JPH10208485A - 同期型半導体装置の内部クロック発生回路 - Google Patents
同期型半導体装置の内部クロック発生回路Info
- Publication number
- JPH10208485A JPH10208485A JP10002121A JP212198A JPH10208485A JP H10208485 A JPH10208485 A JP H10208485A JP 10002121 A JP10002121 A JP 10002121A JP 212198 A JP212198 A JP 212198A JP H10208485 A JPH10208485 A JP H10208485A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- internal clock
- signal
- control signal
- activated
- clock signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
すことができる同期型半導体装置の内部クロック発生回
路を提供すること。 【解決手段】 書込みあるいは読出し動作の開始を知ら
せるパルス信号Sに応答して所定時間の間、活性化され
る制御信号Cを内部クロック制御器220から発生さ
せ、この制御信号Cが活性化されている間だけ、外部ク
ロック信号ECLKに同期した第2内部クロック信号C
LK2(延いては内部クロック信号ICLK〜ICLK
n)を内部クロック発生器330から発生させる。
Description
ものであり、より詳しくは外部クロック信号に同期した
内部クロック信号を発生させる同期型半導体装置の内部
クロック発生回路に関するものである。
うに、電力供給をバッテリに依存する携帯用電子製品の
需要が増加しており、それに伴い消耗電力の減少がより
重要な問題となってきている。特に、前記携帯用製品の
場合には、実際に使わなくて待機する時間が大部分であ
るので、スタンバイモードでの消耗電力が非常に重要で
ある。低電力要求を満足させるために、長時間使用しな
い場合にメモリチップはスタンバイモードに動作するよ
うになる。この時、消耗される電流をスタンバイモード
電流あるいはスリープモード電流と称する。
モード電流に劣らず非常に重要である。勿論、電流はス
タンバイモード状態と動作モード状態で全て消耗電力を
小さくするため、できるだけ少なくすることが要求され
る。しかし、要求される動作周波数が増々高くなること
により、動作モード時の消耗電力はこれと比例して増す
ようになる。動作周波数の増加はトランジスタの充放電
頻度を高めることにより、動作電流の増加をもたらす。
従って、動作周波数の増加とともに消耗電力を減らそう
とする試みが多方面で行われている。
される信号の具合により幾つかの種類に区別される。特
に、システムクロックに同期して動作するチップの場合
には、外部からシステムクロックがチップへ印加され続
ける場合と、システムクロックが動作しないので、レベ
ルが固定される場合の二つに区別される。後者のよう
に、論理‘ハイ’あるいは論理‘ロー’レベルに固定さ
れる場合には、クロックが一定なレベルに固定される
と、チップ内部の動作を動作させないようにして電流消
耗を抑制することができる。
続いて印加される場合には、スタンバイモード時の電流
を抑制することが容易でない。すなわち、スタンバイモ
ードであっても、特定制御信号の組合により再び動作モ
ードに復帰しなければならないので、最小限の所定回路
群は常に動作モードで、外部からの入力に反応するよう
に備えなければならないからである。
うに常に動作モードで動作しなければならない所定回路
群中の代表的なものとして、シテムクロックをチップ内
部クロックにバッファリングするクロックバッファがあ
る。しかし、システムクロックは大部分チップ内部で常
に負荷が一番大きい信号になるので、クロックバッファ
も少なくない電流を消耗するブロックになる。そこで、
スタンバイモードでクロックバッファの消耗電力を減少
させるための方法を実現することが必要である。
路で見ると、入力バッファ、デコーデング、メモリセ
ル、感知増幅、出力バッファの五つ程度に区分すること
ができる。一方、書込み経路で見ると、入力バッファ、
デコーデング、書込みドライバ、メモリセルの四つ程度
に区分することができる。実際に読み書きする動作モー
ドでは上述した全ての部分が動作をするようになり、動
作電流は動作速度の増加により増々増加する。一方、ス
タンバイモードでは入力バッファを除いた全ての回路の
動作が停止するようになり、消耗電力を最小化できる。
しかし、入力バッファ中でクロックバッファは他の入力
バッファに比べて相対的に大きな負荷を駆動するので、
スタンバイモードでも大きな電流を消耗するようにな
る。したがって、スタンバイモード時、消耗電力の大部
分をクロックバッファが占める。
内部クロック発生回路の構成を示すブロック図である。
この図を参照すると、外部システムクロックECLKは
内部で生成される特定制御信号によっても制御されな
く、ただ、クロックバッファ10だけを通じて内部クロ
ック信号ICLK0〜ICLKnに変わる。内部クロッ
ク信号ICLK0〜ICLKnは制御ブロック20、デ
ータ入力バッファ30、データ出力バッファ40、エコ
ークロック出力バッファ50およびその他の回路60等
に分散され、システムクロックECLKが印加される
時、常に動作し、内部の負荷を充放電させるようにな
る。
な従来の同期型半導体装置の内部クロック発生回路で
は、クロックバッファ10で消耗される電流を減少させ
るために、スタンバイモードでクロックバッファ10を
外部入力信号であるシステムクロックECLKにより駆
動させないようにすることはできない。なぜならば、も
し、そのようにした場合は、システムクロックECLK
に同期する入力バッファ30が動作しないようになり、
スタンバイモードから動作モードに再び転換できないか
らである。すなわち、チップの動作モードを転換するた
めに、入力バッファ30には、それを動作させる内部ク
ロック信号ICLK1を、チップの動作モードに関係な
しに常に印加しなければならない。これにより、スタン
バイモードで消耗される電力が増加する問題点が発生し
た。
るために提案されたものであり、その目的は、スタンバ
イモード時に消耗される電流を減らすことができる同期
型半導体装置の内部クロック発生回路を提供することに
ある。
ために本発明は、外部クロック信号に同期した内部クロ
ック信号を発生させる同期型半導体装置の内部クロック
発生回路において、前記外部クロック信号に同期し、書
込みあるいは読出し動作の開始を知らせるパルス信号が
印加されると所定時間の間、活性化される制御信号を発
生させる内部クロック制御手段と、前記制御信号が活性
化される間だけ、外部クロック信号に同期した内部クロ
ック信号を発生させる内部クロック発生手段とを具備す
るものとする。
御手段は、複数の出力端子を持つシフトレジスタと、こ
のシフトレジスタの前記出力端子に各入力端子が接続さ
れたオアゲートとにより構成することができる。
ゲート、第1ラッチ手段およびアンドゲートで構成する
ことができる。
ゲート、第1ラッチ手段、第2伝達ゲート、第2ラッチ
手段およびアンドゲートで構成することもできる。
制御手段から出力される制御信号により、動作状態から
スタンバイ状態に転換されると、内部クロック発生手段
が自動的に非活性化され、スタンバイ状態で消耗される
電力を減らすことができる。また、書込み及び読出し動
作の開始を知らせるパルス信号に応答して前記制御信号
が活性化されると、直ちに内部クロック発生手段が活性
化され、スタンバイ状態から動作状態に直ちに転換でき
る。
本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1ないし図5
において、図6に図示された構成要素と同一の機能を持
つ構成要素に対しては同一の参照番号を付す。
同期型半導体装置の内部クロック発生回路を示す。この
内部クロック発生回路は、スタンバイモードの時、第2
クロックバッファ400により消耗される電流を減らす
ことができる。
御器200と、内部クロック発生器300により構成さ
れている。図5の波形図に示すように、内部クロック制
御器200は、外部クロック信号(外部システムクロッ
ク)ECLKが印加される第1クロックバッファ100
から発生される第1内部クロック信号CLK1に同期
し、書込みあるいは読出し動作の開始を知らせるパルス
信号Sが印加されると、所定時間の間、活性化される制
御信号Cを発生する。内部クロック発生器300は、内
部クロック制御器200から印加される制御信号Cが活
性化される間だけ、外部クロック信号ECLKに同期し
た第2内部クロック信号CLK2を発生する。
クロック信号CLK2に同期した内部クロック信号IC
LK1〜ICLKnを内部回路30〜60に供給する。
制御信号Cが活性化される時間が過ぎると、自動的に内
部クロック発生器300はディスエーブルされる。これ
で、スタンバイモード時に、第2クロックバッファ40
0により消耗される電流を減らすことができる。一方、
書込み及び読出し動作の開始を知らせるパルス信号Sに
応答して制御信号Cが活性化されると、直ちに内部クロ
ック発生器300が活性化され、第2クロックバッファ
400より内部クロック信号ICLK1〜ICLKnが
内部回路30〜60に直ちに供給されるので、スタンバ
イモードから動作モードに直ちに転換される。
れる外部クロック信号ECLKは第1クロックバッファ
100を通じて第1内部クロック信号CLK1に変わ
る。内部クロック制御器200は、第1内部クロック信
号CLK1に同期して動作し、書込みあるいは読出し動
作の開始を知らせるパルス信号Sに応答して所定時間の
間、活性化される制御信号Cを出力する。パルス信号S
が印加されない時、内部クロック制御器200は論理
‘ロー’状態の制御信号Cを出力する。一方、書込みあ
るいは読出し動作の開始を知らせるパルス信号Sが内部
クロック制御器200に印加されると、内部クロック制
御器200は第1内部クロック信号CLK1に同期して
論理‘ハイ’状態の制御信号Cを出力する。
が活性化される間だけ、外部クロック信号ECLKに同
期した第2内部クロック信号CLK2を発生する。第2
クロックバッファ400は、外部クロック信号ECLK
に同期した第2内部クロック信号CLK2をバッファリ
ングして、内部クロック信号ICLK1〜ICLKnを
内部回路30〜60へ伝達する。例えば、書込み動作時
にはデータ入力バッファとしての内部回路30に内部ク
ロック信号ICLK1を伝達し、読出し動作時にはデー
タ出力バッファとしての内部回路40に内部クロック信
号ICLK2を伝達する。
制御信号Cが活性化される間だけ外部クロック信号EC
LKに同期した第2内部クロック信号CLK2を内部ク
ロック発生器300が発生し、制御信号Cが非活性化さ
れる間は内部クロック発生器300がディスエーブルさ
れる。これで、スタンバイモード時の消費電力が従来に
比べて減少する。
具体的な回路構成を示す回路図であり、内部クロック制
御器200は、シフトレジスタ210とオアゲート22
0で構成されている。シフトレジスタ210は図1に図
示された第1クロックバッファ100から出力される第
1内部クロック信号CLK1に同期し、書込みあるいは
読出し動作の開始を知らせるパルス信号Sに応答して複
数の出力信号Q1〜Qnを出力する。シフトレジスタ2
10は直列接続された複数のD型フリップフロップFF
1〜FFnからなる。オアゲート220は、シフトレジ
スタ210から出力される複数の出力信号Q1〜Qnを
各入力端子に入力して、所定時間の間、活性化される制
御信号Cを出力する。
器300の具体例を各々示す回路図である。図3および
図4に図示された内部クロック発生器300は図2に図
示された内部クロック制御器200から出力される制御
信号Cが活性化される間だけ、外部クロック信号ECL
Kの上昇時間に同期した第2内部クロック信号CLK2
を発生する。
器300は、第1及び第2伝達ゲート310,330、
第1及び第2ラッチ320,340およびアンドゲート
350からなる。外部クロック信号ECLKが論理‘ハ
イ’状態である時、第1伝達ゲート310が閉じ、これ
により制御信号Cが入力されない。そして、この時に
は、第2伝達ゲート330が開いて、第1ラッチ320
の論理レベルが第2ラッチ340に伝達される。
内部クロック発生器300からは第2内部クロック信号
CLK2が発生されない。一方、制御信号Cが所定時間
の間、活性化されて論理‘ハイ’を維持する時、内部ク
ロック発生器300は制御信号Cの活性化区間に対応し
て、外部クロック信号ECLKに同期した第2内部クロ
ック信号CLK2を発生する。
態に維持される間、内部クロック発生器300は外部ク
ロック信号ECLKに同期した第2内部クロック信号C
LK2を発生する。しかる後、制御信号Cが論理‘ロ
ー’状態に遷移すると、内部クロック発生器300はデ
ィスエーブルされる。従って、内部クロック発生器30
0は、動作状態として必要とされる時間だけ活性化さ
れ、スタンバイ状態からは自動的に非活性化され、消耗
される電力を防止することができる。
達ゲート310、第1ラッチ320およびアンドゲート
350からなり、図3に図示された内部クロック発生器
と同一に動作するので、ここではこれに対する詳細な説
明は省略する。
動作波形図である。図1ないし図5を参照しながら、本
発明による動作を説明すると、次のようである。
ロックバッファ100を通じて第1内部クロック信号C
LK1に変わりながら、内部クロック制御器200に印
加される。内部クロック制御器200はパルス信号Sに
応答して書込みあるいは読出し動作を保障することがで
きる時間の間、活性化される制御信号Cを出力する。す
なわち、図2に図示されるように、第1内部クロック信
号CLK1に同期したシフトレジスタ210は複数のフ
リップフロップFF1ーFFnを通じて対応する複数の
出力Q1〜Qnを発生する。そして、この複数の出力Q
1〜Qnはオアゲート220を通じて組み合わされ、所
定の時間の間、活性化される制御信号Cが出力される。
論理‘ハイ’状態になると、フリップフロップFF1〜
FFnは順次に論理‘ハイ’状態の出力Q1〜Qnを発
生する。このとき、読出しあるいは書込み動作の開始を
知らせるパルス信号Sは、まず、第1内部クロック信号
CLK1に同期してシフトレジスタ210の第1フリッ
プフロップFF1にラッチされる。そして、このように
パルス信号Sがラッチされた周期から一周期遅い次の周
期から読出しあるいは書込みが実際に始まるようにな
る。なぜならば、内部クロック発生器300を構成する
ラッチ320,340が外部クロック信号ECLKの上
昇時間に同期して動作するので、一周期遅い次の周期か
ら実際の動作が始まる。
も、最終的に出力Qnを発生するフリップフロップFF
nに論理‘ロー’状態のパルス信号Sが伝達される時間
まで、制御信号Cは活性化される。シフトレジスタ21
0の構成素子数により制御信号Cが活性化される時間を
調節することできるので、必要により構成素子数を増減
すると、好ましい時間の間、活性化された制御信号Cを
得られる。図5に図示された第2内部クロック信号CL
K2から分るように、内部クロック発生器300は、制
御信号Cが活性化される区間の間、外部クロック信号E
CLKに同期した第2内部クロック信号CLK2を出力
する。すなわち、外部クロック信号ECLKが論理‘ハ
イ’状態である時、図3および図4に図示された伝達ゲ
ート310は閉じ、論理‘ロー’状態である時、伝達ゲ
ート310は開く。従って、制御信号Cが活性化される
間だけにアンドゲート350を通じて外部クロック信号
ECLKに同期した第2内部クロック信号CLK2が出
力される。ここで、図3と図4で使用されるラッチ32
0,340は、第2内部クロック信号CLK2を外部ク
ロック信号ECLKに同期させるためのものである。こ
れで、図5に図示されるように、制御信号Cが活性化さ
れる区間の間、外部クロック信号ECLKの上昇時間に
同期した第2内部クロック信号CLK2により書込みあ
るいは読出し動作が遂行される。
Cが非活性化されると削減する。すなわち、スタンバイ
モードの間、内部クロック発生器300は自動的にディ
スエーブルされる。言い換えれば、動作モードからスタ
ンバイモードに転換されると、内部クロック制御器20
0にパルス信号Sが印加されないので、制御信号Cは論
理‘ロー’状態に維持される。そして、制御信号Cに応
答して第2内部クロック信号CLK2を発生する内部ク
ロック発生器300が論理‘ロー’状態の制御信号Cに
よりディスエーブルされる。結局、動作モードからスタ
ンバイモードに転換されると、自動的に内部クロック発
生器300がディスエーブルされ、その結果として従来
に比べてスタンバイモードでの消費電力を減らすことが
できる。
は、同期型半導体装置の内部クロック発生回路を内部ク
ロック制御手段と内部クロック発生手段とに分けて構成
した。内部クロック制御手段は外部クロック信号に同期
し、書込みあるいは読出し動作の開始を知らせるパルス
信号が印加された時だけに動作して、所定時間の間だけ
活性化される制御信号を出力する。内部クロック発生手
段は、前記制御信号が活性化される間だけ、外部クロッ
ク信号に同期した内部クロック信号を発生する。これに
より、本発明によれば、動作モードからスタンバイモー
ドに転換されると、自動的に内部クロック発生手段が非
活性化される。従って、スタンバイモードの間、クロッ
クバッファにより消耗される電流を減らすことができ
る。また、スタンバイモードから動作モードに速やかに
転換できる。
回路の実施の形態を示すブロック図。
回路を示す回路図。
具体的に示す回路図。
を具体的に示す回路図。
路を示すブロック図。
Claims (4)
- 【請求項1】 外部クロック信号に同期した内部クロッ
ク信号を発生させる同期型半導体装置の内部クロック発
生回路において、 前記外部クロック信号に同期し、書込みあるいは読出し
動作の開始を知らせるパルス信号が印加されると所定時
間の間、活性化される制御信号を発生させる内部クロッ
ク制御手段と、 前記制御信号が活性化される間だけ、外部クロック信号
に同期した内部クロック信号を発生させる内部クロック
発生手段とを具備することを特徴とする同期型半導体装
置の内部クロック発生回路。 - 【請求項2】 前記内部クロック制御手段は、複数の出
力端子を持つシフトレジスタと、このシフトレジスタの
前記出力端子に各入力端子が接続されたオアゲートとに
より構成されることを特徴とする請求項1に記載の同期
型半導体装置の内部クロック発生回路。 - 【請求項3】 前記内部クロック発生手段は、第1伝達
ゲート、第1ラッチ手段およびアンドゲートで構成され
ることを特徴とする請求項1に記載の同期型半導体装置
の内部クロック発生回路。 - 【請求項4】 前記内部クロック発生手段は、第1伝達
ゲート、第1ラッチ手段、第2伝達ゲート、第2ラッチ
手段およびアンドゲートで構成されることを特徴とする
請求項1に記載の同期型半導体装置の内部クロック発生
回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970000278A KR100224277B1 (ko) | 1997-01-08 | 1997-01-08 | 동기형 반도체 장치의 내부클럭 발생회로 |
KR1997P-278 | 1997-01-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10208485A true JPH10208485A (ja) | 1998-08-07 |
JP3846000B2 JP3846000B2 (ja) | 2006-11-15 |
Family
ID=19494264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP00212198A Expired - Fee Related JP3846000B2 (ja) | 1997-01-08 | 1998-01-08 | 同期型半導体装置の内部クロック発生回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5991229A (ja) |
JP (1) | JP3846000B2 (ja) |
KR (1) | KR100224277B1 (ja) |
TW (1) | TW382086B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002150773A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
JP2008282540A (ja) * | 2004-06-28 | 2008-11-20 | United Memories Inc | ダイナミックランダムアクセスメモリアレイの電力を低減するための方法および集積回路装置 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6172935B1 (en) | 1997-04-25 | 2001-01-09 | Micron Technology, Inc. | Synchronous dynamic random access memory device |
US6581165B1 (en) * | 2000-01-14 | 2003-06-17 | Applied Micro Circuits Corporation | System for asynchronously transferring timed data using first and second clock signals for reading and writing respectively when both clock signals maintaining predetermined phase offset |
JP2003297083A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US7084688B2 (en) * | 2004-08-30 | 2006-08-01 | Stmicroelectronics, Inc. | Clock distribution providing optimal delay |
KR100638748B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2006-10-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리소자 |
KR100646941B1 (ko) * | 2005-07-25 | 2006-11-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고주파수에서 안정적으로 파워 모드를 제어하기 위한반도체 메모리 장치 및 그것의 파워 모드 제어방법 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07130166A (ja) * | 1993-09-13 | 1995-05-19 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置および同期型半導体記憶装置 |
JPH08153387A (ja) * | 1994-11-30 | 1996-06-11 | Mitsubishi Electric Corp | Fifoメモリ |
-
1997
- 1997-01-08 KR KR1019970000278A patent/KR100224277B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1997-12-24 TW TW086119675A patent/TW382086B/zh not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-01-08 JP JP00212198A patent/JP3846000B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-01-08 US US09/004,000 patent/US5991229A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002150773A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
JP2008282540A (ja) * | 2004-06-28 | 2008-11-20 | United Memories Inc | ダイナミックランダムアクセスメモリアレイの電力を低減するための方法および集積回路装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW382086B (en) | 2000-02-11 |
JP3846000B2 (ja) | 2006-11-15 |
KR100224277B1 (ko) | 1999-10-15 |
US5991229A (en) | 1999-11-23 |
KR19980065349A (ko) | 1998-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3549751B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP3883126B2 (ja) | 半導体集積回路装置、それが組み込まれた電子装置、及び消費電力低減方法 | |
US7982514B2 (en) | State-retentive master-slave flip flop to reduce standby leakage current | |
WO2007107957A1 (en) | Pseudo-synchronous small register designs with very low power consumption and methods to implement | |
JP5285643B2 (ja) | 半導体集積回路および電子情報機器 | |
JP4190140B2 (ja) | 同期式半導体記憶装置、及びその入力情報のラッチ制御方法 | |
JP3846000B2 (ja) | 同期型半導体装置の内部クロック発生回路 | |
US5848014A (en) | Semiconductor device such as a static random access memory (SRAM) having a low power mode using a clock disable circuit | |
US7889570B2 (en) | Memory device input buffer, related memory device, controller and system | |
JPH11145786A (ja) | フリップフロップのリセット回路 | |
JPH10149237A (ja) | 半導体回路 | |
JP3001475B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6292038B1 (en) | Smooth clock switching for power managed PCI adapters | |
US5587675A (en) | Multiclock controller | |
US8134405B2 (en) | Semiconductor device and timing control method for the same | |
EP0633518A1 (en) | Circuit for generating modular clocking signals | |
KR100772689B1 (ko) | 스몰클럭버퍼를 포함하는 메모리장치. | |
KR100254569B1 (ko) | 내부 클럭 발생 회로를 갖는 동기형 반도체 메모리 장치 | |
US7224623B2 (en) | Memory device having off-chip driver enable circuit and method for reducing delays during read operations | |
US20060033533A1 (en) | Semiconductor device | |
JP2000029560A (ja) | 電子装置 | |
JP2002132375A (ja) | クロック信号制御回路 | |
KR20210136277A (ko) | 클럭 생성을 제어하는 전자장치 | |
JP2661741B2 (ja) | 半導体記憶回路 | |
KR930011441B1 (ko) | Vga에 내장된 ramdac의 전원제어회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050714 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050809 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051108 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060725 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060814 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100901 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110901 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120901 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130901 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |