JPH0425803Y2 - - Google Patents
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- JPH0425803Y2 JPH0425803Y2 JP1984151020U JP15102084U JPH0425803Y2 JP H0425803 Y2 JPH0425803 Y2 JP H0425803Y2 JP 1984151020 U JP1984151020 U JP 1984151020U JP 15102084 U JP15102084 U JP 15102084U JP H0425803 Y2 JPH0425803 Y2 JP H0425803Y2
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- Japan
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- cathode ray
- ray tube
- electron microscope
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- 238000001000 micrograph Methods 0.000 claims description 35
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 21
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 9
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 8
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は透過型電子顕微鏡において、加速電圧
や観察倍率等の各種データを表示する装置の改良
に関する。
や観察倍率等の各種データを表示する装置の改良
に関する。
[従来の技術]
近時、透過型電子顕微鏡においては、透過電子
顕微鏡像等を得る際の使用条件、即ち加速電圧,
観察倍率,スポツト径,試料位置,フイルム番号
や未撮影フイム枚数等の各種データを集中表示す
るために、陰極線管が備えられている。
顕微鏡像等を得る際の使用条件、即ち加速電圧,
観察倍率,スポツト径,試料位置,フイルム番号
や未撮影フイム枚数等の各種データを集中表示す
るために、陰極線管が備えられている。
[考案が解決しようとする問題点]
斯かる陰極線管に表示されるデータはオペレー
タが操作ツマミを操作しながら観察できる方が便
利であるため、陰極線管は操作パネル上に操作ツ
マミと並べて設置される。そのためスペースの制
約上の問題が発生し、陰極線管は例えば6インチ
程度の小さいものが使用されている。その結果、
表示文字が非常に小さく、見づらくなつてしま
う。
タが操作ツマミを操作しながら観察できる方が便
利であるため、陰極線管は操作パネル上に操作ツ
マミと並べて設置される。そのためスペースの制
約上の問題が発生し、陰極線管は例えば6インチ
程度の小さいものが使用されている。その結果、
表示文字が非常に小さく、見づらくなつてしま
う。
一方、透過型電子顕微鏡に走査像観察装置を組
込むことにより同一試料の透過電子顕微鏡像と走
査電子顕微鏡像を同時に観察できるようになした
装置が広く使用されている。この場合、走査電子
顕微鏡像を表示する陰極線管は、一般には前記デ
ータ表示用の陰極線管に比べて大きな(例えば9
インチ)ものが使用されている。しかも、斯かる
陰極線管は、電子顕微鏡像観察モードのときには
使用されていない。
込むことにより同一試料の透過電子顕微鏡像と走
査電子顕微鏡像を同時に観察できるようになした
装置が広く使用されている。この場合、走査電子
顕微鏡像を表示する陰極線管は、一般には前記デ
ータ表示用の陰極線管に比べて大きな(例えば9
インチ)ものが使用されている。しかも、斯かる
陰極線管は、電子顕微鏡像観察モードのときには
使用されていない。
そこで、本考案は斯様な点に鑑み、電子顕微鏡
像観察モードのとき各種データを大きな走査電子
顕微鏡像表示用陰極線管に表示されることにより
データを見やすくすることを目的とするものであ
る。
像観察モードのとき各種データを大きな走査電子
顕微鏡像表示用陰極線管に表示されることにより
データを見やすくすることを目的とするものであ
る。
[問題点を解決するための手段]
そのため本考案は、透過電子顕微鏡像を表示す
るための蛍光板と、走査電子顕微鏡像を観察する
ための走査顕微鏡像観察用陰極線管と、観察像を
透過電子顕微鏡像と走査電子顕微鏡像間で切換え
るための観察モード切換手段と、各種データを表
示するための前記走査顕微鏡像観察用陰極線管よ
りも小さい観察画面を有するデータ表示用陰極線
管を備えた電子顕微鏡において、前記観察モード
切換手段による観察像の走査電子顕微鏡像から透
過型電子顕微鏡像への切換えに連動して前記各種
データが表示される陰極線管を前記データ表示用
