JP3727069B2 - 錫被覆電気コネクタ - Google Patents

錫被覆電気コネクタ Download PDF

Info

Publication number
JP3727069B2
JP3727069B2 JP52290197A JP52290197A JP3727069B2 JP 3727069 B2 JP3727069 B2 JP 3727069B2 JP 52290197 A JP52290197 A JP 52290197A JP 52290197 A JP52290197 A JP 52290197A JP 3727069 B2 JP3727069 B2 JP 3727069B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
copper
tin
barrier layer
substrate
nickel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP52290197A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001526734A5 (ja
JP2001526734A (ja
Inventor
フィスター,ユリウス,シー.
チェン,スズチェイン
クハン,アビド,エイ.
ベンダー,デール,エル.
Original Assignee
オリン コーポレイション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US08/657,211 external-priority patent/US5780172A/en
Application filed by オリン コーポレイション filed Critical オリン コーポレイション
Publication of JP2001526734A publication Critical patent/JP2001526734A/ja
Publication of JP2001526734A5 publication Critical patent/JP2001526734A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3727069B2 publication Critical patent/JP3727069B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/02Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material
    • C23C28/021Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material including at least one metal alloy layer
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B15/00Layered products comprising a layer of metal
    • B32B15/01Layered products comprising a layer of metal all layers being exclusively metallic
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C9/00Alloys based on copper
    • C22C9/06Alloys based on copper with nickel or cobalt as the next major constituent
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/02Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/02Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material
    • C23C28/023Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material only coatings of metal elements only
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/03Contact members characterised by the material, e.g. plating, or coating materials
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/922Static electricity metal bleed-off metallic stock
    • Y10S428/9265Special properties
    • Y10S428/929Electrical contact feature
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/922Static electricity metal bleed-off metallic stock
    • Y10S428/9335Product by special process
    • Y10S428/934Electrical process
    • Y10S428/935Electroplating
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12708Sn-base component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12708Sn-base component
    • Y10T428/12715Next to Group IB metal-base component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12708Sn-base component
    • Y10T428/12722Next to Group VIII metal-base component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12771Transition metal-base component
    • Y10T428/12861Group VIII or IB metal-base component
    • Y10T428/12903Cu-base component
    • Y10T428/1291Next to Co-, Cu-, or Ni-base component

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
  • Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)

Description

本発明は銅/錫金属間化合物の生成速度を低下させた錫被覆銅系電気コネクタに関する。より詳しくは、重量で20%〜40%のニッケルを含有するバリヤ層がコネクタ基質と被覆の間に設けられている。あるいは、このバリヤ層は銅/錫金属間化合物を含有している。
ソケットやプラグのような電気コネクタは良好な電気伝導率を与える銅ベース合金基質から一般に形成される。電気コネクタが自動車のボンネットの下でのように動作中に高温に曝される場合には、高強度と応力緩和抵抗性を有している銅ベース合金から基質を形成する。
応力緩和抵抗性はASTM(米国材料試験協会(American Society for Testing and Materials))の仕様書通りストリップサンプルに片持モードで降伏強さの永久歪(set)パーセント代表的には80%を予め負荷した後に残留する応力のパーセントとして記録される。ストリップはそれから、代表的には125℃に、特定された長い時間の間、代表的には3000時間までの間、加熱され、そして周期的に再試験される。各再試験で残留する応力が高いほど、その特定組成物のスプリング応用のための実用性はより良い。
銅ベース基質の高温損傷を減少させるために及びはんだ付け適性を向上させるために、基質にはしばしば被覆層が適用される。代表的な被覆層はニッケル、パラジウム/ニッケル合金、錫及び錫合金を包含する。価格を最小にするために、錫がしばしば使用される。
高温では、銅が基質から拡散し錫と化合して金属間化合物、例えば、Cu6Sn5やCu3Snを生成する。金属間化合物の生成は表面上の未反応又は遊離の錫の量を減少させる。これは電気特性、腐食特性及びその他の性能特性を悪化させるであろう。
銅/錫金属間化合物の生成を減少させるため銅ベース基質と錫ベース被覆層の間にバリヤ層を介在させることが知られている。トランスアクションズ オブ ザ インスティチュート オブ メタル フィニッシング(Transactions of the Institute of Metal Finishing)第59巻(1979年)第169頁に出ているケイ(Kay)等による刊行物には、錫/ニッケル、銅/錫、及びニッケル/鉄のような合金ばかりでなくニッケル、コバルト及び鉄のようなバリヤ層が銅ベース基質と錫被覆の間に配置されて金属間化合物の生成を減少させることが開示されている。
有効ではあるが、これらバリヤは125℃に3000時間曝された後では最小量の遊離錫しか残留させない自動車のボンネットの下での使用で余儀なくされる金属間化合物の生成を抑制することをしない。
従って、本発明の目的は銅ベース基質と錫ベース被覆の間に銅/錫金属間化合物の生成速度を低下させるバリヤ層を介在させることである。
本発明の特徴は、一つの態様においては、このバリヤ層は重量で20%〜40%のニッケルを有する合金であるということである。ニッケルは銅、鉄又は錫と組み合わされてもよい。また本発明の別の特徴はこのバリヤ層の厚さが0.2μから部材の全体の厚さの10%までの間にあるということである。
本発明の一つの代替の態様においては、異なる金属の交互層を設け、それからその層を拡散させて所定合金を生成することによってバリヤ層が形成される。
本発明の第二の代替の態様においては、バリヤ層にニッケル/錫金属間化合物を予め飽和させる。
本発明のバリヤ層の利点の一つは、被覆層の一体性を維持するための高温露出後に部材の表面に十分な厚さの遊離錫が残留するということがある。
本発明によれば、銅又は銅ベース合金の基質を有する複合材料が提供される。錫又は錫ベース合金はこの基質の部分を被覆する。バリヤ層は基質と錫又は錫ベース合金との間に介在する。バリヤ層は重量で20%〜40%のニッケルを含有し、そして0.2μ〜5μの厚さを有する。
上記の目的、特徴及び利点は明細書及び次の図面から更に明らかになるであろう:
図1は本発明による電気コネクタを図解する断面図である。
図2は銅/ニッケルの二成分バリヤ層を有する系についてニッケル含量と金属間化合物の生成速度との間の関係を示すグラフである。
図3はバリヤ層を形成するための多層付着過程を図解する断面図である。
図4はバリヤ層と組み合わせた金属間化合物層を図解する断面図である。
図5は接触抵抗をエージング時間及びエージング温度の関数として示すグラフである。
図6は遊離錫厚さをエージング時間及びエージング温度の関数として示すグラフである。
図7は金属間化合物の厚さに対するバリヤ層の効果をエージングの時間の関数として示すグラフである。
図8は非鍛練基質(non-wrought substrate)の上に生成された銅/錫金属間化合物の顕微鏡写真である。
図9は鍛練基質上に生成された銅/錫金属間化合物の顕微鏡写真である。
図1は電気コネクタ部材(electrical connector component)として有効な複合材料10を図解している。かかる部材はソケット類及びプラグ類を包含する。複合材料10は自動車のボンネットの下でのように間欠基調又は連続基調どちらかで75℃を越す高温に曝される電気コネクタ用の部材として特に有効である。
複合材料10は銅又は銅ベース合金の基質12と、基質12の少なくとも一部分を覆う錫又は錫ベース合金の被覆層14を有する。「ベース(base)」は冶金分野におけるその従来通りの意味で使用されており、合金が少なくとも50重量%のベース成分を含有することを意味する。
基質12と被覆層14の間にはバリヤ層16が介在する。バリヤ層16は重量で10%〜70%のニッケルを含有し、そして0.2μから複合材料10の全体の厚さの10%までの厚さを有する。
好ましくは、バリヤ層16のニッケル含量は20重量%〜40重量%、より好ましくは、25重量%〜35重量%である。バリヤ層16にとっての好ましい厚さの範囲は0.2μ〜5μであり、そして最も好ましい厚さの範囲は0.2μ〜1.5μである。
基質12は銅又は銅ベース合金から形成される。好ましくは、銅合金基質は約25%IACSより高い電気伝導率を有する(IACSは國際軟銅規格(International Annealed Copper Standard)によって規定された通りの導電率を意味し、そして「純」銅を20℃で100%のIACSを有するものとして等級付けている)。最も好ましくは、基質の電気伝導率は約35%IACSより上である。
基質12は室温降伏強さが約344.7MPa(50ksi)より上であり、そして好ましくは約448.2MPa(65ksi)より上である。
適する合金は重量で2%〜4.8%のニッケル、0.2%〜1.4%の珪素、0.05%〜0.045%のマグネシウム及び残りが銅という組成を有する銅合金C7025;重量で2.1%〜2.6%の鉄、0.05%〜0.20%の亜鉛、0.015%〜0.15%の燐及び残りが銅という組成を有する銅合金C194;及び、重量で0.3%〜1.2%の鉄、0.1%〜0.4%の燐、0.01%〜0.2%のマグネシウム及び残りが銅という組成を有する銅合金C197として銅開発協会(Copper Development Association)によって指示されたものを包含する。
錫ベース被覆14はいずれかの通常の方法例えば電着、熱浸漬、無電解化学めっき、蒸着又は被着(cladding)によって適用される。電着の場合、被覆層は艶消または光沢どちらかである。電着層は表面化粧性を改良するため及びめっきの中の疵を減少させるために再フロー(reflow)されてもよく、それによって被覆のはんだ付け適性における性能及びコネクター適用における接触特性を改良する。
錫ベース被覆層は重量で1%〜99%の錫を含有する錫/鉛ベースはんだのような錫合金であってもよい。錫化合物が使用されてもよい。錫ベースマトリックスに粒状物として添加されてもよい化合物は炭化珪素、酸化アルミニウム、シリカ(SiO2)、カーボンブラック、グラファイト、炭化タングステン、二硫化モリブデン、及びポリテトラフルオロエチレン(「テフロン」、DE州ウィルミントンのデュポン社の商標)を包含する。
