JP4581885B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4581885B2
JP4581885B2 JP2005212246A JP2005212246A JP4581885B2 JP 4581885 B2 JP4581885 B2 JP 4581885B2 JP 2005212246 A JP2005212246 A JP 2005212246A JP 2005212246 A JP2005212246 A JP 2005212246A JP 4581885 B2 JP4581885 B2 JP 4581885B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor
pair
connection terminals
mold resin
semiconductor package
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005212246A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007035670A (ja
Inventor
晶良 持田
真光  邦明
健一 大濱
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2005212246A priority Critical patent/JP4581885B2/ja
Priority to US11/484,701 priority patent/US7470939B2/en
Priority to DE102006062989.2A priority patent/DE102006062989B3/de
Priority to DE102006032490.0A priority patent/DE102006032490B4/de
Priority to CNB2006101059737A priority patent/CN100527411C/zh
Publication of JP2007035670A publication Critical patent/JP2007035670A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4581885B2 publication Critical patent/JP4581885B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/10Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
    • H01L25/105Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/2612Auxiliary members for layer connectors, e.g. spacers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1017All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support
    • H01L2225/1029All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support the support being a lead frame
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1094Thermal management, e.g. cooling
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/35Mechanical effects
    • H01L2924/351Thermal stress
    • H01L2924/3511Warping

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

本発明は、半導体素子を一対の金属体で挟んだものをモールド樹脂にて封止してなる半導体パッケージ同士を、金属体に設けられた接続端子にて電気的に接続してなる半導体装置に関する。
従来より、半導体素子を一対の金属体で挟んだものをモールド樹脂にて封止してなる半導体パッケージとしては、半導体素子と、この半導体素子の両面を、当該半導体素子の電極および放熱部材として機能する一対の金属体にて挟み、これらをモールド樹脂にて封止したものが提案されている(たとえば、特許文献1参照)。
そして、このような半導体パッケージでは、一対の金属体のうち半導体素子と対向する面とは反対側の面をモールド樹脂から露出させて、放熱性を確保するとともに、一対の金属体の一方にモールド樹脂から露出する接続端子を設け、この接続端子を介して外部との電気的な接続を可能としている。
ここで、従来では、このような半導体パッケージ同士を上記接続端子を介して電気的に接続することで、たとえばインバータ装置などの半導体装置を構成しているが、これら両接続端子の電気的接続は、バスバーを介して行っている。
特許第3596388号公報
しかしながら、両接続端子の間にバスバーを介して接続を行っているため、バスバーを介した分、寄生インダクタンスが大きくなる。すると、このバスバーに起因するインダクタンスによって大きなサージ電圧が発生し、このサージ電圧によって半導体パッケージ内の半導体素子への負荷が大きくなってしまう。
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、半導体素子を一対の金属体で挟んだものをモールド樹脂にて封止してなる半導体パッケージ同士を、金属体に設けられた接続端子にて電気的に接続してなる半導体装置において、バスバーを介することなく半導体パッケージ同士を電気的に接続できるようにすることを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、半導体素子(1、2)を一対の金属体(3、4)で挟んだものをモールド樹脂(7)にて封止してなる半導体パッケージ(10、20)同士を、金属体(3、4)に設けられた接続端子(35a、35b)にて電気的に接続してなる半導体装置において、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、上下を反転させて配置されたものとし、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)を、一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って配列し、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)の金属体(3、4)におけるモールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)を、同一平面上に位置させ、第1の半導体パッケージ(10)の接続端子(35a)と、第2の半導体パッケージ(20)の接続端子(35b)とを直接接触させることにより、電気的に接続したことを特徴とする。
それによれば、両半導体パッケージ(10、20)の接続端子(35a、35b)同士が、直接接触することにより電気的に接続されているため、従来のようなバスバーを介することなく、半導体パッケージ(10、20)同士を電気的に接続することができる。
ここで、請求項2のように、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)を、一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って配列し、この配列方向に沿って各接続端子(35a、35b)を、相手側の半導体パッケージ(10、20)に向かってモールド樹脂(7)から突出させたものとしてもよい。
