JP4904656B2 - 薄膜圧電体素子およびその製造方法 - Google Patents

薄膜圧電体素子およびその製造方法 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、微小位置決め用のアクチュエータあるいはセンサとして利用される薄膜圧電体素子およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、半導体技術の進歩とともに機械的構造体を半導体製造技術を用いて作製し、大幅な小型化を実現しようとする努力がなされており、マイクロアクチュエータ等の機械的電気素子が脚光を浴びている。このような素子は小型で高精度の機械機構部品を実現でき、かつ、半導体プロセスを用いることでその生産性を大きく改善できる。特に、圧電体素子を用いたマイクロアクチュエータは走査型トンネル顕微鏡の微小変位素子や磁気ディスク記録再生装置のヘッドスライダの微小位置決め用等に応用されている。
【0003】
例えば、磁気ディスク記録再生装置では、磁気ディスクに対して情報の記録再生を行う磁気ヘッドはヘッドスライダに搭載され、アクチュエータアームに取り付けられている。このアクチュエータアームをボイスコイルモータ(以下、VCMとよぶ)によって揺動させることで、磁気ディスク上の所定のトラック位置に位置決めして、磁気ヘッドで記録再生を行っている。しかし、記録密度の向上とともに、このような従来のVCMのみでの位置決めでは十分な精度を確保できなくなってきている。このために、VCMの位置決め手段に加えて、圧電体素子を用いた微小位置決め手段によりヘッドスライダを微小駆動させて高速、高精度の位置決めを行う技術の提案がなされている(例えば、超高TPI化とピギーバックアクチュエータ(IDEMA Japan News No.32、pp4−7、国際ディスクドライブ協会発行))。
【0004】
上記したように、圧電体素子を用いたアクチュエータは種々の応用が期待されているが、従来はグリーンシート積層方式あるいは厚膜多層形成方式で多層化した構成が多く用いられていた(例えば、特開平6−224483号公報)。しかしながら、これらの製造方法で作製した圧電体素子の一層の厚みは数10μm程度であるため、100V程度の駆動電圧を必要としていた。
【0005】
このため、特開平8−88419号公報では、小型で、低電圧で駆動でき、しかも変位量が大きい薄膜積層型アクチュエータおよびその製造方法が示されている。すなわち、酸化マグネシウム、チタン酸ストロンチウム、サファイヤ等の単結晶基板上に、白金、アルミニウム、金、銀等の電極層と、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)やチタン酸ジルコン酸ランタン酸鉛(PLZT)等の圧電材料からなる圧電層と、電極層と、ガラスまたはシリコンから構成される接合層とを、この順に蒸着して圧電部材を形成する。次に、陽極接合法により圧電部材同士を接合層を介して接合する工程と、さらに積層する側の基板を研磨等により除去して露出した電極層上に接合層を形成する工程と、この接合層と別の圧電部材の接合層とを上述したような手順で接合し、再び基板を除去する工程とを繰り返すことで積層体を形成する。この積層体中の内層電極を交互に両側から取り出すことで積層型アクチュエータを実現している。この製造方法においては、基板の除去は研磨後にエッチング処理を施して残留部分がないようにしているし、また、圧電部材同士の接合方法としては、陽極接合法だけでなく、表面活性化接合法や接着剤接合法を用いてもよいことが示されている。
【0006】
さらに、特開平11−345833号公報では、焦電素子や圧電体素子を別に設けた電極形成基板上に量産性良く実装する製造方法が示されている。それによると、素子転写治具を用意し、この素子転写治具に仮基板上に形成された素子を樹脂や両面粘着テープ等により所定の配置で接着した後、仮基板のみを選択的にエッチングする。次に、電極形成基板上に設けられた電極と素子の電極とを対向させて貼り合わせ、例えばはんだ付けにより接合する。この後、素子を接着している樹脂あるいは粘着テープ等を溶解除去して素子転写基板と素子の分離を行うことで、電極形成基板上に所定の形状で接合された焦電素子や圧電体素子が形成される。素子転写治具上に素子が接着固定されているので、仮基板が選択的にエッチング除去されても素子の変形や損傷が生じないし、所定の配置状態を保持でき、電極形成基板上に一括して貼り合わせできる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上述の第1の例では、圧電部材を多層に積層した積層体の二つの側面から絶縁層を介して外部電極を形成するので、少なくともこの外部電極の形成は個々の積層体ごとに行う必要があり、量産性に課題がある。また、基板面に対して垂直方向の変位を生じる構成であり、例えば磁気ディスク記録再生装置のヘッドスライダの微小アクチュエータとして用いる形状としては適さない。
【0008】
また、第2の例では、個別に分離された素子を接着しているが、このような方式では素子転写基板上に精度良く位置合わせして個別に貼り合わせることは比較的困難であり、小型でかつ電極端子の数が多くなるほど電極形成基板との位置合わせずれが問題となる。また、接着層ははんだ付けによる実装温度に耐える材料で、かつ、その温度を受けた後でも所定溶液により除去できるような安定な接着材料であることが要求される。
【0009】
本発明は、基板上に電極膜で挟まれた圧電体薄膜同士を接着剤で積層して形成する圧電体素子において、特性劣化を生じず、高歩留まりで量産性の良い製造方法を提供することを目的とする。特に、このような圧電体素子を用いて、2個を一対として使用するアクチュエータの量産性を向上して低コストで提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
この課題を解決するために本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の基板および第2の基板上にそれぞれ下層電極膜、圧電体薄膜、および上層電極膜を順次積層する工程と、これらの薄膜が形成された面を対向させて接着固定する工程と、第2の基板のみを選択的に除去する工程と、第1の基板上に残された上記の薄膜を所定の形状にそれぞれまたは一括して加工して分割された複数の構造体を形成する工程と、この複数の構造体それぞれを絶縁膜で覆うとともにこれらの電極膜を外部機器に接続するための外部接続電極部を形成して複数の圧電体素子とする工程と、複数の圧電体素子を樹脂層で被覆するとともに仮固定用基板を接着する工程と、第1の基板のみを選択的に除去する工程と、仮固定用基板を接着した接着層の接着力を低下あるいは接着層を溶解することで仮固定用基板を分離するとともに、上述の樹脂層を圧電体素子表面から除去して複数の圧電体素子を個別に分離する工程とを有している。
【0011】
この製造方法により、第1の基板を選択的に除去するためのエッチング時に圧電体素子は仮固定用基板と樹脂により確実に保護されるので、圧電体素子の圧電体薄膜の一部や絶縁膜あるいは外部接続電極部の導体膜がエッチング液により侵されることを防ぐことができる。また、これらの材料の選択の自由度が大きくなり、実装特性に優れた電極材料や信頼性を向上できる絶縁膜材料を用いることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の基板上に第1の下層電極膜、第1の圧電体薄膜、および第1の上層電極膜を順次積層する工程と、第2の基板上に第2の下層電極膜、第2の圧電体薄膜、および第2の上層電極膜を順次積層する工程と、第1の上層電極膜と第2の上層電極膜とを対向させて接着固定する工程と、第2の基板のみを選択的に除去する工程と、第1の下層電極膜、第1の圧電体薄膜、第1の上層電極膜、第2の下層電極膜、第2の圧電体薄膜、第2の上層電極膜、および接着層を所定の形状にそれぞれまたは一括して加工して分割された複数の構造体を形成する工程と、この複数の構造体それぞれを絶縁膜で覆うとともに第1の上層電極膜、第1の下層電極膜、第2の上層電極膜、および第2の下層電極膜を外部機器に接続するための外部接続電極部を形成して複数の圧電体素子とする工程と、複数の圧電体素子を樹脂層で被覆するとともに仮固定用基板を接着する工程と、第1の基板のみを選択的に除去する工程と、仮固定用基板を接着した接着層の接着力を低下あるいは接着層を溶解することで仮固定用基板を分離するとともに、上述の樹脂層を圧電素子表面から除去して複数の圧電体素子を個別に分離する工程とを少なくとも有している。
【0013】
この製造方法により、第1の基板を選択的に除去するためのエッチング時に圧電体素子は仮固定用基板と樹脂により確実に保護されるので、圧電体素子の圧電体薄膜、絶縁膜、あるいは外部接続電極部の導体膜がエッチング液により侵されることを防ぐことができる。また、これらの材料の選択の自由度が大きくなり、実装特性に優れた電極材料や信頼性を向上できる絶縁膜材料を用いることができる。
