JP6846119B2 - ダイオード、およびそれを用いた電力変換装置 - Google Patents
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Description
ダイオードの損失は、導通時の損失に相当する順方向電圧降下(VF:Forward Voltage)と、逆回復スイッチング時の損失(Err:Reverse recovery loss)で代表される。主にコンバータなどの低駆動周波数装置では低VF、インバータなどの高駆動周波数装置では低Errが電力変換システムの低損失化に寄与し、近年一層の低VF化、低Err化が要求されている。低VF化はオフ状態で高電圧を保持する高抵抗ドリフト層へのキャリア注入と蓄積を上げることや、高抵抗ドリフト層厚を薄くすることにより可能であり、低Err化はドリフト層の蓄積キャリアを絞り逆回復時に短時間でキャリア消滅させることなどで実現できる。
一方で低ノイズ化に関しては、逆回復スイッチング時の電流降下が急速で、特にテイル電流と呼ばれる蓄積キャリアの自然消滅期間が確保されないと、急峻に電流消滅し主回路内の寄生インダクタンスに比例するサージ電圧(L・dI/dt)が発生し、数MHz以上の振動数で発振するという現象があり、モータ絶縁や過電圧素子破壊、素子誤動作などの悪影響が懸念される。
これら低損失化と低ノイズ化の課題解決には、例えば以下のような従来技術が開示されている。
また、特許文献2には、「[課題]n型+ストッパ層(カソード層)内に正孔を蓄積させることにより、電流変化率を緩和しサージ電圧を抑制して、電磁ノイズの発生及びダイオードの破壊を防止できる高耐圧ダイオードを提供する。[解決手段]n-型半導体基板11の一方の面上に形成されたp+型アノード層12と、n-型半導体基板11の他方の面上に形成されたn+型ストッパ層(カソード層)13とを有し、n+型ストッパ層13の単位面積あたりの不純物総量が2.5×1015cm−2以下で、n+型ストッパ層13の深さが40μm以上であることを特徴とする。([要約]を参照)」と記載され、ダイオードに関わる技術が開示されている。なお、特許文献2の要約書の図については、本願の図面において図14として掲載している。
また、特許文献2にはn+型ストッパ層の体積濃度ピークや深さ分布に関する定量的な記載が無く、その効果への影響の記載も無い。特許文献2のサージ抑制効果の確保には、n+型ストッパ層の体積濃度のピークを規定することが必須であるという課題がある。
図15の実測波形では大きなテイル電流が確保されているにも関わらずテイル電流(特性線151)が急峻に消滅(特性線151、特性線150)しており、その結果、電圧波形(特性線152、特性線153)にサージ電圧と発振現象(リンギング:特性線152)が認められた。
すなわち、特許文献1、特許文献2に開示された技術を併せても前記の課題を同時に解消するのは難しいという課題がある。
すなわち、本発明のダイオードは、アノード電極層と、カソード電極層と、前記アノード電極層と前記カソード電極層とに挟まれた領域で、前記カソード電極層からの距離が30μm以上の位置に形成された第1導電型のバッファ層と、前記アノード電極層と前記カソード電極層とに挟まれた領域に形成され、前記第1導電型のバッファ層に接した第1導電型の第1半導体層と、前記アノード電極層と前記第1導電型の第1半導体層とに挟まれて形成された第2導電型の第2半導体層と、前記カソード電極層に接し、当該カソード電極層とオーミック接続されている第1導電型の第4半導体層と、前記バッファ層と前記第4半導体層とに挟まれた第1導電型の第3半導体層と、を備え、該第3半導体層は、深さが3〜5μmでキャリア濃度が1×1015cm−3以上であり、前記第3半導体層の内部に低キャリアライフタイム制御層を含んで形成され、前記低キャリアライフタイム制御層は、前記第3半導体層をレーザーアニール処理する際に、前記第3半導体層の領域の全ての不純物を活性化せず欠陥層をその内部領域に残すことで形成され、前記第3半導体層の不純物濃度分布とは独立に高抵抗ピークを示す比抵抗分布を有し、前記第1半導体層のキャリア濃度が前記バッファ層のキャリア濃度より低く、前記バッファ層のキャリア濃度は1×1015cm−3未満であり、前記カソード電極層から前記バッファ層を経由した前記第1半導体層へのキャリア注入が抑制される、ことを特徴とする。
また、その他の手段は、発明を実施するための形態のなかで説明する。
