JP2014179142A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014179142A JP2014179142A JP2013052396A JP2013052396A JP2014179142A JP 2014179142 A JP2014179142 A JP 2014179142A JP 2013052396 A JP2013052396 A JP 2013052396A JP 2013052396 A JP2013052396 A JP 2013052396A JP 2014179142 A JP2014179142 A JP 2014179142A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- bus
- transistor
- latch circuit
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/56—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
- G11C11/5621—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
- G11C11/5642—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/04—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
- G11C16/0483—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells having several storage transistors connected in series
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/30—Power supply circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
【課題】動作信頼性を向上出来る半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、センスアンプを備え、センスアンプは、バスLBUSと、第1、第2ラッチ回路SDL、LDLと、第3トランジスタとを備える。第1ラッチ回路SDLは、バスに接続される第1トランジスタ60を備え、第2ラッチ回路LDLは、バスに接続される第2トランジスタ70を備える。第1ラッチ回路SDLから第2ラッチ回路LDLにデータを転送する際、第3トランジスタ30は、第1、第2ラッチ回路の電源電圧VDDSAよりも低い第1電圧Vclhがゲートに印加されることにより、バス(LBUS)を電源電圧よりも低い電位(Vclh-Vt)にプリチャージする。その後、第1、第2トランジスタ60,70のゲートに、電源電圧よりも低い第2、第3電圧Vclm,Vcllがそれぞれ印加される。
【選択図】図5
【解決手段】半導体記憶装置は、センスアンプを備え、センスアンプは、バスLBUSと、第1、第2ラッチ回路SDL、LDLと、第3トランジスタとを備える。第1ラッチ回路SDLは、バスに接続される第1トランジスタ60を備え、第2ラッチ回路LDLは、バスに接続される第2トランジスタ70を備える。第1ラッチ回路SDLから第2ラッチ回路LDLにデータを転送する際、第3トランジスタ30は、第1、第2ラッチ回路の電源電圧VDDSAよりも低い第1電圧Vclhがゲートに印加されることにより、バス(LBUS)を電源電圧よりも低い電位(Vclh-Vt)にプリチャージする。その後、第1、第2トランジスタ60,70のゲートに、電源電圧よりも低い第2、第3電圧Vclm,Vcllがそれぞれ印加される。
【選択図】図5
Description
本発明の実施形態は半導体記憶装置に関する。
メモリセルが三次元に配列されたNAND型フラッシュメモリが知られている。
動作信頼性を向上出来る半導体記憶装置を提供する。
実施形態の半導体記憶装置は、半導体基板上に積層された複数のメモリセルを備えたメモリセルアレイと、メモリセルの読み出しデータまたは書き込みデータを保持可能なセンスアンプとを具備する。センスアンプは、データを転送可能なバスと、第1トランジスタを備えた第1ラッチ回路と、第2トランジスタを備えた第2ラッチ回路と、バスをプリチャージする第3トランジスタとを備える。第1ラッチ回路は、第1データ保持部と、第1データ保持部とバスとを接続する第1トランジスタとを備える。第2ラッチ回路は、第2データ保持部と、第2データ保持部とバスとを接続する第2トランジスタとを備える。第1ラッチ回路から第2ラッチ回路にデータを転送する際、第3トランジスタは、第1、第2ラッチ回路の電源電圧よりも低い第1電圧がゲートに印加されることにより、バスを電源電圧よりも低い電位にプリチャージする。更に、バスがプリチャージされた後、第1、第2トランジスタのゲートに、電源電圧よりも低い第2、第3電圧がそれぞれ印加される。
以下、実施形態につき図面を参照して説明する。この説明に際し、全図にわたり、共通する部分には共通する参照符号を付す。
1.第1実施形態
第1実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。以下では半導体記憶装置として、メモリセルが半導体基板上に積層された三次元積層型NAND型フラッシュメモリを例に挙げて説明する。
第1実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。以下では半導体記憶装置として、メモリセルが半導体基板上に積層された三次元積層型NAND型フラッシュメモリを例に挙げて説明する。
1.1 半導体記憶装置の構成について
まず、本実施形態に係る半導体記憶装置の構成について説明する。
まず、本実施形態に係る半導体記憶装置の構成について説明する。
1.1.1 半導体記憶装置の全体構成について
図1は、本実施形態に係る半導体記憶装置のブロック図である。図示するようにNAND型フラッシュメモリ1は、メモリセルアレイ10、センスアンプモジュール11、カラムセレクタ12、入出力回路13、及び制御回路14を備えている。
図1は、本実施形態に係る半導体記憶装置のブロック図である。図示するようにNAND型フラッシュメモリ1は、メモリセルアレイ10、センスアンプモジュール11、カラムセレクタ12、入出力回路13、及び制御回路14を備えている。
メモリセルアレイ10は、不揮発性のメモリセルの集合である複数(例えばN個)のブロックBLK(BLK0、BLK1、BLK2、…)を備えている。同一ブロックBLK内のデータは一括して消去される。ブロックBLKの各々は、メモリセルが直列接続されたNANDストリング15の集合である複数(例えばM個)のメモリグループGP(GP0、GP1、GP2、…)を備えている。メモリセルアレイ10内のブロック数及びブロック内のメモリグループ数は任意である。
センスアンプモジュール11は、データの読み出し時には、メモリセルから読み出したデータをセンス・増幅する。またデータの書き込み時には、書き込みデータをメモリセルに転送する。センスアンプモジュール11は、複数のセンスアンプユニット、ラッチ回路、及びバス等の組を有している。これらの詳細については後述する。
カラムセレクタ12は、メモリセルアレイ10のカラム方向(後述するビット線)を選択する。
入出力回路13は、NAND型フラッシュメモリ1外部のコントローラまたはホスト機器との間のデータの授受を司る。そして入出力回路13は、データの読み出し時には、センスアンプモジュール11でセンス・増幅されたデータを外部へ出力する。また入出力回路13は、データの書き込み時には外部から書き込みデータを受信し、これをセンスアンプモジュール11に転送する。
制御回路14は、NAND型フラッシュメモリ1全体の動作を制御する。
1.1.2 メモリセルアレイ10について
次に、上記メモリセルアレイ10の構成の詳細について説明する。図2は、ブロックBLK0の回路図である。その他のブロックBLKも同様の構成を有している。
次に、上記メモリセルアレイ10の構成の詳細について説明する。図2は、ブロックBLK0の回路図である。その他のブロックBLKも同様の構成を有している。
図示するように、ブロックBLK0は複数のメモリグループGPを含む。また各々のメモリグループGPは、複数(本例ではL個)のNANDストリング15を含む。
NANDストリング15の各々は、例えば8個のメモリセルトランジスタMT(MT0〜MT7)と、選択トランジスタST1、ST2と、バックゲートトランジスタBTとを含んでいる。メモリセルトランジスタMTは、制御ゲートと電荷蓄積層とを含む積層ゲートを備え、データを不揮発に保持する。なお、メモリセルトランジスタMTの個数は8個に限られず、16個や32個、64個、128個等であってもよく、その数は限定されるものではない。バックゲートトランジスタBTもメモリセルトランジスタMTと同様に、制御ゲートと電荷蓄積層とを含む積層ゲートを備える。但しバックゲートトランジスタBTはデータを保持するためのものでは無く、データの書き込み及び消去時には単なる電流経路として機能する。メモリセルトランジスタMT及びバックゲートトランジスタBTは、選択トランジスタST1、ST2間に、その電流経路が直列接続されるようにして配置されている。なおバックゲートトランジスタBTは、メモリセルトランジスタMT3とMT4との間に設けられる。この直列接続の一端側のメモリセルトランジスタMT7の電流経路は選択トランジスタST1の電流経路の一端に接続され、他端側のメモリセルトランジスタMT0の電流経路は選択トランジスタST2の電流経路の一端に接続されている。
メモリグループGP0〜GP(M−1)の各々の選択トランジスタST1のゲートは、それぞれセレクトゲート線SGS0〜SGS(M−1)に共通接続され、選択トランジスタST2のゲートは、それぞれセレクトゲート線SGS0〜SGS(M−1)に共通接続される。これに対して同一のブロックBLK0内にあるメモリセルトランジスタMT0〜MT7の制御ゲートはそれぞれワード線WL0〜WL7に共通接続され、バックゲートトランジスタBTの制御ゲートはバックゲート線BG(ブロックBLK0〜BLK(N−1)では、それぞれBG0〜BG(N−1))に共通接続される。
すなわち、ワード線WL0〜WL7及びバックゲート線BGは同一ブロックBLK0内の複数のメモリグループGP間で共通に接続されているのに対し、セレクトゲート線SGD、SGSは、同一ブロックBLK0内であってもメモリグループGP毎に独立している。
また、メモリセルアレイ10内でマトリクス状に配置されたNANDストリング15のうち、同一列にあるNANDストリング15の選択トランジスタST1の電流経路の他端は、いずれかのビット線BLに共通接続される。すなわちビット線BLは、複数のブロックBLK間でNANDストリング15を共通に接続する。また選択トランジスタST2の電流経路の他端は、いずれかのソース線SLに接続されている。ソース線SLは、例えば複数のメモリグループGP間で、NANDストリング15を共通に接続する。
前述の通り、同一のブロックBLK内にあるメモリセルトランジスタMTのデータは、一括して消去される。これに対してデータの読み出し及び書き込みは、いずれかのブロックBLKのいずれかのメモリグループGPにおける、いずれかのワード線WLに共通に接続された複数のメモリセルトランジスタMTにつき、一括して行われる。この単位を「ページ」と呼ぶ。
上記構成のメモリセルアレイ10において、メモリセルトランジスタMT、選択トランジスタST1、ST2、及びバックゲートトランジスタBTは、半導体基板上に三次元的に積層されている。一例としては、半導体基板上に例えばセンスアンプモジュール11等の周辺回路の一部が形成され、この周辺回路の上方にメモリセルアレイ10が形成される。
メモリセルアレイ10の構成については、例えば、“三次元積層不揮発性半導体メモリ”という2009年3月19日に出願された米国特許出願12/407,403号に記載されている。また、“三次元積層不揮発性半導体メモリ”という2009年3月18日に出願された米国特許出願12/406,524号、“不揮発性半導体記憶装置及びその製造方法”という2010年3月25日に出願された米国特許出願12/679,991号、“半導体メモリ及びその製造方法”という2009年3月23日に出願された米国特許出願12/532,030号に記載されている。これらの特許出願は、その全体が本願明細書において参照により援用されている。