また、請求項3に記載の発明においては、第1の半導体パッケージ(10)の接続端子(35a)と、第2の半導体パッケージ(20)の接続端子(35b)とが直接接触することにより、電気的に接続されており、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って、配列されており、この配列方向に沿って各接続端子(35a、35b)は、相手側の前記半導体パッケージ(10、20)に向かってモールド樹脂(7)から突出することにより、互いに電気的に接続されており、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)の接続端子(35a、35b)のそれぞれにおいて、両接続端子(35a、35b)の接続部側とは反対側の面が、金属体(3、4)におけるモールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)と同一平面上に位置し露出していることを特徴とする。それによれば、請求項1と同様に、従来のようなバスバーを介することなく、半導体パッケージ(10、20)同士を電気的に接続することができる。また、各接続端子(35a、35b)における接続部側とは反対側の面を、放熱面として機能させることが可能となるため、放熱性の向上が図れる。
また、請求項4に記載の発明においては、第1の半導体パッケージ(10)の接続端子(35a)と、第2の半導体パッケージ(20)の接続端子(35b)とが直接接触することにより、電気的に接続されており、両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部が、電気絶縁性を有する絶縁部材(40、41、42、43)によって被覆されていることを特徴とする。それによれば、請求項1と同様に、従来のようなバスバーを介することなく、半導体パッケージ(10、20)同士を電気的に接続することができる。また、両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部の電気的な絶縁を確保しやすくなる。
また、請求項5に記載の発明は、第1の半導体パッケージ(10)の接続端子(35a)と、第2の半導体パッケージ(20)の接続端子(35b)とを、導電性接合部材(51)を介して電気的に接続し、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)を、一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って配列し、この配列方向に沿って各接続端子(35a、35b)を、相手側の前記半導体パッケージ(10、20)に向かって前記モールド樹脂(7)から突出させることにより、互いに電気的に接続し、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)の接続端子(35a、35b)のそれぞれにおいて、両接続端子(35a、35b)の接続部側とは反対側の面を、金属体(3、4)におけるモールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)と同一平面上に位置し露出させたことを特徴とする。
それによれば、両半導体パッケージ(10、20)の接続端子(35a、35b)同士が、導電性接合部材(51)を介して電気的に接続されているため、従来のようなバスバーを介することなく、半導体パッケージ(10、20)同士を電気的に接続することができる。
また、請求項6に記載の発明においては、第1の半導体パッケージ(10)の接続端子(35a)と、第2の半導体パッケージ(20)の接続端子(35b)とが導電性接合部材(51)を介して電気的に接続されており、両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部が、電気絶縁性を有する絶縁部材(40、41、42、43)によって被覆されていることを特徴とする。それによれば、請求項4と同様に、従来のようなバスバーを介することなく、半導体パッケージ(10、20)同士を電気的に接続することができる。また、両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部の電気的な絶縁を確保しやすくなる。
また、上記請求項4または請求項6に記載の半導体装置においては、請求項7のように、第1および第2の半導体パッケージ(10、20)を、一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って配列し、この配列方向に沿って各接続端子(35a、35b)を、相手側の半導体パッケージ(10、20)に向かってモールド樹脂(7)から突出させたものとしてもよい。
そして、請求項8に記載の発明は、両半導体パッケージ(10、20)がこのような平面的な配列をしている上記請求項1、2または請求項7の半導体装置において、両半導体パッケージ(10、20)の接続端子(35a、35b)のそれぞれにおいて、両接続端子(35a、35b)の接続部側とは反対側の面が、金属体(3、4)におけるモールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)と同一平面上に位置し露出していることを特徴とする。
それによれば、各接続端子(35a、35b)における接続部側とは反対側の面を、放熱面として機能させることが可能となるため、放熱性の向上が図れる。
また、請求項9に記載の発明は、上記請求項1、2、3および5のいずれか1つに記載の半導体装置において、両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部を、電気絶縁性を有する絶縁部材(40、41、42、43)によって被覆したことを特徴とする。
それによれば、両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部の電気的な絶縁を確保しやすくなる。
また、本発明は、上記第1または第2の特徴を有する半導体装置において、両半導体パッケージ(10、20)を、一対の金属体(3、4)が隔てられている方向に沿って積層し、各半導体パッケージ(10、20)において、金属体(3、4)におけるモールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)のうち相手側の半導体パッケージ(10、20)に対向する面を、接続端子(35a、35b)として構成し互いに電気的に接続したことを、第5の特徴とする。
また、請求項12に記載の発明は、上記請求項4または請求項6の半導体装置において、両半導体パッケージ(10、20)を、一対の金属体(3、4)が隔てられている方向に沿って積層し、各半導体パッケージ(10、20)において、金属体(3、4)におけるモールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)のうち相手側の半導体パッケージ(10、20)に対向する面を、接続端子(35a、35b)として構成し互いに電気的に接続したことを特徴とする。
なお、特許請求の範囲およびこの欄で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各図相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係る半導体装置100の概略構成を示す図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)中のA−A線に沿った概略断面図である。この半導体装置100は、たとえば自動車などの車両に搭載され、車両用のモータを駆動するために用いられるインバータ装置として適用されるものである。
また、図1に示される半導体装置100は、第1の半導体パッケージ10と第2の半導体パッケージ20とを備えているが、図2は、この図1中の半導体装置100における第1の半導体パッケージ10におけるモールド樹脂7内の各部の平面配置構成を示す図である。
なお、第2の半導体パッケージ20は、図2に示される第1の半導体パッケージ10と同様の構成であり、図1(b)に示されるように、当該図1(b)中にて、第1の半導体パッケージ10とは上下を反転させて配置されたものである。
図1、図2に示されるように、第1および第2の半導体パッケージ10、20は、平面的に配置された2個の半導体素子1、2を備える。本例では、第1の半導体素子1はIGBT(絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ)1であり、第2の半導体素子2は、FWD(フライホイールダイオード)2である。
そして、これら両半導体素子1、2の両面は、半導体素子1、2の電極および放熱部材として機能する一対の金属体3、4にて挟まれている。これら金属体3、4は、銅合金もしくはアルミ合金等の熱伝導性および電気伝導性の良い金属板にて構成されている。
ここで、図1(b)中の第1の半導体パッケージ10において、一対の金属体3、4のうち下側に位置する金属体3を、第1の金属体3とし、上側に位置する金属体4を、第2の金属体4とする。