なお、実施形態を説明するための各図において同一機能を有するものは同一の符号を付し、その繰り返しの説明は適宜省略する。また、以下の実施形態の説明では、特に必要なとき以外は同一又は同様な部分の説明は繰り返さずに適宜省略する。
本発明の第1実施形態のダイオード10を、図を参照して説明する。
図1は、本発明の第1実施形態に係るダイオード10の上面と断面の一例を示す図である。
図1において、ダイオード10は、アノード電極601が接続されたアノード電極層600と、カソード電極501が接続されたカソード電極層500との間に構成されている。
なお、アノード電極層600とカソード電極層500は、金属を主体とする層である。
アノード電極層600は、p型半導体層120(第2導電型の第2半導体層)の上面(紙面の上面)に接している。
p型半導体層120の下面は、n−ドリフト層110(第1導電型の第1半導体層)の上面に接している。
深いn−バッファ層111の下面は、浅いnバッファ層112(第1導電の第3半導体層)の上面に接している。
浅いnバッファ層112の中に低キャリアライフタイム制御層(低キャリアライフタイム層、低キャリアライフタイム領域)160が形成されている。
浅いnバッファ層112の下面は、高濃度n+層100(第1導電型の第4半導体層)の上面に接している。
高濃度n+層(高濃度n+領域)100の下面は、前記したカソード電極層500に接している。
次に、図2を参照して、第1実施形態のダイオード10のキャリア(不純物)の濃度分布の概略について説明する。
図2は、本発明の第1実施形態に係るダイオード10の図1のA−B断面における深さ方向断面プロファイルの例を示す図であり、(a)は深さ方向におけるキャリア濃度(分布)を示し、(b)は深さ方向におけるキャリアライフタイム(分布)を示している。
なお、キャリアライフタイムとは、熱平衡状態より増加した少数キャリアが再結合するまでの平均時間(e−1倍となる時間)である。
なお、p型半導体層120は、n−ドリフト層110、深いn−バッファ層111、浅いnバッファ層112、高濃度n+層100とキャリアの極性(p,n)は異なるが単にキャリア濃度に着目して表記している。
また、低キャリアライフタイム制御層160は、線状で表記をしているが、これは、深さ方向の位置を示すために表記したものであって、線状の長さに対応して、キャリア濃度が広く分布をしていることを示しているわけではない。
ダイオード10をkVオーダーの高耐圧シリコンダイオードとして構成する場合には、ダイオード10のアノード側のp型半導体層120は、深さ5〜10μm程度20μm以下である。
また、n−ドリフト層110と深いn−バッファ層111を合わせた厚さは50〜1000μm程度であり、n−ドリフト層110のキャリア濃度は1×1013〜1×1015cm−3程度である。ただし、n−ドリフト層110のキャリア濃度は、1×1015cm−3には達しない。
また、深いn−バッファ層111は厚さ30μm以上であり、キャリア濃度(体積濃度)は、1×1015cm−3未満であって、n−ドリフト層110より高い濃度である。
なお、深いn−バッファ層111の総キャリア(図1の上面から見た面積濃度)は、1×1011〜1×1013cm−2である。
なお、「cm−2」は、「個/cm2」を意味し、「cm−3」は、「個/cm3」を意味している。
本発明の第1実施形態に係るダイオード10の構造において、カソードキャリア注入の抑制のために、深いn−バッファ層111に低キャリアライフタイム制御層160を形成している。
図1の上面から見た面積濃度として、1×1011〜1×1013cm−2のn型不純物を、カソード電極層から1.5〜10μmの領域にインプラントして、浅いnバッファ層112を形成する。そして、この浅いnバッファ層112をレーザアニール処理する際に、前記の領域の全ての不純物を活性化せず欠陥層をその内部領域に残すことで、低キャリアライフタイム制御層160を持ちキャリア注入を低く絞る構造を形成できる。
また、キャリアライフタイムが低い箇所は、抵抗として見た場合には高抵抗値となる。したがって、低キャリアライフタイム制御層160の抵抗分布(比抵抗分布)は、浅いnバッファ層112のキャリア分布から独立している。
すなわち、低キャリアライフタイム制御層160は、浅いnバッファ層112のキャリア分布(不純物濃度分布)とは独立に高抵抗ピークを示す比抵抗分布を持つ。
また、この際の浅いnバッファ層112の不純物濃度は、5×1011〜5×1012cm−2が最適で、深さは3〜5μmが望ましい。
