JPS5820456B2 - リツタイソウサガタデンシケンビキヨウ - Google Patents

リツタイソウサガタデンシケンビキヨウ

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Publication number
JPS5820456B2
JPS5820456B2 JP50004946A JP494675A JPS5820456B2 JP S5820456 B2 JPS5820456 B2 JP S5820456B2 JP 50004946 A JP50004946 A JP 50004946A JP 494675 A JP494675 A JP 494675A JP S5820456 B2 JPS5820456 B2 JP S5820456B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
coil
scanning
electron beam
stereo
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP50004946A
Other languages
English (en)
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JPS5180763A (ja
Inventor
加藤靖夫
葛西省三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP50004946A priority Critical patent/JPS5820456B2/ja
Publication of JPS5180763A publication Critical patent/JPS5180763A/ja
Publication of JPS5820456B2 publication Critical patent/JPS5820456B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は立体走査型電子顕微鏡に関するもので、特に電
子線の偏向方式と焦点合せ装置、及び、観察試料の断面
を得ようとするものである。
第1図は立体像を観察する電子光学系の一例を示すもの
である。
電子線1は二段の偏向コイル、別にステレオコイル2と
呼ぶ偏向コイルで二段に互いに逆方向に偏向し対物レン
ズ3の中心を通るようにする。
ステレオコイルは周期的な矩形波交流電流で励磁される
ため電子線軌跡は実線と点線の場合があり、対物レンズ
下方にある走査コイル4の光軸から外れた位置で光軸に
対して対称な位置に入射する。
走査コイルで試料5を走査し、試料から出る二次電子信
号で、走査コイルと同期した走査をするブラウン管(以
下CRTと略記する)に輝度変調をしてやると走査像か
得られる。
実線で示す電子線の軌跡の場合と点線の場合の像を態別
のCRTに出してステレオルーぺで像観察すると立体像
が得られる。
こ′の方式では焦点合せが従来の走査電顕と同じで非常
に難かしく熟練が必要である。
またこの方式で像の立体計測をすることは容易なことで
はなく、こう空写真の場合と全く同じである。
更に走査コイルには実線で示す走査視野と点線で示す走
査視野が一致するようにかつステレオコイルに同期した
矩形波交流電流と像を表示するCRTと同期した走査電
流で励磁する必要がある等電子光学的にも複雑な電気回
路が必要である。
本発明はかかる従来装置にない焦点合せを容易にする方
式と、観察立体像の立体計測を可能とするような新規゛
な電子光学系を提供するものである。
第2図は本発明の電子光学系を示すものである。
本発明は電子光源をFとすれば、光源から放射された電
子線で対物レンズを通過したものは全て結像点に収束す
るという特性を利用している。
図において光源から出た電子線は絞り6を通り二段のス
テレオコイル2により偏向され対物レンズに入射する。
ステレオコイルに矩形波を使用すれば実線と点線で示す
軌跡を通って対物レンズに入射する。
対物レンズに入射した電子線は実線の場合も点線の場合
もRに収束するように上のステレオコイルでは0点で偏
向し、下のステレオコイルでは対物レンズの入射点Qま
たはQ′と光源Fを結ぶ線上PまたはP′でPIたはP
Q /となるように上のステレオコイルと逆に偏向す
る。
このようにすると対物レンズから見ると電子線はF−0
−P−QまたはF−0−P’−Q’を通って来ても、あ
たかもF−P−Q捷たはF P/ Q/を通ったよ
うに見え電子線は対物レンズの焦点距離で決まる。
R点に収束する。
従って走査コイルには実線軌跡と点線軌跡で走査した場
合に両視野が一致するようにかつステレオコイルと同期
した矩形波電流を流す必要がない。
これが本発明の第1の利点である。
R点が試料表面上にあるように対物レンズを調整すると
共に対物レンズの極近傍に走査コイルを設けてCRTと
同期した偏向電流で走査すれば他の構成を前記と同様に
すれば焦点の合った立体像観察か可能となる。
尚、走査コイルの位置は下のステレオコイルに近いほど
偏向角は少なくて済むがレンズへの入射位置が変わり、
収差が変化するため、対物レンズの極近傍が最つとも良
い。
またステレオコイルの偏向軸と走査コイルの走査軸は一
致する必要があり、対物レンズによってステレオコイル
の偏向軸が回転させられた場合は自動的にステレオコイ
ル軸と走査コイル軸が一致するような偏向軸回転電源を
備える必要もある。
以下本発明の別の利点について詳細に説明する。
第3図は本発明の電子光学系で試料に焦点合せをする様
子を示すもので、走査コイルは省略しである。
a図は対物レンズからlの位置に試料があり、焦点が試
料に合った状態を示すものである。
この場合は視野a−bが実線の軌跡でも点線の軌跡でも
同じである。
実線軌跡による視野を左視野、点線軌跡による視野を右
視野とすれば左右の視野中心AとBは一致し、かつ、光
軸上の電子線収束点Rに一致する。
b図は対物レンズの焦点位置R□が対物レンズから11
<11<l)にある場合で、電子線の収束位置光軸上
のR1に移っている。
この場合は電子線軌跡の作図からも判るように左の視野
はal−bl に幾分右に移り左の視野は、□1−b1
