JP2011135032A - 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 - Google Patents
積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011135032A JP2011135032A JP2010159675A JP2010159675A JP2011135032A JP 2011135032 A JP2011135032 A JP 2011135032A JP 2010159675 A JP2010159675 A JP 2010159675A JP 2010159675 A JP2010159675 A JP 2010159675A JP 2011135032 A JP2011135032 A JP 2011135032A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- multilayer ceramic
- ceramic capacitor
- dielectric layer
- length
- firing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 53
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 31
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- UONOETXJSWQNOL-UHFFFAOYSA-N tungsten carbide Chemical compound [W+]#[C-] UONOETXJSWQNOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 7
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 88
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 8
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 8
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 6
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 5
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 5
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000009969 flowable effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 229920003225 polyurethane elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
- H01G4/01—Form of self-supporting electrodes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明は、加圧工程時に有効層の段差の発生による内部電極の長さの差と、製品の信頼性との関係を提供するものであって、内部電極及び誘電体層が交互に積層されたキャパシタを加圧及び切断した後に焼成し、本発明の実施例によると、内部電極及び誘電体層が交互に積層されて形成されたキャパシタ本体を含み、前記内部電極の最大の長さをLとし、前記内部電極の最小の長さをlと定義すると、この際の内部電極の長さの差の比率(D={L−l}/L×100)が7%以下となる積層セラミックキャパシタ及びその製造方法が提供される。
【選択図】図2a
Description
D={L−l}/L×100
また、上記有効層Eの上面及び下面には、誘電体層が積層されて形成された保護層Pを含むことができる。上記保護層Pは、上記有効層Eの上面及び下面に複数の誘電体層が連続的に積層されて形成されることによって、上記有効層Eを外部の衝撃等から保護することができる。
本発明の実施例による積層セラミックキャパシタの製造工程を概略的に示した断面図である図5aを参照すると、キャパシタ本体1の誘電体層10は、バインダー11wt%、可塑剤20wt%及び残量0.1μm〜0.40μmの粒度分布を有する誘電体物質を含んで構成される。上記キャパシタ本体を形成するステップにおいて、加圧時に段差部の陥没量が増加するように、上記キャパシタ本体の上面及び下面のうち少なくとも一面に積層される上記誘電体層を形成する有機物含量を、上記誘電体層に比べて10%〜30%増加させることができる。上記構成物質を含むスラリーを成形して得られた誘電体層10に導電性の内部電極20を印刷した。次いで、印刷された誘電体層10で一定の厚さの積層体を製作し、誘電体層10と同一の有機物組成である保護層Pを適用した後、図5bに示したように一定温度で加圧し、図5cのように切断した後、焼成工程を行った。その後、外部電極2の付着及びメッキ工程を行って積層セラミックキャパシタを製作した。なお、上記キャパシタ本体の加圧は、上記キャパシタ本体の上部面及び下部面のうち少なくともいずれか一面に流動性副資材を適用し、アイソスタティック圧(isostatic press)により加圧される。また、上記キャパシタ本体は、常温〜100℃において500kgf/cm2〜1500kgf/cm2で加圧される。上記キャパシタ本体の切断は、タングステンカーバイド(W−C)を含むブレードによる切断方法及びホイールカッティング(wheel cutting)方法のうち少なくとも1つで行われる。上記加圧と焼成との間に、個別単位を形成するように上記キャパシタ本体を切断することができる。
本発明の実施例による積層セラミックキャパシタの製造工程を概略的に示した断面図である図5aを参照すると、キャパシタ本体1の誘電体層10は、バインダー11wt%、可塑剤20wt%及び残量0.1μm〜0.40μmの粒度分布を有する誘電体物質を含んで構成される。上記構成物質を含むスラリーを製造した後、誘電体層10の厚さ別に成形し、導電性の内部電極20を印刷した。次いで、印刷された誘電体層10で一定の厚さの積層体を製作し、圧着温度及び昇圧プロファイルを変更して加圧した後、切断、焼成、外部電極の付着及びメッキ工程を行って積層セラミックキャパシタを製作した。
2 外部電極
10 誘電体層
20 内部電極
P 保護層
E 有効層
R 流動性副資材
Claims (16)
- 内部電極及び誘電体層が交互に積層されて形成されたキャパシタ本体を含み、
前記内部電極の最大の長さをLとし、前記内部電極の最小の長さをlと定義すると、この際の内部電極の長さの差の比率(D={L−l}/L×100)が7%以下となることを特徴とする積層セラミックキャパシタ。 - 焼成後、前記誘電体層の厚さが0.65μm〜1.20μmであると、前記内部電極の前記長さの差の比率Dが5.3%以下となることを特徴とする請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
- 焼成後、前記誘電体層の厚さが1.30μm〜2.50μmであると、前記内部電極の前記長さの差の比率Dが6.0%以下となることを特徴とする請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
- 焼成後、前記誘電体層の厚さが3.0μm〜4.0μmであると、前記内部電極の前記長さの差の比率Dが6.8%以下となることを特徴とする請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
- 前記誘電体層の積層方向に露出された前記内部電極と電気的に連結される外部電極がさらに備えられることを特徴とする請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
- 前記誘電体層の積層数は10〜1000であることを特徴とする請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
- 内部電極及び誘電体層を交互に積層してキャパシタ本体を形成するステップと、
前記キャパシタ本体を加圧するステップと、
前記キャパシタ本体を焼成するステップと、
を含み、
前記内部電極の最大の長さをLとし、前記内部電極の最小の長さをlと定義すると、この際の内部電極の長さの差の比率(D={L−l}/L×100)が7%以下となることを特徴とする積層セラミックキャパシタの製造方法。 - 前記加圧するステップと前記焼成するステップとの間に、
個別単位を形成するように前記キャパシタ本体を切断するステップをさらに含むことを特徴とする請求項7に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。 - 前記加圧するステップと前記焼成するステップとの間に、
前記誘電体層の積層方向に露出された前記内部電極と電気的に連結される外部電極を形成するステップをさらに含むことを特徴とする請求項7に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。 - 焼成後、前記誘電体層の厚さが0.65μm〜1.20μmであると、前記内部電極の前記長さの差の比率Dが5.3%以下となることを特徴とする請求項7に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
- 焼成後、前記誘電体層の厚さが1.30μm〜2.50μmであると、前記内部電極の前記長さの差の比率Dが6.0%以下となることを特徴とする請求項7に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
- 焼成後、前記誘電体層の厚さが3.0μm〜4.0μmであると、前記内部電極の前記長さの差の比率Dが6.8%以下となることを特徴とする請求項7に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
- 前記キャパシタ本体を形成するステップにおいて、
加圧時に段差部の陥没量が増加するように、前記キャパシタ本体の上面及び下面のうち少なくとも一面に積層される前記誘電体層を形成する有機物含量を、前記誘電体層に比べて10%〜30%増加させることを特徴とする請求項7に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。 - 前記キャパシタ本体を加圧するステップにおいて、
前記キャパシタ本体の上部面及び下部面のうち少なくともいずれか一面に流動性副資材を適用し、アイソスタティック圧により加圧することを特徴とする請求項7に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。 - 前記キャパシタ本体を加圧するステップにおいて、
前記キャパシタ本体は、常温〜100℃において500kgf/cm2〜1500kgf/cm2で加圧されることを特徴とする請求項7に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。 - 前記キャパシタ本体を切断するステップは、タングステンカーバイド(W−C)を含むブレードによる切断方法及びホイールカッティング方法のうち少なくとも1つで行われることを特徴とする請求項8に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090131172A KR101079408B1 (ko) | 2009-12-24 | 2009-12-24 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 |
KR10-2009-0131172 | 2009-12-24 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011135032A true JP2011135032A (ja) | 2011-07-07 |
Family
ID=44174657
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010159675A Pending JP2011135032A (ja) | 2009-12-24 | 2010-07-14 | 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8194390B2 (ja) |
JP (1) | JP2011135032A (ja) |
KR (1) | KR101079408B1 (ja) |
CN (1) | CN102110528B (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015061074A (ja) * | 2013-09-17 | 2015-03-30 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミック電子部品及び積層セラミック電子部品の実装基板 |
US9165713B2 (en) | 2013-04-17 | 2015-10-20 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component and board for mounting the same |
JP2017228731A (ja) * | 2016-06-24 | 2017-12-28 | 京セラ株式会社 | 積層型電子部品 |
JP2019029379A (ja) * | 2017-07-25 | 2019-02-21 | Tdk株式会社 | 電子部品及びその製造方法 |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5025570B2 (ja) * | 2008-04-24 | 2012-09-12 | 京セラ株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
KR101079478B1 (ko) * | 2009-12-30 | 2011-11-03 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 |
JP2012142478A (ja) * | 2011-01-05 | 2012-07-26 | Murata Mfg Co Ltd | 積層型電子部品およびその製造方法 |
JP5313289B2 (ja) * | 2011-04-15 | 2013-10-09 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
KR101539808B1 (ko) | 2011-06-23 | 2015-07-28 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 |
KR101300359B1 (ko) * | 2011-11-02 | 2013-08-28 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 및 그 제조방법 |
KR101882998B1 (ko) * | 2011-11-25 | 2018-07-30 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 |
JP5414940B1 (ja) * | 2012-09-27 | 2014-02-12 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
KR101462753B1 (ko) * | 2013-01-24 | 2014-11-17 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법 |
KR101565640B1 (ko) * | 2013-04-08 | 2015-11-03 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 |
US9460855B2 (en) * | 2013-10-01 | 2016-10-04 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor and board having the same |
KR101499726B1 (ko) * | 2014-01-24 | 2015-03-06 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
CN109891535B (zh) * | 2016-11-04 | 2020-12-29 | 株式会社村田制作所 | 固体电解电容器 |
KR20190116139A (ko) * | 2019-07-22 | 2019-10-14 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 및 그 제조방법 |
KR20220079232A (ko) * | 2020-12-04 | 2022-06-13 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 |
KR20230064855A (ko) | 2021-11-04 | 2023-05-11 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 |
CN117241656A (zh) * | 2023-10-30 | 2023-12-15 | 苏州希盟科技股份有限公司 | 一种压电堆叠装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03173108A (ja) * | 1989-11-30 | 1991-07-26 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
JPH09129487A (ja) * | 1995-11-06 | 1997-05-16 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
JPH11297566A (ja) * | 1998-04-07 | 1999-10-29 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
JP2000124057A (ja) * | 1998-10-12 | 2000-04-28 | Tdk Corp | 積層型セラミックコンデンサ |
JP2003127123A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-05-08 | Taiheiyo Cement Corp | グリーンシート積層成形体の切断方法 |
JP2005044903A (ja) * | 2003-07-24 | 2005-02-17 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の外部電極形成方法 |
JP2005136173A (ja) * | 2003-10-30 | 2005-05-26 | Kyocera Corp | コンデンサ |
JP2009246102A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Tdk Corp | 積層電子部品の製造方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08279435A (ja) | 1995-04-07 | 1996-10-22 | Murata Mfg Co Ltd | 積層型セラミックコンデンサ |
TW327690B (en) * | 1996-12-06 | 1998-03-01 | Philips Eloctronics N V | Multi-layer capacitor |
US5880925A (en) * | 1997-06-27 | 1999-03-09 | Avx Corporation | Surface mount multilayer capacitor |
JP3548821B2 (ja) * | 1999-05-10 | 2004-07-28 | 株式会社村田製作所 | 積層コンデンサ、ならびにこれを用いた電子装置および高周波回路 |
JP2000357624A (ja) * | 1999-06-16 | 2000-12-26 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
WO2001033588A1 (fr) | 1999-11-02 | 2001-05-10 | Tdk Corporation | Condensateur multicouche |
JP4086812B2 (ja) | 2004-05-31 | 2008-05-14 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
JP4418969B2 (ja) * | 2005-06-03 | 2010-02-24 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
JP2008091400A (ja) | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Tdk Corp | 積層セラミックコンデンサ及びその製造方法 |
JP5164463B2 (ja) | 2007-07-26 | 2013-03-21 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサの製造方法及び積層セラミックコンデンサ |
JP4501970B2 (ja) * | 2007-08-23 | 2010-07-14 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
-
2009
- 2009-12-24 KR KR1020090131172A patent/KR101079408B1/ko active IP Right Grant
-
2010
- 2010-07-14 JP JP2010159675A patent/JP2011135032A/ja active Pending
- 2010-07-23 CN CN201010238252XA patent/CN102110528B/zh active Active
- 2010-07-26 US US12/843,280 patent/US8194390B2/en active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03173108A (ja) * | 1989-11-30 | 1991-07-26 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
JPH09129487A (ja) * | 1995-11-06 | 1997-05-16 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
JPH11297566A (ja) * | 1998-04-07 | 1999-10-29 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
JP2000124057A (ja) * | 1998-10-12 | 2000-04-28 | Tdk Corp | 積層型セラミックコンデンサ |
JP2003127123A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-05-08 | Taiheiyo Cement Corp | グリーンシート積層成形体の切断方法 |
JP2005044903A (ja) * | 2003-07-24 | 2005-02-17 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の外部電極形成方法 |
JP2005136173A (ja) * | 2003-10-30 | 2005-05-26 | Kyocera Corp | コンデンサ |
JP2009246102A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Tdk Corp | 積層電子部品の製造方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9165713B2 (en) | 2013-04-17 | 2015-10-20 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component and board for mounting the same |
JP2015061074A (ja) * | 2013-09-17 | 2015-03-30 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミック電子部品及び積層セラミック電子部品の実装基板 |
US9595386B2 (en) | 2013-09-17 | 2017-03-14 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component and board having the same mounted thereon |
US9875850B2 (en) | 2013-09-17 | 2018-01-23 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component and board having the same mounted thereon |
JP2017228731A (ja) * | 2016-06-24 | 2017-12-28 | 京セラ株式会社 | 積層型電子部品 |
JP2019029379A (ja) * | 2017-07-25 | 2019-02-21 | Tdk株式会社 | 電子部品及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110074259A (ko) | 2011-06-30 |
US20110157765A1 (en) | 2011-06-30 |
US8194390B2 (en) | 2012-06-05 |
CN102110528A (zh) | 2011-06-29 |
KR101079408B1 (ko) | 2011-11-02 |
CN102110528B (zh) | 2012-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2011135032A (ja) | 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 | |
CN107103996B (zh) | 多层陶瓷电子组件及其制造方法 | |
KR101565640B1 (ko) | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 | |
KR101514512B1 (ko) | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 | |
TWI814730B (zh) | 積層陶瓷電容器及其製造方法 | |
KR101762032B1 (ko) | 적층 세라믹 전자부품 및 그 제조 방법 | |
JP5825322B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ、その製造方法及び積層セラミックキャパシタの実装基板 | |
US9281120B2 (en) | Multilayer ceramic electronic component and board having the same mounted thereon | |
JP2021010000A (ja) | 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 | |
US11152153B2 (en) | Multilayer ceramic electronic component with internal electrode including nickel powder and copper coating layer and method of manufacturing the same | |
JP5301524B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 | |
KR20190116113A (ko) | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조 방법 | |
CN103680947A (zh) | 多层陶瓷电容器及其制造方法 | |
KR101197787B1 (ko) | 적층형 세라믹 캐패시터 및 이의 제조방법 | |
JP2021044533A (ja) | 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 | |
KR20140020473A (ko) | 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법 | |
KR20130058430A (ko) | 적층 세라믹 전자부품 | |
JP2013115424A (ja) | 積層セラミック電子部品及びその製造方法 | |
JP5975170B2 (ja) | 誘電体磁器組成物およびそれを用いた積層セラミックコンデンサ | |
US20140126111A1 (en) | Multilayered ceramic electronic component and fabricating method thereof | |
US20140226254A1 (en) | Conductive paste composition, multilayer ceramic capacitor using the same, and method of manufacturing multilayer ceramic capacitor using the same | |
KR101792275B1 (ko) | 내부 전극용 도전성 페이스트, 이를 포함하는 적층 세라믹 전자 부품 및 그 제조 방법 | |
KR101422920B1 (ko) | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 | |
US9281121B2 (en) | Multilayer ceramic electronic component and manufacturing method thereof | |
KR101565725B1 (ko) | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111128 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111213 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120309 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120508 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120802 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130402 |