1.1.3 センスアンプモジュール11について
次に、センスアンプモジュール11の構成について、まず図3を用いて説明する。図3はセンスアンプモジュール11のレイアウトを示す模式図であり、例えば半導体基板上面から見た際の様子を示している。
次に、センスアンプモジュール11の構成について、まず図3を用いて説明する。図3はセンスアンプモジュール11のレイアウトを示す模式図であり、例えば半導体基板上面から見た際の様子を示している。
図示するようにセンスアンプモジュール11は、複数のセンスアンプユニットSAUと複数のラッチ回路XDLとを備えている。
センスアンプユニットSAUはビット線BL毎に設けられ、対応するビット線BLに読み出されたデータをセンス・増幅し、また対応するビット線BL書き込みデータを転送する。一例として、センスアンプユニットSAUは16個ずつ、ビット線BLに沿った方向で一列に配列されている。以降の説明において、この16個のセンスアンプユニットSAUを区別する際にはそれぞれSAU<0>〜SAU<15>と表記する。
ラッチ回路XDLもまたビット線BL毎に設けられ、対応するビット線BLに関連するデータを一時的に保持する。ラッチ回路XDLは、NAND型フラッシュメモリ1のキャッシュ動作用に用いられる。すなわち、センスアンプユニットSAUの内部には後述する複数のラッチ回路が含まれ、れららのラッチ回路が使用中であったとしても、ラッチ回路XDLが空いていれば、NAND型フラッシュメモリ1は外部からデータを受け付けることが出来る。ラッチ回路XDLも16個が一組として設けられ(これを図3ではXDL<15:0>と表記している)、一列に配列された16個のセンスアンプユニットSAUとビット線方向に沿って並んでいる。
そして、2列のセンスアンプユニットSAU及びラッチ回路XDL、すなわち32本のビット線BLに対応する32個のセンスアンプユニットSAUとラッチ回路XDLとが、データの入出力単位(I/O)となる。
図4は、一列に配列されたセンスアンプユニットSAU及びラッチ回路XDLの組の模式図であり、センスアンプモジュール11の構成をより詳細に示すものである。
図示するようにセンスアンプモジュール11は、前述のセンスアンプユニットSAU及びラッチ回路XDLの他に、バスLBUS、プリチャージ回路20、及びディスチャージ回路22を備えている。
センスアンプユニットSAUの各々は、センスアンプ部SA、並びに3つのラッチ回路SDL、UDL、及びLDLを備えている。センスアンプ部SAは、ビット線BLに読み出されたデータをセンス・増幅し、また書き込みデータに応じてビット線BLに電圧を印加する。すなわちセンスアンプ部SAは、ビット線BLを直接的に制御するモジュールである。ラッチ回路SDL、UDL、及びLDLは、データを一時的に保持する。データの書き込み時には、この3つのラッチ回路のうちのラッチ回路SDLの保持データに応じて、センスアンプ部SAはビット線BLを制御する。その他のラッチ回路UDL及びLDLは、個々のメモリセルトランジスタが2ビット以上のデータを保持する多値動作用、あるいは、いわゆるQuick pass write動作を行うために使用される。
各センスアンプユニットSAUにおいて、センスアンプ部SA、並びに3つのラッチ回路SDL、UDL、及びLDLは、互いにデータを送受信可能なようにバスLBUSによって接続されている。図4の例では、バスLBUSは、ビット線方向で隣接する2つのセンスアンプユニットSAU間で共通に接続されており、2つのセンスアンプユニットSAUをビット線に沿った方向で横断するように配置される。従って、16個のセンスアンプユニットSAU<15:0>あたり8本のバスLBUSが設けられる。
バスDBUSは、センスアンプユニットSAUと、対応するラッチ回路XDLとを、互いにデータ送受信可能なように接続する。図4の例では、一列に配列された16個のセンスアンプユニットSAUが、1本のデータバスを共有する。
プリチャージ回路20は、バスDBUSをプリチャージする。プリチャージ回路20は、例えば低耐圧nチャネルMOSトランジスタ21を含み、電流経路の一端がバスDBUSに接続され、ゲートには制御信号DPCが与えられる。
ディスチャージ回路22は、バスDBUSをディスチャージする。ディスチャージ回路22は、例えば低耐圧nチャネルMOSトランジスタ23を含み、電流経路の一端がバスDBUSに接続され、他端が接地(GND)され、ゲートには制御信号DDSが与えられる。
図5はセンスアンプユニットSAUの回路図であり、センスアンプユニットSAUの構成をより具体的に示している。
前述の通りセンスアンプユニットSAUは、センスアンプ部SA、並びに3つのラッチ回路SDL、LDL、及びUDLを備えている。センスアンプユニットSAUは更に、プリチャージ回路30及びバススイッチ32を備えている。
プリチャージ回路30は、バスLBUSをプリチャージする。プリチャージ回路30は、例えば低耐圧nチャネルMOSトランジスタ31を含み、電流経路の一端がバスLBUSに接続され、ゲートには制御信号LPCが与えられる。そしてプリチャージ回路30は、センスアンプユニットSAUで使用される電源電圧VDDSAよりも低い電圧に、バスLBUSをプリチャージする。
バススイッチ32は、バスDBUSとバスLBUSとを接続する。すなわちバススイッチ32は、例えば低耐圧nチャネルMOSトランジスタ33を含み、電流経路の一端がバスDBUSに接続され、他端がバスLBUSに接続され、ゲートには制御信号DSWが与えられる。
次に、センスアンプ部SA、並びにラッチ回路SDL、LDL、及びUDLの構成について説明する。
センスアンプ部SAは、高耐圧nチャネルMOSトランジスタ40、低耐圧nチャネルMOSトランジスタ41〜50、低耐圧pチャネルMOSトランジスタ51、及びキャパシタ素子52を備えている。
トランジスタ40は、ゲートに信号BLSが印加され、電流経路の一端が、対応するビット線BLに接続される。トランジスタ41は、電流経路の一端がトランジスタ40の電流経路の他端に接続され、ゲートに信号BLCが印加され、電流経路の他端がノードSCOMに接続される。トランジスタ41は、対応するビット線BLを、信号BLCに応じた電位にクランプするためのものである。
トランジスタ45は、電流経路の一端がノードSCOMに接続され、他端がノードSRCGND(例えば0V)に接続され、ゲートがノードINV_Sに接続される。トランジスタ42は、電流経路の一端がノードSCOMに接続され、他端がノードSSRCに接続され、ゲートに制御信号BLXが入力される。トランジスタ51は、電流経路の一端がノードSSRCに接続され、他端に電源電圧VDDSAが与えられ、ゲートがノードINV_Sに接続される。トランジスタ43は、電流経路の一端がノードSCOMに接続され、他端がノードSENに接続され、ゲートに制御信号XXLが入力される。トランジスタ44は、電流経路の一端がノードSSRCに接続され、他端がノードSENに接続され、ゲートに制御信号HLLが入力される。キャパシタ素子52は、一方電極がノードSENに接続され、他方電極にクロックCLKが入力される。トランジスタ47は、電流経路の一端が接地され、ゲートがノードSENに接続される。トランジスタ48は、電流経路の一端がトランジスタ47の電流経路の他端に接続され、他端がバスLBUSに接続され、ゲートに制御信号STBが入力される。
トランジスタ46は、電流経路の一端がノードSENに接続され、他端がバスLBUSに接続され、ゲートに制御信号BLQが入力される。トランジスタ50は、電流経路の一端が接地され、ゲートがバスLBUSに接続される。トランジスタ49は、電流経路の一端がトランジスタ50の電流経路の他端に接続され、他端がノードSENに接続され、ゲートに制御信号LSLが入力される。
次に、ラッチ回路SDLについて説明する。図5に示すようにラッチ回路SDLは、低耐圧nチャネルMOSトランジスタ60〜63及び低耐圧のpチャネルMOSトランジスタ64〜67を備えている。
トランジスタ60は、電流経路の一端がバスLBUSに接続され、他端がノードLAT_Sに接続され、ゲートに制御信号STLが入力される。トランジスタ61は、電流経路の一端がバスLBUSに接続され、他端がノードINV_Sに接続され、ゲートに制御信号STIが入力される。トランジスタ62は、電流経路の一端が接地され、他端がノードLAT_Sに接続され、ゲートがノードINV_Sに接続される。トランジスタ63は、電流経路の一端が接地され、他端がノードINV_Sに接続され、ゲートがノードLAT_Sに接続される。トランジスタ64は、電流経路の一端がノードLAT_Sに接続され、ゲートがノードINV_Sに接続される。トランジスタ65は、電流経路の一端がノードINV_Sに接続され、ゲートがノードLAT_Sに接続される。トランジスタ66は、電流経路の一端がトランジスタ64の電流経路の他端に接続され、他端に電源電圧VDDSAが印加され、ゲートに制御信号SLLが入力される。トランジスタ67は、電流経路の一端がトランジスタ65の電流経路の他端に接続され、他端に電源電圧VDDSAが印加され、ゲートに制御信号SLIが入力される。
ラッチ回路SDLでは、トランジスタ62、64で第1インバータが構成され、トランジスタ63、65で第2インバータが構成されている。そして、第1インバータの出力及び第2インバータの入力(ノードLAT_S)が、データ転送用のトランジスタ60を介してバスLBUSに接続され、第1インバータの入力及び第2インバータの出力(ノードINV_S)が、データ転送用のトランジスタ61を介してバスLBUSに接続される。ラッチ回路SDLは、データをノードLAT_Sで保持し、その反転データをノードINV_Sで保持する。
ラッチ回路LDL及びUDLは、ラッチ回路SDLと同様の構成を有しているので、説明は省略するが、各トランジスタの参照番号及び制御信号名は、図5の通りラッチ回路SDLのものとは区別して以下説明する。
次に、上記構成のセンスアンプユニットSAUの動作について簡単に説明する。まずデータの書き込み時について説明する。メモリセルトランジスタMTにデータを書き込む場合(電荷を注入して閾値を上昇させる場合)、ラッチ回路SDLのノードINV_Sには“H”レベル(“1”データ)が格納される。この結果、トランジスタ45がオン状態とされ、ビット線BLは0Vとされる。他方、メモリセルトランジスタMTにデータを書き込まない場合(電荷を注入せず、閾値を変えない場合)、ラッチ回路SDLのノードINV_Sには“L”レベル(“0”データ)が格納される。この結果、トランジスタ51がオン状態とされ、ビット線BLには所定の正電圧が与えられる。
次に読み出し時について説明する。読み出し時には、まずノードINV_Sが“L”レベルとされ、トランジスタ51がオン状態とされる。そして、トランジスタ40〜42を介して、ビット線BLがトランジスタ51によってプリチャージされる。またトランジスタ44もオン状態とされ、ノードSENが所定の電位まで充電される。
その後、トランジスタ44がオフ状態とされ、信号XXLが“H”レベルとされてトランジスタ43がオン状態とされる。すると、対応するメモリセルがオン状態であれば、ノードSENの電位は低下し、トランジスタ47はオフ状態となる。他方、対応するメモリセルがオフ状態であれば、ノードSENの電位は“H”レベルを維持し、その結果トランジスタ47はオン状態となる。
そして、信号STBがオン状態とされ、トランジスタ47のオン/オフに応じた電位がバスLBUSに読み出され、ラッチ回路SDL、LDL、及びUDLのいずれかに保持される。
次に、図6を用いてラッチ回路XDLの構成について説明する。図6はラッチ回路XDLの回路構成を示すと共に、センスアンプモジュールSAUとラッチ回路XDLとの接続関係を示す模式図である。
図示するようにラッチ回路XDLは、低耐圧nチャネルMOSトランジスタ90〜94及び低耐圧pチャネルMOSトランジスタ95〜99を備えている。
トランジスタ90は、電流経路の一端が、入出力回路13に接続されるバスXBUSに接続され、他端がノードLAT_Xに接続され、ゲートに制御信号XTLが入力される。トランジスタ91は、電流経路の一端がバスDBUSに接続され、他端がノードINV_Xに接続され、ゲートに制御信号XTIが入力される。トランジスタ92は、電流経路の一端がノードLAT_Xに接続され、ゲートがノードINV_Xに接続される。トランジスタ93は、電流経路の一端が接地され、他端がトランジスタ92の電流経路の他端に接続され、ゲートに制御信号XNLが入力される。トランジスタ95は、電流経路の一端がノードLAT_Xに接続され、ゲートがノードINV_Xに接続される。トランジスタ96は、電流経路の一端がノードINV_Xに接続され、ゲートがノードLAT_Xに接続される。トランジスタ97は、電流経路の一端がトランジスタ95の電流経路の他端に接続され、他端に電源電圧VDDSAが印加され、ゲートに制御信号XLLが入力される。トランジスタ98は、電流経路の一端がトランジスタ96の電流経路の他端に接続され、他端に電源電圧VDDSAが印加され、ゲートに制御信号XLIが入力される。
このように、ラッチ回路XDLもラッチ回路SDL等とほぼ同様の構成を有しているが、ラッチ回路XDLは、バスDBUSとバスXBUSとの間でデータを保持する。
また前述のように、本例では16個のセンスアンプモジュールSAU<15:0>と16個のラッチ回路XDL<15:0>とが、1本のバスDBUSによって接続される。センスアンプユニットSAUとバスDBUSとの間の接続は第1スイッチSW1によって切り替えられ、ラッチ回路XDLとバスDBUSとの間の接続は第2スイッチSW2によって切り替えられる。従って、ラッチ回路XDLとセンスアンプユニットとの間のデータ転送は、16回のシリアル転送動作によって行われる。
1.2 センスアンプユニット内でのラッチ間のデータ転送動作について
次に、本実施形態に係るラッチ回路SDL、LDL、UDL相互間のデータ転送動作について説明する。以下では一例として、ラッチ回路SDLからラッチ回路LDLへデータを転送する場合を例に、図7及び図8を用いて説明する。図7はデータ転送動作時のフローチャートであり、図8はその際の各種信号のタイミングチャートである。
次に、本実施形態に係るラッチ回路SDL、LDL、UDL相互間のデータ転送動作について説明する。以下では一例として、ラッチ回路SDLからラッチ回路LDLへデータを転送する場合を例に、図7及び図8を用いて説明する。図7はデータ転送動作時のフローチャートであり、図8はその際の各種信号のタイミングチャートである。
図示するように、SDLからLDLへのデータ転送動作は、大まかには2つのステップを含む。第1のステップはLDLのリセット動作であり、LDLに“1”データを格納する動作である。次に行われる第2のステップは、実際にSDLからLDLにデータを転送する動作である。以下で説明する動作は、例えば制御回路14のコントロールの下で行われ、図5及び図6で説明した各種制御信号は例えば制御信号14によって生成される。
図7に示すように、制御回路14はまず、信号DSWを“H”レベルにして、バスDBUSをいずれかのバスLBUSに接続する。更に制御回路14は、信号DDSを“H”レベルにして、バスDBUS及びLBUSをディスチャージする(ステップS10、時刻t0)。これにより、バスDBUS及びLBUSの電位はほぼ0Vとなる。なお、“H”レベルとされた信号DSW、DDSの電位は、ラッチ回路SDLの電源電圧であるVDDSAである。本明細書では、特に述べない限りその他の制御信号も同様である。
次に、データ転送先となるLDLは、バスLBUS上のデータを取り込む(ステップS11)。すなわち制御回路14は、信号LLL及びLLIをそれぞれ“L”レベル及び“H”レベルとし(時刻t1)、トランジスタ76、77をそれぞれオン状態及びオフ状態とする(時刻t1)。引き続き制御回路14は、信号LTIを“H”レベルとする(時刻t2)。この際の様子を図9の回路図に示す。図示するように、トランジスタ71がオン状態となり、バスLBUSの電位がLDL内部に取り込まれる。すなわち、ノードINV_Lが“L”レベルとなり、ノードLAT_Lが“H”レベル(VDDSA)とされる。
以上で第1のステップが完了し、制御回路14は引き続き第2のステップに進む。第2のステップにつき、図10の回路図も併せて参照しつつ以下説明する。
まず制御回路14は、信号DSWを“L”レベルとして、DBUSをLBUSから切り離す(ステップS12、時刻t3)。引き続き制御回路14は、信号LPCを“H”レベルにして、バスLBUSをプリチャージする(ステップS13、時刻t4)。この際、制御回路14は、バスLBUSの電位が(Vclh−Vt)になるように、トランジスタ31を制御する。(Vclh−Vt)は、例えば0.5〜1V程度である。電圧Vclhは、センスアンプユニットSAUの電源電圧VDDSAよりも小さい電圧であり、Vtは、センスアンプユニットSAU内の低耐圧nチャネルトランジスタ(例えばトランジスタ31、60、61、70、71、80、81等)の閾値電圧である。そのため、例えば制御回路14は、信号LPCの電位をVclhとする。これにより、バスLBUSの電位は(Vclh−Vt)にクランプされる。あるいは、信号LPCの電位を十分に大きくすると共に、トランジスタ31の電流経路の他端にVclhを印加しても良い。
まず制御回路14は、信号DSWを“L”レベルとして、DBUSをLBUSから切り離す(ステップS12、時刻t3)。引き続き制御回路14は、信号LPCを“H”レベルにして、バスLBUSをプリチャージする(ステップS13、時刻t4)。この際、制御回路14は、バスLBUSの電位が(Vclh−Vt)になるように、トランジスタ31を制御する。(Vclh−Vt)は、例えば0.5〜1V程度である。電圧Vclhは、センスアンプユニットSAUの電源電圧VDDSAよりも小さい電圧であり、Vtは、センスアンプユニットSAU内の低耐圧nチャネルトランジスタ(例えばトランジスタ31、60、61、70、71、80、81等)の閾値電圧である。そのため、例えば制御回路14は、信号LPCの電位をVclhとする。これにより、バスLBUSの電位は(Vclh−Vt)にクランプされる。あるいは、信号LPCの電位を十分に大きくすると共に、トランジスタ31の電流経路の他端にVclhを印加しても良い。
次に、SDLが保持データをバスLBUS上に出力し、LDLがこれを取り込む(ステップS14)。すなわち制御回路14は、信号LPCが“H”レベルとされている期間に信号LLLを“H”レベルとする(時刻t5)。これにより、LDLのノードLAT_Lの電位はVDDSAでフローティングの状態となる。そして制御回路14は、信号LPCが“L”レベルとされた後、信号STL及びLTLを“H”レベルとする(時刻t6)。なお、信号STL及びLTLの電位Vclm及びVcllも、VDDSAより小さくされる。なお、Vclhとの関係は以下の通りである。
Vclh≧Vclm≧Vcll
Vclh>Vcll
ここで、Vclh≧Vclm(より好ましくはVclh>Vclm)はSDLが“1”データを安定して保持するため、Vclh≧Vcll(より好ましくはVclh>Vcll)はLDLが“1”データを安定して保持するための条件である。すなわち、SDL及びLDLが“H”レベルを保持する場合、転送トランジスタ60、70のゲート電圧が高すぎると、これらのトランジスタがオン状態となり、SDL及びLDLの保持データが破壊されるおそれがあるからである。
Vclh≧Vclm≧Vcll
Vclh>Vcll
ここで、Vclh≧Vclm(より好ましくはVclh>Vclm)はSDLが“1”データを安定して保持するため、Vclh≧Vcll(より好ましくはVclh>Vcll)はLDLが“1”データを安定して保持するための条件である。すなわち、SDL及びLDLが“H”レベルを保持する場合、転送トランジスタ60、70のゲート電圧が高すぎると、これらのトランジスタがオン状態となり、SDL及びLDLの保持データが破壊されるおそれがあるからである。
また一例としては、Vclh、Vclm、及びVcllの値は以下のように設定される。
Vclh=1V+Vt
Vclm=0.75V+Vt
Vcll=0.5V+Vt
信号STLが“H”レベルとされることで、SDLの保持データ(LAT_Sのデータ)に応じてバスLBUSの電位が変動する。SDLが“1”データを保持していれば、トランジスタ70はカットオフ状態となり、バスLBUSの電位は“H”レベル(Vclh−Vt)を維持する。他方、SDLが “0”データを保持していれば、トランジスタ60がオン状態となり、バスLBUSの電位は“L”レベル(0V)に遷移する(時刻t6)。
Vclh=1V+Vt
Vclm=0.75V+Vt
Vcll=0.5V+Vt
信号STLが“H”レベルとされることで、SDLの保持データ(LAT_Sのデータ)に応じてバスLBUSの電位が変動する。SDLが“1”データを保持していれば、トランジスタ70はカットオフ状態となり、バスLBUSの電位は“H”レベル(Vclh−Vt)を維持する。他方、SDLが “0”データを保持していれば、トランジスタ60がオン状態となり、バスLBUSの電位は“L”レベル(0V)に遷移する(時刻t6)。
また、信号LTLが“H”レベル(Vcll)とされる。よって、バスLBUSが“L”レベル(0V)に遷移すれば、トランジスタ70はオン状態となり、ノードLAT_Lには“L”レベルが格納される。他方、バスLBUSが“H”レベル(Vclh−Vt)を維持していれば、トランジスタ70はオフ状態のままである。従って、ノードLAT_Lは“H”レベル(VDDSA)を保持し続ける。
このように、転送先ラッチ回路に“1”を保持させ、その後に転送元ラッチ回路がデータを出力する。この際、転送データが“0”である場合は、転送先ラッチ回路の入力スイッチ(トランジスタ70)をオンさせて、“0”データを転送先ラッチ回路に転送する。他方、転送データが“1”である場合には入力スイッチをオフさせて、転送先ラッチ回路の状態を不変とする。
1.3 本実施形態に係る効果
第1実施形態に係る構成であると、NAND型フラッシュメモリ1の動作信頼性を向上出来る。本効果につき、以下説明する。
第1実施形態に係る構成であると、NAND型フラッシュメモリ1の動作信頼性を向上出来る。本効果につき、以下説明する。
上記説明したように、NAND型フラッシュメモリでは、1本のビット線に対して、ビット線の電位を直接制御するビット線コントロール部(図4のセンスアンプ部SA)と、複数のデータラッチ(図4のSDL、UDL、LDL、及びXDL)とが設けられている。必要なデータラッチの個数は、セルの多値度、キャッシュ動作の有無、あるいは高速動作対応の有無によって変わるが、一般的に3〜5個である。これらのデータラッチ間のデータ転送は、データバス線(図4のLBUS、DBUS)を介して行われる。この際、バスの充放電電流が、無視できない程に非常に大きなものになる。その理由は、チップ内には数KBのセンスアンプとデータラッチがあって、データ転送の際には数KBのデータバス線が動作すること、更に、そのデータバス線の配線長は長く配線間隔は狭い為に寄生容量が大きく、総計として巨大な負荷容量の充放電を行う必要が有ること、である。この問題は、微細化が進むとともに大きくなり、メモリセルが三次元に積層されたNAND型フラッシュメモリのように、メモリセルアレイの下にセンスアンプを配置するアーキテクチャでも同様の問題を抱えている。
以上の状況に鑑み、本実施形態ではデータバスの低振幅化を図り、これによりデータバスの充放電電流を低減して、消費電力を削減している。より具体的には、データラッチの電源電圧そのものはVDDSAを維持させつつ、データバスを、VDDSAではなく、それよりも小さい電圧(Vclh−Vt)で振幅させる。この際、データバスを充電するトランジスタ31のゲート電位を、VDDSAより低い所定の電圧(例えばVclh)に設定して、データバスの電位を(Vclh−Vt)にクランプしても良いし、あるいはこのクランプ電圧を転送する転送ゲートタイプを用いても良い。この結果、データバスにおける消費電流を、従来の1/2〜1/4に低減出来る。
また同時に、データラッチの転送トランジスタ(図5のトランジスタ60、61、70、71、80、81)のゲート電位を、VDDSAより低い所定の電圧(例えばVclm、Vcll)とする。これにより、データバスの充電電圧が低下したことによる転送トランジスタの誤動作を防止し、データラッチの動作安定性を向上出来る。
2.第2実施形態
次に、第2実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第1実施形態において、バスLBUSのプリチャージを、プリチャージ回路30では無く、転送先ラッチ回路により行うものである。以下では、第1実施形態と異なる点についてのみ説明する。
