JP2003092352A - 半導体集積回路装置のクロック信号分配回路 - Google Patents
半導体集積回路装置のクロック信号分配回路Info
- Publication number
- JP2003092352A JP2003092352A JP2001283953A JP2001283953A JP2003092352A JP 2003092352 A JP2003092352 A JP 2003092352A JP 2001283953 A JP2001283953 A JP 2001283953A JP 2001283953 A JP2001283953 A JP 2001283953A JP 2003092352 A JP2003092352 A JP 2003092352A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clock
- mesh
- wiring
- clock signal
- buffer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
- G06F1/10—Distribution of clock signals, e.g. skew
Abstract
ことなく、チップ内の複数の回路素子に対してクロック
スキューの均一なクロック信号を分配する手段を提供す
る。 【解決手段】 クロック信号は、クロックツリー配線7
を介して最終出力段より一段前のメッシュ配線駆動用ク
ロックバッファ5に入力され、各バッファ5の出力がチ
ップ上に配置されたクロックメッシュ配線4の各交点に
供給される。クロックツリー配線7は、各メッシュ配線
駆動用クロックバッファ5への入力クロック信号が全て
等遅延になるようにその配線ルートが設定される。クロ
ック供給用最終段バッファ9の入力端子はクロックメッ
シュ配線4の交点間の配線部分にそれぞれ接続されてお
り、このクロック供給用最終段バッファ9の出力を、チ
ップ内に配置されているF/F8にクロック信号として
入力する。
Description
なるチップ内にフリップフロップ(F/F)等のクロッ
ク端子を有する多数の回路素子を配置してなる半導体集
積回路におけるクロック信号分配回路に関し、特に、各
回路素子に供給されるクロック信号の到達タイミングの
ずれ(クロックスキュー)を低減する技術に関する。
においては、1つのクロック信号或いは位相の異なる複
数のクロック信号に同期してLSI全体を動作させてお
り、外部から供給されたクロック信号をLSI内部の各
フリップフロップ(F/F)等のクロック端子を有する
回路素子に分配することにより、デコードやメモリのリ
ード/ライト、各種演算等の動作を実行させている。
る各回路素子までの配線長が異なると、クロック信号遅
延の相違によるクロックスキューが発生し、そのために
各回路素子における信号の入出力タイミングがずれて、
回路が誤動作する虞がある。そこで、このようなクロッ
クスキューの発生を防止するために、従来LSI等の半
導体集積回路では、図10に示すようなHツリー型のク
ロック分配方式や、図11に示すようなH型のクロック
配線とメッシュ状配線を用いたクロック分配方式が採用
されている(特開平11−175184号公報参照)。
式では、チップ100上において、複数段(図では3
段)のバッファ(ドライバ)101〜103を備え、こ
れらのバッファ101〜103間をH型のクロック配線
104,105によりツリー状に接続し、チップ内のセ
ルに対して最終段バッファ103を介してクロック信号
を供給している。
のクロック配線104,105により接続することで、
第1段ドライバ101に入力されたクロック信号は、チ
ップ100のセル配置領域内に略均一な密度で配置され
た16個の第3段ドライバ103へ分配され、この第3
段ドライバ103からF/F等のクロック端子へ供給さ
れる。このとき第1段ドライバ101から最終出力段で
ある第3段ドライバ103までの配線長は略等しくな
り、最終段ドライバ103でのクロックスキューをほぼ
均一にすることができる。
配線とメッシュ状配線を用いたクロック分配方式では、
チップ200上に3段のバッファ101〜103を備
え、これらのバッファ101〜103の間を、互いに異
なる配線層に形成されたH型のクロック配線104及び
メッシュ状配線201を介して接続し、チップ内のセル
に対して最終段バッファ103の出力をクロック信号と
して供給している。
様に、チップ200の中央には、外部からのクロック信
号を受ける第1段ドライバ101が配置され、第1段ド
ライバ101の出力は、このドライバ101を中心とす
るH型のクロック配線104により、4個の第2段ドラ
イバ102に入力される。
は、16個の第3段ドライバ103が略均一な密度で配
置されており、4個の第2段ドライバ102の出力側と
16個の第3段ドライバ103の入力側との全てがメッ
シュ状配線201により接続されている。
段ドライバ102の出力側と第3段ドライバ103の入
力側とがメッシュ状配線201により接続されているの
で、最終段ドライバ103に対するクロック信号はメッ
シュ状配線201による複数の経路を介して入力され、
それにより16個の最終段ドライバ103から出力され
る各クロック信号間のクロックスキューを低減してい
