JP5893655B2 - ラッチ構造及びラッチを用いる自己調整パルス生成器 - Google Patents
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Description
以下に、本願出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[C1] 第1のラッチと、
前記第1のラッチにタイミング信号を供給するように連結されたパルス生成器と
を具備し、
前記パルス生成器は、前記第1のラッチに整合する特性を持つ第2のラッチを含む、
システム。
[C2] 前記パルス生成器は、クロック信号に連結される第1の入力と、前記第2のラッチの出力に連結される第2の入力とを持つANDゲートを更に含み、
前記タイミング信号は、前記ANDゲートの出力に応答する、
請求項1のシステム。
[C3] 前記第1のラッチ及び前記第2のラッチの各々に整合する特性を持つ複数のラッチを更に具備する、請求項1のシステム。
[C4] 前記第1のラッチ及び前記複数のラッチの各々は、パルスラッチである、請求項3のシステム。
[C5] 前記第1のラッチ、前記第2のラッチ及び前記複数のラッチの各々は、第1のトランジスタ、第2のトランジスタ、第1のインバータ及び第2のインバータを含み、
前記第1のインバータは、前記第1のトランジスタに連結され、
前記第2のインバータは、前記第2のトランジスタに連結される、
請求項3のシステム。
[C6] 前記第1のラッチは、前記第1のインバータを介して、前記第1のトランジスタの端子に連結されるデータ線を持ち、
前記データ線は、前記第1のインバータに連結される前記第2のインバータを介して、前記第2のトランジスタの端子に更に連結される、
請求項5のシステム。
[C7] クロック入力に応答するラッチと、
前記クロック入力に連結され、かつ、前記ラッチの出力に連結される、論理回路と
を具備し、
前記論理回路は、前記ラッチのデータ伝播時間に応じて変化するパルス幅を持つ少なくとも1つのパルスを含むパルス出力を供給する、
パルス生成器。
[C8] 前記パルス幅は、インバータ遅延時間と前記ラッチの前記データ伝播時間とを含む遅延時間に関連する、請求項7のパルス生成器。
[C9] 前記論理回路は、ANDへの第1の入力としての前記ラッチの出力と、前記ANDへの第2の入力としての前記クロック入力とに関して、論理AND関数を実行する回路網を含む、請求項8のパルス生成器。
[C10] 前記回路網は、多数のトランジスタと、出力インバータとを含み、
前記出力インバータは、前記パルス出力を供給する、
請求項9のパルス生成器。
[C11] 前記論理回路は、前記パルス出力の生成を選択的に可能にさせるイネーブル入力を更に含む、請求項10のパルス生成器。
[C12] 前記パルス出力は、ラッチデバイスに伝達され、
前記ラッチは、前記ラッチデバイスと同様の特性を持つ、
請求項7のパルス生成器。
[C13] 前記ラッチは、第1のインバータを介して第1のトランジスタの端子に連結され、かつ、前記第1のインバータに連結される第2のインバータを介して第2のトランジスタの端子に連結される、データ線を持つ、請求項7のパルス生成器。
[C14] 第1のトランジスタと、
第2のトランジスタと、
第1のインバータを介して前記第1のトランジスタの端子に連結され、かつ、前記第1のインバータに連結される第2のインバータを介して前記第2のトランジスタの端子に連結される、データ線と
を具備する、ラッチ。
[C15] ラッチされるデータが完全に差動的であるように、前記データが前記データ線を用いて書き込み可能である、請求項14のラッチ。
[C16] パルス生成器の遅延素子においてクロック信号を受け取ることと、
前記パルス生成器からパルスベースラッチへ出力パルス信号を供給することと
を具備し、
前記遅延素子は、前記パルスベースラッチのデータ伝播遅延を追跡するタイミング遅延特性を持つ、
方法。
[C17] 前記パルスベースラッチのデータ伝播遅延は、環境的な要因に基づいて可変であり、
前記遅延素子の前記遅延特性は、前記パルスベースラッチの変動性に実質的に整合する、
請求項16の方法。
[C18] 前記環境的な要因は、製造プロセス、電圧及び温度を含む、請求項17の方法。
[C19] 複数の直列に連結されたパルスベースラッチへ前記出力パルス信号を供給することを更に具備する、請求項17の方法。
[C20] 前記遅延素子の前記タイミング遅延特性は、外部またはフィードバックの制御信号なしに変えられる、請求項17の方法。
[C21] 前記データ伝播時間は、前記パルスベースラッチにおいて書き込みを行うための時間である、請求項16の方法。
[C22] 環境的な要因によって影響される第1の動作条件の間に複数のラッチへ第1のパルス幅を持つパルスを備える第1のパルス信号を供給することと、
第2の環境的な要因によって影響される第2の動作条件の間に前記複数のラッチへ第2のパルス幅を持つパルスを備える第2のパルス信号を供給することと
を具備し、
前記第2のパルス幅は、前記第2の環境的な要因と第1の環境的な要因との間の差に応じて前記第1のパルス幅に関して変化し、
前記第2のパルス幅の変動は、複数の直列に連結されたラッチのうちの少なくとも1つの変動性に実質的に整合する、
方法。
[C23] 前記第2のパルス幅は、外部制御なしに自動的に変えられる、請求項22の方法。
