数のアース経路とを用いた。
【0105】図5に示すバー510,530は、既知の
いろいろな技術を用いて作ることができる。その一つ
は、1枚の銅シートから複数のバー510,530をエ
ッチングによって形成することであり、その実施例にお
いて用いられるバー510,530の底部幅は0.15
mmであり、厚さは0.5mmである。
いろいろな技術を用いて作ることができる。その一つ
は、1枚の銅シートから複数のバー510,530をエ
ッチングによって形成することであり、その実施例にお
いて用いられるバー510,530の底部幅は0.15
mmであり、厚さは0.5mmである。
【0106】このようなバー510,530は0.15
mmの厚さの銅シート上にまずパターンが形成されてい
るマスク層を配置してからウェットエッチングを行うこ
とによって得ることができる。エッチングマスクとして
適当な絶縁特性を有しているものを用いれば、エッチン
グプロセスの後にマスクを残存したままにしておき、絶
縁物520、あるいは540として用いるようにするこ
とができる。
mmの厚さの銅シート上にまずパターンが形成されてい
るマスク層を配置してからウェットエッチングを行うこ
とによって得ることができる。エッチングマスクとして
適当な絶縁特性を有しているものを用いれば、エッチン
グプロセスの後にマスクを残存したままにしておき、絶
縁物520、あるいは540として用いるようにするこ
とができる。
【0107】さもなければ、各バー510,530を電
気的に接続させる部分を除いて、ペアレーンなどの誘電
体全面等方コートを行うようにしてもよい。銅のバー5
10,530を形成したら、バー510としての主基板
100と、バー530とを、ろう付けあるいはその他の
既知の技術で電気的に接合させることになる。
気的に接続させる部分を除いて、ペアレーンなどの誘電
体全面等方コートを行うようにしてもよい。銅のバー5
10,530を形成したら、バー510としての主基板
100と、バー530とを、ろう付けあるいはその他の
既知の技術で電気的に接合させることになる。
【0108】ストラップ要素を形成する各銅のバー51
0あるいは530は、同一のストラップの他のバー51
0あるいは530に対してろう付けや物理的接着を行う
必要がない。即ち、ストラップ170または180を形
成するバー510,530は、それぞれを独立に動かせ
ることができるようしたままでよい。このように、スト
ラップ170または180は一体に形成する必要がな
い。
0あるいは530は、同一のストラップの他のバー51
0あるいは530に対してろう付けや物理的接着を行う
必要がない。即ち、ストラップ170または180を形
成するバー510,530は、それぞれを独立に動かせ
ることができるようしたままでよい。このように、スト
ラップ170または180は一体に形成する必要がな
い。
【0109】バー510と530を接合しないで、互い
に独立に自由に動くことができるようにしておくことに
より、熱サイクルにおいて構造全体に発生する歪みを緩
和することができるという利点が得られる。
に独立に自由に動くことができるようにしておくことに
より、熱サイクルにおいて構造全体に発生する歪みを緩
和することができるという利点が得られる。
【0110】図3および図4に示したように、電源スト
ラップ170の数は電源フィードストラップ180の数
よりも多いため、電源フィードストラップ180によっ
て運ばれる電流は電源ストラップ170の電流より大き
くなる。従って、図5に示されるように、電源フィード
ストラップ180を構成しているバー530の厚さは、
電源ストラップ170に用いられるバー510の厚さよ
りも厚くすることが望ましい。
ラップ170の数は電源フィードストラップ180の数
よりも多いため、電源フィードストラップ180によっ
て運ばれる電流は電源ストラップ170の電流より大き
くなる。従って、図5に示されるように、電源フィード
ストラップ180を構成しているバー530の厚さは、
電源ストラップ170に用いられるバー510の厚さよ
りも厚くすることが望ましい。
【0111】別の実施例による電源ストラップ170’
および電源フィードストラップ180’を示す図6にお
いて、電源ストラップ170’および電源フィードスト
ラップ180’は、従来のプリント回路基板技術を用い
て形成される。
および電源フィードストラップ180’を示す図6にお
いて、電源ストラップ170’および電源フィードスト
ラップ180’は、従来のプリント回路基板技術を用い
て形成される。
【0112】各電源フィードストラップ180’は複数
のプリント回路基板層から構成され、これらの各層はマ
ウントされた複数の銅箔ストリップ610を有してお
り、それらの銅箔ストリップ610は絶縁材料620に
よって分離されている。
のプリント回路基板層から構成され、これらの各層はマ
ウントされた複数の銅箔ストリップ610を有してお
り、それらの銅箔ストリップ610は絶縁材料620に
よって分離されている。
【0113】絶縁材料620は、プリント回路基板材料
によって構成させることができる。貫通柱630によっ
て、積層されている多数の銅箔ストリップ610が相互
接続され、各銅電導層の実効的な厚さがプリント回路基
板の層の数によって決まるようになる。
によって構成させることができる。貫通柱630によっ
て、積層されている多数の銅箔ストリップ610が相互
接続され、各銅電導層の実効的な厚さがプリント回路基
板の層の数によって決まるようになる。
【0114】さらに、電源フィードストラップ180’
の底のプリント回路基板層を突き抜けて貫通柱630を
下側に伸張させて、電源供給ストラップ170’の上部
銅箔層と接続させるようにすることができる。
の底のプリント回路基板層を突き抜けて貫通柱630を
下側に伸張させて、電源供給ストラップ170’の上部