【0014】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の基板上に第1の下層電極膜と第1の圧電体薄膜を順次積層する工程と、第2の基板上に第2の下層電極膜と第2の圧電体薄膜を順次積層する工程と、第1の圧電体薄膜と第2の圧電体薄膜とを対向させて導電性を有する接着剤により接着固定する工程と、第2の基板のみを選択的に除去する工程と、第1の下層電極膜、第1の圧電体薄膜、第2の下層電極膜、第2の圧電体薄膜、および接着層を所定の形状にそれぞれまたは一括して加工して分割された複数の構造体を形成する工程と、複数の構造体それぞれを絶縁膜で覆うとともに第1の下層電極膜、第2の下層電極膜、および導電性材料からなる接着層を外部機器に接続するための外部接続電極部を形成して複数の圧電体素子とする工程と、複数の圧電体素子を樹脂層で被覆するとともに仮固定用基板を接着する工程と、第1の基板のみを選択的に除去する工程と、仮固定用基板を接着した接着層の接着力を低下あるいは接着層を溶解することで仮固定用基板を分離するとともに上述の樹脂層を圧電体素子表面から除去して前記複数の圧電体素子を個別に分離する工程とを少なくとも有する。
【0015】
この方法により、圧電体素子を挟むように形成する一対の電極膜のうちの上層電極膜を導電性材料からなる接着剤で兼用させることができるので、圧電体素子上に上層電極膜を形成する工程を接着工程と同時に行えるので、製造工程を簡略化することが可能である。
【0016】
さらに、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、基板上に第1の下層電極膜、圧電体薄膜、および第1の上層電極膜を順次積層する工程と、第1の下層電極膜、圧電体薄膜、および第1の上層電極膜を所定の形状にそれぞれまたは一括して加工して分割された複数の構造体を形成する工程と、複数の構造体それぞれを絶縁膜で覆うとともに第1の下層電極膜および第1の上層電極膜を外部機器に接続するための外部接続電極部を形成して複数の圧電体素子とする工程と、複数の圧電体素子を樹脂層で被覆するとともに仮固定用基板を接着する工程と、基板のみを選択的に除去する工程と、仮固定用基板を接着した接着層の接着力を低下あるいは接着層を溶解することで仮固定用基板を除去するとともに樹脂層を圧電体素子表面から除去する工程とを少なくとも有している。
【0017】
この方法により、圧電体薄膜を一層のみとする圧電体素子の場合にも、歩留まりが高く、かつ量産性の良い製造方法を実現できる。
【0018】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、複数の構造体を形成する工程において、2個の構造体を一対として一部の所定領域で少なくとも圧電体薄膜が接続されるように加工する方法である。この方法により、2個を一対としたアクチュエータの製造において、この2個の圧電体素子を高精度に配置できるだけでなく、隣接して形成された薄膜で一対の圧電体素子を作製しているので、両方の圧電特性を均一化しやすい。さらに、2個の構造体の一部が接続されて一体構成となっているので、仮固定用基板から除去する工程、および機器の基板上へ実装する工程で一対の圧電体素子同士の変形等を防止しやすく、かつ、高精度に位置決めできる。
【0019】
さらに、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、仮固定用基板を分離する工程において、仮固定用基板上に接着された複数の圧電体素子よりも少なくとも小さな開口部を有するメッシュ容器に上述した仮固定用基板を保持した状態で接着層を溶解あるいは接着力を低下させて仮固定用基板を分離するとともに、樹脂を圧電体素子表面から除去して複数の圧電体素子が分離されメッシュ容器に保持されるようにする方法である。
【0020】
この方法により、仮固定用基板を分離し、樹脂を圧電体素子から除去したときに、複数の圧電体素子がメッシュ容器中に実装する状態と同じ面を向いて保持されるので取り出しが簡単で、かつ、必要な洗浄を容易に行うことができるし、また実装機で簡単に実装することもできる。
【0021】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、外部接続電極部を圧電体素子の同一面側に形成する方法である。この方法により、外部接続電極部の加工を第1の基板上において一括して行うことができ、かつ、外部機器との接続のための、例えばワイヤボンディングによる実装が効率よく行える。さらに外部接続電極部が一つの面側に集中して設けられているので、圧電体素子を基板に接着することも容易である。
【0022】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、仮固定用基板を接着する接着剤と圧電体素子を被覆する樹脂層とが同一材料であり、樹脂層により仮固定用基板を接着する方法である。この方法により、仮固定用基板の接着と圧電体素子をエッチング液から保護する樹脂とを一度に形成できるので、工程が簡略化される。なお、このような樹脂としては半導体用に用いられるワックス、アクリル系の接着剤、熱可塑性樹脂、シリコン系樹脂あるいはフォトレジスト等を用いることができる。
【0023】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、仮固定用基板として第1の基板を除去するための液、ガス、活性種を含むガス、または少なくとも一部がイオン化したガスにより侵されない膜を仮固定用基板の全面に形成した基板を用いる方法である。この方法により、仮固定用基板の選択の自由度が大きくなるだけでなく、繰り返して使用することもできる。例えば、仮固定用基板としてガラスを用い、第1の基板としてシリコン単結晶基板を用いる場合には、ガラスの表面全面にクロム膜を形成すれば良い。また、仮固定用基板としてステンレス板、鉄板、銅板等の金属板を用い、第1の基板として酸化マグネシウム単結晶基板を用いる場合には、これらの金属板の表面全面にクロム膜、酸化ケイ素膜等を形成すれば良い。
【0024】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、仮固定用基板として第1の基板を複数個接着可能な大きさの基板を用いる方法である。この方法により、仮固定用基板に圧電体素子が形成された第1の基板を複数個接着して、一括して第1の基板を除去することが可能となり、第1の基板の除去工程が簡略化できる。さらに、仮固定用基板から複数の圧電体素子を分離する工程も簡略化できる。
【0025】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、同一の材料と形状を有する第1の基板と第2の基板とを用いて製造する方法である。この方法により、これらの基板上に形成する圧電体薄膜の特性をほぼ同一とすることができる。さらに、第1の圧電体薄膜と第2の圧電体薄膜の成膜条件を同一にできるので、同時成膜することも可能で量産性を向上できる。
【0026】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の基板と第2の基板は酸化マグネシウム単結晶基板、シリコン単結晶基板、チタン酸ストロンチウム単結晶基板、およびサファイヤ基板から選ばれた2種類からなる組み合わせの基板を用いる方法である。この方法により、例えば第1の基板として酸化マグネシウム単結晶基板、第2の基板としてシリコン単結晶基板を用いれば、第2の基板であるシリコン単結晶基板を除去するためのウエットエッチングあるいはドライエッチングで第1の基板である酸化マグネシウム単結晶基板はエッチングされないので、第1の基板を樹脂等で保護する工程が必要なくなる。なお、シリコン単結晶基板上に圧電体薄膜を形成する場合には薄膜形成後に熱処理を行えば、酸化マグネシウム単結晶基板上の圧電体薄膜と同程度の特性を得ることができる。
【0027】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の下層電極膜と第2の下層電極膜とが同一の材料および成膜方式で形成される方法である。この方法により、第1の基板および第2の基板を混在して電極膜を形成可能となり、高価な成膜装置を有効に利用でき、量産性をさらに向上できる。
【0028】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の圧電体薄膜と第2の圧電体薄膜とが同一の材料および成膜方式で形成される方法である。この方法により、最も成膜時間がかかり、生産性の悪い圧電体薄膜を効率的に成膜できる。またさらに、第1の圧電体薄膜と第2の圧電体薄膜を同じ装置で、同時に成膜することで積層したときの圧電体薄膜特性をほぼ均一にできる。特に、第1の基板と第2の基板を同一とし、第1の下層電極膜と第2の下層電極膜とを同一にして、これらの基板上に圧電体薄膜を同時に成膜すればさらに特性を均一にすることができる。