次に、第2実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第1実施形態において、バスLBUSのプリチャージを、プリチャージ回路30では無く、転送先ラッチ回路により行うものである。以下では、第1実施形態と異なる点についてのみ説明する。
2.1 センスアンプユニット内でのラッチ間のデータ転送動作について
本実施形態に係るデータ転送動作について説明する。以下では一例として、第1実施形態と同様にラッチ回路SDLからラッチ回路LDLへデータを転送する場合を例に、図11及び図12を用いて説明する。図11はデータ転送動作時のフローチャートであり、図12はその際の各種信号のタイミングチャートである。
本実施形態に係るデータ転送動作について説明する。以下では一例として、第1実施形態と同様にラッチ回路SDLからラッチ回路LDLへデータを転送する場合を例に、図11及び図12を用いて説明する。図11はデータ転送動作時のフローチャートであり、図12はその際の各種信号のタイミングチャートである。
図示するように、第1実施形態で説明したステップS10〜S12の後、制御回路14は、LDLによりバスLBUSをプリチャージする(ステップS20、時刻t7)。この様子を図13の回路図に示す。図13は、図12における時刻t7〜t8の期間におけるセンスアンプモジュールの回路図である。すなわち制御回路14は、信号LPCを“L”レベルにしたまま、信号LTLを“H”レベルとする。この信号LTLの電位は、第1実施形態で説明したVclhとされる。すると、トランジスタ74、76はオン状態とされていることによりノードLAT_Lは略VDDSAであるから、トランジスタ70によってバスLBUSの電位は(Vclh−Vt)にクランプされる。(Vclh−Vt)は、例えば0.5〜1Vである。
時刻t8で信号LTLは“L”レベルとされた後の動作は、第1実施形態と同様である。
2.2 本実施形態に係る効果
本実施形態によれば、NAND型フラッシュメモリの動作信頼性をより一層向上出来る。第1実施形態で説明したように、データバス線を低振幅化させるほど消費電流を低減することが可能になる。しかし他方で、低振幅化しすぎると、例えばデータ線のプリチャージレベルを決めるトランジスタとデータの受け手のラッチのトランジスタの閾値ばらつきによりデータ化けの不良が起こる可能性が生じる。
本実施形態によれば、NAND型フラッシュメモリの動作信頼性をより一層向上出来る。第1実施形態で説明したように、データバス線を低振幅化させるほど消費電流を低減することが可能になる。しかし他方で、低振幅化しすぎると、例えばデータ線のプリチャージレベルを決めるトランジスタとデータの受け手のラッチのトランジスタの閾値ばらつきによりデータ化けの不良が起こる可能性が生じる。
本実施形態ではこのような不良の発生を防止出来る。本効果につき、図14及び図15を参照して説明する。図14は、信号LPC及びLTL、並びにバスLBUSの電位を示すグラフであり、図15はセンスアンプユニットSAUの一部領域の回路図である。
バスLBUSのプリチャージを、プリチャージ回路30による電圧クランプにより行う場合、バスLBUSの電位は信号LPCの電位に影響される。例えば、LBUSプリチャージ用のトランジスタ31の閾値が高めの値にばらついたとすると、これは図14に示すように信号LPCの電位が低下することと同義であり、その結果、バスLBUSの電位も低下する。また、ラッチ回路LDLのトランジスタ70の閾値が低めの値にばらついたとすると、これは信号LTLが上昇することと同義である。このように、バスLBUSの電位が低く、信号LTL電位が高いという状況が発生すると、トランジスタ70が誤ってオン状態となる可能性がある。オン状態となると、ノードLAT_Lで保持されていた電圧VDDSAがバスLBUSに抜けてしまい、LDLがデータを失ってしまうおそれがある。
この点、本実施形態に係る方法であると、バスLBUSのプリチャージを、データの受信側ラッチ回路で行うことにより、上記の問題を解決出来る。すなわち図12に示すように、時刻t7〜t8の期間で、トランジスタ70によってバスLBUSをプリチャージする。仮に、トランジスタ70の閾値ばらつきによってLBUSの電位が低めに設定されたとしても、その後に信号LTLを“H”レベルとした際には、この閾値ばらつきにより信号LTLが低下する効果が得られる。つまり、LBUSプリチャージに対する閾値ばらつきの影響と、データ転送に対する閾値ばらつきの影響とを相殺出来る。このように、トランジスタの閾値ばらつきに起因する動作信頼性の低下を防止出来る。
また本実施形態に係る方法であると、バスLBUSのプリチャージレベルを低減出来る。そのため、消費電力を低減出来る。図16は、第1実施形態及び本実施形態におけるバスLBUSのプリチャージレベルを比較したグラフである。
図示するように第1実施形態に係る方法であると、プリチャージレベルは例えば1Vである。その内訳は、各種の電圧を供給するレギュレータとセンスアンプモジュールSAUとの間の経路におけるトランジスタの閾値ばらつき、ノイズ、リーク、センスアンプユニットSAU内におけるトランジスタの閾値ばらつき、及びマージンである。この点、本実施形態によれば、上記説明した理由により、センスアンプユニットSAU内におけるトランジスタの閾値ばらつきを考慮する必要が無くなる。その結果、プリチャージレベルを、第1実施形態よりも低い例えば0.7V程度とすることが出来る。
3.第3実施形態
次に、第3実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第2実施形態において、プリチャージ回路30がバスLBUSのプリチャージをアシストするものである。言い換えれば、第1、第2実施形態を組み合わせた上で、信号LPCの電位をVclhよりも小さくしたものに相当する。以下では、第1、第2実施形態と異なる点についてのみ説明する。
次に、第3実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第2実施形態において、プリチャージ回路30がバスLBUSのプリチャージをアシストするものである。言い換えれば、第1、第2実施形態を組み合わせた上で、信号LPCの電位をVclhよりも小さくしたものに相当する。以下では、第1、第2実施形態と異なる点についてのみ説明する。
3.1 センスアンプユニット内でのラッチ間のデータ転送動作について
本実施形態に係るデータ転送動作について、第1、第2実施形態と同様にSDLからLDLへデータを転送する場合を例に、図17及び図18を用いて説明する。図17はデータ転送動作時のフローチャートであり、図18はその際の各種信号のタイミングチャートである。
本実施形態に係るデータ転送動作について、第1、第2実施形態と同様にSDLからLDLへデータを転送する場合を例に、図17及び図18を用いて説明する。図17はデータ転送動作時のフローチャートであり、図18はその際の各種信号のタイミングチャートである。
図示するように、第1実施形態で説明したステップS10〜S12の後、制御回路14は信号LPCを“H”レベルとする(ステップS30、時刻t4)。但し、第1実施形態と異なり、信号LPCの電位はVclaであり、またVcla≦Vclh(より好ましくはVcla<Vclh)である。この結果、バスLBUSの電位は(Vcla−Vt)まで上昇される。
次に制御回路14は、信号LPCを“L”レベルとすると共に、LDLによりバスLBUSをプリチャージする(ステップS20、時刻t7)。この結果、第2実施形態で説明したように、バスLBUSの電位は(Vclh−Vt)にプリチャージされる。
時刻t8で信号LTLが“L”レベルとされた後の動作は、第1実施形態と同様である。
3.2 本実施形態に係る効果
本実施形態の方法によれば、NAND型フラッシュメモリの動作信頼性をより一層向上出来る。本効果につき、図19を参照して説明する。図19は、センスアンプユニットSAUの回路図であり、バスLBUSをプリチャージする際の様子を示している。
本実施形態の方法によれば、NAND型フラッシュメモリの動作信頼性をより一層向上出来る。本効果につき、図19を参照して説明する。図19は、センスアンプユニットSAUの回路図であり、バスLBUSをプリチャージする際の様子を示している。
本実施形態によれば、バスLBUSのプリチャージは2段階で行われる。すなわち、まずプリチャージ回路30がバスLBUSの電位を(Vcla−Vt)まで上昇させる。その後、LDLがバスLBUSを最終的な値である(Vclh−Vt)まで上昇させる。本方法であると、ラッチ回路の動作安定性を向上出来る。
例えば、LDLがバスLBUSを充電する時は、図19のトランジスタ74及び76の直列部のオン抵抗と、トランジスタ70のオン抵抗の比が重要となる。トランジスタ70のオン抵抗が低すぎると、トランジスタ70をオンさせた時、トランジスタ74とトランジスタ70との間のノードLAT_Lの電位が急激に低下する。その結果、ノードLAT_Lの電位がトランジスタ73及び75からなるインバータの閾値を超えてしまい(トランジスタ73がオンからオフへ、トランジスタ75がオフからオンに遷移する)、ラッチ回路LDLの保持データが反転するおそれがある。
この点、第2実施形態であると、トランジスタ70をオンさせた時、バスLBUSの電位は0Vであるので、トランジスタ70のゲート・ソース間電圧VGS(ソースはLBUS)が大きく、オン抵抗は比較的小さい。
これに対して本実施形態であると、トランジスタ70をオンさせた時、バスLBUSは、すでに(Vcla−Vt)に充電されている。従って、トランジスタ70のVGSは小さく、オン抵抗は第2実施形態の場合よりも高い。従って、第2実施形態に比べてラッチ回路LDLの安定性を向上出来る。このことは、その他のラッチ回路SDL及びUDLについても同様である。
また、図16を用いて説明したプリチャージレベルを、第1実施形態よりも更に低減出来る。
4.第4実施形態
次に、第4実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第1乃至第3実施形態において、バスLBUSのプリチャージを省略したものである。以下では、第1乃至第3実施形態と異なる点についてのみ説明する。
次に、第4実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第1乃至第3実施形態において、バスLBUSのプリチャージを省略したものである。以下では、第1乃至第3実施形態と異なる点についてのみ説明する。
4.1 センスアンプユニット内でのラッチ間のデータ転送動作について
本実施形態に係るデータ転送動作について、第1乃至第3実施形態と同様にSDLからLDLへデータを転送する場合を例に、図20及び図21を用いて説明する。図20はデータ転送動作時のフローチャートであり、図21はその際の各種信号のタイミングチャートである。
本実施形態に係るデータ転送動作について、第1乃至第3実施形態と同様にSDLからLDLへデータを転送する場合を例に、図20及び図21を用いて説明する。図20はデータ転送動作時のフローチャートであり、図21はその際の各種信号のタイミングチャートである。
図20に示すように、本実施形態の処理フローは、第1実施形態で説明した図7において、ステップS13を廃したものに相当する。すなわち図21に示すように、バスDBUSとバスLBUSとが非接続とされると、LBUSの電位が0Vの状態で、信号STL及びLTLが“H”レベルとされる(時刻t6)。すると、ノードLAT_Sの電位に応じて、バスLBUSの電位が0Vを維持するか、または(Vclh−Vt)まで上昇する。
その他は第1乃至第3実施形態と同様である。
4.2 本実施形態に係る効果
バスLBUSの容量が小さい場合には、本実施形態に係る方法のように、データ転送電圧(STL、LTL)の電位を電源電圧VDDSAよりも小さくすることで、LBUSのプリチャージを不要とすることが出来る。
バスLBUSの容量が小さい場合には、本実施形態に係る方法のように、データ転送電圧(STL、LTL)の電位を電源電圧VDDSAよりも小さくすることで、LBUSのプリチャージを不要とすることが出来る。
この理由は、上記第3実施形態で説明した理由とほぼ同様である。すなわち、第3実施形態では、バスLBUSをプリチャージしてからトランジスタ70をオンさせることで、トランジスタVGSを小さくして、ラッチ回路のデータの反転を防止していた。これに対して本実施形態では、トランジスタ70のゲート電位を下げることで、トランジスタ70のVGSの低下させる。この結果、トランジスタ70のオン抵抗を大きくし、ラッチ回路LDLの安定性を向上出来る。このことは、その他のラッチ回路SDL及びUDLでも同様である。
