JPH1168031A - Icモジュールおよび半導体部品 - Google Patents

Icモジュールおよび半導体部品

Info

Publication number
JPH1168031A
JPH1168031A JP9216660A JP21666097A JPH1168031A JP H1168031 A JPH1168031 A JP H1168031A JP 9216660 A JP9216660 A JP 9216660A JP 21666097 A JP21666097 A JP 21666097A JP H1168031 A JPH1168031 A JP H1168031A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
module
external lead
main body
microcomputer
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9216660A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Ikemoto
政彦 池本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP9216660A priority Critical patent/JPH1168031A/ja
Priority to US08/984,423 priority patent/US5912808A/en
Priority to TW086118196A priority patent/TW434862B/zh
Priority to CN98103708A priority patent/CN1208253A/zh
Priority to DE19803670A priority patent/DE19803670A1/de
Priority to KR1019980003045A priority patent/KR100287805B1/ko
Publication of JPH1168031A publication Critical patent/JPH1168031A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/10Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
    • H01L25/105Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10007Types of components
    • H05K2201/10159Memory
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10431Details of mounted components
    • H05K2201/10507Involving several components
    • H05K2201/1053Mounted components directly electrically connected to each other, i.e. not via the PCB
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10689Leaded Integrated Circuit [IC] package, e.g. dual-in-line [DIL]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Abstract

(57)【要約】 【課題】 接続配線を実装基板の上面に設けなければな
らず、この接続配線が家電製品や情報機器をさらに小型
化する上で、大きな障害となっていた。 【解決手段】 マイコンモジュール21の第1の外部リ
ード23とそれに対応するメモリモジュール31の第1
の外部リード33とが重なり合って接続するように、マ
イコンモジュール21とメモリモジュール31とを実装
基板42上に実装することにより構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ICモジュール
および半導体部品に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、家電製品や情報機器の小型化が急
速に進み、家電製品や情報機器が携帯されるまでに至っ
ている。このような家電製品や情報機器の小型化を促進
した要因の一つにシングルチップマイクロコンピュータ
(以下、シングルチップマイコンという)がある。シン
グルチップマイコンとは、中央演算処理装置(以下、C
PUという)、ROMやRAMなどのメモリ、タイマな
どの機能回路を一つの半導体チップに設けたものであ
る。シングルチップマイコンを用いることにより、実装
基板が小さくなり、家電製品や情報機器の小型化が促進
された。
【0003】しかしながら、最近盛んに開発されている
大容量のメモリを必要とする小型機器では、CPUと大
容量のメモリとをそれぞれ別々の半導体チップに設け、
CPUが設けられた半導体チップ(以下、CPUチップ
という)をパッケージ化したマイクロコンピュータモジ
ュール(以下、マイコンモジュールという)と、大容量
のメモリが設けられた半導体チップ(以下、メモリチッ
プという)をパッケージ化した大容量メモリモジュール
(以下、メモリモジュールという)とを実装基板上に実
装し、これらマイコンモジュールおよびメモリモジュー
ル間を実装基板の上面に設けた配線を介して接続する手
法が用いられている。これは、メモリの容量が大きくな
ると、メモリの占める面積が大きくなり、一つの半導体
チップに大容量のメモリとCPUとを設けることができ
なくなるためである。
【0004】図16は従来のICモジュールの構成を示
す斜視図である。図16にはマイコンモジュールおよび
メモリモジュールが示されている。図16において、1
21はマイコンモジュール、131はメモリモジュール
である。マイコンモジュール121は小型機器を制御す
る役割を担い、メモリモジュール131はマイコンモジ
ュール121が小型機器を制御するために必要なデータ
を記憶する役割を担っている。
【0005】また、122はマイコンモジュール本体、
123はマイコンモジュール本体122に設けられ、マ
イコンモジュール本体122の側面より外部へマイコン
モジュール本体122の下面と水平な位置まで引き出さ
れたモジュール間接続用の第1の外部リード、124は
マイコンモジュール本体122に設けられ、マイコンモ
ジュール本体122の側面より外部へマイコンモジュー
ル本体122の下面と水平な位置まで引き出された第2
の外部リードである。第1の外部リード123は、マイ
コンモジュール121がメモリモジュール131からの
データを受信したりメモリモジュール131へメモリモ
ジュール131の動作を制御する制御信号を送信したり
するために設けられ、第2の外部リード124は、マイ
コンモジュール121が電源の供給を受けたり小型機器
の外部からの情報信号を受信したり小型機器の外部へ情
報信号を送信したりするために設けられている。
【0006】また、132はメモリモジュール本体、1
33はメモリモジュール本体132に設けられ、メモリ
モジュール本体132の側面より外部へメモリモジュー
ル本体132の下面と水平な位置まで引き出されたモジ
ュール間接続用の第1の外部リード、134はメモリモ
ジュール本体132に設けられ、メモリモジュール本体
132の側面より外部へメモリモジュール本体132の
下面と水平な位置まで引き出された第2の外部リードで
ある。第1の外部リード133は、メモリモジュール1
31がマイコンモジュール121からの制御信号を受信