る。
ック分配方式では、H型のクロック配線104とメッシ
ュ状配線201とが互いに重なるような位置関係で配置
され、第1段ドライバ101を中心とするH型のクロッ
ク配線104に接続された4個の第2段ドライバ102
の出力がメッシュ状配線201上の中心から等距離にあ
る4個の交点に供給されているため、第2段ドライバの
出力が供給されるメッシュ状配線201上の4個の交点
近傍と、メッシュ状配線201上のそれ以外の交点近傍
では、クロック信号の到達時間に差が生ずる。
な密度で配置された16個の最終段ドライバ103を、
第2段ドライバ102の各出力供給点から等距離にある
メッシュ状配線201の交点上に配置することにより最
終段ドライバ103に到達するクロック信号のタイミン
グを等しくしてクロックスキューの均一化を図っている
が、このような構成ではクロックスキューが均一化され
る位置がある程度固定されてしまうために、チップ内に
配置される回路配置(レイアウト)を任意に変更できな
いという問題がある。
信号が供給されるF/F等のセルは、最終段ドライバ1
03が配置されている近傍に配置する必要があり、その
ため最終段ドライバ103の配置位置によりチップ内の
回路配置がある程度制限されてしまうので、回路レイア
ウトの汎用性を高めることが困難である。
ロック信号を供給するチップ内のF/Fの数も比較的多
くなるので、最終段ドライバ毎の負荷のアンバランスも
大きくなり、これもクロックスキューの発生要因とな
る。従って、各最終段ドライバ103に接続されるセル
の数もなるべく均一化する必要があり、これも回路配置
の制限要因となる。
ターン全体でバランスをとっているために、メッシュ形
状パターンの一部を削除することが困難であり、例え
ば、チップ内にメモリあるいはCPU等の大規模マクロ
を配置する際に、その配置位置及び作成にあたって制限
を受けるという問題もある。
プ内の回路レイアウトの汎用性を損なうことなく、チッ
プ内の複数の回路素子に対して遅延がほぼ均一なクロッ
ク信号を分配可能にする手段を提供することにある。
リあるいはCPU等の大規模マクロを配置する際に、ク
ロック信号分配手段による制限を受けることなく任意の
位置に配置可能にし、かつ遅延がほぼ均一なクロック信
号を分配可能にする手段を提供することにある。
置された複数の回路素子に対してクロック信号を供給す
るクロック信号分配回路を備えた半導体集積回路におい
て、前記チップのクロックを分配する領域に配置された
メッシュ形状パターン配線と、前記メッシュ形状パター
ン配線の全ての交点近傍にそれぞれ配置され、その出力
端子が前記メッシュ形状パターン配線の交点近傍にそれ
ぞれ接続されて前記メッシュ形状パターン配線を駆動す
る、最終出力段より一段前のクロックバッファ(第1の
クロックバッファ)と、前記メッシュ形状パターン配線
の各交点間の配線部分にその入力端子が接続され、前記
メッシュ形状パターン配線を介してクロック信号が入力
される最終出力段クロックバッファ(第2のクロックバ
ッファ)と、前記チップに対してクロック信号を供給す
るクロックルートバッファから前記最終出力段より一段
前のクロックバッファまでを接続するツリー状配線とを
備えたことを特徴とする。
配線は、前記最終出力段よりも一段前のクロックバッフ
ァまでのクロック信号の遅延が全て等遅延となるように
設定され、それによりメッシュ形状パターン配線の全て
の点でほぼ均一なクロックスキューとなるように構成さ
れている。なお、ツリー状配線とメッシュ形状パターン
配線は互いに短絡されないように配置される。
は、メッシュ形状パターン配線の各交点における負荷容
量の均等化を図るために、メッシュ形状パターンを構成
する各配線の端部は、端部に最も近い交点からメッシュ
ピッチの半分の長さだけ突き出すように形成される。
は、形成したメッシュ形状パターンの交点からメッシュ
ピッチの半分の距離にある四方のメッシュ形状パターン
配線を単位として削除することが可能であり、該削除部
分に大規模マクロを配置することを特徴とする。
における各交点間の配線部分には、それぞれ同数の最終
出力段バッファが接続されており、チップ内の回路素子
に対するクロック供給用バッファとして使用しない最終
出力段バッファについては、その出力を開放状態とした
メッシュ配線負荷調整用ダミーバッファとして機能させ
ることを特徴とする。
線の全ての交点に対して遅延がほぼ均一なクロック信号
が供給されているので、メッシュ形状パターン配線の全
ての位置でほぼ均一なクロックスキューのクロック信号
を得ることができ、メッシュ形状パターン配線の任意の
位置からチップ内の回路素子に対してクロック信号を供
給しても、チップ内の各回路素子に供給されるクロック
信号のクロックスキューは極めて小さくなる。
交点を、交点の数と同数のクロックバッファによりそれ
ぞれ駆動するので、各クロックバッファとしては低出力
パワーのバッファを用いることができ、さらに、これら
のクロックバッファの出力端子はメッシュ形状パターン
配線によって短絡されているので、各クロックバッファ
を構成するチップ内のトランジスタ特性に多少のばらつ
きがあっても、メッシュ形状パターン配線上のクロック
信号の遅延はほぼ均一となり、クロックスキューは生じ
ない。
ン配線の一部を必要に応じて適宜削除しても全体のバラ