陰極線管から前記走査顕微鏡像観察用陰極線管に
切換えるための手段を備える透過型電子顕微鏡を
特徴としている。
るための蛍光板と、走査電子顕微鏡像を観察する
ための走査顕微鏡像観察用陰極線管と、観察像を
透過電子顕微鏡像と走査電子顕微鏡像間で切換え
るための観察モード切換手段と、各種データを表
示するための前記走査顕微鏡像観察用陰極線管よ
りも小さい観察画面を有するデータ表示用陰極線
管を備えた電子顕微鏡において、前記観察モード
切換手段による観察像の走査電子顕微鏡像から透
過型電子顕微鏡像への切換えに連動して前記各種
データが表示される陰極線管を前記データ表示用
陰極線管から前記走査顕微鏡像観察用陰極線管に
切換えるための手段を備える透過型電子顕微鏡を
特徴としている。
[実施例]
以下本考案の実施例を図面に基づき詳説する。
第1図は本考案の一実施例のブロツク線図であ
り、1は電子銃である。この電子銃から発生した
電子線は集束レンズ2及び3により細かく集束さ
れ、対物レンズ4内に置かれた試料5に照射され
る。該対物レンズとしては強励磁のものが使用さ
れ、試料5はそのレンズ磁場の中心付近に置かれ
ている。その結果、試料より前方のレンズ磁場は
電子線の集束に寄与し、後方のレンズ磁場は試料
透過電子の結像に寄与する。対物レンズ4によつ
て結ばれた像は中間レンズ6,投影レンズ7によ
り拡大されて蛍光板8上に終像を結ぶ。9は前期
電子銃1に印加する加速電圧を制御する加速電圧
制御回路、10は前期集束レンズ2,3の励磁電
流を制御する集束レンズ制御回路である。11は
前期対物レンズ4,中間レンズ6,投影レンズ7
の励磁電流を夫々制御するための結像レンズ制御
回路で、このレンズ制御回路を任意に制御するこ
とにより蛍光板8上に所望の倍率の透過電子顕微
鏡像を結像することができる。
り、1は電子銃である。この電子銃から発生した
電子線は集束レンズ2及び3により細かく集束さ
れ、対物レンズ4内に置かれた試料5に照射され
る。該対物レンズとしては強励磁のものが使用さ
れ、試料5はそのレンズ磁場の中心付近に置かれ
ている。その結果、試料より前方のレンズ磁場は
電子線の集束に寄与し、後方のレンズ磁場は試料
透過電子の結像に寄与する。対物レンズ4によつ
て結ばれた像は中間レンズ6,投影レンズ7によ
り拡大されて蛍光板8上に終像を結ぶ。9は前期
電子銃1に印加する加速電圧を制御する加速電圧
制御回路、10は前期集束レンズ2,3の励磁電
流を制御する集束レンズ制御回路である。11は
前期対物レンズ4,中間レンズ6,投影レンズ7
の励磁電流を夫々制御するための結像レンズ制御
回路で、このレンズ制御回路を任意に制御するこ
とにより蛍光板8上に所望の倍率の透過電子顕微
鏡像を結像することができる。
12はコンピユーター(以下CPUと称す)で、
加速電圧選択スイツチ13によつて指定された加
速電圧の値が得られるように加速電圧制御回路9
を制御したり、また倍率選択スイツチ14により
指定された倍率の値が得られるように結像レンズ
制御回路11を制御するものである。
加速電圧選択スイツチ13によつて指定された加
速電圧の値が得られるように加速電圧制御回路9
を制御したり、また倍率選択スイツチ14により
指定された倍率の値が得られるように結像レンズ
制御回路11を制御するものである。
15は前期集束レンズ3と対物レンズ4との間
に置かれた偏向コイルで、走査信号発生回路16
からの走査信号の供給を受けて、前期電子線を試
料5上で2次元的に走査するためのものである。
この電子線の走査により試料5から発生する2次
電子は対物レンズ4の前方磁場によつて螺旋状に
集束されて上方に取り出され、2次電子検出器1
7により検出される。この検出された信号は増幅
器18により増幅された後、切替スイツチS1を
介して第1の陰極線管19のグリツドに輝度変調
信号として供給される。この陰極線管の偏向コイ
ルには前期走査信号発生回路16から前期偏向コ
イル15への走査信号と同期した走査信号が供給
されるため、陰極線管19には2次電子による走
査電子顕微鏡像が表示される。また、この陰極線
管19としては走査電子顕微鏡像をできるだけ大
きく詳しく観察するために、例えば9インチ程度
の大きなものが用いられる。20はこの陰極線管
19に表示される走査電子顕微鏡の倍率を調整す
る倍率制御回路で、偏向コイル15に供給される
走査信号の振幅を変えて試料5上における電子線
走査範囲を変化させることにより倍率が変化す
る。また、この倍率制御回路はCPU12によつ
て制御される。21及び22は前期走査信号発生
回路16の走査速度を指定する走査速度指定回路
で、この内、21は高速(テレビジヨン周期)の
速度指定信号を発生し、他方の22は低速から高
速までの任意の走査速度指定信号を発生できるよ
うになしてあり、両指定信号は夫々切替スイツチ
S2を介して走査信号発生回路16に供給される。
23a,23bは走査信号を増幅するための増幅
器、S3は前期走査信号発生回路16からの走査
信号を偏向コイル15に供給あるいは停止させる
ための切替えスイツチである。