図1(b)に示されるように、両半導体パッケージ10、20において、両半導体素子1、2の一面と第2の金属体4の内面との間は、はんだや導電性接着剤などの導電性接合部材5によって電気的・熱的に接続されている。また、両半導体素子1、2の他面と第1の金属体3との間には、両金属体3、4と同様の材質からなるヒートシンクブロック6が介在している。
そして、各半導体素子1、2とヒートシンクブロック6との間、および、ヒートシンクブロック6と第1の金属体3の内面との間は、導電性接合部材5によって電気的・熱的に接続されている。
そして、図1、図2に示されるように、両半導体パッケージ10、20においては、半導体素子1、2を挟み込んだ一対の金属体3、4が、モールド樹脂7にて封止されている。このモールド樹脂7はエポキシ系樹脂などからなり、型成形によって形成されたものである。
また、図1(b)に示されるように、一対の金属体3、4のそれぞれにおいて、半導体素子1、2と対向する内面とは反対側の外面3a、4aが、モールド樹脂7から露出している。
これにより、両半導体パッケージ10、20においては、第1および第2の半導体素子1、2の両面のそれぞれにて、第2の金属体4、ヒートシンクブロック6および第1の金属体3を介した放熱が行われる構成となっている。
また、一対の金属板3、4は、導電性接合部材5やヒートシンクブロック6を介して、縦型パワー素子である両半導体素子1、2の各面の図示しない電極に電気的に接続されている。
ここで、図1、図2に示されるように、第1の金属体3および第2の金属体4には、その端面からモールド樹脂7の外側に突出して露出する外部端子31、32、33、34、35が、設けられている。本例では、これら外部端子31〜35は、プレス加工などにより金属体3、4に一体成形されている。
第1の半導体パッケージ10において第1の金属体3に設けられている外部端子31は、本半導体装置100において上記モータに接続される出力端子31である。
また、第1の半導体パッケージ10において第2の金属体4に設けられている外部端子32、および、第2の半導体パッケージ20において第2の金属体4に設けられている外部端子33は、本半導体装置100における電源端子32、33である。ここでは、第1の半導体パッケージ10側の電源端子32が高電圧側、第2の半導体パッケージ20側の電源端子33がGND側となる。
ここで、出力端子31は、インバータ装置においては、いわゆるU,V,W端子のいずれか1つとなるものであり、高電圧側の電源端子32はいわゆるP端子、GND側の電源端子33はいわゆるN端子といわれるものである。
また、図1において、第2の半導体パッケージ20において第1の金属体3に設けられている外部端子34は、同一の両半導体パッケージ10、20を用いた構成を採用したため存在するものであるが、実際の構成上は不要なものであり、図示のように、残してもよいが、カットして除去してもよい。
また、対向する両半導体パッケージ10、20の間に存在する外部端子35は、これら両半導体パッケージ10、20を電気的に接続するため接続端子35である。そして、第1の半導体パッケージ10の接続端子35aと第2の半導体パッケージ20の接続端子35bとは、電気的に接続されている。
本実施形態では、図1に示されるように、第1および第2の半導体パッケージ10、20は、一対の金属体3、4が隔てられている方向とは直交する平面に沿って配列されている。なお、この平面は、図1(a)では紙面であり、図1(b)では紙面と垂直な平面である。
ここでは、図1(b)に示されるように、第1の半導体パッケージ10および第2の半導体パッケージ20は、これら両半導体パッケージ10、20の間で第1の金属体3と第2の金属体4の位置が逆になるように、互いに180°反転した形で配置されている。
そして、第1の半導体パッケージ10の接続端子35aは、当該パッケージ10における第1の金属体3に設けられ、第2の半導体パッケージ20の接続端子35bは、当該パッケージ10における第1の金属体3に設けられている。
そして、各接続端子35a、35bは、相手側の半導体パッケージ10、20に向かってモールド樹脂7から突出し、モールド樹脂7から露出している。そして、両接続端子35a、35bは、途中で折り曲げられることで重なり合い、互いに接触するようになっている。
図1に示される例では、第1の半導体パッケージ10の接続端子35aと第2の半導体パッケージ20の接続端子35bとが直接接触することにより、電気的に接続されている。ここでは、図1(a)中の複数の溶接点Kに示されるように、互いの接続端子35a、35bが重なり合ってスポット溶接されることで電気的に接続されている。
また、これら両接続端子35a、35bが接続されている接続部は、電気絶縁性を有する絶縁部材40によって被覆されている。ここでは、絶縁部材40は、エポキシ系樹脂などを用いた型成形や塗布などにより形成されたものである。
また、図1、図2に示されるように、両半導体パッケージ10、20では、モールド樹脂7の内部にて、IGBT1の周囲には、リードフレームなどからなる制御端子8が設けられている。
この制御端子8は、IGBT1を制御する信号の入出力を行うためのもので、モールド樹脂7からの突出先端部が図示しない回路基板に接続されるようになっている。そして、IGBT1は、ヒートシンクブロック6側の面にてボンディングワイヤ9を介して、制御端子8と電気的に接続されている。
なお、上記ヒートシンクブロック6は、このIGBT1と制御端子8とのワイヤボンディングを行うにあたって、ワイヤ9の高さを維持するために、IGBT1のワイヤボンディング面と第1の金属体3との間の高さを確保している。
このような半導体装置100においては、制御端子8を上記回路基板に接続し当該回路基板の制御回路によってIGBTを制御するとともに、電源端子32、33を介して図示しないコンバータから直流電圧を入力し、これを交流に変換して、出力端子31から図示しない上記モータへ出力するようになっている。このように、本半導体装置100は上記インバータ装置として機能する。
また、この半導体装置100は、各半導体パッケージ10、20を従来と同様の方法にて作製した後、両接続端子35aと35bとを溶接して接続し、さらに、絶縁部材40を成形することにより製造することができる。
ところで、本実施形態の半導体装置100は、第1の半導体パッケージ10と第2の半導体パッケージ20とを備え、これら第1および第2の半導体パッケージ10、20が、半導体素子1、2の両面を一対の金属体3、4にて挟んだものをモールド樹脂7にて封止し、各金属体3、4の外面3a、4aをモールド樹脂7から露出させるとともに、一対の金属体3、4の一方にモールド樹脂7から露出する接続端子35a、35bを設けた構成を有している。
そして、本実施形態では、このような半導体装置100において、第1の半導体パッケージ10の接続端子35aと、第2の半導体パッケージ20の接続端子35bとが直接接触することにより、電気的に接続されたものとしているため、従来のようなバスバーを介することなく半導体パッケージ10、20同士を電気的に接続できる。
そのため、バスバーに起因するインダクタンスによって発生するサージ電圧により、半導体パッケージ10、20内の半導体素子1、2への負荷が大きくなってしまうという問題は、回避される。
また、寄生インダクタンスを小さくするためには、1つの半導体パッケージ内部に、より多くの半導体素子を配置し、これらを接続することも考えられるが、この場合、多数の半導体素子の歩留まりや、モールド体格の大型化に伴うパッケージの反りやモールドの歩留まりなどの問題がある。
その点、本実施形態によれば、このようなモールド体格を大きくすることなく、寄生インダクタンスの小さなパッケージ接続構造を実現することができる。
ここで、上記図1に示される例では、両半導体パッケージ10、20の接続端子35a、35b同士は、直接接触し溶接されることにより電気的に接続されていたが、両接続端子35a、35bの直接接触による電気接続は、溶接以外にも、たとえば、ネジ止めや嵌合であってもよい。
図3(a)はネジ止めの例、図3(b)は嵌合の例を示す部分断面図である。このように、両接続端子35a、35bを直接接触させてネジ50によるネジ止めを行ったり、両接続端子35a、35bを嵌合形状として直接接触させることにより、電気的な接続を行ってもよい。
なお、ネジ止めは1箇所でもよいが、たとえば上記図1に示される溶接点Kと同様の位置に複数箇所、行う方が接続強度の点では好ましい。また、ネジ止めの場合、ネジ50の取り外しが可能なため、一方の半導体パッケージ10、20が故障した場合などに、半導体パッケージ10、20の交換や修理が容易である。