銅箔層と接続させるようにすることができる。
【0115】電源供給ストラップ170’は、電源フィ
ードストラップ180’を形成したのと同様の方法で形
成することが可能であり、絶縁材料650によって分離
された銅箔ストリップ645で構成するようにできる。
ードストラップ180’を形成したのと同様の方法で形
成することが可能であり、絶縁材料650によって分離
された銅箔ストリップ645で構成するようにできる。
【0116】図6では、電源供給ストラップ170’が
1層のみからなっている場合について示したが、供給す
べき電流の大きさに応じて多数の層を用いるようにする
ことも可能である。図6の実施例を構成するのに用いら
れるプリント回路基板技術では本質的に厚さに限界があ
るため、多数の層を使用することが必要である。
1層のみからなっている場合について示したが、供給す
べき電流の大きさに応じて多数の層を用いるようにする
ことも可能である。図6の実施例を構成するのに用いら
れるプリント回路基板技術では本質的に厚さに限界があ
るため、多数の層を使用することが必要である。
【0117】各プリント回路基板層は、少なくともIC
チップ110に供給すべき電圧の数と同じ数の銅ストリ
ップ610または645を有している必要があり、これ
に、アース面として働くストリップをさらに付加させる
ことができる。図6に示した実施例では、このようなス
トリップ610または645が3つ用いられているが、
さらに多くのストリップを用いるようにすることも可能
である。
チップ110に供給すべき電圧の数と同じ数の銅ストリ
ップ610または645を有している必要があり、これ
に、アース面として働くストリップをさらに付加させる
ことができる。図6に示した実施例では、このようなス
トリップ610または645が3つ用いられているが、
さらに多くのストリップを用いるようにすることも可能
である。
【0118】図5および図6のどちらの実施例において
も、銅バー510あるいは銅箔ストリップ645の上面
は、堅固な基板120の下側の接続点310に直接に接
続することが可能である。堅固な基板120は一般には
信号あるいは電源の供給経路のために用いることは意図
されておらず、電源は電源ストラップ170から基板1
20および130を貫通して中間基板140およびIC
チップ110に直接に供給され、その様子は、図2を見
ると最もよくわかる。
も、銅バー510あるいは銅箔ストリップ645の上面
は、堅固な基板120の下側の接続点310に直接に接
続することが可能である。堅固な基板120は一般には
信号あるいは電源の供給経路のために用いることは意図
されておらず、電源は電源ストラップ170から基板1
20および130を貫通して中間基板140およびIC
チップ110に直接に供給され、その様子は、図2を見
ると最もよくわかる。
【0119】主基板100の1つの側が他方の側へ直通
貫通接続を形成するための技術は当業者にはよく知られ
ていることなので、ここでさらに詳細に議論する必要は
ないであろう。そして、どの技術を用いるかは他にもい
ろいろな要因があるが、主基板を形成する材料の性質に
依存する。
貫通接続を形成するための技術は当業者にはよく知られ
ていることなので、ここでさらに詳細に議論する必要は
ないであろう。そして、どの技術を用いるかは他にもい
ろいろな要因があるが、主基板を形成する材料の性質に
依存する。
【0120】本発明者によって発明された1実施例にお
いては、堅固な基板120上の基板を貫通する貫通路の
位置に複数の半田バンプを形成する。次に、これらの半
田バンプを銅バー510あるいはストリップ645の表
面に既知の技術を用いて直接に結合する。あるいは、図
6に示されているように、各上部電源ストラップストリ
ップ645の上に曲げることが可能な複数のウェブ64
0をマウントして具備するようにしてもよい。
いては、堅固な基板120上の基板を貫通する貫通路の
位置に複数の半田バンプを形成する。次に、これらの半
田バンプを銅バー510あるいはストリップ645の表
面に既知の技術を用いて直接に結合する。あるいは、図
6に示されているように、各上部電源ストラップストリ
ップ645の上に曲げることが可能な複数のウェブ64
0をマウントして具備するようにしてもよい。
【0121】曲げることが可能なウェブ640は、半田
付け,溶接,ろう付け,あるいはその他の既知の技術に
よって、銅箔ストリップに電気的に接続することが可能
であり、曲げることが可能なウェブ640は堅固な基板
120の下側の貫通路に対して位置合わせされて配置さ
れる。
付け,溶接,ろう付け,あるいはその他の既知の技術に
よって、銅箔ストリップに電気的に接続することが可能
であり、曲げることが可能なウェブ640は堅固な基板
120の下側の貫通路に対して位置合わせされて配置さ
れる。
【0122】曲げることが可能なウェブ640をストリ
ップ645に取り付けた後に、まず、これらのウェブ6
40を貫通路に対して位置合わせしてから構造全体を主
基板100に対して取り付ける。この場合においても、
半田バンプ,ろう付けパッドなどのよく知られた技術を
用いることができる。
ップ645に取り付けた後に、まず、これらのウェブ6
40を貫通路に対して位置合わせしてから構造全体を主
基板100に対して取り付ける。この場合においても、
半田バンプ,ろう付けパッドなどのよく知られた技術を
用いることができる。
【0123】図6に示されている曲げることが可能(柔
軟)なウェブ640の作成とそのマウントについて、図
12を参照に説明する。まず、所望の大きさの伸張され
た銅のバー1000あるいはその他の適当な導電性材料
をロール成形、機械加工、化学的切削加工などの既知の
技術を用いて作成する。
軟)なウェブ640の作成とそのマウントについて、図
12を参照に説明する。まず、所望の大きさの伸張され
た銅のバー1000あるいはその他の適当な導電性材料
