JP3650186B2 - 半導体装置および比較回路 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は内部電圧発生回路が設けられた一つの半導体チップを備える半導体装置に関し、特に電源投入時の不安定状態を避けるため、電源投入時に半導体装置の内部回路をリセットあるいは内部電位が安定するまで回路動作を止めておくために用いるパワーオンリセット信号(以下POR信号という。)を発生するリセット信号発生回路を備える半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体装置は、電源投入時の不安定状態をさせるためPOR信号を用いて電源投入時に内部回路をリセットあるいは内部電位が安定するまで回路動作を止めておくよう構成される場合がある。
【0003】
図25はPOR信号を発生するためのPOR信号発生回路を備える従来の半導体装置の構成を示すブロック図である。図25において、1は半導体チップ、2は半導体チップ1に設けられ半導体チップ1の外部から与えられる外部電圧ExVddを受ける電源端子、3は半導体チップ1内に設けられた内部回路、4は内部回路3に内部電圧intVddを供給するための内部電圧発生回路、5は外部電圧ExVddから内部回路3に与えるPOR信号を発生するPOR信号発生回路である。
【0004】
図26はPOR回路の構成を示す回路図である。図26において、6は外部電圧ExVddが与えられるゲートと外部電圧ExVddが与えられるドレインとソースとを有するNチャネルMOSトランジスタ、7はトランジスタ6のソースに接続された一方端と接地電位点GNDに接続された他方端とを有するキャパシタ、8は外部電圧ExVddが与えられるゲートと外部電圧ExVddが与えられるドレインとソースとを有するNチャネルMOSトランジスタ、9はトランジスタ8のソースに接続されたドレインと接地電位点GNDに接続されたソースとキャパシタ7の一方端に接続されたゲートとを有するNチャネルMOSトランジスタ、10はトランジスタ9のドレインに接続された入力端子とその入力端子に入力された信号の論理を反転して出力する出力端子とを有するインバータ、11はインバータ10の出力端子に接続された入力端子とその入力端子に入力された信号の論理を反転して出力する出力端子を有するインバータである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
従来のPOR信号発生回路は以上のように構成されており、POR信号としてパルス信号を出力するが、キャパシタ7の充電時間によってPOR信号のパルス幅が決定される。しかしながら、従来のPOR信号発生回路では、外部電源の立ち上がり速度によっては内部電圧発生回路が十分に立ち上がっていないうちにPOR信号が発生されてしまう場合や外部電圧の変動によりPOR信号が発生されてしまう場合があるという問題があった。
【0006】
また、回路構成によっては、タイミングの異なるPOR信号を設けたほうが良い場合がある。例えば、半導体チップ上に複数の内部電圧発生回路が配置されており、それらの内部電圧の発生タイミングが異なる場合などである。DRAMを例に取ると、基板電位Vbb、セルプレート電位Vcp等の複数の電位が必要である。例えば、外部電圧ExVddを内部で降圧して内部電圧intVddを使用する半導体チップでは、電位の安定を考慮してセルプレート電位Vcpは、例えば、接地電位GNDを基準として内部電圧intVddにより発生されることも多い。ところで、セルプレートと基板との間のカップリング容量が大きいため、セルプレート電位Vcpの立ち上がり時にカップリング容量により基板電位Vbbの浮き上がりを招くことがある。それを防止するためには、セルプレート電位Vcpが立ち上がるまで基板電位Vbbを接地電位GNDに固定すると良い。
【0007】
しかし、従来のPOR信号発生回路は、外部電圧のみにより発生されていたため、異なるタイミング、つまり、内部電圧発生回路のPOR信号には比較的早いタイミングで立ち上がる信号(あるいは立ち下がる信号)、基板電位Vbbを設定するために用いる内部電圧発生回路のPOR信号にはセルプレート電位Vcpが安定した後に、つまり比較的遅いタイミングで立ち上がる信号(あるいは立ち下がる信号)を発生することが困難であるという問題があった。
【0008】
この発明は上記の問題点を解消するためになされたもので、外部電圧の変動に左右されることの少ない安定したPOR信号を発生することを目的としている。また、リセットあるいは回路動作の停止を異なるタイミングで行うことができる半導体装置を得ることを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
第1の発明に係る半導体装置は、半導体チップ内に設けられた内部回路と、前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路とを備え、前記内部回路は、前記内部電圧を用いて動作する第1の回路部と、前記外部電圧を用いて動作する第2の回路部とを有し、前記第1及び第2の回路部が、共に、前記第1のリセット信号でリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくことを特徴とする。
【0011】
第2の発明に係る半導体装置は、半導体チップ内に設けられた内部回路と、前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記外部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第2のリセット信号を生成する第2のリセット信号発生回路とを備え、前記内部回路は、前記内部電圧を用いて動作する第1の回路部と、前記外部電圧を用いて動作する第2の回路部とを有し、前記第1の回路部は、前記第1のリセット信号でリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれ、前記第2の回路部は、前記第2のリセット信号でリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれることを特徴とする。
【0012】
第3の発明に係る半導体装置は、半導体チップ内に設けられた内部回路と、前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路とを備え、前記内部電圧発生回路は、互いに異なる第1及び第2の内部電圧を発生する第1及び第2の内部電圧発生回路を含み、前記第1のリセット信号発生回路は、前記半導体チップ内に設けられ、前記第1の内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第2のリセット信号を生成する第2のリセット信号発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記第2の内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第3のリセット信号を生成する第3のリセット信号発生回路とを含み、前記内部回路は、前記第1の内部電圧を用いて動作する第1の回路部と、前記第2の内部電圧を用いて動作する第2の回路部とを有し、前記第1の回路部は、前記第2のリセット信号でリセットされるかあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれ、前記第2の回路部は、前記第3のリセット信号でリセットされるかあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれることを特徴とする。
