JP4411670B2

JP4411670B2 - 非接触ｉｃカードの製造方法

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Publication number: JP4411670B2
Application number: JP25391598A
Authority: JP
Inventors: 英実中島; 進五十嵐; 晋江森; 一雄小林
Original assignee: Toppan Inc
Current assignee: Toppan Inc
Priority date: 1998-09-08
Filing date: 1998-09-08
Publication date: 2010-02-10
Anticipated expiration: 2018-09-08
Also published as: JP2000090207A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は非接触型情報媒体、詳しくは、例えばオフィス・オートメーション（ＯｆｆｉｃｅＡｕｔｏｍａｔｉｏｎ；いわゆるＯＡ) や、ファクトリーオートメーション（ＦａｃｔｏｒｙＡｕｔｏｍａｔｉｏｎ；いわゆるＦＡ) 、或いは、その他のセキュリティ（Ｓｅｃｕｒｉｔｙ）問題が関連する様々な分野で使用される非接触ＩＣカードの製造に関わる技術であり、特に非接触ＩＣカード製造時の不良ＩＣモジュールの混入による諸トラブルに有効な対策に関わる。
【０００２】
【従来の技術】
近年、半導体メモリー等を内蔵する非接触ＩＣカードの登場により、従来の磁気カードに比べて記憶容量が飛躍的に増大するとともに、カードを読み書き装置のスロット部に挿入することが不要となり、利便性が向上した。
非接触ＩＣカードは、空間に高周波電磁界や超音波、光等の振動エネルギーの場を設けて、そのエネルギーを吸収、整流してカードに内蔵された電子回路を駆動する直流電力源とし、この場の交流成分の周波数をそのまま用いるか、或いは逓倍や分周して識別信号とし、この識別信号をアンテナ又はコイルやコンデンサ等の結合器を介してデータを半導体素子の情報処理回路に伝送するものである。
【０００３】
特に、認証や単純な計数データ処理を目的とした非接触ＩＣカードの多くは、電池とＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ；いわゆる中央処理装置）を搭載しないハードロジックの無線認証（ＲａｄｉｏＦｒｅｑｕ−ｅｎｃｙＩＤｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ。尚、以下ではこれを単にＲＦＩＤと呼ぶ。）である。この非接触ＩＣカードの出現によって、従来の磁気カードの場合に比較して偽造や改竄に対する安全性が高められるとともに、ゲート通過に際してカードの携帯者は、ゲート装置に取り付けられた読み書き装置のアンテナ部に接近させるか、携帯したカードを読み書き装置のアンテナ部に触れるだけでよく、カードをケースから取り出して読み書き装置のスロットに挿入するというデータ交信のための煩雑さは軽減された。
【０００４】
また、非接触ＩＣカードはいわゆるＩＳＯ（ＩｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌＯｒｇａｎｉｓａｔｉｏｎｆｏｒＳｔａｎｄａｒｄｉｓａｔｉｏｎ）によって国際的に規格化されており、ＩＣカードは一般的に、プラスチックなどを基材とするカード本体に半導体メモリー等のＩＣモジュールおよび非接触伝達素子であるアンテナが内蔵されている。そして、読み書き装置のアンテナ部から放射される交流磁界を、このカード内部アンテナにより検出され、互いに結合されて読み書き装置とのデータの交信が行われる。
【０００５】
さて、一般的に、非接触ＩＣカードは以下のように製作される。