したりマイコンモジュール121へデータを送信したり
するために設けられ、第2の外部リード134は、メモ
リモジュール131が電源の供給を受けたり小型機器の
外部からの情報信号を受信したりするために設けられて
いる。
【0007】なお、マイコンモジュール本体122に封
止されたCPUチップと第1および第2の外部リード1
23および124とは電気的に接続されている。また、
メモリモジュール本体132に封止されたメモリチップ
と第1および第2の外部リード133および134とは
電気的に接続されている。
【0008】図17は従来の半導体部品の構成を示す斜
視図である。図17には図16に示したマイコンモジュ
ールとメモリモジュールとを実装基板上に実装して構成
された半導体部品が示されている。図17において、1
41は半導体部品である。
【0009】また、142は実装基板、143は実装基
板142の上面に設けられ、マイコンモジュール121
の第1の外部リード123が実装基板142の上面と接
触する部分とそれに対応するメモリモジュール131の
第1の外部リード133が実装基板142の上面と接触
する部分とを接続する接続配線である。その他の構成要
素は図16において同一符号を付して示したものと同一
であるためその詳細な説明は省略する。
【0010】図17に示した従来の半導体部品141
は、マイコンモジュール121およびメモリモジュール
131間が最短距離になるように、マイコンモジュール
121とメモリモジュール131とを実装基板142上
に実装し、マイコンモジュール121の第1の外部リー
ド123が実装基板142の上面と接触する部分とそれ
に対応するメモリモジュール131の第1の外部リード
133が実装基板142の上面と接触する部分とを実装
基板142の上面に設けた接続配線143を用いて接続
することにより構成されている。
【0011】次に動作について説明する。主要な動作は
以下の通りである。マイコンモジュール121は第1の
外部リード123を介してメモリモジュール131の動
作を制御する制御信号を送信する。メモリモジュール1
31は第1の外部リード133を介してこの制御信号を
受信する。メモリモジュール121はこの制御信号に基
づいて動作し、第1の外部リード133を介してデータ
を送信する。このデータは、マイコンモジュール121
が小型機器を制御するために必要なデータである。マイ
コンモジュール121は第1の外部リード123を介し
てこのデータを受信する。マイコンモジュール121
は、このデータに基づいて小型機器を制御し、第2の外
部リード124を介して小型機器の外部へ情報信号を送
信する。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来のICモジュール
は以上のように構成されているので、2つのICモジュ
ールを実装基板上に実装して半導体部品を構成する場
合、一方のICモジュールの第1の外部リードが実装基
板の上面と接触する部分とそれに対応する他方のICモ
ジュールの第1の外部リードが実装基板の上面と接触す
る部分とを実装基板の上面に設ける接続配線を用いて接
続する。このため、接続配線を設ける領域を実装基板の
上面に確保しておかなければならず、この接続配線領域
が家電製品や情報機器をさらに小型化する上で、大きな
障害となっていた。
【0013】また、従来の半導体部品は以上のように構
成されているので、接続配線を実装基板の上面に設けな
ければならず、この接続配線が家電製品や情報機器をさ
らに小型化する上で、大きな障害となっていた。
【0014】このような問題を解決する一つの手法が、
例えば特開平2−63150号公報に開示されている。
図18は特開平2−63150号公報に示された従来の
ICモジュールの構成を示す斜視図である。図18にお
いて、151はICモジュールである。
【0015】また、152はICモジュール本体、15
3はICモジュール本体152の対向する2つの側面の
うちの一方の側面に設けられ、ICモジュール本体15
2の側面より外部へ引き出されその先端部が上方に屈曲
した第1の外部リード、154はICモジュール本体1
52の対向する2つの側面のうちの他方の側面に設けら
れ、ICモジュール本体152の側面より外部へ引き出
されその先端部が下方に屈曲した第2の外部リードであ
る。
【0016】図19は特開平2−63150号公報に示
された従来の半導体部品の構成を示す側面図である。図
19には図18に示したICモジュールを3つの実装基
板上に実装して構成された半導体部品が示されている。
図19において、161は半導体部品である。
【0017】また、162は実装基板、163は実装基
板162の上面に設けられ、第1および第2の外部リー
ド153および154と接続された電気接続部である。
その他の構成要素は図18において同一符号を付して示
したものと同一であるためその詳細な説明は省略する。
【0018】図19に示した従来の半導体部品161
は、隣り合う2つのICモジュール151のうち一方の
ICモジュール151の第1の外部リード153と他方
のICモジュール151の第2の外部リード154とを
実装基板162の上面に設けた電気接続部163上で係
合して接続するように、各ICモジュール151を実装
基板162上に実装し、第1の外部リード153と第2
の外部リード154とが係合して接続する部分をハンダ
等を用いて電気接続部163に接続することにより構成
されている。
【0019】特開平2−63150号公報に示された従
来のICモジュールは以上のように構成されているの
で、接続配線領域を実装基板の上面に確保しておく必要
がないため、接続配線領域に起因した上記の問題は生じ
ない。しかしながら、特開平2−63150号公報に示
された従来のICモジュールでは、2つのICモジュー
ルを実装基板上に実装して半導体部品を構成する場合、
一方のICモジュールの第1の外部リードと他方のIC
モジュールの第2の外部リードとが係合して接続する部
分(以下、外部リード接続部分という)を実装基板の上
面に設けた電気接続部にハンダ等を用いて接続する。こ
のため、2つのICモジュールを実装基板上に実装して
半導体部品を構成する場合、ハンダ等が実装基板の上面
を流れて隣接する外部リード接続部分同士が接続する恐
れがあり、また一方のICモジュールの第1の外部リー
ドと他方のICモジュールの第2の外部リードとの間の
接続不良を修正する場合も隣接する外部リード接続部分
同士が接続する恐れがあった。
【0020】また、特開平2−63150号公報に示さ
れた従来の半導体部品は以上のように構成されているの
で、接続配線を実装基板の上面に設ける必要がなく、接
続配線に起因した上記の問題は生じない。しかしなが
ら、特開平2−63150号公報に示された従来の半導
体部品では、隣り合う2つのICモジュールのうち一方
のICモジュールの第1の外部リードと他方のICモジ
ュールの第2の外部リードとが係合して接続する部分
(外部リード接続部分)を実装基板の上面に設けた電気
接続部にハンダ等を用いて接続している。このため、隣
接する外部リード接続部分同士が接続している恐れがあ
り、また2つのICモジュールのうち一方のICモジュ
ールの第1の外部リードと他方のICモジュールの第2
の外部リードとの間の接続不良を修正する場合、隣接す
る外部リード接続部分同士が接続する恐れがあった。
【0021】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、家電製品や情報機器のさらなる小
型化に寄与することができるICモジュールを得ること
を目的とする。
【0022】また、2つのICモジュール間の接続の信
頼性が高く、2つのICモジュール間の接続不良の修正
が容易な半導体部品を構成することができるICモジュ
ールを得ることを目的とする。
【0023】さらに、この発明は家電製品や情報機器の
さらなる小型化に寄与することができる半導体部品を得
ることを目的とする。
【0024】さらに、この発明は2つのICモジュール
間の接続の信頼性が高く、2つのICモジュール間の接
続不良の修正が容易な半導体部品を得ることを目的とす
る。
【0025】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
るICモジュールは、2つの半導体チップを封止したI
Cモジュール本体と、2つの半導体チップ間に配置され
2つの半導体チップの各々と電気的に接続されたチップ
間接続用の内部リードと、ICモジュール本体の4以上
の側面のうち2以上の側面よりICモジュール本体の下
面と水平な位置まで引き出された外部リードとを備えた
ものである。
【0026】請求項2記載の発明に係る半導体部品は、
2つの半導体チップを封止したICモジュール本体と、
2つの半導体チップ間に配置され2つの半導体チップの
各々と電気的に接続されたチップ間接続用の内部リード
と、ICモジュール本体の4以上の側面のうち2以上の
側面よりICモジュール本体の下面と水平な位置まで引
き出された外部リードとを備えたICモジュールを実装
基板上に実装して成るものである。
【0027】請求項3記載の発明に係るICモジュール
は、半導体チップを封止したICモジュール本体と、I
Cモジュール本体の4以上の側面のうち1以上の側面よ
りICモジュール本体の外部へ水平方向に引き出された
モジュール間接続用の第1の外部リードと、第1の外部
リードが引き出された側面以外の側面のうち2以上の側
面よりICモジュール本体の外部へICモジュール本体
の下面と水平な位置まで引き出された第2の外部リード
とを備えたものである。
【0028】請求項4記載の発明に係るICモジュール
は、半導体チップを封止したICモジュール本体と、I
Cモジュール本体の4以上の側面のうち1以上の側面よ
りICモジュール本体の外部へ水平方向に引き出された
モジュール間接続用の第1の外部リードと、第1の外部
リードが引き出された側面以外の側面のうち2以上の側
面よりICモジュール本体の外部へICモジュール本体
の下面と水平な位置まで引き出された第2の外部リード
とを備えたICモジュールを実装基板上に2つ実装し、
各ICモジュールの第1の外部リード同士を空中で接続
して成るものである。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1によるI
Cモジュールを示す構成図である。図1にはCPUチッ
プおよびメモリチップをパッケージ化した集合モジュー
ルが示されている。図1(A)は斜視図であり、図1
(B)は図1中のI−I線に沿って切り取った断面図で
ある。図1において、1は集合モジュール(ICモジュ
ール)、5はCPUチップ(半導体チップ)、6はメモ
リチップ(半導体チップ)である。CPUチップ5は小
型機器を制御する役割を担い、メモリチップ6はCPU
チップ5が小型機器を制御するために必要なデータを記
憶する役割を担っている。
【0030】また、2は集合モジュール本体(ICモジ
ュール本体)、3は集合モジュール本体2に封止され、
CPUチップ5とメモリチップ6との間に配置されたチ
ップ間接続用の内部リード、4は集合モジュール本体2
に設けられ、集合モジュール本体2の4つの側面より外
部へ集合モジュール本体2の下面と水平な位置まで引き
出された外部リード、9は集合モジュール本体2に封止
されたCPUチップ5と内部リード3とを接続するボン
ディング線、10は集合モジュール本体2に封止された
CPUチップ5と外部リード4とを接続するボンディン
グ線、11は集合モジュール本体2に封止されたメモリ
チップ6と内部リード3とを接続するボンディング線、
集合モジュール本体2に封止されたメモリチップ6と外
部リード4とを接続するボンディング線である。内部リ
ード3は、CPUチップ5がメモリチップ6からのデー
タを受信したりメモリチップ6へメモリチップ6の動作
を制御する制御信号を送信したり、メモリチップ6がC
PUチップ5からの制御信号を受信したりCPUチップ
5へデータを送信したりするために設けられている。外
部リード4は、CPUチップ5が電源の供給を受けたり
小型機器の外部からの情報信号を受信したり小型機器の
外部へ情報信号を受信したりするために設けられ、メモ
リチップ6が電源の供給を受けたり小型機器の外部から
の情報信号を受信したり小型機器の外部へ情報信号を送
信したりするために設けられている。
【0031】図2はこの発明の実施の形態1による半導
体部品の構成を示す斜視図であり、図1に示した集合モ
ジュールを実装基板上に実装して構成された半導体部品
が示されている。図2において、13は半導体部品であ
る。
【0032】また、14は実装基板である。その他の構
成要素は図1において同一符号を付して示したものと同
一であるためその詳細な説明は省略する。
【0033】図1に示したこの発明の実施の形態1によ
る半導体部品1は、集合モジュール1を実装基板14上
に実装することにより構成されている。
【0034】次に動作について説明する。主要な動作は
以下の通りである。CPUチップ5は内部リード3を介
してメモリチップ6の動作を制御する制御信号を送信す
る。メモリチップ6は内部リード3を介してこの制御信
号を受信する。メモリチップ6はこの制御信号に基づい
て動作し、内部リード3を介してデータを送信する。こ
のデータは、CPUチップ5が小型機器を制御するため
に必要なデータである。CPUチップ5は内部リード3
を介してこのデータを受信する。CPUチップ5は、こ
のデータに基づいて小型機器を制御し、外部リード4を
介して小型機器の外部へ情報信号を送信する。
【0035】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、ICモジュールは、2つの半導体チップを封止した
ICモジュール本体と、2つの半導体チップ間に配置さ
れ2つの半導体チップの各々と電気的に接続された内部
リードとを備えた構成をしているので、従来のように、
接続配線領域を実装基板の上面に確保しておく必要がな
く、家電製品や情報機器の小型化に寄与することができ
る効果が得られる。
【0036】また、ICモジュールは、2つの半導体チ
ップが2つの半導体チップ間に配置された内部リードを
用いて接続された構成をしているので、2つの半導体チ
ップ間の接続の信頼性が高いという効果が得られる。
【0037】また、ICモジュールは、外部リードがI
Cモジュール本体の4つの側面より外部へICモジュー
ル本体の下面と水平な位置まで引き出された構成をして
いるので、実装基板上に実装したときの安定性が良いと
いう効果が得られる。このような効果は、外部リードが
ICモジュール本体の少なくとも2つの側面より外部へ
ICモジュール本体の下面と水平な位置まで引き出され
ていれば得られる。
【0038】また、半導体部品は、2つの半導体チップ
を封止したICモジュール本体と、2つの半導体チップ
間に配置され2つの半導体チップの各々と電気的に接続
された内部リードとを備えた構成のICモジュールを実
装基板上に実装した構成をしているので、従来のよう
に、接続配線を実装基板の上面に設ける必要がなく、家
電製品や情報機器の小型化に寄与することができる効果
が得られる。
【0039】また、半導体部品は、2つの半導体チップ
が2つの半導体チップ間に配置された内部リードを用い
て接続された構成のICモジュールを実装基板上に実装
した構成をしているので、2つの半導体チップ間の接続
の信頼性が高いという効果が得られる。
【0040】また、半導体部品は、外部リードがICモ
ジュール本体の4つの側面より外部へICモジュール本
体の下面と水平な位置まで引き出された構成のICモジ
ュールを実装基板上に実装した構成をしているので、実
装基板上でのICモジュールの安定性が良いという効果
が得られる。このような効果は、外部リードがICモジ