に置かれた偏向コイルで、走査信号発生回路16
からの走査信号の供給を受けて、前期電子線を試
料5上で2次元的に走査するためのものである。
この電子線の走査により試料5から発生する2次
電子は対物レンズ4の前方磁場によつて螺旋状に
集束されて上方に取り出され、2次電子検出器1
7により検出される。この検出された信号は増幅
器18により増幅された後、切替スイツチS1を
介して第1の陰極線管19のグリツドに輝度変調
信号として供給される。この陰極線管の偏向コイ
ルには前期走査信号発生回路16から前期偏向コ
イル15への走査信号と同期した走査信号が供給
されるため、陰極線管19には2次電子による走
査電子顕微鏡像が表示される。また、この陰極線
管19としては走査電子顕微鏡像をできるだけ大
きく詳しく観察するために、例えば9インチ程度
の大きなものが用いられる。20はこの陰極線管
19に表示される走査電子顕微鏡の倍率を調整す
る倍率制御回路で、偏向コイル15に供給される
走査信号の振幅を変えて試料5上における電子線
走査範囲を変化させることにより倍率が変化す
る。また、この倍率制御回路はCPU12によつ
て制御される。21及び22は前期走査信号発生
回路16の走査速度を指定する走査速度指定回路
で、この内、21は高速(テレビジヨン周期)の
速度指定信号を発生し、他方の22は低速から高
速までの任意の走査速度指定信号を発生できるよ
うになしてあり、両指定信号は夫々切替スイツチ
S2を介して走査信号発生回路16に供給される。
23a,23bは走査信号を増幅するための増幅
器、S3は前期走査信号発生回路16からの走査
信号を偏向コイル15に供給あるいは停止させる
ための切替えスイツチである。
24及び25は切替スイツチS4,S5を介して
第2の陰極線管26に文字,数字,記号等を表示
するための第1及び第2の文字表示回路で、この
内、第1の文字表示回路24にはCPU12から
例えば加速電圧及び倍率選択スイツチ13,14
により指定された夫々の値に対応する信号、つま
り透過電子顕微鏡像を得る際の使用条件の各種デ
ータに対応する信号が供給される。また他方の第
2の文字表示回路25にはCPU12に予めメモ
リされた例えばレンズの軸合わせ手順や真空排気
系統図等のデータに対応する信号が供給されるよ
うになしてある。27は前期第2の陰極線管26
の走査電源で、前期第1,第2の文字表示回路2
4,25と同期している。前期第2の陰極線管2
6としては図示外の操作パネルに組込まれる関係
上、例えば6インチ程度の小さいものが用いられ
る。
第2の陰極線管26に文字,数字,記号等を表示
するための第1及び第2の文字表示回路で、この
内、第1の文字表示回路24にはCPU12から
例えば加速電圧及び倍率選択スイツチ13,14
により指定された夫々の値に対応する信号、つま
り透過電子顕微鏡像を得る際の使用条件の各種デ
ータに対応する信号が供給される。また他方の第
2の文字表示回路25にはCPU12に予めメモ
リされた例えばレンズの軸合わせ手順や真空排気
系統図等のデータに対応する信号が供給されるよ
うになしてある。27は前期第2の陰極線管26
の走査電源で、前期第1,第2の文字表示回路2
4,25と同期している。前期第2の陰極線管2
6としては図示外の操作パネルに組込まれる関係
上、例えば6インチ程度の小さいものが用いられ
る。
前期各切替スイツチS1,S2,S3,S4,
S5は夫々連動されており、CPU12により制
御される。
S5は夫々連動されており、CPU12により制
御される。
28はCPU12に接続された透過電子顕微鏡
像観察モードと走査電子顕微鏡像観察モードとの
切替えを行うモード選択スイツチである。
像観察モードと走査電子顕微鏡像観察モードとの
切替えを行うモード選択スイツチである。
斯かる装置における動作を以下に詳説する。
今、モード選択スイツチ28により透過電子顕
微鏡像モードに切替えると、各切替スイツチS
1,S2,S3,S4,S5は第1図でその状態
を示すように端子a側に切替わる。これにより走
査信号発生回路16からの走査信号は偏向コイル
15へ供給されなくなるため、加速電圧及び倍率
選択スイツチ13,14により指定された加速電
圧及び倍率に基づく透過電子顕微鏡像が蛍光板8
上に投影される。また、走査信号発生回路16は
走査速度指定回路21に接続されるため、第1の
陰極線管19の走査速度は高速で行われると共
に、この陰極線管19のグリツドには第1の文字
表示回路24からの映像信号が供給されるため、
画面上には蛍光板8に投影されている。透過電子
顕微鏡像の使用条件データである加速電圧や倍率
等が第2図で示すように表示される。一方、第2
の陰極線管26には第2の文字表示回路25から
の映像信号が供給されるため、図示外の選択スイ
ツチによりCPU12にメモリされている種々の
データを任意に表示させることができる。このと
き、図示しないが走査信号発生回路16と第1の
文字表示回路24とは同期されることは言うまで
もない。
微鏡像モードに切替えると、各切替スイツチS
1,S2,S3,S4,S5は第1図でその状態
