JP4129088B2 - 走査透過電子顕微鏡 - Google Patents

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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、走査透過電子顕微鏡に関し、特に簡単な構成で試料の走査透過像と電子線回折像の観察・記録が可能な走査透過電子顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】
走査透過電子顕微鏡(STEM:Scanning Transmission Electron Microscope)によって結晶性試料の走査透過像を観察する場合、STEMの光軸に対して結晶方位を合わせるために電子線回折像の観察が行われる。試料の方位合わせ以外にも電子線回折像は、結晶の配向性評価、膜の成長状態の評価、試料の関心部分がアモルファスか結晶性かの評価のため等に用いられる。
【0003】
STEMを用いて電子線回折像を観察する方法として、従来、2つの方法が知られている。一つは、J. M. Cowley, Ultramicroscopy 4, pp.435-450, "Coherent interference in convergent-beam electron diffraction and shadow imaging" に記載のように、STEM像をCRT上で見ながら、電子線プローブを回折図形を得たい領域に止め、このとき試料の下部に形成される回折像を記録する方法である。記録には、写真フィルム、TVカメラなどが用いられる。
【0004】
もう一つの方法は、ビームロッキング法とよばれる方法で、試料の一点に0.1mrad程度の開き角をもつ電子線を角度を変えて入射させ、試料下方の光軸上におかれた0.1mrad程度の開き角をもつ検出器をおき、電子線のロッキングに同期させて検出強度をCRT上に表示する方法である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記第1の方法の場合、走査透過像と電子線回折像の観察や記録は全く別個の手段によって行わなければならないため、操作が煩雑になる。また、走査透過像と電子線回折像を別個に記録した場合、走査透過像に対応する電子線回折像を取り違えてしまう可能性があった。さらに、電子線回折像の検出にフィルムやTVカメラなどの二次元検出器を使用する方法では、フィルムを装填するためのカメラ室やTVカメラシステムなど複雑な構成が必要になるという問題があった。
【0006】
また、第1の方法でも第2の方法でも、走査透過像観察時の電子線入射方向と電子線回折像観察時の方位が必ずしも一致しない。すなわち、いずれの従来法も電子線回折像の観察時には、試料上の一点での電子線回折像を見ているだけであり、走査透過像の観察領域全体の平均的な電子線回折像を見ているわけではない。従って、例えば試料が歪みを有するような場合に、たまたまその歪んでいる部分に電子線を照射して得た電子線回折像をもとに試料の方位合わせをすると、走査透過像を観察すべき領域全体ではなくその歪んでいる局所部分に方位が合わされてしまい、望む走査透過像を得ることができないことがある。
【0007】
そして、電子線回折像の観察のみで方位合わせ等のために試料を傾斜した場合、視野が移動してしまい、合わせたつもりの結晶方位が観察目的の領域と異なる領域のものであることがある。場合によっては、観察視野を見失うという問題もある。それを防ぐためには、短い間隔で何度も走査透過像観察と電子線回折像観察を繰り返さなければならず、観察に時間を要した。
【0008】
本発明の目的は、二次元検出器を必要とせず簡単な構成で、走査透過像と電子線回折像の観察・記録が可能な走査透過電子顕微鏡を提供することにある。また、本発明の他の目的は、同時に走査透過像と電子線回折像の観察・記録が可能な走査透過電子顕微鏡を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記本発明の目的は、走査透過電子顕微鏡に、試料の電子線走査領域全体の電子線回折像を表示できる機能を付加することによって達成される。この機能は、走査透過像取得時と電子線回折像取得時とで対物レンズの励磁電流を切り替える機構によって実現できる。また、本発明の他の目的は、電子線の走査と対物レンズの励磁電流の切り替えを連動させる機構、例えば、一走査ごとに対物レンズの励磁電流を切り替える機構と、電子線検出器で検出した信号から構成される試料の走査透過像と電子線回折像を一個あるいは複数個の表示装置上に表示、記録する機構を設けることにより達成される。
【0010】
すなわち、本発明は、試料上に収束する電子線で試料を走査し、試料を透過した電子線による走査透過像を表示する走査透過電子顕微鏡において、対物レンズを走査透過像観察時と比較して弱励磁にした場合には、電子線の走査位置に応じて、試料を透過した透過電子または試料で回折された回折電子を取得できるようにしたことを特徴とする。
【0012】
本発明は、そのために、電子銃と、電子銃から放出された電子線を収束する収束レンズと、試料を透過した電子線を結像させる対物レンズと、電子線を走査する走査手段と、試料を透過した電子線の強度を検出する検出手段と、走査手段による電子線の走査に同期させた検出手段の出力に基づいて像を表示する表示手段を含む走査透過電子顕微鏡において、対物レンズの励磁電流を切り替え、電子線回折像観察時には、対物レンズを走査透過像観察時と比較して弱励磁にする対物レンズ制御手段を備え、当該対物レンズ制御手段は、走査透過像観察時においては、対物レンズを強励磁にして、走査手段により走査される電子線を試料面上に電子線プローブとして収束させて、試料を透過した電子線が検出器に入射し、電子線回折像観察時においては、対物レンズを弱励磁にして、走査手段により走査され、試料で回折された電子線の回折スポットを対物レンズの後焦点面に形成して、走査手段により走査される電子線の走査位置に応じて、試料を透過した電子線又は試料で回折された電子線が前記検出器に入射するように、電子線の収束条件を切り替えることを特徴とする。対物レンズ制御手段が、対物レンズの後焦点面に試料の電子線回折像が形成されるように対物レンズを走査透過像観察時と比較して弱励磁にするとき、試料の電子線回折像が得られる。
【0013】
また、本発明による走査透過電子顕微鏡は、試料の走査透過像と電子線回折像を同時に表示する機能を有することを特徴とする。走査透過像と電子線回折像とは、1つの表示装置の別々の領域に個々に、あるいは同じ領域に重ねあわせて表示してもよいし、別々の表示装置に分離して表示するようにしてもよい。
【0014】
試料の走査透過像と電子線回折像を1つの表示装置に表示する場合には、走査透過像と電子線回折像の表示を交互に行うようにすると好都合である。これは、例えば2つのフィールドで1つのフレーム画像を構成する飛越し走査の場合に、交互にくるフィールドを順番に走査透過像と電子線回折像に割り当てることによって実行される。すなわち、1つのフィールドを試料の走査透過像を取得するモードで電子線走査したなら、次のフィールドは試料の電子線回折像を取得するモードに切り替えて電子線走査を行う。また、走査線を一本走査する度に、走査透過像の表示と電子線回折像の表示を切り替えるようにすることで2つの像を重ね合わせて表示することもできる。
試料の方位合わせなどのために試料を傾斜しながら走査透過像と電子線回折像を観察する場合に、2つの像を時間遅れなく観察するためには、試料面上を走査する走査速度は10フレーム/秒以上であるのが好ましい。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明による走査透過電子顕微鏡の一例の基本構成図である。この走査透過電子顕微鏡は、電子銃1、収束レンズ2、収束レンズ可動絞り3、対物レンズ4、入射電子線5を試料6面上で走査させる走査コイル7、走査回路8及びCRT等の表示装置9による走査像観察装置10、投射レンズ11、絞り12、検出器13を備える。それぞれのレンズにはレンズ電源15が接続され、レンズ電源15にはレンズ電流を切り替えるための制御部16が接続されている。制御部16は、走査回路8にも接続されている。
【0016】
電子銃1から発生した電子線5は、収束レンズ2により収束され、さらに強励磁の対物レンズ4の前磁場により、試料6面上で収束される。細く絞られた電子線プローブ5は走査コイル7によって試料6面上を走査する。このとき試料6の各点から下方に透過あるいは散乱された電子線17は、対物レンズ4、投射レンズ11によって検出器13に集光される。投射レンズ11と絞り12は、検出器13に入射する透過電子17の角度範囲を制限する。検出器13に入った電子線17は、時系列の電気信号に変換される。増幅器14で増幅されたこの信号強度を走査コイル7の励磁と同期させてCRT9に入力することにより、CRT9上に試料の走査透過像が表示される。
【0017】
電子線回折像を表示する場合は、制御部16により、対物レンズ4を弱励磁にするようレンズ電源15を制御する。入射電子線5は、弱励磁の対物レンズ4の前磁場により試料面上で一点に収束せず、ある広がりをもって試料に入射する。試料に入射した電子線は、対物レンズ4の後磁場の後焦点面に電子線回折像を形成する。換言すると、対物レンズ4の後磁場の後焦点面に試料の電子線回折像が形成されるように、対物レンズ4の励磁電流を強励磁から弱励磁に変更する。
【0018】
対物レンズ4が弱励磁の場合、試料6への電子線の入射角は、走査領域の中心からの距離にしたがって増加する。そのため、入射電子線5の走査と同期した形で、電子線入射角が変化し、電子線回折像の各スポットが検出器13に入り、CRT9上に電子線回折像が表示される。
図2及び図3により、対物レンズの励磁状態を変更することにより切り替えられる走査透過像観察モードと電子線回折像観察モードについて説明する。図2は試料を走査する電子線が光軸中心付近にあるときの各観察モードの光線図、図3は試料を走査する電子線が光軸中心から離れた位置にあるときの各観察モードの光線図である。
【0019】
最初に、図2(a)に示した走査透過像観察時の光線図と、図2(b)に示した電子線回折像観察時の光線図を参照する。実線は透過電子線の光路を表し、点線は回折した電子線の光路を表す。図2(a)に示すように、走査透過像観察時には、入射電子線5は、強励磁の対物レンズ4の前磁場により大きな照射角αで収束され、試料6面上で電子線プローブを形成する。試料6を透過した電子線17は、対物レンズ4の後磁場及び投射レンズ11により集光され、その一部が検出器13に入射する。試料6が結晶性の場合、入射電子線5の一部は試料で回折され、対物レンズ4の後磁場によって、対物レンズ4の後焦点面18に、広がりを持ったデイスク状の回折スポットが形成される。図の場合、試料6で回折された電子線19は検出器13に入射しない。
【0020】
一方、図2(b)に示すように、電子線回折像観察時は、対物レンズ4の電流値を弱励磁側に変化させることにより、試料6面上に入射する電子線5をプローブ状ではなく、試料6面上で広がったスポット状として走査させる。試料6が結晶性の場合、対物レンズ4の後磁場によって、やはり対物レンズ4の後焦点面18に電子線回折像が結像される。しかし、試料6に対する電子線5の照射角α′が図2(a)の場合の照射角αと比較して小さいため、回折スポットはより直径の小さなスポットとなる。図の場合、メインスポット21は光軸上に位置し、検出器13に投影される。一方、回折スポット22は光軸から離れた位置にあり、試料で回折された電子線19は検出器13に入射しない。
【0021】
次に、電子線走査プローブの位置が光軸中心より離れた位置での、走査透過像観察時の光線図である図3(a)、及び電子線回折像観察時の光線図である図3(b)を参照する。対物レンズ4を強励磁とした走査透過像観察時には、図3(a)に示すように、電子線走査プローブの位置が光軸中心より離れた位置でも、対物レンズ4の後焦点面18のメインスポット及び回折スポットは常に同じ位置にある。その結果、試料を走査する電子線5が光軸中心付近にある図2(a)の場合と同様に、試料6を透過した電子線17の一部は検出器13に入射するが、試料で回折された電子線19は検出器13に入射しない。
【0022】
一方、対物レンズ4を弱励磁とした電子線回折像観察時には、図3(b)に示すように、試料6に入射する電子線5の入射角は光軸中心からの距離によって大きく変化し、メインスポット31は対物レンズ4の後焦点面18で光軸上から外れ、代わって回折スポット32が後焦点面18で光軸上に位置する。その結果、図3(b)の状態では、試料を透過した電子線17は検出器13に入射せず、試料によって回折された電子線19が検出器13に入射する。
【0023】
以上の説明から理解されるように、対物レンズ4を強励磁とした走査透過像観察モードにおいては、試料6を電子線5で走査するとき、検出器13には常に試料6を透過した電子線17が入射し、電子線走査と同期して走査される図1のCRT9上には試料6の走査透過像が観察される。試料6で回折された電子線19は検出器13に入射しない。一方、対物レンズ4を弱励磁とした電子線回折像観察モードにおいては、対物レンズ4の後焦点面18に試料6によって回折された電子線19による回折スポット32が形成され、光軸上に位置する回折スポット32の回折電子線19が検出器13に入射する。電子線5が試料6を走査するとき、試料6上の電子線照射位置に応じて次々と回折角の異なる回折電子線が光軸上に回折スポットを形成するため、走査回路8(図1)からの走査信号に従って走査されるCRT9上には試料6の電子線走査領域全体としての電子線回折像が表示される。
【0024】
図4に、図1に示した走査透過電子顕微鏡による走査透過像と電子線回折像の一例を示す。図4(a)は、図3(a)に対応する極低倍の、すなわち走査範囲を絞り12よりも大きくした場合の走査透過像の一例である。また、図4(b)は、図3(b)に対応する電子線回折像の一例である。前述のように、制御部16によって対物レンズ4の励磁電流を切り替えて試料5を電子線走査することにより、走査透過像と電子線回折像の表示切り替えを行うことが出来る。
【0025】
図4は、試料の電子線走査領域の走査透過像と電子線回折像を表示装置上に切り替え表示する例であるが、表示装置の同じ画面上に試料の走査透過像と、その同じ試料領域の電子線回折像とを同時に表示することもできる。試料の走査透過像と電子線回折像を同じCRT9上に同時に表示するためには、電子線5の走査と対物レンズ4の励磁電流の切り替えを連動させる。
【0026】
例えば、2つのフィールドで1つのフレーム画像を構成する飛越し走査の場合に、フレームを構成する一方のフィールドを走査透過像取得モード(対物レンズ強励磁)で電子線走査し、他方のフィールドを電子線回折像取得モード(対物レンズ弱励磁)で電子線走査することで、走査透過像と電子線回折像が重なり合った画像が得られる。また、飛び越し走査をしない場合には、走査回路8の信号に同期して、レンズ電流制御部16が電子線5の一回の走査ごとに対物レンズ4の励磁電流を変えるようにレンズ電源15を制御し、走査透過像取得モードと電子線回折像取得モードの切り替えを行うことで、CRT9上に試料の同一領域の走査透過像と電子線回折像が重ね合わされた画像が表示される。走査が例えば10フレーム/秒以上の速さで行われることにより、CRT9上には、走査透過像と電子線回折像が表示される。
【0027】
図5は、走査透過像と電子線回折像の表示方法の他の例を示す図である。前記のようにして走査透過像と電子線回折像を重ねると、CRT9の中心部に電子線回折像が重ねて表示され。図5は、走査透過像と電子線回折像の表示の切り替えの際に、CRT9の表示領域を変え、電子線回折像の表示位置をCRT9画面のコーナー部分に移し、かつ表示する大きさを小さくして表示するようにしたものである。
【0028】
図6は、走査透過像と電子線回折像の表示方法の他の例を示す図である。この例では、CRT9の表示画面を2分割し、左右に分割された表示領域に走査透過像と電子線回折像を表示するようにしたものである。
図7は、本発明による走査透過電子顕微鏡の他の例の基本構成図である。図7において、図1と同じ機能部分には図1と同じ番号を付して示す。図7に示した走査透過電子顕微鏡が図1に示した走査透過電子顕微鏡と異なるのは、走査像観察装置10に2個のCRT9a,9bを用意した点である。上に示した実施例では、同一のCRT9画面に走査透過像と電子線回折像を表示するようになっているが、図7に示すようにCRTを2個用意すると、一方のCRT9aに走査透過像を表示し、他方のCRT9bに電子線回折像を別個に表示するようにできる。
【0029】
結晶性試料の方位合わせの際には、まず走査透過像により試料の観察領域を探し、その観察領域の電子線回折像を観察しながら試料を傾斜させて方位合わせを行う。この方位合わせの際に試料を傾斜すると往々にして観察視野が移動する。従来の走査透過電子顕微鏡は、電子線回折像の観察時に、その電子線回折像が試料の所望領域のものであるかどうかを確認することはできなかった。また、従来の走査透過電子顕微鏡による電子線回折像は、試料上の微小なスポット領域の電子線回折像であった。一方、本発明の走査透過電子顕微鏡によると、走査透過像を観察しながら、その同じ試料領域の電子線回折像を同時に観察することが可能である。また、その電子線回折像は、試料の微小なスポット領域のものではなく、試料の走査透過像を観察している領域と同じ領域の全体についてのものである。本発明の走査透過電子顕微鏡では、これらの特徴により、従来の走査透過電子顕微鏡に比較して格段に向上した操作性が得られる。
【0030】
【発明の効果】
本発明によれば、簡単な構成で試料の走査透過電子顕微鏡像と電子線回折像の観察、記録を行うことができ、また、走査透過電子顕微鏡像と電子線回折像の同時表示が可能である。そして、試料傾斜時にも視野観察が可能なため、視野を失うことなく容易に試料の結晶方位合わせを行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による走査透過電子顕微鏡の一例の基本構成図。
【図2】試料を走査する電子線が光軸中心付近にあるときの2つの各観察モードの光線図。
【図3】試料を走査する電子線が光軸中心から離れた位置にあるときの2つの観察モードの光線図。
【図4】本発明の走査透過電子顕微鏡による走査透過像と電子線回折像の一例を示す電子顕微鏡写真。
【図5】本発明の走査透過電子顕微鏡による走査透過像と電子線回折像の表示方法の他の例を示す電子顕微鏡写真。
【図6】本発明の走査透過電子顕微鏡による走査透過像と電子線回折像の表示方法の他の例を示す電子顕微鏡写真。
【図7】本発明による走査透過電子顕微鏡の他の例の基本構成図。
【符号の説明】
1…電子銃、2…収束レンズ、3…収束レンズ可動絞り、4…対物レンズ、5…入射電子線、6…試料、7…走査コイル、8…走査回路、9…CRT、10…走査像観察装置、11…投射レンズ、12…絞り、13…検出器、14…増幅器、15…レンズ電源、16…レンズ電流制御部、17…試料を透過した電子線、18…対物レンズの後焦点面、19…試料で回折された電子線、21…メインスポット、22…回折スポット、31…メインスポット、32…回折スポット

Claims (4)

  1. 電子銃と、
    前記電子銃から放出された電子線を収束する収束レンズと、
    試料を透過した電子線を結像させる対物レンズと、
    電子線を走査する走査手段と、
    試料を透過した電子線の強度を検出する検出手段と、
    前記走査手段による電子線の走査に同期させた前記検出手段の出力に基づいて像を表示する表示手段を含む走査透過電子顕微鏡において、
    前記対物レンズの励磁電流を切り替え、電子線回折像観察時には、前記対物レンズを走査透過像観察時と比較して弱励磁にする対物レンズ制御手段を備え、
    当該対物レンズ制御手段は、
    走査透過像観察時においては、前記対物レンズを強励磁にして、前記走査手段により走査される電子線を試料面上に電子線プローブとして収束させて、試料を透過した電子線が前記検出器に入射し、
    電子線回折像観察時においては、前記対物レンズを弱励磁にして、前記走査手段により走査され、試料で回折された電子線の回折スポットを前記対物レンズの後焦点面に形成して、前記走査手段により走査される電子線の走査位置に応じて、試料を透過した電子線又は試料で回折された電子線が前記検出器に入射するように、
    前記電子線の収束条件を切り替えることを特徴とする走査透過電子顕微鏡。
  2. 請求項1に記載の走査透過電子顕微鏡において、
    試料の走査透過像と電子線回折像を同時に表示する機能を有することを特徴とする走査透過電子顕微鏡。
  3. 請求項1に記載の走査透過電子顕微鏡において、
    走査透過像と電子線回折像の表示を交互に行う機能を有することを特徴とする走査透過電子顕微鏡。
  4. 請求項1に記載の走査透過電子顕微鏡において、
    走査線を一本走査する度に、走査透過像の表示と電子線回折像の表示を切り替えることを特徴とする走査透過電子顕微鏡。
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US7702002B2 (en) 2004-01-28 2010-04-20 Qualcomm Incorporated Rapid acquisition methods and apparatus for GPS signals
WO2007058182A1 (ja) * 2005-11-15 2007-05-24 Inter-University Research Institute Corporation National Institutes Of Natural Sciences 位相差電子顕微鏡装置
JP4337832B2 (ja) * 2006-03-06 2009-09-30 株式会社日立製作所 電子線を用いた観察装置及び観察方法
JP5315195B2 (ja) * 2009-09-30 2013-10-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 走査透過電子顕微鏡および走査透過像観察方法
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