JP5698157B2 - 荷電粒子線装置および傾斜観察画像表示方法 - Google Patents
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Description
なお、図6のユーザが行う観察画像調整フローにおいて、ステップS03〜ステップS05の調整は、必ずしもこの順序で行う必要はなく、ユーザがこれらの調整を任意の順番に入れ替えて行ってもよい。
本発明の実施形態では、図5に示したように、L→T→Rの観察モードの切り替えを、走査線1ライン走査するたびに行っていたが、走査線1ライン走査するたびに切り替えるのではなく、1フレーム(例えば、1画面512本の走査線)の観察画像を取得するたびにL→T→Rの観察モードの切り替えを行うようにしてもよい。この場合には、1つの走査線を3回走査する必要はない。
図10は、本発明の実施形態の第2の変形例における傾斜観察時の焦点調整手段の要部構成の例を示した図である。本発明の実施形態やその第1の変形例では、傾斜観察時の焦点調整手段として、焦点調整コイル14を用いているが、この第2の変形例では、焦点調整コイル14に代えて、図10に示すように、対物レンズ13の近傍に配設された静電レンズ51,52を焦点調整手段として用いる。
図11は、本発明の実施形態の第3の変形例における傾斜観察時の焦点調整手段の要部構成の例を示した図である。本発明の実施形態やその第1の変形例では、傾斜観察時の焦点手段として用いられる焦点調整コイル14は、対物レンズ13の磁極近傍に配設されているが、磁極近傍に限定されず、図11に示すように、対物レンズ14の下面近傍に配設されていてもよい。また、第2の変形例を考慮し、焦点調整コイル14の代わりに静電レンズ(51,52)を対物レンズ14の下面近傍に配設するものであってもよい。
図12は、本発明の実施形態の第4の変形例における傾斜観察時の焦点調整手段の要部構成の例を示した図である。本発明の実施形態やその第1の変形例では、傾斜観察時の焦点手段として用いられる焦点調整コイル14は、対物レンズ13の磁極近傍に配設されているが、磁極近傍に限定されず、図12に示すように、対物レンズ14よりも電子銃1側に配設されていてもよい。また、第2の変形例を考慮し、焦点調整コイル14の代わりに静電レンズ(51,52)を対物レンズ14よりも電子銃1側に配設するものであってもよい。
2 陰極
3 陽極
4 一次電子線(荷電粒子線)
5 第一集束レンズ
6 第二集束レンズ
7 絞り板
8 非点補正コイル
9,10 走査コイル(荷電粒子線走査制御手段)
11,12 傾斜コイル(照射軸傾斜手段)
13 対物レンズ
14 焦点調整コイル(焦点位置調整手段)
15 試料
16 試料ステージ
17 二次電子検出器(荷電粒子検出器)
18 反射電子検出器(荷電粒子検出器)
19 信号増幅器
20 高圧電源制御回路
21 第一集束レンズ制御回路
22 第二集束レンズ制御回路
23 非点補正コイル制御回路
24 走査コイル制御回路
25 傾斜コイル制御回路
26 対物レンズ制御回路
27 焦点調整コイル制御回路
28 信号入力回路
29 試料ステージ制御回路
30 コンピュータ
31 表示装置
32 画像メモリ
33 入力装置
40 レンズ系
50 制御装置
51 静電レンズ
100 走査電子顕微鏡(荷電粒子線装置)
241 走査コイル制御信号(水平偏向信号)
242 走査コイル制御信号(垂直偏向信号)
250 観察モード
251 傾斜コイル制御信号
310 観察画像表示画面
311 観察画像表示領域
311a 左傾斜観察画像
311b 右傾斜観察画像
311c 無傾斜観察画像
311d 3D観察画像
312 調整用GUI領域
3121 観察画像調整フロー
3122 ユーザ補助領域
3123 入力ボックス
3124 ラジオボタン
3125 スライダバー
Claims (5)
- 荷電粒子源と、前記荷電粒子源から放出される一次荷電粒子線を集束させる複数の電子レンズと、前記集束された一次荷電粒子線が試料の表面に照射されたとき、その照射点が前記試料の表面上を二次元的に走査するように前記一次荷電粒子線を偏向制御する荷電粒子線走査制御手段と、前記一次荷電粒子線が前記試料に照射されるときの前記一次荷電粒子線の照射軸を傾斜させる照射軸傾斜手段と、前記照射軸傾斜手段により前記一次荷電粒子線の照射軸を傾斜した場合の焦点位置と傾斜しなかった場合の焦点位置とが同じ位置になるように調整する焦点位置調整手段と、前記一次荷電粒子線が前記試料に照射されたときに、前記試料から放出される荷電粒子を検出する荷電粒子検出器と、少なくとも前記荷電粒子線走査制御手段、前記照射軸傾斜手段および前記焦点位置調整手段を制御するとともに、前記荷電粒子検出器によって検出された信号に基づき、前記試料の表面の観察画像を生成する制御装置と、
