JPS62198043A - 立体観察装置 - Google Patents

立体観察装置

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JPS62198043A
JPS62198043A JP3817586A JP3817586A JPS62198043A JP S62198043 A JPS62198043 A JP S62198043A JP 3817586 A JP3817586 A JP 3817586A JP 3817586 A JP3817586 A JP 3817586A JP S62198043 A JPS62198043 A JP S62198043A
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JP
Japan
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sample
beam probe
electron beam
particle beam
scanning
Prior art date
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JP3817586A
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English (en)
Inventor
Katsuto Goto
勝人 後藤
Takashi Shimatani
孝 島谷
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SANYUU DENSHI KK
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SANYUU DENSHI KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 この発明は、粒子線プローブを用いて試料を走査し、こ
の際に発生した信号によって当該試料の立体像を観察す
るよう構成した立体観察装置において、粒子線プローブ
を用いて試料を照射する角度を任意の所定の角度に偏向
するロッキング偏向器を設け、このロッキング偏向器に
よって偏向された粒子線プローブが試料を照射する2つ
の入射角度に夫々対応づけて残光性を持たせた表示装置
に夫々の画像を表示させ、立体鏡を用いてこの表示させ
た2つの画像を立体観察し得るようにしている。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、粒子線プローブを用いて照射した試料をリア
ルタイムで立体観察する立体観察装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来、電子線プローブを用いて試料を走査し、この際に
発生した2次電子を検出してディスプレイ上に試料の拡
大像を表示する走査型の電子顕微鏡がある。この電子顕
微鏡は試料を照射する電子線プローブの開角が小さいた
めに焦点深度が極めて深く、この特徴を生かすと共に、
試料を照射する電子線プローブの角度を2つの異なる角
度例えば±4°に偏向し、この2つの異なる角度で得ら
れた画像をカラーテレビ受像機上に赤色および緑色を用
いて表示させ、当該赤色および緑色の画像を夫々の色に
対応した透明メガネを通して人が観察することにより、
立体観察をリアルタイムに行う立体観察装置がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の既述した立体観察装置は、異なる2つの角度から
試料を照射して生成した画像を、カラー受像機上に赤色
および緑色の画像の態様で表示してリアルタイムに立体
観察するようにしていたため、試料を走査する速度をテ
レビの水平走査速度(63,5μs)というような高速
走査を行う必要があり、試料から十分な信号量を得るこ
とが困難なため、画質が悪く、像がちらつき良好な5Z
Nli像の立体像を観察し得ないという問題点があった
また、カラー受像機上で赤色および緑色の態様で表示し
ていたため、解像度が所定の規格例えばNTSC方式に
よれば水平走査線数が525本の如く制限を受け、高画
質例えば走査線数が1000本などのような高画質の立
体像を生成し得ないという問題点があった。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、前記問題点を解決するために、粒子線プロー
ブを用いて試料を照射する角度を任意の所定の角度に偏
向するロッキング偏向器を設け、このロッキング偏向器
によって偏向された粒子線プローブが試料を照射する2
つの入射角度に夫々対応づけて残光性を持たせた表示装
置に夫々の画像を表示させ、立体鏡を用いてこの表示さ
せた2つの画像を立体観察し得るようにしている。
次ぎに、第1図に示す本発明の1実施例構成を用いて問
題点を解決するための手段を説明する。
第1図において、電子線プローブ照射系(粒子線プロー
ブ照射系)lは、細く絞った電子線(粒子線)を試料6
に照射するものであって、電子線(粒子MA’) 2を
生成する電子源(粒子源、図示せず)、この電子源から
放射された電子vA2を試料6上に収束する対物レンズ
(OL)3などから構成されている。
偏向コイル(偏向器)4は、試料6上に収束された電子
線プローブ(粒子線プローブ)の位置を走査するもので
ある。
ロッキングコイル(ロッキング偏向器)5−1.5−2
は、試料6に対して収束させる電子線プローブの入射角
度を例えば2つの異なる角度、図示XおよびYを用いて
示すように偏向するものである。
走査信号発生部7は、偏向コイル4および表示装置12
−1.12−2を駆動する偏向電流(偏向電圧)を生成
するものである。
立体信号制御部8は、ロッキングコイル5−1.5−2
を駆動する信号およびこの駆動信号に同期した態様で試
料6から発生した2次電子などを検出して増幅した2次
電子信号を表示装置12−1.12−2に供給するもの
である。
検出器10−1は、電子線プローブを用いて試料6を照
射した際に発生する2次電子などを収集して検出するも
のである。
表示装置12−1.12−2は、電子線プローブを用い
て試料6上を走査した際に発生した信号例えば2次電子
信号を用いて輝度変調した!様の画像を表示するもので
ある。
立体鏡13は、2つの表示装置12−1.12−2上に
表示された画像を立体観察するためのものである。
〔作用〕
第1図を用いて説明した構成を採用し、立体信号制御部
8からのロッキング信号に基づいてロッキングコイル5
−1およびロッキングコイル5−2が試料6を照射する
電子線プローブの入射方向を例えば図示Xとなるように
偏向する。この偏向した状態のもので偏向コイル4は走
査信号発生部7から供給された偏向信号に基づいて細く
絞った態様の電子線プローブを用いて試料6上を走査す
る。この走査に同期して試料6から発生した2次電子を
収集・増幅して表示装置12−1上に画像を表示させる
。同様にして、試料6を照射する電子線プローブの入射
方向を図示Yとなるように偏向し、試料6から発生した
2次電子を収集・増幅して表示装置12−2上に画像を
表示する。これら表示装置12−1.12−2上に表示
された2つの画像を立体鏡13を通して観察することに
より、試料6をリアルタイムに立体観察することができ
る。
以上のようにして、ロッキングコイル5−1.5−2を
用いて電子線プローブが試料6を照射する角度を所定の
2つの角度にいわば固定した状態のもとで、試料6を照
射する位置を夫々順次面走査し、この時に生じた映像信
号を用いて残光性を持つ表示装置12−1.12−2上
に画像を表示させ、この表示させた2つの画像を立体鏡
13を用いて観察することにより、良質な立体画像をリ
アルタイムで観察することが可能となる。
〔実施例〕
次に、第1図および第2図を用いて本発明の実施例構成
および動作を詳細に説明する。
第1図において、電子線プローブ照射系1は電子源(図
示せず)によって生成された電子線を、OL(対物レン
ズ)3を用いて試料6上に微小な電子線プローブとして
収束するものである。
偏向コイル(HOR,VER)4は、この試料6上に収
束された電子線プローブの位置を走査例えば水平方向(
)(OR)および垂直方向(VER)方向に走査するも
のである。
ロッキングコイル5−1.5−2は、試料6を照射する
電子線プローブの入射方向を、図示XおよびYのように
偏向するものである。これにより、図示XおよびYから
観察した態様の2つの画像をリアルタイムに生成するこ
とが可能となる。
走査信号発生部7は、試料6および表示装置12−1.