錫ベース被覆層14の厚さは0.5μ〜10μであり、好ましくは0.75μ〜1.5μである。好ましい被覆は後で錫の融点より上の温度に加熱することによって再フローされる電着艶消錫である。加熱はいずれかの適する方法、たとえば、炭化水素タイプの還元雰囲気中で;空気、窒素又はその他の不活性気体のような或る他の適する雰囲気中で;誘導加熱炉;赤外線加熱;又は熱油の中への浸漬;による。
バリヤ層16は約0.2μの最小厚さを有する。この厚さ未満では、基質12から銅がバリヤ層16の中の欠陥を通して拡散し、それが金属間化合物の生成速度の増加につながる。
バリヤ層16の最大厚さは複合材料10の全体の厚さの約10%であり、好ましくは、複合材料10の全体の厚さの約5%未満である。最小のバリヤ厚さは錫ベース層14を設ける方法に依存する。電着によって適用される錫ベース被覆は特定された最小厚さにより近い薄いバリヤ厚さの層を要求する。浸漬被覆は浸漬被覆のための溶融錫の中に漬けたときのバリヤ層の浸食を補償するために特定された最大厚さにより近い比較的厚い被覆を要求する。
コネクタに応用するには、基質12は差し込みと取り外しに関連する力に耐え得るのに有効である最小厚さを有する。代表的には、この最小厚さは少なくとも50μのオーダーであり、より好ましくは、200μ〜500μのオーダーである。
最大のバリヤ層厚さは5μのオーダーである。この厚さより上では、バリヤ層は複合材料10の電気伝導率と降伏強さの両方に影響し始める。銅/ニッケル合金は比較的低い電気伝導率を有するので、バリヤ層の影響は好ましいことに最小化される。
好ましいバリヤ層厚さは0.2μ〜5μである。バリヤ層のためのより好ましい厚さの範囲は0.2μ〜1.5μである。
バリヤ層は重量で20%〜40%のニッケルを含有する。ニッケル含量が20%未満の場合には、バリヤ層16は金属間化合物の生成速度を低下させるのに有効でない。ニッケル含量が40%を越す場合には、バリヤ層の電気伝導率が低下し、そして図2に示されているように、金属間化合物の生成速度が増加する。
図2はニッケル/銅の二成分バリヤ層の金属間化合物の生成速度とニッケル含量との間の関係をグラフで示す。バリヤ層が100%銅である場合、参照点18は、100%ニッケル、参照点20に比べて、生成速度における差異が驚異的に小さい。
金属間化合物の生成速度は蛍光X線分析によって測定した。全体の錫の厚さを最初に想定した(M1)。それから、未反応錫を化学的ストリッピングによって除去した。次に、残留した錫の量を測定し(M2)、そしてM1とM2の差が残留する遊離錫の量であった。
金属間化合物の生成速度はバリヤ層が約8重量%のニッケルと残りの銅という組成を有するとき(参照点22)に最大である。ニッケルが10重量%から、より高い量では、金属間化合物の生成速度は純ニッケル又は純銅のバリヤ層の場合の生成速度よりも小さい。重量で20%〜40%では、金属間化合物の生成速度は最小24である。
本発明者らは図2から、40重量%を越すニッケル含量では金属間化合物の生成速度が増加し電気伝導率が低下することを演繹した。従って、本質的にニッケルと銅からなるバリヤ層16においては、そのバリヤ層のニッケル含量は好ましくは重量で20%〜40%である。
バリヤ層16は、一つの態様においては、ニッケルを含有する二成分合金であり、合金の残り成分は好ましくは錫、鉄、コバルト及び銅からなる群から選ばれる。銅をニッケルと組み合わせることはこの組合せが最も低い金属間化合物成長速度を有するので最も好ましい。
代わりに、バリヤ層16はニッケルに加えて、錫、銅、鉄、亜鉛、コバルト、インジウム、それらの混合物及び任意的に、タングステン、クロム、バナジウム、マンガン及び燐からなる群から選ばれた一つ又はそれ以上の元素を含有する三成分の又はそれ以上の合金であってもよい。
ニッケルの代わりに重量で15%〜40%のコバルトを上記に特定された合金用添加物と共に含有する合金も満足であると信じられる。コバルトの好ましい量はニッケルについて上記に特定されたものと同じである。
バリヤ層は熱浸漬、被着又は電着を包含するいずれか適する手段によって基質12の全体又は一部に適用される。付着の容易性及びバリヤ層厚さの制御のためには、電着が好ましい。銅−重量で20%〜40%のニッケルのバリヤ層は水性クエン酸塩電解液から付着させられてもよい。電解液はリットル当り30〜80gのニッケル、リットル当り7〜35gの銅、及びリットル当り80〜320gのクエン酸ナトリウム二水和物を含有する水溶液である。溶液は使用するために40℃〜70℃の温度に加熱される。陽極として適するステンレス鋼と共に、基質を陰極として電解液の中に浸漬させる。電解液全体に30〜120ミリアンペア/cm2の電流を印加する。約0.5分〜2分の後に、0.3μ〜2.5μの公称厚さを有するバリヤ層が付着される。
バリヤ層は小さなこぶがあるのとは対照的に比較的平滑であるべきである。何故ならば、小さなこぶのある被覆は基質と錫の間の界面の表面積を増加させ、それが金属間化合物の生成速度の増加につながるからである。化粧的には、平滑バリヤ層は再フローされた錫被覆層の光沢を増加させる。
銅/ニッケルバリヤ層16の有効性は電解液に一種又はそれ以上の精錬用化合物を添加することによって向上する。これら精錬用化合物はベンゾトリアゾール(BTA)、グルー、タンパク質、チオ尿素、スルホン化合物及び塩化物イオン供与体例えば塩化ニッケルを包含する。精錬用化合物は付着バリヤ層の多孔性及び荒さを減少させるのに有効であり、そしてまた、より細かい結晶粒子構造を有するバリヤ層を提供できる。
バリヤ層の多孔性の低下は錫及び銅の拡散速度を低下させる。バリヤ層の荒さの減少はバリヤ層と基質の間の及びバリヤ層と被覆の間の界面の面積を減少させ、それは銅及び錫の拡散速度の低下につながる。結晶粒子構造を粒子の細かさを増すように改質することは、より緻密な金属間化合物構造につながり、金属間化合物の成長速度を効果的に低下させる。
好ましくは、約10ppm〜約1000ppmの精錬用化合物が電解液に添加されて多孔性及び荒さの所望の減少を達成し且つより細かい粒子構造を導く。好ましい態様においては、精錬用化合物は50ppm〜100ppmのBTAである。
代わりに、バリヤ層16は錫ベース被覆の付着に先立ってバリヤ層の粒子構造を改質するために、例えばローリングによって機械的にひずまされるか又は例えば加熱によって熱処理される。
一つの典型的なプロセスにおいては、基質の上に銅/ニッケルバリヤ層を付着させた後、バリヤ層/基質複合体を300℃〜500℃の温度に30分〜120分間焼きなます(anneal)。複合体の酸化を最小にするためには、焼きなましは不活性雰囲気又は還元雰囲気例えば分解アンモニア(容量で96%の窒素と4%の水素)の中で行われる。それから、焼きなまされた複合体は室温(約20℃)でロールミルを通過させられ、そして10%〜20%の厚さの減少を受ける。
より緻密な結晶粒子構造又は好ましい結晶配向を提供することに加えて、焼きなまし及びローリングは、個別でも又は組合せでも、加工硬化及び沈殿熟成を通して特定の銅合金の硬度を増加させる。この硬化は電気コネクタを形成する場合には特に有効である。このプロセスのための基質に向く一つの適例の合金は銅合金C194である。
代わりに、焼きなましによる熱加工は複合材料の屈曲(bend)二次成形適正を改良する。焼きなましは電着銅/ニッケルバリヤ層の中に存在するであろう応力を解放すると考えられる。
それから、錫ベース被覆層14はバリヤ層16の少なくとも一部分の上に通常の手段によって適用される。
バリヤ層が二つ又はそれ以上の金属の同時付着合金である場合には、合金組成を正確にコントロールすることはしばしば困難である。図3はバリヤ層16の組成に対するより正確なコントロールを達成する方法を図解する。
合金成分を順次付着させる。一つの合金成分例えばニッケルである第一層26を所望の厚さに付着させる。それから、第二の合金成分を第二層28として付着させる。この第二層28は例えば銅であってもよい。第一層26と第二層28の厚さは第一と第二の成分の所望の量を提供するのに有効なものである。それら層は付着されたまま又は拡散後どちらでバリヤ層として使用されてもよい。
層26、28はいずれか適する方法によって、例えば、電解的に、無電解めっき、化学蒸着、又はプラズマ付着によって、付着させられる。同じ材料の多層を付着させてもよい。例えば、第一層16と第三層30と第五層34が第一成分であり第二層28と第四層34と第六層36が第二成分であってもよい。多数の薄い層は拡散後にはより均一なバリヤ層16を提供する。
第一成分がニッケルであり、そして第二成分が銅である場合、重量で約20%〜40%の均質なニッケルのレベルに拡散させることは750℃〜850℃の温度に12分〜72分間加熱することによって達成できる。
第三層30が第三成分を構成してもよい。例えば、第一成分がニッケルであり第二成分が銅である場合、第三成分は錫であってもよい。それから、第四層32が第四成分、例えば、銀、珪素、アルミニウム、亜鉛、鉄、クロム、マンガン、コバルト、バナジウム、インジウム又は燐を構成してもよい。
元素のいずれかの組合せがそのように組み合わされてもよい。金属間化合物の生成を制限するためには、バリヤ層は拡散後にニッケルを20%〜40%含有する。
一番内側の第一層26は1.25μ(50マイクロインチ)未満の厚さを有する、好ましくは0.05μ(2マイクロインチ)〜0.5μ(20マイクロインチ)の厚さを有するフラッシュ(flash)であってもよい。フラッシュはいずれかの金属であってもよいが、好ましくは銅又はニッケルである。フラッシュは基質の中の表面不規則性をマスクするように表面をレベリングして拡散に利用可能な界面の面積を減少させる効果を有する。
また、フラッシュは基質の中の合金用成分がバリヤ層の付着に対して与える影響を最小にする。
層は元素である必要はない。一つ又はそれ以上の層が二成分又はそれ以上の合金を構成してもよい。例えば、第一層はNi+Xで、そして第二層がCu+Yであってもよい。加熱されたときに、X及びYが互いに又は銅及びニッケルと化合してバリヤ層の中に有効な金属間化合物を形成してもよい。例えば、Xは珪化ニッケルを形成するSiであることができる。
任意の数の層が任意の多数回反復されてもよい。同じ順序の層を何度も何度も繰り返す必要はなく、全ての層を付着させた時に全ての層の合わせた厚さが所望のバリヤ層組成を提供することだけが必要である。それから、多層を拡散させて所望の均質度をバリヤ層16に与える。
錫被覆層の厚さは最初に加熱された時に急速に減少する。同時に、バリヤ層中に銅−錫の金属間化合物が急速に生成される。バリヤ層が銅/錫の金属間化合物で飽和されると、錫厚さの減少速度は急速に減退する。
本発明の別の態様によれば、バリヤ層16は高い初期濃度の金属間化合物を、(Cu−Ni)3Sn、(Cu−Ni)6Sn5、Cu3Sn及びCu6Sn5の一つ又はそれ以上として含有するように形成される。金属間化合物によって飽和されたこのバリヤ層は錫層の一部を犠牲にすることを通しての追加の金属間化合物の発現を有意に減少させると思われる。
図4に図解されているように好ましい態様においては、金属間化合物層38はバリヤ層16と錫層14の間に配置される。金属間化合物層38はいずれか適するバリヤ層16の上の錫層14の崩壊を抑制するのに有効であると思われる。好ましくは、バリヤ層16はニッケルを約20重量%〜約40重量%有する銅/ニッケル合金である。バリヤ層16は約0.25μ〜約1.25μ(10〜約50マイクロインチ)の厚さを有する。金属間化合物層38、それは蒸着又は電解めっきのようないずれか適する方法によって、同時付着として又は上記のように後で一緒に拡散される別個の層として、付着させられる。金属間化合物層38は約100オングストローム〜約10,000オングストロームの厚さ、好ましくは約200オングストローム〜約1000オングストロームの厚さを有する。
本発明のバリヤ層の利点は次の実施例から更に明らかになるであろう。
実施例
実施例1
Cu−20%Ni
Fe
Ni
Cu
の群から選ばれた特定のバリヤ層の30マイクロインチ(0.75μ)によって被覆された銅合金C194クーポン、及びバリヤ層無しの銅合金C194及びC710(6.5%IACSの公称電気伝導率もつ、重量で80%の銅と20%のニッケルの公称組成)の対照クーポンを、電着によって40マイクロインチ(1μ)の艶消錫で被覆した。
それから、クーポンを125℃〜175℃の温度に250時間迄の時間加熱した。接触抵抗は金プローブ及びASTM法B539−80及びB667−80に似た方法を利用することにより測定した。エージング温度及びエージング時間の関数としてミリオームで表される接触抵抗が表1及び図3に呈示されている。
Figure 0003727069
図3に図解されている通り、低い接触抵抗は銅/ニッケルバリヤ層をもって大抵の試験条件下で達成された。175℃で100時間のエージング後の銅/ニッケルバリヤ層での高い接触抵抗は試験上例外的なものであると考えられる。
遊離錫の残留量、銅/錫金属間化合物に転化されなかったその部分の錫は蛍光X線分析によって測定しμで記録した。括弧内にはマイクロインチによる厚さを記した。表2にまとめられ、そして図4に図解されている通り、銅−ニッケルバリヤ層をもって大抵の試験条件下で、大容量の遊離錫の残留が達成された。
Figure 0003727069
バリヤ層を持たない銅合金C710対照クーポンは低い接触抵抗と大容量の遊離錫を有した。しかしながら、C710基質はボンネット適用下で自動車に電気コネクタとして使用するには低すぎる電気伝導率を有する。
実施例2
銅合金C194クーポンを1μ(40マイクロインチ)の銅−30重量%ニッケル合金のバリヤ層で被覆し、それから1.25μ(50マイクロインチ)の艶消錫で被覆した。艶消錫は後で再フローされた。バリヤ層及び艶消錫はどちらも電解的に付着させられた。バリヤ層の銅とニッケルは同時付着された。
対照は後で再フローされた艶消錫によって電解的に被覆された銅合金C194クーポンであった。対照はバリヤ層を欠いていた。
それから、試験クーポン及び対照を125℃で2000時間エージングした。それから、マイクロインチで表される金属間化合物層(IMC)の厚さを測定し、そしてエージングされた時間数の平方根の関数として記録した。試験クーポンの結果は図7に参照線40によって、そして対照クーポンの結果は参照線42によって示されている。2000時間を越すエージング時間での金属間化合物の厚さはグラフから外挿されている。
実施例3
図8は銅合金C194基質/銅−30%ニッケル/錫のプレートシステムにおいて基質/バリヤ層が熱的又は機械的加工を受けない場合に発現する銅/錫の金属間化合物を例証する2000Xの倍率の顕微鏡写真である。金属間化合物は残留錫を選択的に化学的に除去することによって裸出された。金属間化合物は急速に成長するスフェロイド(spheroid)からなる。
図9は銅合金C715基質(公称組成:重量で30%のニッケルと残りの銅)/錫のプレートシステムにおいて基質が錫の付着に先立ってローリングにより機械的にひずませられた場合に発現する銅/錫の金属間化合物を例証する2000Xの倍率の顕微鏡写真である。金属間化合物は残留錫を選択的に化学的に除去することによって裸出された。金属間化合物は比較的ゆっくり成長する偏平化したオベリスク(obelisk)からなる。好ましくは、偏平化したオベリスクは少なくとも5:1のアスペクト比(長さ対幅)を有する。
本発明者らはスフェロイドは偏平化した樹脂状晶(dentrite)の速度の約2倍で成長することを確認した。
本発明によれば、銅ベース基質と錫ベース被覆層との間に介在するバリヤ層であって先に記した目的、手段及び利点を完全に満足させる該バリヤ層が提供されることは明らかである。本発明はその態様に合わせて記述されているが、当業者には上記の記述に照らして多数の代替、変更及び変型が明白になるであろうことは明らかである。かかる代替、変更及び変型の全てを添付の請求の範囲の思想及び一般的範囲の中に入るものとして包含するものである。

