JP5229901B2 - 光電変換素子、及び太陽電池 - Google Patents
光電変換素子、及び太陽電池 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5229901B2 JP5229901B2 JP2009054745A JP2009054745A JP5229901B2 JP 5229901 B2 JP5229901 B2 JP 5229901B2 JP 2009054745 A JP2009054745 A JP 2009054745A JP 2009054745 A JP2009054745 A JP 2009054745A JP 5229901 B2 JP5229901 B2 JP 5229901B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric conversion
- layer
- alkali
- metal
- earth
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/10—Semiconductor bodies
- H10F77/16—Material structures, e.g. crystalline structures, film structures or crystal plane orientations
- H10F77/169—Thin semiconductor films on metallic or insulating substrates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D11/00—Electrolytic coating by surface reaction, i.e. forming conversion layers
- C25D11/02—Anodisation
- C25D11/04—Anodisation of aluminium or alloys based thereon
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F10/00—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
- H10F10/10—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
- H10F10/16—Photovoltaic cells having only PN heterojunction potential barriers
- H10F10/167—Photovoltaic cells having only PN heterojunction potential barriers comprising Group I-III-VI materials, e.g. CdS/CuInSe2 [CIS] heterojunction photovoltaic cells
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/10—Semiconductor bodies
- H10F77/12—Active materials
- H10F77/126—Active materials comprising only Group I-III-VI chalcopyrite materials, e.g. CuInSe2, CuGaSe2 or CuInGaSe2 [CIGS]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/10—Semiconductor bodies
- H10F77/16—Material structures, e.g. crystalline structures, film structures or crystal plane orientations
- H10F77/169—Thin semiconductor films on metallic or insulating substrates
- H10F77/1696—Thin semiconductor films on metallic or insulating substrates the films including Group II-VI materials, e.g. CdTe or CdS
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/10—Semiconductor bodies
- H10F77/16—Material structures, e.g. crystalline structures, film structures or crystal plane orientations
- H10F77/169—Thin semiconductor films on metallic or insulating substrates
- H10F77/1698—Thin semiconductor films on metallic or insulating substrates the metallic or insulating substrates being flexible
- H10F77/1699—Thin semiconductor films on metallic or insulating substrates the metallic or insulating substrates being flexible the films including Group I-III-VI materials, e.g. CIS or CIGS on metal foils or polymer foils