12−2を走査する走査信号を偏向コイル4および偏向
増幅部11−1.11−2に供給すると共に、各種同期
信号(HOR,VER)を立体信号制御部8に供給する
ものである。
立体信号制御部8は、供給された同期信号(HORlV
ER)に同期した態様でロッキングコイル5−1.5−
2にロッキング信号を供給すると共に、この時に試料6
から検出した2次電子信号を当該ロッキング信号に同期
した態様で表示装置12−1.12−2に供給するもの
である。この供給するロッキング信号の大きさは、図中
のaおよびb点に供給する図示電池(基準電源)から供
給する電圧を制御することにより、任意に調整すること
ができる。これにより、ロッキングコイル5−1.5−
2によって偏向されるロッキング角度を任意に調整する
ことが可能となる。
検出器10−1および増幅器10−2は、電子線プロー
ブが試料6を照射した際に発生する2次電子などを収集
・増幅するものである。
偏向増幅部11−1.11−2は、走査信号発生部7か
ら供給された走査信号(VER,HOR)を増幅して表
示装置12−1.12−2を夫々駆動するものである。
表示装置12−1.12−2は、立体信号制御部8から
供給された信号に基づいて、残光性を持たせた態様で画
像を表示するものである。
立体鏡13は、表示装置12−1.12−2上に表示さ
れた2つの画像を立体像に合成して観察するためのもの
である。
次ぎに、第2図を用いて第1図図示構成の動作を詳細に
説明する。
第2図(イ)は偏向コイル4によって試料6面を走査さ
れる電子線プローブの走査位置を示し、第2図(ロ)お
よび(ハ)は表示装置12−1.12−2上に表示され
る走査線の表示例を示す。
第2図(イ)に示すように、電子線プローブ照射系1に
よって試料6の表面に収束された電子線プローブの位置
を、偏向コイル4を用いて第1回目走査、第2回目走査
、第3回目走査・・・の如く順次面走査する。この面走
査は、走査信号発生部7によって生成された信号によっ
て行われるものであって、水平方向(HOR>および垂
直方向(V E R)に対して、例えば夫々のこぎり波
電流が当該偏向コイル4に流れるように所定の偏向電流
あるいは偏向電圧を供給することによって行われる。ま
た、必要に応じてデジタル的に生成した階段上の走査信
号を供給してもよい、こののこぎり波電流の水平方向の
走査速度は、試料6から得られる像質を良好するために
は遅くする必要があり、本実施例では例えば走査線の数
を1000本、1フレームの走査時間を10秒とし、1
水平走査時間をIomsとしている。これは、従来のカ
ラー受像機に表示した場合の63.5μsに比し、極め
て長くなり、良質の画像をリアルタイムに得ることが可
能となる。
第2図(ロ)および(ハ)において、図中の数字1ない
し4を用いて示した実線は第1回目の面走査(CRTA
に対して奇数次の面走査)に対応するものであって、第
2図(イ)に示す第1回目走査、第2回目走査・・・な
どに対応するものを示す、この数字から判明するように
、本実施例では、表示装置(CRTA)12−1および
表示装置(CRTB)12−2上に1本毎に交互に飛び
越し走査のamで画像表示を行っている。この飛び越し
走査は、第1に、既述したように走査信号発生部7から
供給された偏向電流に基づいて偏向コイル4が、第2図
(イ)に示すように電子線プローブを用いて試料6の表
面を順次面走査する。
第2に、この面走査を行うための同期信号(HORlV
ER)の通知を受けた立体信号制御部8が、第2図(ロ
)に示すように第1回目走査、第3回目走査・・・に対
応する場合、ロッキングコイル5−1.5−2に所定の
ロッキング電流(矩形波電流)を供給して例えば第1図
図中Xを用いて示す方向から電子線プローブが当該走査
中の間、試料6を照射するように偏向する。同様に、第
2図(ハ)に示すように第2回目走査、第4回目走査・
・・に対応する場合、ロッキングコイル5−1.5−2
に所定のロッキング電流(矩形波電流)を供給して例え
ば第1図図中Yを用いて示す方向から電子線プローブが
当該走査中の間、試料6を照射するように偏向する。
第3に、第2のス芋ノブで第1図図中XあるいはYの方
向から電子線プローブを用いて試料6を照射させた態様
に同期して、立体信号制御部8が検出器10−1、増幅
器1O−2によって検出・増幅された映像信号を図示C
あるいはdのいずれかに切り換え、この切り換えた映像
信号を表示装置(CRTA)12−1あるいは表示装置
(CRTB)12−2に供給する。これにより、第2図
(ロ)および(ハ)図中の実線を用いて示した位置に、
所定の画像が夫々表示される。
第4に、第2および第3のステップのようにして、第2
図(ロ)および(ハ)図中点線を用いて示した位置に、
所定の画像が夫々表示されるように飛び越し走査を行う
以上説明したように、電子線プローブによって試料6が
順次面走査されるように偏向コイル4に供給する偏向電
流を制御すると共に、この面走査に同期した態様でロッ
キングコイル5−1.5−2に対して所定のロッキング
電流を供給して生成した映像信号を、残光性螢光塗料例
えば螢光塗料(B−40など)を塗布した陰極線管(C
RT)からなる表示装置12−1.12−2上に表示さ
せることにより、良好な画質の立体像を観察することが
可能となる。
尚、本実施例では、電子線プローブを用いて試料6を照
射して立体観察する場合について説明したが、これに限
られることなく、他の粒子線例えばイオンを用いても、
同様に立体観察し得るものである。この場合には、イオ
ンの性質上、第1図図中電子線プローブ照射系1がイオ
ンプローブ照射系に、電子線2がイオン流に、対物レン
ズ(OL)3が静電対物レンズに、偏向コイル4が静電
偏向器に、ロッキングコイル5−1.5−2がロッキン
グ偏向器になる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、粒子線プローブ
を用いて試料を照射する角度を任意の所定の角度に偏向
するロッキング偏向器を設け、このロッキング偏向器に
よって偏向された粒子線プローブが試料を照射する2つ
の入射角度に夫々対応づけて残光性を持たせた表示装置
に夫々の画像を表示させ、立体鏡を用いてこの表示させ
た2つの画像を立体観察し得る構成を採用しているため
、画質の優れた立体像をリアルタイムに観察することが
できる。特に、走査速度を任意に選択することが可能で
あるため、低速に走査して高S/N比かつ高分解能の立
体像をリアルタイムに観察することができる。更に、飛
び越し走査を行うと共に表示装置に残光性を持たせであ
るため、チラッキの少ない立体像を観察することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例構成図、第2図は表示例を示
す。 図中、1は電子線プローブ照射系、2は電子線、3は対
物レンズ(OL)、4は偏向コイル、5−1.5−2は
ロッキングコイル、6は試料、7は走査信号発生部、8
は立体信号制御部、12−1.12−2は表示装置、1
3は立体鏡を表す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 粒子線プローブを用いて試料を走査し、この際に発生し
    た信号によって当該試料の立体像を観察するよう構成し
    た立体観察装置において、 粒子線プローブを生成して試料を照射する粒子線プロー
    ブ照射系と、 この粒子線プローブ照射系によって生成され、試料面を
    照射している粒子線プローブの位置を走査する偏向器と
    、 この偏向器によって走査される粒子線プローブの試料に
    対する入射角度を、任意の所定の角度に偏向するロッキ
    ング偏向器と、 粒子線プローブを用いて試料を照射することによって発
    生した信号を検出する検出器と、 この検出器によって検出された信号を、残光性を持たせ
    た態様で表示する表示装置とを備え、前記ロッキング偏
    向器を用いて粒子線プローブが試料を照射する入射角度
    を任意の2つの角度に偏向すると共に、当該2つの角度
    に対応して2つの前記表示装置上に夫々の画像を表示さ
    せ、立体鏡を用いてこの表示させた画像を立体観察し得
    るよう構成したことを特徴とする立体観察装置。
JP3817586A 1986-02-25 1986-02-25 立体観察装置 Pending JPS62198043A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0233843A (ja) * 1988-07-25 1990-02-05 Hitachi Ltd 走査電子顕微鏡
JPH052364U (ja) * 1991-02-25 1993-01-14 サンユー電子株式会社 ステレオ表示装置
JPH0517914U (ja) * 1991-08-15 1993-03-05 サンユー電子株式会社 走査型顕微鏡の立体観察装置
JP2011040240A (ja) * 2009-08-10 2011-02-24 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置及び画像表示方法

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