JP2003173361A - 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置 - Google Patents

半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置

Info

Publication number
JP2003173361A
JP2003173361A JP2001371817A JP2001371817A JP2003173361A JP 2003173361 A JP2003173361 A JP 2003173361A JP 2001371817 A JP2001371817 A JP 2001371817A JP 2001371817 A JP2001371817 A JP 2001371817A JP 2003173361 A JP2003173361 A JP 2003173361A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
cell
clock
cells
layout
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001371817A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Yamada
陽一 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2001371817A priority Critical patent/JP2003173361A/ja
Publication of JP2003173361A publication Critical patent/JP2003173361A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 入力クロック信号を分岐させるクロックツリ
ー回路がゲーテッドクロック回路を含む場合において
も、セルの配置バランスが良いレイアウトを実現できる
レイアウト設計方法等を提供する。 【解決手段】 このレイアウト設計方法は、複数の回路
ブロックに含まれるクロックツリー回路の一部を構成す
るゲーテッドクロック回路を実現するためのANDセル
をバッファセルに置き換えるステップS2と、クロック
ツリー回路の複数のセルとクロックツリー回路に接続さ
れる複数のフリップフロップセルとを所定のアルゴリズ
ムに従ってレイアウト領域内に配置するステップS3
と、ゲーテッドクロック回路のバッファセルをANDセ
ルに戻すステップS4と、レイアウト領域内に配置され
た複数のセル間の配線を行うステップS5とを具備す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入力されるクロッ
ク信号を複数のクロック信号に分岐して出力するため
の、いわゆるクロックツリー回路を含む半導体集積回路
のレイアウト設計方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般的に、半導体集積回路において、外
部あるいは内部の別の回路から入力されるクロック信号
を複数のフリップフロップに分配するために、入力され
るクロック信号を複数のクロック信号に分岐して出力す
るクロックツリー回路が用いられる。さらに、特定のフ
リップフロップに対しては、ゲートされたクロック信号
を供給しなければならない場合がある。そのような場合
には、クロックツリー回路の中に、ゲーテッドクロック
回路が設けられる。
【0003】図3に、ゲーテッドクロック回路を含むク
ロックツリー回路と、クロックツリー回路によって分岐
されたクロック信号が供給されるD型フリップフロップ
とを示す。このクロックツリー回路は、入力クロック信
号を受ける第1段のバッファ回路(ルートバッファ回
路)11と、第1段のバッファ回路11の出力に接続さ
れた第2段の複数のバッファ回路21、22、・・・
と、第2段のバッファ回路21の出力に接続された第3
段の複数のバッファ回路31、32、・・・と、第3段
のバッファ回路21の出力に接続された第4段の複数の
バッファ回路41、42、・・・とを含んでいる。第4
段の複数のバッファ回路41、42、・・・の出力は、
D型フリップフロップ51、52、・・・のクロック入
力端子Cにそれぞれ供給される。
【0004】また、クロックツリー回路は、ゲーテッド
クロック回路を構成するD型フリップフロップ60及び
AND回路70と、ゲーテッドクロック回路の出力に接
続された第4段の複数のバッファ回路81、82、・・
・とを含んでいる。第4段の複数のバッファ回路81、
82、・・・の出力は、D型フリップフロップ91、9
2、・・・のクロック入力端子Cにそれぞれ供給され
る。
【0005】D型フリップフロップ60のデータ入力端
子Dには、イネーブル信号が供給され、クロック信号入
力端子C(負論理)には、第2段のバッファ回路21か
ら出力されるクロック信号が供給される。D型フリップ
フロップ60は、第2段のバッファ回路21から出力さ
れるクロック信号の立ち下がりのタイミングに同期し
て、イネーブル信号の論理レベルを保持する。AND回
路70は、D型フリップフロップ60の出力端子Qから
出力される論理レベルと、第2段のバッファ回路21か
ら出力されるクロック信号との論理積を求める。これに
より、ゲーテッドクロック回路は、イネーブル信号がハ
