JP2013539541A5 - - Google Patents

Claims (20)

1. ３次元座標系を有する座標測定装置であって、
   第１ポイントに光ビームを送るように構成された光源と、
   前記第１ポイントから反射して戻ってきた前記光ビームの一部を第１電気信号に変換するように構成された光学検出器と、
   前記座標測定装置から前記第１ポイントまでの第１距離を算出するように構成された第１処理装置であって、前記算出は、前記第１電気信号及び空気中の光の速度に少なくとも一部基づいて行われる、第１処理装置と、
   前記座標測定装置の本体内に一体化されるか、または、前記座標測定装置の本体の所定の場所に搭載されたプロジェクタであって、当該プロジェクタは、物体に可視光の２次元パターンを投影するように構成され、投影された可視光は、画像、データまたは情報を示し、第２処理装置から受信した命令に応答して前記２次元パターンを生成するように構成されたプログラム可能な画素のアレイを含む、プロジェクタと、
   前記光ビーム及び光の２次元パターンを第１軸の周りを第１角度だけ回転させるように構成されたビーム操作機構であって、前記光ビームを第２軸の周りを第２角度だけ回転させるように構成されている、ビーム操作機構と、
   前記第１角度を測定するように構成された第１角度変換器と、
   前記第２角度を測定するように構成された第２角度変換器と、を含む座標測定装置。
2. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記第１ポイントは、対象上にあり、前記対象の一部は、前記物体と接触している、座標測定装置。
3. 請求項２に記載の座標測定装置であって、前記対象は、再帰反射器を含む、座標測定装置。
4. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記第１ポイントは、前記物体上にある、座標測定装置。
5. 請求項１に記載の座標測定装置であって、さらに、
   前記光ビームを投影するように構成された第１光学系であって、第１光軸を有する第１光学系と、
   前記光の二次元パターンを投影するように構成された第２光学系であって、第２光軸を有する第２光学系と、を含む座標測定装置。
6. 請求項５に記載の座標測定装置であって、前記第１光軸及び第２光軸は、異なる、座標測定装置。
7. 請求項５に記載の座標測定装置であって、前記第１光学系及び第２光学系は、共通の光学素子を共有する、座標測定装置。
8. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記ビーム操作機構は、前記第１角度及び第２角度のうち少なくとも１つを１８０度以上回転させるように構成されている、座標測定装置。
9. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記第２処理装置からの命令は、前記第１距離に少なくとも一部基づいている、座標測定装置。
10. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記第２処理装置からの命令は、前記物体の前記座標測定装置に対する方向に少なくとも一部基づいている、座標測定装置。
11. 請求項１に記載の座標測定装置であって、さらに、ビームスプリッタを備え、前記光ビーム及び前記光の二次元パターンのうち１つは、前記ビームスプリッタに反射され、前記光ビーム及び前記光の二次元パターンのもう一方が、前記ビームスプリッタを透過する、座標測定装置。
12. 請求項１１に記載の座標測定装置であって、前記ビームスプリッタは、二色性ビームスプリッタである、座標測定装置。
13. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記ポイントの３次元座標が取得され、前記３次元座標は、前記第１距離、前記第１角度及び前記第２角度に少なくとも一部基づいている、座標測定装置。
14. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記第２処理装置は、さらに、前記物体の表面上に隠れた特徴を投影するように構成され、前記隠れた特徴は、前記物体の表面の裏側にある要素を表す、座標測定装置。
15. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記第２処理装置は、さらに、パターンを投影して前記物体の機械加工または前記物体への要素の取り付けをガイドするように構成されている、座標測定装置。
16. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記プロジェクタは、着色光を投影するように構成されている、座標測定装置。
17. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記第２処理装置は、さらに、等高線を投影するように構成されており、前記等高線は、モデルからの相対偏差の領域を示す、座標測定装置。
18. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記座標測定装置は、レーザ追跡装置、レーザスキャナ及びトータルステーションのうち１つである、座標測定装置。
19. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記プロジェクタの全ての画素は、同調して光を放出する、座標測定装置。
20. 請求項１に記載の座標測定装置であって、前記プロジェクタは、微小電気機械システム（ＭＥＭＳ）、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）及び反射型液晶（ＬＣＯＳ）素子のうち１つである、座標測定装置。