JP5065167B2 - 基板の処理方法及び基板の処理システム - Google Patents
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Description
10 塗布現像処理装置
11 制御装置
20 カセットステーション
21 処理ステーション
31 カセット載置板
41 ウェハ搬送装置
C カセット
W ウェハ
Claims (28)
- 制御装置の指示に基づいて動作する基板の処理装置を用いて行われる基板の処理方法であって、
前記基板の処理装置は、複数枚の基板を収容するカセットを基板の処理装置の外部に対して搬入出する際に載置する複数のカセット載置部と、基板に複数の処理工程からなる一連の処理を施す基板処理部と、前記カセット載置部のカセット内の基板を前記基板処理部に搬送し、なおかつ前記基板処理部で処理の終了した基板を前記カセット載置部のカセットに搬送する基板搬送部と、を有し、
前記制御装置は、前記複数のカセット載置部に載置されるカセットの中から、処理の終了した基板が搬送されるカセットを任意に選択し、その搬送先のカセットを基板の処理装置に指示する機能を有しており、
制御装置から基板の処理装置に、カセット載置部に搬入されたカセットの基板の処理の開始を指示する工程と、
その後、制御装置から基板の処理装置に、前記処理の開始された基板が処理終了時に搬送されるカセット載置部のカセットを指示する工程と、を有し、
基板の残りの処理工程数が予め定められた設定数になったときに、その基板の処理終了時の搬送先のカセットが指示されていない場合には、基板の処理装置から警告が出されることを特徴とする、基板の処理方法。 - 前記基板の処理装置の警告は、制御装置に通知されることを特徴とする、請求項1に記載の基板の処理方法。
- 前記制御装置は、前記基板の処理装置からの警告に基づいて、前記搬送先のカセットが定まっていない基板の搬送先のカセットの指示を優先的に行うことを特徴とする、請求項2に記載の基板の処理方法。
- 前記カセット載置部のカセットを指示する工程は、基板の残りの処理工程数が、前記設定数よりも多い他の設定数になったときに行われることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の基板の処理方法。
- カセット載置部のカセット内から1ロットの複数枚の基板が搬出されている途中で、基板の処理装置にトラブルが生じた場合には、前記1ロットの総ての基板が基板処理部に搬送され、正常時の搬送経路を通って処理を行わずに、前記指示されたカセット載置部のカセットに搬送されることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の基板の処理方法。
- カセット載置部のカセット内から1ロットの複数枚の基板が搬出されている途中で、基板の処理装置にトラブルが生じた場合には、1ロットの基板のうちの既に搬出されていた基板が、カセット載置部の元のカセットに戻されることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の基板の処理方法。
- 基板処理部において基板が処理されている途中で、基板の処理装置にトラブルが生じた場合であって、トラブル解消時点でカセット載置部に基板の搬送先のカセットが載置されていない場合には、基板の処理装置から他の警告が出されることを特徴とする、請求項1〜6のいずれかに記載の基板の処理方法。
- 前記基板の処理装置の他の警告は、前記基板の処理装置から前記制御装置に通知され、前記制御装置は、前記基板の属するロットの総ての基板を収容できるカセットを基板の処理装置の外部からカセット載置部に搬入させることを特徴とする、請求項7に記載の基板の処理方法。
- カセット載置部から基板処理部に基板が搬送されて空になったカセットを一時的に基板の処理装置の外部に搬出する工程をさらに有し、
カセットが空になってからそのカセットに処理の終了した基板が搬入され始めるまでの予定時間が予め定められた設定時間よりも短い場合には、前記空のカセットの外部への搬出を中止することを特徴とする、請求項1〜8のいずれかに記載の基板の処理方法。 - 前記カセット載置部のカセットを指示する工程において、1ロットの複数枚の基板が異なるカセットに搬送されるように、複数のカセットを指示することを特徴とする、請求項1〜9のいずれかに記載の基板の処理方法。
- 前記複数のカセットは、1ロットの複数枚の基板のうち、1枚の基板が搬送されるカセットと、残りの基板が搬送される他のカセットとを有することを特徴とする、請求項10に記載の基板の処理方法。
- 前記カセット載置部のカセットを指示する工程において、複数のロットの基板が搬送される一のカセットを指示することを特徴とする、請求項1〜9のいずれかに記載の基板の処理方法。
- 前記カセット載置部のカセットを指示する工程以後、前記指示されたカセットがカセット載置部に載置されていない場合には、前記制御装置は、前記指示されたカセットと異なるカセットを基板の搬送先として指示することを特徴とする、請求項1〜12のいずれかに記載の基板の処理方法。
- 前記カセットは複数の基板収容スロットを有し、
前記カセット載置部のカセットを指示する工程において、基板の搬送先の前記基板収容スロットをさらに指示することを特徴とする、請求項1〜13のいずれかに記載の基板の処理方法。 - 制御装置の指示に基づいて基板の処理装置を動作させ、基板の処理を行う基板の処理システムであって、
前記基板の処理装置は、複数枚の基板を収容するカセットを基板の処理装置の外部に対して搬入出する際に載置する複数のカセット載置部と、基板に複数の処理工程からなる一連の処理を施す基板処理部と、前記カセット載置部のカセット内の基板を前記基板処理部に搬送し、なおかつ前記基板処理部で処理の終了した基板を前記カセット載置部のカセットに搬送する基板搬送部と、を有し、
前記制御装置は、前記複数のカセット載置部に載置されるカセットの中から、処理の終了した基板が搬送されるカセットを任意に選択し、その搬送先のカセットを基板の処理装置に指示する機能を有しており、
制御装置から基板の処理装置に、カセット載置部に搬入されたカセットの基板の処理の開始を指示し、その後、制御装置から基板の処理装置に、前記処理の開始された基板が処理終了時に搬送されるカセット載置部のカセットを指示し、基板の残りの処理工程数が予め定められた設定数になったときに、その基板の処理終了時の搬送先のカセットが指示されていない場合には、基板の処理装置から警告が出されることを特徴とする、基板の処理システム。 - 前記基板の処理装置の警告は、制御装置に通知されることを特徴とする、請求項15に記載の基板の処理システム。
- 前記制御装置は、前記基板の処理装置からの警告に基づいて、前記搬送先のカセットが定まっていない基板の搬送先のカセットの指示を優先的に行うことを特徴とする、請求項16に記載の基板の処理システム。
- 前記カセット載置部のカセットの指示は、基板の残りの処理工程数が、前記設定数よりも多い他の設定数になったときに行われることを特徴とする、請求項15〜17のいずれかに記載の基板の処理システム。
- カセット載置部のカセット内から1ロットの複数枚の基板が搬出されている途中で、基板の処理装置にトラブルが生じた場合には、前記1ロットの総ての基板が基板処理部に搬送され、正常時の搬送経路を通って処理を行わずに、前記指示されたカセット載置部のカセットに搬送されることを特徴とする、請求項15〜18のいずれかに記載の基板の処理システム。
- カセット載置部のカセット内から1ロットの複数枚の基板が搬出されている途中で、基板の処理装置にトラブルが生じた場合には、1ロットの基板のうちの既に搬出されていた基板が、カセット載置部の元のカセットに戻されることを特徴とする、請求項15〜18のいずれかに記載の基板の処理システム。
- 基板処理部において基板が処理されている途中で、基板の処理装置にトラブルが生じた場合であって、トラブル解消時点でカセット載置部に基板の搬送先のカセットが載置されていない場合には、基板の処理装置から他の警告が出されることを特徴とする、請求項15〜20のいずれかに記載の基板の処理システム。
- 前記基板の処理装置の他の警告は、前記基板の処理装置から前記制御装置に通知され、前記制御装置は、前記基板の属するロットの総ての基板を収容できるカセットを基板の処理装置の外部からカセット載置部に搬入させることを特徴とする、請求項21に記載の基板の処理システム。
- カセット載置部から基板処理部に基板が搬送されて空になったカセットを一時的に基板の処理装置の外部に搬出し、
カセットが空になってからそのカセットに処理の終了した基板が搬入され始めるまでの予定時間が予め定められた設定時間よりも短い場合には、前記空のカセットの外部への搬出を中止することを特徴とする、請求項15〜22のいずれかに記載の基板の処理システム。 - 前記カセット載置部のカセットを指示する際、1ロットの複数枚の基板が異なるカセットに搬送されるように、複数のカセットを指示することを特徴とする、請求項15〜23のいずれかに記載の基板の処理システム。
- 前記複数のカセットは、1ロットの複数枚の基板のうち、1枚の基板が搬送されるカセットと、残りの基板が搬送される他のカセットとを有することを特徴とする、請求項24に記載の基板の処理システム。
- 前記カセット載置部のカセットを指示する際、複数のロットの基板が搬送される一のカセットを指示することを特徴とする、請求項15〜23のいずれかに記載の基板の処理システム。
- 前記カセット載置部のカセットの指示以後、前記指示されたカセットがカセット載置部に載置されていない場合には、前記制御装置は、前記指示されたカセットと異なるカセットを基板の搬送先として指示することを特徴とする、請求項15〜26のいずれかに記載の基板の処理システム。
- 前記カセットは複数の基板収容スロットを有し、
前記カセット載置部のカセットを指示する際、基板の搬送先の前記基板収容スロットをさらに指示することを特徴とする、請求項15〜27のいずれかに記載の基板の処理システム。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008153422A JP5065167B2 (ja) | 2007-09-20 | 2008-06-11 | 基板の処理方法及び基板の処理システム |
PCT/JP2008/064913 WO2009037941A1 (ja) | 2007-09-20 | 2008-08-21 | 基板の処理方法及び基板の処理システム |
KR1020107005732A KR101443420B1 (ko) | 2007-09-20 | 2008-08-21 | 기판의 처리 방법 및 기판의 처리 시스템 |
US12/733,614 US8731701B2 (en) | 2007-09-20 | 2008-08-21 | Substrate treatment method and substrate treatment system |
CN2008801081121A CN101802978B (zh) | 2007-09-20 | 2008-08-21 | 基板处理方法和基板处理系统 |
TW097133922A TW200933712A (en) | 2007-09-20 | 2008-09-04 | Substrate processing method and substrate processing system |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007243457 | 2007-09-20 | ||
JP2007243457 | 2007-09-20 | ||
JP2008153422A JP5065167B2 (ja) | 2007-09-20 | 2008-06-11 | 基板の処理方法及び基板の処理システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009094461A JP2009094461A (ja) | 2009-04-30 |
JP5065167B2 true JP5065167B2 (ja) | 2012-10-31 |
Family
ID=40666098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008153422A Active JP5065167B2 (ja) | 2007-09-20 | 2008-06-11 | 基板の処理方法及び基板の処理システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8731701B2 (ja) |
JP (1) | JP5065167B2 (ja) |
KR (1) | KR101443420B1 (ja) |
CN (1) | CN101802978B (ja) |
TW (1) | TW200933712A (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5006122B2 (ja) | 2007-06-29 | 2012-08-22 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5128918B2 (ja) | 2007-11-30 | 2013-01-23 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5160204B2 (ja) * | 2007-11-30 | 2013-03-13 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5179170B2 (ja) | 2007-12-28 | 2013-04-10 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5001828B2 (ja) | 2007-12-28 | 2012-08-15 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5459279B2 (ja) * | 2011-09-02 | 2014-04-02 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 |
JP2013069874A (ja) * | 2011-09-22 | 2013-04-18 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理システム、基板搬送方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 |
JP5454554B2 (ja) * | 2011-11-11 | 2014-03-26 | 株式会社デンソー | 搬送システムおよびその制御方法 |
TWI489223B (zh) * | 2013-07-19 | 2015-06-21 | Au Optronics Corp | 基板上的圖案化方法 |
JP6123740B2 (ja) * | 2014-06-17 | 2017-05-10 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体装置の製造ライン及び半導体装置の製造方法 |
JP6773497B2 (ja) * | 2016-09-20 | 2020-10-21 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理管理装置、基板処理管理方法および基板処理管理プログラム |
KR102568873B1 (ko) * | 2020-06-04 | 2023-08-21 | (주) 엔피홀딩스 | 초박형 유리의 강화 처리 장치 및 방법 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2644912B2 (ja) * | 1990-08-29 | 1997-08-25 | 株式会社日立製作所 | 真空処理装置及びその運転方法 |
EP2099061A3 (en) * | 1997-11-28 | 2013-06-12 | Mattson Technology, Inc. | Systems and methods for low contamination, high throughput handling of workpieces for vacuum processing |
JP3620830B2 (ja) * | 2001-03-05 | 2005-02-16 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び基板処理装置における基板回収方法 |
JP4506050B2 (ja) * | 2001-07-25 | 2010-07-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理システム及び被処理体の管理方法 |
JP4298238B2 (ja) * | 2002-08-27 | 2009-07-15 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置および基板処理システム |
JP4202119B2 (ja) * | 2002-12-27 | 2008-12-24 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理システム、基板処理装置、および、基板処理システムの管理方法 |
JP4381121B2 (ja) * | 2003-12-11 | 2009-12-09 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
JP4388563B2 (ja) * | 2007-03-27 | 2009-12-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板の処理方法、基板処理装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
JP4908304B2 (ja) * | 2007-04-27 | 2012-04-04 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板の処理方法、基板の処理システム及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
JP4464993B2 (ja) * | 2007-06-29 | 2010-05-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板の処理システム |
US8043039B2 (en) * | 2007-09-20 | 2011-10-25 | Tokyo Electron Limited | Substrate treatment apparatus |
JP5282021B2 (ja) * | 2009-12-14 | 2013-09-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 半導体処理システム及び半導体処理方法 |
JP5168300B2 (ja) * | 2010-02-24 | 2013-03-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
JP5505384B2 (ja) * | 2011-08-04 | 2014-05-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体 |
US9117865B2 (en) * | 2012-04-12 | 2015-08-25 | Applied Materials, Inc. | Robot systems, apparatus, and methods having independently rotatable waists |
-
2008
- 2008-06-11 JP JP2008153422A patent/JP5065167B2/ja active Active
- 2008-08-21 CN CN2008801081121A patent/CN101802978B/zh active Active
- 2008-08-21 KR KR1020107005732A patent/KR101443420B1/ko active IP Right Review Request
- 2008-08-21 US US12/733,614 patent/US8731701B2/en active Active
- 2008-09-04 TW TW097133922A patent/TW200933712A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101802978B (zh) | 2012-02-08 |
JP2009094461A (ja) | 2009-04-30 |
TW200933712A (en) | 2009-08-01 |
TWI368940B (ja) | 2012-07-21 |
CN101802978A (zh) | 2010-08-11 |
KR101443420B1 (ko) | 2014-09-24 |
US20100203434A1 (en) | 2010-08-12 |
KR20100074131A (ko) | 2010-07-01 |
US8731701B2 (en) | 2014-05-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100624 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120807 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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