また、上記図1に示される例では、溶接やネジ止めあるいは嵌合などにより、両接続端子35a、35bの直接接触による電気接続を行ったが、両接続端子35a、35bの電気的な接続は、はんだや導電性接着剤などの導電性接合部材を介して接触させることにより行ってもよい。
図4は、導電性接合部材としてのはんだ51による両接続端子35a、35bの接続構成を示す部分断面図である。はんだ51としては、通常のはんだ材料を採用できる。また、はんだ以外にも、たとえば一般的な導電性接着剤でもよいし、あるいは、ろう材などを導電性接合部材として採用してもよい。
このように、両接続端子35a、35b同士を、導電性接合部材51を介して電気的に接続した場合にも、従来のようなバスバーを介することなく、半導体パッケージ10、20同士を電気的に接続することができる。
また、上記図1に示した構成では、第1および第2の半導体パッケージ10、20は、一対の金属体3、4が隔てられている方向とは直交する平面に沿って配列されている。本実施形態では、このような平面的な両半導体パッケージ10、20の配列構成に関連して、次のような幾つかの変形例を採用できる。
図5(a)は、本実施形態の第1の変形例としての半導体装置101の概略平面図であり、図5(b)は(a)中の接続端子35a、35bの近傍部を示す斜視図である。なお、図5では、絶縁部材40は省略してある。この例では、半導体装置101の上記出力端子31が、第2の半導体パッケージ20における接続端子35bを延ばした部分として構成されている。
図6は、本実施形態の第2の変形例としての半導体装置102の概略断面図である。本例では、第1および第2の半導体パッケージ10、20の接続端子35a、35bのそれぞれにおいて、上記図1に示されるものよりも、両接続端子35a、35bを厚くしている。
それにより、両接続端子35a、35bの接続部側とは反対側の面を、金属体3、4におけるモールド樹脂7から露出する外面3a、4aと同一平面上に位置させ、露出したものとしている。この場合、各接続端子35a、35bにおける接続部側とは反対側の面を、放熱面として機能させることが可能となるため、放熱性の向上が図れる。
図7は、本実施形態の第3の変形例としての半導体装置103の要部を示す図であり、(a)は両半導体パッケージ10、20の組み付け前の状態を示す図、(b)は組み付け後の状態を示す図である。図7では、モールド樹脂7および接続端子35a、35bのみを示してある。
上記図1に示される例では、絶縁部材40は、接続端子35a、35bを接続した後、エポキシ系樹脂などを用いた型成形や塗布などにより形成されるものであった。この図7に示される例では、第1および第2の半導体パッケージ10、20において、モールド樹脂7の成型時において絶縁部材41を形成しておく。
すなわち、図7に示されるように、各半導体パッケージ10、20において、両接続端子35a、35bが接続されている接続部を覆うように突出した突出部41を、モールド樹脂7に一体に形成しておく。
そして、両半導体パッケージ10、20の組み付け後は、この絶縁部材としての突出部41が両接続端子35a、35bの接続部を被覆した形となる。なお、本例の場合、両接続端子35a、35bの接続は、嵌合や上記はんだ51などの導電性接合部材により行うが、可能ならば溶接などでもよい。
また、図7に示される例では、両半導体パッケージ10、20のそれぞれに突出部41を1個形成したが、図7に示される2個の突出部41を、どちらか一方の半導体パッケージにのみ形成してもよい。その場合にも両半導体パッケージ10、20の組み付け後は、図7と同じように、接続端子35a、35bの被覆がなされる。
図8(a)は、本実施形態の第4の変形例としての絶縁部材42を示す斜視図であり、図8(b)はこの絶縁部材42による接続端子35a、35bの接続部の被覆状態を示す概略断面図である。
この絶縁部材42は、ゴムや樹脂などからなる略U字形状のもので、その内側に両接続端子35a、35bが接続されている接続部を挟み込むものである。それによって、当該接続部が被覆される。また、この絶縁部材42は、それ自身の弾性によって装着されるため、取り外し可能なものである。
また、図9は、本実施形態の第5の変形例としての半導体装置104を示す概略平面図である。このように、接続端子35a、35bの接続部だけでなく、装置全体を、絶縁部材としてのエポキシなどからなる絶縁樹脂43により封止してもよい。ただし、絶縁樹脂43による封止は、外部と接続を要する端子8、31〜34およびモールド樹脂7から露出する金属体3、4の外面3a、4aは露出する形で行う。
また、上記のように平面的に配列された両半導体パッケージ10、20において、上記各例では、各接続端子35a、35bは、相手側の半導体パッケージ10、20に向かってモールド樹脂7から突出していたが、接続端子35a、35bの突出方向は、これ以外のものであってもよい。
図10は、接続端子35a、35bの突出方向の変形例を示す図である。図10(a)、(b)に示されるように、接続端子35a、35bは、相手側の半導体パッケージ10、20とは対向していないパッケージの端部から突出し、途中で曲がって相手側へ向かうような形状であってもよい。このとき、接続端子35a、35bは、直角に曲がるよりも、図10に示されるように、端子の長さを短くすべく斜めに曲がった方が、寄生インダクタンスの低減効果が大きい。
さらに、上記のように両半導体パッケージ10、20が平面的に配列された半導体装置100においては、モールド樹脂7から露出する金属体3、4の外面3a、4aに、冷却器を接触させて、放熱の促進を図る場合がある。
図11は、上記半導体装置100に、このような冷却器200を装着した例を示す概略断面図である。
ここで、冷却器200は、一般的に知られたもので、内部に冷却水が流通可能な流路を有するアルミやCuなどの板材であり、この冷却器200は、半導体装置100をサンドイッチ状に挟んだ状態でネジ締めなどにより、半導体装置100に装着される。
本例では、冷却器200における接続端子35a、35bの接続部に相当する位置に、穴を開け、その穴に対して、あらかじめ樹脂などからなる絶縁部材40を圧入などにより固定しておく。すると、その後、冷却器200を半導体装置100に装着する際に、この絶縁部材40が目印となって、半導体装置100の位置決めが容易になる。
(第2実施形態)
上記実施形態では、第1および第2の半導体パッケージ10、20は、一対の金属体3、4が隔てられている方向とは直交する平面に沿って、配列されており、各接続端子35a、35bをモールド樹脂7から突出したものとしていた。
図12は、本発明の第2実施形態に係る半導体装置110の概略的な側面構成を示す図である。図12に示されるように、本実施形態では、第1および第2の半導体パッケージ10、20は、一対の金属体3、4が隔てられている方向に沿って積層されている。
そして、両半導体パッケージ10、20において、金属体3、4におけるモールド樹脂7から露出する外面3a、4aのうち相手側の半導体パッケージ10、20に対向する面3aが、接続端子35a、35bとして構成されている。ここでは、両半導体パッケージ10、20ともに、第1の金属体3の外面3aが、接続端子35a、35bとして構成されている。
こうして、各半導体パッケージ10、20において、もともとモールド樹脂7から露出している金属体3の外面3aを利用して、両半導体パッケージ10、20の接続を行える。そして、本実施形態では、接続端子35a、35bとしての上記両外面3a同士は、導電性接合部材としてのはんだ51を介して電気的に接続されている。
また、このようにモールド樹脂7から露出する金属体3の外面3a同士の接続を行うことにより、上記実施形態のように接続端子35a、35bを突出させなくてもよいため、その分、接続部の距離が短くなり、インダクタンスの低減効果が大きくなることが期待される。
また、本実施形態の半導体装置110も、上記第1実施形態のものと同様に、両半導体パッケージ10、20においては、第1の金属体3同士を電気的に接続しているが、半導体装置の構成等によっては、両半導体パッケージ10、20における第2の金属体4の外面4a同士を対向させ、接続してもよい。
さらには、両半導体パッケージ10、20を積層するにあたって、一方の半導体パッケージの第1の金属体3の外面3aと他方の半導体パッケージの第2の金属体4の外面4aとを対向させ、電気的な接続を行ってもよい。
また、本実施形態において、接続端子35a、35bとしての金属体3、4の外面3a、4a同士の電気的な接続は、直接接触した状態でも行える。たとえば、接続すべき金属体3、4同士において、各々の端部の一部をネジ止め用の部分としてモールド樹脂7から突出させ、その部分にて金属体3、4同士をネジ止めすればよい。また、可能ならば、溶接を行ってもよい。
また、図12に示される半導体装置110において、積層された両半導体パッケージ10、20の隙間に、たとえば樹脂を充填し当該隙間の封止を行えば、この樹脂が絶縁部材として構成される。
(他の実施形態)
なお、上記の各半導体装置において、出力端子31、電源端子32、33の突出位置は、上記の図示例に限定されるものではない。
また、上記図1に示される例では、第1の半導体パッケージ10に対して第2の半導体パッケージ20を180°反転させた配置としたが、反転させなくてもよい。この場合にも、両半導体パッケージ10、20間の第1の金属体3の端部から接続端子35a、35bを引き出すことにより、同様の接続が可能になる。
また、上述したように、ヒートシンクブロック6は、IGBT1と第1の金属体3との間に介在し、これら両部材1、3との間の高さを確保する役割を有するものであるが、可能であるならば、上記各実施形態において、ヒートシンクブロック6は存在しないものであってもよい。
また、半導体パッケージ10、20において一対の金属体3、4に挟まれる半導体素子としては、両面に配置される一対の金属体3、4を電極として用いることが可能なものであれば、上記したIGBT1やFWD2でなくてもよい。また、半導体素子は1個でもよいし、3個以上でもよい。
また、本発明は、第1の半導体パッケージと第2の半導体パッケージとが接続されてなる半導体装置に適用されるが、互いに接続される半導体パッケージ同士の一方を第1、他方を第2としているものである。つまり、本発明の半導体装置は、半導体パッケージが2個接続されたものに限らず、3個以上接続されたものであってもよい。
本発明の第1実施形態に係る半導体装置の概略構成を示す図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)中のA−A概略断面図である。 図1中の半導体装置における第1の半導体パッケージにおけるモールド樹脂内の各部の平面配置構成を示す図である。 (a)はネジ止め、(b)は嵌合による接続端子の接続例を示す部分断面図である。 はんだによる接続端子の接続例を示す部分断面図である。 (a)は、上記第1実施形態の第1の変形例としての半導体装置の概略平面図であり、(b)は(a)中の接続端子の近傍部を示す斜視図である。 上記第1実施形態の第2の変形例としての半導体装置の概略平面図である。 上記第1実施形態の第3の変形例としての半導体装置の要部を示す図である。 (a)は、上記第1実施形態の第4の変形例としての絶縁部材を示す斜視図であり、(b)はこの絶縁部材による接続端子の接続部の被覆状態を示す概略断面図である。 上記第1実施形態の第5の変形例としての半導体装置を示す概略平面図である。 接続端子の突出方向の変形例を示す図である。 半導体装置に冷却器を装着した例を示す概略断面図である。 本発明の第2実施形態に係る半導体装置の概略側面図である。
符号の説明
1…半導体素子としてのIGBT、2…半導体素子としてのFWD、
3、4…金属体、3a、4a…金属体の外面、7…モールド樹脂、
10…第1の半導体パッケージ、20…第2の半導体パッケージ、
35a…第1の半導体パッケージの接続端子、
35b…第2の半導体パッケージの接続端子、40、42…絶縁部材、
41…絶縁部材としての突出部、43…絶縁部材としての絶縁樹脂、
51…導電性接合部材としてのはんだ。

Claims (12)

  1. 第1の半導体パッケージ(10)と第2の半導体パッケージ(20)とを備え、
    これら第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、半導体素子(1、2)の両面を、前記半導体素子(1、2)の電極および放熱部材として機能する一対の金属体(3、4)にて挟んでなり、前記半導体素子(1、2)および前記一対の金属板(3、4)をモールド樹脂(7)にて封止したものであって、前記一対の金属体(3、4)のうち前記半導体素子(1、2)と対向する面とは反対側の面(3a、4a)を前記モールド樹脂(7)から露出させるとともに、前記一対の金属体(3、4)の一方に前記モールド樹脂(7)から露出する接続端子(35a、35b)を設けたものであり、
    前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)の前記接続端子(35a、35b)同士が電気的に接続されてなる半導体装置において、
    前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、同形状であって上下を反転させて配置されたものであり、
    前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、前記一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って、配列されており、
    前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)の前記金属体(3、4)における前記モールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)は、同一平面上に位置しており、
    前記第1の半導体パッケージ(10)の前記接続端子(35a)と、前記第2の半導体パッケージ(20)の前記接続端子(35b)とが直接接触することにより、電気的に接続されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)の配列方向に沿って前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)の前記各接続端子(35a、35b)は、相手側の前記半導体パッケージ(10、20)に向かって前記モールド樹脂(7)から突出することにより、互いに電気的に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 第1の半導体パッケージ(10)と第2の半導体パッケージ(20)とを備え、
    これら第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、半導体素子(1、2)の両面を、前記半導体素子(1、2)の電極および放熱部材として機能する一対の金属体(3、4)にて挟んでなり、前記半導体素子(1、2)および前記一対の金属板(3、4)をモールド樹脂(7)にて封止したものであって、前記一対の金属体(3、4)のうち前記半導体素子(1、2)と対向する面とは反対側の面(3a、4a)を前記モールド樹脂(7)から露出させるとともに、前記一対の金属体(3、4)の一方に前記モールド樹脂(7)から露出する接続端子(35a、35b)を設けたものであり、
    前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)の前記接続端子(35a、35b)同士が電気的に接続されてなる半導体装置において、
    前記第1の半導体パッケージ(10)の前記接続端子(35a)と、前記第2の半導体パッケージ(20)の前記接続端子(35b)とが直接接触することにより、電気的に接続されており、
    前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、前記一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って、配列されており、この配列方向に沿って前記各接続端子(35a、35b)は、相手側の前記半導体パッケージ(10、20)に向かって前記モールド樹脂(7)から突出することにより、互いに電気的に接続されており、
    前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)の前記接続端子(35a、35b)のそれぞれにおいて、前記両接続端子(35a、35b)の接続部側とは反対側の面が、前記金属体(3、4)における前記モールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)と同一平面上に位置し露出していることを特徴とする半導体装置。
  4. 第1の半導体パッケージ(10)と第2の半導体パッケージ(20)とを備え、