また、カソード電極501およびカソード電極層500とのオーミック接合のため、カソード電極層500との接合部表面から1.5μm以下の領域に総キャリア(面積濃度)が1×1015cm−2程度で、体積濃度が1×1018〜1021cm−3の高濃度n+層100を形成する。
本発明の第1実施形態に係るダイオード10は、アノード電極層600とカソード電極層500に対し、カソード電極層500からの距離が30μm以上の位置からカソード電極層500までの領域に、深いn−バッファ層111を有している。なお、前記の深いn−バッファ層111のキャリア濃度は1×1015cm−3未満である。
また、アノード電極層600と深いn−バッファ層111とに挟まれた領域に、深いn−バッファ層111よりキャリア濃度が低い高抵抗となるn−ドリフト層110を有している。
また、アノード電極層600とn−ドリフト層110とに挟まれた領域にp型半導体層120を有している。
このような構造を持つダイオードでは、逆回復スイッチング時に内部からキャリアを吐き出しオフ状態とする過程でのキャリア量が少ないため、スイッチングスピードが速くなり逆回復スイッチング損失が低減する。
次に、本発明の第1実施形態に係るダイオード10の逆回復スイッチング時の電圧・電流の特性について説明する。
図16は、本発明の第1実施形態に係るダイオード10の逆回復スイッチング時の電圧・電流の時間推移波形の例を示す図である。
図16において、縦軸はダイオード10のコレクタ電流(カソード電流)と印加電圧(印加電源電圧)であり、横軸は時間(時間の推移)を示している。
また、特性線261は、本発明の第1実施形態に係るダイオード10の導通電流特性であり、特性線262は、従来技術の一例の導通電流特性である。また、特性線263は、逆回復スイッチング時の印加電圧(印加電源電圧)である。
このテイル電流領域では既に電圧も電源電圧付近まで高くなっているため電圧と電流の積である発生損失は非常に大きくなる可能性があるが、前記の特性線261の電流波形のように、テイル電流部が小さくなる(0Aに近づく)ことは逆回復スイッチング損失の低減効果に著しく寄与する。なお、図16において「0A」とはゼロアンペアを意味している。
本発明の第1実施形態に係るダイオード10の構造の深いn−バッファ層111は、注入キャリアのリカバリ時の減少速度が抑制され、テイル電流の現象を緩やかにすることで発振現象を抑制しており、耐圧を確保しながら低損失可能な薄ウェハ化を可能としている。
次に、キャリアライフタイムのキャリア体積濃度依存性について説明する。
図17は、キャリアライフタイムのキャリア体積濃度依存性の例を示す図である。
図17において、縦軸はキャリアライフタイム[sec]、横軸はキャリア濃度である。また、電子と正孔について特性を示している。
図17に示されたように、キャリア濃度が1×1015cm−3以上ではキャリア濃度が高いほどキャリアライフタイムは急激に短くなる。しかし、1×1015cm−3以下ではキャリア濃度に依存せず長いキャリアライフタイムが維持される。
よって、本発明の第1実施形態に係るダイオード10のように、1×1015cm−3以下のピーク濃度でキャリア分布を持つ深いn−バッファ層111は、キャリア分布と無関係に高ライフタイム領域となる。
この特性を維持した上で、逆回復スイッチング時の空乏化スピードを、バッファ層の濃度に依存し遅くすることが可能である。そして、キャリアの消滅を防ぎテイル電流領域を確保できることでリンギングノイズ発生を抑止する。
図1における深いn−バッファ層111の形成にあたっては、カソード電極近傍の低ライフタイム層への空乏層到達の十分な防止を考慮し30μm以上の厚さが必要であることを、発明者らの計算と実験試作から確認している。
同様に、深いn−バッファ層111の総キャリア(図1の上面から見た面積濃度)は、1×1011〜1×1013cm−2が必要である。すなわち、キャリア濃度(体積濃度)の濃度ピークが1×1015cm−3を満たすプロファイルで規定される厚さとも言える。
深いn−バッファ層111の形成には、シリコン半導体層では主にP、As,Sbなどの拡散をする。これらの元素はn型キャリアの活性化率が高く所望の濃度のn層を形成することが可能となる。
また、カソード電極(カソード電極層500)との接合面の全面、もしくは部分的な面に1×1019cm−3以上の高濃度n+層100を持つことが、カソード電極とのオーミック接合のために良い。さらには、1×1020cm−3以上がより望ましい。