1で示すように左側に移る。
従って、両視野か一致する範囲はal−b1′の範囲と
なりかつ両視野の中心もA1. B1に移る。
0図は対物レンズの焦点位置R2が対物レンズから12
(/2>/)にある場合で、電子線の収束位置は軸上の
R2に移っている。
この場合は左の視野はB2−R2に、右の視野はa2′
−b2′にそれぞれ左と右に移動する。
もちろん、視野中心はA2 tB2に移る。
勿論す、0図では焦点が試料に合っていないため像はピ
ンボケとなる。
これを1つのCRTの画面7上で観察した図を第4図に
示す。
a図は焦点が合った場合で、平面上の丸、三角、正方形
の像か齢明に見える。
両画面の視野中心ABは一致している。
b図は焦点が短かい場合で、画面中心かA1゜B1 に
移り、像も図のように分離した状態になる。
0図は焦点か長い場合で、画面中心かA2.B2に示す
ように移り b図と反対側に像が分離する。
従って、焦点合せをする場合を左右の視野像を1つのC
RT上に表示し、分離した二重像を一致するだけで自動
的に焦点合せが完了していることになり、改めて画像を
別々のCRT上に表示しステレオルーぺで鮮明な立体像
観察か可能となる。
以上が第2の利点である。
次に観察像の断面を得る方法について述べる。
第5図は大きさの異なる正方形を大きい順に重ねたよう
な像の認識について示すものである。
a図は像の中心部での断面図、b図はCRT上で観察さ
れる平面図を示す。
この平面図からは像;の断面か0図のように窪んでいる
のか、d図のように複雑に変化しているのか判らない。
立体観察することにより、小さい正方形はど上に凸であ
ることは判るが正確に高さは判らない。
第6図は第5図aybに示す試料の最つとも小さい正方
形、)図の(1)に焦点を合せ左右の視野を1つのCR
Tで観察した場合である。
(2)〜(4)の正方形には焦点が合っていないため、
正方形は分離した二重像となる。
もちろん、分離量は大きい正方形はど大きくなる。
従って、画面に目印しを付け、例えば一本1の輝線8を
CRTのX軸上に出し、その線に沿って、左から右へ、
二重像が一致するように対物レンズの焦点距離を変え、
第7図に示すように、横軸に画面X軸方向距離を目盛り
、縦軸に対物電流変化を目盛れば、図のように観察像の
断面に比例;した図が判る。
尚、対物電流変化を焦点距離変化に換算しておけば、直
接断面図が得られることは言うまでもない。
以上が本発明の第3の利点である。
以上のように、本発明によれば、 1 視野合せの特別な調整か不用である。
2 焦点合せが簡単である。
3 観察像の断面が得られる。
03つの利点が生じ、従来装置には不可能な機能を具備
させることができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置の電子光学系、第2図は本発明の電子
光学系、第3図asbseは本発明電子光学系の要部を
示す図、第4図a y b y CはCRT像を示す図
、第5図a、by cy dは像認識の様子を示す図、
第6図はCRT像を示す図、第7図は像の断面を示す図
である。 図において、1は電子線、2はステレオコイル、3は対
物レンズ、4は走査コイル、5は試料、6は絞り、7は
CRT画面、8は輝線を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電子源、二段の偏向コイルから成るステレオコイル
    、対物レンズ、対物レンズの極近傍に設けた走査コイル
    および試料をこの順に設けると共に周期的に上のステレ
    オコイルにより偏向された電子線を、前記電子源から対
    物レンズ内の一点に向う軌跡上の一点を屈折点として下
    のステレオコイルで偏向し、対物レンズで試料に焦点合
    せをすると共に走査コイルで周期的に偏向した電子線を
    走査して立体像を得ることを特徴とした立体走査型電子
    顕微鏡。
JP50004946A 1975-01-10 1975-01-10 リツタイソウサガタデンシケンビキヨウ Expired JPS5820456B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50004946A JPS5820456B2 (ja) 1975-01-10 1975-01-10 リツタイソウサガタデンシケンビキヨウ

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JP50004946A JPS5820456B2 (ja) 1975-01-10 1975-01-10 リツタイソウサガタデンシケンビキヨウ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5180763A JPS5180763A (ja) 1976-07-14
JPS5820456B2 true JPS5820456B2 (ja) 1983-04-23

Family

ID=11597727

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50004946A Expired JPS5820456B2 (ja) 1975-01-10 1975-01-10 リツタイソウサガタデンシケンビキヨウ

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57114807A (en) * 1981-01-08 1982-07-16 Erionikusu:Kk Microdistance measuring device using electron beam
JP5698157B2 (ja) * 2012-01-06 2015-04-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置および傾斜観察画像表示方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5180763A (ja) 1976-07-14

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