シート上に非接触伝達用の金属箔のアンテナ又はコイルがエッチングによって形成され、さらにアンテナ又はコイルの終端部にはＩＣモジュールとの接続を行うためのパターン部が設けられる。そして、ＩＣモジュールのアンテナ接続部は、このパターン部と半田付けや導電性接着剤などを用いて接続され、カード内部に納められる内部シートとなる。
その後、ＩＣモジュールが実装されたこの内部シートは、カード基材によって挟み込まれ、ラミネートされてカード本体が製作される。また、インジェクション成形により、この内部シートを封止し、カード本体を製作する方法もある。
非接触伝達用アンテナ又はコイルは、金属箔によるアンテナ又はコイル以外に、絶縁皮膜を施した導線によってコイルを形成することも考えられる。
【０００６】
このようにして製作された非接触ＩＣカードは、完成後の動作および機能確認をするために、非接触ＩＣカードの読み書き装置を利用した、例えば特開平９−１０２０２１号公報に示されるような通信装置を用いた検査装置により、非接触ＩＣカード製造工程の最終検査が行われ、動作不良および機能不良のカードが検出される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような検査装置では、非接触ＩＣカード製造工程においてカード完成後の検査であるため、不良ＩＣモジュールの混入があった場合でもカード製造は通常どおり行われ、カード完成後に初めて不良ＩＣモジュールであったことが判明する結果となってしまう。そのため、非接触ＩＣカードを構成する部材、例えば、アンテナ又はコイルを形成する内部シートや、これを挟み込むカード基材等が無駄になり、製造コストに影響を与えることになる。
また、カード完成後の選別作業が増え、選別ミスによる不良品混入の危険性も発生する。従って、品質管理上からもけっして好ましくない。
【０００８】
従って、カード化する前につまりＩＣモジュール単体で、動作および機能確認を行う必要がある。その方法として、図５に示すような装置も考えられる。これは、非接触ＩＣカードの読み書き装置５における通信用アンテナ部７の近傍に、非接触ＩＣカード内部に設けられるアンテナ又はコイルと同性能の疑似アンテナ又はコイル８を配置し、そのコイルの終端部をＩＣモジュール１のアンテナ接続端子部６に接続し、ＩＣモジュール１の動作確認を行うものである。
【０００９】
しかし、図５による手段では、読み書き装置５の通信用アンテナ部７の設置スペースが大きく必要であり、また、疑似アンテナ又はコイル８と読み書き装置通信アンテナ部７の配置における位置関係も固定しなければならず、構成が複雑になってしまう。さらに、疑似アンテナ又はコイル周辺部の影響、例えば近傍に金属体などが存在するとその影響を受け、検査に支障を及ぼしてしまい動作・機能を正常に確認することができない。
【００１０】
本発明は、上記の問題点を解消するためになされたものであって、カード製造工程においてＩＣモジュールとアンテナ又はコイルとの接続部の接続不良があった場合や、不良ＩＣモジュールの混入があった場合でもカード化工程前のインレットが複数整列配置されたカード基材シート状態で、動作・機能確認できるようにし、不良カードの製造してしまうことを防ぎ、無駄なカード部材の消費を減少させ、製造コストアップも抑制することができ、さらに、カード完成後における不良品混入の危険性も減少させ、品質を向上できること、これらを満足できる製造方法を提供することを課題とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために本発明が提供する手段とは、すなわち、まず請求項１に示すように、半導体ＩＣチップを備えたＩＣモジュールと、非接触伝達素子としてのアンテナ又はコイル、これらが一体化された非接触ＩＣカード用インレットを、基材シート上に設ける工程と、
該基材シートをカード基材で挟み込みラミネートしてカード本体を製作する工程とを含む非接触ＩＣカードの製造方法において、
該カード本体を製作する工程の前に、該アンテナ又はコイルの該ＩＣモジュールへの接続端子部に、伝送線路を介して読み書き装置を直接接触して読み書きの通信動作を行う検査用通信工程と、
該検査用通信工程によって行われた読み書きの結果から、該ＩＣモジュールが正常品であるか不良品であるかを判定する検査用読み書き判定処理工程とを含み、
該伝送線路の持つ特性インピーダンスと等価なインピーダンスである減衰器が、前記検査用通信工程の読み書きに用いられる読み書き装置と前記接続端子部との間に備わっていることを特徴とする非接触ＩＣカードの製造方法である。
また請求項２に示すように、半導体ＩＣチップを備えたＩＣモジュールと、非接触伝達素子としてのアンテナ又はコイル、これらが一体化された非接触ＩＣカード用インレットを、基材シート上に設ける工程と、
該基材シートをインジェクション成形により封止してカード本体を製作する工程とを含む非接触ＩＣカードの製造方法において、
該カード本体を製作する工程の前に、該アンテナ又はコイルの該ＩＣモジュールへの接続端子部に、伝送線路を介して読み書き装置を直接接触して読み書きの通信動作を行う検査用通信工程と、
該検査用通信工程によって行われた読み書きの結果から、該ＩＣモジュールが正常品であるか不良品であるかを判定する検査用読み書き判定処理工程とを含み、
該伝送線路の持つ特性インピーダンスと等価なインピーダンスである減衰器が、前記検査用通信工程の読み書きに用いられる読み書き装置と前記接続端子部との間に備わっていることを特徴とする非接触ＩＣカードの製造方法である。
本発明によれば、非接触ＩＣカードの製造工程において、シンプルな構造の検査装置を利用することが出来、しかも半導体ＩＣチップ自体をＩＣカード化の事前に信頼性高く検査を行うことが出来る。
また、もし非接触ＩＣカード用インレットではなく、非接触伝達素子の全体か又は一部を除き主にＩＣモジュールの部分が、基材シート上に設けてある場合でも本発明は好適である。
【００１２】
またこれによれば、減衰器の作用により、読み書き装置の改造、または出力レベルの調整をすることなく、ＩＣモジュールに入力される信号レベルを最適値に設定することができ、過大入力によるＩＣモジュールの破壊を防止できる。
さらに、伝送線路長を変えた時、および、ＩＣモジュールの接続有無によって生じる、読み書き装置出力部のレベル変動や不安定動作を回避することが出来ることから、大変に好ましい。
【００１３】
また請求項３に示す発明は、請求項１乃至２のいずれかの製造方法を基本構成としており、特に、前記ＩＣモジュールの接続端子部に接触する部分に／又は接触する部分の近傍に、平衡−不平衡変換部を設けてあり、該ＩＣモジュール側と前記伝送線路との間の整合性を得ることを特徴とする。
これによれば、ＩＣモジュールの入力形態と伝送線路の信号を送る形態が異なる場合に生じる伝送信号の損失を防止できることから、大変に好ましい。
【００１４】
また請求項４に示す発明は、請求項１乃至３のいずれかの製造方法を基本構成としており、特に、前記検査用通信工程は、少なくとも前記ＩＣモジュールへの接続端子部に伝送線路を介して接触して通信を行う検査ヘッドを使用し、検査対象とするＩＣモジュールが変わる度に、新しい検査対象であるＩＣモジュールを検査可能な場所に該検査ヘッドを移動させ、該ＩＣモジュールの接続端子部に伝送線路を直接接触させることを特徴とする。
これによると、検査の自動化を現実のものとする場合に好適である。
【００１７】
また請求項５に示す発明は、請求項１乃至４のいずれかの製造方法を基本構成としており、特に、前記非接触ＩＣカード用インレットを前記基材シート上に複数個整列配置して設けることを特徴とする。
これによると、非接触ＩＣカード用インレットが複数個配列された集合体に対しても本発明は好適である。
仮に、非接触ＩＣカード用インレットではなく、非接触伝達素子の全体か又は一部を除き主にＩＣモジュールの部分が、基材シート上に複数個配列された集合体に対しても、本発明は好適である。
【００１８】
また請求項６に示す発明は、請求項１乃至５のいずれかの製造方法を基本構成としており、特に、前記半導体ＩＣチップは、非接触ＩＣカードと接触式ＩＣカードとのいずれにも対応可能な機能を備えた半導体ＩＣチップであることを特徴とする。
ＩＣカードは、非接触ＩＣカードと接触式ＩＣカードとに大きく分類できるが、これら両方の機能を備えているＩＣカードもある。また、それに使用されるべく、半導体ＩＣチップ自体が１つでこれら両方の機能を備えているものもある。
この発明は、このように両方の機能を備えている半導体ＩＣチップを備えているものに対しても好適である。
【００２５】
【発明の実施の形態】
図１は本発明による非接触ＩＣカード用のＩＣモジュール検査装置の概略構成図である。ここで、１は、アンテナ接続端子部６を有した非接触カード用ＩＣモジュール、２は平衡−不平衡変換部、３は減衰器、４は伝送線路、５は読み書き装置である。
【００２６】
先ず、本発明に関わるＩＣモジュール１単体での動作・機能確認の概要を説明する。
非接触ＩＣカード製造工程へ投入前のＩＣモジュール１において、アンテナ接続端子部６に平衡−不平衡変換部２の接触子が接続される。この平衡−不平衡変換部２は、ＩＣモジュール側の入力形態と、伝送線路４の信号を送る形態が異なる場合に用いると、両者間の整合が得られ、信号を効率よく伝送できる。
ＩＣモジュール１の入力形態と、伝送線路４の信号伝送形態に、整合性が得られる場合にはあえて用いる必要もない。
そして、平衡−不平衡変換部２の後には、減衰器３が接続され、さらに伝送線路４を介して読み書き装置５へと接続されている。この減衰器３は伝送線路４と読み書き装置５の間に挿入しても可能である。
【００２７】
ＩＣモジュール１の動作・機能確認を行う時は、図示しない制御部より命令（ＩＣモジュール内の情報の読み込み命令、または書き込み命令等）が読み書き装置５に送られ、読み書き装置５では、その命令に沿った信号を、伝送線路４を介してＩＣモジュール１に向けて送信する。そして、ＩＣモジュール１では、その信号を受信し、整流して内部回路を駆動する直流電力を得るのと同時に、信号内の命令に従った動作をした後に応答信号を発生させ、読み書き装置５に向けて返信する。読み書き装置５では、その応答信号を受信し、応答信号内に含まれるＩＣモジュール１の情報を抽出し、図示しない制御部に送信する。
上記の動作を一度もしくは数回行うことにより、ＩＣモジュール１の動作・機能を確認することができる。
【００２８】
この時、途中に存在する減衰器３は、次に述べるような二つの重大な働きを担っている。
【００２９】
まず第一の働きは、ＩＣモジュール１へ最適な入力レベルで、信号を送り込めることである。
通常、読み書き装置５の出力は、図５に示す通信用アンテナ部７を用いて、空間上に高周波電磁界の振動エネルギーの場を発生させ、非接触ＩＣカードは、この場のエネルギーの一部を吸収し、内部ＩＣモジュールの駆動電力源としている。従って、空間上での損失が大きいため、読み書き装置５の出力レベルは比較的大きいレベルである。この出力を伝送線路４を介して、直接ＩＣモジュール１に入力してしまうと、過大入力状態となりＩＣモジュール１が破壊してしまう。この現象を回避するためには、読み書き装置５の改造等の処置が必要になってしまう。
【００３０】
そこで本発明では、減衰器３を用いることにより、読み書き装置５の改造等を必要とせず、読み書き装置５の大出力をＩＣモジュール１の最適入力レベルまで減衰させることが出来、その結果、モジュール破壊を防止することが出来る。
【００３１】
次にその第二の働きは、ＩＣモジュール１の入力インピーダンスと伝送線路４の特性インピーダンスとの不整合より、伝送線路４の長さを変えた時や、ＩＣモジュール１の接続有無、によって生じる読み書き装置出力部のレベル変動や不安定動作を回避できる点である。
【００３２】
