JP4459360B2 - 回路基板およびその製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、高周波電流に対応した電気・電子機器に搭載するための回路基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般的な回路基板としては、絶縁性に優れた合成樹脂製の絶縁基板上に、導電性の回路を形成したものが知られている。かかる回路基板においては、導電性の回路は、導電性(電気伝導性)に優れた銅をベースとして形成されるが、銅は耐食性に劣るため、銅からなる層の上に、導電性が高く耐腐食性に優れた材料を積層することが必要とされる。そのような材料としては、金を好適に用いることができるが、金が銅の中に拡散するため、通常、銅の表面にニッケルのやや厚め(約4〜5μm)のアンカー層が積層され、そのアンカー層の上に、金が積層される。したがって、従来の一般的な回路基板としては、図5の如く、絶縁基板16の上に銅からなる層12が積層され、その銅からなる層12の上にニッケルメッキ層14が積層され、さらに、そのニッケルメッキ層14の上に金メッキ層15が積層されたものが知られている。なお、金は、高価であるため、通常、約0.1μm以下のきわめて薄い厚みにメッキされる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
一般的に、導電体内を高周波電流が流れる場合には、電流が回路の表面層に局限されて内部に入らない、という表皮効果が発生する。したがって、上記の如き回路基板11を、たとえば高性能アンプ(増幅器)やコンバータの如き高周波電流に対応した電気・電子機器に使用した場合には、20GHz前後の非常に高い周波数の電流が回路内を流れるため、理論上では、表面から約0.45μmの深さの部分を電流が流れることになる。それゆえ、回路基板11においては、電流の多くがニッケルからなる層14を流れることになるため、導電損失が大きくなってしまい、使用された高性能アンプやコンバータの雑音指数が増大する等のトラブルが発生してしまう。
【0004】
本発明の目的は、上記回路基板11の如き従来の回路基板が有する問題点を解消し、高周波電流に対応した電気・電子機器に搭載した場合でも、導電損失が小さく、電気・電子機器にトラブルを発生させない回路基板を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明の発明者らは、回路基板の回路部分において、20GHz前後の周波数の電流が流れる表面から約0.45μmの深さの部分に、導電性の高い材料を高い比率で配設することにより、高周波電流用の回路基板の導電損失を低減できることを見出し、本発明を案出するに至った。かかる本発明の構成のうち、請求項1に記載された発明の構成は、ポリ四フッ化エチレン(du Pont社製テフロン等)製の絶縁基板上に、導電性の回路を形成した回路基板であって、前記導電性の回路が、銅からなる層の上に錫からなる層を積層したものであり、錫からなる層が、0.45μm未満の厚みを有していることにある。請求項2に記載された発明の構成は、請求項1に記載の回路基板を製造するための製造方法であって、ポリ四フッ化エチレン製の絶縁基板上に、銅箔を形成した後に、その銅箔層の上に銅メッキを施し、しかる後に、錫メッキを錫の厚みが0.45μm未満となるように施す回路基板の製造方法にある。
【0006】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の回路基板の一実施形態を、図面に基づいて詳細に説明する。
【0007】
[実施例の回路基板の製造]
ポリ四フッ化エチレン(テフロン)製の絶縁基板上に、所定のマイクロ波ストリップ回路を形成した後、その銅箔の上に、約18μmの厚みとなるように銅メッキを施した。しかる後に、その銅メッキ部分の上に、約0.3μmの厚みとなるように錫メッキを施すことによって、実施例の回路基板を得た。得られた回路基板を図1に示す。回路基板1は、絶縁基板5の上に、銅箔層2、銅メッキ層3、錫メッキ層4が順に積層された状態になっている。
【0008】
[比較例の回路基板の製造]
ポリ四フッ化エチレン製の基板上に、実施例と同じ回路状に、約18μmの銅箔で回路を形成した後、その銅箔の上に、約18μmの厚みとなるように銅メッキを施した。しかる後に、その銅メッキ部分の上に、約4μmの厚みとなるようにニッケルメッキを施し、さらに、そのニッケルメッキ部分の上に、約0.03μmの厚みとなるように金メッキを施すことによって、比較例の回路基板を得た。得られた回路基板は、図5と同様の構造を有している。
【0009】
そして、得られた実施例および比較例の回路基板を用い、17〜22GHzの高周波電流を流した場合における導電損失(通過損失およびリターンロス)を測定した。なお、測定の際には、図4に示したフィルター(parallel−coupled−reasonator filter)を使用した。通過損失、リターンロスの測定結果を、それぞれ、図2、図3に示す。図2から、実施例の回路基板の20GHz付近における通過損失は、比較例の回路基板の通過損失よりも小さいことが分かる(実施例の回路基板の20GHzにおける通過損失は約2.0dB、比較例の回路基板の20GHzにおける通過損失は約2.8dB)。一方、図3から、実施例の回路基板の20GHz付近におけるリターンロスは、比較例の回路基板のリターンロスよりも大きいことが分かる(実施例の回路基板の20GHzにおけるリターンロスは約20dB、比較例の回路基板の20GHzにおけるリターンロスは約15dB)。したがって、20GHz付近においては、実施例の回路基板の方が、比較例の回路基板より、電流が流れ易いことが分かる。
【0010】
実施例の回路基板1は、上述の如く、導電性の回路が、銅からなる層の上に錫からなる層を積層したものであるため、高周波電流が流れる場合における導電損失が非常に小さい。それゆえ、高周波電流に対応した高性能アンプ等に使用した場合の雑音指数が低い。
【0011】
また、回路基板1は、錫からなる層が、0.45μm未満の厚みを有しており、20GHz前後の高周波電流が流れる場合には、電流がきわめて高い割合で銅からなる層を流れるため、20GHz前後の高周波電流が流れるローノイズアンプ等に使用した場合に、雑音指数を非常に低く抑えることができる。
【0012】
さらに、回路基板1の製造方法は、上述の如く、ポリ四フッ化エチレン製の絶縁基板上に、銅箔で回路を形成した後に、その銅箔層の上に銅メッキを施し、しかる後に、錫メッキを施すものであるため、従来の回路基板の製造方法の如く、高価な金を積層しないので、安価に製造することができる。加えて、銅からなる層の上に直接的に錫からなる層を積層することが可能であり、アンカー層を必要としないので、非常に容易に製造することができる。
【0013】
なお、本発明の回路基板およびその製造方法の構成は、上記した各実施例の態様に何ら限定されるものではなく、絶縁基板、回路等の構成を、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、必要に応じて適宜変更できる。たとえば、銅からなる層は、銅箔に銅メッキ層を積層したものに限定されず、単なる銅箔からなる銅でも良いし、単なる銅メッキ層でも良い。さらに、メッキの方法は、化学メッキ、電気メッキに限定されず、蒸着、スパッタ、イオンメッキ、溶射等の方法を用いることも可能である。また、絶縁基板は、ポリ四フッ化エチレンによって形成されたものに限定されず、その他の絶縁性の合成樹脂によって形成されたものでも良い。なお、ポリ四フッ化エチレンは、特に高周波電流に対する絶縁性能に優れているので、本発明の回路基板に好適に用いることができる。また、銅からなる層、錫からなる層の厚みは、回路基板が使用される周波数に応じて適宜変更することができる。
【0014】
【発明の効果】
請求項1に記載された回路基板は、導電性の回路が、銅からなる層の上に錫からなる層を積層したものであるため、高周波電流が流れる場合における導電損失が非常に小さい。また、高周波電流に対応した高性能アンプ等に使用した場合の雑音指数が低い。
【0015】
また、請求項1に記載された回路基板は、錫からなる層が、0.45μm未満の厚みを有しており、20GHz前後の高周波電流が流れる場合には、電流がきわめて高い割合で銅からなる層を流れるため、20GHz前後の高周波電流が流れるローノイズアンプ等に使用した場合に、雑音指数を非常に低く抑えることができる。
【0016】
請求項2に記載された回路基板の製造方法は、請求項1に記載の回路基板を製造するための製造方法であって、ポリ四フッ化エチレン製の絶縁基板上に、銅箔を積層した後に、その銅箔層の上に銅メッキを施し、しかる後に、錫メッキを錫の厚みが0.45μm未満となるように施すものであるため、従来の回路基板の製造方法の如く、高価な金を積層しないので、安価に製造することができる。加えて、銅からなる層の上に直接的に錫からなる層を積層することが可能であり、アンカー層を必要としないので、非常に容易に製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】回路基板の断面を示す説明図である。
【図2】導電損失(通過損失)の測定結果を示す説明図である。
【図3】導電損失(リターンロス)の測定結果を示す説明図である。
【図4】導電損失測定時に使用したフィルターを示す説明図である。
【図5】従来の回路基板の断面を示す説明図である。
【符号の説明】
1・・回路基板、2・・銅箔層、3・・銅メッキ層、4・・錫メッキ層、5・・絶縁基板、11・・回路基板、12・・銅からなる層、14・・ニッケルメッキ層、15・・金メッキ層、16・・絶縁基板。
Claims (2)
- ポリ四フッ化エチレン製の絶縁基板上に、導電性の回路を形成した回路基板であって、前記導電性の回路が、銅からなる層の上に錫からなる層を積層したものであり、
錫からなる層が、0.45μm未満の厚みを有していることを特徴とする回路基板。 - 請求項1に記載の回路基板を製造するための製造方法であって、
ポリ四フッ化エチレン製の絶縁基板上に、銅箔を形成した後に、その銅箔層の上に銅メッキを施し、しかる後に、錫メッキを錫の厚みが0.45μm未満となるように施すことを特徴とする回路基板の製造方法。
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