Claims (9)

  1. 銅又は銅ベース合金の基質(12);
    前記基質(12)の部分を覆う錫又は錫ベース合金からなる被覆層(14);及び
    前記基質(12)と前記被覆層(14)の間に介在する電着バリヤ層(16)であって、重量で25%〜40%のニッケルを含有する同時付着型または順次付着型の銅合金であり、そして0.2〜2.5μの厚さを有し、前記被覆層(14)に直接接触する前記バリヤ層(16);
    を特徴とする複合材料(10)。
  2. 前記バリヤ層(16)がさらに、錫、コバルト、鉄及びそれらの混合物からなる群から選ばれた少なくとも一つの元素を含有することを特徴とする、請求項1の複合材料(10)。
  3. 前記基質(12)と前記バリヤ層(16)の間に金属フラッシュが配置されており、前記金属フラッシュが0.05μ〜1.25μの厚さを有する、ことを特徴とする、請求項1又は2の複合材料(10)。
  4. 前記金属フラッシュが銅及びニッケルからなる群から選ばれることを特徴とする、請求項3の複合材料(10)。
  5. 前記被覆層(14)が炭化珪素、酸化アルミニウム、炭化タングステン、二硫化モリブデン、シリカ、カーボンブラック、グラファイト及びポリテトラフルオロエチレンからなる群から選ばれた微粒子を包含することを特徴とする、請求項1、2、3又は4のいずれか一項の複合材料(10)。
  6. 銅又は銅ベース合金の基質(12);
    前記基質(12)の部分を覆う錫又は錫ベース合金からなる被覆層(14);
    前記基質(12)と前記被覆層(14)の間に介在する電着バリヤ層(16)であって、重量で10%〜40%のニッケルを含有する同時付着型または順次付着型の銅合金であり、そして0.2〜5μの厚さを有する前記バリヤ層(16);及び
    前記被覆層(14)の中に分散された銅−錫金属間化合物(38)であって、偏平化したオベリスク形状を有する前記金属間化合物;
    を特徴とする複合材料(10)。
  7. 前記金属間化合物(38)が5/1より大きい長さ/幅のアスペクト比を有することを特徴とする、請求項6の複合材料(10)。
  8. 自動車のソケットの形になった請求項1又は6の複合材料(10)。
  9. 自動車のプラグの形になった請求項1又は6の複合材料(10)。
JP52290197A 1995-12-18 1996-12-10 錫被覆電気コネクタ Expired - Lifetime JP3727069B2 (ja)

