JP2004257927A - 3次元形状測定システムおよび3次元形状測定方法 - Google Patents
3次元形状測定システムおよび3次元形状測定方法 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】3次元形状測定装置による測定対象物の測定結果を固定座標系の座標に高精度で変換する。
【解決手段】複数のアーム23〜25を含む支持機構20は、その基端部にて基台10に固定され、その先端部に3次元形状測定装置30を回転可能に組み付けている。画像処理装置42は、プログラム処理によって次の変換処理を行う。支持機構20の先端部に対する3次元形状測定装置30の回転角に応じて変化する変換パラメータを生成し、3次元形状測定装置30による測定対象物の測定時に、前記変換パラメータを用いて、3次元形状測定装置30によって測定された測定部座標系の座標を支持機構20の先端部座標系の座標に変換する。さらに、この変換された座標を支持機構20の変位に応じて座標変換して、測定結果を固定座標系の座標で表す。
【選択図】 図1
【解決手段】複数のアーム23〜25を含む支持機構20は、その基端部にて基台10に固定され、その先端部に3次元形状測定装置30を回転可能に組み付けている。画像処理装置42は、プログラム処理によって次の変換処理を行う。支持機構20の先端部に対する3次元形状測定装置30の回転角に応じて変化する変換パラメータを生成し、3次元形状測定装置30による測定対象物の測定時に、前記変換パラメータを用いて、3次元形状測定装置30によって測定された測定部座標系の座標を支持機構20の先端部座標系の座標に変換する。さらに、この変換された座標を支持機構20の変位に応じて座標変換して、測定結果を固定座標系の座標で表す。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、互いに変位可能に連結した複数の支持部材からなる支持機構の先端部に物体の3次元形状を測定する測定装置を一軸線回りに回転可能に取り付けて、測定装置を所望位置に移動させて所望位置から測定対象物の3次元形状を測定できるようにした3次元形状測定システムおよび3次元形状測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種の装置は、例えば下記特許文献1に示されているように、回転コラムの上端部に水平アームを固定し、水平アームに水平方向に移動可能な水平移動部を組み付け、水平移動部に垂直方向に移動可能なZ軸移動部を組み付け、Z軸移動部の下端部に3次元形状を測定する測定装置を固定している。そして、測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標を、回転コラム、水平アームおよびZ軸移動部の移動量に応じて、回転コラムを設けた固定座標系の座標に変換している。
【0003】
また、下記特許文献2,3には、互いに変位可能に連結した複数のアームからなるアーム機構の先端部に作業用ツールを固定するとともに、アーム機構の先端部に3次元形状を測定する測定装置を固定し、測定装置による測定結果によって作業用ツールの位置を補正するようにしたロボットが示されている。そして、このロボットにおいて、測定装置によって測定された特定点を表す座標であって測定装置に関する座標系の座標をロボットに関する座標系の座標に変換して、測定装置に関する座標系とロボットに関する座標系(固定座標系)との関係を定めるようにしている。
【0004】
【特許文献1】
特開2000−131031号公報
【特許文献2】
特開平10−63317号公報
【特許文献2】
特開昭60−151711号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
これらの特許文献1〜3に記載された測定装置に関する座標系の座標を固定座標系の座標に変換する座標変換、すなわち回転コラム、水平アーム、Z軸移動部およびアームなど、複数の支持部材の移動量に応じた座標変換に用いる変換パラメータは常に一定である。したがって、複数の支持部材間の相対変位によって各支持部材の連結部を表す座標であって固定座標系の座標が変動すると、例えば回転変位する連結部に対応した支持部材の部分を表す座標であって固定座標系の座標が支持部材の回転時の偏心によって変動すると、正確な座標変換が行われない。
【0006】
特に、測定装置を複数の支持部材の先端部に回転可能に取り付けるようにした場合、取り付け位置の回転軸の調整は困難であり、同取り付け位置である支持部材の先端部を表す座標であって固定座標系の座標と、測定装置側の部材を表す座標であって固定座標系の座標との間には、測定装置の支持部材に対する回転により大きなずれ生じる。したがって、測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって測定装置に関する座標系の座標を、支持部材の先端部に関する座標系の座標に変換する座標変換において、測定装置の支持部材に対する回転に応じて大きな誤差を含み、測定対象物を表す座標であって固定座標系の座標の精度が低下するという問題がある。
【0007】
【発明の概略】
本発明は上記問題に対処するためになされたもので、その目的は、複数の支持部材を順次連結するとともに各連結部にて一方の支持部材に対して他方の支持部材を相対変位可能に構成した支持機構を有し、支持機構の基端部を固定するとともに支持機構の先端部に物体の3次元形状を測定する測定装置を一軸線回りに回転可能に取り付けて、測定装置を所望位置に移動させて所望位置から測定対象物の3次元形状を測定できるようにした3次元形状測定システムおよび3次元形状測定方法において、測定装置による測定対象物の測定結果を支持機構の基端部に関する座標系の座標に高精度で変換することにある。
【0008】
前記目的を達成するために、本発明の特徴は、測定装置に関する座標系の座標を支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための参照変換パラメータであって、支持機構の先端部に対する測定装置の回転角に応じて変化する参照変換パラメータを生成しておき、測定装置による測定対象物の測定時に回転角検出手段により検出された支持機構の先端部に対する測定装置の回転角に基づいて、前記生成した参照変換パラメータを用い、測定装置に関する座標系の座標を支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための前記検出された回転角に対応した第1変換パラメータを計算し、測定装置による測定対象物の測定時に相対変位量検出手段によって検出された支持機構の各連結部における一方の支持部材に対する他方の支持部材の相対変位量を用いて、支持機構の先端部に関する座標系の座標を支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するための第2変換パラメータを計算し、前記計算された第1変換パラメータおよび第2変換パラメータを用いて、測定装置によって測定された測定対象物の座標であって同測定装置に関する座標系の座標を、支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するようにしたことにある。
【0009】
この場合、例えば、前記参照変換パラメータの生成においては、予め決められた定点を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標、測定装置によって測定された定点を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標、および測定装置による定点の測定時に前記相対変位量検出手段によって検出された相対変位量を用いて、参照変換パラメータを、支持機構の先端部に対する測定装置の複数の異なる回転角ごとに計算し、複数の異なる回転角ごとに計算した参照変換パラメータを、測定装置による定点の測定時に回転角検出手段によって検出された回転角に対応させて記憶しておく。
【0010】
このように構成した本発明の特徴によれば、測定装置を回転可能に取り付けた支持機構の先端部において、偏心により、取り付け位置である支持機構の先端部を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標と、測定装置側の部材を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標との間に、支持機構の先端部に対する測定装置の回転によるずれが生じていても、測定装置に関する座標系の座標を支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための第1変換パラメータは、測定装置の回転位置を考慮した参照変換パラメータを用いて計算される。そして、この第1変換パラメータと、支持機構の先端部に関する座標系の座標を支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するための第2変換パラメータとを用いて、測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標が、支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換される。これにより、前記偏心に起因した誤差の影響が除去されて、測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標が高精度で計算されるようになる。
【0011】
また、本発明の他の特徴は、定点を測定対象物の測定前に測定対象空間内に置かれた基準物体によって規定されるようにしておき、前記参照変換パラメータの計算においては、支持機構の先端部に固定した触針を前記基準物体に接触させ、同接触時に相対変位量検出手段によって検出された相対変位量に基づいて、定点を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標を計算するようにしたことにある。
【0012】
この場合、例えば、基準物体を球体で構成し、前記参照変換パラメータの計算においては、基準物体の複数の異なる位置に触針を接触させ、各接触時に相対変位量検出手段によってそれぞれ検出された複数組の相対変位量に基づいて定点を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標を計算するとよい。
【0013】
この本発明の他の特徴によれば、触針を支持機構の先端部に固定して、触針を基準物体に接触させるだけで、定点を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標が自動的に計算される。したがって、作業者は、測定対象空間内に特別の定点を定めたり、測定対象物内に特別に定点を定めたりしなくてもよいので、簡単に定点の座標を特定できる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態について図面を用いて説明する。図1は、本発明の3次元形状測定システムの構成を示す概略図である。
【0015】
この3次元形状測定システムは、基台10上に固定して先端部を測定対象空間内を自由に変位させる支持機構20と、支持機構20の先端部に取り付けた3次元形状測定装置30とを備えている。支持機構20は、固定ポール21、回転ロッド22、第1アーム23、第2アーム24および第3アーム25からなる。
【0016】
