JP7069787B2 - 半導体装置 - Google Patents

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Description

本明細書が開示する技術は、半導体装置に関する。
特許文献1に、半導体装置が開示されている。この半導体装置は、複数の電力端子を備える。複数の電力端子の一つは、封止体の内部において、導体板に接合されている。
特開2015-53343号公報
上記した半導体装置において、導体板に接合された電力端子は、封止体の内外に亘って延びる本体部分と、封止体の内部において導体板に接合された接合部分とを有する。これら本体部分と接合部分は、共に同じ方向に沿って延びている。本明細書は、このような電力端子に対して、封止体による固定強度を向上し得る技術を提供する。
本明細書が開示する半導体装置は、第1半導体素子と、第1半導体素子を封止する封止体と、第1半導体素子に対して積層配置されており、封止体の内部において第1半導体素子に接続された第1導体板と、封止体の第1面から突出するとともに、封止体の内部において第1導体板に接続された第1電力端子とを備える。第1電力端子は、封止体の内外に亘って第1方向に延びる本体部分と、封止体の内部において第1方向とは異なる第2方向に延びる接合部分とを有し、接合部分において第1導体板に接合されている。
上記した半導体装置では、第1電力端子の接合部分が、第1電力端子の本体部分とは異なる方向に延びている。これにより、本体部分とは異なる方向に延びる接合部分が、封止体の内部でアンカーのように機能する。これにより、封止体の外部へ突出する本体部分に、大きな引っ張り力が負荷されたときでも、第1電力端子は封止体によって強固に保持される。即ち、封止体による第1電力端子の固定強度が向上する。
実施例1の半導体装置10の平面図を示す。 実施例1の半導体装置10の内部構造を示す平面図であって、封止体12の図示を省略したもの。 実施例1の半導体装置10の内部構造を示す分解斜視図。 図1中のIV-IV線における断面図。 第1電力端子14と第1導体板30との間の接合関係を示す図。 半導体装置10における電力系電流PC1、PC2と信号系電流SC1、SC2を模式的に示す図。
本技術の一実施形態において、第1電力端子の接合部分は、平面視において、封止体の第1面と第1導体板との間に位置してもよい。このような構成によると、接合部分を比較的に長く設けることによって、封止体による第1電力端子の固定強度をより高めることができる。ここでいう「平面視において」とは、第1半導体素子と第1導体板とが積層された方向(即ち、第1導体板及び第1半導体素子に対して垂直な方向)に沿って見た場合を意味し、当該方向における位置関係については無視することを意味する。
本技術の一実施形態において、半導体装置は、封止体の第1面とは反対側に位置する第2面から突出するとともに、封止体の内部において第1半導体素子に接続された第1信号端子をさらに備えてもよい。このような構成によると、第1信号端子が、第1電力端子から離れて配置されるので、第1電力端子を流れる電流に起因して、第1信号端子にノイズが生じることを抑制することができる。
本技術の一実施形態において、半導体装置は、第1半導体素子を挟んで第1導体板に対向するとともに、第1半導体素子を介して第1導体板に接続された第2導体板と、封止体の第1面から突出するとともに、封止体の内部において第2導体板に接続された第2電力端子と、をさらに備えてもよい。この場合、第1電力端子の接合部分の少なくとも一部は、平面視において、第1電力端子の本体部分と第2電力端子と間に位置してもよい。このような構成によると、第1電力端子の本体部分と第2電力端子との間の距離(特に、封止体の第1面に沿った沿面距離)を大きくして、両者の間の絶縁性を高めることができる。
本技術の一実施形態において、半導体装置は、封止体によって封止された第2半導体素子と、第2半導体素子に対して積層配置されているとともに、封止体の内部において第2半導体素子に接続されている第3導体板と、第2半導体素子を挟んで第3導体板に対向するとともに、第2半導体素子を介して第3導体板に接続された第4導体板と、封止体の第1面から突出するとともに、封止体の内部において第4導体板に接続された第3電力端子と、をさらに備えてもよい。この場合、第1電力端子は、平面視において、第2電力端子と第3電力端子との間に位置してもよい。このような構成によると、第1電力端子の両側に、第2電力端子と第3電力端子がそれぞれ配置されることで、第1電力端子を基準として半導体装置の構造的な対称性が高くなる。これにより、封止体による第1電力端子の固定強度が有意に向上する。ここで、特に限定されないが、第1電力端子、第2電力端子及び第3電力端子は、少なくとも封止体の第1面を通過する部分において、同一平面上に位置してもよい。