【0029】
また、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の圧電体薄膜と第2の圧電体薄膜の厚さが略等しくなるように形成する方法である。このような方法により、圧電体素子のそれぞれの圧電体薄膜に同一電圧を印加しても、同一の電界強度とすることができ、特性の均一化と信頼性を向上できる。
【0030】
さらに、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の上層電極膜と第2の上層電極膜とを対向させて接着固定する接着層の厚さが少なくとも第2の圧電体薄膜の厚さと略等しくなるように形成する方法である。この方法により、接着層が構造体としての強度を向上する一方、第2の圧電体薄膜側から外部接続電極部を形成するためにビアホール加工するときの加工性を確保できる。すなわち、接着層を第2の圧電体薄膜よりも厚くすれば構造体としての強度はより向上するが、第1の上層電極膜および第2の上層電極膜を外部接続電極部に接続するためのビアホール形成は逆に困難となる。また、逆に薄くすればビアホール形成は容易となるが、構造体としての強度が低下する。これらの両方を満足させるための膜厚としては、第2の圧電体薄膜の厚さと略等しくすることが望ましい。
【0031】
さらに、本発明の薄膜圧電体素子の製造方法は、第1の圧電体薄膜と第2の圧電体薄膜とを対向させて接着固定する導電性材料による接着層の厚さが少なくとも第2の圧電体薄膜の厚さと略等しくなるように形成する方法である。この方法により、導電性の接着層が上層電極としての機能も有するので、上層電極膜の形成工程を省略できる。この接着層の膜厚としては、構造体としての強度を向上するためには膜厚を厚くするほうが良いが、その場合には外部接続電極部を形成するためのビアホール形成が難しくなる。一方、接着層の膜厚を逆に薄くすればビアホール形成は容易となるが、構造体としての強度が低下する。これらの両方を満足させるための膜厚としては、第2の圧電体薄膜の厚さと略等しくすることが望ましい。
【0032】
さらに、本発明の薄膜圧電体素子は、電極膜で挟まれ膜面に対して垂直方向に配向した圧電体薄膜が接着層を介して一対固着された構造体と、この構造体を覆うように形成された絶縁膜と、構造体の一方の面側に構造体を構成する電極膜のそれぞれと接続する外部接続電極部とを少なくとも有するとともに、上述の一対の圧電体薄膜の各々の厚さと接着層の厚さを略等しくした構成である。
【0033】
この構成により、それぞれの圧電体薄膜に同電位を印加したときに生じる変位量および電界強度をほぼ同一にできる。これに加えて、接着層を圧電体薄膜と略等しくしているので、パターン形成およびビアホールによる外部接続電極部形成を高精度で、信頼性良く加工でき、かつ、圧電体素子としての剛性も大きくできる。
【0034】
また、本発明の薄膜圧電体素子は、膜面に対して垂直方向に配向し、その一方の面のみに電極膜が形成された圧電体薄膜が導電性の接着剤を介して一対固着された構造体と、この構造体を覆うように形成された絶縁膜と、構造体の一方の面側に構造体を構成する電極膜および接着層のそれぞれと接続する外部接続電極部とを少なくとも有する構成である。この構成により、圧電体素子の作成において第1の上層電極膜、第2の上層電極膜を作成する必要がなくなり、成膜工程が簡略化されるだけでなく、外部接続電極を形成するためのビアホール形成プロセスも簡略化できる。
【0035】
また、本発明の薄膜圧電体素子は、電極膜で挟まれ膜面に対して垂直方向に配向した圧電体薄膜が接着層を介して一対固着された構造体の2個を一対として、この構造体の一部の所定領域で少なくとも圧電体薄膜が接続されて構造体同士が一体化した一対の構造体と、この一対の構造体を覆うように形成された絶縁膜と、圧電体薄膜が接続された近傍領域で、かつ、同一面側部に一対の構造体を構成する電極膜のそれぞれを外部機器と接続するために設けた外部接続電極部とを有する構成である。
【0036】
この構成により、低電圧で駆動できるだけでなく、2個の圧電体素子に加える電圧を適当に制御すれば変位量を1個のみの場合に比べて約2倍とすることができる。さらに、構造体同士を外部接続電極部近傍の所定領域で接続し一体化しているので、一対の圧電体素子の取り扱いおよび基板上への実装が非常に簡略化されるだけでなく、高精度に実装できる。
【0037】
また、本発明の薄膜圧電体素子は、上述の構造体の外部接続電極部を形成する面側と反対面に設ける絶縁膜は外部機器への接着層とした構成である。この構成により、圧電体素子を基板上で複数個作製した状態で、絶縁膜と外部接続電極部を形成し、圧電体素子を分離して所定の基板上に接着固定するときに接着固定面のみでなく、第1の基板あるいは基板に接触していた圧電体素子面全体にも塗布すれば、量産性の良い保護膜の形成が可能となる。さらに、全面を絶縁膜で覆うことで、圧電体素子を外部からの湿気や腐食性のガスから保護することができる。
【0038】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
【0039】
(第1の実施の形態)
図1は本第1の実施の形態の製造方法により作製した2個の圧電体素子を一対としたアクチュエータの平面図である。このアクチュエータは磁気ディスク記録再生装置において、ヘッドスライダをディスク上の所定のトラック位置に高精度に微小位置決めするために用いられる。図に示すアクチュエータは2個の圧電体素子70、70を備え、これら素子70、70はA−A’線に対して互いが鏡像の関係をもって形成されている。図1におけるX−X’線、Y−Y’線に沿った断面構造を図2(A)、(B)にそれぞれ示す。以下、これらの図を用いてその構成を説明する。
【0040】
図2(A)、(B)に示すように、2個の圧電体素子70、70は同一構造で、それぞれにおいて、第1の下層電極膜52と第1の上層電極膜54とで挟まれた第1の圧電体薄膜53、第2の下層電極膜56と第2の上層電極膜58とで挟まれた第2の圧電体薄膜57とを接着層60で貼り合わせて構造体66が形成され、この構造体66を覆うように絶縁膜62が形成される。同時に、この絶縁膜62は2個の圧電体素子70、70のそれぞれに設けられたビアホール96、98の間の領域63にも充填するように形成されており、これにより2個の圧電体素子70、70を一体化している。このような構成とすることで、所定の基板上に実装するときのハンドリングと位置決めが容易となる。
【0041】
また、これらの電極膜の外部機器との接続のために図2(B)に示すように、フォトリソおよびエッチングによりビアホール96、98と接続用電極膜73を形成して、所定の外部機器との外部接続電極部75を作製する。なお、第1の下層電極膜52に対しては、第2の圧電体薄膜57から第1の圧電体薄膜53までをエッチングして露出させた個所、第2の下層電極膜56に対しては、絶縁膜62をエッチングして露出した個所、および、第1の上層電極膜54と第2の上層電極膜58に対しては、ビアホール96、98から接続用電極膜73を用いて表面に引き出した個所が、それぞれ外部接続電極部75となる。
【0042】
以下、この圧電体素子70の製造方法について、図3から図6を用いて説明する。なお、図3から図5の工程説明図においては、図1に示すX−X’線に沿った断面部を示す。
【0043】
図3(A)は、第1の基板51上に第1の下層電極膜52、第1の圧電体薄膜53、第1の上層電極膜54を順次形成した基板と、第2の基板55上に第2の下層電極膜56、第2の圧電体薄膜57、第2の上層電極膜58を同様に順次形成した基板を、第1の上層電極膜54と第2の上層電極膜58とが対向するように配置した状態を示す。例えば、第1の基板51および第2の基板55として酸化マグネシウム単結晶基板の(100)面を用い、第1の下層電極膜52および第2の下層電極膜56として白金(Pt)を用いてスパッタリングにより成膜すれば(100)に配向したPtの電極膜を得ることが容易である。さらに、このPt膜からなる第1の下層電極膜52、第2の下層電極膜56上にチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)をスパッタリングにより成膜すればぺロブスカイト型の膜面に垂直方向に配向した圧電特性の良好な圧電体薄膜を得ることができる。第1の圧電体薄膜53および第2の圧電体薄膜57の厚さを約3μmとすることで、駆動電圧を10V以下とすることができる。また、第1の上層電極膜54と第2の上層電極膜58の材料としては、圧電体薄膜をエッチングするときに電極膜がエッチングされないような選択性を有する材料であれば特に制約がなく、同様にPt膜を用いても良いし、ニクロム、金、銅、タンタル、ニッケル等の金属材料や導電性の酸化物材料あるいは窒化物材料を用いてもよい。
【0044】