通常、ＩＣモジュール１は比較的高い入力インピーダンスであり（例えば数ｋΩ程度）、伝送線路４は低い特性インピーダンスを有する（例えば５０Ω程度）。従って、ＩＣモジュール１と伝送線路４との接続点では、インピーダンス不整合を生じ、読み書き装置５から進行してきた信号波の一部が反射し、反射波として読み書き装置５に戻って行く。この反射波の影響により、読み書き装置出力部では波形歪み、レベル変動、回路の不安定動作等が発生してしまう。
この不安定状況は、伝送線路４の長さを変化させた時や、ＩＣモジュール１を無接続状態での高インピーダンス時等、状態によって異なる。
【００３３】
そこで、本発明によるＩＣモジュール１―伝送線路４―読み書き装置５間に、減衰器３を挿入することによって、不整合による反射波レベルを減衰させ、見かけ上、整合状態が改善され、読み書き装置出力部に悪影響を及ぼさないように作用する。
【００３４】
【実施例】
図２は本発明にかかる非接触ＩＣカード用モジュール検査装置の実施例を示すブロック図である。また、図３は本発明に関わる一実施例による効果を示す図である。そして、図４は本発明に関わる別の一実施例による効果を示す図である。
【００３５】
図２において、１はアンテナ接続端子部６を有した非接触カード用ＩＣモジュール、２は平衡−不平衡変換部、３は減衰器、４は伝送線路、５は読み書き装置を示している。
そして、ＩＣモジュール１のアンテナ接続端子部６に発生する電圧をＶｍ、読み書き装置５の出力部電圧をＶｏｕｔ、伝送線路４の長さをＬ、として表している。ここで、平衡−不平衡変換部２は、ＩＣモジュール１の入力形態と、伝送線路４の信号伝送形態に、整合性が得られる場合には省略できる。
【００３６】
次に、本発明によるＩＣモジュール１―伝送線路４―読み書き装置５間に、減衰器３を挿入した効果について説明する。
図３の（減衰量無し）には、図２において減衰器３が無い状態で、ＩＣモジュール１のアンテナ接続端子部６の電圧Ｖm を測定し、さらに伝送線路４の長さＬを変化させた時の電圧Ｖｍを示す。
また、図３の（減衰量Ａ）には、減衰量Ａの値の減衰器３を挿入したこと以外は同様な方法で、その場合の電圧Ｖｍの特性を示す。
そして図３の（減衰量Ｂ）には、減衰量Ａよりも大きな値の減衰量Ｂの減衰器３を挿入したこと以外は同様な方法で、その場合の電圧Ｖｍの特性を示す。
【００３７】
そして図３に示す結果より分かることは、減衰器３の減衰量増大に伴い、ＩＣモジュール１のアンテナ接続端子６に発生する電圧Ｖｍが減少していることである。
また、減衰器３がない状態では、電圧Ｖｍは伝送線路長Ｌの変化に伴い、周期的に大小を繰り返していることであり、この繰り返し周期は、読み書き装置５の使用する周波数と関係し、周波数が高くなれば、このピッチが狭くなることである。また、減衰器３を挿入することにより、振幅差が減少することが分かる。
従って、ＩＣモジュール１が動作し、かつ、過大入力によって破壊することのない適正な電圧Ｖｍになるように、減衰器３の減衰量を設定することにより、伝送線路４の長さＬを変化させても常に安定した動作が得られる。
【００３８】
次に、ＩＣモジュール１―伝送線路４―読み書き装置５間に、減衰器３を挿入した別の効果について、図４を用いて説明する。
図４の（減衰器無し）には、前記の図２において、減衰器３がない状態で、読み書き装置５の出力部電圧Ｖｏｕｔを測定し、さらに伝送線路４の長さＬを変化させた時の電圧Ｖｏｕｔを示す。
また、図４の（減衰器有り）には、前記と同様な方法でＩＣモジュール１にとって最適な減衰量の減衰器３を挿入した時の電圧Ｖout の特性を示す。
【００３９】
図４より分かることは、減衰器３がない状態では、読み書き装置５の出力電圧Ｖｏｕｔは伝送線路長Ｌの変化に伴い、周期的に大小を繰り返していること。そして、この周期は読み書き装置５が出力する信号の周波数と関係し、高いほどピッチが狭くなることである。
これは、読み書き装置５に接続されている伝送線路４の先端部に、インピーダンスの異なるＩＣモジュール１が接続され、その接続点でのインピーダンス不整合が原因で生じる反射波の影響によって発生するものである。
従って、伝送線路長によっては、読み書き装置５の出力部において、波形歪みや回路の発振現象等の不安定動作が起こりうる。さらにＩＣモジュール１の無接続状態では、図示しないが、図４における（減衰器無し）との、周期の位置関係および振幅値が異なり、同一伝送線路長でもＩＣモジュール１の接続有無によって、読み書き装置出力部の状況が変わり、不安定動作が発生していまう。
【００４０】
しかし、最適な減衰量の減衰器３を挿入した時の電圧Ｖｏｕｔ（減衰器有り）は、たとえ伝送線路長Ｌを変化させても、振幅差が少なくほぼ一定である。また、図示してはいないが、ＩＣモジュール１の無接続状態でも、電圧Ｖｏｕｔ一定である。
従って、伝送線路４の長さＬが変化しても、また、ＩＣモジュール１の接続有無によっても、読み書き装置５の出力部は何ら影響を受けず、常に安定した動作をすることができる。
【００４１】
【発明の効果】
以上に詳細に説明してきたように、本発明によると、半導体ＩＣチップによるＩＣモジュールと非接触伝達素子としてのアンテナと前記ＩＣモジュールおよび前記アンテナを保持するカード基体から構成される非接触ＩＣカードと、その読み書き装置から成る非接触ＩＣカードシステムで使用される前記非接触ＩＣカードの製造工程において、本発明による非接触ＩＣカード用検査装置は、カード製造時に不良ＩＣモジュールの混入があっても、事前に動作・機能確認ができるため、無駄なカード部材の消費を減少させ、製造コストアップを抑制できる。
【００４２】
そして、本発明による非接触ＩＣカード用検査装置では、検査装置の構造をシンプルにすることができ、省スペース化や検査の信頼性向上に貢献できる。
さらに、本発明による、アンテナ又はコイルの接続端子部〜読み書き装置の間に減衰器を挿入したことにより、読み書き装置の改造、または出力レベルの調整をすることなく、ＩＣモジュールに入力される信号レベルを最適値に設定することができ、過大入力によるＩＣモジュールの破壊を防止できる。（ちなみに、ここでＩＣモジュールに入力される信号は、ＩＣモジュール内の半導体ＩＣチップに送られる。）
また、伝送線路長を変えた時、および、ＩＣモジュールの接続有無によって生じる、読み書き装置出力部のレベル変動や不安定動作が回避でき、常に安定動作が得られるため、検査ラインの構築変更などに簡単に対応できる。
【００４３】
尚、本発明は従来から有る外部端子を持つ接触型ＩＣカード機能と、無線通信によってデータ交信する非接触型ＩＣカード機能の両方を有する複合型ＩＣカードにおいては、普通は、モジュール基板の外部端子形成面とは反対の面に、半導体ＩＣチップが配置され、さらに、非接触伝達素子としてのアンテナを接続するためのアンテナ接続端子を有する複合型ＩＣカード用ＩＣモジュールが利用されるが、この場合のＩＣカード化前の半導体ＩＣチップの検査にも効果を発揮することができる。
【００４４】
総じて、本発明によると、ＩＣモジュール不良、アンテナ又はコイル不良、ＩＣモジュールとアンテナ又はコイルとの接続部不良等をカード化前に発見できるため、不良カード製造を防止し、無駄なカード部材消費を抑制できる。また、カード完成後での不良カード選別作業も不要になり、作業ミスによる不良品混入の危険性も減少しトラブルを防止できる。
【００４５】
また、直接接触して検査させるヘッド部を機械的に順次移動して検査させることによって、各インレットを一つ一つ確実に動作・機能の確認が成されるため、カード基材シート状態での、検査の信頼性、生産性の向上を図ることが出来る。
【００４６】
つまるところ、本発明によると、カード製造工程においてＩＣモジュールとアンテナ又はコイルとの接続部の接続不良があった場合や、不良ＩＣモジュールの混入があった場合でもカード化工程前のインレットが複数整列配置されたカード基材シート状態で、動作・機能確認できるようにし、不良カードを製造してしまうことを防ぎ、無駄なカード部材の消費を減少させ、製造コストアップも抑制することができ、さらに、カード完成後における不良品混入の危険性も減少させ、品質を向上できること、これらを満足できる製造方法を提供することが出来た。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にかかる非接触ＩＣカード用のＩＣモジュール検査装置の概略構成図である。
【図２】本発明にかかる非接触ＩＣカード用のＩＣモジュール検査装置の実施例を示すブロック図である。
【図３】本発明による効果の一例を示す図である。
【図４】本発明による効果のさらに別の一例を示す図である。
【図５】従来のＩＣモジュール検査装置の概略構成を示す図である。
【符号の説明】
１・・・ＩＣモジュール
２・・・平衡‐不平衡変換部
３・・・減衰器
４・・・伝送線路
５・・・読み書き装置
６・・・アンテナ接続端子部
７・・・通信用アンテナ部
８・・・疑似アンテナ又はコイル

Claims

半導体ＩＣチップを備えたＩＣモジュールと、非接触伝達素子としてのアンテナ又はコイル、これらが一体化された非接触ＩＣカード用インレットを、基材シート上に設ける工程と、
該基材シートをカード基材で挟み込みラミネートしてカード本体を製作する工程とを含む非接触ＩＣカードの製造方法において、
該カード本体を製作する工程の前に、該アンテナ又はコイルの該ＩＣモジュールへの接続端子部に、伝送線路を介して読み書き装置を直接接触して読み書きの通信動作を行う検査用通信工程と、
該検査用通信工程によって行われた読み書きの結果から、該ＩＣモジュールが正常品であるか不良品であるかを判定する検査用読み書き判定処理工程とを含み、
該伝送線路の持つ特性インピーダンスと等価なインピーダンスである減衰器が、前記検査用通信工程の読み書きに用いられる読み書き装置と前記接続端子部との間に備わっていることを特徴とする非接触ＩＣカードの製造方法。
半導体ＩＣチップを備えたＩＣモジュールと、非接触伝達素子としてのアンテナ又はコイル、これらが一体化された非接触ＩＣカード用インレットを、基材シート上に設ける工程と、
該基材シートをインジェクション成形により封止してカード本体を製作する工程とを含む非接触ＩＣカードの製造方法において、
該カード本体を製作する工程の前に、該アンテナ又はコイルの該ＩＣモジュールへの接続端子部に、伝送線路を介して読み書き装置を直接接触して読み書きの通信動作を行う検査用通信工程と、
該検査用通信工程によって行われた読み書きの結果から、該ＩＣモジュールが正常品であるか不良品であるかを判定する検査用読み書き判定処理工程とを含み、
該伝送線路の持つ特性インピーダンスと等価なインピーダンスである減衰器が、前記検査用通信工程の読み書きに用いられる読み書き装置と前記接続端子部との間に備わっていることを特徴とする非接触ＩＣカードの製造方法。
前記ＩＣモジュールの接続端子部に接触する部分に／又は接触する部分の近傍に、平衡−不平衡変換部を設けてあり、該ＩＣモジュール側と前記伝送線路との間の整合性を得ることを特徴とする請求項１又は２に記載の非接触ＩＣカードの製造方法。
前記検査用通信工程は、少なくとも前記ＩＣモジュールへの接続端子部に伝送線路を介して接触して通信を行う検査ヘッドを使用し、検査対象とするＩＣモジュールが変わる度に、新しい検査対象であるＩＣモジュールを検査可能な場所に該検査ヘッドを移動させ、該ＩＣモジュールの接続端子部に伝送線路を直接接触させることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の非接触ＩＣカードの製造方法。
前記非接触ＩＣカード用インレットを前記基材シート上に複数個整列配置して設けることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の非接触ＩＣカードの製造方法。
前記半導体ＩＣチップは、非接触ＩＣカードと接触式ＩＣカードとのいずれにも対応可能な機能を備えた半導体ＩＣチップであることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の非接触ＩＣカードの製造方法。