上記した実施形態において、第3導体板は、第2導体板に継手部を介して接続されていてもよい。この場合、継手部は、平面視において、第2導体板と第3導体板との間に位置するとともに、第1半導体素子及び第2半導体素子の両中心を通る直線に対して、封止体の第1面と同じ側に位置してもよい。このような構成によると、継手部が各々の電力端子の近くに配置されるので、継手部を介して二つの電力端子間を流れる電流の経路が短くなり、例えば半導体装置で生じる損失や、それに起因する発熱を抑制することができる。
上記した実施形態において、半導体装置は、封止体の第1面とは反対側に位置する第2面から突出するとともに、封止体の内部において第2半導体素子に接続された第2信号端子をさらに備えてもよい。このような構成によると、第1信号端子が、各々の電力端子から離れて配置されるので、各々の電力端子を流れる電流に起因して、第2信号端子にノイズが生じることを抑制することができる。
上記した実施形態において、第1導体板と第3導体板は、同一形状を有する部材であってもよい。この場合、第1導体板は、第3導体板に対して90度回転した姿勢で配置されていてもよい。このような構成によると、部品が共通化されることによって、例えば半導体装置の製造コストを低減することができる。
本技術の一実施形態において、第1電力端子の接合部分は、第1電力端子の本体部分の一端に設けられていてもよい。この場合、本体部分の当該一端では、一方側に接合部分が設けられているとともに、他方側に面取りが形成されていてもよい。本体部分の一端に面取りが形成されていると、第1電力端子と封止体との間の密着性が増して、封止体による第1電力端子の固定強度がより高くなる。
本技術の一実施形態において、第1電力端子の接合部分が延びる第2方向は、第1電力端子の本体部分が延びる第1方向に対して略垂直であってもよい。このような構成によると、第1方向と第2方向との角度差が十分に大きいことから、接合部分がアンカーとして十分に機能して、第1電力端子が封止体に対して強固に固定される。但し、第1方向と第2方向との角度差は、90度未満であってもよく、例えば45度以上あるいは60度以上であってもよい。なお、本明細書でいう略垂直とは、正確な垂直に対して10度以下の誤差が許容されることを意味する。
本技術の一実施形態において、第1電力端子は板状であり、接合部分が延びる第2方向は、第1電力端子の厚み方向に対して略垂直であってもよい。このような構成によると、例えば第1電力端子に引っ張り力が作用したときに、本体部分に対して接合部分が変形し難いので、第1電力端子が封止体に対して強固に固定される。
図面を参照して、実施例の半導体装置10について説明する。本実施例の半導体装置10は、パワー半導体装置であって、例えば電気自動車、ハイブリッド車、燃料電池車といった電動自動車において、コンバータやインバータといった電力変換回路に用いることができる。但し、半導体装置10の用途は特に限定されない。半導体装置10は、様々な装置や回路に広く採用することができる。
図1-図4に示すように、半導体装置10は、第1半導体素子20と、第2半導体素子50と、封止体12と、複数の端子14、15、16、18、19を備える。第1半導体素子20と第2半導体素子50は、横並びに配置されており、封止体12の内部に封止されている。封止体12は、特に限定されないが、例えばエポキシ樹脂といった熱硬化性樹脂で構成されている。各々の端子14、15、16、18、19は、封止体12の外部から内部に亘って延びており、封止体12の内部で第1半導体素子20及び第2半導体素子50の少なくとも一方に電気的に接続されている。複数の端子14、15、16、18、19には、第1電力端子14、第2電力端子15、第3電力端子16、複数の第1信号端子18及び複数の第2信号端子19が含まれる。
三つの電力端子14、15、16は、封止体12の第1の側面12cから突出している。三つの電力端子14、15、16は、互いに平行であり、第1方向Xに沿ってそれぞれ延びている。また、三つの電力端子14、15、16は、第1方向Xに垂直な第2方向Yに沿って配列されている。各々の電力端子14、15、16は、概して板状の部材であり、少なくとも封止体12の第1の側面12cを通過する部分において、同一平面上に位置している。一方、複数の第1信号端子18及び複数の第2信号端子19は、封止体12の第2の側面12dから突出している。第2の側面12dは、第1の側面12cとは反対側に位置している。複数の第1信号端子18及び複数の第2信号端子19は、第2方向Yに沿って配列されている。複数の第1信号端子18及び複数の第2信号端子19は、少なくとも封止体12の第1の側面12cを通過する部分において、同一平面上に位置している。