Applications Claiming Priority (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US57368695A 1995-12-18 1995-12-18
US08/573,686 1995-12-18
US08/657,211 1996-06-03
US08/657,211 US5780172A (en) 1995-12-18 1996-06-03 Tin coated electrical connector
US08/769,912 1996-12-09
US08/769,912 US5916695A (en) 1995-12-18 1996-12-09 Tin coated electrical connector
PCT/US1996/019768 WO1997022472A1 (en) 1995-12-18 1996-12-10 Tin coated electrical connector
CA002240239A CA2240239C (en) 1995-12-18 1998-06-10 Tin coated electrical connector

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005143106A Division JP4427487B2 (ja) 1995-12-18 2005-05-16 錫被覆電気コネクタ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001526734A JP2001526734A (ja) 2001-12-18
JP2001526734A5 JP2001526734A5 (ja) 2004-11-04
JP3727069B2 true JP3727069B2 (ja) 2005-12-14

Family

ID=31499384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52290197A Expired - Lifetime JP3727069B2 (ja) 1995-12-18 1996-12-10 錫被覆電気コネクタ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5916695A (ja)
EP (2) EP0869867B1 (ja)
JP (1) JP3727069B2 (ja)
CA (1) CA2240239C (ja)
DE (1) DE69622192T2 (ja)
WO (1) WO1997022472A1 (ja)

Families Citing this family (63)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6794060B2 (en) 1992-03-27 2004-09-21 The Louis Berkman Company Corrosion-resistant coated metal and method for making the same
US6080497A (en) * 1992-03-27 2000-06-27 The Louis Berkman Company Corrosion-resistant coated copper metal and method for making the same
US6652990B2 (en) 1992-03-27 2003-11-25 The Louis Berkman Company Corrosion-resistant coated metal and method for making the same
US6861159B2 (en) * 1992-03-27 2005-03-01 The Louis Berkman Company Corrosion-resistant coated copper and method for making the same
DE69637333T2 (de) * 1995-06-27 2008-10-02 International Business Machines Corp. Kupferlegierungen für Chipverbindungen und Herstellungsverfahren
JPH10134869A (ja) * 1996-10-30 1998-05-22 Yazaki Corp 端子材料および端子
JP3286560B2 (ja) 1997-04-28 2002-05-27 株式会社オートネットワーク技術研究所 嵌合型接続端子
DE19751841A1 (de) * 1997-11-22 1999-05-27 Stolberger Metallwerke Gmbh Elektrisch leitfähiges Metallband und Steckverbinder daraus
JP4489232B2 (ja) * 1999-06-14 2010-06-23 日鉱金属株式会社 コネクタ用めっき材料
US6274254B1 (en) * 1999-08-23 2001-08-14 Lucent Technologies Inc. Electrodeposited precious metal finishes having wear resistant particles therein
JP4459360B2 (ja) * 2000-02-08 2010-04-28 マスプロ電工株式会社 回路基板およびその製造方法
JP3621365B2 (ja) * 2000-09-18 2005-02-16 第一電子工業株式会社 電気コネクタ
DE60134108D1 (de) * 2000-10-25 2008-07-03 Japan Aviation Electron Eine elektronische Komponente und zugehöriges Herstellungsverfahren
US6368167B1 (en) * 2000-12-22 2002-04-09 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Method of making an electrical connector
US20050037229A1 (en) * 2001-01-19 2005-02-17 Hitoshi Tanaka Plated material, method of producing same, and electrical / electronic part using same
EP2045362A1 (en) * 2001-01-19 2009-04-08 The Furukawa Electric Co., Ltd. Plated material, method of producing same, and electrical/electronic part using same
JP2002226982A (ja) * 2001-01-31 2002-08-14 Dowa Mining Co Ltd 耐熱性皮膜、その製造方法および電気電子部品
DE60211808T2 (de) 2001-07-31 2006-10-19 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.), Kobe Plattierte Kupferlegierung und Verfahren zu ihre Herstellung
US6924044B2 (en) * 2001-08-14 2005-08-02 Snag, Llc Tin-silver coatings
DE10146274A1 (de) * 2001-09-19 2003-04-10 Bosch Gmbh Robert Metallische Oberfläche eines Körpers, Verfahren zur Herstellung einer strukturierten metallischen Oberfläche eines Körpers und dessen Verwendung
DE10251507A1 (de) * 2001-11-13 2003-06-05 Yazaki Corp Anschlußklemme
DE10208618A1 (de) * 2002-02-27 2003-09-04 Bosch Gmbh Robert Digitale Verzögerungsleitung
AU2003222669A1 (en) * 2002-04-22 2003-11-03 Yazaki Corporation Electrical connectors incorporating low friction coatings and methods for making them
DE10224693A1 (de) * 2002-06-04 2003-12-18 Bosch Gmbh Robert Verbundwerkstoff zur Herstellung einer elektrischen Kontaktfläche sowie Verfahren zur Erzeugung einer gleitfähigen und korrosionsarmen elektrischen Kontaktoberfläche
DE10245343A1 (de) * 2002-09-27 2004-04-08 Robert Bosch Gmbh Elektrischer Kontakt
DE10326788B4 (de) * 2003-06-13 2005-05-25 Robert Bosch Gmbh Kontaktoberflächen für elektrische Kontakte und Verfahren zur Herstellung
DE10346206A1 (de) * 2003-10-06 2005-04-28 Bosch Gmbh Robert Kontaktoberflächen für elektrische Kontakte
US7391116B2 (en) * 2003-10-14 2008-06-24 Gbc Metals, Llc Fretting and whisker resistant coating system and method
EP1535730B1 (de) * 2003-11-28 2010-03-17 Wieland-Werke AG Schichtenfolge zur Herstellung eines Verbundmaterials für elektromechanische Bauelemente
JP4739734B2 (ja) * 2003-11-28 2011-08-03 ヴィーラント ウェルケ アクチーエン ゲゼルシャフト 電子機械的構成要素用の複合材を製造するための連続層、その複合材及び使用方法
JP4302545B2 (ja) * 2004-02-10 2009-07-29 株式会社オートネットワーク技術研究所 プレスフィット端子
US20050268991A1 (en) * 2004-06-03 2005-12-08 Enthone Inc. Corrosion resistance enhancement of tin surfaces
JP4813785B2 (ja) * 2004-09-29 2011-11-09 Dowaメタルテック株式会社 錫めっき材
US7632112B2 (en) * 2004-12-03 2009-12-15 Murata Manufacturing Co., Ltd. Electrical contact component, coaxial connector, and electrical circuit device including the same
JP2006161127A (ja) * 2004-12-09 2006-06-22 Takamatsu Mekki:Kk 嵌合型接続端子に適した電子材料とその製造方法
JP4749746B2 (ja) * 2005-03-24 2011-08-17 Dowaメタルテック株式会社 錫めっき材およびその製造方法
JP4855032B2 (ja) * 2005-09-29 2012-01-18 Dowaメタルテック株式会社 複合めっき材およびその製造方法
JP4817095B2 (ja) * 2005-10-03 2011-11-16 上村工業株式会社 ウィスカ抑制表面処理方法
JP4934456B2 (ja) * 2006-02-20 2012-05-16 古河電気工業株式会社 めっき材料および前記めっき材料が用いられた電気電子部品
US20080308300A1 (en) * 2007-06-18 2008-12-18 Conti Mark A Method of manufacturing electrically conductive strips
DE102007047007A1 (de) * 2007-10-01 2009-04-09 Tyco Electronics Amp Gmbh Elektrisches Kontaktelement und ein Verfahren zum Herstellen desselben
JP2009097053A (ja) * 2007-10-19 2009-05-07 Hitachi Ltd 金属条、コネクタ、および金属条の製造方法
US20090145764A1 (en) * 2007-12-11 2009-06-11 Enthone Inc. Composite coatings for whisker reduction
US8226807B2 (en) 2007-12-11 2012-07-24 Enthone Inc. Composite coatings for whisker reduction
EP2295618A4 (en) * 2008-06-24 2011-07-27 Furukawa Electric Co Ltd COMPOSITE FOR ELECTRICAL / ELECTRONIC COMPONENT AND ELECTRICAL / ELECTRONIC COMPONENT THEREFOR
JP5079605B2 (ja) * 2008-06-30 2012-11-21 株式会社オートネットワーク技術研究所 圧着端子及び端子付電線並びにこれらの製造方法
JP2010126801A (ja) * 2008-12-01 2010-06-10 Hitachi Cable Ltd 錫被覆アルミニウム材料
JP5621570B2 (ja) * 2010-03-30 2014-11-12 三菱マテリアル株式会社 Snめっき付き導電材及びその製造方法
JP5708199B2 (ja) * 2010-04-23 2015-04-30 Jfeスチール株式会社 固体高分子形燃料電池のセパレータ用金属板
JP2013033656A (ja) * 2011-08-02 2013-02-14 Yazaki Corp 端子
JP2013037791A (ja) * 2011-08-04 2013-02-21 Sumitomo Wiring Syst Ltd 回路基板と端子金具の接続構造
US9260789B2 (en) * 2012-05-14 2016-02-16 United Technologies Corporation Underpotential depositon of metal monolayers from ionic liquids
FR2993579B1 (fr) * 2012-07-20 2015-09-25 Tyco Electronics France Sas Procede de revetement et revetement pour contact a insertion a force
WO2014099566A1 (en) * 2012-12-20 2014-06-26 3M Innovative Properties Company Electrical connectors and methods of making same
EP2799595A1 (de) * 2013-05-03 2014-11-05 Delphi Technologies, Inc. Elektrisches Kontaktelement
US20150093923A1 (en) * 2013-09-27 2015-04-02 Lotes Co., Ltd Terminal
JP2015149218A (ja) * 2014-02-07 2015-08-20 矢崎総業株式会社 固定接点
KR102408021B1 (ko) * 2014-11-11 2022-06-13 삼성디스플레이 주식회사 금속배선 및 이를 포함하는 표시 장치
JP6543138B2 (ja) * 2015-08-28 2019-07-10 Dowaメタルテック株式会社 Snめっき材およびその製造方法
DE102016102319A1 (de) * 2016-02-10 2017-08-10 Harting Ag & Co. Kg Verfahren zur Beschichtung eines Kontaktelements mit einer Kupfer-Nickel-Legierung
JP6750545B2 (ja) * 2016-05-19 2020-09-02 株式会社オートネットワーク技術研究所 プレスフィット端子接続構造
JP7309469B2 (ja) * 2019-06-12 2023-07-18 新光電気工業株式会社 リードピン及びリードピン付き配線基板
JP7352851B2 (ja) * 2019-08-05 2023-09-29 株式会社オートネットワーク技術研究所 電気接点材料、端子金具、コネクタ、及びワイヤーハーネス