5.第5実施形態
次に、第5実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第4実施形態において、プリチャージ回路30がバスLBUSのプリチャージをアシストするものである。言い換えれば、第1実施形態において、信号LPCの電位をVclhよりも小さくしたものに相当する。以下では、第4実施形態と異なる点についてのみ説明する。
次に、第5実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第4実施形態において、プリチャージ回路30がバスLBUSのプリチャージをアシストするものである。言い換えれば、第1実施形態において、信号LPCの電位をVclhよりも小さくしたものに相当する。以下では、第4実施形態と異なる点についてのみ説明する。
5.1 センスアンプユニット内でのラッチ間のデータ転送動作について
本実施形態に係るデータ転送動作について、第1乃至第3実施形態と同様にSDLからLDLへデータを転送する場合を例に、図22及び図23を用いて説明する。図22はデータ転送動作時のフローチャートであり、図23はその際の各種信号のタイミングチャートである。
本実施形態に係るデータ転送動作について、第1乃至第3実施形態と同様にSDLからLDLへデータを転送する場合を例に、図22及び図23を用いて説明する。図22はデータ転送動作時のフローチャートであり、図23はその際の各種信号のタイミングチャートである。
図22に示すように、本実施形態の処理フローは、第4実施形態で説明した図20において、ステップS14の直前に、第3実施形態で説明したステップS30の処理を追加したものに相当する。すなわち図23に示すように、バスDBUSとバスLBUSとが非接続とされると、制御回路14は信号LPCを“H”レベルとする(ステップS30、時刻t4)。信号LPCの電位は、第3実施形態で説明した通りVclaである。この結果、バスLBUSの電位は(Vcla−Vt)まで上昇される。
その後、バスLBUSの更なるプリチャージを行うことなく、信号STL及びLTLが“H”レベルとされる(時刻t6)。すると、ノードLAT_Sの電位に応じて、バスLBUSの電位が0Vまで低下、または(Vclh−Vt)まで上昇する。
その他は第1乃至第3実施形態と同様である。
5.2 本実施形態に係る効果
本実施形態によれば、バスLBUSのプリチャージを不要としつつ、第3実施形態で説明したようにラッチ回路の動作安定性を向上出来る。
本実施形態によれば、バスLBUSのプリチャージを不要としつつ、第3実施形態で説明したようにラッチ回路の動作安定性を向上出来る。
6.第6実施形態
次に、第6実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第1乃至第5実施形態を、センスアンプユニットSAU内のラッチ回路と、ラッチ回路XDLとの間のデータ転送に適用したものである。以下では第1乃至5実施形態と異なる点についてのみ説明する。また以下の説明では、ラッチ回路XDLからラッチ回路LDLへの転送の場合を例に挙げて説明する。
次に、第6実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第1乃至第5実施形態を、センスアンプユニットSAU内のラッチ回路と、ラッチ回路XDLとの間のデータ転送に適用したものである。以下では第1乃至5実施形態と異なる点についてのみ説明する。また以下の説明では、ラッチ回路XDLからラッチ回路LDLへの転送の場合を例に挙げて説明する。
6.1 第1のデータ転送例
まず、第1のデータ転送例につき、図24及び図25を用いて説明する。本例は、第1実施形態で説明した方法を、XDLからLDLへのデータ転送に適用したものである。
まず、第1のデータ転送例につき、図24及び図25を用いて説明する。本例は、第1実施形態で説明した方法を、XDLからLDLへのデータ転送に適用したものである。
第1の実施形態で説明した通り、データ転送動作は大まかには2つのステップを含む。XDLからLDLへのデータ転送の場合、第1のステップはLDLのリセット動作であり、LDLに“0”データが格納される。次に行われる第2のステップは、実際にXDLからLDLへのデータ転送動作である。
図24に示すように、まずステップS10の処理が行われ、次にステップS40の処理が行われる。ステップS40では、制御回路14は信号LTLを“H”レベルとする(時刻t2)。その結果、ラッチ回路LDLのノードINV_Lが“H”レベル(VDDSA)とされる。
次に、ステップS41の処理が行われる。すなわち、制御回路14は信号LPC及びDPCを“H”レベルとする(時刻t4)。この信号LPC及びDPCの電位は、前述のVclhである。この結果、バスDBUS及びLBUSの電位は(Vclh−Vt)とされる。なお、DBUSをプリチャージするトランジスタ21はトランジスタ31と同様に、電圧を(Vclh−Vt)にクランプするタイプであっても良いし、あるいは転送ゲートタイプであっても良い。
次に、ラッチ回路XDLが保持データをバスDBUS及びLBUS上に出力し、LDLがこれを取り込む(ステップS42)。すなわち制御回路14は、信号LLIを“H”レベルとする(時刻t5)。これにより、LDLのノードINV_Lの電位はVDDSAでフローティングの状態となる。その後、制御回路14は、信号XTI及びLTIを“H”レベルとする(時刻t6)。なお、信号XTL及びLTLの電位はそれぞれ、前述のVclm及びVcllである。
信号XTIが“H”レベルとされることで、XDLの保持する反転データ(INV_Xのデータ)がバスDBUS及びLBUSに出力される。XDLが“1”データを保持していれば(INV_X=“L”)、トランジスタ91がオン状態となって、バスDBUS及びLBUSの電位は“L”レベル(0V)に遷移する。他方、XDLが“0”データを保持していれば(INV_X=“H”)、トランジスタ91はカットオフ状態となって、バスDBUS及びLBUSの電位は“H”レベル(Vclh−Vt)を維持する。
また、信号LTIが“H”レベル(Vcll)とされる。よって、バスLBUSが“L”レベル(0V)に遷移すれば、トランジスタ70はオン状態となり、ノードINV_Lには“L”レベルが格納される。他方、バスLBUSが“H”レベル(Vclh−Vt)を維持していれば、トランジスタ70はカットオフ状態となる。従って、ノードINV_Lは“H”レベル(VDDSA)を保持し続ける。
このように、本例の場合には、XDLの反転データを保持するノードINV_XがバスDBUSに接続されているため、XDLからLDLへデータを転送する際には、第1実施形態において信号LTLが“H”レベルとされていたのとは逆に、信号LTIが“H”レベルとされる。つまり、XDLの保持する反転データが、LDLの反転データ保持ノードINV_Lに転送される。
なお、センスアンプユニットSAUからXDLにデータを転送する場合も同様である。XDLは、SDL、LDL、及びUDLと同様に、チップ内の占有面積削減のため、転送ゲートにはnチャネルMOSトランジスタ(トランジスタ91)が用いられる。従って、“H”レベルを転送する際には、転送データの電位はトランジスタ91の閾値分だけ低下する。よって、センスアンプユニットSAUからXDLにデータを転送する際には、まずXDLをプリチャージ(リセット)して、その後、DBUSのデータに応じてINV_Xを充放電させる。
より具体的には、まずXBUSからデータをXDLに強制的に入力し、INV_Xを“H”レベルとする。その後、DBUSの電位に応じてトランジスタ91がオンまたはオフする。
また、本例において、ステップS41を廃しても良い。この例は、第4実施形態で説明した方法を、XDLからLDLへのデータ転送に適用したものに相当する。
6.2 第2のデータ転送例
次に第2のデータ転送例につき、図26を用いて説明する。本例は、第3実施形態で説明した方法を、XDLからLDLへのデータ転送に適用したものである。処理の詳細は、図24に図17を適用したものであるので、フローチャートの図示は省略する。
次に第2のデータ転送例につき、図26を用いて説明する。本例は、第3実施形態で説明した方法を、XDLからLDLへのデータ転送に適用したものである。処理の詳細は、図24に図17を適用したものであるので、フローチャートの図示は省略する。
図26に示すように、第2のステップにおいて、図24で説明したステップS41と同様に、信号LPC及びDPCが“H”レベルとされる(時刻t4)。この電位は、第3実施形態で説明した通りVclaである。この結果、バスDBUS及びLBUSの電位は0Vから(Vcla−Vt)まで上昇する。
引き続き、第3実施形態におけるステップS20で説明したように、LDLによりバスDBUS及びLBUSがプリチャージされる。すなわち、信号LTIが“H”レベルとされる(時刻t7)。信号LTIの電位はVclhである。この結果、バスDBUS及びLBUSの電位は(Vcla−Vt)から(Vclh−Vt)まで上昇する。
その後は、第1のデータ転送例と同様に信号XTI及びLTIが“H”レベルとされる(時刻t6)。これらの電位は、それぞれVclm及びVcllである。
また、信号LPC及びDPCの電位をVclaとしても良い。この例は、第5実施形態に対応する。
また本例において、信号LPC及びDPCを“L”レベルで維持させても良い。この例は、第2実施形態で説明した方法を、XDLからLDLへのデータ転送に適用したものに相当する。
6.3 第3のデータ転送例
次に、第3のデータ転送例につき説明する。第1及び第2の例では、XDLからLDLへの単純なデータ転送について説明した。しかし、第1乃至第5実施形態は、ラッチ間における演算やデータ操作等にも使用出来る。第3のデータ転送例はこのような場合に関するもので、一例として、XDLの反転データのLDLへの転送動作に第3実施形態を適用する場合につき説明する。もちろん、第1、第2、第4、第5実施形態を適用することも可能である。
次に、第3のデータ転送例につき説明する。第1及び第2の例では、XDLからLDLへの単純なデータ転送について説明した。しかし、第1乃至第5実施形態は、ラッチ間における演算やデータ操作等にも使用出来る。第3のデータ転送例はこのような場合に関するもので、一例として、XDLの反転データのLDLへの転送動作に第3実施形態を適用する場合につき説明する。もちろん、第1、第2、第4、第5実施形態を適用することも可能である。
図27は、第3のデータ転送例に係る各種信号のタイミングチャートである。図示するように、第1のステップにおいて、信号LTIが“H”レベルとされ、LDLのノードLAT_Lが“H”レベル(VDDSA)とされる。
次に第2のステップにおいて、信号LPC及びDPCがVclaとされ、引き続き信号LTLがVclhとされて、バスDBUS及びLBUSの電位は(Vclh−Vt)までプリチャージされる。
その後、信号XTI及びLTLが“H”レベルとされる。それぞれの電位はVclm及びVcllである。この結果、XDLのノードINV_Xのデータ(反転データ)が、LDLのノードLAT_Lに転送される。
6.4 本実施形態に係る効果
以上のように、第1乃至第5実施形態に係るデータ転送方法は、種々のデータ転送及びデータ操作に適用出来る。
以上のように、第1乃至第5実施形態に係るデータ転送方法は、種々のデータ転送及びデータ操作に適用出来る。
7.第7実施形態
次に、第7実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第1乃至第6実施形態におけるセンスアンプユニットSAUの制御信号を生成するための構成に関するものである。以下では、第1乃至第6実施形態と異なる点についてのみ説明する。
次に、第7実施形態に係る半導体記憶装置について説明する。本実施形態は、上記第1乃至第6実施形態におけるセンスアンプユニットSAUの制御信号を生成するための構成に関するものである。以下では、第1乃至第6実施形態と異なる点についてのみ説明する。
7.1 制御信号生成回路の構成について
図28は、本実施形態に係る制御信号生成回路の回路図である。図28では、特に制御信号LPCやDPC等として与えられる電圧Vclh、Vclm、及びVcllを発生する構成につき詳細に示している。
図28は、本実施形態に係る制御信号生成回路の回路図である。図28では、特に制御信号LPCやDPC等として与えられる電圧Vclh、Vclm、及びVcllを発生する構成につき詳細に示している。
