JP2011519109A - 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 26
- 230000001603 reducing effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 4
- 238000011176 pooling Methods 0.000 claims description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 abstract description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000007334 memory performance Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/18—Bit line organisation; Bit line lay-out
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
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- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/10—Decoders
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/12—Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
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Abstract
Description
P=CV2fA
であり、P=ダイナミック電力、Cはラインキャパシタンス、Vは動作させられているラインに印加される電圧、fはメモリアクセスの周波数、Aはアクティヴィティファクタ、すなわち、読み取り及び書き込みを通してのシステムサイクルとしての切り替え回数である。
Claims (20)
- メモリであって、
前記メモリへのデータアクセスのためのセグメント化されたビットラインを備え、
前記ビットラインは、ラッチリピータによって制御されるセグメントを有する
メモリ。 - 前記ラッチリピータは、メモリアドレスの一定のビットによって制御される
請求項1のメモリ。 - 前記ラッチリピータは、クオリファイアによってさらに制御され、
前記クオリファイアは、読み取りイネーブル信号及び書き込みイネーブル信号のリストから選択される
請求項2のメモリ。 - 複数のアクセスにわたって前記ラッチリピータの状態を維持するためのラッチ
をさらに備えた請求項2のメモリ。 - 電気的メモリの電力低減の方法であって、前記方法は、
メモリアクセスのアドレスビットに基づいてビットラインのセグメントを選択することと、
選択されたビットラインセグメントをイネーブルにするために前記ビットライン上のラッチリピータをアップデートすることと、
を備えた方法。 - 複数のアクセスにわたって前記ラッチリピータのアップデートされた値を保持すること、
をさらに備えた請求項5の方法。 - 前記アドレスビットに追加した一定のクオリファイアに基づいて前記選択することを遅延させること、
をさらに備えた請求項5の方法。 - メモリ動作の方法であって、
前記メモリの全てよりも少ない前記メモリが、一定のメモリアクセスについてポーリングされる(polled)ように、前記メモリの一定のセクタをセグメント化することと、
メモリプーリング(pooling)サイクルの間に、必要なメモリセクタのみをイネーブルにすることと、
を備えた方法。 - 前記セグメント化することは、
ビットラインを少なくとも2つのセグメントに分割すること
を備える請求項8の方法。 - ビットラインセグメントをイネーブルにするようにラッチリピータをイネーブルにすることをさらに備え、前記ラッチリピータは、受け取ったメモリアドレス位置の最上位ビットの値によって、少なくとも一部が制御される
請求項9の方法。 - 前記セグメント化することは、
ワードラインを少なくとも2つのセグメントにセグメント化すること
を備える請求項8の方法。 - ワードラインセグメントをイネーブルにするようにラッチリピータをイネーブルにすることをさらに備え、前記ラッチリピータは、受け取ったメモリアドレス位置から分離して受け取られた信号によって、少なくとも一部が制御される
請求項11の方法。 - メモリであって、
複数のメモリアレイであって、データを記憶するように適合された前記メモリアレイと、
前記メモリアレイへのアクセスを制御するための少なくとも1つのビットラインと、
前記ビットラインに位置する少なくとも1つのラッチリピータと、
を備えたメモリ。 - 前記ラッチリピータをイネーブルにするためのゲートであって、前記メモリによって受け取られたアクセスアドレスの一定のビットに応答するゲートを
さらに備えた請求項13のメモリ。 - 前記ゲートの制御のための信号を確立するための制御回路をさらに備え、前記制御回路は、少なくとも一部において、前記メモリで受け取られたアドレスの少なくとも1つのビット位置に含まれる値から動作し、前記アドレスはターゲットメモリアレイに対応している
請求項14のメモリ。 - 前記制御回路は、前記ゲートをイネーブルにすることをさらに制御するためにクオリファイアを供給するようにさらに動作可能である
請求項15のメモリ。 - 前記ラッチリピータは、
メモリサイクルにわたって前記ラッチリピータの状態を保持するために動作可能なラッチ
をさらに備える請求項13のメモリ。 - 前記ラッチリピータは、
伝達スイッチによって分離されるゲートのペアをさらに備え、
前記伝達スイッチは、前記ラッチリピータがイネーブルであるときに、前記ゲートペアの第1のペアからのデータを前記ゲートペアの第2のペアを通過させるために動作可能である
請求項17のメモリ。 - 前記メモリをワードラインセグメントに分離するための少なくとも1つのラッチリピータ
をさらに備えた請求項13のメモリ。 - 1つのメモリアクセス信号よりも長い間、前記ラッチリピータをイネーブルな状態に維持させるための回路
をさらに備えた請求項14のメモリ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/108,608 | 2008-04-24 | ||
US12/108,608 US7791976B2 (en) | 2008-04-24 | 2008-04-24 | Systems and methods for dynamic power savings in electronic memory operation |
PCT/US2009/039913 WO2009131836A1 (en) | 2008-04-24 | 2009-04-08 | Systems and methods for dynamic power savings in electronic memory operation |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013209714A Division JP5661891B2 (ja) | 2008-04-24 | 2013-10-04 | 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011519109A true JP2011519109A (ja) | 2011-06-30 |
JP5461526B2 JP5461526B2 (ja) | 2014-04-02 |
Family
ID=40732072
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011506347A Expired - Fee Related JP5461526B2 (ja) | 2008-04-24 | 2009-04-08 | 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 |