この高濃度n+層100は、前記のカソード電極近傍の低ライフタイム層に相当する。
高濃度n+層100は、オーミック接合を目的とするため1μm未満の薄い層であることが望ましい。
これは、この高濃度n+層100は抵抗成分として順方向電圧降下VF増大に寄与し、厚みの分だけ順方向電圧降下VFが増加するためである。また全面ではなく部分的なコンタクトとすることでカソードからのキャリア低注入化も可能となる。
本発明の第1実施形態に係るダイオード10では、カソードからの注入そのものが絞られるためテイル電流そのものが小さく、空乏層が残留キャリアの急峻な消滅を引き起こすことなくソフトに電流が止まることを実験試作で確認した。
図18にこの実測波形の例を示す。
図18は、本発明の第1実施形態に係るダイオード10を用いたコレクタ電流(カソード電流)におけるテイル電流の特性の一例を示す図である。
図18において、縦軸は本発明の第1実施形態に係るダイオード10の印加電圧(アノード・カソード間電圧:特性線182)とコレクタ電流(カソード電流:特性線181)を示し、横軸は時間(時間の推移)を示している。
図18(本発明の第1実施形態の特性)を図15(特許文献1と特許文献2の構造を併せることを想定した実験の特性)と比較すると、本発明の第1実施形態に係るダイオード10は、「テイル電流が小さく、かつソフトに消滅している」こと、および「リンギング現象はなく、発振をしていない」ことにおいて、改善されている。
また、本発明者らは、カソードの低注入構造に対し、深いn−バッファ層構造の効果として逆方向電圧ブロッキング時のリーク電流の低減効果を実測確認した。
図19は、本発明の第1実施形態に係るダイオード10を用いた逆方向電圧ブロッキング時のリーク電流の特性の一例を示す図である。なお、比較として、従来技術による特性例を併せて表記している。
図19において、横軸はダイオードのアノード・カソード間の電圧(Vka)であり、縦軸はアノード電流(Ia)を自然対数で表記したものである。また、特性線191(191A,191B)は、本発明の第1実施形態に係るダイオード10の特性であり、特性線192(192A,192B)は、従来技術による特性例である。
低注入構造では、低キャリアライフタイム領域の影響が考えられ、逆方向電圧ブロッキング時にカソード注入層やその浅いバッファ層に空乏層が到達するとリーク電流の急激な増加が見られた(特性線192A)。なお、特性線192Bは、ダイオードの耐圧を超えて、電流が急峻に増大する領域を示している。
従来技術の構造の低注入n型層で部分的にカソード高注入層を間引いた場合では、低注入部での空乏層の侵入でリーク電流の増大が想定され、このような1μm前後の深さで形成されたこのようなパターン構造ではカソード電極のスパイクなどによってもリーク電流が増加する。
また、カソード側にp型領域を部分的に形成した場合でも、p型層近傍まで空乏層が進展すると、p型層からの正孔注入によりリーク電流が増加する。
この理由は、空乏層の伸展そのものが深いn−バッファ層111(図1)によって抑制され、リーク電流増加の原因となるカソード低注入構造の影響をなくすことができるためである。
この構造により、素子破壊や劣化要因となる耐圧保持時のリーク電流を低減し、高信頼化を実現する。
本発明の第2実施形態のダイオード10を、図を参照して説明する。
図3は、本発明の第2実施形態に係るダイオード10の上面と断面の一例を示す図である。
図3において、図1と異なるのは、低キャリアライフタイム制御層161の構造である。
低キャリアライフタイム制御層161は、浅いnバッファ層112の中に部分的に形成されている。例えば、図3における断面の位置を示すC2−D2において、低キャリアライフタイム制御層161は、図1における低キャリアライフタイム制御層160と同様に存在するが、図3における断面の位置を示すC1−D1においては存在していない。
すなわち、C1−D1断面とC2−D2断面とのように、低キャリアライフタイム制御層161の位置関係により浅いnバッファ層112内のキャリアライフタイム分布が変わることを示している。
なお、第2実施形態を示す図4が第1実施形態を示す図1と異なるのは、低キャリアライフタイム制御層161の形態と、それに伴うキャリアライフタイム分布のみであるので、他の構成要素の重複する説明は省略する。
レーザアニール照射における各照射位置のエネルギ、または積算エネルギが低いほど、活性化による低キャリアライフタイム化ができる。
この方法によりカソード(カソード電極層500)からの注入キャリアを抑制し、かつ注入キャリア量を所望のエリアにより変化させることが可能である。例えば、ダイオード10が構成されるチップ周辺の絶縁領域の注入を特に絞ることで、逆回復スイッチング時のアノード側導通周辺部のキャリア集中を抑え、破壊耐量が増加し、逆耐圧保持時のリーク電流を抑制することができる。
図4で示した本構造のようにカソードからの総注入キャリア量は、本発明の効果を引き出す構造のために、低注入に抑制しつつ、所望の領域の高注入化や極低注入化などが可能となる効果がある。
本発明の第3実施形態のダイオード10を、図を参照して説明する。
図5は、本発明の第3実施形態に係るダイオード10の上面と断面の一例を示す図である。
図5において、図1と異なるのは、深いn−バッファ層111の中に低キャリアライフタイム制御層162を有していることである。すなわち、図1における浅いnバッファ層112がなく、深いn−バッファ層111がn型の浅いnバッファ層112を兼ねていることである。
なお、図1における高濃度n+層100は、図5において高濃度n+層104と記載している。
また、第3実施形態を示す図5が第1実施形態を示す図1と異なるのは、浅いnバッファ層112がないことと、深いn−バッファ層111と低キャリアライフタイム制御層161の位置関係のみであるので、他の構成要素の重複する説明は省略する。
図6(a)、(b)において、図5のE−F断面における、アノード側から図5のp型半導体層120、n−ドリフト層110、低キャリアライフタイム制御層162を含む深いn−バッファ層111、高濃度n+層104(第1導電型の第5半導体層)が順に対応している。
このような低キャリアライフタイム制御層162の形成は、プロトンやHeなどの照射による欠陥生成とその後のアニール処理による欠陥回復調整で可能である。
なお、図6(a)、(b)において、低キャリアライフタイム制御層162の分布は、深いn−バッファ層111のキャリア濃度の分布とは独立している。また、キャリアライフタイムが低い箇所は、抵抗として見た場合には高抵抗値となる。したがって、低キャリアライフタイム制御層162の抵抗分布(比抵抗分布)は、深いn−バッファ層111のキャリア分布から独立している。
すなわち、低キャリアライフタイム制御層162は、深いn−バッファ層111のキャリア分布(不純物濃度分布)とは独立に高抵抗ピークを示す比抵抗分布を持つ。
この際、本発明の第3実施形態の構成の深いn−バッファ層111の効果により、より厳しい条件である高バイアス・低電流・低温に対応できる。
また、n−ドリフト層110も、深いn−バッファ層111もキャリアライフタイムに影響しないため、低VF化による損失低減が見込まれる。さらに深いn−バッファ層111の効果により、逆耐圧保持時も空乏層が低キャリアライフタイム制御層162への到達を抑制できるため、リーク電流の増大を防ぐことが出来る。
本発明の第4実施形態のダイオード10を、図を参照して説明する。
図7は、本発明の第4実施形態に係るダイオード10の上面と断面の一例を示す図である。
図7において、図5と異なるのは、図5における低キャリアライフタイム制御層162がなく、高濃度n+領域101(第1導電型の第6半導体層)を、深いn−バッファ層111内に、部分的に形成していることである。
図7で示した構造を形成することは、ホトパターンやメタルマスクによるn+領域インプラや、第1実施形態で説明したようなレーザ活性化の照射パターンなどで可能である。
図7において、高濃度n+領域101では、カソード電極層500とのオーミック確保や高キャリア注入が可能であり、高濃度n+領域101以外の低キャリア注入領域(深いn−バッファ層111)との面積比や領域分けにより総キャリア注入量を抑制する。
図7における構造のキャリア注入の領域分けは、図7のカソードからの低キャリア注入化のほか、第2実施形態で説明した破壊耐量向上やリーク電流抑制の効果などの相乗効果があり有用な構造である。
本発明の第5実施形態のダイオード10を、図を参照して説明する。
図8は、本発明の第5実施形態に係るダイオード10の上面と断面の一例を示す図である。
図8において、図7と異なるのは、浅いnバッファ層113を有し、高濃度n+層101は、浅いnバッファ層113内に部分的に形成されていることである。
浅いnバッファ層113は、逆電圧保持時のリーク電流低減に効果がある。
また、図8の構造においても、図7で説明したカソードからの低キャリア注入化のほか、第2実施形態で説明した破壊耐量向上やリーク電流抑制の効果などの相乗効果があり有用な構造である。
本発明の第6実施形態のダイオード10を、図を参照して説明する。
図9は、本発明の第6実施形態に係るダイオード10の上面と断面の一例を示す図である。
図9において、浅いnバッファ層113内に部分的に形成されたカソード側p領域102(第2導電型の第8半導体領域)を有すること、および、カソード電極(カソード電極層500)に接し、深いn−バッファ層111内、もしくは浅いnバッファ層113内に部分的に形成された高濃度n+領域103(第1導電型の第7半導体層)を有することが本発明の第6実施形態の特徴である。
なお、アノード電極601、アノード電極層600、カソード電極501、カソード電極層500、p型半導体層120、n−ドリフト層110、深いn−バッファ層111については、図1、図8の構成と同様であり、重複する説明は省略する。
また、図9に示すように、カソード側p領域(カソード側p層)102を持つ構造においても、高濃度n+層103からのキャリア注入を十分確保するように、高濃度n+層(高濃度n+領域)103付近の領域のライフタイムを高く設定することで、カソード側p層102による低電流領域の抵抗増大や負性抵抗特性を抑制できる。
以上のように、十分に低キャリア注入であるカソード構造において、図9で示す構造でのテイル電流の特性を得ることは、複合する効果として可能であり、より安定した特性が得られる。
本発明の第7実施形態のダイオード10を、図を参照して説明する。
図10は、本発明の第7実施形態に係るダイオード10の上面と断面の一例を示す図である。
図10において、図1と異なるのは、図1のp型半導体層120の代わりに、低濃度p−半導体層121とp型半導体領域122とを有することである。
低濃度p−半導体層121は平面を有する形状でアノード電極層600とn−ドリフト層110に、それぞれ上面と下面を接している。
また、p型半導体領域122は、曲面を有する溝状の形状で複数の領域に位置し、アノード電極層600とn−ドリフト層110と低濃度p−半導体層121とに接している。
図10に示したアノード構造(アノード電極層600、低濃度p−半導体層121、p型半導体領域122、n−ドリフト層110)を持つダイオードでは、導通時は主にp型半導体領域122からのみキャリア注入が起こる。そのため、アノード付近のキャリア濃度が低減し、逆回復スイッチング時の逆回復電流を抑え損失を低減するとともにソフトなスイッチング波形が得られる。
本発明の第8実施形態のダイオード10を、図を参照して説明する。
図11は、本発明の第8実施形態に係るダイオード10の上面と断面の一例を示す図である。
図11において、図1と異なるのは、n−ドリフト層110の中に低キャリアライフタイム制御層163を有することである。
なお、他の構成は、図1の構成と同様であり、重複する説明は省略する。
図11に示した本発明の第8実施形態のダイオード10では、p型半導体層120からn−ドリフト層110へのキャリアの注入は、低キャリアライフタイム制御層163で減少するため、図10で示した第7実施形態のダイオード10のアノード側と同様な効果が得られる。
本発明の第9実施形態の電力変換装置20を、図を参照して説明する。
図12は、本発明の第9実施形態に係る電力変換装置20の構成例を示す図である。
図12において、IGBT701とIGBT702を直列に接続することでU相のレッグを構成している。同様に、IGBT703とIGBT704でV相、IGBT705とIGBT706でW相のそれぞれのレッグを構成している。
また、ゲート回路801〜806は、IGBT701〜706をそれぞれ制御している。
また、ダイオード711〜716は、IGBT701〜706のそれぞれに対して逆並列に接続されている。
そして、ゲート回路801〜806によって、IGBT701〜706を統合的に制御することによって、U相、V相、W相のそれぞれのレッグの出力端子(U端子、V端子、W端子)910〜912から可変電圧、可変周波数の三相交流電圧(電力)を生成する。
すなわち、電力変換装置20は、直流電圧(電力)を、可変電圧、可変周波数の三相交流電圧(電力)に変換するインバータ装置を構成している。
この三相交流電圧(電力)を出力端子910〜912からモータ(三相交流モータ)950に供給することにより、可変電圧、可変周波数でモータ950を駆動する。
