JP2011040240A - 荷電粒子線装置及び画像表示方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、荷電粒子源と、前記荷電粒子源から放出される一次荷電粒子線を集束する対物レンズと、前記一次荷電粒子線を試料上で走査する走査偏向器と、前記一次荷電粒子線の走査によって試料から発生する信号粒子を検出する検出器と、前記検出器の信号粒子を用いて試料像を取得する荷電粒子線装置において、前記一次荷電粒子線の試料への照射角を偏向する偏向器と、当該偏向器に電流を流す独立した第一及び第二の電源を備え、前記一次荷電粒子線の走査の一ライン単位又は一フレーム単位で、当該2つの電源から印加する電圧を切り替えるスイッチを備えることを特徴とする。
【選択図】 図3
Description
前記一次荷電粒子線の走査によって試料から発生する信号粒子を検出する検出器と、前記検出器の信号粒子を用いて試料像を取得する荷電粒子線装置において、
前記一次荷電粒子線の試料への照射角を偏向する偏向器と、当該偏向器に異なる2つの電圧を印加して、第一の画像及び第二の画像を取得し、当該第一の画像及び第二の画像を表示する表示装置を備え、当該表示装置に表示される第一の画像及び第二の画像の、前記表示装置上の配置を切り替えることを特徴とする。
試料上で所望の視差角を得るためには、前述公知特許でも示しているように、対物レンズ主軸から離れた位置に入射させ、レンズのビーム振り戻し作用を利用する。ところが、ビームが非点収差補正コイル8の軸外を通過すると、偏向作用が発生し、ビーム傾斜角に影響を与えてしまう。また、対物レンズ主軸に対し、離軸したビームが入射すると、対物レンズ本来の球面収差と色収差から派生すると考えられる収差ボケにより分解能が劣化する。
1′ 電子銃
2 陽極
3 一次電子線
4 第1集束レンズ
5 第2集束レンズ
6 絞り板
7 視差角形成用電磁コイル
8 非点収差補正コイル
9 第3集束レンズ(収差補正レンズ)
10 ビーム傾斜角制御コイル
11 走査コイル
12 対物レンズ
13 反射電子用検出器
14 試料
15 試料ステージ
16 二次電子検出器
17 信号増幅器
18 高圧制御電源
19 第1集束レンズ制御電源
20 第2集束レンズ制御電源
21 第1収差制御電源
22 第3集束レンズ制御電源
23 非点収差補正電源
24 第1ビーム傾斜角制御電源
25 走査コイル制御電源
26 対物レンズ制御電源
27 信号入力部
28 コンピュータ
29 表示装置
30 画像メモリ
31 入力装置
32 反転入力器
33 傾斜信号増幅器
34 傾斜方向切り替えスイッチ
35 第2収差制御電源
36 第2ビーム傾斜角制御電源
37 左目用傾斜ビーム軌道
38 右目用傾斜ビーム軌道
39 視差角指定部位
40 観察方向指定部位
41 第一表示領域
42 第二表示領域
43 立体観察方法選択部位
Claims (8)
- 荷電粒子源と、
前記荷電粒子源から放出される一次荷電粒子線を集束する対物レンズと、
前記一次荷電粒子線を試料上で走査する走査偏向器と、
前記一次荷電粒子線の走査によって試料から発生する信号粒子を検出する検出器と、
前記検出器の信号粒子を用いて試料像を取得する荷電粒子線装置において、
前記一次荷電粒子線の試料への照射角を偏向する偏向器と、
当該偏向器に電流を流す独立した第一及び第二の電源を備え、
前記一次荷電粒子線の走査の一ライン単位又は一フレーム単位で、当該2つの電源を切り替えるスイッチを備えることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1の荷電粒子線装置において、
前記第一の電源を印加した時の信号粒子を用いて取得した第一の試料像と、前記第二の電源を印加したときの信号粒子を用いて取得した第二の試料像を用いて、前記試料の傾斜方向からの立体像が観察可能であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1の荷電粒子線装置において、
前記一次電子線の傾斜方向ごとに、前記偏向器に流す電流値を規定するテーブルを記憶することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1の荷電粒子線装置において、
前記偏向器より荷電粒子源側に、一次荷電粒子の非点収差を補正する非点収差補正器を備えたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線装置は、前記偏向器より荷電粒子源側に集束レンズを備え、
前記対物レンズで発生する軸外収差を当該集束レンズで相殺することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 荷電粒子源と、
前記荷電粒子源から放出される一次荷電粒子線を集束する対物レンズと、
前記一次荷電粒子線を試料上で走査する走査偏向器と、
前記一次荷電粒子線の走査によって試料から発生する信号粒子を検出する検出器と、
前記検出器の信号粒子を用いて試料像を取得する荷電粒子線装置において、
前記一次荷電粒子線の試料への照射角を偏向する偏向器と、
当該偏向器に異なる2つの電圧を印加して、第一の画像及び第二の画像を取得し、
当該第一の画像及び第二の画像を表示する表示装置を備え、
当該表示装置に表示される第一の画像及び第二の画像の、前記表示装置上の配置を切り替えることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項6の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線装置は、交差法,立体法,アナグリフ法、に応じて第一の画像及び第二の画像の配置を切り替えることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項6の荷電粒子線装置において、
前記第一の画像と第二の画像を用い、立体表示ディスプレイに立体像を形成することを特徴とする荷電粒子線装置。
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