を備えた荷電粒子線装置であって、
前記制御装置は、
前記荷電粒子線走査制御手段を介して、前記一次荷電粒子線を、前記試料の表面の走査線1ライン分の同じ走査線1ライン上を3回走査するように制御し、前記照射軸傾斜手段を介して、その3回のそれぞれの走査で前記一次荷電粒子線の照射軸を順次、左傾斜、無傾斜または右傾斜させるとともに、前記照射軸を変更したとき、前記焦点位置調整手段を介して前記一次荷電粒子線の焦点位置を前記照射軸の左傾斜状態、無傾斜状態または右傾斜状態に応じて調整して、前記走査線1ライン分の前記試料の表面に焦点が合った左傾斜観察画像、無傾斜観察画像または右傾斜観察画像を取得し、そのときまでに取得した走査線についての前記焦点の合った左傾斜観察画像と前記焦点の合った無傾斜観察画像と前記焦点の合った右傾斜観察画像とを同じ表示装置に同時に表示すること
を特徴とする荷電粒子線装置。 - 前記制御装置は、さらに、
前記焦点の合った左傾斜観察画像と前記焦点の合った右傾斜観察画像とから焦点の合った3D観察画像を生成し、その生成した前記焦点の合った3D観察画像と前記焦点の合った左傾斜観察画像と前記焦点の合った右傾斜観察画像と前記焦点の合った無傾斜観察画像とを、同じ表示装置に同時に表示すること
を特徴とする請求項1に記載の荷電粒子線装置。 - 前記焦点位置調整手段は、
磁性体の金属芯を有していないコイルによって構成されていること
を特徴とする請求項1に記載の荷電粒子線装置。 - 荷電粒子源と、前記荷電粒子源から放出される一次荷電粒子線を集束させる複数の電子レンズと、前記集束された一次荷電粒子線が試料の表面に照射されたとき、その照射点が前記試料の表面上を二次元的に走査するように前記一次荷電粒子線を偏向制御する荷電粒子線走査制御手段と、前記一次荷電粒子線が前記試料に照射されるときの前記一次荷電粒子線の照射軸を傾斜させる照射軸傾斜手段と、前記照射軸傾斜手段により前記一次荷電粒子線の照射軸を傾斜した場合の焦点位置と傾斜しなかった場合の焦点位置とが同じ位置になるように調整する焦点位置調整手段と、前記一次荷電粒子線が前記試料に照射されたときに、前記試料から放出される荷電粒子を検出する荷電粒子検出器と、少なくとも前記荷電粒子線走査制御手段、前記照射軸傾斜手段および前記焦点位置調整手段を制御するとともに、前記荷電粒子検出器によって検出された信号に基づき、前記試料の表面の観察画像を生成する制御装置と、
を備えた荷電粒子線装置における傾斜観察画像表示方法であって、
前記制御装置は、
前記荷電粒子線走査制御手段を介して、前記一次荷電粒子線を、前記試料の表面の走査線1ライン分の同じ走査線1ライン上を3回走査するように制御し、前記照射軸傾斜手段を介して、その3回のそれぞれの走査で前記一次荷電粒子線の照射軸を、順次、左傾斜、無傾斜または右傾斜させるとともに、前記照射軸を変更したとき、前記焦点位置調整手段を介して前記一次荷電粒子線の焦点位置を前記照射軸の左傾斜状態、無傾斜状態または右傾斜状態に応じて調整して、前記走査線1ライン分の前記試料の表面に焦点が合った左傾斜観察画像、無傾斜観察画像または右傾斜観察画像を取得し、そのときまでに取得した走査線についての前記焦点の合った左傾斜観察画像と前記焦点の合った無傾斜観察画像と前記焦点の合った右傾斜観察画像とを同じ表示装置に同時に表示すること
を特徴とする傾斜観察画像表示方法。 - 前記制御装置は、さらに、
前記焦点の合った左傾斜観察画像と前記焦点の合った右傾斜観察画像とから焦点の合った3D観察画像を生成し、その生成した前記焦点の合った3D観察画像を前記焦点の合った左傾斜観察画像と前記焦点の合った右傾斜観察画像と前記焦点の合った無傾斜観察画像とに併せて、同じ表示装置に同時に表示すること
を特徴とする請求項4に記載の傾斜観察画像表示方法。
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