図12の電力変換装置(インバータ装置)20では、本発明の第1〜第8実施形態のいずれかの構造のダイオードを用いることにより、インバータの低損失化、低ノイズ化と高信頼化を実現する。
なお、本発明は、以上に説明した実施形態に限定されるものでなく、さらに様々な変形例が含まれる。例えば、前記の実施形態は、本発明をわかりやすく説明するために、詳細に説明したものであり、必ずしも説明したすべての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成の一部で置き換えることが可能であり、さらに、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成の一部または全部を加えることも可能である。
以下に、その他の実施形態や変形例について、さらに説明する。
第1実施形態において、深いn−バッファ層111は厚さ30μm以上で、キャリア濃度は1×1015cm−3未満と説明したが、これに限定されない。
すなわち、深いn−バッファ層111の厚さは、深いn型バッファ層のキャリア濃度(体積濃度)が1×1015cm−3未満で、かつ総キャリア濃度(面積濃度)が1×1011〜1×1013cm−2未満となる厚さで規定してもよい。
第1実施形態においては、深いn−バッファ層111の形成には、シリコン半導体層では主にP、As,Sbなどの拡散をする方法を説明した。
しかしこの方法に限定されない。さらにより有効な形成手段として、深いn−バッファ層111に酸素を含有し、酸素サーマルドナーを生成し形成する方法がある。
この方法において、酸素の拡散係数は、V族元素であるPと比較して2桁以上大きい。このため、短時間で深く拡散することが可能である。
また、酸素は通常の拡散の雰囲気でも使用されており、酸素雰囲気中で熱処理することにより特別な装置を用いずに、図1に示した第1実施形態における深いn−バッファ層111を形成することができる。
このため、通常のダイオード形成工程で、例えばn型層の活性化アニールや層間絶縁膜として形成するBPSG(Boron Phosphorus Silicon Glass)膜のデンシファイアニールとして800℃〜1000℃の熱処理で酸素サーマルドナーを消去した後、Alなどの電極形成後のシンターとして400℃〜500℃でアニールして生成することで、精度良くn型バッファ層(深いn−バッファ層111:図1)のn型キャリア密度を調整することが可能となる。
また酸素サーマルドナーのn型キャリア密度は酸素濃度の約5乗に比例することが本発明者らの検討でわかっており、酸素濃度を1×1017cm−3以上に設定することで、サーマルドナーによるn型キャリア密度をn−層(深いn−バッファ層111:図1)より大きくすることができる。
第1実施形態において、低キャリアライフタイム制御層160の形成について、n型不純物を、カソード電極層から1.5〜10μmの領域にインプラントして、浅いnバッファ層112を形成し、この浅いnバッファ層112をレーザアニール処理する際に、前記の領域の全ての不純物を活性化せず欠陥層をその内部領域に残すことで、低キャリアライフタイム制御層を形成すると説明した。
しかし、低キャリアライフタイム制御層160の形成方法は、前記の方法に限定されない。
例えば、プロトンやヘリウムなどの不活性元素を照射、アニール処理し、欠陥層を残すことでも同様の効果が得られる。
また、カソード電極(カソード電極層500)と接する領域に高注入n型領域を部分的に形成し、かつ低注入n型層で間引くことでも可能となる。
さらには、カソード電極(カソード電極層500)と接する領域に、高注入n型領域を部分的に形成し、かつp型半導体領域を部分的に形成することでも低キャリアライフタイム制御層160を形成できる。
第7実施形態では、図10に示すように、低濃度p−半導体層121とp型半導体領域122とを有した構造をとっている。これはアノード側の構造の改良である。
これに対して、第1〜第6実施形態では、図1、図3、図5、図7〜図9に示すように、カソード側の構造の改良である。
そのため、第7実施形態の図10で示した低濃度p−半導体層121とp型半導体領域122とを有したアノード側の構造と、第1〜第6実施形態におけるカソード側の構造とを組み合わせることも可能である。
また、それぞれの効果を併せた効果が得られることがある。
この構造を第2〜第6実施形態の図3、図5、図7〜図9に示した構造とそれぞれ組み合わせることも可能である。