【0013】
第4の発明に係る半導体装置は、半導体チップ内に設けられた内部回路と、前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路とを備え、前記内部電圧発生回路は、互いに異なる第1及び第2の内部電圧を発生する第1及び第2の内部電圧発生回路を含み、前記第1のリセット信号発生回路は、前記第1の内部電圧に応じて前記第1のリセット信号を発生させ、前記内部回路は、前記第1の内部電圧を用いて動作する第1の回路部と、前記第2の内部電圧を用いて動作する第2の回路部とを有し、前記第1及び第2の回路部は、共に、前記第1のリセット信号でリセットされるかあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれることを特徴とする。
【0014】
第5の発明に係る半導体装置は、第1ないし第4の発明のいずれかの半導体装置において、前記半導体チップ内に設けられ、前記外部電圧に応じて内部電源用リセット信号を生成する内部電源用リセット信号発生回路をさらに備え、前記内部電圧発生回路が前記内部電源用リセット信号でリセットされるあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれることを特徴とする。
【0015】
第6の発明に係る半導体装置は、半導体チップ内に設けられた内部回路と、前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧発生回路から与えられる内部電圧から内部回路内で用いる下位内部電圧を発生する下位内部電圧発生回路と、前記半導体チップ内に設けられ、前記下位内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための下位リセット信号を発生する下位リセット信号発生回路とを備えて構成される。
【0016】
第7の発明に係る半導体装置は、第1ないし第6の発明のいずれかの半導体装置において、前記第1のリセット信号発生回路は、前記内部電圧とともに、前記外部電圧に応じて前記第1のリセット信号を発生することを特徴とする。
【0017】
第8の発明に係る半導体装置は、第1ないし第6の発明のいずれかの半導体装置において、前記内部電圧発生回路は、互いに異なる第1及び第2の内部電圧を発生する第1及び第2の内部電圧発生回路を含み、前記第1のリセット信号発生回路は、前記第1及び第2の内部電圧に応じた前縁部及び後縁部を有するパルス状の前記第1のリセット信号を発生することを特徴とする。
【0018】
第9の発明に係る半導体装置は、第1ないし第8の発明のいずれかの半導体装置において、前記第1のリセット信号発生回路は、前記内部電圧発生回路内部の所定の2点のノードの電圧を比較する比較手段と、前記比較手段における比較結果に基づいて前記第1のリセット信号を生成するリセット信号生成手段とを備えて構成される。
【0019】
第10の発明に係る半導体装置は、第1ないし第9の発明のいずれかの半導体装置において、前記第1のリセット信号発生回路は、前記内部電圧発生回路内部で発生される基準電圧あるいは前記内部電圧発生回路が用いている基準電圧を発生するのと同じ構成の回路から出力される電圧に基づいて、前記第1のリセット信号を生成することを特徴とする。
【0020】
第11の発明に係る半導体装置は、第9の発明の半導体装置において、前記比較手段は、第1の電源電位点に接続された一方電流電極、第1の入力端子に接続された制御電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第1のトランジスタと、前記第1の入力端子に接続された制御電極、前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された一方電流電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第2のトランジスタと、前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された一方電流電極、第2の入力端子に接続された制御電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第3のトランジスタと、第2の電源電位点に接続された一方電流電極、制御電極、及び前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極を持つ第2導電型の第4のトランジスタと、前記第2の電源電位点に接続された一方電流電極、前記第4のトランジスタの前記他方電流電極に接続された制御電極、及び前記第2のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極を持つ第2導電型の第5のトランジスタと、前記第4のトランジスタの前記制御電極に接続された一方電流電極、前記第5のトランジスタの前記制御電極に接続された他方電流電極、及び制御電極を持つ第2導電型の第6のトランジスタと、前記第4のトランジスタの前記制御電極に接続された一方電流電極、前記第3のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極、及び制御電極を持つ第2導電型の第7のトランジスタと、前記第3のトランジスタの前記他方電流電極に接続された入力端子、及び出力端子を持つ第1のインバータと、前記第1のインバータの前記出力端子に接続された入力端子、及び前記第6のトランジスタの前記制御電極に接続された出力端子を持つ第2のインバータと、前記第2のインバータの出力端子に接続された入力端子、及び前記第7のトランジスタの前記制御電極に接続された出力端子を持つ第3のインバータとを備え、前記第2のインバータの出力端子から比較結果を出力することを特徴とする。
【0021】
第12の発明に係る比較回路は、第1の電源電位点に接続された一方電流電極、第1の入力端子に接続された制御電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第1のトランジスタと、前記第1の入力端子に接続された制御電極、前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された一方電流電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第2のトランジスタと、前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された一方電流電極、第2の入力端子に接続された制御電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第3のトランジスタと、第2の電源電位点に接続された一方電流電極、制御電極、及び前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極を持つ第2導電型の第4のトランジスタと、前記第2の電源電位点に接続された一方電流電極、前記第4のトランジスタの前記他方電流電極に接続された制御電極、及び前記第2のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極を持つ第2導電型の第5のトランジスタと、前記第4のトランジスタの前記制御電極に接続された一方電流電極、前記第5のトランジスタの前記制御電極に接続された他方電流電極、及び制御電極を持つ第2導電型の第6のトランジスタと、前記第4のトランジスタの前記制御電極に接続された一方電流電極、前記第3のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極、及び制御電極を持つ第2導電型の第7のトランジスタと、前記第3のトランジスタの前記他方電流電極に接続された入力端子、及び出力端子を持つ第1のインバータと、前記第1のインバータの前記出力端子に接続された入力端子、及び前記第6のトランジスタの前記制御電極に接続された出力端子を持つ第2のインバータと、前記第2のインバータの出力端子に接続された入力端子、及び前記第7のトランジスタの前記制御電極に接続された出力端子とを持つ第3のインバータとを備え、前記第2のインバータの出力端子から比較結果を出力することを特徴とする。
【0022】
【発明の実施の形態】
(実施の形態1)
図1はこの発明の実施の形態1による半導体装置の構成を示すブロック図である。図1において、1は半導体チップ、2は半導体チップ1に設けられ半導体チップ1の外部から与えられる外部電圧ExVddを受ける電源端子、3は半導体チップ1内に設けられた内部回路、4は内部回路3に内部電圧intVddを供給するための内部電圧発生回路、12は内部電圧intVddに基づいて内部回路3に与えるPOR信号を発生するPOR信号発生回路である。
内部電圧intVddに基づいてPOR信号を発生しいてるため、内部電圧intVddが安定してからPOR信号を発生でき、また、外部電圧ExVddの変動によるPOR回路の誤動作も削減できる。
なお、内部電圧intVddに基づいてPOR信号を発生する方法として、POR信号発生回路を内部電圧intVddで動作させる方法と、内部電圧intVddの変化を検知する方法とがあるが、それらの方法を実現するための構成について以下に説明する。
【0023】
図11は、図1に示したPOR信号発生回路12の構成を示す回路図である。図11において、6Aは内部電圧intVddが与えられるゲートと内部電圧intVddが与えられるドレインとソースとを有するNチャネルMOSトランジスタ、7はトランジスタ6Aのソースに接続された一方端と接地電位点GNDに接続された他方端とを有するキャパシタ、8Aは内部電圧intVddが与えられるゲートと内部電圧intVddが与えられるドレインとソースとを有するNチャネルMOSトランジスタ、9はトランジスタ8Aのソースに接続されたドレインと接地電位点GNDに接続されたソースとキャパシタ7の一方端に接続されたゲートとを有するNチャネルMOSトランジスタ、10Aはトランジスタ9のドレインに接続された入力端子とその入力端子に入力された信号の論理を反転して出力する出力端子とを有するインバータ、11Aはインバータ10の出力端子に接続された入力端子とその入力端子に入力された信号の論理を反転して出力するための出力端子を有するインバータである。インバータ10A,11Aは内部電圧intVddの供給を受けて動作する。
【0024】
図12は、図25に示したPOR信号発生回路5と図11に示したPOR信号発生回路12の動作の違いを示す波形図である。図12より、外部電圧ExVddが内部電圧intVddに比べて高く、また、当然ではあるが、外部電圧ExVddは電源が投入された原点から立ち上がっており、内部電圧intVddよりも立ち上がりが早いことがわかる。外部電圧ExVddによって動作していた図25に示す従来のPOR信号発生回路5は、図12に示すようにコンデンサ7の設定によってはPOR信号発生回路5の出力するPOR信号(図12にはExVdd系PORと記されている。)は内部電圧intVddよりも立ち上がりが早くなることがある。それに対して、内部電圧intVddを受けて動作するPOR信号発生回路12が出力するPOR信号(図12にはintVdd系PORと記されている。)は常に内部電圧intVddより遅く立ち上がる。そのため、内部電圧発生回路4が不安定な状態で内部回路3に対してリセットがなされることがなく、容易に、または動作が開始されることがなく、内部電圧intVddが安定した状態でPOR信号を発生することができる。また、POR信号発生回路12は、内部電圧intVddによって動作しているため、外部電圧ExVdd が変動しても内部電圧intVddが安定であればPOR信号が発生されることはなく、誤動作を防止することができる。
【0025】
次に、POR信号発生回路12の第2の形態を図14及び図15を用いて説明する。図14に示したPOR信号発生回路は、コンデンサの時定数でPOR信号の発生タイミングをとるのではなく、内部電圧発生回路あるいはPOR信号発生回路の内部に基準電圧発生回路を設け、基準電圧が発生されたことを検知してPOR信号を発生する回路である。
図14において、30は外部電圧ExVddを受けて基準電圧を発生する基準電圧発生回路、31は基準電圧発生回路30に接続され基準電圧が発生されたことを受けて信号を出力するドライバ、32はドライバ31の出力からPOR信号を発生する信号発生部になる。
基準電圧発生回路30は、接地電位点GNDに接続された一方端及び他方端を持つ抵抗33と、抵抗33の他方端に接続されたソース、ゲート、及びドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ34と、外部電圧Vddが与えられるソース、NチャネルMOSトランジスタ34のドレインに接続されたドレイン及びNチャネルMOSトランジスタ34のドレインに接続されたゲートを持つPチャネルMOSトランジスタ35と、NチャネルMOSトランジスタ34のゲートに接続されたゲート、接地電位点GNDが与えられるソース、及びNチャネルMOSトランジスタ34のゲートに接続されたドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ36と、NチャネルMOSトランジスタ36のドレインに接続されたドレイン、PチャネルMOSトランジスタ35のゲートに接続されたゲート及び外部電圧ExVddが与えられるソースを持つPチャネルMOSトランジスタ37とを備えて構成されている。
【0026】
ドライバ31は、外部電圧ExVddが与えられるソース、PチャネルMOSトランジスタ35のゲートに接続されたゲート及びノードBに接続されたドレインを持つPチャネルMOSトランジスタ38と、接地電位点GNDに接続された一方端及びノードBに接続された他方端を持つ抵抗39とで構成されている。
【0027】
信号発生部32は、接地電位点GNDに接続されたソース、ノードBに接続されたゲート、及びドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ40と、接地電位点GNDに接続されたソース、ゲート、及びノードCに接続されたドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ41と、NチャネルMOSトランジスタ40のゲートに接続された入力端子及びNチャネルMOSトランジスタ41のゲートに接続された出力端子を持ち信号を遅延させるためのインバータ42と、外部電圧ExVddが与えられるソース、NチャネルMOSトランジスタ40のドレインに接続されたドレイン及びノードCに接続されたゲートを持つPチャネルMOSトランジスタ43と、ノードCに接続されたドレイン、PチャネルMOSトランジスタ43のドレインに接続されたゲート、及び外部電圧ExVddが与えられるソースを持つPチャネルMOSトランジスタ44と、ノードCに接続された入力端子及びその入力端子に入力された信号を反転して出力する出力端子を有するインバータ45で構成されている。
【0028】
次に、図14に示したPOR信号発生回路の動作について図15を用いて説明する。外部電圧ExVddが上昇してPチャネルMOSトランジスタ35とPチャネルMOSトランジスタ37の閾値を越えると、基準電圧発生回路30に電流が流れはじめる。基準電圧発生回路30に電流が流れるとノードA1の電圧が上昇し、やがて、外部電圧ExVddが上昇してノードA1の電圧よりもPチャネルMOSトランジスタの閾値分高くなると、ノードBの電圧が上昇しはじめる。そして、ノードBの電圧が次段のインバータ42の閾値を越えるとPOR信号が発生される。ここで、基準電圧発生回路30を内部電圧発生回路4に用いているものと同じ構成、または内部電圧発生回路4に用いているものを使用することにより、半導体チップ1内部の電源電位が安定した後にPOR信号を発生することができる。
【0029】
次に、POR信号発生回路12の第3の形態について図16乃至図19を用いて説明する。図16は、POR信号発生回路の構成を示すブロック図である。図16において、60は基準電圧発生回路30の所定のノードの電圧とドライバ31の出力電圧とを比較する比較回路、70は比較回路60の出力のタイミングに応じてパルス信号を生成出力するパルスジェネレータである。
【0030】
比較回路60は、図18に示すように、ノードBに接続されたゲート、接地電位点GNDに接続されたソース、及びドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ61と、ノードA2に接続されたゲート、接地電位点GNDに接続されたソース、及びドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ62と、NチャネルMOSトランジスタ61のドレインに接続されたドレイン、NチャネルMOSトランジスタ61のドレインに接続されたゲート、及び外部電圧ExVddが与えられるソースを持つPチャネルMOSトランジスタ63と、NチャネルMOSトランジスタ62のドレインに接続されたドレイン、PチャネルMOSトランジスタ63のゲートに接続されたゲート、及び外部電圧ExVddが与えられるソースを持つPチャネルMOSトランジスタ64と、PチャネルMOSトランジスタ64のドレインに接続された入力端子及びその入力端子で受けた信号を反転して出力する出力端子を持つインバータ65と、インバータ65の出力端子に接続された入力端子及びその入力端子で受けた信号を反転して出力する出力端子を持つインバータ66とで構成されている。
【0031】
また、パルスジェネレータ70は、図19に示すように、インバータ66の出力を受ける入力端子及びその入力端子で受けた信号を反転して出力するための出力端子を持つインバータ71と、インバータ71の出力端子に接続された入力端子及びその入力端子で受けた信号を反転して出力するための出力端子を持つインバータ72と、インバータ72の出力端子に接続された入力端子及びその入力端子で受けた信号を反転して出力するための出力端子を持つインバータ73と、ノードCに接続された一方の入力端子、インバータ73に接続された他方の入力端子並びにそれら一方及び他方の入力端子で受けた信号の論理積を出力する出力端子を持つNANDゲート74とで構成されている。
【0032】
次に、図17を用いて図16に示したPOR信号発生回路の動作について説明する。ノードA2及びノードBの電圧を比較する比較回路60は、ノードBの電圧がノードA2の電圧より高くなった時点で、ハイレベルを出力する。図18の回路では、ノードBの電圧がノードA2の電圧より高くなると、NチャネルMOSトランジスタ62よりNチャネルMOSトランジスタ61が強くオンするため、PチャネルMOSトランジスタ63とPチャネルMOSトランジスタ64で構成されたカレントミラー回路により、インバータ65の入力端子に電流が流れ込み、インバータ65の出力端子の電圧はローレベルになる。そのため、インバータ66の出力端子の電圧はハイレベルになる。
【0033】
そして、比較回路60がハイレベルを出力すると、パルスジェネレータ70はパルス信号を発生する。図19の回路では、まず、比較回路60の出力がローレベルの間は、一方の入力端子がローレベルであるため、インバータ73に接続されている他方の入力端子はハイレベルになっているが、NANDゲート74はローレベルを出力する。比較回路60の出力がローレベルからハイレベルに変化すると、NANDゲート74の一方の入力端子がハイレベルになるのに比べて、NANDゲート74の他方の入力端子がローレベルになるのがインバータ71〜73を伝達する分だけ遅れるので、その遅延時間に相当するパルス幅を持ったパルス信号が出力される。
【0034】
次に、POR信号発生回路12の第4の形態について図20及び図21を用いて説明する。図20は、図16に示した比較回路60の他の形態を示す回路図である。図16において、81は接地電位点GNDに接続されたソース、ノードBに接続されたゲート、及びドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ、82はNチャネルMOSトランジスタ81のドレインに接続されたソース、ノードBに接続されたゲート、及びノードEに接続されたドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ、83はNチャネルMOSトランジスタ81のドレインに接続されたソース、ノードA2に接続されたゲート、及びノードDに接続されたドレインを持つNチャネルMOSトランジスタ、84はノードEに接続されたドレイン、外部電圧ExVddが与えられるソース、及びノードGに接続されたゲートを持つPチャネルMOSトランジスタ、85はノードDに接続されたドレイン、外部電圧ExVddが与えられるソース、及びノードEに接続されたゲートを持つPチャネルMOSトランジスタ、86はノードGに接続された一方電流電極、PチャネルMOSトランジスタ85のゲートに接続された他方電流電極、及びゲートを持つトランスファゲート、87はノードDに接続された一方電流電極、ノードGに接続された他方電流電極、及びゲートを持つトランスファゲート、88はノードDに接続された入力端子及びノードDの信号を反転して出力する出力端子を持つインバータ、89はインバータ88の出力端子に接続された入力端子、及びトランスファゲート86のゲートに接続された出力端子を持つインバータ、90はインバータ89の出力端子に接続された入力端子、及びトランスファゲート87のゲートに接続された出力端子を持つインバータである。
【0035】
次に、図20に示した比較回路の動作を図21を用いて説明する。まず、インバータ89の出力端子はローレベルにあるため、トランスファゲート86はオン状態にある。また、ノードDもローレベルにあるため、トランスファゲート87がオン状態である。そして、ノードD,E,Gは電源投入直後は、接地電位(0V電位)にある。そのため、PチャネルMOSトランジスタ84,85がオンしている。
外部電圧ExVddが上昇すると、PチャネルMOSトランジスタ84,85がオンしているため、ノードD,Eの電圧が上昇するが、PチャネルMOSトランジスタ84,PチャネルMOSトランジスタ85の閾値電圧を越えると、PチャネルMOSトランジスタ84,85がオフするため、ノードD,Eの上昇はほぼ止まる。ノードDがハイレベルにはならないため、ノードCはローレベルでノードFはハイレベルとなり、ノードCは接地電位にあるが、ノードFは外部電圧ExVddとともに上昇する。
そして、ノードBの電圧が上昇してノードA2の電圧より高くなると、ノードDの電圧は上昇し、ノードEの電圧が下降する。ノードDの電圧が上昇してインバータ88の閾値電圧を越えると、インバータ88はローレベルを出力するため、インバータ89の出力がハイレベルとなり、トランスファゲート86がオフするとともに、インバータ90の出力がローレベルとなるためトランスファゲート87がオンする。それにより、PチャネルMOSトランジスタ84がオフしてPチャネルMOSトランジスタ85がオンする。しかし、NチャネルMOSトランジスタ83のゲート電圧が低いため流れる電流は、少なくて済む。そのため、貫通電流が削減される。
【0036】
なお、上記の各POR信号発生回路は、実施の形態2〜10に用いられているPOR信号発生回路に適用できる。
【0037】
(実施の形態2)
図2はこの発明の実施の形態2による半導体装置の構成を示すブロック図である。図2において、5は外部電圧ExVddから内部回路3に与えるPOR信号を発生するPOR信号発生回路であり、その他図1と同一符号のものは図1の同一符号部分に相当する部分を示す。また、内部回路3は、内部電圧intVddを受けて動作する第1の回路部3aと、外部電圧ExVddを受けて動作する第2の回路部3cとを備えて構成される。例えば、第1の回路部3aはPOR信号発生回路12でリセットまたは動作の起動が遅延させられ、第2の回路部3cはPOR信号発生回路5でリセットまたは動作の起動が遅延させられる。
第1の回路部3a及び第2の回路部3cがそれぞれ異なるPOR信号発生回路5,12のPOR信号で制御されているため、それぞれが安定する適切なタイミングで起動することができる。
【0038】
(実施の形態3)
図3はこの発明の実施の形態3による半導体装置の構成を示すブロック図である。図3において、図2と同一符号の部分は図2の同一符号部分に相当する部分を示す。図3に示した半導体装置と図2に示した半導体装置との違いは、図2の半導体装置の第2の回路部3cがPOR信号発生回路5のPOR信号を受けるのに対して、図3に示した半導体装置の第2の回路部3bがPOR信号発生回路12のPOR信号を受けている点にある。第2の回路部3bが単に外部電圧ExVddが安定してから、あるいは単に内部電圧intVddが安定してから第2の回路部3bの動作が始まればよいのであれば、POR信号発生回路12で内部回路3及び第2の回路部3bにPOR信号を与えることで、図2に示したPOR信号発生回路5を一つ省略することができる。
【0039】
(実施の形態4)
図4はこの発明の実施の形態4による半導体装置の構成を示すブロック図である。図4において、4Aは内部回路3に第1の内部電圧intVdd1を供給するための第1の内部電圧発生回路、4Bは内部回路3に第2の内部電圧intVdd2を供給するための第2の内部電圧発生回路、12Aは第1の内部電圧発生回路4Aの第1の内部電圧intVdd1に応じて第1のPOR信号を発生する第1のPOR信号発生回路、12Bは第2の内部電圧発生回路4Bの第2の内部電圧intVdd2に応じて第2のPOR信号を発生する第2のPOR信号発生回路であり、その他図1と同一符号の部分は図1の同一符号部分に相当する部分である。図4に示した半導体装置が図1の半導体装置と異なる点は、内部回路3が異なる内部電圧intVdd1,intVdd2に応じて動作する第1の回路部3a,第4の回路部3dを備えている点である。複数の内部電圧発生回路4A,4Bがある場合には、それぞれの内部電圧発生回路に応じたPOR信号をそれぞれの内部電圧intVdd1,intVdd2が供給される第1の回路部3a,第4の回路部3dに与えることで、より的確なパワーオンリセットを行うことができる。
【0040】
(実施の形態5)
図5はこの発明の実施の形態5による半導体装置の構成を示すブロック図である。図5において、図4と同一符号の部分は図4の同一符号部分に相当する部分である。図5に示した半導体装置が図4の半導体装置と異なる点は、内部回路3に外部電圧ExVddで動作する第5の回路部3e,第6の回路部3fが設けられている点である。第5の回路部3eは第1のPOR信号発生回路12AのPOR信号でリセットされ、第6の回路部3fは第2のPOR信号発生回路12BのPOR信号でリセットされるように構成されている。同じ外部電圧ExVddで動作する回路部を異なるタイミングでリセットでき、適切なパワーオンリセットが行い易くなる。
【0041】
(実施の形態6)
図6はこの発明の実施の形態6による半導体装置の構成を示すブロック図である。図6において、図4と同一符号の部分は図4の同一符号部分に相当する部分である。図6に示した半導体装置が図4の半導体装置と異なる点は、第2の内部電圧発生回路4Bから内部電圧intVddの供給を受ける第7の回路部3gが第1のPOR信号発生回路12Aでリセットされることにある。図6に示すように、第7の回路部3gが第1の内部電圧発生回路4Aの出力が安定してから動作すればよいものであれば、第2のPOR信号発生回路12Bを省いて、第1のPOR信号発生回路12Aでリセットを行うこともできる。
【0042】
(実施の形態7)
図7はこの発明の実施の形態7による半導体装置の構成を示すブロック図である。図7において、5は外部電圧ExVddから内部回路3に与えるPOR信号を発生するPOR信号発生回路、4CはPOR信号発生回路5が出力するPOR信号によってリセットされる内部電圧発生回路であり、その他図1と同一符号のものは図1の同一符号部分に相当する部分を示す。
【0043】
DRAMにおいて、基板電位Vbb、セルプレート電位Vcp等の複数の電位が必要であるが、例えば、外部電圧ExVddを内部で降圧して内部電圧intVddを使用する半導体チップでは、接地電位GNDを基準として内部電圧intVddにより発生されるセルプレート電位Vcpを与える内部電圧発生回路4CをPOR信号発生回路5によってリセットし、POR信号発生回路12が出力するPOR信号によりセルプレート電位Vcpが立ち上がるまで基板電位Vbbを接地電位GNDに固定すると基板電位Vbbの浮き上がりを防止することができる。例えば、GND電位への固定は図13に示すように、内部電圧intVdd系のPOR信号をゲートで受けるトランジスタ22で、基板電位Vbbを供給するラインと接地電位GNDを供給するラインとを接続しても良いし、基板電位Vbbを与える回路自体の動作を制御しても良い。
このように、異なるタイミングの複数のPOR信号を確実に発生することができ、適切なパワーオンリセットが可能となる。
【0044】
(実施の形態8)
図8はこの発明の実施の形態8による半導体装置の構成を示すブロック図である。図8において、4CはPOR信号発生回路5によりパワーオンリセットがなされる内部電圧発生回路であり、その他の図2と同一符号の部分は図2の同一符号部分に相当する部分である。図8に示した半導体装置と図2の半導体装置の違いは、内部電圧発生回路4と内部電圧発生回路4Cの違いであり、その効果は実施の形態7と同様である。
【0045】
(実施の形態9)
図9はこの発明の実施の形態9による半導体装置の構成を示すブロック図である。図9において、4CはPOR信号発生回路5によりパワーオンリセットがなされる内部電圧発生回路であり、その他の図3と同一符号の部分は図3の同一符号部分に相当する部分である。図9に示した半導体装置と図3の半導体装置の違いは、内部電圧発生回路4と内部電圧発生回路4Cの違いであり、その効果は実施の形態7と同様である。
【0046】
(実施の形態10)
図10はこの発明の実施の形態10による半導体装置の構成を示すブロック図である。図10において、13は第1の内部電圧発生回路4から内部電圧intVddの供給を受けPOR信号発生回路12によりパワーオンリセットがなされる第2の内部電圧発生回路、14は第1の内部電圧発生回路4から内部電圧intVddの供給を受けPOR信号発生回路12によりパワーオンリセットがなされる第3の内部電圧発生回路、15は第2の内部電圧発生回路13の内部電圧intVdd2を受けてPOR信号を発生するPOR信号発生回路、16は第3の内部電圧発生回路14の内部電圧intVdd3を受けてPOR信号を発生するPOR信号発生回路、3hは第2の内部電圧発生回路13から第2の内部電圧intVdd2を受けるとともにPOR信号発生回路15からPOR信号を受ける第8の回路部、3iは第3の内部電圧発生回路14から第3の内部電圧intVdd3を受けるとともにPOR信号発生回路16からPOR信号を受ける第9の回路部である。
【0047】
第2の内部電圧発生回路13及び第3の内部電圧発生回路14は、第1の内部電圧発生回路4が出力する内部電圧に基づいてPOR信号を出力するPOR信号発生回路12によってパワーオンリセットされるため、外部電圧ExVddの変動に影響されず、安定した動作が得られる。
また、内部回路3の第8の回路部3h及び第9の回路部3iは、その第2及び第3の内部電圧発生回路13,14が出力する内部電圧に応じて発生されるため、外部電圧の影響はほとんど受けず、また、第1の内部電圧発生回路4が出力する内部電圧が安定してから、パワーオンリセットがなされるため、誤動作が抑制される。
【0048】
(実施の形態11)
図22は、この発明の実施の形態11による半導体装置の構成を示すブロック図である。図22において、20は内部電圧発生回路4が出力する内部電圧intVddと外部電圧ExVddに応じてPOR信号を生成するPOR信号発生回路であり、その他図1と同一符号部分は、図1の同一符号部分に相当する部分である。POR信号発生回路20は外部電圧ExVddに応じて立ち上がりのタイミングを決定し、内部電圧intVddに応じて立ち下がりの時間を決定することにより、パルス信号を発生する。
【0049】
図22のPOR信号発生回路20の構成の一例を図24に示す。図24において、6は外部電圧ExVddが与えられるゲートと外部電圧ExVddが与えられるドレインとソースとを有するNチャネルMOSトランジスタ、7はトランジスタ6のソースに接続された一方端と接地電位点GNDに接続された他方端とを有するキャパシタ、8Bは内部電圧intVddが与えられるゲートと内部電圧intVddが与えられるドレインとソースとを有するNチャネルMOSトランジスタ、9はトランジスタ8Bのソースに接続されたドレインと接地電位点GNDに接続されたソースとキャパシタ7の一方端に接続されたゲートとを有するNチャネルMOSトランジスタ、10はトランジスタ9のドレインに接続された入力端子とその入力端子に入力された信号の論理を反転して出力する出力端子とを有するインバータ、11はインバータ10の出力端子に接続された入力端子とその入力端子に入力された信号の論理を反転して出力する出力端子とを有するインバータである。インバータ10,11も外部電圧ExVddの供給を受けて動作する。
【0050】
外部電圧ExVddが上昇するのにともなってNチャネルMOSトランジスタ6を通してキャパシタ7に電荷が蓄積される。従って、図12に示すExVdd系PORの立ち上がりとほぼ同じタイミングで立ち上がる。そして、NチャネルMOSトランジスタ8Bを通してNチャネルMOSトランジスタ9に供給される電流が増加してインバータ10の閾値を越えると、インバータ10の出力が反転してインバータ11の出力はローレベルになる。このPOR信号の立ち下がりのタイミングは、図12に示すintVdd系PORの立ち下がりとほぼ同じである。
このように、立ち上がりのタイミングと、立ち下がりのタイミングを異なる電源電圧の変化を基にすることで、POR信号の種類が増加し、複数の電源電圧で動作する内部回路に対応したPOR信号が得られやすくなる。
【0051】
(実施の形態12)
図23は、この発明の実施の形態12による半導体装置の構成を示すブロック図である。図23において、21は内部電圧発生回路4が出力する内部電圧intVddと外部電圧ExVddに応じてPOR信号を生成するPOR信号発生回路であり、その他図4と同一符号部分は、図4の同一符号部分に相当する部分である。図23に示すPOR信号発生回路21では、第1の内部電圧発生回路4Aと第2の内部電圧発生回路4Bが供給する内部電圧を基にPOR信号の立ち上がりのタイミングと立ち下がりのタイミングを決めるものであり、その効果は実施の形態11と同様である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図2】 この発明の実施の形態2による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図3】 この発明の実施の形態3による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図4】 この発明の実施の形態4による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図5】 この発明の実施の形態5による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図6】 この発明の実施の形態6による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図7】 この発明の実施の形態7による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図8】 この発明の実施の形態8による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図9】 この発明の実施の形態9による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図10】 この発明の実施の形態10による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図11】 POR信号発生回路の構成の第1の態様を示す回路図である。
【図12】 図11に示した回路の動作を示す波形図である。
【図13】 基板電位Vbbを接地電位GNDに構成するための手段を示す回路図である。
【図14】 POR信号発生回路の構成の第2の態様を示す回路図である。
【図15】 図14に示した回路の動作を示す波形図である。
【図16】 POR信号発生回路の構成の第3の態様を示す回路図である。
【図17】 図16に示した回路の動作を示す波形図である。
【図18】 比較回路の構成を示す回路図である。
【図19】 パルスジェネレータの構成を示す回路図である。
【図20】 比較回路の構成の他の態様を示す回路図である。
【図21】 図20に示した回路の動作を示す波形図である。
【図22】 この発明の実施の形態11による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図23】 この発明の実施の形態12による半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図24】 図22のPOR信号発生回路の構成を示す回路図である。
【図25】 従来の半導体装置の構成を示すブロック図である。
【図26】 従来のPOR信号発生回路の構成を示す回路図である。
【符号の説明】
1 半導体チップ、2 電源端子、3 内部回路、4,4A〜4C,13,14 内部電圧発生回路、5,12,12A,12B,15,16,20,21 POR信号発生回路。
Claims (12)
- 半導体チップ内に設けられた内部回路と、
前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、
前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路と
を備え、
前記内部回路は、
前記内部電圧を用いて動作する第1の回路部と、
前記外部電圧を用いて動作する第2の回路部とを有し、
前記第1及び第2の回路部が、共に、前記第1のリセット信号でリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくことを特徴とする、半導体装置。 - 半導体チップ内に設けられた内部回路と、
前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、
前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記外部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第2のリセット信号を生成する第2のリセット信号発生回路と
を備え、
前記内部回路は、
前記内部電圧を用いて動作する第1の回路部と、
前記外部電圧を用いて動作する第2の回路部とを有し、
前記第1の回路部は、前記第1のリセット信号でリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれ、
前記第2の回路部は、前記第2のリセット信号でリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれることを特徴とする、半導体装置。 - 半導体チップ内に設けられた内部回路と、
前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、
前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路と
を備え、
前記内部電圧発生回路は、
互いに異なる第1及び第2の内部電圧を発生する第1及び第2の内部電圧発生回路を含み、
前記第1のリセット信号発生回路は、
前記半導体チップ内に設けられ、前記第1の内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第2のリセット信号を生成する第2のリセット信号発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記第2の内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第3のリセット信号を生成する第3のリセット信号発生回路とを含み、
前記内部回路は、
前記第1の内部電圧を用いて動作する第1の回路部と、
前記第2の内部電圧を用いて動作する第2の回路部とを有し、
前記第1の回路部は、前記第2のリセット信号でリセットされるかあるいは所 定の状態になるまで回路動作を止めておかれ、
前記第2の回路部は、前記第3のリセット信号でリセットされるかあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれることを特徴とする、半導体装置。 - 半導体チップ内に設けられた内部回路と、
前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、
前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路と
を備え、
前記内部電圧発生回路は、
互いに異なる第1及び第2の内部電圧を発生する第1及び第2の内部電圧発生回路を含み、
前記第1のリセット信号発生回路は、前記第1の内部電圧に応じて前記第1のリセット信号を発生させ、
前記内部回路は、
前記第1の内部電圧を用いて動作する第1の回路部と、
前記第2の内部電圧を用いて動作する第2の回路部とを有し、
前記第1及び第2の回路部は、共に、前記第1のリセット信号でリセットされるかあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれることを特徴とする、半導体装置。 - 前記半導体チップ内に設けられ、前記外部電圧に応じて内部電源用リセット信号を生成する内部電源用リセット信号発生回路をさらに備え、
前記内部電圧発生回路が前記内部電源用リセット信号でリセットされるかあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておかれることを特徴とする、請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 半導体チップ内に設けられた内部回路と、
前記半導体チップに設けられ該半導体チップ外から与えられる外部電圧を受けるための電源端子と、
前記半導体チップ内に設けられるとともに前記電源端子に接続され、前記外部電圧から前記内部回路に供給する内部電圧を発生する内部電圧発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための第1のリセット信号を生成する第1のリセット信号発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記内部電圧発生回路から与えられる前記内部電圧から前記内部回路内で用いる下位内部電圧を発生する下位内部電圧発生回路と、
前記半導体チップ内に設けられ、前記下位内部電圧に応じて前記内部回路をリセットするあるいは所定の状態になるまで回路動作を止めておくための下位リセット信号を発生する下位リセット信号発生回路と
を備える、半導体装置。 - 前記第1のリセット信号発生回路は、
前記内部電圧とともに、前記外部電圧に応じて前記第1のリセット信号を発生することを特徴とする、請求項1ないし請求項6のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記内部電圧発生回路は、
互いに異なる第1及び第2の内部電圧を発生する第1及び第2の内部電圧発生回路を含み、
前記第1のリセット信号発生回路は、前記第1及び第2の内部電圧に応じた前縁部及び後縁部を有するパルス状の前記第1のリセット信号を発生することを特徴とする、請求項1ないし請求項6のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記第1のリセット信号発生回路は、
前記内部電圧発生回路内部の所定の2点のノードの電圧を比較する比較手段と、
前記比較手段における比較結果に基づいて前記第1のリセット信号を生成するリセット信号生成手段と
を備える、請求項1ないし8のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記第1のリセット信号発生回路は、
前記内部電圧発生回路内部で発生される基準電圧あるいは前記内部電圧発生回路で用いている基準電圧を発生するのと同じ構成の回路から出力される電圧に基づいて、前記第1のリセット信号を生成することを特徴とする、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記比較手段は、
第1の電源電位点に接続された一方電流電極、第1の入力端子に接続された制御電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第1のトランジスタと、
前記第1の入力端子に接続された制御電極、前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された一方電流電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第2のトランジスタと、
前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された一方電流電極、第2の入力端子に接続された制御電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第3のトランジスタと、
第2の電源電位点に接続された一方電流電極、制御電極、及び前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極を持つ第2導電型の第4のトランジスタと、
前記第2の電源電位点に接続された一方電流電極、前記第4のトランジスタの前記他方電流電極に接続された制御電極、及び前記第2のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極を持つ第2導電型の第5のトランジスタと、
前記第4のトランジスタの前記制御電極に接続された一方電流電極、前記第5のトランジスタの前記制御電極に接続された他方電流電極、及び制御電極を持つ第2導電型の第6のトランジスタと、
前記第4のトランジスタの前記制御電極に接続された一方電流電極、前記第3のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極、及び制御電極を持つ第2導電型の第7のトランジスタと、
前記第3のトランジスタの前記他方電流電極に接続された入力端子、及び出力 端子を持つ第1のインバータと、
前記第1のインバータの前記出力端子に接続された入力端子、及び前記第6のトランジスタの前記制御電極に接続された出力端子を持つ第2のインバータと、
前記第2のインバータの出力端子に接続された入力端子、及び前記第7のトランジスタの前記制御電極に接続された出力端子を持つ第3のインバータとを備え、
前記第2のインバータの出力端子から比較結果を出力することを特徴とする、請求項9記載の半導体装置。 - 第1の電源電位点に接続された一方電流電極、第1の入力端子に接続された制御電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第1のトランジスタと、
前記第1の入力端子に接続された制御電極、前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された一方電流電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第2のトランジスタと、
前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された一方電流電極、第2の入力端子に接続された制御電極、及び他方電流電極を持つ第1導電型の第3のトランジスタと、
第2の電源電位点に接続された一方電流電極、制御電極、及び前記第1のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極を持つ第2導電型の第4のトランジスタと、
前記第2の電源電位点に接続された一方電流電極、前記第4のトランジスタの前記他方電流電極に接続された制御電極、及び前記第2のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極を持つ第2導電型の第5のトランジスタと、
前記第4のトランジスタの前記制御電極に接続された一方電流電極、前記第5のトランジスタの前記制御電極に接続された他方電流電極、及び制御電極を持つ第2導電型の第6のトランジスタと、
前記第4のトランジスタの前記制御電極に接続された一方電流電極、前記第3のトランジスタの前記他方電流電極に接続された他方電流電極、及び制御電極を 持つ第2導電型の第7のトランジスタと、
前記第3のトランジスタの前記他方電流電極に接続された入力端子、及び出力端子を持つ第1のインバータと、
前記第1のインバータの前記出力端子に接続された入力端子、及び前記第6のトランジスタの前記制御電極に接続された出力端子を持つ第2のインバータと、
前記第2のインバータの出力端子に接続された入力端子、及び前記第7のトランジスタの前記制御電極に接続された出力端子とを持つ第3のインバータとを備え、
前記第2のインバータの出力端子から比較結果を出力することを特徴とする、比較回路。
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