第1半導体素子20と第2半導体素子50は、パワー半導体素子であり、互いに同一の構成を有する。第1半導体素子20は、半導体基板22、表面電極24、裏面電極26及び複数の信号電極28を有する。表面電極24及び複数の信号電極28は、半導体基板22の一方の主表面に設けられており、裏面電極26は、半導体基板22の他方の主表面に設けられている。同様に、第2半導体素子50は、半導体基板52と表面電極54と裏面電極56とを有する。表面電極54及び複数の信号電極58は、半導体基板52の一方の主表面に設けられており、裏面電極56は、半導体基板52の他方の主表面に設けられている。即ち、各々の半導体素子20、50は、半導体基板22、52を挟んで一対の電極24、26、54、56を有する縦型の半導体素子である。なお、図3、図4において、表面電極24、54及び信号電極28、58は、半導体基板22、52の下方に位置しており、裏面電極26、56は、半導体基板22、52の上方に位置している。
一例ではあるが、本実施例における各々の半導体素子20、50は、RC-IGBT(Reverse Conducting - Insulated Gate Bipolar Transistor)であり、半導体基板22はシリコン(Si)で構成されている。各々の半導体素子20、50では、表面電極24、54がエミッタ電極として機能し、裏面電極56がコレクタ電極として機能する。また、複数の信号電極28、58には、例えば、ゲート信号電極、センスエミッタ電極、ケルビンエミッタ電極、温度センス電極等が含まれる。なお、信号電極28、58の数や機能については、本実施例で例示するものに限定されない。他の実施形態として、各々の半導体素子20、50は、MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)といった、他の種類のパワー半導体素子であってもよい。また、半導体基板22、52を構成する材料についても、シリコンに限定されず、例えば、炭化シリコン(SiC)又は窒化物半導体といった他の半導体であってよい。さらに、各々の半導体素子20、50は、ダイオードとIGBT(又はMOSFET)との組み合わせといった、二以上の半導体素子の組み合わせに置き換えられてもよい。
半導体装置10は、第1導体板30と第2導体板40とをさらに備える。第1導体板30と第2導体板40は、それぞれ銅又はその他の金属といった、導体で構成されている。第1導体板30は、第1半導体素子20に対して積層配置されている。第1導体板30の下面30bは、封止体12の内部において、第1半導体素子20の裏面電極26に接続されている。特に限定されないが、第1導体板30と第1半導体素子20との間は、はんだ接合層38を介して接合されている。なお、第1導体板30と第1半導体素子20との間には、一又は複数の導体部材が介在してもよい。第1導体板30の上面30aは、封止体12の上面12aに露出している。これにより、第1導体板30は、第1半導体素子20に接続された電気回路の一部を構成するだけでなく、第1半導体素子20の熱を外部へ放出する放熱板としても機能する。
第2導体板40は、第1半導体素子20を挟んで第1導体板30に対向している。第2導体板40の上面40aは、封止体12の内部において、第1半導体素子20の表面電極24に接続されている。これにより、第2導体板40は、第1半導体素子20を介して、第1導体板30に接続されている。特に限定されないが、第2導体板40と第1半導体素子20との間は、はんだ接合層48を介して接合されている。なお、第2導体板40と第1半導体素子20との間には、一又は複数の導体部材が介在してもよい。第2導体板40の下面40bは、封止体12の下面12bに露出している。これにより、第2導体板40は、第1半導体素子20に接続された電気回路の一部を構成するだけでなく、第1半導体素子20の熱を外部へ放出する放熱板としても機能する。
第1導体板30には、封止体12の内部において、第1電力端子14が接続されている。即ち、第1電力端子14は、第1半導体素子20の裏面電極26(ここではコレクタ電極)へ電気的に接続されている。第2導体板40には、第2電力端子15が接続されている。即ち、第2電力端子15は、第1半導体素子20の表面電極24(ここではエミッタ電極)へ電気的に接続されている。第1半導体素子20は、第1電力端子14と第2電力端子15との間に電気的に介挿されており、第1電力端子14から第2電力端子15へ流れる電流を導通及び遮断することができる。また、第1半導体素子20は、還流ダイオードを内蔵することから、第2電力端子15から第1電力端子14へ流れる電流を常に許容することができる。第2電力端子15は、第2導体板40へ一体に形成されている。但し、第2電力端子15は、第2導体板40とは独立した部材であって、第2導体板40へ接合されていてもよい。