ンスが崩れることはないので、チップ内の回路素子のレ
イアウトあるいは大規模マクロの配置に対して制限を与
えることがなく、汎用性の高いクロック信号分配回路を
実現でき、回路規模や回路構成の異なる種々の半導体集
積回路装置に対しても、容易に自動配置配線を適用して
対応することができる。
配回路の実施形態を示す概略配線回路の展開図であり、
図2は、本実施形態におけるメッシュ形状パターン配線
とメッシュ形状パターンドライブ用バッファの配置関係
を示す概略平面図であり、図3は、図2をより詳細化し
た平面図及び各メッシュ内の拡大概略平面図である。
いて、図1〜図3を参照して説明する。
ファ6から供給されたクロック信号は、ツリーを形成す
る複数段のクロックバッファにより分配され、最終出力
段よりも一段前のメッシュ配線駆動用クロックバッファ
5により、チップ上に配置された水平メッシュ配線1及
び垂直メッシュ配線2よりなるメッシュ形状パターン配
線4の各交点に対して供給される。
駆動用の全てのクロックバッファ5の入力端子とを接続
するツリー状配線7は、クロックルートバッファ6から
各クロックバッファ5の入力端子までの信号遅延がほぼ
等遅延になるように、その配線ルートが設定されてい
る。
ッファ5の配置及びその出力とメッシュ形状パターン配
線4とを接続するための専用の配置配線領域は特に設け
る必要はなく、通常のブロックと同様に扱うことができ
る。また、メッシュ形状パターン配線4を駆動するバッ
ファ5の出力段の負荷容量を均一化するために、メッシ
ュ形状パターン配線4の端部は、当該端部に最も近い交
点からメッシュピッチの半分の長さだけ突き出すように
形成されている。
よって囲まれたそれぞれの領域には、クロック信号が供
給される任意の数のF/F8等の回路素子が配置されて
おり、各F/F8へのクロック信号は、図3に拡大して
示されているように、メッシュ形状パターン配線4の各
配線に沿って配置された最終出力段バッファ9を介して
供給される。クロック供給用最終出力段バッファ9の入
力端子はメッシュ形状パターン配線4の交点間の配線部
分にそれぞれ接続されており、メッシュ形状パターン配
線4を介してクロック信号が入力される。
点間の配線部分には、メッシュ配線駆動用クロックバッ
ファ5の負荷を均一にするために、それぞれ同数のクロ
ック供給用最終段バッファ9が配置されており、これら
のバッファの内クロック供給用として使用していないバ
ッファについては、その出力が開放されたメッシュ配線
負荷調整用ダミーバッファ10として機能させている。
模マクロ3等はクロック分配領域対象外であるので、こ
れら大規模マクロ3をチップ内に配置する場合には、大
規模マクロ3を配置する領域のメッシュ形状パターン配
線4を削除すればよい。
3に示されているように、交点からメッシュピッチの半
分の距離にある四方のメッシュ形状パターン配線を単位
として削除する。図3には1つの交点を含む領域を削除
した例及び4つの交点を含む領域を削除した例が示され
ている。このように交点からメッシュピッチの半分の距
離にある四方のメッシュ形状パターン配線を単位として
削除することによって、メッシュ駆動用バッファ5の出
力負荷容量も均一にすることができる。したがって、大
規模マクロ等は、クロック信号分配手段による制限を受
けることなく配置することが可能である。
回路をチップ上に配置するための設計手順の一例を示す
メッシュクロック分配レイアウトフロー図であり、図5
〜図9は、各手順を実行した時点におけるクロック信号
分配回路の形成状態を示す図である。
路の設計手順について、図4〜図9を参照して説明す
る。なお、ここでは、チップ内部の全てのプリミティブ
ブロック及びマクロが配置済みの状態であるとする。
するチップの領域上に、水平及び垂直の配線1,2を引
き、また、配線1,2の両端は交点からメッシュ間隔の
半分の長さだけ突き出すように形成する(S1)。配線
1,2は同一の面に形成してメッシュ配線4とするか、
あるいは配線1,2の交点にスルーホールを設けて互い
に接続することにより、メッシュ配線4とするか、いず
れかの方法により作成される。
置される場合には、ステップS1で作成したメッシュ配
線4を削除する。その際、図6に示すように、マクロ3
が配置される領域の分だけメッシュ配線4を削除する。
メッシュ配線の削除の単位は、削除されるメッシュ配線
上の交点を中心にメッシュ間隔の半分四方として必要数
の単位を削除する(S2)。
線4の全ての交点近傍に、それぞれメッシュ配線4を駆
動するクロックバッファ5を配置し(S3)、配置され
たクロックバッファ5の出力端子とメッシュ配線4の交
点またはその近傍をそれぞれ接続する(S4)。
ッファ6とメッシュ配線駆動用の全てのクロックバッフ
ァ5の入力端子とをツリー状配線7により接続する。そ
の際、クロックルートバッファ6から各クロックバッフ
ァ5の入力端子までの信号遅延が等遅延になるように、
ツリー状配線7の配線ルートを設計する(S5)。
配線部分に沿って最終段バッファ9を配置し、メッシュ
配線4と各メッシュ内のF/F8とを最終段バッファ9
を介して接続する。各最終段バッファ9の入力端子はメ
ッシュ配線4上の最も近い任意の位置と接続される(S
6)。
部分に接続される最終段バッファの数を各区間において