    これら第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、半導体素子(1、2)の両面を、前記半導体素子(1、2)の電極および放熱部材として機能する一対の金属体(3、4)にて挟んでなり、前記半導体素子(1、2)および前記一対の金属板(3、4)をモールド樹脂(7)にて封止したものであって、前記一対の金属体(3、4)のうち前記半導体素子(1、2)と対向する面とは反対側の面(3a、4a)を前記モールド樹脂(7)から露出させるとともに、前記一対の金属体(3、4)の一方に前記モールド樹脂(7)から露出する接続端子(35a、35b)を設けたものであり、
    前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)の前記接続端子(35a、35b)同士が電気的に接続されてなる半導体装置において、
    前記第1の半導体パッケージ(10)の前記接続端子(35a)と、前記第2の半導体パッケージ(20)の前記接続端子(35b)とが直接接触することにより、電気的に接続されており、
    前記両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部が、電気絶縁性を有する絶縁部材(40、41、42、43)によって被覆されていることを特徴とする半導体装置。
  5. 第1の半導体パッケージ(10)と第2の半導体パッケージ(20)とを備え、
    これら第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、半導体素子(1、2)の両面を、前記半導体素子(1、2)の電極および放熱部材として機能する一対の金属体(3、4)にて挟んでなり、前記半導体素子(1、2)および前記一対の金属板(3、4)をモールド樹脂(7)にて封止したものであって、前記一対の金属体(3、4)のうち前記半導体素子(1、2)と対向する面とは反対側の面(3a、4a)を前記モールド樹脂(7)から露出させるとともに、前記一対の金属体(3、4)の一方に前記モールド樹脂(7)から露出する接続端子(35a、35b)を設けたものであり、
    前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)の前記接続端子(35a、35b)同士が電気的に接続されてなる半導体装置において、
    前記第1の半導体パッケージ(10)の前記接続端子(35a)と、前記第2の半導体パッケージ(20)の前記接続端子(35b)とが導電性接合部材(51)を介して電気的に接続されており、
    前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、前記一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って、配列されており、この配列方向に沿って前記各接続端子(35a、35b)は、相手側の前記半導体パッケージ(10、20)に向かって前記モールド樹脂(7)から突出することにより、互いに電気的に接続されており、
    前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)の前記接続端子(35a、35b)のそれぞれにおいて、前記両接続端子(35a、35b)の接続部側とは反対側の面が、前記金属体(3、4)における前記モールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)と同一平面上に位置し露出していることを特徴とする半導体装置。
  6. 第1の半導体パッケージ(10)と第2の半導体パッケージ(20)とを備え、
    これら第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、半導体素子(1、2)の両面を、前記半導体素子(1、2)の電極および放熱部材として機能する一対の金属体(3、4)にて挟んでなり、前記半導体素子(1、2)および前記一対の金属板(3、4)をモールド樹脂(7)にて封止したものであって、前記一対の金属体(3、4)のうち前記半導体素子(1、2)と対向する面とは反対側の面(3a、4a)を前記モールド樹脂(7)から露出させるとともに、前記一対の金属体(3、4)の一方に前記モールド樹脂(7)から露出する接続端子(35a、35b)を設けたものであり、
    前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)の前記接続端子(35a、35b)同士が電気的に接続されてなる半導体装置において、
    前記第1の半導体パッケージ(10)の前記接続端子(35a)と、前記第2の半導体パッケージ(20)の前記接続端子(35b)とが導電性接合部材(51)を介して電気的に接続されており、
    前記両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部が、電気絶縁性を有する絶縁部材(40、41、42、43)によって被覆されていることを特徴とする半導体装置。
  7. 前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、前記一対の金属体(3、4)が隔てられている方向とは直交する平面に沿って、配列されており、この配列方向に沿って前記各接続端子(35a、35b)は、相手側の前記半導体パッケージ(10、20)に向かって前記モールド樹脂(7)から突出することにより、互いに電気的に接続されていることを特徴とする請求項4または6に記載の半導体装置。
  8. 前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)の前記接続端子(35a、35b)のそれぞれにおいて、前記両接続端子(35a、35b)の接続部側とは反対側の面が、前記金属体(3、4)における前記モールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)と同一平面上に位置し露出していることを特徴とする請求項1、2および7のいずれか1つに記載の半導体装置。
  9. 前記両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部が、電気絶縁性を有する絶縁部材(40、41、42、43)によって被覆されていることを特徴とする請求項1、2、3および5のいずれか1つに記載の半導体装置。
  10. 前記第1および前記第2の半導体パッケージ(10、20)において、前記モールド樹脂(7)は、前記両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部を覆うように突出した前記絶縁部材としての突出部(41)を有しており、
    この突出部(41)が前記両接続端子(35a、35b)の接続部を被覆していることを特徴とする請求項4、6および9のいずれか1つに記載の半導体装置。
  11. 前記絶縁部材(42)は、前記両接続端子(35a、35b)が接続されている接続部を挟み込むように被覆するものであって、取り外し可能なものであることを特徴とする請求項4、6および9のいずれか1つに記載の半導体装置。
  12. 前記第1および第2の半導体パッケージ(10、20)は、前記一対の金属体(3、4)が隔てられている方向に沿って積層されており、
    前記第1の半導体パッケージ(10)と前記第2の半導体パッケージ(20)において、前記金属体(3、4)における前記モールド樹脂(7)から露出する面(3a、4a)のうち相手側の前記半導体パッケージ(10、20)に対向する面が、前記接続端子(35a、35b)として構成され互いに電気的に接続されていることを特徴とする請求項4または6に記載の半導体装置。
JP2005212246A 2005-07-22 2005-07-22 半導体装置 Expired - Fee Related JP4581885B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005212246A JP4581885B2 (ja) 2005-07-22 2005-07-22 半導体装置
US11/484,701 US7470939B2 (en) 2005-07-22 2006-07-12 Semiconductor device
DE102006062989.2A DE102006062989B3 (de) 2005-07-22 2006-07-13 Halbleitervorrichtung mit Halbleiterbaugruppen, die jeweils ein Halbleiterelement und ein Umschließungselement aufweisen
DE102006032490.0A DE102006032490B4 (de) 2005-07-22 2006-07-13 Halbleitervorrichtung
CNB2006101059737A CN100527411C (zh) 2005-07-22 2006-07-21 半导体器件

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005212246A JP4581885B2 (ja) 2005-07-22 2005-07-22 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007035670A JP2007035670A (ja) 2007-02-08
JP4581885B2 true JP4581885B2 (ja) 2010-11-17

Family

ID=37657001

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005212246A Expired - Fee Related JP4581885B2 (ja) 2005-07-22 2005-07-22 半導体装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7470939B2 (ja)
JP (1) JP4581885B2 (ja)
CN (1) CN100527411C (ja)
DE (2) DE102006032490B4 (ja)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4564937B2 (ja) 2006-04-27 2010-10-20 日立オートモティブシステムズ株式会社 電気回路装置及び電気回路モジュール並びに電力変換装置
JP5076440B2 (ja) * 2006-10-16 2012-11-21 富士電機株式会社 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP4580997B2 (ja) * 2008-03-11 2010-11-17 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置
JP5067267B2 (ja) * 2008-06-05 2012-11-07 三菱電機株式会社 樹脂封止型半導体装置とその製造方法
JP5267021B2 (ja) * 2008-09-30 2013-08-21 株式会社デンソー 半導体装置およびそれを用いたインバータ回路
JP4957815B2 (ja) * 2009-06-24 2012-06-20 株式会社デンソー 半導体モジュール及びそれを用いた電子回路内蔵型モータ
JP5158176B2 (ja) * 2010-02-05 2013-03-06 株式会社デンソー 電力変換装置
JP5380376B2 (ja) 2010-06-21 2014-01-08 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワー半導体装置
JP5206743B2 (ja) * 2010-07-05 2013-06-12 株式会社デンソー 半導体モジュールおよびその製造方法
JP5709299B2 (ja) * 2010-09-29 2015-04-30 ローム株式会社 半導体パワーモジュールおよびその製造方法
JP2012212776A (ja) * 2011-03-31 2012-11-01 Denso Corp 電力変換装置
JP5947537B2 (ja) * 2011-04-19 2016-07-06 トヨタ自動車株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP5520889B2 (ja) 2011-06-24 2014-06-11 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワー半導体モジュール及びそれを用いた電力変換装置
KR101224702B1 (ko) * 2011-07-25 2013-01-21 삼성전기주식회사 파워소자 패키지모듈 및 그의 제조방법
JP2013101993A (ja) * 2011-11-07 2013-05-23 Denso Corp 半導体装置
JP5729314B2 (ja) * 2012-01-17 2015-06-03 株式会社デンソー 半導体装置及びその製造方法
DE102012204489A1 (de) * 2012-03-21 2013-09-26 Zf Friedrichshafen Ag Baugruppe
JP5621812B2 (ja) * 2012-04-25 2014-11-12 株式会社デンソー 半導体装置
WO2014002442A1 (ja) 2012-06-29 2014-01-03 株式会社デンソー 半導体装置および半導体装置の接続構造
JP5966979B2 (ja) * 2013-03-14 2016-08-10 株式会社デンソー 半導体装置及びその製造方法
JP5796599B2 (ja) 2013-05-23 2015-10-21 株式会社デンソー 半導体モジュールおよびスイッチング素子の駆動装置
JP2015095560A (ja) * 2013-11-12 2015-05-18 株式会社デンソー パワーモジュール
WO2015107871A1 (ja) * 2014-01-15 2015-07-23 パナソニックIpマネジメント株式会社 半導体装置
JP2015179702A (ja) * 2014-03-18 2015-10-08 株式会社東芝 半導体装置およびその製造方法
JP6354283B2 (ja) * 2014-04-22 2018-07-11 日産自動車株式会社 半導体モジュール及び半導体装置
JP6281506B2 (ja) * 2015-02-24 2018-02-21 トヨタ自動車株式会社 半導体モジュール
JP6347308B2 (ja) * 2016-02-26 2018-06-27 富士電機株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP6750514B2 (ja) 2017-01-18 2020-09-02 株式会社デンソー 半導体装置
DE102017207564A1 (de) 2017-05-05 2018-11-08 Robert Bosch Gmbh Halbleitermodul
JP6859860B2 (ja) * 2017-06-13 2021-04-14 株式会社デンソー 電力変換装置、及びその製造方法
WO2019065184A1 (ja) * 2017-09-27 2019-04-04 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 インバータモジュール
US10685909B2 (en) * 2017-11-17 2020-06-16 Infineon Technologies Ag Power package having multiple mold compounds
JP7069787B2 (ja) * 2018-02-09 2022-05-18 株式会社デンソー 半導体装置
KR102048478B1 (ko) * 2018-03-20 2019-11-25 엘지전자 주식회사 양면냉각형 파워 모듈 및 그의 제조 방법
JP2019054296A (ja) * 2019-01-10 2019-04-04 京セラ株式会社 パワー半導体モジュール
JP6782809B2 (ja) * 2019-04-05 2020-11-11 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体モジュール及びこれを備えた電力変換装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1168031A (ja) * 1997-08-11 1999-03-09 Mitsubishi Electric Corp Icモジュールおよび半導体部品
JP2001035988A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Nec Kyushu Ltd 半導体装置
JP2003031765A (ja) * 2001-07-17 2003-01-31 Hitachi Ltd パワーモジュールおよびインバータ
JP2004193476A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Denso Corp 半導体装置
JP2005012163A (ja) * 2003-05-26 2005-01-13 Denso Corp 半導体装置
JP2005136332A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Toyota Motor Corp 半導体装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5138438A (en) * 1987-06-24 1992-08-11 Akita Electronics Co. Ltd. Lead connections means for stacked tab packaged IC chips
JPH0263150A (ja) * 1988-08-29 1990-03-02 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体集積回路用パッケージ
JPH04113475A (ja) 1990-09-04 1992-04-14 Sony Corp 画像作成システム
JPH0529532A (ja) 1991-07-19 1993-02-05 Fujitsu Ltd 半導体モジユール構造
US6703707B1 (en) * 1999-11-24 2004-03-09 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
JP3596388B2 (ja) 1999-11-24 2004-12-02 株式会社デンソー 半導体装置
US6693350B2 (en) * 1999-11-24 2004-02-17 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure and method for manufacturing semiconductor device having radiation structure
KR100426494B1 (ko) * 1999-12-20 2004-04-13 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체 패키지 및 이것의 제조방법
EP2244289B1 (en) * 2000-04-19 2014-03-26 Denso Corporation Coolant cooled type semiconductor device
DE10114125A1 (de) * 2001-03-22 2002-09-26 Isad Electronic Sys Gmbh & Co Aus mehreren Leistungsmodulen bestehende elektronische Leistungsschaltung
JP3809346B2 (ja) * 2001-06-15 2006-08-16 トヨタ自動車株式会社 スイッチング回路
JP4173751B2 (ja) * 2003-02-28 2008-10-29 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
DE102005001151B4 (de) * 2005-01-10 2012-04-19 Infineon Technologies Ag Bauelementanordnung zur Serienschaltung bei Hochspannungsanwendungen
DE102005027356B4 (de) * 2005-06-13 2007-11-22 Infineon Technologies Ag Halbleiterleistungsbauteilstapel in Flachleitertechnik mit oberflächenmontierbaren Außenkontakten und ein Verfahren zur Herstellung desselben

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1168031A (ja) * 1997-08-11 1999-03-09 Mitsubishi Electric Corp Icモジュールおよび半導体部品
JP2001035988A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Nec Kyushu Ltd 半導体装置
JP2003031765A (ja) * 2001-07-17 2003-01-31 Hitachi Ltd パワーモジュールおよびインバータ
JP2004193476A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Denso Corp 半導体装置
JP2005012163A (ja) * 2003-05-26 2005-01-13 Denso Corp 半導体装置
JP2005136332A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Toyota Motor Corp 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE102006062989B3 (de) 2018-04-05
DE102006032490A1 (de) 2007-03-01
US20070018197A1 (en) 2007-01-25
US7470939B2 (en) 2008-12-30
DE102006032490B4 (de) 2014-07-03
JP2007035670A (ja) 2007-02-08
CN100527411C (zh) 2009-08-12
CN1901187A (zh) 2007-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4581885B2 (ja) 半導体装置
JP5206822B2 (ja) 半導体装置
WO2019107077A1 (ja) パワー半導体装置及びその製造方法
JP5279632B2 (ja) 半導体モジュール
US9831160B2 (en) Semiconductor device
JP5659938B2 (ja) 半導体ユニットおよびそれを用いた半導体装置
KR20130133052A (ko) 반도체 장치 및 그 제조 방법
JP5821949B2 (ja) 半導体装置及びこれを備えたインバータ装置、並びにこれらを備えた車両用回転電機
JP6256145B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2007184525A (ja) 電子機器装置
WO2019181261A1 (ja) パワー半導体装置
JP6610568B2 (ja) 半導体装置
US10027094B2 (en) Power module, power converter and drive arrangement with a power module
JP4403665B2 (ja) 半導体装置
JP4349364B2 (ja) 半導体装置
CN110771027B (zh) 功率半导体装置及使用该装置的电力转换装置
JP4424199B2 (ja) 半導体装置
JP2009164647A (ja) 半導体装置
JP4403166B2 (ja) パワーモジュールおよび電力変換装置
WO2017130370A1 (ja) 半導体装置
JP7074046B2 (ja) 半導体装置とその製造方法
JP4864990B2 (ja) 半導体装置
JP7240221B2 (ja) パワー半導体装置
JP6475660B2 (ja) パワー半導体装置
JP2022067902A (ja) 電子装置および電子装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070820

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100518

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100803

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100816

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4581885

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees