JP5306732B2 - パワーアップ時ピーク電流を減少させるマルチチップパッケージ - Google Patents

パワーアップ時ピーク電流を減少させるマルチチップパッケージ Download PDF

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Description

本発明は、半導体メモリ装置に係り、さらに具体的には、単一パッケージ内に複数のチップが実装されるマルチチップパッケージに関する。
高性能、高密度、低コスト、そして構成要素及び装置の小型化は、半導体設計及び製造において共通の目標である。殆どの半導体装置が0.18μmまたはそれ以下の技術を利用して製造されている。しかし、高い集積レベルを具現するためには、もっと高い密度やもっと小さなサイズが要求されている。全般的なサイズ及び費用を減らすため、2個またはそれより多くの個別チップを単一パッケージ内に実装する技術が開発されている。今後、このような種類のパッケージ技術が主類になると予想されている。マルチチップパッケージ技術は、プロセッサとメモリチップ、ロジックチップとメモリチップ、または複数のメモリチップを単一パッケージに実装するために使用することができる。従って、コスト及び全般的なサイズが減少する。 単一パッケージに同一タイプのメモリチップ(ダイまたは装置)を実装すると、メモリ容量を増加させることができる。このようなマルチチップパッケージ技術によれば、単一パッケージに含まれたメモリチップが外部ピン(電源、アドレス、制御及びデータピン)を共有するように構成される。従って、単一パッケージに含まれたメモリチップは、オプションパッドを利用して区別される。
図1は、2個のメモリチップを単一パッケージ内に実装するデュアルチップパッケージの構成の一例を示す図である。
図1に示すように、2個のメモリチップ110、120を単一パッケージ100内に実装するデュアルチップパッケージ技術において、2個のメモリチップはオプションパッドを利用して上位メモリチップ120と下位メモリチップ110とに区別される。例えば、下位メモリチップ110のオプションパッドは接地電圧に連結され、上位メモリチップ120のオプションパッドは電源電圧に連結される。外部から入力されたアドレスが下位メモリチップ110を表す時(例えば、入力されたアドレスの最上位アドレスビットが下位メモリチップ110のオプションパッドの値と一致する時)、入力されたアドレスを利用して下位メモリチップ110をアクセスすることが可能である。
一方、外部から入力されたアドレスが上位メモリチップ120を表す時(例えば、入力されたアドレスの最上位アドレスビットが上位メモリチップ120のオプションパッドの値と一致する時)、入力されたアドレスを利用して上位メモリチップ120をアクセスすることが可能である。
最近は、マルチチップパッケージ内に2個のチップだけでなく2個以上のチップを実装して、メモリ容量を増大させたり、様々な機能のチップを単一パッケージに具現するための努力が続いている。
本発明の目的は、安定的な動作を行うマルチチップパッケージを提供することにある。
本発明の他の目的は、過度なピーク電流の発生を防止することができるマルチチップパッケージを提供することにある。
上記目的を達成すべく、本発明の特徴によれば、複数のメモリチップを含むマルチチップパッケージにおいて、前記メモリチップの各々は、E−ヒューズデータを格納するメモリセルアレイと、読み出し信号に応じてE−ヒューズデータが指示する読み出し動作を行う読み出し制御回路と、第1信号を受信する第1内部パッドと、第1制御信号に応じて読み出し動作のための読み出し期間を定義する前記読み出し信号を発生し、前記読み出し期間によって第2制御信号を発生する読み出し制御器と、前記読み出し制御器から前記第2制御信号を受信する第2内部パッドと、を含む。前記複数のメモリチップは直列に連結され、前記複数のメモリチップ各々内の前記読み出し制御回路及び前記読み出し制御器は、前記複数のメモリチップを横切ってE−ヒューズデータを順次に読み出すことを可能とするように作用する。
本実施の形態において、前記複数のメモリチップは第1及び第2メモリチップを含み、前記第1及び第2内部パッドは前記複数のメモリチップ各々に対して類似する連結パターンを含み、前記第1メモリチップの前記第2内部パッドは前記第2メモリチップの前記第1内部パッドと連結される。
本実施の形態において、前記第1及び第2内部パッドは前記複数のメモリチップ各々に対して類似する連結パターンを含み、前記第1メモリチップの前記第2内部パッドは前記第2メモリチップの前記第2内部パッドと連結される。
本実施の形態において、前記複数のメモリチップは第3メモリチップをさらに含み、前記第2メモリチップの前記第1内部パッドは前記第3メモリチップの第1内部パッドに連結される。
本実施の形態において、前記第1メモリチップの前記第1内部パッドは接地と連結される。
本実施の形態において、前記複数のメモリチップ各々は外部電源電圧と連結される外部パッドをさらに含む。
本実施の形態において、前記読み出し制御器は、前記読み出し信号、読み出し終了信号及びイネーブル信号を発生する制御ロジック回路と、前記第1内部パッドからの前記第1制御信号を受信し、前記制御ロジック回路から前記読み出し終了信号及び前記イネーブル信号を受信し、第1読み出し信号を発生する第1インタフェースと、前記第2内部パッドから第2制御信号を受信し、前記制御ロジック回路から前記読み出し終了信号及びイネーブル信号を受信し、第2読み出し信号を発生する第2インタフェースと、を含む。前記制御ロジック回路は、前記第1及び第2インタフェース各々から提供された前記第1及び第2読み出し信号に応じて読み出し信号を発生する。
本実施の形態において、前記第1インタフェースは、前記第1内部パッドと連結されたプルアップ抵抗と、前記プルアップ抵抗と接地との間に連結され、前記読み出し終了信号によって制御される第1トランジスタと、電源電圧と接地との間に連結された第2、第3及び第4トランジスタと、を含む。前記第2及び第3トランジスタのゲートはプルアップ抵抗と連結され、前記第4トランジスタのゲートは前記イネーブル信号と連結され、前記第1読み出し信号は前記第2及び第3トランジスタ間のノードで発生される。
本実施の形態において、前記第2インタフェースは、前記第2内部パッドに連結されたプルアップ抵抗と、前記プルアップ抵抗と接地との間に連結され、前記読み出し終了信号によって制御される第5トランジスタと、前記電源電圧と接地との間に連結される第6、第7及び第8トランジスタと、を含む。前記第6及び第7トランジスタのゲートは前記プルアップ抵抗と連結され、前記第8トランジスタのゲートは前記イネーブル信号と連結され、前記第2読み出し信号は前記第6及び第7トランジスタ間のノードで発生される。
本発明の他の特徴による複数のメモリチップを含むマルチチップパッケージにおいて、前記複数のメモリチップ各々は、E−ヒューズデータを格納するメモリセルアレイと、読み出し信号に応じてE−ヒューズデータと係わる読み出し動作を行う読み出し制御回路と、共通制御信号に連結された第1内部パッドと、前記第1制御信号に応じて前記読み出し動作の読み出し期間を定義する前記読み出し信号を発生し、前記読み出し期間によって第2制御信号を発生する読み出し制御器と、他のメモリチップと異なるように接地または電源電圧と各々連結された第2及び第3内部パッドと、を含む。前記複数のメモリチップは直列に連結され、前記複数のメモリチップ各々の内部の読み出し制御回路及び読み出し制御器各々は、前記複数のメモリチップを横切ってE−ヒューズデータを順次に読み出すことを可能とするように作用する。
本実施の形態において、前記読み出し制御器は、前記第1内部パッドを介して前記共通制御信号を受信し、前記読み出し信号を受信し、カウント値を発生するインタフェース回路と、前記第1及び第2内部パッドを介して接地電圧または電源電圧のうちの一つと前記インタフェース回路からのカウント値とを受信し、前記読み出し信号及びイネーブル信号を発生する制御ロジック回路と、を含む。
本実施の形態において、前記インタフェース回路は、前記第1内部パッドに連結されるプルアップ抵抗と、前記プルアップ抵抗と接地との間に連結され、前記読み出し信号によって制御される第1トランジスタと、前記電源電圧と接地との間に直列に連結された第2、第3及び第4トランジスタと、前記第2及び第3トランジスタ間のノードでのタイミング信号の論理的遷移によってカウント値を発生するカウンタと、を含む。前記第2及び第3トランジスタのゲートは前記プルアップ抵抗に連結され、そして前記第4トランジスタのゲートは前記イネーブル信号を受信する。
本実施の形態において、前記制御ロジック回路は、前記タイミング信号の遷移回数が前記第2及び第3内部パッドでの前記電源電圧または接地と一致すると、前記読み出し信号を出力する。
本実施の形態において、前記共通制御信号は前記複数のメモリチップのうち何れか一つの外部のプルアップ抵抗に連結される。
本実施の形態において、前記読み出し制御器は、前記第1内部パッドを介して前記共通制御信号と、前記読み出し信号とを受信し、カウント値を発生するインタフェース回路と、第1及び第2内部パッド各々を介して接地電圧または電源電圧のうちの一つと前記インタフェース回路からのカウント値とを受信し、読み出し信号及びイネーブル信号を発生する制御ロジック回路と、を含む。
本実施の形態において、前記インタフェース回路は、外部のプルアップ抵抗からの前記共通制御信号を受信する前記第1内部パッド及び接地と連結され、前記読み出し信号によって制御される第1トランジスタと、前記電源電圧と接地との間に直列に連結された第2、第3及び第4トランジスタと、前記第2及び第3トランジスタ間ノードのタイミング信号の論理的遷移と係わるカウント値を発生するカウンタと、を含み、前記第2及び第3トランジスタのゲートはプルアップ抵抗と連結され、前記第4トランジスタのゲートはイネーブル信号を受信する。
本実施の形態において、前記タイミング信号の遷移回数が前記第2及び第3内部パッドで前記電源電圧または接地によって表れる値と等しいと、前記制御ロジック回路は前記読み出し信号を出力する。
本発明のまた他の特徴によるパッケージを含むコンピューティングロジックシステムは、バスを介して連結され、マルチチップパッケージに具現されたメモリ装置内データを格納するために作用するマイクロプロセッサ及びメモリコントローラを含み、前記パッケージは複数のメモリチップを含む。前記複数のメモリチップ各々は、E−ヒューズデータを格納するメモリセルアレイと、読み出し信号に応じてE−ヒューズデータと係わる読み出し動作を行う読み出し制御回路と、第1制御信号を受信する第1内部パッドと、前記第1制御信号に応じて前記読み出し動作の読み出し期間を定義する前記読み出し信号を発生し、前記読み出し期間によって第2制御信号を発生する読み出し制御器と、前記読み出し制御器からの前記第2制御信号を受信する第2内部パッドと、を含む。
本実施の形態において、前記複数のメモリチップは直列に連結され、前記複数のメモリチップ各々の内部の読み出し制御回路及び読み出し制御器は、前記複数のメモリチップを横切ってE−ヒューズデータを順次に読み出すことが可能であるように作用する。
本実施の形態において、前記メモリ装置はフラッシュメモリ装置である。
本発明によれば、マルチチップパッケージ内のメモリチップが順次にE−ヒューズデータを読み出すことで、マルチチップパッケージで過度なピーク電流が消費されることを防止できる。
以下、本発明の好ましい実施の形態を添付の図面を参照して詳細に説明する。
レーザ溶断(blown)ヒューズは歴史的にメモリリダンダンシの制御とダイ識別のための論理プロセッサで使用されてきた。最近、レーザ溶断ヒューズは、電気的にプログラム可能なヒューズによって取り替えられている。電気的にプログラム可能なヒューズ(electrical fuse 、以下E−ヒューズ)とは、メモリチップの動作に必要な情報、例えば、電源トリム(trim)情報、オプション(option)情報、リペア(repair)情報及びバッドブロック(bad block)情報をE−ヒューズデータとしてメモリセルアレイの特定領域に格納した後、パワーアップ時点にE−ヒューズデータ読み出しプロセスにより読み出されたE−ヒューズデータをラッチに格納する一連の過程を意味する。
複数のメモリチップが実装されたマルチチップパッケージのパワーアップ時、複数のメモリチップは同時にE−ヒューズデータを読み出す。従って、図2に図示するように、パワーアップ時にマルチチップパッケージで消費される電流の量が急激に増加する。例えば、マルチチップパッケージが4個のメモリチップを含むと仮定する。この時、マルチチップパッケージはそれぞれのメモリチップで消費する電流の4倍を一度に消費する。従って、マルチチップパッケージは、シングルチップパッケージに比べて4倍のピーク電流を消費するようになる。このような過度なピーク電流はメモリチップの誤動作を引き起こす虞がある。
図3は、パワーアップ時E−ヒューズデータの読み出しに消費されるピーク電流を減少させることができるマルチチップパッケージの構成を示すブロック図である。
図3に示すように、マルチチップパッケージ300は4個のメモリチップ310〜340を含む。メモリチップ310〜340のそれぞれは、E−ヒューズデータの読み出しに消費されるピーク電流を減少させるための2個のパッドと外部電源電圧を供給してもらうためのパッドを含む。マルチチップパッケージ300に含まれるメモリチップの数は様々に変更することができ、メモリチップのそれぞれはE−ヒューズデータの読み出しに消費されるピーク電流を減少させるための2個のパッドだけでなく複数のパッドをさらに含むことができる。
メモリチップ310はパッド311、312、313を含み、メモリチップ320はパッド321、322、323を含み、メモリチップ330はパッド331、332、333を含み、そしてメモリチップ340はパッド341、342、343を含む。メモリチップ310〜340はそれぞれのパッドを介して直列に連結される。即ち、メモリチップ310、320はパッド312、321を介して連結され、メモリチップ320、330はパッド322、331を介して連結され、そしてメモリチップ330、340はパッド332、341を介して連結される。一番目のメモリチップ310のパッド311は接地電圧と連結される。他の実施の形態で、パッド(LAPD0)は電源電圧と連結することができる。
このように直列に連結されたメモリチップ310〜340は順次にE−ヒューズデータを読み出す。即ち、メモリチップ310からE−ヒューズデータを読み出す動作を行い、メモリチップ310のE−ヒューズデータ読み出し動作が終了すると、次のメモリチップ320がE−ヒューズデータ読み出し動作を行う。メモリチップ310〜340が順次にE−ヒューズデータを読み出すので、パワーアップ時ピーク電流はメモリチップ310〜340それぞれのピーク電流に過ぎない。従って、パワーアップ時に複数のメモリチップ310〜340が同時にE−ヒューズデータ読み出し動作を行うことによる誤動作発生が防止される。
図4は、図3に図示されたメモリチップ310の詳細な構成を示すブロック図である。図面に図示されていないが、図3に図示された他のメモリチップ320〜340もメモリチップ310と同様な構成を有する。
図4に示すように、メモリチップ310は、レベル検出器411、読み出し制御器412、メモリセルアレイ413、読み出し回路415及びラッチ416を含む。本明細書で、読み出し制御器412及び読み出し回路415を読み出し制御回路と称する。メモリセルアレイ413は、一般的なデータを格納する領域の他にE−ヒューズデータを格納するための領域414を含む。E−ヒューズデータ領域414に格納されるデータは、メモリチップの動作に必要な情報、例えば、電源トリム(trim)情報、オプション(option)情報、リペア(repair)情報及びバッドブロック(bad block)情報などを含む。
レベル検出器411は、パッド313を介して入力される外部電源電圧EVCが所定レベル以上上昇した時、活性化された検出信号を読み出し制御器412に出力する。読み出し制御器412は、レベル検出器411からの検出信号が活性化されると、パッド311から入力される信号LP1に応じて信号LP2及び読み出し命令(read invoke)信号RD_INV0を出力する。
読み出し回路415は、読み出し制御器412からの読み出し命令信号RD_INV0に応じてE−ヒューズデータ領域414からE−ヒューズデータを読み出す。読み出し回路415で読み出されたE−ヒューズデータはラッチ316にラッチされる。
このような構成を有するメモリチップ310の動作を図5に図示されたタイミング図を参照して説明する。
図5を参照すれば、マルチチップパッケージ300がパワーアップされて外部電源電圧EVCが所定レベルに上昇すると、読み出し制御器412はパッド311を介して入力されるローレベルの信号LP1に応じて所定時間の間ハイレベルに保持される読み出し命令信号RD_INV0を出力する。読み出し回路415は、ハイレベルの読み出し命令信号RD_INV0に応じてE−ヒューズデータ領域414からE−ヒューズデータを読み出す。読み出し制御器412は、読み出し命令信号RD_INV0がローレベルに遷移する時点に、パッド312にローレベルパルス信号RP0を出力する。
メモリチップ310から出力されるローレベルパルス信号RP0は、図3に図示されたパッド321を介してメモリチップ320に入力される。このような方法でマルチチップパッケージ300内メモリチップ310〜340が順次にE−ヒューズデータを読み出す。
図6は、本発明の他の実施の形態によるマルチチップパッケージの構成を示す図である。
図6に示すように、マルチチップパッケージ600内メモリチップ610〜640は、それぞれ2個のパッドを含む。メモリチップ610〜640はパッドを介して直列に連結されるが、メモリチップ610〜640に具備されたパッドが順番をずらして連結された構造を有する。一般的にマルチチップパッケージ600内に実装されるメモリチップ610〜640は積層型構造を有する。メモリチップを連結する配線が縺れることを防止するためには、図6のように、メモリチップ610〜640に具備されたパッドの順番をずらして連結することが好ましい。図6に図示されたメモリチップ610〜640それぞれの内部回路構成は、図4に図示されたものと同様である。
図7は、図6に図示されたマルチチップパッケージ構造において、図4に図示されたメモリチップ内の読み出し制御回路の好ましい実施の形態による具体的な構成を示す図である。
図7に示すように、読み出し制御器700は第1インタフェース710、第2インタフェース720及び制御ロジック730を含む。第1インタフェース710はパッド611と連結され、パッド611から入力される信号LP0及び/または制御ロジック730からの読み出し終了信号RD_C0及びイネーブル信号EN0に応じて読み出し開始信号RD_SOAを出力する。
第1インタフェース710は、プルアップ抵抗711、NMOSトランジスタ712、714、715及びPMOSトランジスタ713を含む。プルアップ抵抗711の一端はパッド611と連結される。NMOSトランジスタ712は、プルアップ抵抗711の一端と接地電圧との間に連結され、読み出し終了信号RD_C0によって制御される。トランジスタ713〜715は、電源電圧と接地電圧との間に直列に順次に連結される。PMOSトランジスタ713とNMOSトランジスタ714のゲートはパッド611と連結され、それらの連結ノードの信号は読み出し開始信号RD_SOAとして出力される。NMOSトランジスタ715のゲートはイネーブル信号EN0と連結される。
第2インタフェース720はパッド612と連結され、パッド612から入力される信号及び/または制御ロジック730からの読み出し終了信号RD_C0及びイネーブル信号EN0に応じて読み出し開始信号RD_SOBを出力する。第2インタフェース720は第1インタフェース710と同様の回路構成を有する。制御ロジック730は、読み出し開始信号RD_SOA、RD_SOBに応じて読み出し命令信号RD_INV0、イネーブル信号EN0及び読み出し終了信号RD_C0を出力する。制御ロジック730は、読み出し開始信号RD_SOA、RD_SOBのうち何れか一つがハイレベルに遷移するのに応じて、イネーブル信号EN0及び読み出し終了信号RD_C0を出力する。
図8は、図7に図示された読み出し制御器700の動作に使用される信号のタイミング図である。
図6乃至図8を参照すれば、パワーアップ時に一番目のメモリチップ610のパッド611に入力される信号LP0は接地電圧、即ち、ローレベルであり、他のパッド621〜641、612〜642は電源電圧、即ち、ハイレベルに設定される。
メモリチップ610のパッド611に入力される信号LP0が接地電圧レベルなので、PMOSトランジスタ713がターンオンされ、読み出し開始信号RD_SOAはハイレベルになる。制御ロジック730は、ハイレベルの読み出し開始信号RD_SOAに応じて、所定時間の間ハイレベルに保持される読み出し命令信号RD_INV0を出力する。読み出し回路614は、ハイレベルの読み出し命令信号RD_INV0に応じてE−ヒューズデータ領域からE−ヒューズデータを読み出す。
制御ロジック730は読み出し開始信号RD_SOAがハイレベルに遷移すると同時にイネーブル信号EN0をローレベルに遷移させる。イネーブル信号EN0に応じてNMOSトランジスタ715、725がターンオフされる。
所定時間が経過した後、制御ロジック730は読み出し命令信号RD_INV0をローレベルに遷移させ、ハイレベルパルス信号を読み出し完了信号RD_C0として出力する。読み出し完了信号RD_C0がハイレベルである間、NMOSトランジスタ712、722はターンオンされる。従って、次のメモリチップがE−ヒューズデータを読み出すように制御するためのローレベルパルス信号RP2がパッド612を介して出力される。
続いて、パッド622を介してメモリチップ610のパッド612と連結されたメモリチップ620がE−ヒューズデータ読み出し動作を行う。この時、メモリチップ620は、パッド622を介してE−ヒューズデータ読み出し動作開始のためのパルス信号RP1を受信し、パッド621を介して次のメモリチップ630がE−ヒューズデータ読み出し動作を行うようにパルス信号LP1を出力する。
図7に図示されたように、第1及び第2インタフェース710、720が同一の回路構成を有するので、パッド611、612のうち何れか一つがパルス信号入力のために使用されると、他の一つはパルス信号出力に使用される。従って、複数のメモリチップ610〜640が全て同一に設計されても、マルチチップパッケージ600でメモリチップ610〜640に具備されたパッドをずらして連結することができる。
上述したように、マルチチップパッケージ600内メモリチップ610〜640が順次にE−ヒューズデータを読み出すことで、過度なピーク電流発生を防止することができる。
図9は、本発明の他の実施の形態によるマルチチップパッケージを示す図である。。
図9に示すように、マルチチップパッケージ900はメモリチップ910〜940を含む。メモリチップ910〜940はそれぞれ3個のパッドを含む。即ち、メモリチップ910はパッド911〜913を含み、メモリチップ920はパッド921〜923を含み、メモリチップ930はパッド931〜933を含み、そしてメモリチップ940はパッド941〜943を含む。メモリチップ910のパッド912、913、メモリチップ920のパッド922、923、メモリチップ930のパッド932、933、そしてメモリチップ940のパッド942、943は電源電圧及び/または接地電圧と連結されて、メモリチップ910〜940が区別されるようにする。例えば、マルチチップパッケージ900に含まれるメモリチップの数によって、メモリチップを区別するためのパッドの数が定まる。メモリチップ910〜940のパッド911、921、931、941は共通に連結される。
図10は、図9に図示された読み出し制御回路の構成を示す図である。
図10に示すように、読み出し制御回路は読み出し制御器914及び読み出し回路915を含む。読み出し制御器914は、プルアップ抵抗1011、NMOSトランジスタ1012、1014、1015、PMOSトランジスタ1013、カウンタ1016及び制御ロジック1017を含む。プルアップ抵抗1011の一端はパッド911と連結される。NMOSトランジスタ1012は、プルアップ抵抗1011の一端と接地電圧との間に連結され、読み出し回路915からの読み出し完了信号RD_C0によって制御される。
トランジスタ1013〜1015は電源電圧と接地電圧との間に直列に順次に連結される。PMOSトランジスタ1013とNMOSトランジスタ1014のゲートはパッド911と連結され、NMOSトランジスタ1015のゲートは、制御ロジック1017から出力されるイネーブル信号EN0と連結される。カウンタ1016は、トランジスタ1013、1014の連結ノードN1の信号のポフォーリングエッジをカウントし、カウント値を制御ロジック1017に出力する。制御ロジック1017は、カウンタ1016から出力されるカウント値とパッド912、913から入力される信号とが一致すると、所定時間の間ハイレベルに保持される読み出し命令信号RD_INV0を出力する。また、制御ロジック1017は、読み出し命令信号RD_INV0をハイレベルに遷移させると同時にイネーブル信号EN0をローレベルに設定する。
図11は、図9に図示されたメモリチップから出力される信号を示すタイミング図である。図11に図示されたタイミング図を参照して図10に図示された読み出し制御器914の動作を説明する。
図9乃至図11を参照すれば、パワーアップ時プルアップ抵抗1011を介してパッド911にはハイレベルの信号LP0が印加される。カウンタ1016の初期値が0に設定されていたら、カウンタ1016から出力されるカウント値「0」とパッド912、913を介して入力される値「00」とが一致するので、制御ロジック1017は所定時間の間ハイレベルに保持される読み出し命令信号RD_INV0を出力する。また、制御ロジック1017はイネーブル信号EN0をローレベルに設定する。
読み出し命令信号RD_INV0がハイレベルである間、読み出し回路915はE−ヒューズデータ読み出し動作を行う。読み出し命令信号RD_INV0がハイレベルに遷移することによって、NMOSトランジスタ1012がターンオンされてパッド911を介して出力される信号はローレベルに遷移する。読み出し命令信号RD_INV0がハイレベルからローレベルに遷移することによって、NMOSトランジスタ1012がターンオフされ、プルアップ抵抗1011を介してパッド911にハイレベルの信号が出力される。
一方、メモリチップ910〜940内のカウンタ(図示せず)は、対応するパッド911〜941を介して入力される信号LP0〜LP3がローレベルからハイレベルに遷移する度にt1〜t3カウント動作を行うようになる。
例えば、メモリチップ920内カウンタはポイントt1でノードN1がディスチャージされることによってカウントアップする。カウンタのカウント値が「1」で、パッド922、923を介して入力される信号が「01」なので、制御ロジック1017はハイレベルの読み出し命令信号RD_INV1を出力する。同じく、メモリチップ930内カウンタはポイントt1、t2でそれぞれカウントアップを行い、カウント値が「2」で、パッド932、933を介して入力される信号が「10」なので、制御ロジック1017はハイレベルの読み出し命令信号RD_INV2を出力する。このような方法で、マルチチップパッケージ900内のメモリチップ910〜940は順次にE−ヒューズデータを読み出すことができる。
図12は、本発明のまた他の実施の形態によるマルチチップパッケージを示す図である。
図12に示すように、マルチチップパッケージ1200はメモリチップ1210〜1240を含む。メモリチップ1210〜1240は、R/B(ready/busy)パッド1211〜1241を介して共通に連結され、プルアップ抵抗1201と連結される。図12に図示されたマルチチップパッケージ1200は、図9に図示されたマルチチップパッケージ900と異なり、プルアップ抵抗1201がメモリチップ1210〜1240の外に位置する。即ち、メモリチップ1210〜1240それぞれの内部にはプルアップ抵抗が存在しない。
図13は、図12に図示されたメモリチップ1210内の読み出し制御回路の構成を示す。図13に図示された制御器1214は図10に図示された制御器914と類似するが、プルアップ抵抗を含んでいない。
このような構成を有するマルチチップパッケージ1200でもメモリチップ1210〜1240がそれぞれ順次にE−ヒューズデータを読み出すので、マルチチップパッケージ1200の過度なピーク電流発生が防止される。
図14は、本発明によるマルチチップパッケージを含むコンピューティングシステムを概略的に示す図である。本発明によるコンピューティングシステム1400は、バス1401に電気的に連結されたマイクロプロセッサ1410、ユーザインタフェース1420、ベースバンドチップセット(baseband chipset)のようなモデム1460、メモリコントローラ1440及びフラッシュメモリ装置1450を含む。フラッシュメモリ装置1450は、図3、図6、図9及び図12に図示されたマルチチップパッケージのうち何れか一つと実質的に同様に構成される。フラッシュメモリ装置1450には、マイクロプロセッサ1410によって処理された/処理されるN-ビットデータ(Nは1またはそれより大きい整数)がメモリコントローラ1440を介して格納される。
本発明によるコンピューティングシステム1400がモバイル装置である場合、コンピューティングシステム1400の動作電圧を供給するためのバッテリ1430が追加的に提供される。図面には図示されていないが、本発明によるコンピューティングシステム1400にはアプリケーションチップセット(application chipset)、カメライメージプロセッサ(Camera Image Processor:CIS)、モバイルDRAMなどがさらに提供できることは、当分野の通常的な知識を習得した者に自明である。メモリコントローラ1440とフラッシュメモリ装置1450とは、例えば、データを格納するために不揮発性メモリを使用するSSD(Solid State Drive/Disk)を構成することができる。他の実施の形態で、メモリコントローラ1440とフラッシュメモリ装置1450とは単一パッケージに実装することができる。
本発明によるメモリチップは様々な形態のパッケージを利用して実装することができる。例えば、本発明によるメモリチップは、パッケージオンパッケージ(PoP:Package on Package)、ボールグリッドアレイ(BGAs:Ball grid arrays)、チップスケールパッケージ(CSPs:Chip scale packages)、プラスチック鉛添加チップキャリア(PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier)、プラスチックデュアルイン−ラインパッケージ(PDIP:Plastic Dual In−Line Package)、ダイインワッフルパック(Die in Waffle Pack)、ダイインウェハフォーム(Die in Wafer Form)、チップオンボード(COB:Chip On Board)、セラミックデュアルイン‐ラインパッケージ(CERDIP:Ceramic Dual In−Line Package)、プラスチックメトリッククワッドフラットパック(PMQFP:Plastic Metric Quad Flat Pack)、薄型クワッドフラットパック(TQFP:Thin Quad Flat pack)、スモールアウトライン集積回路(SOIC:Small Outline Integrated Circuit)、シュリンクスモールアウトラインパッケージ(SSOP:Shrink Small Outline Package)、薄型スモールアウトラインパッケージ(TSOP:Thin Small Outline Package)、システムインパッケージ(SIP:System In Package)、マルチチップパッケージ(MCP:Multi Chip Package)、ウエハレベル製造されたパッケージ(WFP:Wafer‐level Fabricated Package)、ウエハレベル処理されたスタックパッケージ(WSP:Wafer‐level Processed Stack Package)などのようなパッケージを利用して実装することができる。
例示的な好ましい実施の形態を利用して本発明を説明したが、本発明の範囲は開示された実施の形態に限定されないということはよく理解されるであろう。従って、請求の範囲は、そのような変形例及びその類似した構成を全て含むことであり、できるかぎり幅広く解釈されるべきである。
2個のメモリチップを単一パッケージ内に実装するデュアルチップパッケージの構成の一例を示す図である。 パワーアップ時にマルチチップパッケージで消費されるピーク電流変化を示す図である。 パワーアップ時にE−ヒューズデータの読み出しに消費されるピーク電流を減少させるマルチチップパッケージの構成を示すブロック図である。 図3に図示されたメモリチップの詳細な構成を示すブロック図である。 メモリチップの動作に使用される信号のタイミング図である。 本発明の他の実施の形態によるマルチチップパッケージの構成を示す図である。 図6に図示されたマルチチップパッケージ構造において、図4に図示されたメモリチップ内の読み出し制御回路の好ましい実施の形態による具体的な構成を示す図である。 図7に図示された読み出し制御器の動作に使用される信号のタイミング図である。 本発明の他の実施の形態によるマルチチップパッケージを示す図である。 図9に図示された読み出し制御回路の構成を示す図である。 図9に図示されたメモリチップから出力される信号を示すタイミング図である。 本発明のまた他の実施の形態によるマルチチップパッケージを示す図である。 図12に図示されたメモリチップ内の読み出し制御回路の構成を示す図である。 本発明によるマルチチップパッケージを含むコンピューティングシステムを示す図である。
符号の説明
300 マルチチップパッケージ
310〜340 メモリチップ
311〜313、321〜323、331〜333、341〜343 パッド

Claims (6)

  1. 複数のメモリチップを含むマルチチップパッケージであって、
    前記メモリチップの各々は、
    E−ヒューズデータを格納するメモリセルアレイと、
    読み出し信号に応じてE−ヒューズデータ読み出し動作を行う読み出し回路と、
    第1制御信号を外部から受信、または、外部へ送信する第1内部パッドと、
    第2制御信号を外部から受信、または、外部へ送信する第2内部パッドと
    前記第1または第2内部パッドが受信した前記第1または第2制御信号に応じて読み出し動作のための読み出し期間を定義する前記読み出し信号を発生し、前記読み出し期間によって制御信号を発生する読み出し制御器と、を有し、
    前記読み出し制御器は、
    前記第1内部パッドが前記第1制御信号を外部から受信した場合には、発生した前記制御信号を第2の制御信号として外部へ送信するために前記第2内部パッドへ送信し、
    前記第2内部パッドが第2制御信号を外部から受信した場合には、発生した前記制御信号を第1の制御信号として外部へ送信するために前記第1内部パッドへ送信し、
    前記複数のメモリチップは直列に連結され、前記複数のメモリチップ各々内の前記読み出し制御回路及び前記読み出し制御器は、前記複数のメモリチップ各々内のメモリセルアレイに格納されたE−ヒューズデータを順次に読み出すことを可能とすることを特徴とするマルチチップパッケージ。
  2. 前記読み出し制御器は、
    前記読み出し信号、読み出し終了信号及びイネーブル信号を発生する制御ロジック回路と、
    前記第1内部パッドに接続され、前記制御ロジック回路から前記読み出し終了信号及び前記イネーブル信号を受信し、第1読み出し信号を発生する第1インタフェースと、
    前記第2内部パッドに接続され、前記制御ロジック回路から前記読み出し終了信号及びイネーブル信号を受信し、第2読み出し信号を発生する第2インタフェースと、を含み、
    前記制御ロジック回路は、前記第1及び第2インタフェース各々から提供された前記第1及び第2読み出し信号に応じて読み出し信号を発生し、
    前記第1のインタフェースが受信に用いられる場合には、前記第2のインタフェースは送信に用いられ、前記第1のインタフェースが送信に用いられる場合には、前記第2のインタフェースは受信に用いられることを特徴とする請求項に記載のマルチチップパッケージ。
  3. 前記第1インタフェースは、
    前記第1内部パッドと連結されたプルアップ抵抗と、
    前記プルアップ抵抗と接地との間に連結され、前記読み出し終了信号によって制御される第1トランジスタと、
    電源電圧と接地との間に連結された第2、第3及び第4トランジスタと、を含み、
    前記第2及び第3トランジスタのゲートはプルアップ抵抗と連結され、前記第4トランジスタのゲートは前記イネーブル信号と連結され、前記第1読み出し信号は前記第2及び第3トランジスタ間のノードで発生されることを特徴とする請求項に記載のマルチチップパッケージ。
  4. 前記第2インタフェースは、
    前記第2内部パッドに連結されたプルアップ抵抗と、
    前記プルアップ抵抗と接地との間に連結され、前記読み出し終了信号によって制御される第5トランジスタと、
    前記電源電圧と接地との間に連結される第6、第7及び第8トランジスタと、を含み、
    前記第6及び第7トランジスタのゲートは前記プルアップ抵抗と連結され、前記第8トランジスタのゲートは前記イネーブル信号と連結され、前記第2読み出し信号は前記第6及び第7トランジスタ間のノードで発生されることを特徴とする請求項に記載のマルチチップパッケージ。
  5. パッケージを含むコンピューティングロジックシステムであって、
    バスを介して連結され、マルチチップパッケージに具現されたメモリ装置内データを格納するために作用するマイクロプロセッサ及びメモリコントローラを含み、
    前記パッケージは複数のメモリチップを含み、
    前記メモリチップの各々は、
    E−ヒューズデータを格納するメモリセルアレイと、
    読み出し信号に応じてE−ヒューズデータ読み出し動作を行う読み出し回路と、
    第1制御信号を外部から受信、または、外部へ送信する第1内部パッドと、
    第2制御信号を外部から受信、または、外部へ送信する第2内部パッドと
    前記第1または第2内部パッドが受信した前記第1または第2制御信号に応じて読み出し動作のための読み出し期間を定義する前記読み出し信号を発生し、前記読み出し期間によって制御信号を発生する読み出し制御器と、を有し、
    前記読み出し制御器は、
    前記第1内部パッドが前記第1制御信号を外部から受信した場合には、発生した前記制御信号を第2の制御信号として外部へ送信するために前記第2内部パッドへ送信し、
    前記第2内部パッドが第2制御信号を外部から受信した場合には、発生した前記制御信号を第1の制御信号として外部へ送信するために前記第1内部パッドへ送信し、
    前記複数のメモリチップは直列に連結され、前記複数のメモリチップ各々内の前記読み出し制御回路及び前記読み出し制御器は、前記複数のメモリチップ各々内のメモリセルアレイに格納されたE−ヒューズデータを順次に読み出すことを可能とすることを特徴とするコンピューティングロジックシステム。
  6. 前記メモリ装置はフラッシュメモリ装置であることを特徴とする請求項に記載のコンピューティングロジックシステム。
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