それぞれ同数になるように構成する。F/F8と接続さ
れない最終段バッファについてもその入力端子をメッシ
ュ配線4に接続し、その出力端子が開放されたダミーバ
ッファ10として機能させることにより、メッシュ配線
4の負荷が全ての区間でほぼ均一となるようにする(S
7)。
ターン配線4として矩形のメッシュ配線を形成している
が、メッシュ形状パターン配線は矩形に限定されるもの
ではなく、任意形状のメッシュ配線を採用することが可
能である。また、その場合であっても各交点に対して遅
延がほぼ均一なクロック信号を供給することにより、容
易に低スキューのクロック信号を分配することができ
る。
各段の分岐部にそれぞれバッファを設けているが(図
1)、これらの分岐部のバッファは省略してもよい。本
発明では、少なくともメッシュ形状パターン配線駆動用
の第1のクロックバッファ(最終出力段より一段前のク
ロックバッファ)5とクロック信号をF/F8に供給す
る第2のクロックバッファ(最終出力段バッファ)9が
備えられていれば、所期の作用効果を奏することができ
る。
全ての交点に対して遅延がほぼ均一なクロック信号を供
給しているので、メッシュ形状パターン配線の全ての位
置でほぼ均一なクロックスキューのクロック信号を得る
ことができ、メッシュ形状パターン配線の任意の位置か
らチップ内の回路素子に対してクロック信号を供給して
も、チップ内の各回路素子に供給されるクロック信号の
クロックスキューは極めて小さくなる。
交点を最終出力段より一段前のクロックバッファにより
駆動するので、各クロックバッファとしては低出力パワ
ーのバッファを用いることができ、さらに、これらのク
ロックバッファの出力端子はメッシュ形状パターン配線
によって短絡されているので、クロックバッファを構成
するチップ内のトランジスタ特性に多少のばらつきがあ
っても、メッシュ形状パターン配線上のクロック信号の
遅延をほぼ均一とすることができ、クロックスキューを
より一層低減することができる。
ン配線の一部を削除しても全体のバランスが崩れること
はないので、チップ内の回路素子のレイアウトあるいは
大規模マクロの配置に対して制限を与えることがなく、
汎用性の高いクロック信号分配回路を実現でき、回路規
模や回路構成の異なる種々の半導体集積回路装置に対し
ても、容易に自動配置配線を適用することができる。
は、メッシュ形状パターンを構成する各配線の端部を、
当該端部に最も近い交点からメッシュピッチの半分の長
さだけ突き出すように形成しているので、メッシュ形状
パターン配線の各交点に出力端子が接続されるバッファ
の負荷容量は全て等しくなり、バッファの負荷アンバラ
ンスによるクロックスキューを生じることもない。
の各交点間の配線部分には、複数の最終出力段バッファ
を接続可能であるので、各最終出力段バッファも低出力
パワーのバッファとすることができ、かつ最終出力段バ
ッファ毎の負荷の均一化も容易に実現可能である。
段バッファと共に、その出力を開放状態としたメッシュ
配線負荷調整用ダミーバッファを接続することにより、
各交点間の配線部分にそれぞれ接続された最終出力段バ
ッファを同数とする。その結果、メッシュ形状パターン
配線の各交点に接続されるバッファの負荷容量が全て均
一化され、クロックスキューをより一層低減することが
できる。
す概略配線回路の展開図である。
とメッシュ形状パターンドライブ用バッファの配置関係
を示す概略平面図である。
の拡大概略平面図である。
示すメッシュクロック分配レイアウトフロー図である。
回路の形成状態を示す図である。
回路の形成状態を示す図である。
回路の形成状態を示す図である。
回路の形成状態を示す図である。
回路の形成状態を示す図である。
Claims (14)
- 【請求項1】 チップ内に配置された複数の回路素子に
対してクロック信号を供給するクロック信号分配回路を
備えた半導体集積回路において、 前記チップのクロック信号を分配すべき領域に配置され
たメッシュ形状パターン配線と、 前記メッシュ形状パターン配線の全ての交点近傍にそれ
ぞれ配置され、その出力端子が前記メッシュ形状パター
ン配線の交点近傍に接続される第1のクロックバッファ
と、 前記メッシュ形状パターン配線にその入力端子が接続さ
れ、前記複数の回路素子それぞれにその出力端子が接続
される複数の第2のクロックバッファと、 前記チップに対するクロック信号が供給され前記第1の
クロックバッファを駆動するクロックルートバッファ
と、 前記クロックルートバッファの出力端子と前記第1のク
ロックバッファの入力端子を接続するツリー形状配線
と、を備えていることを特徴とする半導体集積回路装置
のクロック信号分配回路。 - 【請求項2】 前記第1及び第2のクロックバッファ
は、前記チップ内に配置されていることを特徴とする請
求項1記載の半導体集積回路装置のクロック信号分配回
路。 - 【請求項3】 前記ツリー形状配線は、前記第2のクロ
ックバッファから出力される全てのクロック信号が等遅
延となるように構成されていることを特徴とする請求項
1または2記載の半導体集積回路装置のクロック信号分
配回路。 - 【請求項4】 前記メッシュ形状パターン配線の交点の
近傍に配置された前記第2のクロックバッファの出力端
子は、それぞれ前記メッシュ形状パターン配線の交点に
接続されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれ
かに記載の半導体集積回路装置のクロック信号分配回
路。 - 【請求項5】 前記メッシュ形状パターン配線の端部
は、当該端部に最も近い前記メッシュ形状パターン配線
の交点からメッシュピッチの半分の長さだけ突き出すよ
うに形成されていることを特徴とする請求項1〜4のい
ずれかに記載の半導体集積回路装置のクロック信号分配
回路。 - 【請求項6】 前記メッシュ形状パターン配線が、メッ
シュの交点からメッシュピッチの半分の距離にある四方
の前記メッシュ形状パターン配線を単位として削除さ
れ、該削除された領域に大規模マクロが配置されている
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の半導
体集積回路装置のクロック信号分配回路。 - 【請求項7】 前記メッシュ形状パターン配線の各交点
間の配線部分には、それぞれ同数の前記第1のクロック
バッファが配置され、前記回路素子に対するクロック供
給用バッファとして使用しない前記第1のクロックバッ
ファは、その出力を開放状態としたメッシュ配線負荷調
整用ダミーバッファとして機能させることを特徴とする
請求項1〜6のいずれかに記載の半導体集積回路装置の
クロック信号分配回路。 - 【請求項8】 クロック端子を有する複数の回路素子に
対してクロック信号を分配するクロック信号分配回路で
あって、 クロック信号が供給されるクロックルートバッファと、 前記クロックルートバッファに駆動される複数の第1の
クロックバッファと、 前記複数の第1のクロックバッファの出力を短絡させる
メッシュ形状パターン配線と、 前記メッシュ形状パターン配線にその入力端子が接続さ
れた第2のクロックバッファとを備え、 前記クロック端子には前記第2のクロックバッファの出
力端子が接続されていることを特徴とする半導体集積回
路におけるクロック信号分配回路。 - 【請求項9】 前記第1のクロックバッファの出力端子
は、前記メッシュ形状パターン配線の交点近傍に接続さ
れていることを特徴とする請求項8記載の半導体集積回
路におけるクロック信号分配回路。 - 【請求項10】 前記第2のクロックバッファから出力
される全てのクロック信号が等遅延となるように構成さ
れていることを特徴とする請求項8または9記載の半導
体集積回路におけるクロック信号分配回路。 - 【請求項11】 前記メッシュ形状パターン配線の交点
の近傍に配置された前記第2のクロックバッファの出力
端子は、それぞれ前記メッシュ形状パターン配線の交点
に接続されていることを特徴とする請求項8〜10のい
ずれかに記載の半導体集積回路におけるクロック信号分
配回路。 - 【請求項12】 前記メッシュ形状パターン配線の端部
は、当該端部に最も近い前記メッシュ形状パターン配線
の交点からメッシュピッチの半分の長さだけ突き出すよ
うに形成されていることを特徴とする請求項8〜11の
いずれかに記載の半導体集積回路におけるクロック信号
分配回路。 - 【請求項13】 前記メッシュ形状パターン配線が、メ
ッシュの交点からメッシュピッチの半分の距離にある四
方の前記メッシュ形状パターン配線を単位として削除さ
れ、該削除された領域に大規模マクロが配置されている
ことを特徴とする請求項8〜12のいずれかに記載の半
導体集積回路におけるクロック信号分配回路。 - 【請求項14】 前記メッシュ形状パターン配線の各交
点間の配線部分には、それぞれ同数の前記第1のクロッ
クバッファが配置され、前記回路素子に対するクロック
供給用バッファとして使用しない前記第1のクロックバ
ッファは、その出力を開放状態としたメッシュ配線負荷
調整用ダミーバッファとして機能させることを特徴とす
る請求項8〜13のいずれかに記載の半導体集積回路に
おけるクロック信号分配回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001283953A JP2003092352A (ja) | 2001-09-18 | 2001-09-18 | 半導体集積回路装置のクロック信号分配回路 |
US10/244,507 US6696863B2 (en) | 2001-09-18 | 2002-09-17 | Clock signal distribution circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001283953A JP2003092352A (ja) | 2001-09-18 | 2001-09-18 | 半導体集積回路装置のクロック信号分配回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003092352A true JP2003092352A (ja) | 2003-03-28 |
Family
ID=19107361
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001283953A Pending JP2003092352A (ja) | 2001-09-18 | 2001-09-18 | 半導体集積回路装置のクロック信号分配回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6696863B2 (ja) |
JP (1) | JP2003092352A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003109382A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
WO2006054786A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2006-05-26 | Nec Corporation | 半導体集積回路の配線設計システム、半導体集積回路及び配線設計プログラム |
JP2008085596A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Nec Electronics Corp | クロック分配回路とテスト方法 |
WO2017122417A1 (ja) * | 2016-01-12 | 2017-07-20 | ソニー株式会社 | 集積回路 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3980431B2 (ja) * | 2002-07-19 | 2007-09-26 | Necエレクトロニクス株式会社 | バッファ回路とバッファツリー及び半導体装置 |
US7330080B1 (en) | 2004-11-04 | 2008-02-12 | Transmeta Corporation | Ring based impedance control of an output driver |
US7689963B1 (en) | 2005-06-30 | 2010-03-30 | Masleid Robert P | Double diamond clock and power distribution |
US7755193B1 (en) | 2005-11-14 | 2010-07-13 | Masleid Robert P | Non-rectilinear routing in rectilinear mesh of a metallization layer of an integrated circuit |
US7730440B2 (en) * | 2005-06-30 | 2010-06-01 | Scott Pitkethly | Clock signal distribution system and method |
US7661086B1 (en) | 2005-06-30 | 2010-02-09 | Scott Pitkethly | Enhanced clock signal flexible distribution system and method |
US7394681B1 (en) | 2005-11-14 | 2008-07-01 | Transmeta Corporation | Column select multiplexer circuit for a domino random access memory array |
US7475374B1 (en) | 2005-12-20 | 2009-01-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Clock grid driven by virtual leaf drivers |
US7642866B1 (en) | 2005-12-30 | 2010-01-05 | Robert Masleid | Circuits, systems and methods relating to a dynamic dual domino ring oscillator |
US7414485B1 (en) | 2005-12-30 | 2008-08-19 | Transmeta Corporation | Circuits, systems and methods relating to dynamic ring oscillators |
EP2235825B1 (en) * | 2007-12-19 | 2019-07-24 | Microsoft International Holdings B.V. | Apparatus and method for improved skew time |
JP2011059758A (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Renesas Electronics Corp | 半導体集積回路 |
US9459651B2 (en) | 2011-11-04 | 2016-10-04 | Freescale Semiconductor, Inc. | Multi-level clock signal distribution network and integrated circuit |
KR20150069142A (ko) * | 2013-12-13 | 2015-06-23 | 삼성전자주식회사 | 설정 가능한 클락 메시 회로, 이의 동작 방법, 및 이를 포함하는 장치들 |