固定ポール21は、円筒状に形成され、その下端にて基台10上に垂直に立設固定されている。回転ロッド22は、円柱状に形成され、その下端部にて固定ポール21に軸線回りに回転可能に支持されて、固定ポール21から上方に突出している。第1アーム23は、その基端に設けた連結部23aにて、回転ロッド22の先端に設けた連結部22aに、回転ロッド22の軸線方向に直交する軸線回りに回転可能に組み付けられている。第2アーム24は、その基端に設けた連結部24aにて、第1アーム23の先端に設けた連結部23bに、第1アーム23の軸線方向に直交する軸線回りに回転可能に組み付けられている。第3アーム25は、その基端に設けた連結部25aにて、第2アーム24の先端に設けた連結部24bに、第2アーム24の軸線方向に直交する軸線回りに回転可能に組み付けられている。
【0017】
3次元形状測定装置30は、図1および図2に示すように、固定部材31、接続ロッド32および組み付けナット33からなる取り付け部品を介して、第3アーム25の先端部に第3アーム25の軸線回りに回転可能に取り付けられるようになっている。固定部材31は、3次元形状測定装置30の方形状のハウジングの底面または側面に固定されている。接続ロッド32は、円柱状に形成され、その一端にて固定部材31に3次元形状測定装置30の背面に対して垂直に立設固定されている。
【0018】
接続ロッド32の他端部は、第3アーム25にその軸線方向に延設された円形の穴25bに同軸的に侵入して、軸線回りに摺動可能に第3アーム25の先端面に組み付けられるようになっている。接続ロッド32の中間外周面には環状突起部32aが一体的に形成され、環状突起部32aは、接続ロッド32の他端部の第3アーム25の穴25bへの侵入時に第3アーム25の先端面に当接してその侵入量が規定されるようになっている。組み付けナット33は、有底円筒状に形成されるとともに、底面に接続ロッド32の外径にほぼ等しい内径を有する貫通孔33aを有しており、同貫通孔33aにて環状突起部32aと固定部材31の間にて接続ロッド32の外周面上に摺動可能に組み付けられている。取り付けナット33は、その内周面上に形成した雌ねじ33bを備え、同雌ねじ33bと第3アーム25の先端部外周面上に形成した雄ねじ25cとの螺合により、接続ロッド32を第3アーム25の先端部に第3アーム25の軸線回りに回転可能に組み付ける。これにより、3次元形状測定装置30は第3アーム25の先端部に回転可能かつ取り外し可能に取り付けられるようになっている。
【0019】
また、支持機構20内には、回転角センサ26a,26b,26c,26d,26eが設けられている。回転角センサ26aは、固定ポール21内に組み込まれて、固定ポール21に対する回転ロッド22の軸線回りの回転角を検出する。回転角センサ26bは、第1アーム23の連結部23a内に組み込まれて、回転ロッド22の連結部22aに対する第1アーム23の連結部23aにおける一軸線回りの回転角を検出する。回転角センサ26cは、第2アーム24の連結部24a内に組み込まれて、第1アーム23の連結部23aに対する第2アーム24の連結部24aにおける一軸線回りの回転角を検出する。回転角センサ26dは、第3アーム25の連結部25a内に組み込まれて、第2アーム24の連結部24bに対する第3アーム25の連結部25aにおける一軸線回りの回転角を検出する。回転角センサ26eは、第3アーム25の先端部内に組み込まれて、第3アーム25に対する3次元形状測定装置30の第3アーム25における一軸線回りの回転角、すなわち3次元形状測定装置30の第3アーム25の先端部に対する回転角を検出する。
【0020】
3次元形状測定装置30は、その正面側に位置する物体の3次元表面形状を測定するとともに同測定した3次元表面形状を表す情報を出力するものであり、例えば、レーザ光を用いて3角測量法に従って物体の3次元表面形状を測定するものである。
【0021】
この3次元形状測定装置30においては、レーザ光源から物体に向けて出射されるレーザ光の進行方向にほぼ垂直な仮想平面を想定するとともに、同仮想平面上にて互いに直交するX軸方向およびY軸方向に沿って分割した多数の微小エリアを想定する。そして、3次元形状測定装置30は、前記多数の微小エリアにレーザ光を順次照射し、物体からの反射光によって前記微小エリアが規定する物体表面までの距離をZ軸方向距離として順次検出して、物体の表面を微小エリアずつに分割した各分割エリア位置を表すX,Y,Z座標に関する情報を得て、同3次元形状測定装置に面した物体表面の形状を測定するものである。
【0022】
したがって、この3次元形状測定装置30は、出射レーザ光の向きをX軸方向に変化させるX軸方向走査器と、出射レーザ光の向きをY軸方向に変化させるY軸方向走査器と、物体表面にて反射された反射レーザ光を受光して物体表面までの距離を検出する距離検出器とを備えている。X軸方向走査器およびY軸方向走査器としては、レーザ光源からの出射レーザ光の光路をX軸方向およびY軸方向に独立に変化させ得る機構であればよく、例えばレーザ光源自体をX軸方向およびY軸方向の軸線回りに電動モータによって回転させたり、出射レーザ光の光路に設けられてその方向を変更するガルバノミラーをX軸方向およびY軸方向の軸線回りに電動モータによって回転させる機構を利用できる。距離検出器としては、前記出射レーザ光の光路に追従して回転し、物体表面にて反射された反射レーザ光を集光する結像レンズおよび同集光したレーザ光を受光するCCDなどの複数の受光素子を一列に配置させたラインセンサからなり、ラインセンサによる反射レーザ光の受光位置によって物体表面までの距離を検出する機構を利用できる。
【0023】
したがって、このような3次元形状測定装置は、物体の表面を微小エリアずつに分割した各分割エリア位置を表すX,Y,Z座標に関する情報として、X軸方向走査器による出射レーザ光の基準方向に対するX軸方向への傾きθx、Y軸方向走査器による出射レーザ光の基準方向に対するY軸方向への傾きθy、および距離検出器による物体表面までの距離Lzとが、前記仮想したX軸方向およびY軸方向に沿って分割した多数の微小エリアごとに出力される。より具体的には、X軸およびY軸方向への傾きθx,θyは、電動モータの基準位置からの回転角である。また、物体表面までの距離Lzは、ラインセンサにおける反射レーザ光の受光位置である。なお、前述した3次元形状測定装置30はその一例を示すもので、レーザ光に代えてミリ波、超音波などを使用したものなど、いかなる3次元形状測定装置をも利用できる。
【0024】
この3次元形状測定装置30には、コントローラ41および画像処理装置42が接続されている。コントローラ41は、複数の操作子を含むキーボードなどからなる入力装置43からの指示にしたがって、3次元形状測定装置30の作動を制御する。また、コントローラ41は、入力装置43からの指示にしたがって画像処理装置42の作動を制御するとともに、同入力装置43にて入力されたデータを画像処理装置42に供給する。
【0025】
画像処理装置42は、コンピュータ装置によって構成されて図3〜5のプログラムの実行により、回転角センサ26a〜26eによって検出された回転角および3次元形状測定装置30からの3次元画像に関する情報を入力して、測定対象空間内に位置する物体の3次元画像を任意の方向から見て表示可能な3次元画像データを生成する。この画像処理装置42には、表示装置44が接続されている。表示装置44は、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ、CRTディスプレイなどを備えており、画像処理装置42から3次元画像データに基づいて測定対象空間内に位置する物体の3次元画像を表示する。また、画像処理装置42のメモリ装置内には、図6に示すように、3次元形状測定装置30の第3アーム25の先端部に対する種々の回転角に対して、3次元形状測定装置30に関する座標系の座標を第3アーム25の先端部に関する座標系の座標に変換するための複数組の変換パラメータを記憶する変換テーブルを格納するための記憶エリアが用意されている。
【0026】
以下、上記のように構成した3次元形状測定システムの動作について説明する。ユーザは、図7に示すように、第3アーム25の雄ねじ25cに、先端を尖らせて形成した触針50の基部51を螺着固定する。次に、ユーザは、基台10上に所定厚さの円形プレート60を置き、同円形プレート60上の適当な位置に球体61,62,63を配置する。これらの球体61,62,63は測定対象空間内の定点を定めるための基準物体として機能する。なお、この触針50においては、基部51の所定位置に対する先端の位置はユーザにより認識されており、画像処理装置42のメモリ装置に予め記憶される。球体61,62,63は、予め用意された真球体である。さらに、固定ポール21、回転ロッド22および第1〜第3アーム23〜25の長さもユーザに認識されており、画像処理装置42のメモリ装置に予め記憶される。
【0027】
前記準備の終了後、入力装置43を操作して、図3の触針測定プログラムを画像処理装置42に実行させる。そして、ユーザは、球体61の外表面の異なる4点に触針50の先端を接触させ、各接触ごとに入力装置43を操作することにより触針50の球体61に対する接触を入力する。画像処理装置42は、触針測定プログラムをステップS10にて開始しており、前記接触の入力により、ステップS12にて、触針50の球体61への接触時に、回転角センサ26a〜26dから検出回転角をそれぞれ入力する。
【0028】
そして、これらの入力した検出回転角のセットに加えて、固定ポール21、回転ロッド22、第1〜第3アーム23〜25および触針50の長さを用いて、触針50の球体61への接触点を表す座標であって固定座標系の座標を計算する。固定座標系とは、基台10に関する座標系であって、本実施形態では固定ポール21の基台10への固定部における予め決めた点を原点とするX−Y−Zの3次元座標である。このような固定座標系の座標の計算を各接触点ごとに行って、4つの接触点にそれぞれ対応した4組の座標データを一時的に記憶しておく。
【0029】
前記ステップS12の処理後、ステップS14にて球体61の中心位置を表す座標であって固定座標系の座標(以下、中心座標(x1”,y1”,z1”)という)を、前記計算した4組の座標データを用いて計算する。この計算においては、球体の外表面を表す下記数1の方程式のX,Y,Zに、前記4組の座標データを代入することにより、球体61の中心位置を表す座標(x1”,y1”,z1”)を計算する。なお、a,b,cは球体の中心位置を表すX,Y,Z座標であり、dは球体の半径である。
【0030】
【数1】
(X−a)2+(Y−b)2+(Z−c)2−d2=0
【0031】
次に、ステップS16にて、前記計算した中心座標(x1”,y1”,z1”)を球体61の定点を表す座標として記憶しておく。そして、ステップS18にて、この触針測定プログラムの実行を終了する。このような触針50の球体61への接触および触針測定プログラムの実行を、球体62,63に対しても行う。そして、球体62の中心座標(x2”,y2”,z2”)および球体63の中心座標(x3”,y3”,z3”)を記憶しておく。
【0032】
なお、本実施形態では、一つの球体に対して触針50を4箇所接触させるようにしたが、5箇所以上の接触を行って、補正を含む高精度の中心座標の計算を行うようにしてもよい。また、各球体の半径dが既知である場合には、接触点を3点にしても、球体61,62,63の中心座標を求めることができる。
【0033】
次に、ユーザは、図8に示すように、第3アーム25の先端部に3次元形状測定装置30を第3アーム25の軸線回りに回転可能に組付ける。そして、3次元形状測定装置30を円形プレート60の円形状側面とほぼ平行な円形状に回転させるために、3次元形状測定装置30をガイド装置70に組付ける。ガイド装置70は、ガイド部71、測定装置取り付け部72および連結ロッド73からなる。ガイド部71は方形状に形成されて、その内側下部分にて円形プレート60の外側面および上面に当接する摺動面を有するように構成されている。測定装置取り付け部72は、3次元形状測定装置30を固定して、ガイド部71を円形プレート60の外側面に沿って移動させた際に、3次元形状測定装置30を図示矢印方向に沿って円形状かつガイド装置70と一体的に移動させる。連結ロッド73は、ガイド部71と測定装置取り付け部72を連結するものである。