[C24] 前記環境的要因は、温度、電圧または半導体デバイス製造プロセスのうちの1つまたは複数である、請求項22の方法。
Claims (20)
- 第1のラッチと、
前記第1のラッチに連結され、かつ前記第1のラッチにタイミング信号を供給するように構成されたパルス生成器と、
を具備し、
前記パルス生成器は、クロックのためのクロック入力に接続されるインバータと前記インバータの出力に接続され、前記クロックに応答し、かつ前記第1のラッチに整合する特性を持つ第2のラッチを含み、
前記パルス生成器は更に、
前記クロック入力に連結され、かつ前記第2のラッチの出力に連結される論理回路を含み、前記論理回路は、前記第2のラッチを亘るデータ伝播時間に応じて変化するパルス幅を持つ少なくとも1つのパルスを含むパルス出力を生成するように構成され、前記パルス幅は、前記インバータのインバータ遅延時間と前記第2のラッチの前記データ伝播時間とを含む遅延時間に関連し、前記論理回路は、回路網の第1の入力としての前記第2のラッチの出力と、前記回路網の第2の入力としての前記クロック入力とに関して、論理AND関数を実行する前記回路網を含み、前記回路網は、多数のトランジスタと、出力インバータとを含み、前記出力インバータは、前記パルス出力を生成し、前記論理回路は、前記パルス出力の生成を選択的に可能にさせるイネーブル入力を更に含む、
システム。 - 前記タイミング信号は、前記論理AND関数を実行する前記回路網の出力に応答する、請求項1のシステム。
- 前記第1のラッチ及び前記第2のラッチは、同じ製造プロセスを用いて形成され、前記特性は、電圧の変化に応じた第1のデータ伝播時間の変化、温度の変化に応じた第2のデータ伝播時間の変化、またはそれらの組み合わせを含む、請求項1のシステム。
- 前記第1のラッチ及び前記第2のラッチの各々は、第1のトランジスタ、第2のトランジスタ、第1のインバータ及び第2のインバータを含み、
前記第1のインバータは、前記第1のトランジスタに連結され、
前記第2のインバータは、前記第2のトランジスタに連結される、
請求項1のシステム。 - 前記第1のラッチは、前記第1のインバータを介して、前記第1のトランジスタの第1の端子に連結されるデータ線を持ち、
前記データ線は、前記第1のインバータに連結される前記第2のインバータを介して、前記第2のトランジスタの第2の端子に更に連結される、
請求項4のシステム。 - クロックのためのクロック入力に結合されるインバータと、
前記インバータの入力に結合され、前記インバータを介する前記クロックに応答するラッチと、
前記クロック入力に連結され、かつ前記ラッチの出力に連結される論理回路と
を具備し、
前記論理回路は、前記ラッチを亘るデータ伝播時間に応じて変化するパルス幅を持つ少なくとも1つのパルスを含むパルス出力を生成するように構成され、前記パルス幅は、前記インバータのインバータ遅延時間と前記ラッチを亘る前記データ伝播時間とを含む遅延時間に関連し、前記論理回路は、回路網の第1の入力としての前記ラッチの出力と、前記回路網の第2の入力としての前記クロック入力とに関して、論理AND関数を実行する前記回路網を含み、前記回路網は、多数のトランジスタと、出力インバータとを含み、前記出力インバータは、前記パルス出力を生成し、前記論理回路は、前記パルス出力の生成を選択的に可能にさせるイネーブル入力を更に含む、
パルス生成器。 - 前記パルス出力は、ラッチデバイスに伝達され、
前記ラッチは、前記ラッチデバイスと同様の特性を持つ、
請求項6のパルス生成器。 - 前記ラッチ及び前記ラッチデバイスは、同じ製造プロセスを用いて形成され、前記特性は、電圧の変化に応じた第1のデータ伝播時間の変化、温度の変化に応じた第2のデータ伝播時間の変化、またはそれらの組み合わせを含む、請求項7のパルス生成器。
- 前記ラッチは、第1のインバータを介して第1のトランジスタの第1の端子に連結され、かつ、前記第1のインバータに連結される第2のインバータを介して第2のトランジスタの第2の端子に連結される、データ線を持つ、請求項6のパルス生成器。
- 前記ラッチは、
第1のトランジスタと、
第2のトランジスタと、
第1のインバータを介して前記第1のトランジスタの第1の端子に連結され、かつ、前記第1のインバータに連結される第2のインバータを介して前記第2のトランジスタの第2の端子に連結される、データ線と
を具備する、請求項6のパルス生成器。 - 前記ラッチに書き込まれるデータが完全に差動的であるように、前記データが前記データ線を用いて前記ラッチに書き込み可能である、請求項10のパルス生成器。
- パルス生成器の遅延素子においてクロック信号を受け取ることと、
前記パルス生成器からパルスベースラッチへ出力パルス信号を供給することと
を具備し、
前記遅延素子は、前記パルスベースラッチのデータ伝播遅延を追跡するタイミング遅延特性を持ち、
前記パルス生成器は、
クロックのためのクロック入力に結合されるインバータと、
前記クロックに応答するラッチと、
前記クロック入力に連結され、かつ前記ラッチの出力に連結される論理回路とを含み、前記論理回路は、前記ラッチを亘るデータ伝播時間に応じて変化するパルス幅を持つ少なくとも1つのパルスを含む前記出力パルス信号を生成するように構成され、前記パルス幅は、前記インバータのインバータ遅延時間と前記ラッチを亘る前記データ伝播時間とを含む遅延時間に関連し、前記論理回路は、回路網の第1の入力としての前記ラッチの出力と、前記回路網の第2の入力としての前記クロック入力とに関して、論理AND関数を実行する前記回路網を含み、前記回路網は、多数のトランジスタと、出力インバータとを含み、前記出力インバータは、前記出力パルス信号を生成し、前記論理回路は、前記出力パルス信号の生成を選択的に可能にさせるイネーブル入力を更に含む、
方法。 - 前記パルスベースラッチのデータ伝播遅延は、環境的な要因に基づいて可変であり、
前記遅延素子の遅延特性の変動性は、前記パルスベースラッチのデータ伝播遅延の変動性に実質的に整合する、
請求項12の方法。 - 前記環境的な要因は、電圧及び温度を含む、請求項13の方法。
- 複数の直列に連結されたパルスベースラッチへ前記出力パルス信号を供給することを更に具備する、請求項13の方法。
- 前記遅延素子の前記タイミング遅延特性は、外部制御信号またはフィードバック制御信号なしに変えられる、請求項13の方法。
- 前記データ伝播遅延は、前記パルスベースラッチにおいて書き込みを行うための時間量である、請求項12の方法。
- 第1のパルス幅を持つパルスを備える第1のパルス信号を生成し、第1の環境的な要因によって影響される第1の動作条件の間に複数のラッチへ前記第1のパルス信号を供給することと、
第2のパルス幅を持つパルスを備える第2のパルス信号を生成し、第2の環境的な要因によって影響される第2の動作条件の間に前記複数のラッチへ前記第2のパルス信号を供給することと
を具備し、
前記第2のパルス幅は、前記第2の環境的な要因と前記第1の環境的な要因との間の差に基づいて前記第1のパルス幅に関して変化し、
前記第2のパルス幅の変動は、前記複数のラッチのうちの少なくとも1つのデータ伝播時間の変動性に実質的に整合し、
前記第1及び第2のパルス信号の各パルス信号は、パルス生成器よって生成され、
前記パルス生成器は、
クロックのためのクロック入力に結合されるインバータと、
前記クロックに応答するラッチと、
前記クロック入力に連結され、かつ前記ラッチの出力に連結される論理回路とを含み、前記論理回路は、前記ラッチのデータ伝播時間に応じて変化するパルス幅を持つ少なくとも1つのパルスを含む前記パルス信号を生成するように構成され、前記パルス幅は、前記インバータのインバータ遅延時間と前記ラッチを亘る前記データ伝播時間とを含む遅延時間に関連し、前記論理回路は、回路網の第1の入力としての前記ラッチの出力と、前記回路網の第2の入力としての前記クロック入力とに関して、論理AND関数を実行する前記回路網を含み、前記回路網は、多数のトランジスタと、出力インバータとを含み、前記出力インバータは、前記パルス信号を生成し、前記論理回路は、前記パルス信号の生成を選択的に可能にさせるイネーブル入力を更に含む、
方法。 - 前記第2のパルス幅は、外部制御なしに自動的に変えられる、請求項18の方法。
- 前記第1の環境的な要因は、温度、電圧または半導体デバイス製造プロセスのうちの1つまたは複数である、請求項18の方法。
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US8436668B2 (en) * | 2011-01-04 | 2013-05-07 | Oracle International Corporation | Min-time hardended pulse flop |
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US9384851B2 (en) * | 2014-02-06 | 2016-07-05 | SK Hynix Inc. | Semiconductor devices and semiconductor systems including the same |
KR102216807B1 (ko) * | 2015-03-25 | 2021-02-19 | 삼성전자주식회사 | 반도체 회로 |
US9564881B2 (en) | 2015-05-22 | 2017-02-07 | Qualcomm Incorporated | Area-efficient metal-programmable pulse latch design |
US9979394B2 (en) * | 2016-02-16 | 2018-05-22 | Qualcomm Incorporated | Pulse-generator |
TWI658697B (zh) * | 2018-08-02 | 2019-05-01 | 崛智科技有限公司 | 資料閂鎖電路及其脈波信號產生器 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62188515A (ja) | 1986-02-14 | 1987-08-18 | Matsushita Electric Works Ltd | 画像信号処理用タイミング発生回路 |
US4768167A (en) * | 1986-09-30 | 1988-08-30 | International Business Machines Corporation | High speed CMOS latch with alternate data storage and test functions |
JP2540934B2 (ja) * | 1989-03-09 | 1996-10-09 | 三菱電機株式会社 | 論理回路装置 |
US5072132A (en) * | 1989-06-09 | 1991-12-10 | Digital Equipment Corporation | Vsli latch system and sliver pulse generator with high correlation factor |
JP2831788B2 (ja) * | 1990-03-20 | 1998-12-02 | 富士通株式会社 | フリップフロップ回路 |
US5557225A (en) * | 1994-12-30 | 1996-09-17 | Intel Corporation | Pulsed flip-flop circuit |
US5764089A (en) * | 1995-09-11 | 1998-06-09 | Altera Corporation | Dynamic latching device |
JPH09205360A (ja) * | 1996-01-25 | 1997-08-05 | Sony Corp | 論理回路 |
US5825225A (en) * | 1996-02-09 | 1998-10-20 | Intel Corporation | Boosted differential latch |
JPH09232919A (ja) * | 1996-02-23 | 1997-09-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ラッチ回路およびフリップフロップ回路 |
JP3851375B2 (ja) * | 1996-04-18 | 2006-11-29 | アジレント・テクノロジーズ・インク | インピーダンス測定装置 |
JP3528413B2 (ja) * | 1996-04-19 | 2004-05-17 | ソニー株式会社 | 関数クロック発生回路並びにそれを用いたイネーブル機能付きd型フリップフロップおよび記憶回路 |
JPH10190416A (ja) * | 1996-12-24 | 1998-07-21 | Toshiba Corp | フリップフロップ回路 |
JPH10276069A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-13 | Mitsubishi Electric Corp | データラッチ回路 |
US6701339B2 (en) * | 2000-12-08 | 2004-03-02 | Intel Corporation | Pipelined compressor circuit |
JP2003133916A (ja) | 2001-10-23 | 2003-05-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | パルストリガ型ラッチを用いたデータ処理装置 |
JP2003173361A (ja) * | 2001-12-05 | 2003-06-20 | Seiko Epson Corp | 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置 |
US6937079B1 (en) * | 2003-07-28 | 2005-08-30 | University Of Louisiana At Lafayette | Single-transistor-clocked flip-flop |
US7042267B1 (en) * | 2004-05-19 | 2006-05-09 | National Semiconductor Corporation | Gated clock circuit with a substantially increased control signal delay |
US7046066B2 (en) * | 2004-06-15 | 2006-05-16 | Via Telecom Co., Ltd. | Method and/or apparatus for generating a write gated clock signal |
US7256621B2 (en) * | 2005-03-25 | 2007-08-14 | Fujitsu Limited | Keeper circuits having dynamic leakage compensation |
JP4950458B2 (ja) * | 2005-08-19 | 2012-06-13 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
JP2007281756A (ja) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
US7746137B2 (en) * | 2007-08-28 | 2010-06-29 | Qualcomm Incorporated | Sequential circuit element including a single clocked transistor |
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