また、それぞれの効果を併せた効果が得られることがある。
本発明の第9実施形態を示す図12は、本発明の第1〜第8実施形態のいずれかのダイオードを搭載し、直流電圧(電力)を三相交流電圧(電力)へ変換するインバータを示したが、図12は一例であって、本発明の電力変換装置は、これに限定されない。
例えば、三相ではなく、単相や4相以上の構造のインバータであってもよい。
また、本発明の第1〜第8実施形態のいずれかのダイオードを搭載するのは、インバータに限定されない。
例えば、交流を直流に変換するコンバータでもよい。また、ダイオードを用いるものであれば、昇圧および降圧のチョッパ等のその他の電力変換装置についても同様の効果を得られる。
101 高濃度n+層、高濃度n+領域(第6半導体層、第1導電型の第6半導体層)
102 カソード側p層、カソード側p領域(第2導電型の第8半導体領域)
103 高濃度n+層、高濃度n+領域(第7半導体層、第1導電型の第7半導体層)
104 高濃度n+層、高濃度n+領域(第5半導体層、第1導電型の第5半導体層)
110 n−ドリフト層(第1半導体層、第1導電型の第1半導体層)
111 深いn−バッファ層(バッファ層、第1導電型のバッファ層)
112、113 浅いnバッファ層(第3半導体層、第1導電型の第3半導体層)
120、122 p型半導体層、p型半導体領域(第2導電型の第2半導体層)
121 低濃度p−半導体層、低濃度p−半導体領域
160、161、162、163 低キャリアライフタイム制御層、低キャリアライフタイム領域
500 カソード電極層
501 カソード電極
600 アノード電極層
601 アノード電極
701、702、703、704、705、706 IGBT
711、712、713、714、715、716 ダイオード
801、802、803、804、805、806 ゲート回路
900 電源
901 N端子
902 P端子
910 U端子、出力端子
911 V端子、出力端子
912 W端子、出力端子
950 モータ
なお、図13、図14における符号は、それぞれ特許文献1、特許文献2の[要約]における図に付されたものであるので、上記の本願の図面の符号とは合致しない。
Claims (5)
- アノード電極層と、
カソード電極層と、
前記アノード電極層と前記カソード電極層とに挟まれた領域で、前記カソード電極層からの距離が30μm以上の位置に形成された第1導電型のバッファ層と、
前記アノード電極層と前記カソード電極層とに挟まれた領域に形成され、前記第1導電型のバッファ層に接した第1導電型の第1半導体層と、
前記アノード電極層と前記第1導電型の第1半導体層とに挟まれて形成された第2導電型の第2半導体層と、
前記カソード電極層に接し、当該カソード電極層とオーミック接続されている第1導電型の第4半導体層と、
前記バッファ層と前記第4半導体層とに挟まれた第1導電型の第3半導体層と、
を備え、
該第3半導体層は、深さが3〜5μmでキャリア濃度が1×1015cm−3以上であり、前記第3半導体層の内部に低キャリアライフタイム制御層を含んで形成され、
前記低キャリアライフタイム制御層は、前記第3半導体層をレーザーアニール処理する際に、前記第3半導体層の領域の全ての不純物を活性化せず欠陥層をその内部領域に残すことで形成され、前記第3半導体層の不純物濃度分布とは独立に高抵抗ピークを示す比抵抗分布を有し、
前記第1半導体層のキャリア濃度が前記バッファ層のキャリア濃度より低く、
前記バッファ層のキャリア濃度は1×1015cm−3未満であり、
前記カソード電極層から前記バッファ層を経由した前記第1半導体層へのキャリア注入が抑制される、
ことを特徴とするダイオード。 - 請求項1において、
前記バッファ層は、総キャリア濃度が1×1011〜1×1013cm−2である、
ことを特徴とするダイオード。 - 請求項1において、
前記第3半導体層は、前記低キャリアライフタイム制御層を部分的に含んで形成されている、
ことを特徴とするダイオード。 - 請求項1内至請求項3のいずれか一項において、
前記第4半導体層のキャリア濃度が1×1019cm−3以上である、
ことを特徴とするダイオード。 - 請求項1内至請求項4のいずれか一項に記載のダイオードを用いたことを特徴とする電力変換装置。
Priority Applications (4)
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