をロール成形、機械加工、化学的切削加工などの既知の
技術を用いて作成する。
【0124】バー1000の下側の部分の前面1020
および裏面1030が図示のように凹面となるように加
工し、さらに複数の溝1010を切り込む。これらの溝
1010は、バー1000の全体にわたって切り込まな
いように形成し、複数の個々のウェブ要素の上端が連続
した銅片に連結されているようにする。
および裏面1030が図示のように凹面となるように加
工し、さらに複数の溝1010を切り込む。これらの溝
1010は、バー1000の全体にわたって切り込まな
いように形成し、複数の個々のウェブ要素の上端が連続
した銅片に連結されているようにする。
【0125】溝1010の間隔は取り付けようとしてい
るストリップ645の間隔と同じか大きくなるように設
定し、個々のウェブ要素の中心間距離は取り付けようと
しているストリップ645の中心間距離と同じに設定す
る。
るストリップ645の間隔と同じか大きくなるように設
定し、個々のウェブ要素の中心間距離は取り付けようと
しているストリップ645の中心間距離と同じに設定す
る。
【0126】次に、バー1000をストリップ645に
先に説明したようにして取り付けたのち、バー1000
をプラスチックまたはワックスあるいはその他の適当な
材料中に埋め込み、バー1000の上部の連続部分を研
削またはその他の機械的加工処理によって去する。
先に説明したようにして取り付けたのち、バー1000
をプラスチックまたはワックスあるいはその他の適当な
材料中に埋め込み、バー1000の上部の連続部分を研
削またはその他の機械的加工処理によって去する。
【0127】次いで、プラスチック等の埋め込み用材料
を除去し、曲げることが可能なウェブ640がストリッ
プ645に個々に取り付けられた状態とする。図5に示
した銅バー構造の接続のために、曲げることが可能なウ
ェブ640を同様に用いることもできる。あるいは、バ
ー510が図5の延伸接点560と類似の一体型コネク
タを有するように構成することも可能である。どちらの
構造においても、曲げることが可能なウェブ640ある
いは延伸接点560を用いることの利点は、これによっ
て構造の柔軟性を大きくすることができ、熱サイクルに
よって発生する材料の応力、および構造全体に用いられ
ているいろいろな材料間の膨張係数の不一致によって発
生する材料の応力を緩和することができることである。
を除去し、曲げることが可能なウェブ640がストリッ
プ645に個々に取り付けられた状態とする。図5に示
した銅バー構造の接続のために、曲げることが可能なウ
ェブ640を同様に用いることもできる。あるいは、バ
ー510が図5の延伸接点560と類似の一体型コネク
タを有するように構成することも可能である。どちらの
構造においても、曲げることが可能なウェブ640ある
いは延伸接点560を用いることの利点は、これによっ
て構造の柔軟性を大きくすることができ、熱サイクルに
よって発生する材料の応力、および構造全体に用いられ
ているいろいろな材料間の膨張係数の不一致によって発
生する材料の応力を緩和することができることである。
【0128】3次元マルチチップモジュール10へのま
たはからの信号供給経路は、図7に示したような1つ以
上のエッジコネクタ700によって行われる。エッジコ
ネクタ700は、その両側に複数の接続用ストリップ7
30を有している、あるいは、ストリップ730に替わ
る接続端子を用いる。
たはからの信号供給経路は、図7に示したような1つ以
上のエッジコネクタ700によって行われる。エッジコ
ネクタ700は、その両側に複数の接続用ストリップ7
30を有している、あるいは、ストリップ730に替わ
る接続端子を用いる。
【0129】ストリップ730は図2あるいは図3に示
されているような1つ以上の主基板100上の対応スト
リップ320に整合するように構成される。必要なエッ
ジコネクタ700の数はマルチチップモジュール10と
外部デバイスとを接続させるのに必要となる全接続数
と、エッジコネクタ700当たりのストリップ730の
総合密度とに依存する。
されているような1つ以上の主基板100上の対応スト
リップ320に整合するように構成される。必要なエッ
ジコネクタ700の数はマルチチップモジュール10と
外部デバイスとを接続させるのに必要となる全接続数
と、エッジコネクタ700当たりのストリップ730の
総合密度とに依存する。
【0130】なお、図7にはいくつかのストリップ73
0について図示してあるが、実際のストリップ730の
数は、応用によって変わるが、エッジコネクタ700当
たり数千個もの多くを設けることができる。
0について図示してあるが、実際のストリップ730の
数は、応用によって変わるが、エッジコネクタ700当
たり数千個もの多くを設けることができる。
【0131】エッジコネクタ700は、一般には柔軟性
を有するように構成され、本発明によるエッジコネクタ
700は新規なものではあるが、作成は既知の技術を用
いて行うことが可能である。
を有するように構成され、本発明によるエッジコネクタ
700は新規なものではあるが、作成は既知の技術を用
いて行うことが可能である。
【0132】その1つの作成方法として、一般に、シリ
コンなどの長方形の半導体基板を用い、その上に銅とポ
リイミドの層を形成する工程を含む方法がある。銅の層
は必要な信号ラインが得られるようにパターン形成され
る。
コンなどの長方形の半導体基板を用い、その上に銅とポ
リイミドの層を形成する工程を含む方法がある。銅の層
は必要な信号ラインが得られるようにパターン形成され
る。
【0133】非常に高速なデバイスに対して使用する場
合には、銅信号ラインは銅の帰還ラインの間に配置する
ようにし、実質的に同軸ケーブルと類似の制御されたイ
ンピーダンスが得られるようにする。
合には、銅信号ラインは銅の帰還ラインの間に配置する