JP2013209714A Active JP5661891B2 (ja) | 2008-04-24 | 2013-10-04 | 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 |
JP2014245269A Pending JP2015084269A (ja) | 2008-04-24 | 2014-12-03 | 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 |
JP2016199194A Pending JP2017033623A (ja) | 2008-04-24 | 2016-10-07 | 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 |
Family Applications After (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013209714A Active JP5661891B2 (ja) | 2008-04-24 | 2013-10-04 | 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 |
JP2014245269A Pending JP2015084269A (ja) | 2008-04-24 | 2014-12-03 | 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 |
JP2016199194A Pending JP2017033623A (ja) | 2008-04-24 | 2016-10-07 | 電気的メモリ動作におけるダイナミック電力セービングのためのシステム及び方法 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7791976B2 (ja) |
EP (2) | EP2291845B1 (ja) |
JP (4) | JP5461526B2 (ja) |
KR (1) | KR101234110B1 (ja) |
CN (2) | CN104599701A (ja) |
CA (1) | CA2720069A1 (ja) |
MX (1) | MX2010011625A (ja) |
RU (1) | RU2464655C2 (ja) |
TW (1) | TWI415136B (ja) |
WO (1) | WO2009131836A1 (ja) |
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-
2008
- 2008-04-24 US US12/108,608 patent/US7791976B2/en active Active
-
2009
- 2009-04-08 CN CN201510083986.8A patent/CN104599701A/zh active Pending
- 2009-04-08 JP JP2011506347A patent/JP5461526B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-04-08 EP EP09735578.8A patent/EP2291845B1/en active Active
- 2009-04-08 CA CA2720069A patent/CA2720069A1/en not_active Abandoned
- 2009-04-08 KR KR1020107026371A patent/KR101234110B1/ko active IP Right Grant
- 2009-04-08 WO PCT/US2009/039913 patent/WO2009131836A1/en active Application Filing
- 2009-04-08 CN CN200980114380.9A patent/CN102017001B/zh active Active
- 2009-04-08 MX MX2010011625A patent/MX2010011625A/es active IP Right Grant
- 2009-04-08 RU RU2010147827/08A patent/RU2464655C2/ru active
- 2009-04-08 EP EP13186540.4A patent/EP2682943B1/en active Active
- 2009-04-16 TW TW098112695A patent/TWI415136B/zh active
-
2010
- 2010-07-30 US US12/847,660 patent/US8199602B2/en active Active
-
2013
- 2013-10-04 JP JP2013209714A patent/JP5661891B2/ja active Active
-
2014
- 2014-12-03 JP JP2014245269A patent/JP2015084269A/ja active Pending
-
2016
- 2016-10-07 JP JP2016199194A patent/JP2017033623A/ja active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5461526B2 (ja) | 2014-04-02 |
JP5661891B2 (ja) | 2015-01-28 |
EP2291845A1 (en) | 2011-03-09 |
TW201005750A (en) | 2010-02-01 |
CN104599701A (zh) | 2015-05-06 |
JP2017033623A (ja) | 2017-02-09 |
CN102017001A (zh) | 2011-04-13 |
EP2291845B1 (en) | 2014-08-06 |
RU2010147827A (ru) | 2012-05-27 |
US7791976B2 (en) | 2010-09-07 |
MX2010011625A (es) | 2010-11-30 |
KR101234110B1 (ko) | 2013-02-19 |
CA2720069A1 (en) | 2009-10-29 |
US8199602B2 (en) | 2012-06-12 |
EP2682943B1 (en) | 2019-05-15 |
EP2682943A1 (en) | 2014-01-08 |
WO2009131836A1 (en) | 2009-10-29 |
US20100290305A1 (en) | 2010-11-18 |
KR20110002103A (ko) | 2011-01-06 |
RU2464655C2 (ru) | 2012-10-20 |
US20090268540A1 (en) | 2009-10-29 |
TWI415136B (zh) | 2013-11-11 |
JP2014056638A (ja) | 2014-03-27 |
JP2015084269A (ja) | 2015-04-30 |
CN102017001B (zh) | 2015-03-25 |
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A601 | Written request for extension of time |
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A602 | Written permission of extension of time |
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A521 | Request for written amendment filed |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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