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1750092A (en) * 1921-11-26 1930-03-11 Crawford Robert Brace Penn Electroplating process
US3247082A (en) * 1962-08-07 1966-04-19 Harshaw Chem Corp Electrodeposition of a corrosion resistant coating
US3635702A (en) * 1968-07-01 1972-01-18 Int Nickel Co Copper-nickel alloys of high-yield strength
US3892637A (en) * 1969-03-10 1975-07-01 Polti Jean Loup Method of treatment of metal surfaces
US3833481A (en) * 1972-12-18 1974-09-03 Buckbel Mears Co Electroforming nickel copper alloys
US3954420A (en) * 1975-06-24 1976-05-04 Whyco Chromium Co., Inc. Non-ferrous corrosion resistant undercoating
US4131517A (en) * 1977-06-03 1978-12-26 Nippon Mining Co., Ltd. Surface treating process for copper foil for use in printed circuit
US4190474A (en) * 1977-12-22 1980-02-26 Gould Inc. Method of making a printed circuit board having mutually etchable copper and nickel layers
US4311768A (en) * 1977-12-22 1982-01-19 Gould Inc. Printed circuit board having mutually etchable copper and nickel layers
US4167459A (en) * 1979-01-08 1979-09-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Interior Electroplating with Ni-Cu alloy
DE2940772C2 (de) * 1979-10-08 1982-09-09 W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau Elektrischer Schwachstromkontakt
DE3027304C2 (de) * 1980-07-18 1982-09-30 Sds-Elektro Gmbh, 8024 Deisenhofen Elektrischer Mehrlagenkontakt
US4394419A (en) * 1981-06-12 1983-07-19 Oak Industries Inc. Printed circuit material
US4411961A (en) * 1981-09-28 1983-10-25 Occidental Chemical Corporation Composite electroplated article and process
JPS5976453A (ja) * 1982-10-19 1984-05-01 Mitsubishi Metal Corp 半導体装置のリ−ド材用Cu合金クラツド材
US4441118A (en) * 1983-01-13 1984-04-03 Olin Corporation Composite copper nickel alloys with improved solderability shelf life
US4498121A (en) * 1983-01-13 1985-02-05 Olin Corporation Copper alloys for suppressing growth of Cu-Al intermetallic compounds
GB2134136B (en) * 1983-01-19 1986-03-26 Shell Int Research An electronic conduit and a method of manufacturing it
US5001546A (en) * 1983-07-27 1991-03-19 Olin Corporation Clad metal lead frame substrates
US4736236A (en) * 1984-03-08 1988-04-05 Olin Corporation Tape bonding material and structure for electronic circuit fabrication
JPH0612796B2 (ja) * 1984-06-04 1994-02-16 株式会社日立製作所 半導体装置
JPS62112787A (ja) * 1985-11-13 1987-05-23 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 金属積層体
US4882236A (en) * 1988-02-10 1989-11-21 Olin Corporation Rigid magnetic recording disks and method of producing same
US5268235A (en) * 1988-09-26 1993-12-07 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Predetermined concentration graded alloys
US5158653A (en) * 1988-09-26 1992-10-27 Lashmore David S Method for production of predetermined concentration graded alloys
JPH02285091A (ja) * 1989-04-26 1990-11-22 Kobe Steel Ltd ニッケル―銅合金めっき浴
US5019222A (en) * 1989-05-02 1991-05-28 Nikko Gould Foil Co., Ltd. Treatment of copper foil for printed circuits
JPH0818401B2 (ja) * 1989-05-17 1996-02-28 福田金属箔粉工業株式会社 複合箔とその製法
US5021300A (en) * 1989-09-05 1991-06-04 Raytheon Company Solder back contact
US5028492A (en) * 1990-03-13 1991-07-02 Olin Corporation Composite coating for electrical connectors
TW208110B (ja) * 1990-06-08 1993-06-21 Furukawa Circuit Foil Kk
EP0468787A3 (en) * 1990-07-27 1993-08-04 Shinko Electric Industries Co. Ltd. Tape automated bonding in semiconductor technique
JPH05183017A (ja) * 1991-12-26 1993-07-23 Hitachi Cable Ltd Tab用テープキャリア

Also Published As

Publication number Publication date
US5916695A (en) 1999-06-29
WO1997022472A1 (en) 1997-06-26
JP2001526734A (ja) 2001-12-18
EP1203654A3 (en) 2006-03-08
DE69622192T2 (de) 2003-02-27
DE69622192D1 (de) 2002-08-08
EP0869867A1 (en) 1998-10-14
CA2240239A1 (en) 1999-12-10
EP0869867B1 (en) 2002-07-03
EP1203654A2 (en) 2002-05-08
EP0869867A4 (en) 1998-12-09
CA2240239C (en) 2009-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3727069B2 (ja) 錫被覆電気コネクタ
US5780172A (en) Tin coated electrical connector
US5849424A (en) Hard coated copper alloys, process for production thereof and connector terminals made therefrom
US6312762B1 (en) Process for production of copper or copper base alloys
JP4934785B2 (ja) Snめっき銅合金材料およびその製造方法
JP2007063624A (ja) 挿抜性及び耐熱性に優れる銅合金すずめっき条
JP2009057630A (ja) Snメッキ導電材料及びその製造方法並びに通電部品
JP4427487B2 (ja) 錫被覆電気コネクタ
JP2000212720A (ja) 耐摩耗性銅または銅基合金とその製造方法ならびに該耐摩耗性銅または銅基合金からなる電気部品
WO1993001050A1 (en) Palladium alloys having utility in electrical applications
JP2959872B2 (ja) 電気接点材料とその製造方法
JP7335679B2 (ja) 導電材
JPH052940A (ja) 電気接点材料とその製造方法
JP3903326B2 (ja) 銅基合金およびその製造法
JP5155139B2 (ja) 錫被覆電気コネクタ
JP4247256B2 (ja) Cu−Zn−Sn系合金すずめっき条
JP7121232B2 (ja) 銅端子材、銅端子及び銅端子材の製造方法
US4871399A (en) Copper alloy for use as wiring harness terminal material and process for producing the same
JP7059877B2 (ja) コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
CN107849721A (zh) 耐热性优异的镀覆材料及其制造方法
JP4570948B2 (ja) ウィスカー発生を抑制したCu−Zn系合金のSnめっき条及びその製造方法
JPH05311298A (ja) コネクタ用銅基合金およびその製造法
TW315530B (ja)
JPH05320790A (ja) コネクタ用銅基合金およびその製造法
JPH0689440B2 (ja) プレス成形性に優れた高強度導電性銅基合金の製造法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031209

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20031209

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041116

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20050214

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20050328

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050516

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050628

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050726

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050913

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050927

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091007

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091007

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101007

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111007

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121007

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131007

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term