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/203—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials using transformation of metal, e.g. oxidation or nitridation
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/22—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials using physical deposition, e.g. vacuum deposition or sputtering
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/34—Deposited materials, e.g. layers
- H10P14/3402—Deposited materials, e.g. layers characterised by the chemical composition
- H10P14/3436—Deposited materials, e.g. layers characterised by the chemical composition being chalcogenide semiconductor materials not being oxides, e.g. ternary compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/24—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials using chemical vapour deposition [CVD]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/26—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials using liquid deposition
- H10P14/265—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials using liquid deposition using solutions
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/541—CuInSe2 material PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
従来、太陽電池においては、バルクの単結晶Si又は多結晶Si、あるいは薄膜のアモルファスSiを用いたSi系太陽電池が主流であったが、Siに依存しない化合物半導体系太陽電池の研究開発がなされている。化合物半導体系太陽電池としては、GaAs系等のバルク系と、Ib族元素とIIIb族元素とVIb族元素とからなるCIS(Cu−In−Se)系あるいはCIGS(Cu−In−Ga−Se)系等の薄膜系とが知られている。CIS系あるいはCIGS系は、光吸収率が高く、高エネルギー変換効率が報告されている。
好ましい拡散防止層としては、TiN,Al2O3,SiO2,Si3N4,ZrO2,又はTiO2から選択される絶縁性の拡散防止層(請求項8)、及びTiN,Pt,又はPdから選択される導電性の拡散防止層(請求項9)が挙げられている。
特許文献1に記載の陽極酸化基板を用いる光電変換素子においては、アルカリ(土類)金属の拡散を抑制する拡散防止層を設けること自体、過去に報告されていない。
本発明はまた、上記光電変換素子において、素子の歪が緩和され、マイクロクラック・膜剥離等が抑制された光電変換素子を提供することを目的とするものである。
Alを主成分とする金属基材の少なくとも一方の面側に陽極酸化膜を有する陽極酸化基板上に、Moを主成分とする下部電極と光吸収により電流を発生する光電変換半導体層と上部電極との積層構造を有する光電変換素子において、
前記下部電極に接して、若しくは前記下部電極の内部に、1種又は2種以上のアルカリ金属及び/又はアルカリ土類金属を含み、前記光電変換半導体層の成膜時に該層にアルカリ金属及び/又はアルカリ土類金属を供給する少なくとも1層のアルカリ(土類)金属供給層を備え、かつ、
前記アルカリ(土類)金属供給層よりも前記陽極酸化基板側に、前記下部電極及び/又は前記アルカリ(土類)金属供給層に接して、若しくは前記下部電極の内部に、前記アルカリ(土類)金属供給層に含まれる前記アルカリ金属及び/又はアルカリ土類金属の前記陽極酸化基板側への拡散を抑制する少なくとも1層の導電性の拡散防止層を備えたことを特徴とするものである。
前記光電変換半導体層の主成分は、Ib族元素とIIIb族元素とVIb族元素とからなる少なくとも1種の化合物半導体であることが好ましい。
Cu及びAgからなる群より選択された少なくとも1種のIb族元素と、
Al,Ga及びInからなる群より選択された少なくとも1種のIIIb族元素と、
S,Se,及びTeからなる群から選択された少なくとも1種のVIb族元素とからなる少なくとも1種の化合物半導体であることが好ましい。
前記アルカリ(土類)金属供給層はポリ酸(ここで言うポリ酸にはヘテロポリ酸も含まれる)のアルカリ金属塩及び/又はアルカリ土類金属塩を含むことが好ましい。
前記ポリ酸としては、モリブデン酸及び/又はタングステン酸が挙げられる。
前記拡散防止層の主成分はCr及び/又はTiであることが好ましい。
本発明によれば、上記光電変換素子において、素子の歪が緩和され、マイクロクラック・膜剥離等が抑制された光電変換素子を提供することができる。
図面を参照して、本発明に係る一実施形態の光電変換素子の構造について説明する。図1は光電変換素子の直列接続構造を表す模式断面図、図2は陽極酸化基板の構成を示す模式断面図、図3は陽極酸化基板の製造方法を示す斜視図である。視認しやすくするため、図中、各構成要素の縮尺等は実際のものとは適宜異ならせてある。
本実施形態において、陽極酸化基板10はAlを主成分とする金属基材11の少なくとも一方の面側を陽極酸化して得られた基板である。陽極酸化基板10は、図2の左図に示すように、金属基材11の両面側に陽極酸化膜12が形成されたものでもよいし、図2の右図に示すように、金属基材11の片面側に陽極酸化膜12が形成されたものでもよい。陽極酸化膜12はAl2O3を主成分とする膜である。
光電変換層30は光吸収により電流を発生する層である。その主成分は特に制限されず、少なくとも1種のカルコパイライト構造の化合物半導体であることが好ましい。光電変換層30の主成分は、Ib族元素とIIIb族元素とVIb族元素とからなる少なくとも1種の化合物半導体であることが好ましい。
光電変換層30の主成分は、
Cu及びAgからなる群より選択された少なくとも1種のIb族元素と、
Al,Ga及びInからなる群より選択された少なくとも1種のIIIb族元素と、
S,Se,及びTeからなる群から選択された少なくとも1種のVIb族元素とからなる少なくとも1種の化合物半導体であることが好ましい。
CuAlS2,CuGaS2,CuInS2,
CuAlSe2,CuGaSe2,CuInSe2(CIS),
AgAlS2,AgGaS2,AgInS2,
AgAlSe2,AgGaSe2,AgInSe2,
AgAlTe2,AgGaTe2,AgInTe2,
Cu(In1−xGax)Se2(CIGS),Cu(In1−xAlx)Se2,Cu(In1−xGax)(S,Se)2,
Ag(In1−xGax)Se2,及びAg(In1−xGax)(S,Se)2等が挙げられる。
3段階法(J.R.Tuttle et.al,Mat.Res.Soc.Symp.Proc.,Vol.426(1996)p.143.等)と、
ECグループの同時蒸着法(L.Stolt et al.:Proc.13th ECPVSEC(1995,Nice)1451.等)とが知られている。
前者の3段階法は、高真空中で最初にIn、Ga、及びSeを基板温度300℃で同時蒸着し、次に500〜560℃に昇温してCu及びSeを同時蒸着後、In、Ga、及びSeをさらに同時蒸着する方法である。後者のECグループの同時蒸着法は、蒸着初期にCu過剰CIGS、後半でIn過剰CIGSを蒸着する方法である。
a)イオン化したGaを使用する方法(H.Miyazaki, et.al, phys.stat.sol.(a),Vol.203(2006)p.2603.等)、
b)クラッキングしたSeを使用する方法(第68回応用物理学会学術講演会 講演予稿集(2007秋 北海道工業大学)7P−L−6等)、
c)ラジカル化したSeを用いる方法(第54回応用物理学会学術講演会 講演予稿集(2007春 青山学院大学)29P−ZW−10等)、
d)光励起プロセスを利用した方法(第54回応用物理学会学術講演会 講演予稿集(2007春 青山学院大学)29P−ZW−14等)等が知られている。
CuInSe2多結晶をターゲットとした方法、
Cu2SeとIn2Se3をターゲットとし、スパッタガスにH2Se/Ar混合ガスを用いる2源スパッタ法(J.H.Ermer,et.al, Proc.18th IEEE Photovoltaic Specialists Conf.(1985)1655-1658.等)、
Cuターゲットと、Inターゲットと、SeまたはCuSeターゲットとをArガス中でスパッタする3源スパッタ法(T.Nakada,et.al, Jpn.J.Appl.Phys.32(1993)L1169-L1172.等)が知られている。
下部電極20及び上部電極50はいずれも導電性材料からなる。光入射側の上部電極50は透光性を有する必要がある。
本実施形態において、下部電極20はMoを主成分とする電極である。下部電極20の厚みは特に制限されず、0.3〜1.0μmが好ましい。
上部電極50の主成分としては特に制限されず、ZnO,ITO(インジウム錫酸化物),SnO2,及びこれらの組合わせが好ましい。上部電極50の厚みは特に制限されず、0.6〜1.0μmが好ましい。
下部電極20及び/又は上部電極50は、単層構造でもよいし、2層構造等の積層構造もよい。
下部電極20及び上部電極50の成膜方法は特に制限されず、電子ビーム蒸着法やスパッタリング法等の気相成膜法が挙げられる。
好ましい組成の組合わせとしては例えば、Mo下部電極/CdSバッファ層/CIGS光電変換層/ZnO上部電極が挙げられる。
アルカリ(土類)金属供給層60は、1種又は2種以上のアルカリ金属及び/又はアルカリ土類金属を含み、光電変換層30の成膜時に該層にアルカリ金属及び/又はアルカリ土類金属を供給するために設けられた層である。本実施形態において、アルカリ(土類)金属供給層60は導電性を有する材料からなり、下部電極20の直上に下部電極20に接して設けられている。アルカリ(土類)金属供給層60は絶縁性を有する材料により構成されてもよい。アルカリ(土類)金属供給層60は単層構造でもよいし、組成の異なる積層構造でもよい。
アルカリ金属化合物としては、フッ化ナトリウム、フッ化カリウム、硫化ナトリウム、硫化カリウム、セレン化ナトリウム、セレン化カリウム、塩化ナトリウム、及び塩化カリウム等の無機塩;ポリ酸等の有機酸のナトリウム又はカリウム塩等の有機塩が挙げられる。
アルカリ土類金属化合物としては、フッ化カルシウム、フッ化マグネシウム、硫化カルシウム、硫化マグネシウム、及びセレン化カルシウムの無機塩;ポリ酸等の有機酸のマグネシウム又はカルシウム塩等の有機塩が挙げられる。
本明細書において、「ポリ酸」にはヘテロポリ酸が含まれるものとする。
ポリオキソ酸としては、タングストリン酸、タングストケイ酸、モリブドリン酸、モリブドケイ酸、バナジン酸、タングステン酸、低原子価ニオブ酸、低原子価タンタル酸、トンネル構造を有するチタン酸、及びモリブデン酸等が挙げられる。
アルカリ(土類)金属供給層60の厚みは特に制限されず、光電変換層30に充分な量のアルカリ(土類)金属を供給できるレベルであればよい。アルカリ(土類)金属供給層60の厚みは100〜200nmが好ましい。
拡散防止層70は、アルカリ(土類)金属供給層60に含まれるアルカリ(土類)金属の陽極酸化基板10側への拡散を抑制するために設けられた層である。本実施形態において、拡散防止層70は導電性を有する材料からなり、下部電極20の直下に下部電極20に接して設けられている。
酸化アルミニウムの線膨張係数は7.5×10−6/Kであるので、酸化アルミニウムと略同等の線膨張係数を有する材料とは、その±2.5×10−6/Kの範囲、すなわち5.0×10−6/K〜10.0×10−6/Kの線膨張係数を有する材料であると定義する。
拡散防止層70の主成分は、Cr(線膨張係数:8.8×10−6/K)及び/又はTi(線膨張係数:9.9×10−6/K)であることが好ましい。拡散防止層70はTi層とCr層との積層構造でもよい。
上記の線膨張係数は、「物理データ事典」(朝倉書店、編集:社団法人日本物理学会)に記載のデータである
拡散防止層70の厚みは特に制限されず、陽極酸化基板10側へのアルカリ(土類)金属の拡散を良好に防止できるレベルであればよい。拡散防止層70の厚みは20〜200nm程度が好ましい。
光電変換素子1は必要に応じて、上記で説明した以外の任意の層を備えることができる。例えば、陽極酸化基板10と下部電極20との間、及び/又は下部電極20と光電変換層30との間に、必要に応じて、層同士の密着性を高めるための密着層(緩衝層)を設けることができる。
本実施形態の光電変換素子1は陽極酸化基板10を用いた素子であるので、軽量かつフレキシブルであり、低コストで製造可能な素子である。
第1実施形態においては、単層のアルカリ(土類)金属供給層60を下部電極20の直上に設け、単層の拡散防止層70を下部電極20の直下に設ける構成としたが、アルカリ(土類)金属供給層60及び拡散防止層70の数と位置はかかる構成に限定されない。
基材としてAl合金1050材(Al純度99.5%、0.30mm厚に陽極酸化処理をして、基材の両面に陽極酸化膜を形成し、水洗処理及び乾燥処理を実施して、陽極酸化基板を得た。陽極酸化膜の厚みが9.0μm(そのうちバリア層の厚みが0.38μm)、微細孔の孔径が100nm前後の陽極酸化膜を形成した。
電解液:16℃の0.5Mシュウ酸水溶液中、直流電源、電圧40V。
次に、アルカリ(土類)金属供給層として、100nm厚のモリブデン酸ナトリウム層を形成した。水酸化ナトリウム水溶液にMoO3を溶解させた溶液をエチレングリコールと体積比1:1で混合し、これをスピンコート法により下部電極上に塗布し、70℃のホットプレート上でゆっくりと乾燥させた後、200℃で1時間熱処理することで、Na2Mo2O7,Na6Mo7O24,及びNa2Mo10O31を含む層を形成した。
その後、上記基板にAlグリッド電極を蒸着し、10mm×5mm四方の複数の素子に切断加工して、計20個の光電変換素子を作製した。
作製した光電変換素子について、Air Mass(AM)=1.5、100mW/cm2の擬似太陽光を用いて光電変換効率を評価した。20個のサンプルについて光電変換効率を測定し、その中での最高値に対して80%以上の光電変換効率のサンプルを合格品とし、それ以外のものを不合格品とした。合格品の光電変換効率は14〜16%であり、後記比較例1よりも高い光電変換効率が得られた。
拡散防止層をCr層とした以外は実施例1と同様にして、光電変換素子を得た。実施例1と同様に光電変換効率を測定したところ、14〜16%であった。
拡散防止層を設けなかった以外は実施例1と同様にして、比較用の光電変換素子を得た。実施例1と同様に光電変換効率を測定したところ、10〜12%であった。
10 陽極酸化基板
11 金属基材
12 陽極酸化膜
20 下部電極
21 Mo層
30 光電変換層
40 バッファ層
50 上部電極
60 アルカリ(土類)金属供給層
70 拡散防止層
Claims (9)
- Alを主成分とする金属基材の少なくとも一方の面側に陽極酸化膜を有する陽極酸化基板の前記一方の面側の陽極酸化膜上に、Moを主成分とする下部電極と光吸収により電流を発生する光電変換半導体層と上部電極との積層構造を有する光電変換素子において、
前記下部電極に接して、若しくは前記下部電極の内部に、1種又は2種以上のアルカリ金属及び/又はアルカリ土類金属を含み、前記光電変換半導体層の成膜時に該層にアルカリ金属及び/又はアルカリ土類金属を供給する少なくとも1層のアルカリ(土類)金属供給層を備え、かつ、
前記アルカリ(土類)金属供給層よりも前記陽極酸化基板側に、前記下部電極及び/又は前記アルカリ(土類)金属供給層に接して、若しくは前記下部電極の内部に、前記アルカリ(土類)金属供給層に含まれる前記アルカリ金属及び/又はアルカリ土類金属の前記陽極酸化基板側への拡散を抑制する少なくとも1層の導電性の拡散防止層を備えたことを特徴とする光電変換素子。 - 前記拡散防止層の主成分はTiであることを特徴とする請求項1に記載の光電変換素子。
- 前記光電変換半導体層の主成分は、少なくとも1種のカルコパイライト構造の化合物半導体であることを特徴とする請求項1又は2に記載の光電変換素子。
- 前記光電変換半導体層の主成分は、Ib族元素とIIIb族元素とVIb族元素とからなる少なくとも1種の化合物半導体であることを特徴とする請求項3に記載の光電変換素子。
- 前記光電変換半導体層の主成分は、
Cu及びAgからなる群より選択された少なくとも1種のIb族元素と、
Al,Ga及びInからなる群より選択された少なくとも1種のIIIb族元素と、
S,Se,及びTeからなる群から選択された少なくとも1種のVIb族元素とからなる少なくとも1種の化合物半導体であることを特徴とする請求項4に記載の光電変換素子。 - 前記アルカリ(土類)金属供給層はNaを含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の光電変換素子。
- 前記アルカリ(土類)金属供給層はポリ酸(ここで言うポリ酸にはヘテロポリ酸も含まれる)のアルカリ金属塩及び/又はアルカリ土類金属塩を含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の光電変換素子。
- 前記ポリ酸はモリブデン酸及び/又はタングステン酸であることを特徴とする請求項7に記載の光電変換素子。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の光電変換素子を備えたことを特徴とする太陽電池。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009054745A JP5229901B2 (ja) | 2009-03-09 | 2009-03-09 | 光電変換素子、及び太陽電池 |
| US12/718,611 US8415557B2 (en) | 2009-03-09 | 2010-03-05 | Photoelectric conversion device and solar cell using the photoelectric conversion device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009054745A JP5229901B2 (ja) | 2009-03-09 | 2009-03-09 | 光電変換素子、及び太陽電池 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010212337A JP2010212337A (ja) | 2010-09-24 |
| JP5229901B2 true JP5229901B2 (ja) | 2013-07-03 |
Family
ID=42677162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009054745A Expired - Fee Related JP5229901B2 (ja) | 2009-03-09 | 2009-03-09 | 光電変換素子、及び太陽電池 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8415557B2 (ja) |
| JP (1) | JP5229901B2 (ja) |
Families Citing this family (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4629151B2 (ja) * | 2009-03-10 | 2011-02-09 | 富士フイルム株式会社 | 光電変換素子及び太陽電池、光電変換素子の製造方法 |
| EP2565934B1 (en) * | 2010-04-27 | 2018-11-07 | Kyocera Corporation | Photoelectric conversion device |
| WO2011152334A1 (ja) * | 2010-05-31 | 2011-12-08 | 京セラ株式会社 | 光電変換装置 |
| KR101154654B1 (ko) * | 2010-10-05 | 2012-06-11 | 엘지이노텍 주식회사 | 태양광 발전장치 및 이의 제조방법 |
| KR20120054365A (ko) * | 2010-11-19 | 2012-05-30 | 한국전자통신연구원 | 화합물 반도체 태양전지 및 그 제조방법 |
| KR20120100296A (ko) * | 2011-03-03 | 2012-09-12 | 삼성전자주식회사 | 수직 성장된 반도체를 포함하는 적층 구조물과 이를 포함하는 pn 접합 소자 및 이들의 제조 방법 |
| JP5782768B2 (ja) | 2011-03-23 | 2015-09-24 | セイコーエプソン株式会社 | 光電変換装置およびその製造方法 |
| TWI538235B (zh) | 2011-04-19 | 2016-06-11 | 弗里松股份有限公司 | 薄膜光伏打裝置及製造方法 |
| WO2012169845A2 (ko) * | 2011-06-10 | 2012-12-13 | 주식회사 포스코 | 태양전지 기판과 그 제조방법 및 이를 이용한 태양전지 |
| CN103733352A (zh) * | 2011-06-13 | 2014-04-16 | Posco公司 | 太阳能电池基板和使用所述基板的太阳能电池 |
| FR2977078B1 (fr) | 2011-06-27 | 2013-06-28 | Saint Gobain | Substrat conducteur pour cellule photovoltaique |
| US20130075247A1 (en) * | 2011-09-22 | 2013-03-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Method and system for forming chalcogenide semiconductor materials using sputtering and evaporation functions |
| US9105779B2 (en) | 2011-09-26 | 2015-08-11 | International Business Machines Corporation | Method of fabricating a flexible photovoltaic film cell with an iron diffusion barrier layer |
| KR101299189B1 (ko) * | 2011-10-10 | 2013-08-22 | 김교선 | 멀티 스테이지공정을 이용한 대면적 유리기판 cigs 박막의 연속 제조용 인라인 장비시스템과 대면적 유리기판 cigs 박막의 제조방법 |
| JP5174230B1 (ja) * | 2011-11-25 | 2013-04-03 | 昭和シェル石油株式会社 | 薄膜太陽電池モジュール及びその製造方法 |
| KR101309933B1 (ko) * | 2011-12-06 | 2013-09-17 | 주식회사 포스코 | Ci(g)s 태양전지용 철-니켈 합금기판 제조방법 |
| KR101309883B1 (ko) * | 2011-12-06 | 2013-09-17 | 주식회사 포스코 | CI(G)S 태양전지용 Fe-Cr 합금기판 제조방법 |
| WO2013109646A1 (en) * | 2012-01-19 | 2013-07-25 | NuvoSun, Inc. | Protective coatings for photovoltaic cells |
| US9876129B2 (en) * | 2012-05-10 | 2018-01-23 | International Business Machines Corporation | Cone-shaped holes for high efficiency thin film solar cells |
| JP2014063795A (ja) | 2012-09-20 | 2014-04-10 | Seiko Epson Corp | 光電変換素子、光電変換素子の製造方法、及び電子機器 |
| US9246039B2 (en) * | 2012-10-12 | 2016-01-26 | International Business Machines Corporation | Solar cell with reduced absorber thickness and reduced back surface recombination |
| US20140109967A1 (en) * | 2012-10-24 | 2014-04-24 | Korea Institute Of Science And Technology | Thin film solar cells for windows based on low cost solution process and fabrication method thereof |
| JP6482082B2 (ja) | 2012-12-21 | 2019-03-13 | フリソム アクツィエンゲゼルシャフトFlisom Ag | カリウムを添加した薄膜光電子デバイスの製作 |
| CN103601157B (zh) * | 2013-10-30 | 2015-12-02 | 天津大学 | 一种乙二胺辅助多元醇基溶液合成铜铟铝硒纳米晶的方法 |
| KR101622090B1 (ko) * | 2013-11-08 | 2016-05-18 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 |
| TWI677105B (zh) | 2014-05-23 | 2019-11-11 | 瑞士商弗里松股份有限公司 | 製造薄膜光電子裝置之方法及可藉由該方法獲得的薄膜光電子裝置 |
| TWI661991B (zh) | 2014-09-18 | 2019-06-11 | Flisom Ag | 用於製造薄膜裝置之自組裝圖案化 |
| DE102014223485A1 (de) * | 2014-11-18 | 2016-05-19 | Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg | Schichtaufbau für eine Dünnschichtsolarzelle und Herstellungsverfahren |
| EP3414779B1 (en) | 2016-02-11 | 2021-01-13 | Flisom AG | Self-assembly patterning for fabricating thin-film devices |
| WO2017137268A1 (en) | 2016-02-11 | 2017-08-17 | Flisom Ag | Fabricating thin-film optoelectronic devices with added rubidium and/or cesium |
Family Cites Families (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4734168A (en) * | 1983-08-08 | 1988-03-29 | Texas A & M University | Method of making n-silicon electrodes |
| US4798660A (en) * | 1985-07-16 | 1989-01-17 | Atlantic Richfield Company | Method for forming Cu In Se2 films |
| SE508676C2 (sv) | 1994-10-21 | 1998-10-26 | Nordic Solar Energy Ab | Förfarande för framställning av tunnfilmssolceller |
| DE4442824C1 (de) * | 1994-12-01 | 1996-01-25 | Siemens Ag | Solarzelle mit Chalkopyrit-Absorberschicht |
| JPH0974065A (ja) | 1995-09-06 | 1997-03-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 化合物半導体薄膜の形成法 |
| JP3519543B2 (ja) | 1995-06-08 | 2004-04-19 | 松下電器産業株式会社 | 半導体薄膜形成用前駆体及び半導体薄膜の製造方法 |
| JPH0974213A (ja) | 1995-09-06 | 1997-03-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 化合物半導体薄膜の形成法 |
| JP2922465B2 (ja) | 1996-08-29 | 1999-07-26 | 時夫 中田 | 薄膜太陽電池の製造方法 |
| JP2922466B2 (ja) | 1996-08-29 | 1999-07-26 | 時夫 中田 | 薄膜太陽電池 |
| JPH10125941A (ja) | 1996-10-23 | 1998-05-15 | Asahi Chem Ind Co Ltd | カルコパイライト型太陽電池 |
| JP2000349320A (ja) | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Kobe Steel Ltd | 耐電圧特性に優れたAl合金製絶縁材料およびその製造方法 |
| DE10017610C2 (de) | 2000-03-30 | 2002-10-31 | Hahn Meitner Inst Berlin Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Solarmoduls mit integriert serienverschalteten Dünnschicht-Solarzellen und Verwendung davon |
| WO2003007386A1 (en) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Midwest Research Institute | Thin-film solar cell fabricated on a flexible metallic substrate |
| US7053294B2 (en) * | 2001-07-13 | 2006-05-30 | Midwest Research Institute | Thin-film solar cell fabricated on a flexible metallic substrate |
| AU2003207295A1 (en) * | 2002-02-14 | 2003-09-04 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Light absorbing layer forming method |
| JP4110515B2 (ja) | 2002-04-18 | 2008-07-02 | 本田技研工業株式会社 | 薄膜太陽電池およびその製造方法 |
| JP2004079858A (ja) | 2002-08-20 | 2004-03-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 太陽電池およびその製造方法 |
| JP2004158556A (ja) | 2002-11-05 | 2004-06-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 太陽電池 |
| CN1771610A (zh) | 2003-04-09 | 2006-05-10 | 松下电器产业株式会社 | 太阳能电池 |
| JP2005086167A (ja) | 2003-09-11 | 2005-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 太陽電池およびその製造方法 |
| US20050056863A1 (en) | 2003-09-17 | 2005-03-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor film, method for manufacturing the semiconductor film, solar cell using the semiconductor film and method for manufacturing the solar cell |
| US7732229B2 (en) * | 2004-09-18 | 2010-06-08 | Nanosolar, Inc. | Formation of solar cells with conductive barrier layers and foil substrates |
| JP4471855B2 (ja) * | 2005-01-25 | 2010-06-02 | 本田技研工業株式会社 | カルコパイライト型薄膜太陽電池の製造方法 |
-
2009
- 2009-03-09 JP JP2009054745A patent/JP5229901B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-03-05 US US12/718,611 patent/US8415557B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20100224249A1 (en) | 2010-09-09 |
| JP2010212337A (ja) | 2010-09-24 |
| US8415557B2 (en) | 2013-04-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5229901B2 (ja) | 光電変換素子、及び太陽電池 | |
| JP4629151B2 (ja) | 光電変換素子及び太陽電池、光電変換素子の製造方法 | |
| US8658890B2 (en) | Solar cell and method of manufacturing solar cell | |
| US20110083743A1 (en) | Photoelectric conversion device, method for producing the same, and solar battery | |
| US20120180870A1 (en) | Photoelectric conversion device, method for producing the same, and solar battery | |
| CN102652368B (zh) | 太阳能电池中使用的Cu-In-Zn-Sn-(Se,S)基薄膜及其制造方法 | |
| JP2011155146A (ja) | 太陽電池およびその製造方法 | |
| JP2010212336A (ja) | 光電変換素子とその製造方法、及び太陽電池 | |
| TWI482301B (zh) | 光電轉換裝置及其製造方法、太陽電池以及靶材 | |
| JP2011181746A (ja) | 太陽電池モジュール及び太陽電池装置 | |
| KR101067295B1 (ko) | 박막 태양전지 및 그의 제조방법 | |
| JP2014209586A (ja) | 薄膜太陽電池及びその製造方法 | |
| US20110186103A1 (en) | Photoelectric conversion element, thin-film solar cell, and photoelectric conversion element manufacturing method | |
| US8686281B2 (en) | Semiconductor device and solar battery using the same | |
| JP2010242116A (ja) | 成膜方法と成膜装置、マスク、パターン膜、光電変換素子、及び太陽電池 | |
| JP5512219B2 (ja) | 太陽電池 | |
| JP7457310B1 (ja) | 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法 | |
| JP2010232427A (ja) | 光電変換素子、その製造方法、それに用いられる陽極酸化基板及び太陽電池 | |
| JP6104576B2 (ja) | 化合物系薄膜太陽電池 | |
| JP2017059828A (ja) | 光電変換素子および太陽電池 | |
| JP2011159796A (ja) | 絶縁層付基板および薄膜太陽電池 | |
| JP4550928B2 (ja) | 光電変換素子、及びこれを用いた太陽電池 | |
| JP2010258255A (ja) | 陽極酸化基板、それを用いた光電変換素子の製造方法、光電変換素子及び太陽電池 | |
| JP5860765B2 (ja) | 光電変換素子および光電変換素子の製造方法 | |
| WO2013168672A1 (ja) | 光電変換素子 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110708 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120606 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120612 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120810 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130312 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130314 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160329 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |