JP5618163B2 - 露光装置 - Google Patents
露光装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5618163B2 JP5618163B2 JP2012232512A JP2012232512A JP5618163B2 JP 5618163 B2 JP5618163 B2 JP 5618163B2 JP 2012232512 A JP2012232512 A JP 2012232512A JP 2012232512 A JP2012232512 A JP 2012232512A JP 5618163 B2 JP5618163 B2 JP 5618163B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- exposure apparatus
- unit
- optical system
- projection optical
- wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 106
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 51
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 24
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 21
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 57
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 24
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 6
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 5
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002706 hydrostatic effect Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000036316 preload Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
- 230000014616 translation Effects 0.000 description 1
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
- G03F7/709—Vibration, e.g. vibration detection, compensation, suppression or isolation
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
- G03F7/70883—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of optical system
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70991—Connection with other apparatus, e.g. multiple exposure stations, particular arrangement of exposure apparatus and pre-exposure and/or post-exposure apparatus; Shared apparatus, e.g. having shared radiation source, shared mask or workpiece stage, shared base-plate; Utilities, e.g. cable, pipe or wireless arrangements for data, power, fluids or vacuum
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02J—CIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
- H02J50/00—Circuit arrangements or systems for wireless supply or distribution of electric power
- H02J50/10—Circuit arrangements or systems for wireless supply or distribution of electric power using inductive coupling
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Atmospheric Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Linear Motors (AREA)
Description
以下、本発明の第1の実施形態を、図1及び図2に基づいて説明する。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。この第2の実施形態に係る露光装置は、全体的な構成などは上記第1の実施形態と同様であり、前述の発電機38に代えて、図3に示される、光通信によって信号(情報)の授受を行う光通信機構70が、鏡筒定盤50とコラム30の凸部33aとの間に、分離配置されている点が異なる。従って、以下では、光通信機構70について説明する。
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。この第3の実施形態に係る露光装置は、全体的な構成などは上記第1の実施形態と同様であり、前述の発電機38に代えて、図5に示される、配管中継機構80が、鏡筒定盤50とコラム30の凸部33aとの間に、分離配置されている点が異なる。従って、以下では、配管中継機構80について説明する。
Claims (7)
- エネルギビームにより物体を露光して該物体上にパターンを形成する露光装置であって、
電気信号の授受の対象となる部材が設けられた第1部材と、
前記第1部材とは振動的に分離された第2部材と、
前記第1部材上に載置され、電磁波を送信及び/又は受信する第1部分と、前記第1部分に対応して前記第2部材に搭載され、前記第1部分との間で、前記電磁波を受信及び/又は送信する第2部分とを含み、前記第1部分及び第2部分は、相互に対向して配置された光ファイバをそれぞれ含む、信号伝達装置と、を備える露光装置。 - 請求項1に記載の露光装置において、
前記第1部分の光ファイバと、前記第2部分の光ファイバとの対向面内の相対位置が維持されるように、前記第2部分を少なくとも鉛直方向に駆動する駆動系をさらに備える露光装置。 - 請求項2に記載の露光装置において、
前記駆動系は、前記相対位置を計測する計測系を含む露光装置。 - 請求項2又は3に記載の露光装置において、
前記第1部分と第2部分とは、鉛直方向の剛性が他の方向に比べて低い、フレクシャ機構を介して接続されている露光装置。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の露光装置において、
前記パターンの形成時に前記エネルギビームが経由する光学系をさらに備え、
該光学系は、前記第1部材に保持されている露光装置。 - 請求項5に記載の露光装置において、
前記電気信号の授受の対象となる部材は、前記光学系に付属する部材を含む露光装置。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の露光装置において、
前記電気信号の授受の対象となる部材は、センサ及びアクチュエータの少なくとも一方を含む露光装置。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US96037407P | 2007-09-27 | 2007-09-27 | |
US60/960,374 | 2007-09-27 | ||
US12/234,979 US8421994B2 (en) | 2007-09-27 | 2008-09-22 | Exposure apparatus |
US12/234,979 | 2008-09-22 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008244197A Division JP2009088512A (ja) | 2007-09-27 | 2008-09-24 | 露光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013030802A JP2013030802A (ja) | 2013-02-07 |
JP5618163B2 true JP5618163B2 (ja) | 2014-11-05 |
Family
ID=40507863
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008244197A Pending JP2009088512A (ja) | 2007-09-27 | 2008-09-24 | 露光装置 |
JP2012232512A Active JP5618163B2 (ja) | 2007-09-27 | 2012-10-22 | 露光装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008244197A Pending JP2009088512A (ja) | 2007-09-27 | 2008-09-24 | 露光装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8421994B2 (ja) |
JP (2) | JP2009088512A (ja) |
TW (1) | TW200935495A (ja) |
WO (1) | WO2009041702A2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101157003B1 (ko) * | 2004-09-30 | 2012-06-21 | 가부시키가이샤 니콘 | 투영 광학 디바이스 및 노광 장치 |
JP2006261605A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Canon Inc | 露光装置及び露光方法 |
EP2045664B1 (en) * | 2007-10-04 | 2013-03-06 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, projection assembly and active damping |
DE102009024870A1 (de) * | 2008-06-10 | 2009-12-31 | Carl Zeiss Smt Ag | Optische Einrichtung mit einstellbarer Kraftwirkung auf ein optisches Modul |
DE102008049616B4 (de) * | 2008-09-30 | 2012-03-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie zur Herstellung von Halbleiterbauelementen |
US8905369B2 (en) | 2011-09-09 | 2014-12-09 | Mapper Lithography Ip B.V. | Vibration isolation module and substrate processing system |
US9268216B2 (en) | 2011-09-09 | 2016-02-23 | Mapper Lithography Ip B.V. | Projection system with flexible coupling |
CN103797420A (zh) * | 2011-09-12 | 2014-05-14 | 迈普尔平版印刷Ip有限公司 | 具有基底板的真空腔室 |
JP6189303B2 (ja) | 2011-09-12 | 2017-08-30 | マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ. | 基板処理装置 |
DE102012219545A1 (de) * | 2012-10-25 | 2014-04-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungssystem für EUV-Lithographie und Verfahren zum Betreiben des Projektionsbelichtungssystems |
TW201643561A (zh) * | 2015-04-17 | 2016-12-16 | 尼康股份有限公司 | 曝光系統 |
US10048599B2 (en) | 2016-12-30 | 2018-08-14 | Mapper Lithography Ip B.V. | Adjustment assembly and substrate exposure system comprising such an adjustment assembly |
WO2018122003A1 (en) | 2016-12-30 | 2018-07-05 | Mapper Lithography Ip B.V. | Adjustment assembly and substrate exposure system comprising such an adjustment assembly |
Family Cites Families (56)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4727600A (en) * | 1985-02-15 | 1988-02-23 | Emik Avakian | Infrared data communication system |
JP2897355B2 (ja) | 1990-07-05 | 1999-05-31 | 株式会社ニコン | アライメント方法,露光装置,並びに位置検出方法及び装置 |
KR100300618B1 (ko) * | 1992-12-25 | 2001-11-22 | 오노 시게오 | 노광방법,노광장치,및그장치를사용하는디바이스제조방법 |
JP3316833B2 (ja) | 1993-03-26 | 2002-08-19 | 株式会社ニコン | 走査露光方法、面位置設定装置、走査型露光装置、及び前記方法を使用するデバイス製造方法 |
US6246204B1 (en) * | 1994-06-27 | 2001-06-12 | Nikon Corporation | Electromagnetic alignment and scanning apparatus |
JP3823358B2 (ja) * | 1996-02-08 | 2006-09-20 | 株式会社安川電機 | 永久磁石交流発電機 |
JP4029183B2 (ja) | 1996-11-28 | 2008-01-09 | 株式会社ニコン | 投影露光装置及び投影露光方法 |
JP4029182B2 (ja) | 1996-11-28 | 2008-01-09 | 株式会社ニコン | 露光方法 |
CN1244018C (zh) * | 1996-11-28 | 2006-03-01 | 株式会社尼康 | 曝光方法和曝光装置 |
DE69735016T2 (de) | 1996-12-24 | 2006-08-17 | Asml Netherlands B.V. | Lithographisches Gerät mit zwei Objekthaltern |
JPH1169742A (ja) * | 1997-08-13 | 1999-03-09 | Toshiba Corp | 永久磁石発電機の自動磁心合わせ装置 |
JPH11113239A (ja) * | 1997-10-06 | 1999-04-23 | Canon Inc | リニアモータ、これを用いたステージ装置や露光装置、ならびにデバイス製造方法 |
US6208407B1 (en) * | 1997-12-22 | 2001-03-27 | Asm Lithography B.V. | Method and apparatus for repetitively projecting a mask pattern on a substrate, using a time-saving height measurement |
US6331744B1 (en) * | 1998-02-10 | 2001-12-18 | Light Sciences Corporation | Contactless energy transfer apparatus |
WO1999046835A1 (fr) | 1998-03-11 | 1999-09-16 | Nikon Corporation | Dispositif a laser ultraviolet et appareil d'exposition comportant un tel dispositif a laser ultraviolet |
US6289152B1 (en) * | 1998-10-27 | 2001-09-11 | Adc Telecommunications, Inc. | Multiple port, fiber optic coupling device |
JP2000138279A (ja) * | 1998-10-29 | 2000-05-16 | Nikon Corp | ステージ装置及び露光装置 |
JP2000173884A (ja) * | 1998-12-02 | 2000-06-23 | Canon Inc | デバイス製造装置および方法ならびにデバイス製造装置の配線・配管実装方法 |
JP2000240717A (ja) * | 1999-02-19 | 2000-09-05 | Canon Inc | 能動的除振装置 |
JP2000353736A (ja) * | 1999-06-09 | 2000-12-19 | Canon Inc | ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法 |
JP2001015579A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Canon Inc | ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法 |
WO2001035168A1 (en) | 1999-11-10 | 2001-05-17 | Massachusetts Institute Of Technology | Interference lithography utilizing phase-locked scanning beams |
JP2001267227A (ja) * | 2000-03-21 | 2001-09-28 | Canon Inc | 除振システム、露光装置およびデバイス製造方法 |
DE60036032T2 (de) * | 2000-11-27 | 2008-05-08 | Fiberzone Networks Ltd. | Selbstausrichtende optomechanische crossbar-schalter |
JP4714403B2 (ja) | 2001-02-27 | 2011-06-29 | エーエスエムエル ユーエス,インコーポレイテッド | デュアルレチクルイメージを露光する方法および装置 |
JP2003021190A (ja) * | 2001-07-09 | 2003-01-24 | Canon Inc | 能動除振装置 |
TW529172B (en) * | 2001-07-24 | 2003-04-21 | Asml Netherlands Bv | Imaging apparatus |
JP4136363B2 (ja) * | 2001-11-29 | 2008-08-20 | キヤノン株式会社 | 位置決め装置及びそれを用いた露光装置 |
US6937911B2 (en) * | 2002-03-18 | 2005-08-30 | Nikon Corporation | Compensating for cable drag forces in high precision stages |
JP2004165198A (ja) * | 2002-11-08 | 2004-06-10 | Canon Inc | 半導体製造装置 |
KR20110086130A (ko) | 2002-12-10 | 2011-07-27 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 |
JP2005046941A (ja) * | 2003-07-31 | 2005-02-24 | Canon Inc | ケーブル微動ユニット付きステージ装置 |
US20050128449A1 (en) * | 2003-12-12 | 2005-06-16 | Nikon Corporation, A Japanese Corporation | Utilities transfer system in a lithography system |
US7062132B2 (en) * | 2003-12-23 | 2006-06-13 | Lucent Technologies Inc. | Coupler assembly for an optical backplane system |
US7190437B2 (en) * | 2003-12-30 | 2007-03-13 | Asml Netherlands B.V. | Wireless signaling in a lithographic apparatus |
JP4478470B2 (ja) * | 2004-01-26 | 2010-06-09 | キヤノン株式会社 | 位置決めステージ装置 |
US7589822B2 (en) | 2004-02-02 | 2009-09-15 | Nikon Corporation | Stage drive method and stage unit, exposure apparatus, and device manufacturing method |
WO2005083294A1 (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-09 | Nikon Corporation | 気体バネ装置、防振装置、ステージ装置及び露光装置 |
US7612329B2 (en) * | 2004-09-13 | 2009-11-03 | Space Photonics, Inc. | Apparatus and method for free space optical communications beam steering without gimbals |
KR101157003B1 (ko) * | 2004-09-30 | 2012-06-21 | 가부시키가이샤 니콘 | 투영 광학 디바이스 및 노광 장치 |
US7400790B2 (en) * | 2004-11-03 | 2008-07-15 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Optical connections and methods of forming optical connections |
JP4677267B2 (ja) * | 2005-04-04 | 2011-04-27 | キヤノン株式会社 | 平面ステージ装置及び露光装置 |
US7292317B2 (en) * | 2005-06-08 | 2007-11-06 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing substrate stage compensating |
JP4868113B2 (ja) | 2005-06-27 | 2012-02-01 | 株式会社ニコン | 支持装置、ステージ装置及び露光装置 |
JP2007115879A (ja) | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Nikon Corp | 露光装置及び露光システム並びにデバイス製造方法 |
JP5040657B2 (ja) * | 2005-10-24 | 2012-10-03 | 株式会社ニコン | 露光装置、露光方法、デバイスの製造方法、デバイス組立方法 |
JP2007123326A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Nikon Corp | メンテナンスシステム、露光装置及びデバイス製造方法 |
JP2007123319A (ja) | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Nikon Corp | 露光装置及びデバイス製造方法 |
JP2007123318A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Nikon Corp | 露光装置及びデバイス製造方法 |
JP2007123334A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Nikon Corp | ステージ装置、露光装置、デバイスの製造方法 |
JP2007123335A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Nikon Corp | メンテナンスシステム、メンテナンス方法、露光装置、デバイスの製造方法 |
JP2007123316A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Nikon Corp | ステージ装置及び露光装置並びにデバイス製造方法 |
JP2007123332A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Nikon Corp | ステージ装置、露光装置、デバイスの製造方法 |
JP2007240396A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Tokyo Univ Of Agriculture & Technology | 振動検出センサ、防振装置、及び露光装置 |
TWI454859B (zh) | 2006-03-30 | 2014-10-01 | 尼康股份有限公司 | 移動體裝置、曝光裝置與曝光方法以及元件製造方法 |
US8115906B2 (en) * | 2007-12-14 | 2012-02-14 | Nikon Corporation | Movable body system, pattern formation apparatus, exposure apparatus and measurement device, and device manufacturing method |
-
2008
- 2008-09-22 US US12/234,979 patent/US8421994B2/en active Active
- 2008-09-24 JP JP2008244197A patent/JP2009088512A/ja active Pending
- 2008-09-24 WO PCT/JP2008/067778 patent/WO2009041702A2/en active Application Filing
- 2008-09-26 TW TW097137005A patent/TW200935495A/zh unknown
-
2012
- 2012-10-22 JP JP2012232512A patent/JP5618163B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009088512A (ja) | 2009-04-23 |
WO2009041702A3 (en) | 2009-12-03 |
US20090086178A1 (en) | 2009-04-02 |
WO2009041702A2 (en) | 2009-04-02 |
TW200935495A (en) | 2009-08-16 |
US8421994B2 (en) | 2013-04-16 |
JP2013030802A (ja) | 2013-02-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5618163B2 (ja) | 露光装置 | |
JP6558721B2 (ja) | 移動体装置及び移動方法、露光装置及び露光方法、並びにフラットパネルディスプレイの製造方法及びデバイス製造方法 | |
KR101096479B1 (ko) | 스테이지 장치, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법 | |
JP5348630B2 (ja) | 露光装置及びデバイス製造方法 | |
US8891064B2 (en) | Moving body apparatus and exposure apparatus | |
JP5169221B2 (ja) | 露光装置及びその製造方法 | |
JP6551762B2 (ja) | 移動体装置、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法 | |
US10310392B2 (en) | Positioning device, lithographic apparatus and device manufacturing method | |
WO2009084199A1 (ja) | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 | |
JP2013506974A (ja) | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 | |
JP5348629B2 (ja) | 露光装置及びデバイス製造方法 | |
JP5348627B2 (ja) | 移動体装置、露光装置及びデバイス製造方法 | |
TW200302507A (en) | Stage device and exposure device | |
JPWO2005048325A1 (ja) | ステージ駆動方法及びステージ装置並びに露光装置 | |
US8953148B2 (en) | Exposure apparatus and making method thereof | |
TW201510671A (zh) | 移動體裝置及曝光裝置、以及元件製造方法 | |
JP6132079B2 (ja) | 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法 | |
JP2012531028A (ja) | 露光装置及びデバイス製造方法 | |
JP2008166614A (ja) | 移動体装置、露光装置、計測方法及び露光方法、並びにデバイス製造方法 | |
JP2010268604A (ja) | モータ装置及びステージ装置並びに露光装置 | |
JP2007311597A (ja) | 干渉計システム、ステージ装置及び露光装置 | |
JP2013506270A (ja) | ステージ装置、露光装置、駆動方法及び露光方法並びにデバイス製造方法 | |
JP6573131B2 (ja) | 移動体装置、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法 | |
JP2010010593A (ja) | 防振装置、ステージ装置及び露光装置 | |
JP2010034480A (ja) | ステージ装置及び露光装置並びにデバイス製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131217 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140114 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140606 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140709 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140821 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140903 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5618163 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |