JPS60138252U - 粒子線装置における試料画像表示装置 - Google Patents

粒子線装置における試料画像表示装置

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JPS60138252U
JPS60138252U JP2563184U JP2563184U JPS60138252U JP S60138252 U JPS60138252 U JP S60138252U JP 2563184 U JP2563184 U JP 2563184U JP 2563184 U JP2563184 U JP 2563184U JP S60138252 U JPS60138252 U JP S60138252U
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JP
Japan
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particle beam
image
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sample
displayed
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Application number
JP2563184U
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English (en)
Inventor
蒔田 吉生
正 渡辺
Original Assignee
日本電子株式会社
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
添付図面は本考案の一実施例を示すブロック線図である
。 1:電子銃、2ニ一束レンズ、3・・・対物レンズ、4
:試料、5:電子線偏向器、6:倍率調整回路、7:走
査電源、8:光学顕微鏡の対物レンズ、9:光源、13
:接眼レンズ、14:撮像装置、15:切換えスイッチ
、1・6:陰極線管、17:倍率制御装置、18二反射
電子検出器、19:2次電子検出器、20:X線分光器
。 ン−−−−

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料に集束粒子線を照射する種子光学系と、該粒子線を
    試料上で2次元的に走査する偏向系と、該試料上の粒子
    線の走査により試料各部から散乱した2次電子、反射電
    子更にはX線等の情報を検出する手段と、該検出手段か
    ら信号が輝度信号として供給され前記粒子線の走査と同
    期した少な(とも1個の表示装置と、前記電子光学系内
    に組込まれた光学顕微鏡とを備えた装置において、前記
    光学顕微鏡による試料の光学像を呻像する装置を設け、
    該撮像装置からの映像信号を前記表示装置又は別の表示
    装置に導入して前記2次電子像、反射電子像或いはX線
    像等の粒子線走査画像と対比的に表示し、該光学顕微鏡
    による表示画像と粒子線走査画像とが同一倍率で表示さ
    れるように制御する手段を有する粒子線装置における試
    料画像表示装置。
JP2563184U 1984-02-24 1984-02-24 粒子線装置における試料画像表示装置 Pending JPS60138252U (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01149354A (ja) * 1987-12-04 1989-06-12 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JP2012015029A (ja) * 2010-07-02 2012-01-19 Keyence Corp 拡大観察装置

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