を示すように端子a側に切替わる。これにより走
査信号発生回路16からの走査信号は偏向コイル
15へ供給されなくなるため、加速電圧及び倍率
選択スイツチ13,14により指定された加速電
圧及び倍率に基づく透過電子顕微鏡像が蛍光板8
上に投影される。また、走査信号発生回路16は
走査速度指定回路21に接続されるため、第1の
陰極線管19の走査速度は高速で行われると共
に、この陰極線管19のグリツドには第1の文字
表示回路24からの映像信号が供給されるため、
画面上には蛍光板8に投影されている。透過電子
顕微鏡像の使用条件データである加速電圧や倍率
等が第2図で示すように表示される。一方、第2
の陰極線管26には第2の文字表示回路25から
の映像信号が供給されるため、図示外の選択スイ
ツチによりCPU12にメモリされている種々の
データを任意に表示させることができる。このと
き、図示しないが走査信号発生回路16と第1の
文字表示回路24とは同期されることは言うまで
もない。
次に、モード選択スイツチ28を透過電子顕微
鏡像観察モードから走査電子顕微鏡像観察モード
に切替えると、切替スイツチS1,S2,S3,
S4,S5が夫々端子b側に切替わるため、走査
信号発生回路16からの走査信号が偏向コイル1
7に供給され、電子線が試料5上の一定の領域を
走査する。また、CPU12により対物レンズの
励磁状態が強励磁状態に切替えられるため、電子
線の走査によつて試料から発生する2次電子が対
物レンズの前方磁界により螺旋状に集束されなが
ら上方に取出され、2次電子検出器17に検出さ
れる。その検出信号は増幅器18により増幅され
た後切替えスイツチS1を介して第1の陰極線管
19のグリツドに供給されるため、画面上に走査
電子顕微鏡像が表示される。このとき走査信号発
生回路16は走査速度指定回路22と接続される
ため、走査速度は低速から高速までの任意な速度
に設定することができる。一方、第2の陰極線管
26は第1の文字表示回路24と接続されるた
め、画面上には第2図に示すような走査電子顕微
鏡像を得る際の使用条件データが表示される。
鏡像観察モードから走査電子顕微鏡像観察モード
に切替えると、切替スイツチS1,S2,S3,
S4,S5が夫々端子b側に切替わるため、走査
信号発生回路16からの走査信号が偏向コイル1
7に供給され、電子線が試料5上の一定の領域を
走査する。また、CPU12により対物レンズの
励磁状態が強励磁状態に切替えられるため、電子
線の走査によつて試料から発生する2次電子が対
物レンズの前方磁界により螺旋状に集束されなが
ら上方に取出され、2次電子検出器17に検出さ
れる。その検出信号は増幅器18により増幅され
た後切替えスイツチS1を介して第1の陰極線管
19のグリツドに供給されるため、画面上に走査
電子顕微鏡像が表示される。このとき走査信号発
生回路16は走査速度指定回路22と接続される
ため、走査速度は低速から高速までの任意な速度
に設定することができる。一方、第2の陰極線管
26は第1の文字表示回路24と接続されるた
め、画面上には第2図に示すような走査電子顕微
鏡像を得る際の使用条件データが表示される。
なお、前述の説明は本考案の一例であり、実施
にあたっては種々の変更が可能である例えば透過
電子顕微鏡像モードに切替えた際い、第1の陰極
線管19に加速電圧等の使用条件データを、また
第2の陰極線管26にその以外のデータを夫々表
示させるように述べたが、これに限定されること
なく、第1と第2とに表示されるデータの内容を
入れ替えて表示しても良く、また、第2の陰極線
管への表示は停止しても良い。
にあたっては種々の変更が可能である例えば透過
電子顕微鏡像モードに切替えた際い、第1の陰極
線管19に加速電圧等の使用条件データを、また
第2の陰極線管26にその以外のデータを夫々表
示させるように述べたが、これに限定されること
なく、第1と第2とに表示されるデータの内容を
入れ替えて表示しても良く、また、第2の陰極線
管への表示は停止しても良い。
又、第1の陰極線管19に透過電子顕微鏡像の
観察条件データを表示した状態でこの陰極線管の
画面を撮影すれば、プリンター等を別個に設ける
ことなく、これらデータを記録することができ
る。
観察条件データを表示した状態でこの陰極線管の
画面を撮影すれば、プリンター等を別個に設ける
ことなく、これらデータを記録することができ
る。
[考案の効果]
以上のような構成と成せば、文字データを観察
モードの切換えにかかわらず常に表示できるだけ
でなく、電子顕微鏡像の観察時には大きな表示画
面に文字データを表示することができ、電子顕微
鏡像観察に伴うデータを操作者にとつて見易い形
で表示することができる。
モードの切換えにかかわらず常に表示できるだけ
でなく、電子顕微鏡像の観察時には大きな表示画
面に文字データを表示することができ、電子顕微
鏡像観察に伴うデータを操作者にとつて見易い形
で表示することができる。
第1図は本考案の一実施例を示すブロツク図、
第2図は陰極線管上に表示されるデータの一例を
示す図である。 1……電子銃、2,3……集束レンズ、4……
対物レンズ、5……試料、6……中間レンズ、7
……投影レンズ、8……蛍光板、9……加速電圧
制御回路、11……結像レンズ制御回路、12…
…コンピユータ、13……加速電圧選択スイツ
チ、14……倍率選択スイツチ、15……偏向コ
イル、16……走査信号発生回路、17……2次
電子検出器、18,23a,23b……増幅器、
19,26……第1及び第2の陰極線管、20…
…倍率制御回路、21,22……走査速度指定回
路、24,25……第1及び第2の文字表示回
路、27……走査電源、S1,S2,S3,S
4,S5……切替スイツチ。
第2図は陰極線管上に表示されるデータの一例を
示す図である。 1……電子銃、2,3……集束レンズ、4……
対物レンズ、5……試料、6……中間レンズ、7
……投影レンズ、8……蛍光板、9……加速電圧
制御回路、11……結像レンズ制御回路、12…
…コンピユータ、13……加速電圧選択スイツ
チ、14……倍率選択スイツチ、15……偏向コ
イル、16……走査信号発生回路、17……2次
電子検出器、18,23a,23b……増幅器、
19,26……第1及び第2の陰極線管、20…
…倍率制御回路、21,22……走査速度指定回
路、24,25……第1及び第2の文字表示回
路、27……走査電源、S1,S2,S3,S
4,S5……切替スイツチ。
Claims (1)
- 透過電子顕微鏡像を表示するための蛍光板と、
走査電子顕微鏡像を観察するための走査顕微鏡像
観察用陰極線管と、観察像を透過電子顕微鏡像と
走査電子顕微鏡像間で切換えるための観察モード
切換手段と、各種データを表示するため前記走査
顕微鏡像観察用陰極線管よりも小さい観察画面を
有するデータ表示用陰極線管を備えた電子顕微鏡
において、前記観察モード切換手段による走査電
子顕微鏡像から透過電子顕微鏡像への観察像の切
換えに連動して前記各種データが表示される陰極
線管を前記データ表示用陰極線管から前記走査顕
微鏡像観察用陰極線管に切換えるための手段を備
える透過型電子顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984151020U JPH0425803Y2 (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984151020U JPH0425803Y2 (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6166860U JPS6166860U (ja) | 1986-05-08 |
JPH0425803Y2 true JPH0425803Y2 (ja) | 1992-06-22 |
Family
ID=30709152
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1984151020U Expired JPH0425803Y2 (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0425803Y2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5477060A (en) * | 1977-12-01 | 1979-06-20 | Hitachi Ltd | Electron microscope |
JPS54148372A (en) * | 1978-05-12 | 1979-11-20 | Jeol Ltd | Electron microscope |
JPS56147351A (en) * | 1980-04-18 | 1981-11-16 | Jeol Ltd | Image photographying device for transmission type electron microscope |
-
1984
- 1984-10-05 JP JP1984151020U patent/JPH0425803Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5477060A (en) * | 1977-12-01 | 1979-06-20 | Hitachi Ltd | Electron microscope |
JPS54148372A (en) * | 1978-05-12 | 1979-11-20 | Jeol Ltd | Electron microscope |
JPS56147351A (en) * | 1980-04-18 | 1981-11-16 | Jeol Ltd | Image photographying device for transmission type electron microscope |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6166860U (ja) | 1986-05-08 |
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