JPS5816591B2 - 走査電子顕微鏡 - Google Patents

走査電子顕微鏡

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Publication number
JPS5816591B2
JPS5816591B2 JP52029011A JP2901177A JPS5816591B2 JP S5816591 B2 JPS5816591 B2 JP S5816591B2 JP 52029011 A JP52029011 A JP 52029011A JP 2901177 A JP2901177 A JP 2901177A JP S5816591 B2 JPS5816591 B2 JP S5816591B2
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JP
Japan
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scanning
signal
circuit
cathode ray
sample
Prior art date
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Expired
Application number
JP52029011A
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English (en)
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JPS53114664A (en
Inventor
生江隆男
鈴木寛治郎
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Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
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Publication date
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Expired legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は走査電子顕微鏡等における像表示装置に関する
走査電子顕微鏡やX線マイクロアナライザー等の荷電粒
子線装置においては、試料上で電子線等のマイクロスロ
ープを二次元的に走査し、該試料から発生する二次電子
、X線等を検出して該検出信号を前記プローブ走査と同
期したブラウン管の輝度変調信号として用いることによ
りブラウン管画面上に試料像を表示している。
この様にして表示される試料像の倍率は数10倍から数
lO万倍まで極めて広い範囲に亘って変化させることが
可能であるが、観察中の高倍率像が低倍率像中のどの部
分に対応するかを直ちに知るため、異なった倍率の試料
像を同一ブラウン管の画面内に成るいは接近して配置さ
れた別個のブラウン管画面の夫夫に表示する装置が近時
開発されている。
本発明はこの様な低倍率像と高倍率像を同時に観察する
ための新規な装置を提供することを目的とするものであ
る。
第1図は本発明の一実施例を示す略図である。
図において真空内に設けられた試料1に対して電子銃や
集束レンズ(図示せず)によって細い径を有する電子線
2が照射され、該照射位置は電子線2に対する偏向手段
3X、3Yに供給される偏向走査信号によって二次元的
に試料面を走査する。
このときの走査信号はブラウン管4の偏向手段5X、5
Yにも供給され、又ブラウン管の輝度変調信号としては
電子線照射により試料から発生する二次電子、X線等を
検出する検出器6の出力が増巾器7及び加算回路8を経
て用いられているので、ブラウン管4の画面には試料表
面に関する輝度変調走査像が表示される。
ブラウン管4の偏向手段5X、5Yと電子線2を偏向す
る偏向手段3X、3Yへは通常水平走査信号発生回路9
と垂直走査信号発生回路10の出力が供給されており、
これらの走査信号発生回路と偏向手段3X、3Yとの間
に設けられた倍率制御回路11における信号増巾塵を調
整することによって試料を照射する電子線の走査領域が
変化し、ブラウン管4の画面に表示される試料走査像の
倍率が任意に設定される。
こ5で、倍率回路11と偏向手段3X、3Yの間へ設け
られた回路12はスイッチング回路を示し、通常の使用
状態においては倍率回路11からの信号が偏向手段3X
、3Yへ供給される。
第1図実施例装置においては、通常の走査信号発生回路
9,10とは別に第2の走査信号発生回路13が設けら
れており、該回路13は切換回路14からの出力信号に
よって走査信号を発生し同じく切換回路14によって制
御されるスイッチング回路12を経てその走査信号出力
が偏向コイル3X、3Yに供給される。
即ちブラウン管4の画面には常に通常の走査信号によっ
て走査されるが切換回路12を作動させると試料表面を
走査する信号には二種類の走査信号が交互に供給される
ことになる。
今、第1図の装置において、切換回路14を作動させな
ければ電子線に照射される試料表面とブラウン管画面は
通常の走査信号によって走査され通常の試料走査像がブ
ラウン管に表示される。
このときの水平走査信号発生回路9の出力波形は第2図
aに示す鋸歯状波であり、その信号強度は倍率制御回路
11によって任意に変化する。
次に切換回路14を作動させると該切換回路は水平走査
信号又は垂直走査信号の出力が一定値と一致したとき、
及び一定値以上(以下)となる時間を検出し、制御信号
を発生する。
今この一定値を第2図a中■5とすると時刻1.、12
.13・・・・・・において信号を発生する。
又垂直走査信号に対しても同様の検出が行われ、水平、
垂直の両走査信号が共に一定比較信号値と一致したとき
に出力信号が第2の走査信号発生回路13に印加される
該印加信号により第2の走査信号発生回路13は第2図
すに示す如く勾配の大きな走査信号を発生し、スイッチ
ング回路12を経て走査偏向コイル3X、3Yに供給す
る。
即ちスイッチング回路12は切換回路14の出力によっ
て水平走査信号発生回路9と垂直走査信号発生回路10
の出力が夫々一定比較信号値よりも大きな値になってい
る時間第2の走査信号発生回路13の出力端子を偏向コ
イル3X、3Yに接続する。
従って偏向コイル3X、3Yに供給される小平走査信号
の波形は第2図Cに示す如くなる。
又、垂直走査信号に関しても水平走査信号の処理と同一
方法により行われる。
このようにして試料表面における電子線の照射領域は第
3図に示す如く中央の狭領域Aと該狭領域を中心とする
広領mの走査領域の二種類となり、電子線の軌跡はEに
示す如くなる。
一方ブラウン管の画面は常に通常の鋸歯状の走査信号に
よって走査しているので、第4図に示す如くブラウン管
画面4aの端部領域B′を除く領域A′には試料面上の
走査領域Aに対応する高倍率の走査像が表示され、領域
B′には試料面上の走査領域Bに対応する低倍率の走査
像が表示される。
このようなン表示方法によれば、観察者は観察中の高倍
率像の周囲の像の概略を直ちに参照することができるの
で、走査電子顕微鏡の操作性向上に大きな効果が得られ
る。
又、このとき倍率制御回路11を制御して陰極線画面の
領域A′に表示される高倍率像の1倍率を任意に調整す
ることができるが、領域B′に表示される低倍率像の倍
率は常に一定に保たれる。
更に高倍率像の視野移動を倍率制御回路11における走
査信号レー’vta可変手段を用いて行う場合には、該
レベルの変化値を第2の走査信号発生回路131の制御
信号として用いることにより第2の走査信号のレベル調
整を行い、ブラウン管画面のB′に表示される低倍率像
視野の中心を常に領域A′に表示される高倍率像視野の
中心吉一致させることができる。
尚、図中加算回路8は切換回路14からの出力信号を陰
極線管4の輝度変調信号として用いるためのもので、ブ
ラウン管画面内の領域AとBの領域に輝線又は暗線を表
示するために設けたものである。
第5図は本発明の他の実施例装置を示す略図であり、第
1図と同一の符号を付したものは同一の構成要素を表わ
している。
第5図の装置においては、低倍率像を表示するための映
像信号は予じめ各試料の測定の初めに走査信号と共に記
憶回路15に記録される。
該記憶回゛路15に記憶された情報は読み出し回路16
により読み出され、スイッチング回路11を介してブラ
ウン管の輝度変調信号として印加される。
スイッチング回路17の切換は切換回路14の出力信号
によって行われ、該切換回路14は第2の走査信号発生
回路13に対しても低倍走査信号発生のトリガー信号を
与える。
又、位置検出回路19は倍率制御回路11における信号
レベル可変手段からの信号と試料1の機械的移動装置1
8からの信号により電子線に照射される試料領域の変化
を検出し、第2の走査信号発生回路13における走査信
号レベルに関する補正信号を発生する。
第1図の実施例装置においては試料を機械的に移動して
も試料面上における電子線による低倍像走査領域と高倍
像走査領域との位置関係は変化しないので、第2の走査
信号発生回路13の信号レベル補正信号としては倍率制
御回路11における信号レベル可変手段からの信号のみ
を用いることにより、常にブラウン管画面内に表示され
る高倍像を低倍像の中央部に対応させることができるが
、第5図の実施例装置においては、試料位置を機械的に
移動させると試料面上における電子線による高倍像走査
領域が変化するにも拘らず記憶回路15に記憶されてい
る低倍像信号は変化しないので、前記位置検出回路19
を設けることにより、記憶回路15からの読み出しを制
御する第2の走査信号発生回路13に対して試料移動装
置18からの信号をも考慮した補正信号を与える必要が
ある。
従って記憶回路15には通常の方法でブラウン管画面に
表示される低倍像の視野よりも広い視野に相当する映像
信号を予じめ測定して記憶させておくことができる。
斯く構成することにより、切換回路14の作動をオン、
オフさせることにより随時、単一のブラウン管画面内に
高倍像とその周囲の低倍像を比較観察することが可能と
なるので、第1図の実施例装置と同様、走査電子顕微鏡
の操作性向上に大きな効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例装置を示す略図、第2図乃至
第4図は第1図の装置の動作を説明するための略図、第
5図は本発明の更に他の実施例装置を示す略図である。 1・・・・・・試料、2・・・・・・電子線、3X、3
Y、5X。 5Y・・・・・・偏向コイル、6・・・・・・電子線検
出器、8・・・・・・加算回路、9・・・・・・水平走
査信号発生回路、10・・・・・・垂直走査信号発生回
路、11・・・・・・倍率制御回路、12.17・・・
・・・スイッチング回路、14・・・・・・切換回路、
15・・・・・・記憶回路、16・・・・・・読出し回
路、18・・・・・・移動装置、19・・・・・・位置
検出回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 試料表面の第一の領域を電子線によって2次元的に
    走査するための走査電源と、該走査電源の出力走査信号
    をその画面走査信号として用いると共に、前記第一の領
    域の走査の際に試料から検出される検出信号を輝度変調
    信号として用いるブラウン管と、該ブラウン間の画面の
    端部領域に対応する前記走査電源の出力走査信号の発生
    時間を検出する手段と、該検出手段からの出力が発生し
    ている間は前記第一の領域を中心としてそれよりも広い
    試料表面の第二の領域を走査して得られる試料からの検
    出信号を前記ブラウン管の輝度変調信号として供給する
    手段を設けたことを特徴とする走査電子顕微鏡。
JP52029011A 1977-03-16 1977-03-16 走査電子顕微鏡 Expired JPS5816591B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP52029011A JPS5816591B2 (ja) 1977-03-16 1977-03-16 走査電子顕微鏡

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JP52029011A JPS5816591B2 (ja) 1977-03-16 1977-03-16 走査電子顕微鏡

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JPS53114664A JPS53114664A (en) 1978-10-06
JPS5816591B2 true JPS5816591B2 (ja) 1983-03-31

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JP52029011A Expired JPS5816591B2 (ja) 1977-03-16 1977-03-16 走査電子顕微鏡

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS505085A (ja) * 1973-04-27 1975-01-20

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS505085A (ja) * 1973-04-27 1975-01-20

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Publication number Publication date
JPS53114664A (en) 1978-10-06

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