【0034】
前記のように、ガイド装置70のガイド部71を円形プレート60の外側面および上面に当接させるとともに、測定装置取り付け部72に3次元形状測定装置30を取り付けた後、図4の変換テーブル作成プログラムを画像処理装置42に実行させる。そして、ユーザは、入力装置43を操作することによりコントローラ41を介して、3次元形状測定装置30に対して円形プレート60上の球体61,62,63の3次元形状の測定開始を指示する。これに応答して、3次元形状測定装置30は、球体61,62,63の3次元形状の測定を開始する。
【0035】
一方、画像処理装置42は、3次元形状測定装置30による球体61,62,63の3次元形状の測定中、前記変換テーブル作成プログラムの実行をステップS20にて開始して、ステップS22にて支持機構20内の回転角センサ26a〜26eから検出回転角をそれぞれ入力する。
【0036】
そして、前記ステップS22の処理後、ステップS24にて、3次元形状測定装置30による測定終了を待って、球体61,62,63の各表面形状を表す情報を入力する。すなわち、球体61,62,63の表面を微小エリアずつに分割した各分割エリア位置を表すX−Y−Z座標に関する情報(具体的には、傾きθx,θyおよび距離Lz)をそれぞれ入力する。そして、同ステップS24にて、前記入力した3次元形状測定装置30からのX−Y−Z座標に関する情報に基づいて、球体61,62,63の3次元表面形状を表す立体形状データ群からなる3次元画像データを計算する。この場合の3次元画像データは、3次元形状測定装置30に関する座標系(以下、この座標系を測定部座標系という)の座標であって、例えば3次元形状測定装置30の特定点を原点とするX−Y−Z座標である。
【0037】
次に、画像処理装置42は、ステップS26にて、前記計算した球体61,62,63の外表面位置を表す3次元画像データを、上記数1の方程式のX,Y,Zに適用して、球体61,62,63を特定するとともに、球体61,62,63の各中心座標(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)、(x3,y3,z3)を計算する。なお、球体61,62,63の区別においては、前記入力した回転角センサ26a〜26eによる検出回転角を用いる。
【0038】
次に、画像処理装置42は、ステップS28にて、前記入力した回転角センサ26a〜26eによる検出回転角に加えて、固定ポール21、回転ロッド22および第1〜第3アーム23〜25の長さを用いて、第3アーム25の先端部の予め決められた位置を表す座標であって固定座標系に関する座標(xd,yd,zd)を計算する。なお、この第3アーム25の先端部の予め決められた位置とは、詳しくは接続ロッド32側の一点すなわち第3アーム25に対して軸線回りに回転する点を示す。この座標(xd,yd,zd)を原点とするX−Y−Z座標系を、以降、アーム座標系という。また、このステップS28においては、前記入力した回転角センサ26a〜26eによる検出回転角を用いて、アーム座標系のX軸、Y軸およびZ軸回りの回転角α,β,γも計算する。
【0039】
次に、画像処理装置42は、ステップS30にて、前記図3の触針測定プログラムの実行時に記憶しておいた球体61,62,63の各中心座標であって固定座標系の各中心座標(x1”,y1”,z1”)、(x2”,y2”,z2”)、(x3”,y3”,z3”)と、前記ステップS28の処理によって計算した固定座標系におけるアーム座標系の原点座標(xd,yd,zd)と、同ステップS28の処理によって計算した固定座標系に対するアーム座標系の各座標軸X,Y,Zの回転角α,β,γとを下記数2及び数3に代入して、球体61,62,63の各中心座標であってアーム座標系の各中心座標(x1’,y1’,z1’)、(x2’,y2’,z2’)、(x3’,y3’,z3’)を計算する。
【0040】
【数2】
【0041】
【数3】
【0042】
上記数2および数3は、X−Y−Z座標からなる第1座標系における一点の座標(x,y,z)を、同第1座標系をX軸、Y軸およびZ軸回りにそれぞれα,β,γだけ回転させるとともに、同第1座標系の原点をX軸方向、Y軸方向およびZ軸方向にそれぞれa,b,cだけ移動させた第2座標系における同一点の座標(x’,y’,z’)との関係を示している。そして、前記ステップS30の計算においては、数2中の座標値x’,y’,z’が、球体61,62,63の中心座標であって固定座標系の中心座標(x1”,y1”,z1”)、(x2”,y2”,z2”)、(x3”,y3”,z3”)の各X,Y,Z座標値にそれぞれ対応する。また、数3中の座標値x,y,zが、球体61,62,63の中心座標であってアーム座標系の中心座標(x1’,y1’,z1’)、(x2’,y2’,z2’)、(x3’,y3’,z3’)の各X,Y,Z座標値にそれぞれ対応する。なお、前記数2中の値a,b,cは前記ステップS28にて計算したアーム座標系の原点座標(xd,yd,zd)に対応し、かつ前記数2中のα,β,γは同ステップS28にて計算した回転角α,β,γに相当する。
【0043】
前記ステップS30の処理後、ステップS32にて、ステップS26の処理によって計算した測定部座標系の球体61,62,63の各中心座標(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)、(x3,y3,z3)と、ステップS30の処理によって計算したアーム座標系の球体61,62,63の各中心座標(x1’,y1’,z1’)、(x2’,y2’,z2’)、(x3’,y3’,z3’)とを用いて、測定部座標系からアーム座標系への変換パラメータを計算する。
【0044】
この変換パラメータの計算の前に、この種の座標変換について簡単に説明しておく。まず、X−Y−Z座標からなる第1座標系と、同第1座標系をX軸、Y軸およびZ軸回りにそれぞれα,β,γだけ回転させるとともに、同第1座標系の原点をX軸方向、Y軸方向およびZ軸方向にそれぞれa,b,cだけ移動させた第2座標系を想定する。この場合も、第1座標系における一点の座標を(x,y,z)とし、第2座標系における同一点の座標を(x’,y’,z’)すると、前記数2,3の場合と同様に、下記数4が成立するとともに、同数4中の行列Mは下記数5によって表される。
【0045】
【数4】
【0046】
【数5】
【0047】
ふたたび、図4の変換テーブル作成プログラムの説明に戻ると、ステップS32の座標変換パラメータの計算は、前記数4および数5中の行列値g11,g12,g13,g21,g22,g23,g31,g32,g33および行列値a,b,cを計算することを意味する。この場合、本実施形態の測定部座標系が第1座標系に対応するととともに、アーム座標系が第2座標系に対応する。したがって、測定部座標系の球体61,62,63の各中心座標(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)、(x3,y3,z3)と、アーム座標系の球体61,62,63の各中心座標(x1’,y1’,z1’)、(x2’,y2’,z2’)、(x3’,y3’,z3’)とを前記数4に適用すると、下記数6〜8の関係が成立する。
【0048】
【数6】
【0049】
【数7】
【0050】
【数8】
【0051】
前記数6を変形すると、下記数9の連立方程式が成立する。
【0052】
【数9】
【0053】
この数9の連立方程式を解くことにより、行列値g11,g12,g13を計算することができる。また、前記数7および数8に関しても、前記数6の連立方程式のように変形すれば、行列値g21,g22,g23および行列値g31,g32,g33を計算できる。そして、これらの計算した行列値を前記数6〜8に代入すれば、行列値a,b,cを計算できる。これにより、測定部座標系の座標(x,y,z)を、アーム座標系の座標(x’,y’,z’)に変換するための座標変換パラメータが計算される。
【0054】
次に、ステップS34にて、前記ステップS22の処理によって入力した回転角センサ26eによる検出回転角θ、すなわち第3アーム25の先端部に対する3次元形状測定装置30の第3アーム25の軸線回りの回転角θに対応させて、前記計算した1セットの座標変換係数g11,g12,g13,g21,g22,g23,g31,g32,g33,a,b,cを変換パラメータとして画像処理装置42のメモリ装置内に設けた変換テーブル内に記憶して(図6参照)、ステップS36にてこの変換テーブル作成プログラムの実行を終了する。
【0055】
このような1組の変換パラメータの記憶後、ユーザはガイド装置70のガイド部71を円形プレート60に当接させたまま、円形プレート60の外側面に沿ってほぼ所定角度だけ回転させることにより、3次元形状測定装置30を第3アーム25の先端部に対して同第3アーム25の軸線回りに回転させる。そして、3次元形状測定装置30に新たな画像測定を行わせるとともに、画像処理装置42に図4の変換テーブル作成プログラムを実行させる。したがって、画像処理装置42は、前記場合と同様に、3次元形状測定装置30の回転位置における変換パラメータを計算するとともに、その第3アーム25の先端部に対する同第3アーム25の軸線回りの回転角θに対応させて、前記計算した変換パラメータを前記変換テーブルに追加記憶する。
【0056】
このように3次元形状測定装置30を順次ほぼ所定角度ずつ回転させては、変換テーブル作成プログラムの実行により、回転角に対応した変換パラメータを追加記憶させる。したがって、最終的には、第3アーム25の先端部に対する3次元形状測定装置30の第3アーム25の軸線回りのほぼ所定角度ごとの複数組の変換パラメータが変換テーブル内に記憶されることになる(図6参照)。
【0057】
前記のような3次元形状測定装置30の回転移動を小さな角度ずつ行うほど、表示装置44にて最終的に表示される測定対象物80の表示精度は向上する。しかし、3次元形状測定装置30を小さな角度ずつ回転移動することによる手間が増すので、適度な角度ずつ行なえばよい。例えば、45度程度ずつ行なえばよい。また、回転角に関しては、均等な角度にすることが望ましいが、多少のずれは問題にならない。
【0058】
このような変換パラメータの生成後、ユーザは、球体61,62,63を基台10上から取り除いて、同基台10上に測定対象物80を配置する。そして、3次元形状測定装置30を手で持って、回転ロッド22、第1〜第3アーム25および3次元形状測定装置30の各連結部における回転変位を伴いながら、測定対象物80に対して所望の位置および角度に3次元形状測定装置30を移動する。これと同時に、入力装置43を操作して測定対象物80の立体表示を指示する。これに応答して、画像処理装置42は、図5の測定対象物表示プログラムの実行をステップS40にて開始して、ステップS42にて測定対象物80の3次元立体形状を表す測定情報の入力を待つ。一方、3次元形状測定装置30は、コントローラ41によって制御され、測定対象物80の3次元立体表面形状の測定を開始する。そして、3次元形状測定装置30が測定対象物80の測定を終了すると、測定結果を表す情報を画像処理装置42に出力する。
【0059】
画像処理装置42は、ステップS42にて、上記ステップS24の処理と同様にして3次元形状測定装置30からの測定情報を入力するとともに、この入力した測定情報に基づいて測定対象物80に関する3次元画像データを計算する。
【0060】
次に、ステップS44にて、回転角センサ26eによる検出回転角、すなわち3次元形状測定装置30の第3アーム25の先端部に対する同第3アーム25の軸線回りの回転角θを入力する。そして、同ステップS44にて、画像処理装置42におけるメモリ装置内の変換テーブルが参照され、測定部座標系の座標(X,Y,Z)をアーム座標系の座標(X’,Y’,Z’)に変換するための前記入力した回転角θに対応した1組の変換パラメータを決定する。具体的には、変換テーブルには離散的な複数の回転角に対して複数組の変換パラメータが記憶されているので、前記検出回転角θを用いた補間演算により、変換パラメータを計算する。
【0061】
次に、ステップS46にて、前記ステップS44の処理によって計算した変換パラメータを用い、上記数4の座標変換演算を行って、3次元形状測定装置30によって測定されて測定対象物80の外表面の立体形状を表す3次元画像データを、アーム座標系における3次元画像データに変換する。
【0062】
次に、ステップS48にて、支持機構20内に設けた回転角センサ26a〜26eによる検出回転角をそれぞれ入力して、アーム座標系の座標を固定座標系の座標に変換するための変換パラメータであって、固定ポール21、回転ロッド22および第1〜第3アーム23〜25の動きに対応した変換パラメータを計算する。この変換パラメータの計算においては、前記入力した検出回転角と、固定ポール21、回転ロッド22および第1〜第3アーム23〜25のアームの長さとを用いて、アーム座標系から見た固定座標系の原点の座標すなわちアーム座標系における固定座標系の原点の座標(xoa,yob,zoc)をパラメータa,b,cとして計算するとともに、アーム座標系の各座標軸を基準にした固定座標の各座標軸の回転角をパラメータα,β,γとして計算する。
【0063】
次に、ステップS50にて、前記ステップS48の処理によって計算した変換パラメータα,β,γ,a,b,cを用い、上記数2,3(または、数4,5でも同じ)の座標変換演算を行って、前記ステップS46の処理によって計算したアーム座標系の3次元画像データを固定座標系の3次元画像データに変換する。そして、画像処理装置42は、ステップS52にて、表示装置44を制御して前記変換した固定座標系の3次元画像データに基づく測定対象物80の立体画像を表示する。これにより、3次元形状測定装置30を任意の位置に移動させても、表示装置44において固定座標系における測定対象物80の立体画像が表示される。
【0064】
上記作動説明からも理解できるとおり、上記実施形態によれば、第3アーム25の先端部に対する3次元形状測定装置30の回転に偏心が生じていても、図5のステップS44,46により、前記偏心を考慮した変換パラメータを用いて、測定部座標系の座標がアーム座標系の座標に変換される。そして、ステップS48,S50の処理により、支持機構20内の変位に応じた座標変換パラメータを用いて、アーム座標系の座標が固定座標系の座標に変換される。したがって、上記実施形態によれば、前記偏心に起因した誤差の影響が除去されて、3次元形状測定装置30によって測定された測定対象物80を表す固定座標系の3次元画像データが常に高精度で計算されるようになる。
【0065】
また、上記実施形態によれば、触針測定プログラムの実行により、ユーザは、円形プレート60上に球体61,62,63を置くとともに、触針50を支持機構20の先端部に固定して、触針50を球体61,62,63に接触させるだけで、定点としての球体61,62,63の中心座標が自動的に計算される。そして、変換テーブル作成プログラムの実行により、ユーザは、3次元形状測定装置30を第3アーム25の先端部に対して回転させながら、3次元形状測定装置30に球体61,62,63の3次元形状を測定させるだけで、前記偏心を考慮した複数組の変換パラメータを含む変換テーブルが作成される。したがって、ユーザは、簡単な操作により、定点の座標を特定できるとともに、測定部座標系の座標をアーム座標系の座標に変換するための前記変換テーブルを作成できる。
【0066】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変形も可能である。
【0067】
例えば、上記実施形態では、基準物体として球体61,62,63を用いるようしたが、触針50の接触によって定点の座標を特定でき、かつ3次元形状測定装置30による外形形状の測定によって物体が特定できるとともに同物体によって規定される定点の座標が特定できるものであれば、球体以外の物体を基準物体として利用することもできる。例えば、円錐体、円柱体、直方体など、物体及び定点を特定し易い物体を基準物体として利用できる。
【0068】
また、測定対象物80とは別な球体、円錐体、円柱体、直方体などの基準物体を用いなくても、測定対象物80内に定点を特定し易い形状(例えば、球状部、円錐状部、円柱状部、直方体状部など)が存在すれば、測定対象物80内の特定部分を基準物体として利用してもよい。
【0069】
さらに、測定対象空間内に定点を定めて、この定点を3次元形状測定装置30による外形形状の測定によって特定できれば、基準物体を設ける必要もない。この場合、定点を触針50を用いて上記実施形態のように固定座標系における定点座標を求めてもよいが、定点を表す座標であって固定座標系の座標が特定できれば、触針50を用いる必要もない。
【0070】
また、上記実施形態においては、アーム座標系の原点を第3アーム25に対して回転する接続ロッド32側の点に定めるようにしたが、第3アーム25側の一点をアーム座標系の原点として定めてもよい。この場合、上記実施形態の図4のテップS28のアーム座標系の原点座標(xd、yd、zd)および回転角α,β,γの計算においては、回転角センサ26a〜26eからの検出回転角に代えて回転角センサ26a〜26dからの検出回転角を用いて計算する。また、上記実施形態の図5のステップS48の変換パラメータa,b,c,α,β,γの計算においても、回転角センサ26a〜26eからの検出回転角に代えて回転角センサ26a〜26dからの検出回転角を用いて計算する。
【0071】
また、上記実施形態においては、変換テーブル内の変換パラメータの作成時に、ユーザがガイド装置70を用いて3次元形状測定装置30を第3アーム25の先端部に対して回転させるとともに、3次元形状測定装置30による基準物体(球体61,62,63)の形状測定の指示および画像処理装置42に対する変換テーブル作成プログラムの実行の指示を行うようにした。しかし、これに代えて、3次元形状測定装置30を自動的に回転させる回転機構を設けて、3次元形状測定装置30を自動的に所定角ずつ回転させては、3次元形状測定装置30による基準物体の形状測定の指示および画像処理装置42に対する変換テーブル作成プログラムの実行の指示を自動的に行うようにしてもよい。
【0072】
また、上記実施形態においては、支持機構20内の各部材の変位として回転変位のみを用いるようにしたが、各部材を直線移動させる部分を含ませたりしてもよい。また、直線移動する複数の部分のみで構成してもよい。
【0073】
さらに、上記実施形態においては、入力装置43を構成する操作子の操作により、3次元形状測定装置30および画像処理装置42の作動を制御するようにした。しかし、これに代え、3次元形状測定装置30にも操作子を設けておき、同操作子の操作に応じて3次元形状測定装置30および画像処理装置42の作動を制御するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る3次元形状測定システムの全体を示す概略図である。
【図2】図1の3次元形状測定装置と第3アームとの取り付け部分を拡大して示す部分断面図である。
【図3】図1の画像処理装置によって実行される触針測定プログラムのフローチャートである。
【図4】図1の画像処理装置によって実行される変換テーブル作成プログラムのフローチャートである。
【図5】図1の画像処理装置によって実行される測定対象物表示プログラムのフローチャートである。
【図6】図1の画像処理装置のメモリ装置内に設けた変換テーブルのデータフォーマット図である。
【図7】図1の支持機構に触針を組み付けて、同触針を球体に接触させた状態を示す概略斜視図である。
【図8】図1の3次元形状測定装置をガイド装置によって回転させている状態を示す概略斜視図である。
【符号の説明】
10…基台、20…支持機構、21…固定ポール、22…回転ロッド、23〜25…アーム、30…3次元形状測定装置、41…コントローラ、42…画像処理装置、43…入力装置、44…表示装置、50…触針、60…円形プレート、61〜63…球体、70…ガイド装置、80…測定対象物。
【発明の属する技術分野】
本発明は、互いに変位可能に連結した複数の支持部材からなる支持機構の先端部に物体の3次元形状を測定する測定装置を一軸線回りに回転可能に取り付けて、測定装置を所望位置に移動させて所望位置から測定対象物の3次元形状を測定できるようにした3次元形状測定システムおよび3次元形状測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種の装置は、例えば下記特許文献1に示されているように、回転コラムの上端部に水平アームを固定し、水平アームに水平方向に移動可能な水平移動部を組み付け、水平移動部に垂直方向に移動可能なZ軸移動部を組み付け、Z軸移動部の下端部に3次元形状を測定する測定装置を固定している。そして、測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標を、回転コラム、水平アームおよびZ軸移動部の移動量に応じて、回転コラムを設けた固定座標系の座標に変換している。
【0003】
また、下記特許文献2,3には、互いに変位可能に連結した複数のアームからなるアーム機構の先端部に作業用ツールを固定するとともに、アーム機構の先端部に3次元形状を測定する測定装置を固定し、測定装置による測定結果によって作業用ツールの位置を補正するようにしたロボットが示されている。そして、このロボットにおいて、測定装置によって測定された特定点を表す座標であって測定装置に関する座標系の座標をロボットに関する座標系の座標に変換して、測定装置に関する座標系とロボットに関する座標系(固定座標系)との関係を定めるようにしている。
【0004】
【特許文献1】
特開2000−131031号公報
【特許文献2】
特開平10−63317号公報
【特許文献2】
特開昭60−151711号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
これらの特許文献1〜3に記載された測定装置に関する座標系の座標を固定座標系の座標に変換する座標変換、すなわち回転コラム、水平アーム、Z軸移動部およびアームなど、複数の支持部材の移動量に応じた座標変換に用いる変換パラメータは常に一定である。したがって、複数の支持部材間の相対変位によって各支持部材の連結部を表す座標であって固定座標系の座標が変動すると、例えば回転変位する連結部に対応した支持部材の部分を表す座標であって固定座標系の座標が支持部材の回転時の偏心によって変動すると、正確な座標変換が行われない。
【0006】
特に、測定装置を複数の支持部材の先端部に回転可能に取り付けるようにした場合、取り付け位置の回転軸の調整は困難であり、同取り付け位置である支持部材の先端部を表す座標であって固定座標系の座標と、測定装置側の部材を表す座標であって固定座標系の座標との間には、測定装置の支持部材に対する回転により大きなずれ生じる。したがって、測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって測定装置に関する座標系の座標を、支持部材の先端部に関する座標系の座標に変換する座標変換において、測定装置の支持部材に対する回転に応じて大きな誤差を含み、測定対象物を表す座標であって固定座標系の座標の精度が低下するという問題がある。