一方、第1電力端子14は、第1導体板30とは別部材であって、第1導体板30へ接合されている。第1電力端子14は、概して、本体部分14aと接合部分14bとを有する。第1電力端子14の本体部分14aは、封止体12の内外に亘り、第1方向Xに沿って延びている。接合部分14bは、本体部分14aから第2方向Yに沿って延びている。そして、第1電力端子14は、接合部分14bにおいて、第1導体板30の端子接続部32に接合されている。特に限定されないが、接合部分14bは、封止体12の内部に位置する本体部分14aの一端14cに設けられている。本体部分14aの一端14cでは、一方側に接合部分14bが設けられているとともに、他方側には面取り14dが設けられている。
半導体装置10は、第3導体板60と第4導体板70とをさらに備える。第3導体板60と第4導体板70は、それぞれ銅又はその他の金属といった、導体で構成されている。第3導体板60は、第2半導体素子50に対して積層配置されている。第3導体板60の下面60bは、封止体12の内部において、第2半導体素子50の裏面電極56に接続されている。特に限定されないが、第3導体板60と第2半導体素子50との間は、はんだ接合層68を介して接合されている。第3導体板60と第2半導体素子50との間には、一又は複数の導体部材が介在してもよい。第3導体板60の上面60aは、封止体12の上面12aに露出している。これにより、第3導体板60は、第2半導体素子50に接続された電気回路の一部を構成するだけでなく、第2半導体素子50の熱を外部へ放出する放熱板としても機能する。
第4導体板70は、第2半導体素子50を挟んで第3導体板60に対向している。第4導体板70の上面70aは、封止体12の内部において、第2半導体素子50の表面電極54に接続されている。これにより、第4導体板70は、第2半導体素子50を介して、第3導体板60に接続されている。特に限定されないが、第4導体板70と第2半導体素子50との間は、はんだ接合層78を介して接合されている。但し、第4導体板70と第2半導体素子50との間には、一又は複数の導体部材が介在してもよい。第4導体板70の下面70bは、封止体12の下面12bに露出している。これにより、第4導体板70は、第2半導体素子50に接続された電気回路の一部を構成するだけでなく、第2半導体素子50の熱を外部へ放出する放熱板としても機能する。
第3導体板60には、封止体12の内部において、第2導体板40が接続されている。これにより、第2電力端子15は、第1半導体素子20の表面電極24だけでなく、第2半導体素子50の裏面電極56(ここではコレクタ電極)にも電気的に接続されている。一例ではあるが、第2導体板40と第3導体板60との間は、継手部80を介して接続されている。継手部80の一部は、第2導体板40へ一体に形成されており、継手部80の他の一部は、第3導体板60へ一体に形成されており、両者ははんだ接合層82を介して互いに接合されている。第4導体板70には、第3電力端子16が接続されている。即ち、第3電力端子16は、第2半導体素子50の表面電極54(ここではエミッタ電極)へ電気的に接続されている。第2半導体素子50は、第2電力端子15と第3電力端子16との間に電気的に介挿されており、第2電力端子15から第3電力端子16へ流れる電流を導通及び遮断することができる。また、第2半導体素子50は、還流ダイオードを内蔵することから、第3電力端子16から第2電力端子15へ流れる電流を常に許容することができる。第3電力端子16は、第4導体板70へ一体に形成されている。但し、第3電力端子16は、第4導体板70とは独立した部材であって、第4導体板70へ接合されていてもよい。
複数の第1信号端子18は、封止体12の内部において、第1半導体素子20の複数の信号電極28にそれぞれ接続されている。複数の第1信号端子18は、外部のゲート駆動回路(図示省略)へ接続され、ゲート駆動回路から出力されるゲート駆動信号を第1半導体素子20へ送信する。また、複数の第1信号端子18は、第1半導体素子20が出力する温度信号や電流信号を、ゲート駆動回路へ送信する。同様に、複数の第2信号端子19は、封止体12の内部において、第2半導体素子50の複数の信号電極58にそれぞれ接続されている。複数の第2信号端子19についても、外部のゲート駆動回路(図示省略)へ接続され、ゲート駆動回路から出力されるゲート駆動信号を第2半導体素子50へ送信する。また、複数の第2信号端子19は、第2半導体素子50が出力する温度信号や電流信号を、ゲート駆動回路へ送信する。本実施例では、第1信号端子18と、第1半導体素子20の信号電極28との間が、直接的にはんだ付けされている。しかしながら、他の実施形態として、第1信号端子18と第1半導体素子20の信号電極28との間は、ボンディングワイヤ又はその他の接続部材を介して接続されていてもよい。この点については、第2信号端子19と、第2半導体素子50の信号電極58との間の接続についても同様である。