US20160173071A1 (en) * | 2014-12-10 | 2016-06-16 | Mediatek Singapore Pte. Ltd. | Clock-distribution device and clock-distribution method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01289155A (ja) * | 1988-05-16 | 1989-11-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
JPH08204135A (ja) * | 1995-01-30 | 1996-08-09 | Mitsubishi Denki Semiconductor Software Kk | 半導体集積回路 |
JP2000035832A (ja) * | 1998-07-21 | 2000-02-02 | Nec Corp | 半導体集積回路及びそのクロック分配方法 |
JP2001044289A (ja) * | 1999-08-04 | 2001-02-16 | Mitsubishi Electric Corp | 配線データ生成方法および当該方法により設計される大規模集積回路装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08116025A (ja) * | 1994-10-19 | 1996-05-07 | Fuji Xerox Co Ltd | 半導体集積回路 |
JP3441948B2 (ja) | 1997-12-12 | 2003-09-02 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路におけるクロック分配回路 |
US6311313B1 (en) * | 1998-12-29 | 2001-10-30 | International Business Machines Corporation | X-Y grid tree clock distribution network with tunable tree and grid networks |
US6204713B1 (en) * | 1999-01-04 | 2001-03-20 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for routing low-skew clock networks |
US6255884B1 (en) * | 2000-02-16 | 2001-07-03 | Pairgain Technologies, Inc. | Uniform clock timing circuit |
TW494293B (en) * | 2000-12-22 | 2002-07-11 | Faraday Tech Corp | Clock signal network structure |
-
2001
- 2001-09-18 JP JP2001283953A patent/JP2003092352A/ja active Pending
-
2002
- 2002-09-17 US US10/244,507 patent/US6696863B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01289155A (ja) * | 1988-05-16 | 1989-11-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
JPH08204135A (ja) * | 1995-01-30 | 1996-08-09 | Mitsubishi Denki Semiconductor Software Kk | 半導体集積回路 |
JP2000035832A (ja) * | 1998-07-21 | 2000-02-02 | Nec Corp | 半導体集積回路及びそのクロック分配方法 |
JP2001044289A (ja) * | 1999-08-04 | 2001-02-16 | Mitsubishi Electric Corp | 配線データ生成方法および当該方法により設計される大規模集積回路装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003109382A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
WO2006054786A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2006-05-26 | Nec Corporation | 半導体集積回路の配線設計システム、半導体集積回路及び配線設計プログラム |
JPWO2006054786A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2008-06-05 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路の配線設計システム、半導体集積回路及び配線設計プログラム |
US7844935B2 (en) | 2004-11-19 | 2010-11-30 | Nec Corporation | Wiring design system of semiconductor integrated circuit, semiconductor integrated circuit, and wiring design program |
JP5076503B2 (ja) * | 2004-11-19 | 2012-11-21 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路の配線設計システム、半導体集積回路及び配線設計プログラム |
JP2008085596A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Nec Electronics Corp | クロック分配回路とテスト方法 |
US7733079B2 (en) | 2006-09-27 | 2010-06-08 | Nec Electronics Cofrporation | Clock distribution circuit and test method |
WO2017122417A1 (ja) * | 2016-01-12 | 2017-07-20 | ソニー株式会社 | 集積回路 |
JPWO2017122417A1 (ja) * | 2016-01-12 | 2018-11-08 | ソニー株式会社 | 集積回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6696863B2 (en) | 2004-02-24 |
US20030052724A1 (en) | 2003-03-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2003092352A (ja) | 半導体集積回路装置のクロック信号分配回路 | |
US7795943B2 (en) | Integrated circuit device and layout design method therefor | |
JPH05159080A (ja) | 論理集積回路 | |
JP3441948B2 (ja) | 半導体集積回路におけるクロック分配回路 | |
JP2007027841A (ja) | 半導体集積回路の設計装置と方法並びにプログラム | |
JP3022426B2 (ja) | クロック信号供給用集積回路及びその構成方法 | |
JPH11175183A (ja) | 半導体集積回路におけるクロック分配回路 | |
JP3412745B2 (ja) | 半導体回路におけるクロック供給装置およびその設計方法 | |
JPH113945A (ja) | 半導体集積回路のクロックツリー設計方法及びそれによる半導体集積回路 | |
JP2003173361A (ja) | 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び装置 | |
JPH05233092A (ja) | クロック信号分配方法および分配回路 | |
JP2000029562A (ja) | 半導体集積回路及びクロック供給回路の設計方法 | |
JP2000294651A (ja) | クロックスキュー低減レイアウト方法 | |
JP3028938B2 (ja) | 半導体集積回路のレイアウト方法 | |
JP2005116793A (ja) | 半導体集積回路及びそのクロック配線方法 | |
JP3104746B2 (ja) | クロックツリーレイアウト装置 | |
JP2972719B2 (ja) | 半導体集積回路装置及びその配置方法 | |
JP2001257269A (ja) | 遅延時間調整方法および半導体集積回路 | |
JP2000114468A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH05218360A (ja) | ゲートアレイ | |
JPH0474453A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP2005259781A (ja) | 半導体集積回路の製造方法 | |
JP2004335589A (ja) | 半導体集積回路及びそのレイアウト設計方法 | |
JP2000222451A (ja) | 半導体集積回路の設計支援システム | |
JP2001084279A (ja) | クロック供給回路の配線処理装置とその配線方法及びこの方法を記録した記録媒体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080711 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20090713 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110222 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110407 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110906 |