ようにし、実質的に同軸ケーブルと類似の制御されたイ
ンピーダンスが得られるようにする。
【0134】このような構造においては、少なくとも3
つの銅の層と少なくとも2つのポリイミド層とを半導体
基板上に形成することが必要である。単に、エッジコネ
クタ700の1端から他端へ直線状の経路を形成しさせ
すればよいので、信号ラインを作成することは、それほ
ど面倒なことではない。
つの銅の層と少なくとも2つのポリイミド層とを半導体
基板上に形成することが必要である。単に、エッジコネ
クタ700の1端から他端へ直線状の経路を形成しさせ
すればよいので、信号ラインを作成することは、それほ
ど面倒なことではない。
【0135】エッジコネクタ700の他端は、マルチチ
ップモジュール中に組み込まれているチップ110のす
ぐ近くに配置させておく必要がない第2のデバイスと接
続される。例えば、マルチチップモジュールのICチッ
プ110がすべてCPUチップであり、第2のデバイス
がメモリチップであるような場合である。
ップモジュール中に組み込まれているチップ110のす
ぐ近くに配置させておく必要がない第2のデバイスと接
続される。例えば、マルチチップモジュールのICチッ
プ110がすべてCPUチップであり、第2のデバイス
がメモリチップであるような場合である。
【0136】このような構造を作成した後に、一般に、
半導体基板の長方形の中央部分720をエッチングなど
で除去し、その後に、比較的薄く、従って非常に柔軟、
かつ、本発明のエッジコネクタ700として用いるのに
十分な強度を有する銅/ポリイミド膜のみを残存させ
る。
半導体基板の長方形の中央部分720をエッチングなど
で除去し、その後に、比較的薄く、従って非常に柔軟、
かつ、本発明のエッジコネクタ700として用いるのに
十分な強度を有する銅/ポリイミド膜のみを残存させ
る。
【0137】エッジコネクタ700の端部710に対し
ては、半導体基板のエッチング除去を行わずに、これら
の部分がずっと大きな堅固さを維持できるようにし、接
続ストリップ730を主基板100上の対応する接続点
320に対して適当に整合するのに必要な、あるいは、
外部デバイスや回路の接続点と適当に整合させるのに必
要な堅固さが得られるようにする。
ては、半導体基板のエッチング除去を行わずに、これら
の部分がずっと大きな堅固さを維持できるようにし、接
続ストリップ730を主基板100上の対応する接続点
320に対して適当に整合するのに必要な、あるいは、
外部デバイスや回路の接続点と適当に整合させるのに必
要な堅固さが得られるようにする。
【0138】本発明によるエッジコネクタの2つの実施
例について詳細に示す図8,図9および図10におい
て、図8は上記説明のプロセスでエッジコネクタ700
を作成する途中段階を示したものである。図8〜図10
において、わかりやすくするため層の描き方は縮尺通り
とはなっておらず、金属層とポリイミド層の厚さを他に
比較して特に誇張して描いてある。
例について詳細に示す図8,図9および図10におい
て、図8は上記説明のプロセスでエッジコネクタ700
を作成する途中段階を示したものである。図8〜図10
において、わかりやすくするため層の描き方は縮尺通り
とはなっておらず、金属層とポリイミド層の厚さを他に
比較して特に誇張して描いてある。
【0139】エッジコネクタ700は半導体基板800
を具備しており、その上にポリイミド層810と銅の層
820,830とが形成されている。ポリイミド層81
0は、銅層820および830とを分離するように、ま
たこれらの層の上に重なるように配備されており、最上
部および最下部のポリイミド層810は主として保護膜
の役割をする。
を具備しており、その上にポリイミド層810と銅の層
820,830とが形成されている。ポリイミド層81
0は、銅層820および830とを分離するように、ま
たこれらの層の上に重なるように配備されており、最上
部および最下部のポリイミド層810は主として保護膜
の役割をする。
【0140】銅層820,830は、上部および下部の
アース平面層820と、これらの間に配備された信号ス
トリップ830とから構成される。アース平面層820
と信号ストリップ830との間を分離するポリイミド層
810の厚さを制御することによって、同軸ケーブルを
形成するときと非常に似たやり方で、所望のインピーダ
ンスを得ることが可能である。
アース平面層820と、これらの間に配備された信号ス
トリップ830とから構成される。アース平面層820
と信号ストリップ830との間を分離するポリイミド層
810の厚さを制御することによって、同軸ケーブルを
形成するときと非常に似たやり方で、所望のインピーダ
ンスを得ることが可能である。
【0141】アース平面層820はエッジコネクタ70
0全体に延伸するシートとして形成することができる
が、幅が狭い信号ストリップ830は図11に示されて
いるように、ポリイミドなどの絶縁材料910によって
互いに分離される。
0全体に延伸するシートとして形成することができる
が、幅が狭い信号ストリップ830は図11に示されて
いるように、ポリイミドなどの絶縁材料910によって
互いに分離される。
【0142】柔軟性を有するエッジコネクタ700の中
央部の拡大断面図である図11において、アース平面層
820は、信号ライン830を取り囲んでおり、また信
号ライン830とは絶縁されている。
央部の拡大断面図である図11において、アース平面層
820は、信号ライン830を取り囲んでおり、また信
号ライン830とは絶縁されている。
【0143】さらに、信号ライン830は絶縁材料91
0によって互いに分離されており、多数の個別の信号経
路がエッジコネクタ700の幅方向に設けられている。
図8のエッジコネクタ700の完成品の1実施例につい
て示した図9において、基板800の中央部をエッチン
グなどによって除去することにより、比較的厚く堅固な
2つの端部710の間に柔軟な中央部を有する構造を得
ており、ビアコネクタ840を形成し、これによってエ
ッジコネクタ700の上面およびいろいろな金属層82
0および830との間の電気的な接続を達成する。
0によって互いに分離されており、多数の個別の信号経
路がエッジコネクタ700の幅方向に設けられている。
図8のエッジコネクタ700の完成品の1実施例につい
て示した図9において、基板800の中央部をエッチン
グなどによって除去することにより、比較的厚く堅固な
2つの端部710の間に柔軟な中央部を有する構造を得
ており、ビアコネクタ840を形成し、これによってエ
ッジコネクタ700の上面およびいろいろな金属層82
0および830との間の電気的な接続を達成する。
【0144】ビアコネクタ840は、各信号経路に対し
て別個に必要であることが明白であり、単なる例示とし
て、すべてのビアコネクタ840を同一の断面上に示し
てある。ただし、実際には、異なる平面内に形成するの
が好ましく、さらに、図9には示されていないストリッ
プ730を、ビアコネクタ840の上部に形成すること
も可能であり、ビアコネクタ840は絶縁材料で取り囲
み、貫通するいろいろな金属層と短絡しないようする。
て別個に必要であることが明白であり、単なる例示とし
て、すべてのビアコネクタ840を同一の断面上に示し
てある。ただし、実際には、異なる平面内に形成するの
が好ましく、さらに、図9には示されていないストリッ
プ730を、ビアコネクタ840の上部に形成すること
も可能であり、ビアコネクタ840は絶縁材料で取り囲
み、貫通するいろいろな金属層と短絡しないようする。
【0145】図10の実施例では、信号ストリップ83
0の上部に配備された層を除去して信号ストリップ73
0の端部を露出させ、これによって、信号ストリップ8
30が3次元モジュール10の上部に位置する整合接続
ストリップ320へ容易に接続できるようになされてい
る。
0の上部に配備された層を除去して信号ストリップ73
0の端部を露出させ、これによって、信号ストリップ8
30が3次元モジュール10の上部に位置する整合接続
ストリップ320へ容易に接続できるようになされてい
る。
【0146】かかるエッジコネクタ700は、さらに、
図示しないビアを用いてアース平面層820を表面上の
信号ストリップ730に接続することもできる。なお、
他の方法を用いてストリップ730を形成することがで
きることは、当業者にとって明らかであろう。
図示しないビアを用いてアース平面層820を表面上の
信号ストリップ730に接続することもできる。なお、
他の方法を用いてストリップ730を形成することがで
きることは、当業者にとって明らかであろう。
【0147】半導体基板を用いる場合について以上に説
明したが、他の基板材料も好適に用いることが可能であ
ることは当業者にとって明らかであろう。同様に、信号
供給経路構造を形成するのに銅/ポリイミド材料を用い
ることも必須条件ではない。
明したが、他の基板材料も好適に用いることが可能であ
ることは当業者にとって明らかであろう。同様に、信号
供給経路構造を形成するのに銅/ポリイミド材料を用い
ることも必須条件ではない。
【0148】以上、本発明をその好適な実施例について
説明したが、ここに記載した細部構造と等価な、また、
これに代わり得るものが数多く存在することは当業者に
とって明らかであろう。従って、本発明は上記の詳細な
説明によって制限されるものではなく、特許請求範囲に
記載された内容によって定義されるものである。
説明したが、ここに記載した細部構造と等価な、また、
これに代わり得るものが数多く存在することは当業者に
とって明らかであろう。従って、本発明は上記の詳細な
説明によって制限されるものではなく、特許請求範囲に
記載された内容によって定義されるものである。
【0149】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、I
Cチップの冷却を極めて効率化し、高集積化され高性能
な3次元マルチチップモジュールを実現可能とし、具体
的には、1平方センチメートル当たり100アンペア以
上の電流密度と1平方センチ当たり125ワットの発生
パワーを取り扱えるようなる。
Cチップの冷却を極めて効率化し、高集積化され高性能
な3次元マルチチップモジュールを実現可能とし、具体
的には、1平方センチメートル当たり100アンペア以
上の電流密度と1平方センチ当たり125ワットの発生
パワーを取り扱えるようなる。
【0150】さらに、マルチチップモジュールにおける
信号ラインおよび電源ラインを改良し、チップの高集積
化に伴う複雑なチップ間配線を簡素化し、一層の高集積
化を可能にすると共に、チップへの電源経路の低インピ
ーダンス化を実現した。
信号ラインおよび電源ラインを改良し、チップの高集積
化に伴う複雑なチップ間配線を簡素化し、一層の高集積
化を可能にすると共に、チップへの電源経路の低インピ
ーダンス化を実現した。
【0151】さらに、モジュールの構成要素ごとにテス
トおよび交換することを可能としたことによって、マル
チチップモジュールの生産性および性能が向上した。
トおよび交換することを可能としたことによって、マル
チチップモジュールの生産性および性能が向上した。
【図1】 本発明の1実施例による3次元マルチチップ
モジュールの側面図
モジュールの側面図
【図2】 本発明のマルチチップモジュールの1つの主
基板についての部分断面斜視図
基板についての部分断面斜視図
【図3】 本発明によるマルチチップモジュールの平面
図
図
【図4】 本発明によるマルチチップモジュールの下面
図
図
【図5】 本発明に用いるための電源供給ストラップお
よび電源フィードストラップの1実施例について示した
部分斜視図
よび電源フィードストラップの1実施例について示した
部分斜視図
【図6】 本発明に用いるための電源供給ストラップお
よび電源フィードストラップの他の実施例について示し
た部分等角図
よび電源フィードストラップの他の実施例について示し
た部分等角図
【図7】 本発明によるマルチチップモジュールの接続
に用いられるエッジコネクタの斜視図
に用いられるエッジコネクタの斜視図
【図8】 図7のエッジコネクタの1実施例において製
造の途中の段階をさらに詳細に示した拡大側面図
造の途中の段階をさらに詳細に示した拡大側面図
【図9】 図7のエッジコネクタの1実施例において図
8のエッジコネクタの完成した状態についての1実施例
を示した側面図
8のエッジコネクタの完成した状態についての1実施例
を示した側面図
【図10】 図7のエッジコネクタの1実施例において
図8のエッジコネクタの完成した状態についての他の実
施例を示した側面図
図8のエッジコネクタの完成した状態についての他の実
施例を示した側面図
【図11】 図7のエッジコネクタの矢印線9−9にお
ける断面図
ける断面図
【図12】 図6に示したタイプの複数の柔軟なウェッ
ブについて製造途中段階を示した斜視図
ブについて製造途中段階を示した斜視図
10は3次元マルチチップモジュール 100は主基板 110はICチップ 120は支持基板 130は配線基板 140は中間基板 150は連結バー 160は冷却チャネル 170,170´は電源ストラップ 180,180´は電源フィードストラップ 210は接合点 310は接続点 320はストリップ 510は銅のバー 520は絶縁スペーサ 530は銅のバー 540は絶縁スペーサ 550は接触位置 560は接点 610は銅のストリップ 620は絶縁材料 630は貫通柱 640はウエブ 645は銅のストリップ 650は絶縁材料 700はエッジコネクタ 710はエッジコネクタの端部 720は半導体基板中央部 730はストリップ 800は半導体基板 810はポリイミド層 820,830は銅の層 840はビアコネクタ 910は絶縁材料 1000は銅のバー
Claims (21)
- 【請求項1】 複数のICチップをマウントしたマルチ
チップモジュールにおいて、 主基板(100) の上には該主基板の一部を利用して周囲が
取り囲まれた冷却チャネル手段(160) が形成され、 該冷却チャネル手段には該冷却チャネル手段中に冷却流
体を貫流させるための入力端と出力端とを具え、 該冷却流体が該冷却チャネル手段を貫流するとき、該冷
却流体が直接に接触するように複数のICチップ(110)
が該冷却チャネル手段の内部に列状にマウントされてい
ること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項2】 請求項1に記載のマルチチップモジュー
ルにおいて、 複数のICチップ(110) を各々に搭載した複数の前記主
基板(100) がほぼ平行な間隔をもって積み重ねられてい
ること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項3】 請求項2に記載のマルチチップモジュー
ルにおいて、 前記主基板(100) がほぼ平坦であり、前記冷却チャネル
手段(160) が、独立に作成されそれぞれの該主基板の表
面にマウントされた複数の平行な垂直方向連結バー(15
0) を含み構成されていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項4】 請求項3に記載のマルチチップモジュー
ルにおいて、 前記垂直方向連結バー(150) が、異なる前記主基板(10
0) 上にマウントされたICチップ(110) を配線接続す
るための手段を具備していること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項5】 請求項1に記載のマルチチップモジュー
ルにおいて、 少なくとも1つの前記主基板(100) が、外部電源から前
記ICチップ(110) へ電力を伝達するための電源接続手
段と、該ICチップと外部デバイスとの間で入出力信号
を伝達するための信号接続手段(700) とを具備している
こと、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項6】 請求項5に記載のマルチチップモジュー
ルにおいて、 前記電源接続手段が、電力を前記ICチップ(110) に供
給するための少なくとも1つの電源ストラップ(170) を
具備しており、該電源ストラップが前記主基板(100) の
ICチップと反対の側にマウントされていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項7】 請求項6に記載のマルチチップモジュー
ルにおいて、 前記少なくとも1つの電源ストラップ(170) が前記主基
板(100) の端を越えて延伸している端部を具備してお
り、該端部に接続され電力を該少なくとも1つの電源ス
トラップに伝達するための少なくとも1つの電源フィー
ドストラップ(180) をさらに具備しており、該電源フィ
ードストラップが該電源ストラップと直交する方向に走
っていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項8】 複数のICチップを封入した3次元マル
チチップモジュールにおいて、 第1および第2の表面を具備してほぼ長方形であり積み
重ねられた複数の主基板(100) と、マルチチップモジュ
ール内のICチップ(110) 間での信号伝達を行うための
配線接続手段とを具備しており、 それぞれの該主基板の表面に互いに平行にマウントされ
た複数の連結バー(150) をさらに有し、 実質的に同じ高さである該連結バーが任意の与えられた
該主基板にマウントされており、該主基板を積み重ねる
とき、隣接する該主基板と隣接する該連結バーの間に複
数の冷却チャネル(160) が形成され、そのとき、該連結
バーがそれぞれの該冷却チャネルの2つの壁を形成する
ようになされており、かつ、少なくともいくつかの該連
結バーが異なる該主基板上のICチップを電気的に配線
接続するための手段を具備しており、 さらに、それぞれの該主基板の第1の表面には複数の該
ICチップがマウントされ、該ICチップが該冷却チャ
ネル内にマウントされており、冷却流体が該冷却チャネ
ル中を流れるとき該冷却流体が該ICチップに直接に接
触するようになされていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項9】 請求項8に記載のマルチチップモジュー
ルにおいて、それぞれの前記主基板(100) の第2の表面
上には実質的に互いに平行にマウントされた複数の電源
ストラップ(170) をさらに具備し、それぞれの該電源ス
トラップが、該ストラップがマウントされている該主基
板の端を越えて延伸している端を有すること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項10】 請求項9に記載のマルチチップモジュ
ールにおいて、 それぞれの前記電源ストラップ(170) が、前記冷却チャ
ネル(160) の下にこれと平行してマウントされているこ
と、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項11】 請求項9に記載のマルチチップモジュ
ールにおいて、 前記複数の電源ストラップ(170) の端に接続された電源
フィードストラップ(180) をさらに具備し、該電源フィ
ードストラップが前記主基板の外部を該電源ストラップ
と直交方向に走っていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項12】 複数のICチップを封入したマルチチ
ップモジュールにおいて、 第1および第2の表面を具備してほぼ長方形である少な
くとも1つの主基板(100) を具備し、かつ、それぞれの
該第1の表面上には少なくとも1列に複数のICチップ
(110) がマウントされており、 それぞれの該主基板の第2の表面には、少なくとも1つ
の独立する電源ストラップ(170) が、該ICチップ列の
ほぼ下かつ平行に形成されていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項13】 請求項12記載のマルチチップモジュ
ールにおいて、 複数の主基板(100) と、異なるICチップ(110) 間に信
号を伝達するための複数の連結バー(150) とを具備し、
該連結バーが該ICチップ列の片側に沿って平行に該複
数の主基板上にマウントされていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項14】 請求項13記載のマルチチップモジュ
ールにおいて、 前記複数の主基板(100) が積み重ねられ、隣接する該主
基板の間にチャネル(160) が形成され、該チャネルの壁
が隣接する該主基板と隣接する前記連結バーとによって
構成され、前記ICチップ(110) 列が1つの該チャネル
内に配置されていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項15】 請求項12記載のマルチチップモジュ
ールにおいて、 前記電源ストラップ(170) の端が前記主基板(100) の端
を越えて延伸し、該電源ストラップ端が、該主基板の外
部に配置され該電源ストラップとほぼ直交する方向に走
っている電源フィードストラップ(180) に接続されてい
ること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項16】 複数のICチップを封入したマルチチ
ップモジュールにおいて、 第1および第2の表面を有しほぼ長方形の複数の主基板
(100) と、該主基板のそれぞれの第1の表面にマウント
された少なくとも1列のICチップ(110) と、該複数の
主基板のそれぞれの表面上にマウントされた複数の連結
バー(150) とを具備し、 該複数の連結バーが該ICチップ列と平行にマウントさ
れ、少なくとも1つの該連結バーが該ICチップ列のそ
れぞれの端に隣接して配置され、隣接の該主基板の間に
チャネルが形成されるようになされると共に、該連結バ
ーが、異なる該主基板上に配置された該ICチップを配
線接続するための信号経路を具備しており、 1つの該主基板の端に配置された少なくとも1つのエッ
ジコネクタ(700) をさらに具備し、該エッジコネクタ
が、該ICチップと外部デバイスとを配線接続するため
の信号経路を具備しており、 それぞれの該主基板のICチップに電力を供給するため
の複数の電源分配手段がそれぞれの該主基板上にマウン
トされ、該電源分配手段が、該連結バーおよび該エッジ
コネクタから分離されていること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項17】 請求項16記載のマルチチップモジュ
ールにおいて、 前記電源分配手段が、それぞれの前記主基板(100) の第
2の表面に前記ICチップ(110) 列と一般に反対側かつ
平行にマウントされた複数の電源ストラップ(170) を有
していること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項18】 請求項17記載のマルチチップモジュ
ールにおいて、 前記主基板(100) の外部において前記電源ストラップ(1
70) の端に接続されている、複数の電源フィードストラ
ップ(180) をさらに有していること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項19】 ほぼ平坦なX−Y平面を定める複数の
主基板と、該主基板上にマウントされた複数のほぼ長方
形のICチップと、該ICチップを相互接続するための
信号伝送手段とを具備し、該信号伝送手段がX,Y,Z
軸の一つにほぼ平行に設けられた3次元マルチチップモ
ジュールにおいて、 該モジュール内の機能ユニット当たりのチップ(110) 数
をNF とし、X軸およびY軸方向の該ICチップの配設
ピッチをそれぞれPX およびPY とし、Z軸方向に隣接
する主基板(100) 間の中心距離をPZ とし、他の機能ユ
ニットとの伝送を必要とする機能ユニットの数をNS と
し、XY方向およびZ軸方向への電磁波の該信号伝送手
段を通しての伝搬速度をそれぞれVXYおよびVZ とし、
それぞれの該主基板にマウントされるICチップの数を
Nb としたとき、チップ数Nb が、 Nb =[2NS NF PZ VXY/(PX +PY )VZ ]2/3 の方程式に従って定められること、 を特徴とするマルチチップモジュール。 - 【請求項20】 マルチチップモジュールを外部デバイ
スに電気的に接続し、かつ、インピーダンスが制御され
た柔軟なコネクタにおいて、 第1の柔軟な導電層、該第1の柔軟な導電層上に配備さ
れ所望の厚さを有する第1の柔軟な絶縁層、複数の絶縁
性ストリップによって分離された複数の導電性ストリッ
プから構成され、 実質的に均等に離れて平行である該複数の導電性ストリ
ップは、該第1の柔軟な絶縁層上に配備された複数の信
号伝送層と、該複数の信号伝送層上に配備され所望厚さ
の第2の柔軟な絶縁層と、該第2の柔軟な絶縁層上に配
備され実質的に同じ広さをもち信号線としてのインピー
ダンス値が実質的に均一値に設定されたた第2の柔軟な
導電層を有すること、 を特徴とするマルチチップモジュール用コネクタ。 - 【請求項21】 3次元マルチチップモジュールにおい
て、 独立に作成された複数の主基板(100) と、上端および下
端を具備し独立に作成された複数の連結バー(150) とを
有し、該複数の連結バーが1つの該主基板の少なくとも
1端に取り外し可能にマウントされ、かつ、隣接する該
主基板の間のスペーサとして働くようになされており、 独立に作成されて該複数の主基板に取外し可能にマウン
トされた少なくとも1つの電源ストラップ(170) をさら
に有すること、 を特徴とするマルチチップモジュール。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5194363A JPH07297359A (ja) | 1993-08-05 | 1993-08-05 | マルチチップモジュールとマルチチップモジュール用コネクタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5194363A JPH07297359A (ja) | 1993-08-05 | 1993-08-05 | マルチチップモジュールとマルチチップモジュール用コネクタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07297359A true JPH07297359A (ja) | 1995-11-10 |
Family
ID=16323340
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5194363A Pending JPH07297359A (ja) | 1993-08-05 | 1993-08-05 | マルチチップモジュールとマルチチップモジュール用コネクタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07297359A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002151640A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-05-24 | Nec Corp | 半導体装置 |
US6576499B2 (en) | 1999-12-10 | 2003-06-10 | Nec Corporation | Electronic device assembly and a method of connecting electronic devices constituting the same |
US8824163B2 (en) | 2010-09-15 | 2014-09-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | RF layered module using three dimensional vertical wiring and disposing method thereof |
CN113535636A (zh) * | 2021-06-30 | 2021-10-22 | 成都中微达信科技有限公司 | 一种计算装置 |
CN115500008A (zh) * | 2022-08-30 | 2022-12-20 | 超聚变数字技术有限公司 | 计算节点及计算设备 |
-
1993
- 1993-08-05 JP JP5194363A patent/JPH07297359A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US6798070B2 (en) | 1999-12-10 | 2004-09-28 | Nec Corporation | Electronic device assembly and a method of connecting electronic devices constituting the same |
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