以上の構成により、本実施例の半導体装置10は、第1電力端子14と第3電力端子16との間に二つのRC-IGBTが直列に接続され、かつ、二つのRC-IGBTの間に第2電力端子15が接続された回路構造を有する。従って、この半導体装置10は、例えばDC-DCコンバータやインバータといった電力変換回路において、上下のアームを構成することができる。なお、第1導体板30と第2導体板40との間には、複数の第1半導体素子20が並列に設けられてもよく、第3導体板60と第4導体板70との間には、複数の第2半導体素子50が並列に設けられてもよい。これにより、例えば半導体装置10の定格電流(許容電流)を高めることができる。
本実施例の半導体装置10では、図2、図4、図5に示すように、第1電力端子14が、封止体12の内外に亘って第1方向Xに延びる本体部分14aと、封止体12の内部において第1方向Xとは異なる第2方向Yに延びる接合部分14bとを有する。そして、第1電力端子14は、接合部分14bにおいて、第1導体板30の端子接続部32に接合されている。第1電力端子14の接合部分14bが、第1電力端子14の本体部分14aとは異なる方向に延びていると、接合部分14bが封止体12の内部でアンカーのように機能する。これにより、封止体12の外部へ突出する本体部分14aに、大きな引っ張り力が負荷されたときでも、第1電力端子14は封止体12によって強固に保持される。即ち、封止体12による第1電力端子14の固定強度が向上する。
特に限定されないが、第1電力端子14の接合部分14bが延びる第2方向Yは、第1電力端子14の本体部分14aが延びる第1方向Xに対して垂直である。このように、第1方向Xに対して第2方向Yが垂直又は略垂直(90度±10度)であり、第1方向Xと第2方向Yとの角度差が十分に大きいと、接合部分14bがアンカーとして効果的に機能することができる。但し、他の実施形態として、第1方向Xと第2方向Yとの角度差は、90度未満であってもよく、例えば45度以上あるいは60度以上であってもよい。
特に限定されないが、第1電力端子14は板状の部材であり、接合部分14bが延びる第2方向Yは、第1電力端子14の厚み方向に対して略垂直である。このような構成によると、例えば第1電力端子14に引っ張り力が作用したときに、本体部分14aに対して接合部分14bが変形し難いので、第1電力端子14が封止体12に対して強固に固定される。但し、他の実施形態として、第1電力端子14の接合部分14bは、板状の第1電力端子14を、その厚さ方向に折り曲げて形成されてもよい。この場合、接合部分14bが延びる第2方向Yは、第1電力端子14の厚み方向に対して略平行となる。
本実施例の半導体装置10では、第1電力端子14の接合部分14bが、平面視において(図2参照)、封止体12の第1の側面12cと第1導体板30との間に位置する。このような構成によると、封止体12の第1の側面12cに沿って、接合部分14bを比較的に長く設けることができる。これにより、封止体12による第1電力端子14の固定強度をより高めることができる。ここでいう「平面視において」とは、第1半導体素子20と第1導体板30とが積層された第3方向Z(即ち、第1導体板30及び第1半導体素子20に対して垂直な方向)に沿って見た場合を意味し、当該第3方向における位置関係については無視することを意味する。
本実施例の半導体装置10では、第1電力端子14の接合部分14bが、平面視において(図2参照)、第1電力端子14の本体部分14aと第2電力端子15と間に位置している。特に、第1電力端子14の接合部分14bは、第1電力端子14の本体部分14aから第2電力端子15に向けて延びている。このような構成によると、第1電力端子14の本体部分14aと、第2電力端子15との間の距離(特に、封止体12の第1の側面12cに沿った沿面距離)を大きくして、両者の間の絶縁性を高めることができる。特に、第1電力端子14が接続された第1導体板30と、第2電力端子15が接続された第2導体板40は、同じ第1半導体素子20を挟んで互いに対向しているので、通常、第1電力端子14と第2電力端子15との間の距離は短くなりやすい。これに対して、第1電力端子14の接合部分14bを、第1電力端子14の本体部分14aと第2電力端子15との間に設ければ、第1電力端子14と第2電力端子15との間の距離を大きくすることができる。