イレベルの場合にはクロック信号を出力し、イネーブル
信号がローレベルの場合には出力をローレベルとする。
【0006】D型フリップフロップ51、52、91、
92、・・・は、クロック信号入力端子Cに供給される
クロック信号の立ち上がりのタイミングで、データ入力
端子Dに供給されているデータを保持し、これを出力端
子Qから出力する。従って、クロック信号の立ち上がり
のタイミングが非常に重要である。関連する動作を行う
複数のD型フリップフロップにおいて、供給されるクロ
ック信号の立ち上がりのタイミングがずれると、これら
のD型フリップフロップが誤動作をするおそれがある。
このようなクロック信号のタイミングのずれは、クロッ
クスキューと呼ばれている。クロック信号の分岐点から
供給先までのクロック配線の長さが異なっていると、供
給先におけるクロック信号の到達タイミングがずれてし
まい、クロックスキューが発生する。
【0007】ところで、ゲートアレイ等の半導体集積回
路においては、コンピュータ上で動作するレイアウト設
計プログラムを用いて、所望の機能を実現する回路ブロ
ックを構成する幾つかのセルを配置して接続することに
より、レイアウト設計が行われる。各セルは、複数のト
ランジスタと、それらのトランジスタ間を接続するため
のセル内配線パターンと、セルの入出力を接続するため
の入出力配線パターンとを含んでいる。
【0008】このようなコンピュータを用いた半導体集
積回路のレイアウト設計によれば、クロックツリー回路
のレイアウトを適切に決定することができる。しかしな
がら、D型フリップフロップ及びAND回路で構成され
るゲーテッドクロック回路がクロックツリー回路に含ま
れる場合には、ゲーテッドクロック回路に含まれるセル
の種類を特定し、クロックツリー回路とは別個にレイア
ウト設計を行う必要がある。即ち、ゲーテッドクロック
回路の前段には、クロックツリー回路を自動的に配置す
ることができず、ゲーテッドクロック回路の後段におい
て、クロックツリー回路を自動的に配置することができ
るのみである。その結果、クロックツリー回路を構成す
る多数のバッファセルの配置バランスが悪いレイアウト
となってしまうことが多かった。さらに、ゲーテッドク
ロック回路の数が増えて、1つのゲーテッドクロック回
路が駆動するフリップフロップの数が減少すると、バッ
ファ回路を挿入することができるスペースが小さくな
り、クロックスキューの調整が難しくなってしまうとい
う問題があった。
【0009】特開平11−143575号公報には、異
相クロック間のクロックスキューを低減するクロックツ
リーレイアウト装置が開示されている。この装置におい
ては、クロックに接続されるブロック数とその配置位置
が同じになるように、異相クロックに接続されるフリッ
プフロップ近傍にダミーブロックを生成配置し、同相内
のフリップフロップ及びダミーブロックの配置位置を考
慮しながらクロックツリーのバランスバッファリングを
行う。また、接続先がすべてダミーブロックの場合に
は、接続先のダミーブロックとその接続を削除し、クロ
ックツリーバッファをダミーブロックに置換する。しか
しながら、この文献には、同相クロック信号を分岐させ
るクロックツリー回路がゲーテッドクロック回路を含む
場合のレイアウト設計については述べられていない。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】そこで、上記の点に鑑
み、本発明は、入力クロック信号を分岐させるクロック
ツリー回路がゲーテッドクロック回路を含む場合におい
ても、クロックツリー回路を構成する多数のバッファセ
ルの配置バランスが良いレイアウトを実現でき、クロッ
クスキューを容易に調整することが可能な半導体集積回
路のレイアウト設計方法及び装置を提供することを目的
とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
め、本発明に係る半導体集積回路のレイアウト設計方法
は、入力された回路情報によって表される複数の回路ブ
ロックをそれぞれ実現するための複数のセルを用いて半
導体集積回路のレイアウトを設計する方法であって、複
数の回路ブロックに含まれるクロックツリー回路の一部
を構成するゲーテッドクロック回路を実現するためのフ
リップフロップセル及びANDセルの内で、ANDセル
をバッファセルに置き換えるステップ(a)と、ゲーテ
ッドクロック回路のバッファセルを含むクロックツリー
回路の複数のセルと、クロックツリー回路に接続される
複数のフリップフロップセルとを、所定のアルゴリズム
に従ってレイアウト領域内に配置するステップ(b)
と、ゲーテッドクロック回路のバッファセルをANDセ
ルに戻すステップ(c)と、レイアウト領域内に配置さ
れた複数のセル間の配線を行うステップ(d)とを具備
する。
【0012】ここで、ステップ(d)が、ゲーテッドク
ロック回路のフリップフロップセルの出力端子をAND
セルの一方の入力端子に接続する配線を行うことを含む
ようにしても良い。また、ステップ(d)が、クロック
ツリー回路を実現するための複数のバッファセルの内の
いずれかの出力端子を、ゲーテッドクロック回路のフリ
ップフロップセルのクロック信号入力端子及びANDセ
ルの他方の入力端子に接続する配線を行うことを含むよ
うにしても良い。
【0013】本発明に係る半導体集積回路のレイアウト
設計装置は、複数の回路ブロックをそれぞれ実現するた
めの複数のセルを用いて半導体集積回路のレイアウトを