図示するように制御信号生成回路300は、電圧発生回路100及びセンスアンプ制御回路200を備えている。
電圧発生回路100は、可変抵抗素子101〜103、比較器104〜106、電流源108、及び低耐圧のnチャネルMOSトランジスタ109を備えている。
トランジスタ109は、センスアンプユニットSAU内のトランジスタと同じサイズを有する。より具体的には、各ラッチ回路SDL、LDL、UDLの転送トランジスタ60、61、70、71、80、81、あるいはトランジスタ31等と同じ閾値電圧を有し、あるいは同じゲート幅を有する。そしてトランジスタ109は、ゲートとドレインとがノードN1に接続されて、ダイオードと等価な機能を果たす。
抵抗素子101は、一端がトランジスタ109のソースに接続され、他端が接地されている。抵抗素子102はノードN1とノードN2との間に接続され、抵抗素子103はノードN2とノードN3との間に接続されている。抵抗素子101〜103の抵抗値は、それぞれ適切な電圧Vclh、Vclm、及びVcllが得られるよう、例えば制御回路14によって制御される。電流源108は、ノードN3に参照電流Irefを供給する。
比較器104は、ノードN1に接続された反転入力端子と、出力端子に接続された非反転入力端子とを有し、ノードN1の電位Vcll_preに等しい電圧Vcllを出力する。比較器105は、ノードN2に接続された反転入力端子と、出力端子に接続された非反転入力端子とを有し、ノードN2の電位Vclm_preに等しい電圧Vclmを出力する。比較器106は、ノードN3に接続された反転入力端子と、出力端子に接続された非反転入力端子とを有し、ノードN3の電位Vclh_preに等しい電圧Vclhを出力する。
センスアンプ制御回路200は、電圧発生回路100から電圧Vclh、Vclm、及びVcllを受信し、また制御回路14から制御信号を受信する。そして、制御回路14からの制御信号に基づいて、センスアンプユニットSAUを制御するための種々の信号SLL、SLI、STL、STI、LLL、LLI、LTL、LTI、ULL、ULI、UTL、UTI、LPC、DPC、BLS、BLC、BLX、XXL、HLL、STB、BLQ、LSL等を生成する。
なお、制御信号生成回路300が制御回路14の一部であっても良い。この場合、制御回路14内における制御部が、センスアンプ制御回路200に制御信号を供給して、センスアンプユニットの動作を制御する。
7.2 本実施形態に係る効果
本実施形態によれば、センスアンプユニットSAUにおいて使用される電圧Vclh、Vclm、及びVcllは、センスアンプユニットSAU内のトランジスタと同じサイズのトランジスタ109に基づいて生成される。言い換えれば、センスアンプユニットSAUにおけるトランジスタの閾値ばらつきをモニタしながら電圧Vclh、Vclm、及びVcllを生成出来る。従って、トランジスタの温度依存性や閾値ばらつき等の影響を、電圧Vclh、Vclm、及びVcllに反映させることが出来る。
本実施形態によれば、センスアンプユニットSAUにおいて使用される電圧Vclh、Vclm、及びVcllは、センスアンプユニットSAU内のトランジスタと同じサイズのトランジスタ109に基づいて生成される。言い換えれば、センスアンプユニットSAUにおけるトランジスタの閾値ばらつきをモニタしながら電圧Vclh、Vclm、及びVcllを生成出来る。従って、トランジスタの温度依存性や閾値ばらつき等の影響を、電圧Vclh、Vclm、及びVcllに反映させることが出来る。
8.変形例等
上記のように、第1乃至第7実施形態に係る半導体記憶装置は、半導体基板上に積層された複数のメモリセルを備えたメモリセルアレイと、前記メモリセルの読み出しデータまたは書き込みデータを保持可能なセンスアンプとを具備する。センスアンプは、データを転送可能なバス(LBUS, or DBUS)と、第1トランジスタ(Tr60)を備えた第1ラッチ回路(SDL)と、第2トランジスタ(Tr70)を備えた第2ラッチ回路(LDL)と、バスをプリチャージする第3トランジスタ(31 or 21)とを備える。第1ラッチ回路(SDL)は、第1データ保持部(Tr62,64)と、第1データ保持部とバスとを接続する第1トランジスタ(Tr60)とを備える。第2ラッチ回路(LDL)は、第2データ保持部(Tr72,74)と、第2データ保持部とバスとを接続する第2トランジスタ(Tr70)とを備える。第3トランジスタ(31 or 21)は、バスをプリチャージする。第1ラッチ回路(SDL)から第2ラッチ回路(LDL)にデータを転送する際、第3トランジスタ(30)は、第1、第2ラッチ回路の電源電圧(VDDSA)よりも低い第1電圧(Vclh or Vcla)がゲートに印加されることにより、バス(LBUS)を電源電圧よりも低い電位(Vclh-Vt or Vcla-Vt)にプリチャージする(t4-t5 in FIG.8)。更に、バスがプリチャージされた後、第1、第2トランジスタ(60, 70)のゲートに、電源電圧よりも低い第2、第3電圧(STL=Vclm, LTL=Vcll)がそれぞれ印加される(t6 in FIG.8)。
上記のように、第1乃至第7実施形態に係る半導体記憶装置は、半導体基板上に積層された複数のメモリセルを備えたメモリセルアレイと、前記メモリセルの読み出しデータまたは書き込みデータを保持可能なセンスアンプとを具備する。センスアンプは、データを転送可能なバス(LBUS, or DBUS)と、第1トランジスタ(Tr60)を備えた第1ラッチ回路(SDL)と、第2トランジスタ(Tr70)を備えた第2ラッチ回路(LDL)と、バスをプリチャージする第3トランジスタ(31 or 21)とを備える。第1ラッチ回路(SDL)は、第1データ保持部(Tr62,64)と、第1データ保持部とバスとを接続する第1トランジスタ(Tr60)とを備える。第2ラッチ回路(LDL)は、第2データ保持部(Tr72,74)と、第2データ保持部とバスとを接続する第2トランジスタ(Tr70)とを備える。第3トランジスタ(31 or 21)は、バスをプリチャージする。第1ラッチ回路(SDL)から第2ラッチ回路(LDL)にデータを転送する際、第3トランジスタ(30)は、第1、第2ラッチ回路の電源電圧(VDDSA)よりも低い第1電圧(Vclh or Vcla)がゲートに印加されることにより、バス(LBUS)を電源電圧よりも低い電位(Vclh-Vt or Vcla-Vt)にプリチャージする(t4-t5 in FIG.8)。更に、バスがプリチャージされた後、第1、第2トランジスタ(60, 70)のゲートに、電源電圧よりも低い第2、第3電圧(STL=Vclm, LTL=Vcll)がそれぞれ印加される(t6 in FIG.8)。
あるいは、第3トランジスタが廃され、第1ラッチ回路(SDL)から第2ラッチ回路(LDL)にデータを転送する際、第2ラッチ回路(LDL)は、第1、第2ラッチ回路の電源電圧(VDDSA)よりも低い第1電圧(LTL=Vclh or Vcla)が第2トランジスタ(Tr70)のゲートに印加されることにより、バス(LBUS)を、電源電圧(VDDSA)よりも低い電位(Vclh-Vt)にプリチャージする(t7-t8 in FIG12)。更に、バスがプリチャージされた後、第1、第2トランジスタ(60, 70)のゲートに、電源電圧よりも低い第2、第3電圧(STL=Vclm, LTL=Vcll)がそれぞれ印加される(t6 in FIG.8)。
あるいは、第1ラッチ回路(SDL)から第2ラッチ回路(LDL)にデータを転送する際、バスがプリチャージされることなく、第1、第2トランジスタ(60, 70)のゲートに、電源電圧よりも低い第1、第2電圧(STL=Vclh, LTL=Vcll)がそれぞれ印加される(t6 in FIG.21)。
本構成によれば、半導体記憶装置の動作信頼性を向上出来る。なお、実施形態は上記説明した形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、上記第1乃至第5実施形態では、SDLからLDLへのデータ転送を例に説明したが、同様の方法はSDL、LDL、及びUDL相互間のあらゆるデータ転送に適用出来る。また第6実施形態では、XDLからLDLへのデータ転送を例に説明したが、同様の方法は、SDL、LDL、及びUDLと、XDL相互間のあらゆるデータ転送に適用出来る。
また上記実施形態は、NAND型フラッシュメモリにおけるデータラッチ間の転送に限定されるものでは無く、転送ゲートを有するラッチ回路間のデータ転送に広く適用出来る。図29は、2つのラッチ回路L1、L2がデータバスB1で接続された構成を示す回路図である。
図示するように、ラッチ回路L1はnチャネルの転送トランジスタTr1によってバスB1に接続され、ラッチ回路L2はnチャネルの転送トランジスタTr2によってバスB1に接続される。そして、バスB1は、ラッチ回路L1、L2の電源電圧と同じ電源電圧VDDSAによって駆動される。このような構成において、ラッチ回路L1からL2へのデータ転送を仮定する。
この場合、転送先ラッチL2には“H”レベルがセットされ、その入力ノードIN2は“H”レベルでフローティングの状態とされる。そしてバスB1はVDDSAにプリチャージされる。その後、ラッチ回路L1からL2にデータが転送される。データ転送は、以下のようにして行われる。すなわち、
・“H”レベルを転送する場合:バスB1は“H”レベル(VDDSA)を維持し、転送トランジスタTr2(Tr1も)はオフ状態であるので、ラッチ回路L2は“H”を保持し続ける。
・“H”レベルを転送する場合:バスB1は“H”レベル(VDDSA)を維持し、転送トランジスタTr2(Tr1も)はオフ状態であるので、ラッチ回路L2は“H”を保持し続ける。
・“L”レベルを転送する場合:バスB1は“L”レベル(0V)に低下し、転送トランジスタTr2がオン状態となるので、ラッチ回路L1の保持データは“H”レベルから“L”レベルに遷移する(IN2=“L”)。
このようなラッチ回路間のデータ転送に対して、上記実施形態は広く適用出来る。すなわち、図30に示すように、バス駆動電圧をVDDSAからV1(実施形態で説明した(Vclh−Vt)に相当)に低下させる。これにより、消費電力を低減出来る。なお、ラッチ回路L1、L2の電源電圧はVDDSAのままである。
但し、単純にバス駆動電圧を下げただけであると、ラッチ回路L1が“H”レベルを転送する場合において、バス駆動電圧と転送トランジスタTr2のゲート電位G2によっては、オフ状態にあるべき転送トランジスタTr2がオン状態となるおそれがある。その結果、ラッチ回路L2の保持データは“H”レベルから“L”レベルに変化する。つまり、ラッチ回路L2の保持データが破壊される。この問題はラッチ回路L1においても同様である。
これを防止するため、上記実施形態で説明したように、転送トランジスタTr2のゲート電位も、ラッチ回路L2の電源電圧VDDSAよりも低く設定される(図8のLTL=Vcllに相当)。これは、転送元ラッチ回路L1でも同様である。すなわち、転送トランジスタTr1のゲート電位も、ラッチ回路L1の電源電圧VDDSAよりも低く設定される(図8のSTL=Vclmに相当)。
これにより、ラッチ回路の動作安定性を維持しつつ、消費電力を低減出来る。
これにより、ラッチ回路の動作安定性を維持しつつ、消費電力を低減出来る。
また上記実施形態では、半導体記憶装置として三次元積層型のNAND型フラッシュメモリを例に挙げて説明した。三次元の積層構造は特に所定の構造に限定されるものでは無く、図2に示す回路に等価な構成であれば良い。例えば、半導体基板の鉛直方向にトランジスタMT0〜MT7が積み重なる構成であっても良いし、あるいはトランジスタMT0〜MT8の直列接続が、半導体基板上方にU字型に配列される構成であっても良い。また上記実施形態は、三次元積層型に限られず、半導体基板の平面内にメモリセルが二次元的に配列された従来型のNAND型フラッシュメモリ等にも適用出来る。
更に、図2に示したメモリセルアレイは、図31のような構成としても良い。図31はブロックBLK0の回路図であり、その他のブロックBLKも同様の構成を有し得る。図示するように、ワード線WL0〜WL3、ワード線WL0に隣接するダミーワード線WLDD、バックゲート線BG、偶数番目のセレクトゲート線SGD0、SGD2、及び奇数番目のセレクトゲート線SGS1、SGS3は、メモリセルアレイ10の一端側に引き出される。これに対してワード線WL4〜WL7、ワード線WL7に隣接するダミーワード線WLDS、偶数番目のセレクトゲート線SGS0、SGS2、及び奇数番目のセレクトゲート線SGD1、SGD3は、メモリセルアレイの、前記一端側とは逆側の他端側に引き出される。このような構成としても良い。本構成において、例えばワード線WLを選択するロウデコーダを2つのロウデコーダに分割し、メモリセルアレイ10を挟んで対向するようにこれらを配置しても良い。そして、一方のロウデコーダによりセレクトゲート線SGD0、SGD2、SGS1、SGS3、ワード線WL0〜WL3、ダミーワード線WLDD、及びバックゲート線BGを選択し、他方のロウデコーダによりセレクトゲート線SGS0、SGS2、SGD1、SGD3、ワード線WL4〜WL7、及びダミーワード線WLDSを選択するようにしても良い。本構成によれば、ロウ系の周辺回路(ロウデコーダやロウドライバ)とメモリセルアレイ10との間の領域のセレクトゲート線やワード線等の配線の混雑を緩和出来る。
また、上記実施形態で説明した信号の電位はあくまで一例であり、その機能を果たすことが出来れば、上記説明した値に限定されるものではない。また、上記実施形態で説明したフローチャートは、可能な限りその処理の順序を入れ替えても良い。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
1…NAND型フラッシュメモリ、11…センスアンプモジュール、12…カラムセレクタ、13…入出力回路、14…制御回路、15…NANDストリング、20、30…プリチャージ回路、22…ディスチャージ回路、32…スイッチ
Claims (10)
- 半導体基板上に積層された複数のメモリセルを備えたメモリセルアレイと、
前記メモリセルの読み出しデータまたは書き込みデータを保持可能なセンスアンプと
を具備し、前記センスアンプは、
データを転送可能なバスと、
第1データ保持部と、前記第1データ保持部と前記バスとを接続する第1トランジスタとを備えた第1ラッチ回路と、
第2データ保持部と、前記第2データ保持部と前記バスとを接続する第2トランジスタとを備えた第2ラッチ回路と、
前記バスをプリチャージする第3トランジスタと
を備え、前記第1ラッチ回路から前記第2ラッチ回路にデータを転送する際、前記第3トランジスタは、前記第1、第2ラッチ回路の電源電圧よりも低い第1電圧がゲートに印加されることにより、前記バスを前記電源電圧よりも低い電位にプリチャージし、
前記バスがプリチャージされた後、前記第1、第2トランジスタのゲートに、前記電源電圧よりも低い第2、第3電圧がそれぞれ印加される
ことを特徴とする半導体記憶装置。 - 半導体基板上に積層された複数のメモリセルを備えたメモリセルアレイと、
前記メモリセルの読み出しデータまたは書き込みデータを保持可能なセンスアンプと
を具備し、前記センスアンプは、
データを転送可能なバスと、
第1データ保持部と、前記第1データ保持部と前記バスとを接続する第1トランジスタとを備えた第1ラッチ回路と、
第2データ保持部と、前記第2データ保持部と前記バスとを接続する第2トランジスタとを備えた第2ラッチ回路と
を備え、前記第1ラッチ回路から前記第2ラッチ回路にデータを転送する際、前記第2ラッチ回路は、前記第1、第2ラッチ回路の電源電圧よりも低い第1電圧が前記第2トランジスタのゲートに印加されることにより、前記バスを、前記電源電圧よりも低い電位にプリチャージし、
前記バスがプリチャージされた後、前記第1、第2トランジスタのゲートに、前記電源電圧よりも低い第2、第3電圧がそれぞれ印加される
ことを特徴とする半導体記憶装置。 - 前記第2ラッチ回路は、前記第1電圧よりも低い第4電圧が前記第2トランジスタのゲートに印加されることにより、前記バスをプリチャージし、
その後、前記第3トランジスタが前記バスをプリチャージする
ことを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置。 - 前記第1電圧の値は、前記第2電圧以上であり、前記第2電圧の値は前記第3電圧以上であり、
前記第1電圧の値は、前記第3電圧よりも大きい
ことを特徴とする請求項1乃至3いずれか1項記載の半導体記憶装置。 - 前記第1電圧の値は、前記第2電圧以下であり、
前記第2電圧の値は、前記第3電圧よりも大きい
ことを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置。 - 半導体基板上に積層された複数のメモリセルを備えたメモリセルアレイと、
前記メモリセルの読み出しデータまたは書き込みデータを保持可能なセンスアンプと
を具備し、前記センスアンプは、
データを転送可能なバスと、
第1データ保持部と、前記第1データ保持部と前記バスとを接続する第1トランジスタとを備えた第1ラッチ回路と、
第2データ保持部と、前記第2データ保持部と前記バスとを接続する第2トランジスタとを備えた第2ラッチ回路と
を備え、前記第1ラッチ回路から前記第2ラッチ回路にデータを転送する際、前記バスがプリチャージされることなく、前記第1、第2トランジスタのゲートに、前記第1、第2ラッチ回路の電源電圧よりも低い第1、第2電圧がそれぞれ印加される
ことを特徴とする半導体記憶装置。 - 前記第1、第2トランジスタは、nチャネルMOSトランジスタであり、
前記第1ラッチ回路から前記第2ラッチ回路にデータを転送する際、前記バスをプリチャージする前に、前記第2ラッチ回路の前記第2データ保持部はリセットされ、更にフローティングの状態とされる
ことを特徴とする請求項1乃至6いずれか1項記載の半導体記憶装置。 - 前記第1ラッチ回路から前記第2ラッチ回路にデータを転送する際、前記バスは論理“H”レベルにセットされ、前記第2データ保持部は論理“H”レベルでフローティングとされ、
前記第1ラッチ回路が“H”レベルを保持する際には、前記第1、第2トランジスタはカットオフ状態とされ、
前記第1ラッチ回路が“L”レベルを保持する際には、前記第1、第2トランジスタがオン状態とされて、前記バスがディスチャージされる
ことを特徴とする請求項1乃至7いずれか1項記載の半導体記憶装置。 - データの読み出し時において前記センスアンプは、前記メモリセルから読み出したデータを前記第1、第2ラッチ回路の少なくともいずれかに保持し、
データの書き込み時において前記センスアンプは、前記第1、第2ラッチ回路の少なくともいずれかに保持されたデータを前記メモリセルに書き込む
ことを特徴とする請求項1乃至8いずれか1項記載の半導体記憶装置。 - 前記第1電圧は、前記第2電圧よりも大きい
ことを特徴とする請求項6記載の半導体記憶装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013052396A JP2014179142A (ja) | 2013-03-14 | 2013-03-14 | 半導体記憶装置 |
US14/013,833 US9159439B2 (en) | 2013-03-14 | 2013-08-29 | Semiconductor memory device |
US14/846,381 US9472296B2 (en) | 2013-03-14 | 2015-09-04 | Semiconductor memory device including circuits with data holding capability and bus for data transmission |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013052396A JP2014179142A (ja) | 2013-03-14 | 2013-03-14 | 半導体記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014179142A true JP2014179142A (ja) | 2014-09-25 |
Family
ID=51526496
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013052396A Pending JP2014179142A (ja) | 2013-03-14 | 2013-03-14 | 半導体記憶装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9159439B2 (ja) |
JP (1) | JP2014179142A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015032329A (ja) * | 2013-08-01 | 2015-02-16 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ |
CN106960687A (zh) * | 2015-12-18 | 2017-07-18 | 德州仪器公司 | 单次可编程存储器架构中的自锁存感测时序 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6659478B2 (ja) | 2016-06-17 | 2020-03-04 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR102181177B1 (ko) * | 2016-07-29 | 2020-11-20 | 웨스턴 디지털 테크놀로지스, 인코포레이티드 | 비휘발성 메모리를 위한 비-바이너리 인코딩 |
CN109791792B (zh) * | 2016-09-23 | 2023-08-22 | 铠侠股份有限公司 | 存储装置 |
US10366739B2 (en) | 2017-06-20 | 2019-07-30 | Sandisk Technologies Llc | State dependent sense circuits and sense operations for storage devices |
US10510383B2 (en) | 2017-10-03 | 2019-12-17 | Sandisk Technologies Llc | State dependent sense circuits and pre-charge operations for storage devices |
KR20190090268A (ko) * | 2018-01-24 | 2019-08-01 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 컨트롤러 및 이를 포함하는 메모리 시스템 |
JP2020027674A (ja) * | 2018-08-10 | 2020-02-20 | キオクシア株式会社 | 半導体メモリ |
US10636500B1 (en) * | 2018-12-20 | 2020-04-28 | Sandisk Technologies Llc | Reducing read disturb in two-tier memory device by modifying ramp up rate of word line voltages during channel discharge |
JP2020102290A (ja) * | 2018-12-21 | 2020-07-02 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
US11651800B2 (en) | 2021-06-22 | 2023-05-16 | Sandisk Technologies Llc | Sense amplifier mapping and control scheme for non-volatile memory |
US11798631B2 (en) | 2021-10-21 | 2023-10-24 | Sandisk Technologies Llc | Transfer latch tiers |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6139296A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-25 | Nec Corp | スタテイツクram |
JPS6258489A (ja) * | 1985-09-06 | 1987-03-14 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | メモリ回路 |
JP2011065690A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及び半導体装置を含む情報処理システム |
JP2012216266A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP2012216271A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-11-08 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及び半導体装置を含む情報処理システム |
JP2013009212A (ja) * | 2011-06-27 | 2013-01-10 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
JP2015056199A (ja) * | 2013-09-13 | 2015-03-23 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置およびデータ転送方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11288596A (ja) | 1998-03-31 | 1999-10-19 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
EP1310963B1 (en) | 2000-06-29 | 2006-12-27 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device |
US6580619B2 (en) | 2000-11-30 | 2003-06-17 | Intel Corporation | Multilayer reference plane in package devices |
US6442069B1 (en) * | 2000-12-29 | 2002-08-27 | Intel Corporation | Differential signal path for high speed data transmission in flash memory |
JP2003346491A (ja) | 2003-06-20 | 2003-12-05 | Hitachi Ltd | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP4721776B2 (ja) | 2004-07-13 | 2011-07-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP4515878B2 (ja) | 2004-10-06 | 2010-08-04 | 株式会社東芝 | フラッシュメモリ及びその書き込み・ベリファイ方法 |
JP4519612B2 (ja) | 2004-11-16 | 2010-08-04 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US7295485B2 (en) | 2005-07-12 | 2007-11-13 | Atmel Corporation | Memory architecture with advanced main-bitline partitioning circuitry for enhanced erase/program/verify operations |
JP5142692B2 (ja) | 2007-12-11 | 2013-02-13 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2009238874A (ja) | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Toshiba Corp | 半導体メモリ及びその製造方法 |
JP2009266944A (ja) | 2008-04-23 | 2009-11-12 | Toshiba Corp | 三次元積層不揮発性半導体メモリ |
JP4776666B2 (ja) | 2008-08-05 | 2011-09-21 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2011187794A (ja) | 2010-03-10 | 2011-09-22 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置及びその製造方法 |
JP2011198437A (ja) | 2010-03-23 | 2011-10-06 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2011233180A (ja) | 2010-04-23 | 2011-11-17 | Nihon Spansion Ltd | 不揮発性半導体メモリ装置及び不揮発性半導体メモリ装置のデータ書込み方法 |
-
2013
- 2013-03-14 JP JP2013052396A patent/JP2014179142A/ja active Pending
- 2013-08-29 US US14/013,833 patent/US9159439B2/en active Active
-
2015
- 2015-09-04 US US14/846,381 patent/US9472296B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6139296A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-25 | Nec Corp | スタテイツクram |
JPS6258489A (ja) * | 1985-09-06 | 1987-03-14 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | メモリ回路 |
JP2011065690A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及び半導体装置を含む情報処理システム |
JP2012216271A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-11-08 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及び半導体装置を含む情報処理システム |
JP2012216266A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP2013009212A (ja) * | 2011-06-27 | 2013-01-10 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
JP2015056199A (ja) * | 2013-09-13 | 2015-03-23 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置およびデータ転送方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015032329A (ja) * | 2013-08-01 | 2015-02-16 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ |
CN106960687A (zh) * | 2015-12-18 | 2017-07-18 | 德州仪器公司 | 单次可编程存储器架构中的自锁存感测时序 |
CN106960687B (zh) * | 2015-12-18 | 2022-05-10 | 德州仪器公司 | 单次可编程存储器架构中的自锁存感测时序 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9159439B2 (en) | 2015-10-13 |
US20140269093A1 (en) | 2014-09-18 |
US9472296B2 (en) | 2016-10-18 |
US20150380099A1 (en) | 2015-12-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2014179142A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP5667143B2 (ja) | 不揮発性半導体メモリ | |
US8503249B2 (en) | Semiconductor memory column decoder device and method | |
US8254168B2 (en) | Nonvolatile semiconductor memory device and write method for the same | |
US9087597B2 (en) | Semiconductor storage | |
TWI698885B (zh) | 半導體記憶裝置 | |
JP2012216266A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US10026484B2 (en) | High-speed readable semiconductor storage device | |
US9865358B2 (en) | Flash memory device and erase method thereof capable of reducing power consumption | |
JP2007310936A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2014175022A (ja) | 半導体記憶装置及びそのデータ書き込み方法 | |
JP2011060377A (ja) | 半導体記憶装置及びその書き込み制御方法 | |
JP2020194611A (ja) | 半導体記憶装置 | |
TW202025458A (zh) | 半導體記憶裝置 | |
US20230092551A1 (en) | Semiconductor storage device | |
JP5631436B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP5755596B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2010218604A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
JP6439026B1 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US10014064B2 (en) | Non-volatile semiconductor storage device | |
JP2013114711A (ja) | 電圧生成回路 | |
TWI816154B (zh) | 半導體記憶裝置 | |
US8374041B2 (en) | Transfer circuit, nonvolatile semiconductor device using the same, and transfer method of the same | |
JP2001291392A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
JP2020144966A (ja) | 半導体記憶装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150206 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150617 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150623 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20151020 |