ュール本体の少なくとも2つの側面より外部へICモジ
ュール本体の下面と水平な位置まで引き出された構成の
ICモジュールを実装基板に実装していれば得られる。
【0041】なお、この実施の形態1の集合モジュール
をCPUチップとメモリチップとの間で分割することに
より、マイコンモジュール、メモリモジュールとして用
いることもできる。図3には図1に点線を付して示す位
置で分割した状態を示している。ただし、この場合、分
割後にマイコンモジュールおよびメモリモジュール間を
実装基板の上面に設けた配線を介して接続できるよう
に、モジュール間接続用の外部リードを集合モジュール
の側面に予め設けておく必要がある。
【0042】実施の形態2.図4はこの発明の実施の形
態2によるICモジュールの構成を示す斜視図であり、
マイコンモジュールおよびメモリモジュールが示されて
いる。図4において、21はマイコンモジュール(IC
モジュール)、31はメモリモジュール(ICモジュー
ル)である。マイコンモジュール21は小型機器を制御
する役割を担い、メモリモジュール31はマイコンモジ
ュール21が小型機器を制御するために必要なデータを
記憶する役割を担っている。
【0043】また、22はマイコンモジュール本体(I
Cモジュール本体)、23はマイコンモジュール本体2
2に設けられ、マイコンモジュール本体22の1つの側
面より外部へ水平方向に引き出されたモジュール間接続
用の第1の外部リード、24はマイコンモジュール本体
22に設けられ、マイコンモジュール本体22の3つの
側面より外部へマイコンモジュール本体22の下面と水
平な位置まで引き出された第2の外部リードである。第
1の外部リード23は、マイコンモジュール21がメモ
リモジュール31からのデータを受信したりメモリモジ
ュール31へメモリモジュール31の動作を制御する制
御信号を送信したりするために設けられ、第2の外部リ
ード24は、マイコンモジュール21が電源の供給を受
けたり小型機器の外部からの情報信号を受信したり小型
機器の外部へ情報信号を送信したりするために設けられ
ている。
【0044】また、32はメモリモジュール本体(IC
モジュール本体)、33はメモリモジュール本体32に
設けられ、メモリモジュール本体32の1つの側面より
外部へ水平方向に引き出されたモジュール間接続用の第
1の外部リード、34はメモリモジュール本体32に設
けられ、メモリモジュール本体32の3つの側面より外
部へメモリモジュール本体32の下面と水平な位置まで
引き出された第2の外部リードである。第1の外部リー
ド33は、メモリモジュール31がマイコンモジュール
21からの制御信号を受信したりマイコンモジュール2
1へデータを送信したりするために設けられ、第2の外
部リード34は、メモリモジュール31が電源の供給を
受けたり小型機器の外部からの情報信号を受信したりす
るために設けられている。
【0045】なお、マイコンモジュール本体22に封止
されたCPUチップと第1および第2の外部リード23
および24とは電気的に接続されている。また、メモリ
モジュール本体32に封止されたメモリチップと第1お
よび第2の外部リード33および34とは電気的に接続
されている。
【0046】図5はこの発明の実施の形態2による半導
体部品の構成を示す斜視図である。図5には図4に示し
たマイコンモジュールとメモリモジュールとを実装基板
上に実装して構成された半導体部品が示されている。図
5において、41は半導体部品である。
【0047】また、42は実装基板である。その他の構
成要素は図4において同一符号を付して示したものと同
一であるためその詳細な説明は省略する。
【0048】図5に示したこの発明の実施の形態2によ
る半導体部品41は、マイコンモジュール21の第1の
外部リード23とそれに対応するメモリモジュール31
の第1の外部リード33とが重なり合って接続するよう
に、マイコンモジュール21とメモリモジュール31と
を実装基板42上に実装することにより構成されてい
る。あるいは、マイコンモジュール21の第1の外部リ
ード23とそれに対応するメモリモジュール31の第1
の外部リード33とが重なり合って接続するように、マ
イコンモジュール21とメモリモジュール31とを実装
基板42上に実装し、マイコンモジュール21の第1の
外部リード23とメモリモジュール31の第1の外部リ
ード33とが重なり合って接続する部分をハンダ等を用
いて接続することにより構成されている。
【0049】次に動作について説明する。主要な動作は
以下の通りである。マイコンモジュール21は第1の外
部リード23を介してメモリモジュール31の動作を制
御する制御信号を送信する。メモリモジュール31は第
1の外部リード33を介してこの制御信号を受信する。
メモリモジュール21はこの制御信号に基づいて動作
し、第1の外部リード33を介してデータを送信する。
このデータは、マイコンモジュール21が小型機器を制
御するために必要なデータである。マイコンモジュール
21は第1の外部リード23を介してこのデータを受信
する。マイコンモジュール21は、このデータに基づい
て小型機器を制御し、第2の外部リード24を介して小
型機器の外部へ情報信号を送信する。
【0050】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、ICモジュールは、半導体チップを封止したICモ
ジュール本体と、ICモジュール本体の1つの側面より
ICモジュール本体の外部へ水平方向に引き出された第
1の外部リードとを備えた構成をしているので、従来の
ように、接続配線領域を実装基板の上面に確保しておく
必要がなく、家電製品や情報機器の小型化に寄与するこ
とができる効果が得られる。さらに、半導体部品を構成
する場合に、隣接する第1の外部リード接続部分同士が
接続する恐れがなく、接続不良を修正する場合に、隣接
する第1の外部リード接続部分同士が接続する恐れがな
いので、2つのICモジュール間の接続の信頼性が高
く、2つのICモジュール間の接続不良の修正が容易な
半導体部品を構成することができる効果が得られる。
【0051】また、ICモジュールは、第2の外部リー
ドがICモジュール本体の3つの側面より外部へICモ
ジュール本体の下面と水平な位置まで引き出された構成
をしているので、実装基板上に実装したときの安定性が
良いという効果が得られる。このような効果は、外部リ
ードがICモジュール本体の少なくとも2つの側面より
外部へICモジュール本体の下面と水平な位置まで引き
出されていれば得られる。
【0052】また、半導体部品は、半導体チップを封止
したICモジュール本体と、ICモジュール本体の1つ
の側面よりICモジュール本体の外部へ水平方向に引き
出された第1の外部リードとを備えた構成のICモジュ
ールを実装基板上に2つ実装し、一方のICモジュール
の第1の外部リードとそれに対応する他方のICモジュ
ール31の第1の外部リードとを重ねて、各ICモジュ
ールの第1の外部リード同士を空中で接続した構成をし
ているので、従来のように、接続配線を実装基板に設け
る必要がなく、家電製品や情報機器の小型化に寄与する
ことができる効果が得られる。さらに、隣接する第1の
外部リード接続部分同士が接続している恐れがなく、接
続不良を修正する場合に、隣接する第1の外部リード接
続部分同士が接続する恐れがないので、2つのICモジ
ュール間の接続の信頼性が高く、2つのICモジュール
間の接続不良の修正が容易であるという効果がある。
【0053】また、半導体部品は、第2の外部リードが
ICモジュール本体の3つの側面より外部へICモジュ
ール本体の下面と水平な位置まで引き出された構成のI
Cモジュールを実装基板上に実装した構成をしているの
で、実装基板上に実装したときの安定性が良いという効
果が得られる。このような効果は、外部リードがICモ
ジュール本体の少なくとも2つの側面より外部へICモ
ジュール本体の下面と水平な位置まで引き出された構成
のICモジュールを実装基板上に実装していれば得られ
る。
【0054】実施の形態3.図6はこの発明の実施の形
態3によるICモジュールの構成を示す斜視図であり、
マイコンモジュールおよびメモリモジュールが示されて
いる。また、図7はこの発明の実施の形態3による半導
体部品の構成を示す斜視図であり、図6に示されたマイ
コンモジュールとメモリモジュールとを実装基板上に実
装して構成された半導体部品が示されている。図6およ
び図7において、23aはマイコンモジュール本体22
に設けられ、マイコンモジュール本体22の1つの側面
より外部へ水平方向に引き出されたモジュール間接続用
の第1の外部リードであり、その先端が凹型形状をした
ものである。33aはメモリモジュール本体32に設け
られ、メモリモジュール本体32の1つの側面より外部
へ水平方向に引き出されたモジュール間接続用の第1の
外部リードであり、その先端が凸型形状をしたものであ
る。その他の構成要素は図4または図5において同一符
号を付して示したものと同一あるいは同等であるためそ
の詳細な説明は省略する。
【0055】図7に示したこの発明の実施の形態3によ
る半導体部品41は、メモリモジュール31の第1の外
部リード33a先端の凸型形状部分がそれに対応するマ
イコンモジュール21の第1の外部リード23a先端の
凹型形状部分にはまり込んで接続するように、マイコン
モジュール21とメモリモジュール31とを実装基板4
2上に実装することにより構成されている。あるいは、
メモリモジュール31の第1の外部リード33a先端の
凸型形状部分がそれに対応するマイコンモジュール21
の第1の外部リード23a先端の凹型形状部分にはまり
込んで接続するように、マイコンモジュール21とメモ
リモジュール31とを実装基板42上に実装し、メモリ
モジュール31の第1の外部リード33a先端の凸型形
状部分がマイコンモジュール21の第1の外部リード2
3a先端の凹型形状部分にはまり込んで接続する部分を
ハンダ等を用いて接続することにより構成されている。
【0056】すなわち、この実施の形態3の半導体部品
は、先端が凸型形状である第1の外部リードを備えた構
成のICモジュールと、先端が凹型形状である第1の外
部リードを備えた構成のICモジュールとを実装基板上
に実装し、一方のICモジュールの第1の外部リード先
端の凸型形状部分をそれに対応する他方のICモジュー
ルの第1の外部リード先端の凹型形状部分にはめ込ん
で、各ICモジュールの第1の外部リード同士を空中で
接続した構成をしている。
【0057】この実施の形態3によれば、実施の形態2
と同様な効果が得られる。
【0058】実施の形態4.図8はこの発明の実施の形
態4によるICモジュールの構成を示す斜視図であり、
マイコンモジュールおよびメモリモジュールが示されて
いる。また、図9はこの発明の実施の形態4による従来
の半導体部品の構成を示す斜視図であり、図8に示され
たマイコンモジュールとメモリモジュールとを実装基板
上に実装して構成された半導体部品が示されている。図
8および図9において、23bはマイコンモジュール本
体22に設けられ、マイコンモジュール本体22の1つ
の側面より外部へ水平方向に引き出されたモジュール間
接続用の第1の外部リードであり、その先端が凸型形状
あるいは凹型形状をしたものである。33bはメモリモ
ジュール本体32に設けられ、メモリモジュール本体3
2の1つの側面より外部へ水平方向に引き出されたモジ
ュール間接続用の第1の外部リードであり、その先端が
凸型形状あるいは凹型形状をしたものである。その他の
構成要素は図4または図5において同一符号を付して示
したものと同一あるいは同等であるためその詳細な説明
は省略する。
【0059】図9に示したこの発明の実施の形態4によ
る半導体部品41は、メモリモジュール31の第1の外
部リード33b先端の凸型形状部分がそれに対応するマ
イコンモジュール21の第1の外部リード23b先端の
凹型形状部分にはまり込んで接続し、マイコンモジュー
ル21の第1の外部リード23b先端の凸型形状部分が
それに対応するメモリモジュール31の第1の外部リー
ド33b先端の凹型形状部分にはまり込んで接続するよ
うに、マイコンモジュール21とメモリモジュール31
とを実装基板42上に実装することにより構成されてい
る。あるいは、メモリモジュール31の第1の外部リー
ド33b先端の凸型形状部分がそれに対応するマイコン
モジュール21の第1の外部リード23b先端の凹型形
状部分にはまり込んで接続し、マイコンモジュール21
の第1の外部リード23b先端の凸型形状部分がそれに
対応するメモリモジュール31の第1の外部リード33
b先端の凹型形状部分にはまり込んで接続するように、
マイコンモジュール21とメモリモジュール31とを実
装基板42上に実装し、メモリモジュール31の第1の
外部リード33b先端の凸型形状部分がマイコンモジュ
ール21の第1の外部リード23b先端の凹型形状部分
にはまり込んで接続する部分およびマイコンモジュール
21の第1の外部リード23b先端の凸型形状部分がそ
れに対応するメモリモジュール31の第1の外部リード
33b先端の凹型形状部分にはまり込んで接続する部分
をハンダ等を用いて接続することにより構成されてい
る。
【0060】すなわち、この実施の形態4の半導体部品
は、先端が凸型形状である第1の外部リードと先端が凹
型形状である第1の外部リードとを交互に配置して備え
た構成のICモジュールを実装基板上に2つ実装し、一
方のICモジュールの第1の外部リード先端の凸型形状
部分をそれに対応する他方のICモジュールの第1の外
部リード先端の凹型形状部分にはめ込み、他方のICモ
ジュールの第1の外部リード先端の凸型形状部分をそれ
に対応する一方のICモジュールの第1の外部リード先
端の凹型形状部分にはめ込んで、各ICモジュールの第
1の外部リード同士を空中で接続した構成をしている。
【0061】この実施の形態4によれば、実施の形態2
と同様な効果が得られる。
【0062】実施の形態5.図10はこの発明の実施の
形態5によるICモジュールの構成を示す斜視図であ
り、マイコンモジュールおよびメモリモジュールが示さ
れている。また、図11はこの発明の実施の形態5によ
る半導体部品の構成を示す斜視図であり、図10に示さ
れたマイコンモジュールとメモリモジュールとを実装基
板上に実装して構成された半導体部品が示されている。
図10および図11において、23cはマイコンモジュ
ール本体22に設けられ、マイコンモジュール本体22
の1つの側面より外部へ水平方向に引き出されたモジュ
ール間接続用の第1の外部リードであり、その先端が階
段状に上がった形状をしたものである。33cはメモリ
モジュール本体32に設けられ、メモリモジュール本体
32の1つの側面より外部へ水平方向に引き出されたモ
ジュール間接続用の第1の外部リードである。その他の
構成要素は図4または図5において同一符号を付して示
したものと同一あるいは同等であるためその詳細な説明
は省略する。
【0063】図11に示したこの発明の実施の形態5に
よる半導体部品41は、メモリモジュール31の第1の
外部リード33c先端がそれに対応するマイコンモジュ
ール21の第1の外部リード23c先端の階段状に上が
った形状部分の下側にはいり込んで接続するように、マ
イコンモジュール21とメモリモジュール31とを実装
基板42上に実装することにより構成されている。ある
いは、メモリモジュール31の第1の外部リード33c
先端がそれに対応するマイコンモジュール21の第1の
外部リード23c先端の階段状に上がった形状部分の下
側にはいり込んで接続するように、マイコンモジュール
21とメモリモジュール31とを実装基板42上に実装
し、メモリモジュール31の第1の外部リード33c先
端がマイコンモジュール21の第1の外部リード23c
先端の階段状に上がった形状部分の下側にはいり込んで
接続する部分をハンダ等を用いて接続することにより構
成されている。
【0064】すなわち、この実施の形態5の半導体部品
は、先端が水平方向に引き出されたままである第1の外
部リードを備えた構成のICモジュールと、先端が階段
状に上がった形状である第1の外部リードを備えた構成
のICモジュールとを実装基板上に実装し、一方のIC
モジュールの第1の外部リード先端をそれに対応する他
方のICモジュールの第1の外部リード先端の階段状に
上がった形状部分の下側にはいり込ませて、各ICモジ
ュールの第1の外部リード同士を空中で接続した構成を
している。
【0065】この実施の形態5によれば、実施の形態2
と同様な効果が得られる。
【0066】実施の形態6.図12はこの発明の実施の
形態6によるICモジュールの構成を示す斜視図であ
り、マイコンモジュールおよびメモリモジュールが示さ
れている。また、図13はこの発明の実施の形態6によ
る半導体部品の構成を示す斜視図であり、図12に示さ
れたマイコンモジュールとメモリモジュールとを実装基
板上に実装して構成された半導体部品が示されている。
図12および図13において、23dはマイコンモジュ
ール本体22に設けられ、マイコンモジュール本体22
の1つの側面より外部へ水平方向に引き出されたモジュ
ール間接続用の第1の外部リードであり、その先端が階
段状に下がった形状をしたものである。33dはメモリ
モジュール本体32に設けられ、メモリモジュール本体
32の1つの側面より外部へ水平方向に引き出されたモ
ジュール間接続用の第1の外部リードである。その他の
構成要素は図4または図5において同一符号を付して示
したものと同一あるいは同等であるためその詳細な説明
は省略する。
【0067】図13に示したこの発明の実施の形態6に
よる半導体部品41は、メモリモジュール31の第1の
外部リード33d先端がそれに対応するマイコンモジュ
ール21の第1の外部リード23d先端の階段状に下が
った形状部分の上側にはいり込んで接続するように、マ
イコンモジュール21とメモリモジュール31とを実装
基板42上に実装することにより構成されている。ある
いは、メモリモジュール31の第1の外部リード33d
先端がそれに対応するマイコンモジュール21の第1の
外部リード23d先端の階段状に下がった形状部分の上
側にはいり込んで接続するように、マイコンモジュール
21とメモリモジュール31とを実装基板42上に実装
し、メモリモジュール31の第1の外部リード33d先
端がマイコンモジュール21の第1の外部リード23d
先端の階段状に下がった形状部分の上側にはいり込んで
接続する部分をハンダ等を用いて接続することにより構
成されている。
【0068】すなわち、この実施の形態6の半導体部品
は、先端が水平方向に引き出されたままである第1の外
部リードを備えた構成のICモジュールと、先端が階段
状に下がった形状である第1の外部リードを備えた構成
のICモジュールとを実装基板上に実装し、一方のIC
モジュールの第1の外部リード先端をそれに対応する他
方のICモジュールの第1の外部リード先端の階段状に
下がった形状部分の上側にはいり込ませて、各ICモジ
ュールの第1の外部リード同士を空中で接続した構成を
している。
【0069】この実施の形態6によれば、実施の形態2
と同様な効果が得られる。
【0070】実施の形態7.図14はこの発明の実施の
形態7によるICモジュールの構成を示す斜視図であ
り、マイコンモジュールおよびメモリモジュールが示さ
れている。また、図15はこの発明の実施の形態7によ
る半導体部品の構成を示す斜視図であり、図14に示さ
れたマイコンモジュールとメモリモジュールとを実装基
板上に実装して構成された半導体部品が示されている。
図14および図15において、23eはマイコンモジュ
ール本体22に設けられ、マイコンモジュール本体22
の1つの側面より外部へ水平方向に引き出されたモジュ
ール間接続用の第1の外部リードであり、その先端が階
段状に上がった形状あるいは階段状に下がった形状をし
たものである。33eはメモリモジュール本体32に設
けられ、メモリモジュール本体32の1つの側面より外
部へ水平方向に引き出されたモジュール間接続用の第1
の外部リードである。その他の構成要素は図4または図
5において同一符号を付して示したものと同一あるいは
同等であるためその詳細な説明は省略する。
【0071】図15に示したこの発明の実施の形態7に
よる半導体部品41は、メモリモジュール31の第1の
外部リード33e先端がそれに対応するマイコンモジュ
ール21の第1の外部リード23e先端の階段状に上が
った形状部分の下側あるいは階段状に下がった形状部分
の上側にはいり込んで接続するように、マイコンモジュ
ール21とメモリモジュール31とを実装基板42上に
実装することにより構成されている。あるいは、メモリ
モジュール31の第1の外部リード33e先端がそれに
対応するマイコンモジュール21の第1の外部リード2
3e先端の階段状に上がった形状部分の下側あるいは階
段状に下がった形状部分の上側にはいり込んで接続する
ように、マイコンモジュール21とメモリモジュール3
1とを実装基板42上に実装し、メモリモジュール31
の第1の外部リード33e先端がマイコンモジュール2
1の第1の外部リード23e先端の階段状に上がった形
状部分の下側にはいり込んで接続する部分およびメモリ
モジュール31の第1の外部リード33e先端がマイコ
ンモジュール21の第1の外部リード23e先端の階段
状に下がった形状部分の上側にはいり込んで接続する部
分をハンダ等を用いて接続することにより構成されてい
る。
【0072】すなわち、この実施の形態7の半導体部品
は、先端が水平方向に引き出されたままである第1の外
部リードを備えた構成のICモジュールと、先端が階段
状に上がった形状である第1の外部リードと先端が階段
状に下がった形状である第1の外部リードとを交互に配
置して備えた構成のICモジュールとを実装基板上に実
装し、一方のICモジュールの第1の外部リード先端を
それに対応する他方のICモジュールの第1の外部リー
ド先端の階段状に上がった形状部分の下側あるいは階段
状に下がった形状部分の上側にはいり込ませて、各IC
モジュールの第1の外部リード同士を空中で接続した構
成をしている。
【0073】この実施の形態7によれば、実施の形態2
と同様な効果が得られる。
【0074】なお、上述した実施の形態1では、半導体
チップとしてCPUチップおよびメモリチップの場合に
ついて説明し、実施の形態2から実施の形態7ではIC
モジュールとしてマイコンモジュールおよびメモリモジ
ュールの場合について説明したが、半導体チップの種類
やICモジュールの種類については何等制限されない。
【0075】また、上述した実施の形態2から実施の形
態7では、第1の外部リードがICモジュール本体の1
つの側面より引き出されている場合について説明した
が、第2の外部リードが少なくとも2つの側面から引き
出されているならば、第1の外部リードが2以上の側面
から引き出されていても良い。
【0076】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、家電
製品や情報機器のさらなる小型化に寄与することができ
るICモジュールを得ることができる効果がある。
【0077】また、2つのICモジュール間の接続の信
頼性が高く、2つのICモジュール間の接続不良の修正
が容易な半導体部品を構成することができるICモジュ
ールを得ることができる効果がある。
【0078】また、この発明によれば、家電製品や情報
機器のさらなる小型化に寄与することができる半導体部
品を得ることができる効果がある。
【0079】また、この発明によれば、2つのICモジ
ュール間の接続の信頼性が高く、2つのICモジュール
間の接続不良の修正が容易な半導体部品を得ることがで
きる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 (A)および(B)はこの発明の実施の形態
1によるICモジュールの構成図である。
【図2】 この発明の実施の形態1による半導体部品の
構成を示す斜視図である。
【図3】 この発明の実施の形態1によるICモジュー
ルを分割した状態を示す斜視図である。
【図4】 この発明の実施の形態2によるICモジュー
ルの構成を示す斜視図である。
【図5】 この発明の実施の形態2による半導体部品の
構成を示す斜視図である。
【図6】 この発明の実施の形態3によるICモジュー
ルの構成を示す斜視図である。
【図7】 この発明の実施の形態3による半導体部品の
構成を示す斜視図である。
【図8】 この発明の実施の形態4によるICモジュー
ルの構成を示す斜視図である。
【図9】 この発明の実施の形態4による半導体部品の
構成を示す斜視図である。
【図10】 この発明の実施の形態5によるICモジュ
ールの構成を示す斜視図である。
【図11】 この発明の実施の形態5による半導体部品
の構成を示す斜視図である。
【図12】 この発明の実施の形態6によるICモジュ
ールの構成を示す斜視図である。
【図13】 この発明の実施の形態6による半導体部品
の構成を示す斜視図である。
【図14】 この発明の実施の形態7によるICモジュ
ールの構成を示す斜視図である。
【図15】 この発明の実施の形態7による半導体部品
の構成を示す斜視図である。
【図16】 従来のICモジュールの構成を示す斜視図
である。
【図17】 従来の半導体部品の構成を示す斜視図であ
る。
【図18】 特開平2−63150号公報に示された従
来のICモジュールの構成を示す斜視図である。
【図19】 特開平2−63150号公報に示された従
来の半導体部品の構成を示す側面図である。
【符号の説明】
1 集合モジュール(ICモジュール)、2 集合モジ
ュール本体(ICモジュール本体)、3 内部リード、
4 外部リード、5 CPUチップ(半導体チップ)、
6 メモリチップ(半導体チップ)、13,41 半導
体部品、14,42 実装基板、21 マイコンモジュ
ール(ICモジュール)、22 マイコンモジュール本
体(ICモジュール本体)、23,23a〜23e,3
3,33a〜33e 第1の外部リード、24,34
第2の外部リード、31 メモリモジュール(ICモジ
ュール)、32 メモリモジュール本体(ICモジュー
ル本体)。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2つの半導体チップを封止したICモジ
    ュール本体と、上記2つの半導体チップ間に配置され上
    記2つの半導体チップの各々と電気的に接続されたチッ
    プ間接続用の内部リードと、上記ICモジュール本体の
    4以上の側面のうち2以上の側面より上記ICモジュー
    ル本体の下面と水平な位置まで引き出された外部リード
    とを備えたことを特徴とするICモジュール。
  2. 【請求項2】 2つの半導体チップを封止したICモジ
    ュール本体と、上記2つの半導体チップ間に配置され上
    記2つの半導体チップの各々と電気的に接続されたチッ
    プ間接続用の内部リードと、上記ICモジュール本体の
    4以上の側面のうち2以上の側面より上記ICモジュー
    ル本体の下面と水平な位置まで引き出された外部リード
    とを備えたICモジュールを実装基板上に実装して成る
    ことを特徴とする半導体部品。
  3. 【請求項3】 半導体チップを封止したICモジュール
    本体と、上記ICモジュール本体の4以上の側面のうち
    1以上の側面より上記ICモジュール本体の外部へ水平
    方向に引き出されたモジュール間接続用の第1の外部リ
    ードと、上記第1の外部リードが引き出された側面以外
    の側面のうち2以上の側面より上記ICモジュール本体
    の外部へ上記ICモジュール本体の下面と水平な位置ま
    で引き出された第2の外部リードとを備えたことを特徴
    とするICモジュール。
  4. 【請求項4】 半導体チップを封止したICモジュール
    本体と、上記ICモジュール本体の4以上の側面のうち
    1以上の側面より上記ICモジュール本体の外部へ水平
    方向に引き出されたモジュール間接続用の第1の外部リ
    ードと、上記第1の外部リードが引き出された側面以外
    の側面のうち2以上の側面より上記ICモジュール本体
    の外部へ上記ICモジュール本体の下面と水平な位置ま
    で引き出された第2の外部リードとを備えたICモジュ
    ールを実装基板上に2つ実装し、各上記ICモジュール
    の第1の外部リード同士を空中で接続して成ることを特
    徴とする半導体部品。
JP9216660A 1997-08-11 1997-08-11 Icモジュールおよび半導体部品 Pending JPH1168031A (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9216660A JPH1168031A (ja) 1997-08-11 1997-08-11 Icモジュールおよび半導体部品
US08/984,423 US5912808A (en) 1997-08-11 1997-12-03 Semiconductor component
TW086118196A TW434862B (en) 1997-08-11 1997-12-03 IC module and semiconductor device
CN98103708A CN1208253A (zh) 1997-08-11 1998-01-26 集成电路组件和半导体元件
DE19803670A DE19803670A1 (de) 1997-08-11 1998-01-30 Halbleiterbaustein
KR1019980003045A KR100287805B1 (ko) 1997-08-11 1998-02-04 반도체부품

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9216660A JPH1168031A (ja) 1997-08-11 1997-08-11 Icモジュールおよび半導体部品

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1168031A true JPH1168031A (ja) 1999-03-09

Family

ID=16691942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9216660A Pending JPH1168031A (ja) 1997-08-11 1997-08-11 Icモジュールおよび半導体部品

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5912808A (ja)
JP (1) JPH1168031A (ja)
KR (1) KR100287805B1 (ja)
CN (1) CN1208253A (ja)
DE (1) DE19803670A1 (ja)
TW (1) TW434862B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006196756A (ja) * 2005-01-14 2006-07-27 Sharp Corp 集積回路パッケージの設計方法および製造方法
JP2007035670A (ja) * 2005-07-22 2007-02-08 Denso Corp 半導体装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6052171A (en) * 1998-03-05 2000-04-18 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display with electrically connected integrated circuits and opposite voltage line between input and output wirings
US6969265B2 (en) * 2000-05-18 2005-11-29 Infineon Technologies Ag Electrically connecting integrated circuits and transducers
JP2005524239A (ja) * 2002-04-29 2005-08-11 シリコン・パイプ・インコーポレーテッド ダイレクト・コネクト形信号システム
US7612443B1 (en) 2003-09-04 2009-11-03 University Of Notre Dame Du Lac Inter-chip communication
KR101096456B1 (ko) 2011-07-13 2011-12-20 주식회사 하이닉스반도체 멀티 패키지
KR101096457B1 (ko) 2011-10-14 2011-12-20 주식회사 하이닉스반도체 멀티 패키지
US9620473B1 (en) 2013-01-18 2017-04-11 University Of Notre Dame Du Lac Quilt packaging system with interdigitated interconnecting nodules for inter-chip alignment

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR910001419B1 (ko) * 1987-03-31 1991-03-05 가부시키가이샤 도시바 수지봉합형 집적회로장치
US5138438A (en) * 1987-06-24 1992-08-11 Akita Electronics Co. Ltd. Lead connections means for stacked tab packaged IC chips
JPH0263150A (ja) * 1988-08-29 1990-03-02 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体集積回路用パッケージ
JPH05183094A (ja) * 1992-01-06 1993-07-23 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路
JPH0730051A (ja) * 1993-07-09 1995-01-31 Fujitsu Ltd 半導体装置
US5412538A (en) * 1993-07-19 1995-05-02 Cordata, Inc. Space-saving memory module
JP2897696B2 (ja) * 1995-09-07 1999-05-31 日本電気株式会社 半導体モジュール
KR100203934B1 (ko) * 1996-02-17 1999-06-15 윤종용 패턴닝된 리드프레임을 이용한 멀티 칩 패키지

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006196756A (ja) * 2005-01-14 2006-07-27 Sharp Corp 集積回路パッケージの設計方法および製造方法
US7458054B2 (en) 2005-01-14 2008-11-25 Sharp Kabushiki Kaisha Method for designing integrated circuit package and method for manufacturing same
JP2007035670A (ja) * 2005-07-22 2007-02-08 Denso Corp 半導体装置
JP4581885B2 (ja) * 2005-07-22 2010-11-17 株式会社デンソー 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE19803670A1 (de) 1999-02-25
CN1208253A (zh) 1999-02-17
KR100287805B1 (ko) 2001-04-16
TW434862B (en) 2001-05-16
US5912808A (en) 1999-06-15
KR19990023057A (ko) 1999-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6060772A (en) Power semiconductor module with a plurality of semiconductor chips
KR100307465B1 (ko) 파워모듈
US5592019A (en) Semiconductor device and module
US7514768B2 (en) Package structure for a semiconductor device incorporating enhanced solder bump structure
US20100176504A1 (en) Semiconductor device
US20010002065A1 (en) Integrated circuit package having interchip bonding and method therefor
JP2568748B2 (ja) 半導体装置
GB2289985A (en) Connecting the output pads on an i.c. chip, using an adaptor board
US20200046210A1 (en) Endoscope, image pickup module and manufacturing method for image pickup module
JPH1168031A (ja) Icモジュールおよび半導体部品
JP2979930B2 (ja) 電力用半導体装置のパッケージ
JPH1145903A (ja) 半導体素子及び半導体装置
US6861732B2 (en) Power source circuit device
US5473188A (en) Semiconductor device of the LOC structure type having a flexible wiring pattern
JP3669889B2 (ja) 半導体集積回路装置
US6674163B1 (en) Package structure for a semiconductor device
JP2000124395A (ja) 多チップ半導体パッケージ構造とその製造方法
US6984882B2 (en) Semiconductor device with reduced wiring paths between an array of semiconductor chip parts
JP2004320012A (ja) チップ相互接続方法および装置
JP2000183275A (ja) 半導体装置
JP5048627B2 (ja) リードフレーム及び半導体装置
JP3303846B2 (ja) 半導体モジュール及びその接続方法
JPH0766330A (ja) 半導体素子実装コネクタ
JP4330293B2 (ja) 電力用半導体装置
JPH0722577A (ja) 混成集積回路装置