設計するために、複数の回路ブロックを表す回路情報を
入力する入力手段と、複数の回路ブロックに含まれるク
ロックツリー回路の一部を構成するゲーテッドクロック
回路を実現するためのフリップフロップセル及びAND
セルの内で、ANDセルをバッファセルに置き換えて、
クロックツリー回路の複数のセルと、クロックツリー回
路に接続される複数のフリップフロップセルとを、所定
のアルゴリズムに従ってレイアウト領域内に配置し、そ
の後、ゲーテッドクロック回路のバッファセルをAND
セルに戻すと共に、レイアウト領域内に配置された複数
のセル間の配線を行う演算手段と、レイアウト領域内に
配置された複数のセル及び複数のセル間の配線を出力す
る出力手段とを具備する。
【0014】ここで、演算手段が、ゲーテッドクロック
回路のフリップフロップセルの出力端子をANDセルの
一方の入力端子に接続する配線を行うようにしても良
い。また、演算手段が、クロックツリー回路を実現する
ための複数のバッファセルの内のいずれかの出力端子
を、ゲーテッドクロック回路のフリップフロップセルの
クロック信号入力端子及びANDセルの他方の入力端子
に接続する配線を行うようにしても良い。
【0015】以上のように構成した本発明によれば、入
力クロック信号を分岐させるクロックツリー回路がゲー
テッドクロック回路を含む場合においても、ゲーテッド
クロック回路を実現するためのANDセルを一旦バッフ
ァセルに変換してからクロックツリー回路の自動配置を
行い、その後、ゲーテッドクロック回路のバッファセル
をANDセルに戻して配線を行うので、クロックツリー
回路を構成する多数のバッファセルの配置バランスが良
いレイアウトを実現でき、クロックスキューを容易に調
整することが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明の実施の形態について説明する。なお、同一の構成要
素については同一の参照番号で示し、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係るレイアウト設計
装置の概要を示す図である。図1に示すように、このレ
イアウト設計装置は、回路情報を入力するためのキーボ
ードやインターフェース等を含む入力部1と、入力され
た回路情報によって表される複数の回路ブロックをそれ
ぞれ実現するための複数のセルを用いて半導体集積回路
のレイアウトを設計する演算部2と、これらのセル及び
配線のレイアウトを出力するディスプレイやプリンタ等
を含む出力部7とによって構成されている。演算部2
は、機能ブロックとして、ANDセル置換部3と、セル
配置部4と、バッファセル置換部5と、セル間配線部6
とを有している。
【0017】ここで、演算部2は、コンピュータとソフ
トウエア(レイアウト設計プログラム)によって構成す
ることができる。レイアウト設計プログラムは、ハード
ディスク、フレキシブルディスク、MO、MT、RA
M、CD−ROM、DVD−ROM等の記録媒体に記録
して保存される。
【0018】図2は、本発明の第1の実施形態に係るレ
イアウト設計装置によって実行されるレイアウト設計方
法を示すフローチャートである。以下、このレイアウト
設計方法について、図1〜図4を参照しながら説明す
る。
【0019】ステップS1において、オペレータが、半
導体集積回路において所望の回路を構成するセルの機能
や種類、セル間の接続関係等を示すデータであるネット
リストをレイアウト設計装置の入力部1に入力すると、
入力されたネットリストを演算部2が受信する。なお、
レイアウト設計装置は、フレキシブルディスクやMO等
からネットリストを読み取ることとしても良いし、ネッ
トワークを介して他の装置からネットリストを受信する
こととしても良い。
【0020】ネットリストによって表される回路には、
図3に示すように、クロック信号を分岐するクロックツ
リー回路と、クロックツリー回路によって分岐されたク
ロック信号が供給されるD型フリップフロップとが含ま
れている。このクロックツリー回路には、ゲーテッドク
ロック回路が含まれている。
【0021】図3において、クロックツリー回路は、入
力クロック信号を受ける第1段のバッファ回路(ルート
バッファ回路)11と、第1段のバッファ回路11の出
力に接続された第2段の複数のバッファ回路21、2
2、・・・と、第2段のバッファ回路21の出力に接続
された第3段の複数のバッファ回路31、32、・・・
と、第3段のバッファ回路21の出力に接続された第4
段の複数のバッファ回路41、42、・・・とを含んで
いる。第4段の複数のバッファ回路41、42、・・・
の出力は、D型フリップフロップ51、52、・・・の
クロック入力端子Cにそれぞれ供給される。
【0022】また、クロックツリー回路は、ゲーテッド
クロック回路を構成するD型フリップフロップ60及び
AND回路70と、ゲーテッドクロック回路の出力に接
続された第4段の複数のバッファ回路81、82、・・
・とを含んでいる。第4段の複数のバッファ回路81、
82、・・・の出力は、D型フリップフロップ91、9
2、・・・のクロック入力端子Cにそれぞれ供給され
る。
【0023】D型フリップフロップ60のデータ入力端
子Dには、イネーブル信号が供給され、クロック信号入
力端子C(負論理)には、第2段のバッファ回路21か
ら出力されるクロック信号が供給される。D型フリップ
フロップ60は、第2段のバッファ回路21から出力さ
れるクロック信号の立ち下がりのタイミングに同期し
て、イネーブル信号の論理レベルを保持する。AND回
路70は、D型フリップフロップ60の出力端子Qから
出力される論理レベルと、第2段のバッファ回路21か
ら出力されるクロック信号との論理積を求める。これに
より、ゲーテッドクロック回路は、イネーブル信号がハ
イレベルの場合にはクロック信号を出力し、イネーブル
信号がローレベルの場合にはローレベルの信号を出力す
る。
【0024】D型フリップフロップ51、52、91、
92、・・・は、クロック信号入力端子Cに供給される
クロック信号の立ち上がりのタイミングで、データ入力
端子Dに供給されているデータを保持し、これを出力端
子Qから出力する。
【0025】このような回路を表すネットリストが入力
されると、図2のステップS2において、図1のAND
セル置換部3が、ゲーテッドクロック回路を実現するた
めのフリップフロップセル及びANDセルの内で、AN
Dセルをバッファセルに置き換える。図3に示す回路に
おいて、ゲーテッドクロック回路を構成するAND回路
をバッファ回路に置き換えた状態を図4に示す。図4に
示す回路においては、図3のAND回路70の替わり
に、バッファ回路100が用いられる。ただし、バッフ
ァ回路100は1つの入力端子のみを有するので、D型
フリップフロップ60とバッファ回路100との間の接
続は行われない。
【0026】図2のステップS3において、図1のセル
配置部4が、ゲーテッドクロック回路のバッファセルを
含むクロックツリー回路の複数のセルと、クロックツリ
ー回路に接続される複数のD型フリップフロップセルと
を、所定のアルゴリズムに従ってレイアウト領域内に配
置する。図4に示す回路おいては、ゲーテッドクロック
回路がD型フリップフロップ及びバッファ回路によって
構成されているので、クロックツリー回路に含まれてい
る他のバッファ回路と共に、クロックツリー配置ツール
を用いて配置・配線を行うことができる。クロックツリ
ー配置ツールは、所定のアルゴリズムを用いてクロック
ツリー回路の配置・配線を行うソフトウエアである。そ
の結果、クロックツリー回路を構成する多数のバッファ
セルの配置バランスが良いレイアウトを実現でき、クロ
ックスキューを容易に調整することが可能となる。
【0027】セルの配置が行われると、図2のステップ
S4において、図1のバッファセル置換部5が、ゲーテ
ッドクロック回路のバッファセルをANDセルに戻す。
その後、ステップS5において、図1のセル間配線部6
が、レイアウト領域内に配置された複数のセル間の配線
を行う。ここで、ゲーテッドクロック回路のD型フリッ
プフロップセルの出力端子を、ANDセルの一方の入力
端子に接続する。また、クロックツリー回路を実現する
ための複数のバッファセルの内のいずれかの出力端子
を、ゲーテッドクロック回路のD型フリップフロップセ
ルのクロック信号入力端子及びANDセルの他方の入力
端子に接続する配線を行う。
【0028】上記ステップS1〜S4におけるセル及び
配線のレイアウト作成が終了した後、図2のステップS
5において、オペレータの操作に基づいて図1の出力部
7がセル及び配線のレイアウトを出力する。
【0029】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、入
力クロック信号を分岐させるクロックツリー回路がゲー
テッドクロック回路を含む場合においても、クロックツ
リー回路を構成する多数のバッファセルの配置バランス
が良いレイアウトを実現でき、クロックスキューを容易
に調整することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態に係るレイアウト設計装
置の概要を示す図である。
【図2】 本発明の第1の実施形態に係るレイアウト設
計装置によって実行されるレイアウト設計方法を示すフ
ローチャートである。
【図3】 ゲーテッドクロック回路を含むクロックツリ
ー回路と、クロックツリー回路によって分岐されたクロ
ック信号が供給されるD型フリップフロップとを示す回
路図である。
【図4】 図3に示す回路において、ゲーテッドクロッ
ク回路を構成するAND回路をバッファ回路に置き換え
た状態を示す回路図である。
【符号の説明】
1 入力部 2 演算部 3 ANDセル置換部 4 セル配置部 5 バッファセル置換部 6 セル間配線部 7 出力部 11、・・・、41、42、81、82、・・・、10
0 バッファ回路 51、52、60、91、92、・・・ D型フリップ
フロップ 70 AND回路

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力された回路情報によって表される複
    数の回路ブロックをそれぞれ実現するための複数のセル
    を用いて半導体集積回路のレイアウトを設計する方法で
    あって、 前記複数の回路ブロックに含まれるクロックツリー回路
    の一部を構成するゲーテッドクロック回路を実現するた
    めのフリップフロップセル及びANDセルの内で、前記
    ANDセルをバッファセルに置き換えるステップ(a)
    と、 前記ゲーテッドクロック回路のバッファセルを含む前記
    クロックツリー回路の複数のセルと、前記クロックツリ
    ー回路に接続される複数のフリップフロップセルとを、
    所定のアルゴリズムに従ってレイアウト領域内に配置す
    るステップ(b)と、 前記ゲーテッドクロック回路のバッファセルをANDセ
    ルに戻すステップ(c)と、 前記レイアウト領域内に配置された複数のセル間の配線
    を行うステップ(d)と、を具備する半導体集積回路の
    レイアウト設計方法。
  2. 【請求項2】 ステップ(d)が、前記ゲーテッドクロ
    ック回路のフリップフロップセルの出力端子をANDセ
    ルの一方の入力端子に接続する配線を行うことを含む、
    請求項1記載の半導体集積回路のレイアウト設計方法。
  3. 【請求項3】 ステップ(d)が、前記クロックツリー
    回路を実現するための複数のバッファセルの内のいずれ
    かの出力端子を、前記ゲーテッドクロック回路のフリッ
    プフロップセルのクロック信号入力端子及びANDセル
    の他方の入力端子に接続する配線を行うことを含む、請
    求項2記載の半導体集積回路のレイアウト設計方法。
  4. 【請求項4】 複数の回路ブロックをそれぞれ実現する
    ための複数のセルを用いて半導体集積回路のレイアウト
    を設計するために、前記複数の回路ブロックを表す回路
    情報を入力する入力手段と、 前記複数の回路ブロックに含まれるクロックツリー回路
    の一部を構成するゲーテッドクロック回路を実現するた
    めのフリップフロップセル及びANDセルの内で、前記
    ANDセルをバッファセルに置き換えて、前記クロック
    ツリー回路の複数のセルと、前記クロックツリー回路に
    接続される複数のフリップフロップセルとを、所定のア
    ルゴリズムに従ってレイアウト領域内に配置し、その
    後、前記ゲーテッドクロック回路のバッファセルをAN
    Dセルに戻すと共に、前記レイアウト領域内に配置され
    た複数のセル間の配線を行う演算手段と、 前記複数のセル及び配線のレイアウトを出力する出力手
    段と、を具備する半導体集積回路のレイアウト設計装
    置。
  5. 【請求項5】 前記演算手段が、前記ゲーテッドクロッ
    ク回路のフリップフロップセルの出力端子をANDセル
    の一方の入力端子に接続する配線を行う、請求項4記載
    の半導体集積回路のレイアウト設計装置。
  6. 【請求項6】 前記演算手段が、前記クロックツリー回
    路を実現するための複数のバッファセルの内のいずれか
    の出力端子を、前記ゲーテッドクロック回路のフリップ
    フロップセルのクロック信号入力端子及びANDセルの
    他方の入力端子に接続する配線を行うことを含む、請求
    項5記載の半導体集積回路のレイアウト設計装置。
JP2001371817A 2001-12-05 2001-12-05 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置 Withdrawn JP2003173361A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001371817A JP2003173361A (ja) 2001-12-05 2001-12-05 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001371817A JP2003173361A (ja) 2001-12-05 2001-12-05 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003173361A true JP2003173361A (ja) 2003-06-20

Family

ID=19180811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001371817A Withdrawn JP2003173361A (ja) 2001-12-05 2001-12-05 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003173361A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007295410A (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Interchip Kk パルス信号発生器及びクロック信号発生器
US7301385B2 (en) 2005-09-22 2007-11-27 Sony Computer Entertainment Inc. Methods and apparatus for managing clock skew
JP2007329586A (ja) * 2006-06-06 2007-12-20 Sanyo Electric Co Ltd 半導体集積回路装置並びにその設計装置及び設計方法
JP2008028930A (ja) * 2006-07-25 2008-02-07 Toshiba Corp 半導体集積回路及びその設計方法
JP2011502443A (ja) * 2007-10-31 2011-01-20 クゥアルコム・インコーポレイテッド ラッチ構造及びラッチを用いる自己調整パルス生成器
US9564881B2 (en) 2015-05-22 2017-02-07 Qualcomm Incorporated Area-efficient metal-programmable pulse latch design
US9979394B2 (en) 2016-02-16 2018-05-22 Qualcomm Incorporated Pulse-generator

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7301385B2 (en) 2005-09-22 2007-11-27 Sony Computer Entertainment Inc. Methods and apparatus for managing clock skew
JP2007295410A (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Interchip Kk パルス信号発生器及びクロック信号発生器
JP2007329586A (ja) * 2006-06-06 2007-12-20 Sanyo Electric Co Ltd 半導体集積回路装置並びにその設計装置及び設計方法
JP2008028930A (ja) * 2006-07-25 2008-02-07 Toshiba Corp 半導体集積回路及びその設計方法
JP2011502443A (ja) * 2007-10-31 2011-01-20 クゥアルコム・インコーポレイテッド ラッチ構造及びラッチを用いる自己調整パルス生成器
US9564881B2 (en) 2015-05-22 2017-02-07 Qualcomm Incorporated Area-efficient metal-programmable pulse latch design
US9979394B2 (en) 2016-02-16 2018-05-22 Qualcomm Incorporated Pulse-generator

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6305001B1 (en) Clock distribution network planning and method therefor
US20090132984A1 (en) Optimal Flow In Designing A Circuit Operable In Multiple Timing Modes
US20050102643A1 (en) Methodology to optimize hierarchical clock skew by clock delay compensation
JPH08339236A (ja) クロック信号分配回路
JP2007027841A (ja) 半導体集積回路の設計装置と方法並びにプログラム
JP2003092352A (ja) 半導体集積回路装置のクロック信号分配回路
US6260175B1 (en) Method for designing an integrated circuit using predefined and preverified core modules having prebalanced clock trees
JP2006343151A (ja) スキャンテスト回路及びその配置方法
JP2003173361A (ja) 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置
US7162707B2 (en) Scan path timing optimizing apparatus determining connection order of scan path circuits to realize optimum signal timings
JP3412745B2 (ja) 半導体回路におけるクロック供給装置およびその設計方法
JP2005136286A (ja) 半導体集積回路の設計方法、及びその装置
JP3869406B2 (ja) クロック位相差検出回路、クロック分配回路、及び大規模集積回路
JP4248925B2 (ja) 自動フロアプラン決定方法
JPH05233092A (ja) クロック信号分配方法および分配回路
JP3217022B2 (ja) クロックツリー合成方法
US7284217B2 (en) Method of LSI designing and a computer program for designing LSIS
JP4587754B2 (ja) クロック合成方法、半導体装置及びプログラム
JP2012137986A (ja) 半導体集積回路のレイアウト設計装置、半導体集積回路のレイアウト設計方法及びプログラム
JPH10154793A (ja) 半導体集積回路のレイアウト設計方法
JP2009017141A (ja) プログラマブル論理回路装置、プログラマブル論理回路再構成方法、及び、プログラム
JP2000222451A (ja) 半導体集積回路の設計支援システム
JP2004335589A (ja) 半導体集積回路及びそのレイアウト設計方法
US20200096570A1 (en) Design method for scan test circuit, design program for scan test circuit and semiconductor integrated circuit
JP2007156674A (ja) 半導体集積回路のレイアウト設計方法、装置及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050301