このように形成した基板同士を図3(B)に示すように、第1の上層電極膜54と第2の上層電極膜58とを対向させて接着剤により接着固定する。この接着剤は金属やセラミックを接着するために一般的に用いられている無機系あるいは有機系の接着剤であって、接着後の接着層60が粘弾性を示さないものであることが望ましい。さらには、接着後に粘弾性を示さないものであれば、フォトレジスト材料も使用可能であるが、なかでも耐熱性を向上させたフォトレジストはより有効な接着剤として使用できる。また、接着層60の厚さは、少なくとも第2の圧電体薄膜57の厚さとほぼ同じにすることが望ましい。これは、後述するように、この第2の圧電体薄膜57を含めて接着層60を所定のパターンに加工する必要があり、接着層60が厚くなりすぎるとエッチングが非常に困難となるし、逆に薄すぎると圧電体素子としての剛性が低下する。圧電体素子の厚さは圧電特性から設定されるが、接着層の厚さもこの圧電体素子の厚さとほぼ同じようにすれば剛性とパターン加工性を最適化できる。
【0045】
次に図3(C)に示すように、第2の基板55のみを選択的に除去する。この除去方法としては、ウエットエッチングあるいはドライエッチングが可能である。第1の基板51と第2の基板55とが同一材料で、第2の基板55をウエットエッチングで除去するときには、あらかじめ第1の基板51がエッチング液に触れることがないようにフォトレジスト等の耐エッチング性の材料で覆っておくことが望ましい。これらの基板として、酸化マグネシウム単結晶基板を用いる場合には加熱されたリン酸溶液により第2の基板55を除去することができる。また、シリコン単結晶基板を用いる場合には、フッ酸と硝酸の混液を用いれば除去することができる。
【0046】
ドライエッチングで除去するときには、第1の基板51はエッチングテーブル上に密着しておかれるので、エッチングガスに曝されるのは第1の基板51の側面部のみとなる。したがって、この場合には特に耐エッチング性の材料で第1の基板51の全面を覆う必要はない。また、第2の基板55を除去する場合に、この第2の基板55を前もって研磨して薄くしておき、その後ウエットエッチングあるいはドライエッチングで除去することも可能である。
【0047】
第2の基板55を除去すると、第2の基板55上に形成した第2の下層電極膜56、第2の圧電体薄膜57、および第2の上層電極膜58も含めて、すべての膜が第1の基板51上に堆積された形態となる。この状態で、図1の破線で囲まれた領域を残して、それ以外の部分をフォトリソおよびエッチングによって選択的に除去することで、図4(A)に示すように第1の基板51上に分離した複数の構造体66、66を得ることができる。
【0048】
例えば、積層された膜のすべてをエッチングして分離する場合には、フォトレジストを所定のパターンに形成した後、第2の下層電極膜56、第2の圧電体薄膜57、第2の上層電極膜58、接着層60、第1の上層電極膜54、第1の圧電体薄膜53、および第1の下層電極膜52をそれぞれ別の反応ガス、あるいは同じ反応ガスを用いてドライエッチングにより行えば良い。また、ウエットエッチングでも可能であるし、必要に応じてウエットエッチングとドライエッチングを併用することも可能である。なお、構造体66、66を形成するときに同時にビアホール96、98も加工すれば、工程を簡略化できる。
【0049】
さらに、図4(B)に示すように構造体66、66に絶縁膜62を被覆する。この絶縁膜としては液状の樹脂を塗布して、熱処理を行い硬化させることで作製できる。例えば、液状のポリアミドをスピンナで塗布し、乾燥させた後に350℃程度で加熱してポリイミド膜としても良いし、その他有機樹脂を塗布して加熱硬化させても良いし、ゾルゲル法による酸化ケイ素を主体とする膜を形成しても良い。さらに、スパッタリングやCVD法により酸化ケイ素膜、窒化ケイ素膜、あるいはこれらの混合膜等を用いることもできる。
【0050】
さらに、ビアホール96、98領域の絶縁膜62をフォトリソおよびエッチングした後、接続用電極膜73を図2(B)に示すように形成する。この結果、それぞれの電極膜を外部機器と接続するための外部接続電極部75が形成される。例えば、第1の下層電極膜52に対しては、第2の下層電極膜56から第1の圧電体薄膜53までをエッチングして露出させた個所、第2の下層電極膜56に対しては、絶縁膜62をエッチングして露出した個所、および、第1の上層電極膜54と第2の上層電極膜58に対しては、ビアホール96、98から接続用電極膜73を用いて表面に引き出した個所が、それぞれ外部接続電極部75となる。
【0051】
このための加工方法としては、例えば第1の下層電極膜52のみを露出させるためには、第1の圧電体薄膜53までをエッチングした後に再度フォトリソを行い所定のレジストパターン形状を作製してから、第1の下層電極膜52の不要部分をエッチング除去すれば、第1の下層電極膜52の所定パターンのみを露出させることができる。なお、第1の基板51を除去するときの薬液に第1の圧電体薄膜53が曝され難くするためには、第1の下層電極膜52を第1の圧電体薄膜53よりもやや幅広としておくことが有効な手段の一つである。これに対しては、この第1の下層電極膜52を外部接続電極部75となる領域のみ露出するだけでなく、第1の圧電体薄膜53の外形よりも幅広に同時に形成すればよいが、このようなパターン形状の作成は工程数の増加を伴わずに簡単に行える。
【0052】
また、ビアホール96、98部分の形成に対しては、図2(B)で示す所定の位置において第2の下層電極膜56、第2の圧電体薄膜57を選択エッチングして第2の上層電極膜58を露出させる。次に、選択エッチングした領域よりも小さな形状のレジストパターンをフォトリソで作製し、第2の上層電極膜58と接着層60をエッチングすれば形成できる。その後、絶縁膜62を形成し、所定のパターンにエッチングした後、接続用電極膜73を形成して所定のパターン形状を作製すれば、第1の上層電極膜54と第2の上層電極膜58を共通に接続して表面まで引き出し、表面に外部接続電極部75を有する構造が得られる。
【0053】
なお、接着層60としては導電性材料を用いることもできるが、その場合には上述の2回目のパターン形成とエッチングは不要であり、工程を簡略化できる。さらに、第1の上層電極膜54と第2の上層電極膜58とをそれぞれ個別に取り出すことが必要な場合にも、同様な工程で容易に行うことができる。
【0054】
このようにして第1の基板51上に形成された圧電体素子70、70を樹脂層76で覆い、同時にこの樹脂層76で仮固定用基板74を接着する。これを図4(C)に示す。この樹脂層76は、第1の基板51を除去する工程で仮固定用基板74が剥離しない程度の接着性と、第1の基板51をエッチング除去するための薬液あるいはドライエッチングにおける反応ガスに耐える材料であることが要求される。例えば、タール系ワックス、アクリル系接着剤、熱可塑性樹脂、あるいはフォトレジスト等を用いることができる。また、最初に圧電体素子70、70を例えばフォトレジストで覆い、乾燥させて樹脂層76を形成し、その後仮固定用基板74を例えばアクリル系の接着剤で接着する構成でも良い。このような構成とすることで、接着剤を溶解させる液と樹脂層76であるフォトレジストを溶解させる液を異ならせることができる。この結果、圧電体素子は接着剤を溶解させる液には曝されないようにできるので、この液により圧電体素子が変質することを防止できる。
【0055】
さらに、仮固定用基板74としては、ガラス、金属、あるいはフェライト、アルチック(アルミナとチタンカーバイドの混合セラミックス)、アルミナ等のセラミック材料等色々な材料をそのまま用いることもできる。ただし、第1の基板51を除去するときの薬液、ガス、ドライエッチング時の活性種を含むガス、またはドライエッチング時に少なくとも一部がイオン化したガスにより侵されない材料を選択することが要求される。一方、これらの基板材料表面の全面に上述の液や反応ガス等で侵されない膜を形成すれば、仮固定用基板74の選択の自由度が大きくなるため好ましい。
【0056】
仮固定用基板74を接着した後に、第1の基板51を薬液によりエッチング除去した状態を図5(A)に示す。この工程により、圧電体素子70、70は成膜のために用いた第1の基板51および第2の基板55の両方から分離された状態となるが、樹脂層76によって仮固定用基板74に固定されているので、変形したり、しわが発生することがなく、また互いに所定の位置関係に保持されている。
【0057】
次に図5(B)および図6に示すように、この仮固定用基板74に保持されている圧電体素子70、70を、メッシュ容器82内に入れて、樹脂層76を溶解させる溶解液84が入っている容器80中に浸し、樹脂層76を溶解させて仮固定用基板74を分離させる。例えば、樹脂層76としてタール形ワックスを用いる場合には溶解液84としてはキシレンを用いればよいし、アクリル系接着剤を用いる場合にはそれぞれ専用の溶解液を使用すればよい。なお、図5(B)では、圧電体素子70、70はメッシュ容器82に接触して保持するようにしているが、仮固定用基板74をメッシュ容器82の両側面で保持して、圧電体素子70、70がメッシュ容器82の底部よりもわずか浮いた状態で保持しても良い。このようにすれば、圧電体素子70、70がメッシュ容器82の底部に接触して損傷を受けることを防止できる。
【0058】
このメッシュ容器82のメッシュサイズを少なくとも圧電体素子70、70よりも小さくしておけば、圧電体素子70、70は仮固定用基板74から分離してもメッシュ孔からすり抜けて容器80の底部に落ちてバラバラになることはない。また、メッシュ容器82を容器80から引き上げるときにも、薬液がメッシュ孔から容易に抜けるので、圧電体素子70、70に付着している樹脂層76を確実に除去できる。さらに、別の容器に入れ替えて蒸気洗浄や乾燥処理を行うことも容易である。
【0059】
図5(C)は、このような溶解除去処理を行い、メッシュ容器82を容器80から引き上げた状態を示すが、このメッシュ容器82に圧電体素子70、70が保持された状態のまま、実装機によりハンドリングをして基板上に移動させることもできる。
【0060】
以上のように、仮固定用基板74を用いて一旦圧電体素子70、70を保持するとともに薬液から保護するようにしておき、第1の基板51の除去を行うことで薬液が圧電体素子70、70に及ぼす影響を確実に防止することができる。したがって、圧電体素子70、70としての信頼性、歩留まりを大きく改善できる。さらに加えて、仮固定用基板74に接着された圧電体素子70、70がメッシュ容器82の底部に向かい合うようにして溶解液84中に浸すことができ、仮固定用基板74を分離すれば、圧電体素子70、70をメッシュ容器82上に確実、かつ損傷等を生じさせずに保持させることができる。
【0061】
また、メッシュ容器82に仮固定用基板74ごと保持して樹脂層76を除去するようにすることで、複数の圧電体素子70、70を所定の位置関係に保持した状態で第1の基板51の除去や圧電体素子70の洗浄処理を行うことができ、実装工程で圧電体素子70をハンドリングするときにこれらの素子を破壊することなく、しかも簡単に確実なチャッキングが可能となる。
【0062】
なお、本第1の実施の形態の製造方法では、2個の圧電体素子70、70を一対として使用するアクチュエータの場合について説明したが、1個の圧電体素子の場合であっても同様な方法で製造することができ、しかも歩留まりや信頼性を向上できることはいうまでもない。
【0063】
また、本第1の実施の形態では、圧電体素子70、70の第1の基板51と接触していた第1の下層電極膜52の面には絶縁膜62が形成されていないが、この圧電体素子70、70の2個を一対として所定の基板(図示せず)上に接着固定するときに、第1の下層電極膜52面に接着剤を塗布して圧電体素子70、70の第1の下層電極膜52面側の絶縁膜としてもよい。あるいは、図5(A)に示すように第1の基板51を除去しても仮固定用基板74により圧電体素子70、70はその位置関係が固定されているので、第1の下層電極膜52の面にも絶縁膜62(図示せず)を形成してもよい。このように絶縁膜62で素子全面を覆うことで、特に圧電体素子70、70の耐湿信頼性の低下を防止できる。
【0064】
また、本第1の実施の形態では、第1の下層電極膜52と第2の下層電極膜56が同一の材料を用いる場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、第1の圧電体薄膜53と第2の圧電体薄膜57が所定の圧電特性を有するようにするための成膜時の加熱条件、あるいは成膜後の熱処理条件に耐え、かつ選択的にエッチング可能な電極膜材料であれば特に制約はない。
【0065】
(第2の実施の形態)
図7(A)は、第2の実施の形態の製造方法で作製された圧電体素子90の平面図であり、図7(B)はそのY−Y’部分の断面図を示す。本実施の形態の製造方法による圧電体素子90は平面形状に比べて厚みが非常に薄い直方体形状であり、図1と図2で示した構成要素と対応する要素には同一符号を付している。本第2の実施の形態では、第1の上層電極膜54と第2の上層電極膜58とを圧電体素子90表面にまで電気的に引き出すための接続用電極膜73が外部接続電極部75のすべてに形成されている。このように形成することで、外部機器への接続のためのワイヤボンディング条件を同一にできるので、効率的に実装可能となる。この圧電体素子90は本第1の実施の形態と同様にアクチュエータとして利用できるし、また伸縮に応じた電圧を検出するセンサとして利用できる。
【0066】
この圧電体素子90の製造方法について、本第1の実施の形態の製造方法と異なる工程のみについて、図8を用いて説明する。本第2の実施の形態でも第1の実施の形態の製造方法と同様に第1の基板51上に複数個の圧電体素子90が形成されるが、第1の実施の形態と異なりそれぞれ単独で使用される。図8(A)に示す第1の基板上に圧電体素子90が形成された構成は、本第1の実施の形態の製造工程における図4(B)と同様である。本第2の実施の形態の製造方法では、図8(A)に示すように仮固定用基板86として第1の基板51よりも大きな形状として、1枚の仮固定用基板86上に圧電体素子90が形成された第1の基板51を複数個接着固定できるようにしたことが、本第1の実施の形態の製造方法と異なる。
【0067】
本実施の形態でも、仮固定用基板86は金属、ガラス、あるいはセラミック等を用いることができるし、さらにこれらの基板の表面に第1の基板51をエッチング除去する薬液で侵されない金属、酸化物、あるいは有機物等からなる膜を形成して使用できることも同様である。仮固定用基板86上に第1の基板51を接着する方法は本第1の実施の形態と同様にすればよいが、所定のピッチ間隔で接着すれば洗浄、乾燥後に実装機でハンドリングする作業性が改善できるのでより望ましい。このように圧電体素子90が設けられている第1の基板51を複数個仮固定用基板86上に接着することで、第1の基板51を除去する工程時間の大幅な短縮が可能となる。例えば、第1の基板51を5枚接着して同時にこれらの基板をエッチング除去すれば、このための作業時間を約1/5に短縮できる。
【0068】
図8(B)は、第1の基板51を除去した後に樹脂層76を溶解させる溶解液84中に浸した状態を示す。この工程は本第1の実施の形態で示した図5(B)と同様であり、容器80中に溶解液84が入れられており、仮固定用基板86に接着されている圧電体素子90はメッシュ容器82に同じように保持されている。このメッシュ容器82のメッシュサイズも圧電体素子90よりも小さくしておくことで、仮固定用基板86から圧電体素子90が分離されたときにメッシュをすり抜けて容器80の下部に落ちることがない。
【0069】
なお、図8(B)では、圧電体素子90はメッシュ容器82に接触して保持するようにしているが、仮固定用基板86をメッシュ容器82の両側面で保持して、圧電体素子90がメッシュ容器82の底部に接触しないように保持しても良い。洗浄、乾燥についても本第1の実施の形態と同様とすることができるが、1個のメッシュ容器82上に多くの圧電体素子90が整列された状態で配置されるので、洗浄、乾燥後に所定の基板上に実装する工程をさらに効率化できる。
【0070】
これ以降の工程については本第1の実施の形態の製造方法と同様であり、説明は省略する。
【0071】
なお、本第2の実施の形態では略直方体形状の圧電体素子を製造する場合について説明したが、本第1の実施の形態で説明した2個の圧電体素子を一対として使用するアクチュエータの場合でも同じように製造できることはいうまでもない。
【0072】
(第3の実施の形態)
図9(A)は本発明の第3の実施の形態の製造方法により作製された2個の圧電体素子を一対としたアクチュエータの平面形状を示し、図9(B)はそのY−Y’部分の断面形状を示す。図1に示した構成要素と同じ要素には同一符号を付している。本第3の実施の形態の製造方法についても、本第1の実施の形態の製造方法と異なる工程のみについて説明する。
【0073】
本第3の実施の形態でも、第2の基板55を除去するまでの工程は同一である。第2の基板55が除去されて、第2の下層電極膜56、第2の圧電体薄膜57、および第2の上層電極膜58も含めて、すべての膜が第1の基板51上に堆積された形態となった基板を用いてフォトリソおよびエッチング処理を行う。このときに図9(B)に示すように、二つのビアホール96、98で挟まれた領域とその近傍の上面側94上にある第2の下層電極膜56をエッチング除去する。このときに第2の下層電極膜56を確実にエッチングするために、第2の圧電体薄膜57の一部までエッチングしてもよい。この結果、対になった2個の圧電体素子92、92のそれぞれの第2の下層電極膜56同士は電気的に分離された状態となる。一方、2層の圧電体薄膜と接着層および第1、第2の上層電極膜は、二つのビアホール96、98で挟まれた領域とその近傍部分では一体化されており、2個の圧電体素子92、92を一対として扱うときの剛性を大きくすることができる。
【0074】
この後、本第1実施の形態の製造方法の図5(A)に示す工程までは同一の工程を実施する。第1の基板51を除去した後で、かつ、仮固定用基板74に接着固定されている状態で、フォトリソとエッチングにより図9(B)に示すように二つのビアホール96、98で挟まれた領域とその近傍の下面側95の第1の下層電極膜52をエッチング除去する。このときにも、第1の下層電極膜52を確実にエッチング除去するために、第1の圧電体薄膜53の一部がエッチングされても特に支障はない。これにより、圧電体素子92、92のそれぞれの第1の下層電極膜52が互いに電気的に分離される。この工程は、仮固定用基板74上に圧電体素子92、92が接着されて固定されている状態で可能な工程である。なお、第1の下層電極膜52と第2の下層電極膜56の所定部分のみを除去する方式としては、フォトリソおよびエッチングで行うだけでなく、所定の部分にレーザ光を照射してアブレーションを生じさせて除去する等の他の方法を用いていもよい。
【0075】
これ以降の工程については、本第1の実施の形態で説明した工程と同様であるので説明は省略する。
【0076】
このような製造方法によれば、第1の下層電極膜52と第2の下層電極膜56とはそれぞれの圧電体素子92、92間で電気的に分離されるが、二つのビアホール96、98で挟まれた領域とその近傍上面側94部分では、2層の圧電体薄膜と2層の電極膜、および接着層とで一体化されているので、一対の圧電体素子からなるアクチュエータ全体としての剛性を大きくできる。これに加えて、ビアホール96、98から引き出された接続用電極膜73を接続して、中央部に外部接続電極部75を設ければワイヤボンディング等の接続作業工数を短縮することもできる。
【0077】
(第4の実施の形態)
図10(A)は本発明の第4の実施の形態の製造方法により作製された2個の圧電体素子を一対としたアクチュエータの平面形状を示し、図10(B)はそのY−Y’部分の断面形状を示す。図1に示した構成要素と同じ要素には同一符号を付している。本第4の実施の形態の製造方法についても、本第1の実施の形態の製造方法と異なる工程のみについて説明する。
【0078】
本第4の実施の形態の製造方法においては、第1の基板51上に第1の下層電極膜52と第1の圧電体薄膜53、第2の基板上55に第2の下層電極膜56と第2の圧電体薄膜57をそれぞれ形成し、第1の圧電体薄膜53と第2の圧電体薄膜57を向かい合わせて導電性の接着層104により接着する。さらに、圧電体素子100、100の外部接続電極部75を形成するときのビアホール106、108の加工は第2の下層電極膜56と第2の圧電体薄膜57とを所定の形状にエッチングして後、絶縁膜62を形成し、この絶縁膜62をさらに所定形状にエッチングすればよく、本第1の実施の形態の製造方法のような第1の上層電極膜、第2の上層電極膜は不要である。この工程以外については、本第1の実施の形態の製造方法と同一であるので、説明は省略する。
【0079】
以上のようにして圧電体素子100、100を形成すれば、第1の圧電体薄膜53および第2の圧電体薄膜57上にそれぞれの上層電極膜を形成する必要がなく、かつ、外部接続電極部形成のためのビアホールのパターン加工も簡単となるので、さらに工程の簡略化が可能である。
【0080】
なお、本第4の実施の形態の製造方法については、その一部を除き本第1の実施の形態の製造方法にしたがって製造した場合について説明したが、同様にその一部を除き本第2の実施の形態または本第3の実施の形態の製造方法にしたがって製造するようにしてもよい。
【0081】
また、本発明の製造方法では、第1の基板と第2の基板とが酸化マグネシウム単結晶基板、シリコン単結晶基板、チタン酸ストロンチウム単結晶基板、およびサファイヤ基板から選ばれた2種類からなる組み合わせの基板を用いることもできる。例えば、第1の基板として酸化マグネシウム単結晶基板、第2の基板としてシリコン単結晶基板を用いる場合、酸化マグネシウム単結晶基板に対しては成膜時に圧電特性の良好な膜面に垂直方向に配向した膜を得ることができるが、シリコン単結晶基板の場合には圧電体薄膜を成膜後に熱処理を行うことで圧電特性の良好な膜面に垂直方向に配向させることができる。第2の基板であるシリコン単結晶基板を除去するためにフッ酸と硝酸の混合液を用いても、第1の基板である酸化マグネシウム単結晶基板はこの液では侵されないので、酸化マグネシウム単結晶基板は特に樹脂等で保護する必要がない。
【0082】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、第1の基板上および第2の基板上にそれぞれ電極膜と圧電体薄膜を形成する工程、圧電体薄膜が形成された面を対向させて接着固定する工程、第2の基板のみを選択的に除去する工程、第1の基板上に残された上記の薄膜を所定の形状にそれぞれまたは一括して加工して分割された複数の構造体を形成する工程、この複数の構造体のそれぞれの露出面を覆うように絶縁膜を形成するとともにこれらの電極膜を外部機器に接続するための外部接続電極部を形成して複数の圧電体素子とする工程、複数の圧電体素子を覆うように樹脂を塗布するとともに仮固定用基板を接着する工程、第1の基板のみを選択的に除去する工程、仮固定用基板を圧電体素子から分離するとともに上述の樹脂を圧電体素子表面から除去して複数の圧電体素子を個別に分離する工程、とを有した製造方法である。
【0083】
この製造方法により、圧電体素子を仮固定用基板と樹脂により確実に保護して圧電体薄膜、絶縁膜、あるいは外部接続電極部の導体膜が第1の基板のエッチング液により侵されることを防ぐことができる。したがって、これらの材料の選択の自由度が大きくなり、実装特性に優れた電極材料や信頼性を向上できる絶縁膜材料を用いることもできる。
【0084】
さらに、第1の基板を除去して仮固定用基板に固定された状態でフォトリソおよびエッチング加工、レーザ照射加工、絶縁膜やさらに導体膜等の形成等の種々の加工も可能となり、高信頼性、高機能の圧電体素子を歩留まり良く製造することができ、種々の圧電体素子の利用を促進できる大きな効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の製造方法により作製したアクチュエータの平面図
【図2】(A)図1に示すアクチュエータのX−X’部分の断面図
(B)図1に示すアクチュエータのY−Y’部分の断面図
【図3】本発明の第1の実施の形態の製造方法の主要工程を示す工程説明図
【図4】本発明の第1の実施の形態の製造方法の主要工程を示す工程説明図
【図5】本発明の第1の実施の形態の製造方法の主要工程を示す工程説明図
【図6】本発明の第1の実施の形態の製造方法の仮固定用基板を分離する工程を説明するための斜視図
【図7】(A)本発明の第2の実施の形態の製造方法により作製した圧電体素子の平面図
(B)(A)におけるY−Y’部分の断面図
【図8】本発明の第2の実施の形態の製造方法の主要工程の説明図
【図9】(A)本発明の第3の実施の形態の製造方法により作製された2個の圧電体素子を一対としたアクチェエータの平面図
(B)(A)におけるY−Y’部分の断面図
【図10】(A)本発明の第4の実施の形態の製造方法により作製された2個の圧電体素子を一対としたアクチェエータの平面図
(B)(A)におけるY−Y’部分の断面図
【符号の説明】
51 第1の基板
52 第1の下層電極膜
53 第1の圧電体薄膜
54 第1の上層電極膜
55 第2の基板
56 第2の下層電極膜
57 第2の圧電体薄膜
58 第2の上層電極膜
60,104 接着層
62 絶縁膜
63 領域
66 構造体
70,90,92,100 圧電体素子
73 接続用電極膜
74,86 仮固定用基板
75 外部接続電極部
76 樹脂層
80 容器
82 メッシュ容器
84 溶解液
94 上面側
95 下面側
96,98,106,108 ビアホール

Claims (20)

  1. 第1の基板上に第1の下層電極膜、第1の圧電体薄膜、および第1の上層電極膜を順次積層する工程と、
    第2の基板上に第2の下層電極膜、第2の圧電体薄膜、および第2の上層電極膜を順次積層する工程と、
    前記第1の上層電極膜と前記第2の上層電極膜とを対向させて接着固定する工程と、
    前記第2の基板のみを選択的に除去する工程と、
    前記第1の下層電極膜、前記第1の圧電体薄膜、前記第1の上層電極膜、前記第2の下層電極膜、前記第2の圧電体薄膜、前記第2の上層電極膜、および前記接着層を所定の形状にそれぞれまたは一括して加工して、分割された複数の構造体を形成する工程と、
    前記複数の構造体それぞれを絶縁膜で覆い、前記第1の上層電極膜、前記第1の下層電極膜、前記第2の上層電極膜、および前記第2の下層電極膜を外部機器に接続するための外部接続電極部を形成して複数の圧電体素子とする工程と、
    前記複数の圧電体素子を樹脂層で被覆し、さらに仮固定用基板を接着する工程と、
    前記第1の基板のみを選択的に除去する工程と、
    前記仮固定用基板を接着した接着層の接着力を低下させ、あるいは前記接着層を溶解することで前記仮固定用基板を分離するとともに、前記樹脂層を前記圧電体素子表面から除去して前記複数の圧電体素子を個別に分離する工程とを少なくとも有する薄膜圧電体素子の製造方法。
  2. 第1の基板上に第1の下層電極膜と第1の圧電体薄膜を順次積層する工程と、
    第2の基板上に第2の下層電極膜と第2の圧電体薄膜を順次積層する工程と、
    前記第1の圧電体薄膜と前記第2の圧電体薄膜とを対向させて導電性を有する接着剤により接着固定する工程と、
    前記第2の基板のみを選択的に除去する工程と、
    前記第1の下層電極膜、前記第1の圧電体薄膜、前記第2の下層電極膜、前記第2の圧電体薄膜、および前記接着層を所定の形状にそれぞれまたは一括して加工して、分割された複数の構造体を形成する工程と、
    前記複数の構造体それぞれを絶縁膜で覆い、前記第1の下層電極膜、前記第2の下層電極膜、および前記接着層を外部機器に接続するための外部接続電極部を形成して複数の圧電体素子とする工程と、
    前記複数の圧電体素子を樹脂層で被覆し、さらに仮固定用基板を接着する工程と、
    前記第1の基板のみを選択的に除去する工程と、
    前記仮固定用基板を接着した接着層の接着力を低下させ、あるいは前記接着層を溶解することで前記仮固定用基板を分離するとともに、前記樹脂層を前記圧電体素子表面から除去して前記複数の圧電体素子を個別に分離する工程とを少なくとも有する薄膜圧電体素子の製造方法。
  3. 第1の基板上に第1の下層電極膜、第1の圧電体薄膜、および第1の上層電極膜を順次積層する工程と、
    前記第1の下層電極膜、前記第1の圧電体薄膜、および前記第1の上層電極膜を所定の形状にそれぞれまたは一括して加工して、分割された複数の構造体を形成する工程と、
    前記複数の構造体それぞれを絶縁膜で覆い、前記第1の下層電極膜および前記第1の上層電極膜を外部機器に接続するための外部接続電極部を形成して複数の圧電体素子とする工程と、
    前記複数の圧電体素子を樹脂層で被覆し、さらに仮固定用基板を接着する工程と、
    前記第1の基板のみを選択的に除去する工程と、
    前記仮固定用基板を接着した接着層の接着力を低下させ、あるいは前記接着層を溶解することで前記仮固定用基板を分離するとともに、前記樹脂層を前記圧電体素子表面から除去する工程とを少なくとも有してなる薄膜圧電体素子の製造方法。
  4. 前記複数の構造体を形成する工程において、2個の構造体を一対としてその一部の所定領域で少なくとも圧電体薄膜が接続されるように加工する工程を付加したことを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれかに記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  5. 前記仮固定用基板を分離する工程において、前記仮固定用基板上に接着された複数の圧電体素子よりも少なくとも小さな開口部を有するメッシュ容器に前記仮固定用基板を保持した状態で、前記接着層を溶解あるいは接着力を低下させて前記仮固定用基板を分離するとともに、前記樹脂を前記圧電体素子表面から除去して前記複数の圧電体素子が分離され、メッシュ容器に保持されるようにしたことを特徴とする請求項1から請求項4までのいずれかに記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  6. 前記外部接続電極部は圧電体素子の同一面側に形成することを特徴とする請求項1から請求項5までのいずれかに記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  7. 前記仮固定用基板を接着する接着剤と圧電体素子を被覆する樹脂層とが同一材料であり、前記樹脂層により前記仮固定用基板を接着することを特徴とする請求項1から請求項6までのいずれかに記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  8. 前記仮固定用基板は第1の基板を除去するための液、ガス、活性種を含むガス、または少なくとも一部がイオン化したガスにより侵されない膜を前記仮固定用基板の全面に形成したことを特徴とする請求項1から請求項7までのいずれかに記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  9. 前記仮固定用基板は第1の基板を複数個接着可能な大きさとしたことを特徴とする請求項1から請求項8までのいずれかに記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  10. 前記第1の基板と前記第2の基板とが同一の材料と形状を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  11. 前記第1の基板と前記第2の基板は酸化マグネシウム単結晶基板、シリコン単結晶基板、チタン酸ストロンチウム単結晶基板、およびサファイヤ基板から選ばれた2種類からなる組み合わせとしたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  12. 前記第1の上層電極膜と前記第2の上層電極膜とが同一の材料および成膜方式で形成されることを特徴とする請求項1に記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  13. 前記第1の圧電体薄膜と前記第2の圧電体薄膜とが同一の材料および成膜方式で形成されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  14. 前記第1の圧電体薄膜と前記第2の圧電体薄膜の厚さが略等しくなるように形成したことを特徴とする請求項13に記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  15. 前記第1の上層電極膜と前記第2の上層電極膜とを対向させて接着固定する接着層の厚さが少なくとも前記第2の圧電体薄膜の厚さと略等しくなるように形成したことを特徴とする請求項1に記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  16. 前記第1の圧電体薄膜と前記第2の圧電体薄膜とを対向させて接着固定する接着層の厚さが少なくとも前記第2の圧電体薄膜の厚さと略等しくなるように形成したことを特徴とする請求項2に記載の薄膜圧電体素子の製造方法。
  17. 電極膜で挟まれ膜面に対して垂直方向に配向した圧電体薄膜が接着層を介して一対固着された構造体と、前記構造体を覆うように形成された絶縁膜と、前記構造体の一方の面側に前記電極膜のそれぞれと接続する外部接続電極部とを少なくとも有するとともに、前記一対の圧電体薄膜の各々の厚さと前記接着層の厚さが略等しく形成されていることを特徴とする薄膜圧電体素子。
  18. 膜面に対して垂直方向に配向し、その一方の面のみに電極膜が形成された圧電体薄膜の他方の面同士を対向させ導電性の接着剤を介して一対固着してなる構造体と、前記構造体を覆うように形成された絶縁膜と、前記構造体の一方の面側に前記電極膜および前記接着層のそれぞれと接続する外部接続電極部とを少なくとも有することを特徴とする薄膜圧電体素子。
  19. 電極膜で挟まれ膜面に対して垂直方向に配向した圧電体薄膜が接着層を介して一対固着された構造体の2個を一対として、前記構造体の一部の所定領域で少なくとも圧電体薄膜が接続されて前記構造体同士が一体化した一対の構造体と、
    前記一対の構造体を覆うように形成された絶縁膜と、
    前記圧電体薄膜が接続された近傍領域で、かつ、同一面側部に前記一対の構造体を構成する前記電極膜のそれぞれを外部機器と接続するために設けた外部接続電極部とを有することを特徴とする薄膜圧電体素子。
  20. 前記構造体の外部接続電極部を形成する面側と反対面に設ける絶縁膜は外部機器への接着層であることを特徴とする請求項17から請求項19までのいずれかに記載の薄膜圧電体素子。
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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3503386B2 (ja) 1996-01-26 2004-03-02 セイコーエプソン株式会社 インクジェット式記録ヘッド及びその製造方法
US20030048041A1 (en) * 2001-09-07 2003-03-13 Hiroyuki Kita Piezoelectric thin-film element and a manufacturing method thereof
US7000459B2 (en) * 2002-07-10 2006-02-21 Seagate Technology Llc Strain sensor patterned on MEMS flex arms
WO2004040611A1 (en) * 2002-10-29 2004-05-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Switching apparatus, electric field applying method and switching system
CN100399597C (zh) 2002-12-03 2008-07-02 松下电器产业株式会社 薄膜压电体元件和其制造方法以及使用其的驱动器
JP4806896B2 (ja) * 2003-03-06 2011-11-02 パナソニック株式会社 薄膜圧電体素子、アクチュエータおよびディスク装置
WO2004100187A1 (ja) * 2003-05-08 2004-11-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 電子部品及びその製造方法
US7456932B2 (en) * 2003-07-25 2008-11-25 Asml Netherlands B.V. Filter window, lithographic projection apparatus, filter window manufacturing method, device manufacturing method and device manufactured thereby
JP4433727B2 (ja) * 2003-09-02 2010-03-17 Tdk株式会社 フレクシャ、サスペンションおよびヘッドジンバルアセンブリ
CN100411015C (zh) * 2004-09-28 2008-08-13 新科实业有限公司 微驱动器、设有该微驱动器的磁头折片组合以及磁盘驱动器
JP4997716B2 (ja) * 2005-06-21 2012-08-08 Tdk株式会社 電子デバイスの製造方法
JP2007019290A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Tdk Corp 圧電薄膜振動子およびその製造方法、並びにそれを用いた駆動装置および圧電モータ
JP5032949B2 (ja) * 2007-11-14 2012-09-26 エイチジーエスティーネザーランドビーブイ マイクロアクチュエータ、ヘッド・ジンバル・アセンブリ及びディスク・ドライブ装置
CN101983438B (zh) * 2008-02-05 2014-10-29 摩根先进陶瓷有限公司 用于减少颗粒脱落的封装涂层
JP4897767B2 (ja) 2008-10-21 2012-03-14 Tdk株式会社 薄膜圧電体素子及びその製造方法並びにそれを用いたヘッドジンバルアセンブリ、及びそのヘッドジンバルアセンブリを用いたハードディスクドライブ
WO2014050720A1 (ja) * 2012-09-27 2014-04-03 株式会社 村田製作所 圧電アクチュエータとその製造方法、磁気ディスク装置
US9401469B2 (en) 2014-09-29 2016-07-26 Sae Magnetics (H.K.) Ltd. Thin-film piezoelectric material element, method of manufacturing the same, head gimbal assembly, hard disk drive, ink jet head, variable focus lens and sensor
JP6601174B2 (ja) * 2015-11-13 2019-11-06 セイコーエプソン株式会社 圧電アクチュエーター、積層アクチュエーター、圧電モーター、ロボット、ハンド及び送液ポンプ
JP6944768B2 (ja) * 2016-08-29 2021-10-06 エア・ウォーター株式会社 ペリクルの製造方法
US10679679B1 (en) * 2018-12-21 2020-06-09 Seagate Technology Llc Slider test socket with clamp, and related assemblies and methods of use
US11387402B2 (en) * 2019-08-28 2022-07-12 Signal Solutions, Llc Piezoelectric sensor assembly
JP7446964B2 (ja) * 2020-09-29 2024-03-11 日本発條株式会社 ディスク装置用サスペンションの製造方法と、製造装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60242800A (ja) * 1984-05-17 1985-12-02 Yokogawa Medical Syst Ltd ダイスト・トランスデユ−サの製造方法
JP2642663B2 (ja) * 1988-03-10 1997-08-20 ヤマハ発動機株式会社 めっき型熱電対
JPH01308927A (ja) 1988-06-07 1989-12-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 焦電形赤外検出素子アレイ、焦電形赤外検出器およびその製法
JP3377874B2 (ja) 1994-02-07 2003-02-17 松下電器産業株式会社 薄膜センサエレメント及びその製造方法
JP3405618B2 (ja) * 1995-04-11 2003-05-12 松下電器産業株式会社 バイモルフ圧電アクチュエータ
US5692279A (en) * 1995-08-17 1997-12-02 Motorola Method of making a monolithic thin film resonator lattice filter
JP3053069B2 (ja) 1995-12-23 2000-06-19 川崎重工業株式会社 積層型アクチュエータとその配線方法
JP3695494B2 (ja) 1996-11-13 2005-09-14 セイコーエプソン株式会社 光変調デバイス、その製造方法および表示装置
JP3420915B2 (ja) * 1997-07-10 2003-06-30 富士通株式会社 圧電素子を用いたアクチュエータ及びこのアクチュエータを使用したヘッドの微小移動機構
JPH11142753A (ja) 1997-11-04 1999-05-28 Seiko Epson Corp 変形可能ミラーデバイスの製造方法
JPH11138809A (ja) * 1997-11-13 1999-05-25 Seiko Epson Corp アクチュエータ及びインクジェット式記録ヘッド
JP2000002714A (ja) * 1998-04-13 2000-01-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電型加速度センサ、加速度検出方法、および圧電型加速度センサの製造方法
JPH11345833A (ja) 1998-06-01 1999-12-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の製造方法
JP2000074739A (ja) * 1998-08-31 2000-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の製造方法
JP3690135B2 (ja) * 1998-09-10 2005-08-31 セイコーエプソン株式会社 デバイスの製造方法
FR2786565B1 (fr) * 1998-11-27 2000-12-22 Commissariat Energie Atomique Structure micro-usinee a membrane deformable et son procede de realisation
JP4000733B2 (ja) * 1999-06-30 2007-10-31 セイコーエプソン株式会社 水晶振動片のエッチング方法とエッチング装置及びエッチング用の水晶片の収容器
JP2001250348A (ja) * 2000-03-03 2001-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電素子の固定構造、ヘッドの支持機構および情報記録装置

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