本実施例の半導体装置10では、第1電力端子14が、平面視(図2参照)において、第2電力端子15と第3電力端子16との間に位置している。このような構成によると、第1電力端子14の両側に、第2電力端子15と第3電力端子16がそれぞれ配置されることで、第1電力端子14を基準として半導体装置10の構造的な対称性が高くなる。これにより、封止体12による第1電力端子14の固定強度が有意に向上する。特に、第1電力端子14、第2電力端子15及び第3電力端子16が同一平面上に位置していると、半導体装置10の構造的な対称性をより高めることができる。
本実施例の半導体装置10では、第1電力端子14、第2電力端子15及び第3電力端子16が、封止体12の第1の側面12cから突出する一方で、複数の第1信号端子18及び第2信号端子19は、第1の側面12cとは反対側の第2の側面12dから突出している。これにより、複数の第1信号端子18及び複数の第2信号端子19は、各々の電力端子14、15、16から比較的に離れて配置されている。このような構成によると、図6に示すように、半導体装置10に流れる電力系電流PC1、PC2の経路と、半導体装置10に流れる信号系電流SC1、SC2との経路が、比較的に離れて形成される。従って、各々の電力端子14、15、16を流れる電力系電流PC1、PC2に起因して、第1信号端子18及び第2信号端子19に流れる信号系電流SC1、SC2にノイズが生じることが抑制される。
本実施例の半導体装置10では、前述したように、第3導体板60が、第2導体板40に継手部80を介して接続されている。継手部80は、平面視において、第2導体板40と第3導体板60との間に位置している。加えて、図6に示すように、継手部80は、第1半導体素子20及び第2半導体素子50の両中心20a、50aを通る直線Aに対して、封止体12の第1の側面12cと同じ側に位置している。このような構成によると、継手部80が第2電力端子15及び第3電力端子16の近くに配置されるので、継手部80を介して第2電力端子15と第3電力端子16との間を流れる電力系電流PC2の経路が短くなり、半導体装置10で生じる損失や、それに起因する発熱を抑制することができる。
本実施例の半導体装置10では、第1導体板30と第3導体板60に、同一形状を有する部材が採用されており、第1導体板30は、第3導体板60に対して90度回転した姿勢で配置されていてもよい。なお、第1導体板30において端子接続部32となる部分は、第3導体板60において継手部80の一部を構成する。このような構成によると、部品が共通化されることによって、例えば半導体装置10の製造コストを低減することができる。
本実施例の半導体装置10では、前述したように、第1電力端子14の接合部分14bが、第1電力端子14の本体部分14aの一端14cに設けられている。そして、本体部分14aの一端14cでは、一方側に接合部分14bが設けられているとともに、他方側に面取り14dが形成されている(図2、図3、図5等参照)。本体部分14aの一端14cに面取り14dが形成されていると、第1電力端子14と封止体12との間の密着性が増して、封止体12による第1電力端子14の固定強度がより高くなる。また、半導体装置10の製造段階において、封止体12を例えばモールド成形するときに、モールド内における材料(例えば樹脂)の流れがスムーズとなる。なお、面取り14dは、例えばR面取りであってもよいし、C面取りであってもよい。
以上、いくつかの具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書又は図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものである。
10:半導体装置
12:封止体
14:第1電力端子
14a:第1電力端子の本体部分
14b:第1電力端子の接合部分
14c:第1電力端子の本体部分の一端
14d:第1電力端子の本体部分の一端に設けられた面取り
15:第2電力端子
16:第3電力端子
18:第1信号端子
19:第2信号端子
20:第1半導体素子
30:第1導体板
40:第2導体板
50:第2半導体素子
60:第3導体板
70:第4導体板
80:継手部
X:第1方向
Y:第2方向
Z:第3方向

Claims (8)

  1. 第1半導体素子と、
    前記第1半導体素子を封止する封止体と、
    前記第1半導体素子に対して積層配置されており、前記封止体の内部において前記第1半導体素子に接続された第1導体板と、
    前記封止体の第1面から突出するとともに、前記封止体の内部において前記第1導体板に接続された第1電力端子と、
    前記第1半導体素子を挟んで前記第1導体板に対向するとともに、前記第1半導体素子を介して前記第1導体板に接続された第2導体板と、
    前記封止体の前記第1面から突出するとともに、前記封止体の内部において前記第2導体板に接続された第2電力端子と、
    前記封止体によって封止された第2半導体素子と、
    前記第2半導体素子に対して積層配置されているとともに、前記封止体の内部において前記第2半導体素子に接続されている第3導体板と、
    前記第2半導体素子を挟んで前記第3導体板に対向するとともに、前記第2半導体素子を介して前記第3導体板に接続された第4導体板と、
    前記封止体の前記第1面から突出するとともに、前記封止体の内部において前記第4導体板に接続された第3電力端子と、
    を備え、
    前記第1電力端子は、平面視において、前記第2電力端子と前記第3電力端子との間に位置するとともに、前記封止体の内外に亘って第1方向に延びる本体部分と、前記封止体の内部において前記第1方向とは異なる第2方向に延びる接合部分とを有し、前記接合部分において前記第1導体板に接合されており
    前記第1電力端子の前記接合部分の少なくとも一部は、平面視において、前記第1電力端子の前記本体部分と前記第2電力端子と間に位置し、
    前記第3導体板は、前記第2導体板に継手部を介して接続されており、
    前記継手部は、平面視において、前記第2導体板と前記第3導体板との間に位置するとともに、前記第1半導体素子及び前記第2半導体素子の両中心を通る直線に対して、前記封止体の前記第1面と同じ側に位置する、
    半導体装置。
  2. 前記封止体の前記第1面とは反対側に位置する第2面から突出するとともに、前記封止体の内部において前記第2半導体素子に接続された第2信号端子をさらに備える、請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記第1導体板と前記第3導体板は、同一形状を有する部材であるとともに、前記第1導体板は、前記第3導体板に対して90度回転した姿勢で配置されている、請求項1又は2に記載の半導体装置。
  4. 第1半導体素子と、
    前記第1半導体素子を封止する封止体と、
    前記第1半導体素子に対して積層配置されており、前記封止体の内部において前記第1半導体素子に接続された第1導体板と、
    前記封止体の第1面から突出するとともに、前記封止体の内部において前記第1導体板に接続された第1電力端子と、
    前記第1半導体素子を挟んで前記第1導体板に対向するとともに、前記第1半導体素子を介して前記第1導体板に接続された第2導体板と、
    前記封止体の前記第1面から突出するとともに、前記封止体の内部において前記第2導体板に接続された第2電力端子と、
    前記封止体によって封止された第2半導体素子と、
    前記第2半導体素子に対して積層配置されているとともに、前記封止体の内部において前記第2半導体素子に接続されている第3導体板と、
    前記第2半導体素子を挟んで前記第3導体板に対向するとともに、前記第2半導体素子を介して前記第3導体板に接続された第4導体板と、
    前記封止体の前記第1面から突出するとともに、前記封止体の内部において前記第4導体板に接続された第3電力端子と、
    を備え、
    前記第1電力端子は、平面視において、前記第2電力端子と前記第3電力端子との間に位置するとともに、前記封止体の内外に亘って第1方向に延びる本体部分と、前記封止体の内部において前記第1方向とは異なる第2方向に延びる接合部分とを有し、前記接合部分において前記第1導体板に接合されており、
    前記第1電力端子の前記接合部分の少なくとも一部は、平面視において、前記第1電力端子の前記本体部分と前記第2電力端子と間に位置し、
    前記第1導体板と前記第3導体板は、同一形状を有する部材であるとともに、前記第1導体板は、前記第3導体板に対して90度回転した姿勢で配置されている、
    半導体装置。
  5. 前記第1電力端子の前記接合部分は、平面視において、前記封止体の前記第1面と前記第1導体板との間に位置する、請求項1からのいずれか一項に記載の半導体装置。
  6. 前記封止体の前記第1面とは反対側に位置する第2面から突出するとともに、前記封止体の内部において前記第1半導体素子に接続された第1信号端子をさらに備える、請求項1からのいずれか一項に記載の半導体装置。
  7. 前記第1電力端子の前記接合部分は、前記第1電力端子の前記本体部分の一端に設けられており、
    前記本体部分の前記一端では、一方側から前記接合部分が延びているとともに、他方側が面取りされている、請求項1からのいずれか一項に記載の半導体装置。
  8. 前記第2方向は、前記第1方向に対して略垂直である、請求項から7のいずれか一項に記載の半導体装置。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7088094B2 (ja) * 2019-03-19 2022-06-21 株式会社デンソー 半導体装置
EP3761357A1 (en) * 2019-07-04 2021-01-06 Infineon Technologies Austria AG Semiconductor device
JP7063857B2 (ja) * 2019-07-30 2022-05-09 株式会社三共 遊技機
JP7318493B2 (ja) * 2019-11-12 2023-08-01 株式会社デンソー 半導体装置
JP7367506B2 (ja) 2019-12-12 2023-10-24 株式会社プロテリアル 半導体モジュール
US11348866B2 (en) * 2020-06-16 2022-05-31 Infineon Technologies Austria Ag Package and lead frame design for enhanced creepage and clearance
CN111681997B (zh) * 2020-08-12 2020-12-11 中芯集成电路制造(绍兴)有限公司 功率封装模块及电子装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012069640A (ja) 2010-09-22 2012-04-05 Toshiba Corp 半導体装置及び電力用半導体装置
JP2017191857A (ja) 2016-04-13 2017-10-19 株式会社デンソー 電子装置及びその製造方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08274231A (ja) * 1995-03-31 1996-10-18 Dainippon Printing Co Ltd リードフレームおよびリードフレームの製造方法
JP2000164800A (ja) * 1998-11-30 2000-06-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体モジュール
JP4581885B2 (ja) * 2005-07-22 2010-11-17 株式会社デンソー 半導体装置
JP5947537B2 (ja) * 2011-04-19 2016-07-06 トヨタ自動車株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP5396436B2 (ja) * 2011-06-29 2014-01-22 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体装置ならびに半導体装置の製造方法
JP6139280B2 (ja) * 2013-06-05 2017-05-31 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP6331294B2 (ja) * 2013-09-02 2018-05-30 株式会社ジェイテクト 半導体装置
JP6114149B2 (ja) 2013-09-05 2017-04-12 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP6221542B2 (ja) * 2013-09-16 2017-11-01 株式会社デンソー 半導体装置
JP6125984B2 (ja) * 2013-12-11 2017-05-10 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP6512231B2 (ja) * 2017-01-27 2019-05-15 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP2019186403A (ja) * 2018-04-11 2019-10-24 トヨタ自動車株式会社 半導体装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012069640A (ja) 2010-09-22 2012-04-05 Toshiba Corp 半導体装置及び電力用半導体装置
JP2017191857A (ja) 2016-04-13 2017-10-19 株式会社デンソー 電子装置及びその製造方法

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