【0007】
【発明の概略】
本発明は上記問題に対処するためになされたもので、その目的は、複数の支持部材を順次連結するとともに各連結部にて一方の支持部材に対して他方の支持部材を相対変位可能に構成した支持機構を有し、支持機構の基端部を固定するとともに支持機構の先端部に物体の3次元形状を測定する測定装置を一軸線回りに回転可能に取り付けて、測定装置を所望位置に移動させて所望位置から測定対象物の3次元形状を測定できるようにした3次元形状測定システムおよび3次元形状測定方法において、測定装置による測定対象物の測定結果を支持機構の基端部に関する座標系の座標に高精度で変換することにある。
【0008】
前記目的を達成するために、本発明の特徴は、測定装置に関する座標系の座標を支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための参照変換パラメータであって、支持機構の先端部に対する測定装置の回転角に応じて変化する参照変換パラメータを生成しておき、測定装置による測定対象物の測定時に回転角検出手段により検出された支持機構の先端部に対する測定装置の回転角に基づいて、前記生成した参照変換パラメータを用い、測定装置に関する座標系の座標を支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための前記検出された回転角に対応した第1変換パラメータを計算し、測定装置による測定対象物の測定時に相対変位量検出手段によって検出された支持機構の各連結部における一方の支持部材に対する他方の支持部材の相対変位量を用いて、支持機構の先端部に関する座標系の座標を支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するための第2変換パラメータを計算し、前記計算された第1変換パラメータおよび第2変換パラメータを用いて、測定装置によって測定された測定対象物の座標であって同測定装置に関する座標系の座標を、支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するようにしたことにある。
【0009】
この場合、例えば、前記参照変換パラメータの生成においては、予め決められた定点を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標、測定装置によって測定された定点を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標、および測定装置による定点の測定時に前記相対変位量検出手段によって検出された相対変位量を用いて、参照変換パラメータを、支持機構の先端部に対する測定装置の複数の異なる回転角ごとに計算し、複数の異なる回転角ごとに計算した参照変換パラメータを、測定装置による定点の測定時に回転角検出手段によって検出された回転角に対応させて記憶しておく。
【0010】
このように構成した本発明の特徴によれば、測定装置を回転可能に取り付けた支持機構の先端部において、偏心により、取り付け位置である支持機構の先端部を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標と、測定装置側の部材を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標との間に、支持機構の先端部に対する測定装置の回転によるずれが生じていても、測定装置に関する座標系の座標を支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための第1変換パラメータは、測定装置の回転位置を考慮した参照変換パラメータを用いて計算される。そして、この第1変換パラメータと、支持機構の先端部に関する座標系の座標を支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するための第2変換パラメータとを用いて、測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標が、支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換される。これにより、前記偏心に起因した誤差の影響が除去されて、測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標が高精度で計算されるようになる。
【0011】
また、本発明の他の特徴は、定点を測定対象物の測定前に測定対象空間内に置かれた基準物体によって規定されるようにしておき、前記参照変換パラメータの計算においては、支持機構の先端部に固定した触針を前記基準物体に接触させ、同接触時に相対変位量検出手段によって検出された相対変位量に基づいて、定点を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標を計算するようにしたことにある。
【0012】
この場合、例えば、基準物体を球体で構成し、前記参照変換パラメータの計算においては、基準物体の複数の異なる位置に触針を接触させ、各接触時に相対変位量検出手段によってそれぞれ検出された複数組の相対変位量に基づいて定点を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標を計算するとよい。
【0013】
この本発明の他の特徴によれば、触針を支持機構の先端部に固定して、触針を基準物体に接触させるだけで、定点を表す座標であって支持機構の基端部に関する座標系の座標が自動的に計算される。したがって、作業者は、測定対象空間内に特別の定点を定めたり、測定対象物内に特別に定点を定めたりしなくてもよいので、簡単に定点の座標を特定できる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態について図面を用いて説明する。図1は、本発明の3次元形状測定システムの構成を示す概略図である。
【0015】
この3次元形状測定システムは、基台10上に固定して先端部を測定対象空間内を自由に変位させる支持機構20と、支持機構20の先端部に取り付けた3次元形状測定装置30とを備えている。支持機構20は、固定ポール21、回転ロッド22、第1アーム23、第2アーム24および第3アーム25からなる。
【0016】
固定ポール21は、円筒状に形成され、その下端にて基台10上に垂直に立設固定されている。回転ロッド22は、円柱状に形成され、その下端部にて固定ポール21に軸線回りに回転可能に支持されて、固定ポール21から上方に突出している。第1アーム23は、その基端に設けた連結部23aにて、回転ロッド22の先端に設けた連結部22aに、回転ロッド22の軸線方向に直交する軸線回りに回転可能に組み付けられている。第2アーム24は、その基端に設けた連結部24aにて、第1アーム23の先端に設けた連結部23bに、第1アーム23の軸線方向に直交する軸線回りに回転可能に組み付けられている。第3アーム25は、その基端に設けた連結部25aにて、第2アーム24の先端に設けた連結部24bに、第2アーム24の軸線方向に直交する軸線回りに回転可能に組み付けられている。
【0017】
3次元形状測定装置30は、図1および図2に示すように、固定部材31、接続ロッド32および組み付けナット33からなる取り付け部品を介して、第3アーム25の先端部に第3アーム25の軸線回りに回転可能に取り付けられるようになっている。固定部材31は、3次元形状測定装置30の方形状のハウジングの底面または側面に固定されている。接続ロッド32は、円柱状に形成され、その一端にて固定部材31に3次元形状測定装置30の背面に対して垂直に立設固定されている。
【0018】
接続ロッド32の他端部は、第3アーム25にその軸線方向に延設された円形の穴25bに同軸的に侵入して、軸線回りに摺動可能に第3アーム25の先端面に組み付けられるようになっている。接続ロッド32の中間外周面には環状突起部32aが一体的に形成され、環状突起部32aは、接続ロッド32の他端部の第3アーム25の穴25bへの侵入時に第3アーム25の先端面に当接してその侵入量が規定されるようになっている。組み付けナット33は、有底円筒状に形成されるとともに、底面に接続ロッド32の外径にほぼ等しい内径を有する貫通孔33aを有しており、同貫通孔33aにて環状突起部32aと固定部材31の間にて接続ロッド32の外周面上に摺動可能に組み付けられている。取り付けナット33は、その内周面上に形成した雌ねじ33bを備え、同雌ねじ33bと第3アーム25の先端部外周面上に形成した雄ねじ25cとの螺合により、接続ロッド32を第3アーム25の先端部に第3アーム25の軸線回りに回転可能に組み付ける。これにより、3次元形状測定装置30は第3アーム25の先端部に回転可能かつ取り外し可能に取り付けられるようになっている。
【0019】
また、支持機構20内には、回転角センサ26a,26b,26c,26d,26eが設けられている。回転角センサ26aは、固定ポール21内に組み込まれて、固定ポール21に対する回転ロッド22の軸線回りの回転角を検出する。回転角センサ26bは、第1アーム23の連結部23a内に組み込まれて、回転ロッド22の連結部22aに対する第1アーム23の連結部23aにおける一軸線回りの回転角を検出する。回転角センサ26cは、第2アーム24の連結部24a内に組み込まれて、第1アーム23の連結部23aに対する第2アーム24の連結部24aにおける一軸線回りの回転角を検出する。回転角センサ26dは、第3アーム25の連結部25a内に組み込まれて、第2アーム24の連結部24bに対する第3アーム25の連結部25aにおける一軸線回りの回転角を検出する。回転角センサ26eは、第3アーム25の先端部内に組み込まれて、第3アーム25に対する3次元形状測定装置30の第3アーム25における一軸線回りの回転角、すなわち3次元形状測定装置30の第3アーム25の先端部に対する回転角を検出する。
【0020】
3次元形状測定装置30は、その正面側に位置する物体の3次元表面形状を測定するとともに同測定した3次元表面形状を表す情報を出力するものであり、例えば、レーザ光を用いて3角測量法に従って物体の3次元表面形状を測定するものである。
【0021】
この3次元形状測定装置30においては、レーザ光源から物体に向けて出射されるレーザ光の進行方向にほぼ垂直な仮想平面を想定するとともに、同仮想平面上にて互いに直交するX軸方向およびY軸方向に沿って分割した多数の微小エリアを想定する。そして、3次元形状測定装置30は、前記多数の微小エリアにレーザ光を順次照射し、物体からの反射光によって前記微小エリアが規定する物体表面までの距離をZ軸方向距離として順次検出して、物体の表面を微小エリアずつに分割した各分割エリア位置を表すX,Y,Z座標に関する情報を得て、同3次元形状測定装置に面した物体表面の形状を測定するものである。
【0022】
したがって、この3次元形状測定装置30は、出射レーザ光の向きをX軸方向に変化させるX軸方向走査器と、出射レーザ光の向きをY軸方向に変化させるY軸方向走査器と、物体表面にて反射された反射レーザ光を受光して物体表面までの距離を検出する距離検出器とを備えている。X軸方向走査器およびY軸方向走査器としては、レーザ光源からの出射レーザ光の光路をX軸方向およびY軸方向に独立に変化させ得る機構であればよく、例えばレーザ光源自体をX軸方向およびY軸方向の軸線回りに電動モータによって回転させたり、出射レーザ光の光路に設けられてその方向を変更するガルバノミラーをX軸方向およびY軸方向の軸線回りに電動モータによって回転させる機構を利用できる。距離検出器としては、前記出射レーザ光の光路に追従して回転し、物体表面にて反射された反射レーザ光を集光する結像レンズおよび同集光したレーザ光を受光するCCDなどの複数の受光素子を一列に配置させたラインセンサからなり、ラインセンサによる反射レーザ光の受光位置によって物体表面までの距離を検出する機構を利用できる。
【0023】
したがって、このような3次元形状測定装置は、物体の表面を微小エリアずつに分割した各分割エリア位置を表すX,Y,Z座標に関する情報として、X軸方向走査器による出射レーザ光の基準方向に対するX軸方向への傾きθx、Y軸方向走査器による出射レーザ光の基準方向に対するY軸方向への傾きθy、および距離検出器による物体表面までの距離Lzとが、前記仮想したX軸方向およびY軸方向に沿って分割した多数の微小エリアごとに出力される。より具体的には、X軸およびY軸方向への傾きθx,θyは、電動モータの基準位置からの回転角である。また、物体表面までの距離Lzは、ラインセンサにおける反射レーザ光の受光位置である。なお、前述した3次元形状測定装置30はその一例を示すもので、レーザ光に代えてミリ波、超音波などを使用したものなど、いかなる3次元形状測定装置をも利用できる。
【0024】
この3次元形状測定装置30には、コントローラ41および画像処理装置42が接続されている。コントローラ41は、複数の操作子を含むキーボードなどからなる入力装置43からの指示にしたがって、3次元形状測定装置30の作動を制御する。また、コントローラ41は、入力装置43からの指示にしたがって画像処理装置42の作動を制御するとともに、同入力装置43にて入力されたデータを画像処理装置42に供給する。
【0025】
画像処理装置42は、コンピュータ装置によって構成されて図3〜5のプログラムの実行により、回転角センサ26a〜26eによって検出された回転角および3次元形状測定装置30からの3次元画像に関する情報を入力して、測定対象空間内に位置する物体の3次元画像を任意の方向から見て表示可能な3次元画像データを生成する。この画像処理装置42には、表示装置44が接続されている。表示装置44は、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ、CRTディスプレイなどを備えており、画像処理装置42から3次元画像データに基づいて測定対象空間内に位置する物体の3次元画像を表示する。また、画像処理装置42のメモリ装置内には、図6に示すように、3次元形状測定装置30の第3アーム25の先端部に対する種々の回転角に対して、3次元形状測定装置30に関する座標系の座標を第3アーム25の先端部に関する座標系の座標に変換するための複数組の変換パラメータを記憶する変換テーブルを格納するための記憶エリアが用意されている。
【0026】
以下、上記のように構成した3次元形状測定システムの動作について説明する。ユーザは、図7に示すように、第3アーム25の雄ねじ25cに、先端を尖らせて形成した触針50の基部51を螺着固定する。次に、ユーザは、基台10上に所定厚さの円形プレート60を置き、同円形プレート60上の適当な位置に球体61,62,63を配置する。これらの球体61,62,63は測定対象空間内の定点を定めるための基準物体として機能する。なお、この触針50においては、基部51の所定位置に対する先端の位置はユーザにより認識されており、画像処理装置42のメモリ装置に予め記憶される。球体61,62,63は、予め用意された真球体である。さらに、固定ポール21、回転ロッド22および第1〜第3アーム23〜25の長さもユーザに認識されており、画像処理装置42のメモリ装置に予め記憶される。
【0027】
前記準備の終了後、入力装置43を操作して、図3の触針測定プログラムを画像処理装置42に実行させる。そして、ユーザは、球体61の外表面の異なる4点に触針50の先端を接触させ、各接触ごとに入力装置43を操作することにより触針50の球体61に対する接触を入力する。画像処理装置42は、触針測定プログラムをステップS10にて開始しており、前記接触の入力により、ステップS12にて、触針50の球体61への接触時に、回転角センサ26a〜26dから検出回転角をそれぞれ入力する。
【0028】
そして、これらの入力した検出回転角のセットに加えて、固定ポール21、回転ロッド22、第1〜第3アーム23〜25および触針50の長さを用いて、触針50の球体61への接触点を表す座標であって固定座標系の座標を計算する。固定座標系とは、基台10に関する座標系であって、本実施形態では固定ポール21の基台10への固定部における予め決めた点を原点とするX−Y−Zの3次元座標である。このような固定座標系の座標の計算を各接触点ごとに行って、4つの接触点にそれぞれ対応した4組の座標データを一時的に記憶しておく。
【0029】
前記ステップS12の処理後、ステップS14にて球体61の中心位置を表す座標であって固定座標系の座標(以下、中心座標(x1”,y1”,z1”)という)を、前記計算した4組の座標データを用いて計算する。この計算においては、球体の外表面を表す下記数1の方程式のX,Y,Zに、前記4組の座標データを代入することにより、球体61の中心位置を表す座標(x1”,y1”,z1”)を計算する。なお、a,b,cは球体の中心位置を表すX,Y,Z座標であり、dは球体の半径である。
【0030】
【数1】
(X−a)2+(Y−b)2+(Z−c)2−d2=0
【0031】
次に、ステップS16にて、前記計算した中心座標(x1”,y1”,z1”)を球体61の定点を表す座標として記憶しておく。そして、ステップS18にて、この触針測定プログラムの実行を終了する。このような触針50の球体61への接触および触針測定プログラムの実行を、球体62,63に対しても行う。そして、球体62の中心座標(x2”,y2”,z2”)および球体63の中心座標(x3”,y3”,z3”)を記憶しておく。
【0032】
なお、本実施形態では、一つの球体に対して触針50を4箇所接触させるようにしたが、5箇所以上の接触を行って、補正を含む高精度の中心座標の計算を行うようにしてもよい。また、各球体の半径dが既知である場合には、接触点を3点にしても、球体61,62,63の中心座標を求めることができる。
【0033】
次に、ユーザは、図8に示すように、第3アーム25の先端部に3次元形状測定装置30を第3アーム25の軸線回りに回転可能に組付ける。そして、3次元形状測定装置30を円形プレート60の円形状側面とほぼ平行な円形状に回転させるために、3次元形状測定装置30をガイド装置70に組付ける。ガイド装置70は、ガイド部71、測定装置取り付け部72および連結ロッド73からなる。ガイド部71は方形状に形成されて、その内側下部分にて円形プレート60の外側面および上面に当接する摺動面を有するように構成されている。測定装置取り付け部72は、3次元形状測定装置30を固定して、ガイド部71を円形プレート60の外側面に沿って移動させた際に、3次元形状測定装置30を図示矢印方向に沿って円形状かつガイド装置70と一体的に移動させる。連結ロッド73は、ガイド部71と測定装置取り付け部72を連結するものである。
【0034】
前記のように、ガイド装置70のガイド部71を円形プレート60の外側面および上面に当接させるとともに、測定装置取り付け部72に3次元形状測定装置30を取り付けた後、図4の変換テーブル作成プログラムを画像処理装置42に実行させる。そして、ユーザは、入力装置43を操作することによりコントローラ41を介して、3次元形状測定装置30に対して円形プレート60上の球体61,62,63の3次元形状の測定開始を指示する。これに応答して、3次元形状測定装置30は、球体61,62,63の3次元形状の測定を開始する。
【0035】
一方、画像処理装置42は、3次元形状測定装置30による球体61,62,63の3次元形状の測定中、前記変換テーブル作成プログラムの実行をステップS20にて開始して、ステップS22にて支持機構20内の回転角センサ26a〜26eから検出回転角をそれぞれ入力する。
【0036】
そして、前記ステップS22の処理後、ステップS24にて、3次元形状測定装置30による測定終了を待って、球体61,62,63の各表面形状を表す情報を入力する。すなわち、球体61,62,63の表面を微小エリアずつに分割した各分割エリア位置を表すX−Y−Z座標に関する情報(具体的には、傾きθx,θyおよび距離Lz)をそれぞれ入力する。そして、同ステップS24にて、前記入力した3次元形状測定装置30からのX−Y−Z座標に関する情報に基づいて、球体61,62,63の3次元表面形状を表す立体形状データ群からなる3次元画像データを計算する。この場合の3次元画像データは、3次元形状測定装置30に関する座標系(以下、この座標系を測定部座標系という)の座標であって、例えば3次元形状測定装置30の特定点を原点とするX−Y−Z座標である。
【0037】
次に、画像処理装置42は、ステップS26にて、前記計算した球体61,62,63の外表面位置を表す3次元画像データを、上記数1の方程式のX,Y,Zに適用して、球体61,62,63を特定するとともに、球体61,62,63の各中心座標(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)、(x3,y3,z3)を計算する。なお、球体61,62,63の区別においては、前記入力した回転角センサ26a〜26eによる検出回転角を用いる。
【0038】
次に、画像処理装置42は、ステップS28にて、前記入力した回転角センサ26a〜26eによる検出回転角に加えて、固定ポール21、回転ロッド22および第1〜第3アーム23〜25の長さを用いて、第3アーム25の先端部の予め決められた位置を表す座標であって固定座標系に関する座標(xd,yd,zd)を計算する。なお、この第3アーム25の先端部の予め決められた位置とは、詳しくは接続ロッド32側の一点すなわち第3アーム25に対して軸線回りに回転する点を示す。この座標(xd,yd,zd)を原点とするX−Y−Z座標系を、以降、アーム座標系という。また、このステップS28においては、前記入力した回転角センサ26a〜26eによる検出回転角を用いて、アーム座標系のX軸、Y軸およびZ軸回りの回転角α,β,γも計算する。
【0039】
次に、画像処理装置42は、ステップS30にて、前記図3の触針測定プログラムの実行時に記憶しておいた球体61,62,63の各中心座標であって固定座標系の各中心座標(x1”,y1”,z1”)、(x2”,y2”,z2”)、(x3”,y3”,z3”)と、前記ステップS28の処理によって計算した固定座標系におけるアーム座標系の原点座標(xd,yd,zd)と、同ステップS28の処理によって計算した固定座標系に対するアーム座標系の各座標軸X,Y,Zの回転角α,β,γとを下記数2及び数3に代入して、球体61,62,63の各中心座標であってアーム座標系の各中心座標(x1’,y1’,z1’)、(x2’,y2’,z2’)、(x3’,y3’,z3’)を計算する。
【0040】
【数2】
【0041】
【数3】
【0042】
上記数2および数3は、X−Y−Z座標からなる第1座標系における一点の座標(x,y,z)を、同第1座標系をX軸、Y軸およびZ軸回りにそれぞれα,β,γだけ回転させるとともに、同第1座標系の原点をX軸方向、Y軸方向およびZ軸方向にそれぞれa,b,cだけ移動させた第2座標系における同一点の座標(x’,y’,z’)との関係を示している。そして、前記ステップS30の計算においては、数2中の座標値x’,y’,z’が、球体61,62,63の中心座標であって固定座標系の中心座標(x1”,y1”,z1”)、(x2”,y2”,z2”)、(x3”,y3”,z3”)の各X,Y,Z座標値にそれぞれ対応する。また、数3中の座標値x,y,zが、球体61,62,63の中心座標であってアーム座標系の中心座標(x1’,y1’,z1’)、(x2’,y2’,z2’)、(x3’,y3’,z3’)の各X,Y,Z座標値にそれぞれ対応する。なお、前記数2中の値a,b,cは前記ステップS28にて計算したアーム座標系の原点座標(xd,yd,zd)に対応し、かつ前記数2中のα,β,γは同ステップS28にて計算した回転角α,β,γに相当する。
【0043】
前記ステップS30の処理後、ステップS32にて、ステップS26の処理によって計算した測定部座標系の球体61,62,63の各中心座標(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)、(x3,y3,z3)と、ステップS30の処理によって計算したアーム座標系の球体61,62,63の各中心座標(x1’,y1’,z1’)、(x2’,y2’,z2’)、(x3’,y3’,z3’)とを用いて、測定部座標系からアーム座標系への変換パラメータを計算する。
【0044】
この変換パラメータの計算の前に、この種の座標変換について簡単に説明しておく。まず、X−Y−Z座標からなる第1座標系と、同第1座標系をX軸、Y軸およびZ軸回りにそれぞれα,β,γだけ回転させるとともに、同第1座標系の原点をX軸方向、Y軸方向およびZ軸方向にそれぞれa,b,cだけ移動させた第2座標系を想定する。この場合も、第1座標系における一点の座標を(x,y,z)とし、第2座標系における同一点の座標を(x’,y’,z’)すると、前記数2,3の場合と同様に、下記数4が成立するとともに、同数4中の行列Mは下記数5によって表される。
【0045】
【数4】
【0046】
【数5】
【0047】
ふたたび、図4の変換テーブル作成プログラムの説明に戻ると、ステップS32の座標変換パラメータの計算は、前記数4および数5中の行列値g11,g12,g13,g21,g22,g23,g31,g32,g33および行列値a,b,cを計算することを意味する。この場合、本実施形態の測定部座標系が第1座標系に対応するととともに、アーム座標系が第2座標系に対応する。したがって、測定部座標系の球体61,62,63の各中心座標(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)、(x3,y3,z3)と、アーム座標系の球体61,62,63の各中心座標(x1’,y1’,z1’)、(x2’,y2’,z2’)、(x3’,y3’,z3’)とを前記数4に適用すると、下記数6〜8の関係が成立する。
【0048】
【数6】
【0049】
【数7】
【0050】
【数8】
【0051】
前記数6を変形すると、下記数9の連立方程式が成立する。
【0052】
【数9】
【0053】
この数9の連立方程式を解くことにより、行列値g11,g12,g13を計算することができる。また、前記数7および数8に関しても、前記数6の連立方程式のように変形すれば、行列値g21,g22,g23および行列値g31,g32,g33を計算できる。そして、これらの計算した行列値を前記数6〜8に代入すれば、行列値a,b,cを計算できる。これにより、測定部座標系の座標(x,y,z)を、アーム座標系の座標(x’,y’,z’)に変換するための座標変換パラメータが計算される。
【0054】
次に、ステップS34にて、前記ステップS22の処理によって入力した回転角センサ26eによる検出回転角θ、すなわち第3アーム25の先端部に対する3次元形状測定装置30の第3アーム25の軸線回りの回転角θに対応させて、前記計算した1セットの座標変換係数g11,g12,g13,g21,g22,g23,g31,g32,g33,a,b,cを変換パラメータとして画像処理装置42のメモリ装置内に設けた変換テーブル内に記憶して(図6参照)、ステップS36にてこの変換テーブル作成プログラムの実行を終了する。
【0055】
このような1組の変換パラメータの記憶後、ユーザはガイド装置70のガイド部71を円形プレート60に当接させたまま、円形プレート60の外側面に沿ってほぼ所定角度だけ回転させることにより、3次元形状測定装置30を第3アーム25の先端部に対して同第3アーム25の軸線回りに回転させる。そして、3次元形状測定装置30に新たな画像測定を行わせるとともに、画像処理装置42に図4の変換テーブル作成プログラムを実行させる。したがって、画像処理装置42は、前記場合と同様に、3次元形状測定装置30の回転位置における変換パラメータを計算するとともに、その第3アーム25の先端部に対する同第3アーム25の軸線回りの回転角θに対応させて、前記計算した変換パラメータを前記変換テーブルに追加記憶する。
【0056】
このように3次元形状測定装置30を順次ほぼ所定角度ずつ回転させては、変換テーブル作成プログラムの実行により、回転角に対応した変換パラメータを追加記憶させる。したがって、最終的には、第3アーム25の先端部に対する3次元形状測定装置30の第3アーム25の軸線回りのほぼ所定角度ごとの複数組の変換パラメータが変換テーブル内に記憶されることになる(図6参照)。
【0057】
前記のような3次元形状測定装置30の回転移動を小さな角度ずつ行うほど、表示装置44にて最終的に表示される測定対象物80の表示精度は向上する。しかし、3次元形状測定装置30を小さな角度ずつ回転移動することによる手間が増すので、適度な角度ずつ行なえばよい。例えば、45度程度ずつ行なえばよい。また、回転角に関しては、均等な角度にすることが望ましいが、多少のずれは問題にならない。
【0058】
このような変換パラメータの生成後、ユーザは、球体61,62,63を基台10上から取り除いて、同基台10上に測定対象物80を配置する。そして、3次元形状測定装置30を手で持って、回転ロッド22、第1〜第3アーム25および3次元形状測定装置30の各連結部における回転変位を伴いながら、測定対象物80に対して所望の位置および角度に3次元形状測定装置30を移動する。これと同時に、入力装置43を操作して測定対象物80の立体表示を指示する。これに応答して、画像処理装置42は、図5の測定対象物表示プログラムの実行をステップS40にて開始して、ステップS42にて測定対象物80の3次元立体形状を表す測定情報の入力を待つ。一方、3次元形状測定装置30は、コントローラ41によって制御され、測定対象物80の3次元立体表面形状の測定を開始する。そして、3次元形状測定装置30が測定対象物80の測定を終了すると、測定結果を表す情報を画像処理装置42に出力する。
【0059】
画像処理装置42は、ステップS42にて、上記ステップS24の処理と同様にして3次元形状測定装置30からの測定情報を入力するとともに、この入力した測定情報に基づいて測定対象物80に関する3次元画像データを計算する。
【0060】
次に、ステップS44にて、回転角センサ26eによる検出回転角、すなわち3次元形状測定装置30の第3アーム25の先端部に対する同第3アーム25の軸線回りの回転角θを入力する。そして、同ステップS44にて、画像処理装置42におけるメモリ装置内の変換テーブルが参照され、測定部座標系の座標(X,Y,Z)をアーム座標系の座標(X’,Y’,Z’)に変換するための前記入力した回転角θに対応した1組の変換パラメータを決定する。具体的には、変換テーブルには離散的な複数の回転角に対して複数組の変換パラメータが記憶されているので、前記検出回転角θを用いた補間演算により、変換パラメータを計算する。
【0061】
次に、ステップS46にて、前記ステップS44の処理によって計算した変換パラメータを用い、上記数4の座標変換演算を行って、3次元形状測定装置30によって測定されて測定対象物80の外表面の立体形状を表す3次元画像データを、アーム座標系における3次元画像データに変換する。
【0062】
次に、ステップS48にて、支持機構20内に設けた回転角センサ26a〜26eによる検出回転角をそれぞれ入力して、アーム座標系の座標を固定座標系の座標に変換するための変換パラメータであって、固定ポール21、回転ロッド22および第1〜第3アーム23〜25の動きに対応した変換パラメータを計算する。この変換パラメータの計算においては、前記入力した検出回転角と、固定ポール21、回転ロッド22および第1〜第3アーム23〜25のアームの長さとを用いて、アーム座標系から見た固定座標系の原点の座標すなわちアーム座標系における固定座標系の原点の座標(xoa,yob,zoc)をパラメータa,b,cとして計算するとともに、アーム座標系の各座標軸を基準にした固定座標の各座標軸の回転角をパラメータα,β,γとして計算する。
【0063】
次に、ステップS50にて、前記ステップS48の処理によって計算した変換パラメータα,β,γ,a,b,cを用い、上記数2,3(または、数4,5でも同じ)の座標変換演算を行って、前記ステップS46の処理によって計算したアーム座標系の3次元画像データを固定座標系の3次元画像データに変換する。そして、画像処理装置42は、ステップS52にて、表示装置44を制御して前記変換した固定座標系の3次元画像データに基づく測定対象物80の立体画像を表示する。これにより、3次元形状測定装置30を任意の位置に移動させても、表示装置44において固定座標系における測定対象物80の立体画像が表示される。
【0064】
上記作動説明からも理解できるとおり、上記実施形態によれば、第3アーム25の先端部に対する3次元形状測定装置30の回転に偏心が生じていても、図5のステップS44,46により、前記偏心を考慮した変換パラメータを用いて、測定部座標系の座標がアーム座標系の座標に変換される。そして、ステップS48,S50の処理により、支持機構20内の変位に応じた座標変換パラメータを用いて、アーム座標系の座標が固定座標系の座標に変換される。したがって、上記実施形態によれば、前記偏心に起因した誤差の影響が除去されて、3次元形状測定装置30によって測定された測定対象物80を表す固定座標系の3次元画像データが常に高精度で計算されるようになる。
【0065】
また、上記実施形態によれば、触針測定プログラムの実行により、ユーザは、円形プレート60上に球体61,62,63を置くとともに、触針50を支持機構20の先端部に固定して、触針50を球体61,62,63に接触させるだけで、定点としての球体61,62,63の中心座標が自動的に計算される。そして、変換テーブル作成プログラムの実行により、ユーザは、3次元形状測定装置30を第3アーム25の先端部に対して回転させながら、3次元形状測定装置30に球体61,62,63の3次元形状を測定させるだけで、前記偏心を考慮した複数組の変換パラメータを含む変換テーブルが作成される。したがって、ユーザは、簡単な操作により、定点の座標を特定できるとともに、測定部座標系の座標をアーム座標系の座標に変換するための前記変換テーブルを作成できる。
【0066】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変形も可能である。
【0067】
例えば、上記実施形態では、基準物体として球体61,62,63を用いるようしたが、触針50の接触によって定点の座標を特定でき、かつ3次元形状測定装置30による外形形状の測定によって物体が特定できるとともに同物体によって規定される定点の座標が特定できるものであれば、球体以外の物体を基準物体として利用することもできる。例えば、円錐体、円柱体、直方体など、物体及び定点を特定し易い物体を基準物体として利用できる。
【0068】
また、測定対象物80とは別な球体、円錐体、円柱体、直方体などの基準物体を用いなくても、測定対象物80内に定点を特定し易い形状(例えば、球状部、円錐状部、円柱状部、直方体状部など)が存在すれば、測定対象物80内の特定部分を基準物体として利用してもよい。
【0069】
さらに、測定対象空間内に定点を定めて、この定点を3次元形状測定装置30による外形形状の測定によって特定できれば、基準物体を設ける必要もない。この場合、定点を触針50を用いて上記実施形態のように固定座標系における定点座標を求めてもよいが、定点を表す座標であって固定座標系の座標が特定できれば、触針50を用いる必要もない。
【0070】
また、上記実施形態においては、アーム座標系の原点を第3アーム25に対して回転する接続ロッド32側の点に定めるようにしたが、第3アーム25側の一点をアーム座標系の原点として定めてもよい。この場合、上記実施形態の図4のテップS28のアーム座標系の原点座標(xd、yd、zd)および回転角α,β,γの計算においては、回転角センサ26a〜26eからの検出回転角に代えて回転角センサ26a〜26dからの検出回転角を用いて計算する。また、上記実施形態の図5のステップS48の変換パラメータa,b,c,α,β,γの計算においても、回転角センサ26a〜26eからの検出回転角に代えて回転角センサ26a〜26dからの検出回転角を用いて計算する。
【0071】
また、上記実施形態においては、変換テーブル内の変換パラメータの作成時に、ユーザがガイド装置70を用いて3次元形状測定装置30を第3アーム25の先端部に対して回転させるとともに、3次元形状測定装置30による基準物体(球体61,62,63)の形状測定の指示および画像処理装置42に対する変換テーブル作成プログラムの実行の指示を行うようにした。しかし、これに代えて、3次元形状測定装置30を自動的に回転させる回転機構を設けて、3次元形状測定装置30を自動的に所定角ずつ回転させては、3次元形状測定装置30による基準物体の形状測定の指示および画像処理装置42に対する変換テーブル作成プログラムの実行の指示を自動的に行うようにしてもよい。
【0072】
また、上記実施形態においては、支持機構20内の各部材の変位として回転変位のみを用いるようにしたが、各部材を直線移動させる部分を含ませたりしてもよい。また、直線移動する複数の部分のみで構成してもよい。
【0073】
さらに、上記実施形態においては、入力装置43を構成する操作子の操作により、3次元形状測定装置30および画像処理装置42の作動を制御するようにした。しかし、これに代え、3次元形状測定装置30にも操作子を設けておき、同操作子の操作に応じて3次元形状測定装置30および画像処理装置42の作動を制御するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る3次元形状測定システムの全体を示す概略図である。
【図2】図1の3次元形状測定装置と第3アームとの取り付け部分を拡大して示す部分断面図である。
【図3】図1の画像処理装置によって実行される触針測定プログラムのフローチャートである。
【図4】図1の画像処理装置によって実行される変換テーブル作成プログラムのフローチャートである。
【図5】図1の画像処理装置によって実行される測定対象物表示プログラムのフローチャートである。
【図6】図1の画像処理装置のメモリ装置内に設けた変換テーブルのデータフォーマット図である。
【図7】図1の支持機構に触針を組み付けて、同触針を球体に接触させた状態を示す概略斜視図である。
【図8】図1の3次元形状測定装置をガイド装置によって回転させている状態を示す概略斜視図である。
【符号の説明】
10…基台、20…支持機構、21…固定ポール、22…回転ロッド、23〜25…アーム、30…3次元形状測定装置、41…コントローラ、42…画像処理装置、43…入力装置、44…表示装置、50…触針、60…円形プレート、61〜63…球体、70…ガイド装置、80…測定対象物。
Claims (8)
- 複数の支持部材を順次連結するとともに各連結部にて一方の支持部材に対して他方の支持部材を相対変位可能に構成した支持機構を有し、前記支持機構の先端部に物体の3次元形状を測定する測定装置を一軸線回りに回転可能に取り付けて、前記測定装置を所望位置に移動させて所望位置から測定対象物の3次元形状を測定できるようにした3次元形状測定システムにおいて、
前記測定装置に関する座標系の座標を前記支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための参照変換パラメータであって、前記支持機構の先端部に対する前記測定装置の回転角に応じて変化する参照変換パラメータを予め記憶しておくためのパラメータ記憶手段と、
前記支持機構の先端部に対する前記測定装置の回転角を検出する回転角検出手段と、
前記支持機構の各連結部における一方の支持部材に対する他方の支持部材の相対変位量をそれぞれ検出する相対変位量検出手段と、
前記測定装置による測定対象物の測定時に前記回転角検出手段により検出された回転角に基づいて、前記パラメータ記憶手段に記憶されている参照変換パラメータを用い、前記測定装置に関する座標系の座標を前記支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための前記検出された回転角に対応した第1変換パラメータを計算する第1変換パラメータ計算手段と、
前記測定装置による測定対象物の測定時に前記相対変位量検出手段によって検出された相対変位量を用いて、前記支持機構の先端部に関する座標系の座標を前記支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するための第2変換パラメータを計算する第2変換パラメータ計算手段と、
前記計算された第1変換パラメータおよび第2変換パラメータを用いて、前記測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標を、前記測定対象物を表す座標であって前記支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換する座標変換手段と
を備えたことを特徴とする3次元形状測定システム。 - 前記請求項1に記載した3次元形状測定システムにおいて、さらに
予め決められた定点を表す座標であって前記支持機構の基端部に関する座標系の座標、前記測定装置によって測定された前記定点を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標、および前記測定装置による定点の測定時に前記相対変位量検出手段によって検出された相対変位量を用いて、前記参照変換パラメータを、前記支持機構の先端部に対する前記測定装置の複数の異なる回転角ごとに計算する参照変換パラメータ計算手段と、
前記複数の異なる回転角ごとに計算した参照変換パラメータを、前記測定装置による定点の測定時に前記回転角検出手段によって検出された回転角に対応させて、前記パラメータ記憶手段に書き込むパラメータ書き込み手段とを備えた3次元形状測定システム。 - 前記請求項2に記載した3次元形状測定システムにおいて、
前記定点は測定対象空間内に置かれた基準物体によって規定され、
前記参照変換パラメータ計算手段は、前記支持機構の先端部に固定した触針の前記基準物体への接触時に、前記相対変位量検出手段によって検出された相対変位量に基づいて、前記定点を表す座標であって前記支持機構の基端部に関する座標系の座標を計算するものである定点座標計算手段を含む3次元形状測定システム。 - 前記請求項3に記載した3次元形状測定システムにおいて、
前記基準物体は球体であり、
前記参照変換パラメータ計算手段は、前記基準物体の複数の異なる位置への前記触針の接触時に前記相対変位量検出手段によってそれぞれ検出された複数組の相対変位量に基づいて、前記定点を表す座標であって前記支持機構の基端部に関する座標系の座標を計算する3次元形状測定システム。 - 複数の支持部材を順次連結するとともに各連結部にて一方の支持部材に対して他方の支持部材を相対変位可能に構成した支持機構を有し、前記支持機構の先端部に物体の3次元形状を測定する測定装置を一軸線回りに回転可能に取り付けて、前記測定装置を所望位置に移動させて所望位置から測定対象物の3次元形状を測定できるようにした3次元形状測定方法において、
前記測定装置に関する座標系の座標を前記支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための参照変換パラメータであって、前記支持機構の先端部に対する前記測定装置の回転角に応じて変化する参照変換パラメータを生成するパラメータ生成ステップと、
前記測定装置による測定対象物の測定時に回転角検出手段により検出された前記支持機構の先端部に対する前記測定装置の回転角に基づいて、前記生成された参照変換パラメータを用い、前記測定装置に関する座標系の座標を前記支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための前記検出された回転角に対応した第1変換パラメータを計算する第1変換パラメータ計算ステップと、
前記測定装置による測定対象物の測定時に相対変位量検出手段によって検出された前記支持機構の各連結部における一方の支持部材に対する他方の支持部材の相対変位量を用いて、前記支持機構の先端部に関する座標系の座標を前記支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するための第2変換パラメータを計算する第2変換パラメータ計算ステップと、
前記計算された第1変換パラメータおよび第2変換パラメータを用いて、前記測定装置によって測定された想定対象物を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標を、前記支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換する座標変換ステップと
を備えたことを特徴とする3次元形状測定システム。 - 前記請求項5に記載した3次元形状測定方法において、
前記パラメータ生成ステップを、
予め決められた定点を表す座標であって前記支持機構の基端部に関する座標系の座標、前記測定装置によって測定された定点を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標、および前記測定装置による定点の測定時に前記相対変位量検出手段によって検出された相対変位量を用いて、前記参照変換パラメータを、前記支持機構の先端部に対する前記測定装置の複数の異なる回転角ごとに計算する参照変換パラメータ計算ステップと、
前記複数の回転角ごとに計算した参照変換パラメータを、前記測定装置による定点の測定時に前記回転角検出手段によって検出された回転角に対応させて、パラメータ記憶装置に書き込むパラメータ書き込みステップとで構成した3次元形状測定方法。 - 前記請求項6に記載した3次元形状測定方法において、
前記定点は前記測定対象物の測定前に測定対象空間内に置かれた基準物体によって規定され、
前記参照変換パラメータ計算ステップは、前記支持機構の先端部に固定した触針を前記基準物体に接触させて、同接触時に前記相対変位量検出手段によって検出された相対変位量に基づいて、前記定点を表す座標であって前記支持機構の基端部に関する座標系の座標を計算する定点座標計算ステップを含む3次元形状測定方法。 - 前記請求項7に記載した3次元形状測定方法において、
前記基準物体は球体であり、
前記参照変換パラメータ計算ステップは、前記基準物体の複数の異なる位置に前記触針を接触させ、各接触時に前記相対変位量検出手段によってそれぞれ検出された複数組の相対変位量に基づいて、前記定点を表す座標であって前記支持機構の基端部に関する座標系の座標を計算するものである3次元形状測定方法。
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