JP2009527648A - 金属基材上のコーティングおよびコーティングした製品 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図23
Description
青銅器時代以降ずっと、金属およびそれより誘導される様々な製品は人類にとって非常に重要な役割を果たしてきた。金属は優れた磨耗特性、化学特性および物理特性を有しているとしても、これらの製品に関連する多くの問題がまだ存在する。これらの問題の一部は、金属材料の構成(合金および組成)を変更することにより金属製品の物理特性および化学特性を改良することによって解決されてきたが、表面特性に関連する問題を解決しようとする試みはあまり功を奏してはいない。
近年、レーザー技術の注目すべき進歩により、半導体ファイバーに基づく非常に高効率のレーザーシステムを生成する手段がもたらされた。これにより、いわゆる低温アブレーション法における進歩が支えられている。
図2は、先行技術の光学スキャナ、つまり振動ミラー(ガルバノスキャナ)を用いて異なるITO薄膜厚み(30nm、60nmおよび90nm)で生成したポリカーボネートシート(約100mm×30mm)上のITOコーティングを示す。ITOコーティングは金属基材上に堆積していないが、この図は、特に超短パルスレーザー堆積(USPLD)においてのみならずレーザー支援コーティング一般において、光学スキャナとして振動ミラーを採用することに関連する問題のいくつかを明瞭に示している。振動ミラーがその末端位置でその角運動の方向を変えるので、そして慣性モーメントがあるために、このミラーの角速度はその末端位置の近くでは一定ではない。振動運動に起因して、このミラーは連続的にブレーキがかかっており、再び加速する前に停止し、これにより走査した領域のエッジでターゲット材のでこぼこした処理を引き起こす。図2からわかるように、これは次にとりわけ走査した領域のエッジに粒子を含む低質のプラズマをもたらし、ついには低品質で一見しただけで不均一とわかるコーティング結果をもたらす。用いたスキャナの性質に起因してアブレーションされた材料の不均一な分布を示すために、コーティングパラメータを選択した。パラメータを適切に選択すると、膜の品質を向上させることができ、問題は見えなくなるが、なくなるわけではない。
従来どおり、約2〜3m/sの代表的な最大速度、実際には約1m/sの速度でレーザー光線を走査するためにガルバノスキャナを使用する。これは、実に40〜60パルスが2MHzの繰り返し速度で重なっていることを意味する(図3)。
プラズマに関連する質の問題を、公知の技術によるプラズマ発生を示す図34aおよび図34bに示す。レーザーパルスエネルギーγ1114がターゲット表面1111に衝突する。このパルスは長パルスであるので、深さhおよび光線直径dは同程度の強度であり、パルス1114の熱も衝突スポット領域の表面だけでなく、表面1111の下深さhよりも深くまでも加熱する。この構造体は熱ショックを経験し、張力が発生し、これにより破壊を伴いながらFと示した断片が生成する。この実施例においてはプラズマは品質がまったく劣悪であるかも知れないため、小さい点1115で示す分子およびそれらのクラスターも存在するように見せてある。これと関連して、図34bに示すガス1116から形成されるような類似の構造の核またはクラスターについても数字1115により参照している。文字「o」は、粒子ガスからおよび/または凝集によって形成および成長し得る粒子を示す。放出された断片は、凝縮/およびまたは凝集によっても成長する可能性がある。これは点からFへおよびoからFへと湾曲した矢印で示してある。湾曲した矢印はプラズマ1113からガス1116へ、さらには粒子1115およびサイズが大きくなった粒子1117への相転移をも示している。図34bのアブレーションプルームは劣悪なプラズマ生成に起因して断片Fおよび蒸気およびガスから生成する粒子を含むことがあるので、このプラズマはプラズマ領域として連続的ではなく、従って単一のパルスプルーム内で品質のばらつき(variation)が見られるかも知れない。組成および/または深さhより下の構造の欠陥ならびにその結果生じる深さのばらつき(図34a)に起因して、図34bのターゲット表面1111はさらなるアブレーションのためにはもはや利用可能ではなく、材料のいくらかは利用可能であるにもかかわらずこのターゲットは無駄にされる。
図32aは、隣接するパルスとわずかに重なりながらターゲット材のアブレーションを実現する速度で回転スキャナを用い、先行技術のガルバノスキャナに関連する問題を回避するピコ秒範囲のパルス状レーザーによってアブレーションされたターゲット材を示す。図32bはアブレーションされた材料の1つの部分の拡大図を示しており、材料のx軸上およびy軸上の滑らかかつ制御されたアブレーション、従って粒子を含まない高品質のプラズマの発生ひいては高品質の薄膜およびコーティングの発生を明瞭に示す。図32cは1つまたはいくつかのパルスによって実現できる1つの単独のアブレーションスポットの実現可能なx方向寸法およびy方向寸法の例を示す。本発明は、アブレーションされたスポットの幅はアブレーションされたスポット領域の深さよりも常にはるかに大きいような様式で材料のアブレーションを実現することがここではっきりと見て取れる。理論的には、(粒子が生成するであろう場合は)生成し得る粒子はスポット深さの最大サイズを有することができるであろう。回転スキャナは、大きい走査幅と同時に大きい生産速度で良質の、粒子を含まないプラズマを生成する。これはコーティングすべき大きい表面積を備える基材にとっては特に有益である。さらに図32a、図32bおよび図32cは、現在の技術とは対照的に、すでにアブレーションされたターゲット材領域は高品質のプラズマを新しく発生させるためにアブレーションを受けることができ、従ってコーティング/薄膜製造コスト全体は劇的に下がることを明瞭に示す。
4MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は4mmで、焼結した炭素をアブレーションすることにより、250mm×400mmの大きさの鏡面仕上げのアルミ箔の一片をコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-5気圧(約0.01hPa)であった。このプロセスにより、均一な空色に着色した透明なコーティングが得られた。コーティング厚みは200nmであった。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、8nmであると測定した。測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
4MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長17ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は10mmで、酸化銅をアブレーションすることにより、300mm×400mmの大きさの薄銅板をコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-1気圧(約100hPa)であった。このプロセスにより、均一な淡緑色に着色した不透明なコーティングが得られた。コーティング厚みは5μmであった。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、50nmであると測定した。
15MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は6cmで、アルミニウムチタンオキシド(ATO)をアブレーションすることにより、実施例2の酸化銅をコーティングした薄銅板ををコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-3気圧(約1hPa)であった。このプロセスにより、均一な淡緑色に着色した透明なコーティングが得られ、ATOはもとの不透明な酸化銅のコーティングの色を変えなかった。コーティング厚みは420nmであった。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、40nmであると測定した。ATOコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
20MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー4μJ、パルス長10ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は1mmで、酸素雰囲気中で酸化チタンをアブレーションすることにより、500mm×600mmの大きさの薄鋼板(厚み1.5mm)をコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-2気圧(約10hPa)であった。このプロセスにより、コーティング厚み50nmを有する透明なコーティングが得られた。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、3nmであると測定した。酸化チタンコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。TiO2コーティングの光学的透明性が98%より高いことを測定した。
20MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー4μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は10mmで、チタンをアブレーションすることにより、500mm×600mmの大きさの薄鋼板(厚み1.5mm)をコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-5気圧(約0.01hPa)であった。このプロセスにより、コーティング厚み280nmを有する金属的なチタンコーティングが得られた。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、より良好であると測定した。酸化チタンコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
20MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は10mmで、タンタルをアブレーションすることにより、500mm×600mmの大きさの薄鋼板(厚み1.5mm)をコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-4気圧(約0.1hPa)であった。このプロセスにより、コーティング厚み320nmを有する金属的なタンタルのコーティングが得られた。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、3nmであると測定した。タンタルコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
35MHzのパルス繰り返し速度、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は2cmで、桃色の瑪瑙(粉砕して焼結したもの)をアブレーションすることにより、マークのない0.33dm3の体積のアルミニウム缶、10cmの従来の金属ねじおよび一片の薄鋼(35mm×50mm)をコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-4気圧(約0.1hPa)であった。このプロセスにより、100nmと550nmとの間のコーティング厚みを有する桃色の瑪瑙で着色した不透明なコーティングが得られた。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、10nmより良好であると測定した。瑪瑙コーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
10MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は20mmで、コールドプレスしたキトサンをアブレーションすることにより、500mm×600mmの大きさの薄鋼板(厚み1.5mm)をコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-5気圧(約0.01hPa)であった。このプロセスにより、コーティング厚み250nmを有する一部不透明なコーティングが得られた。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、10nmより良好であると測定した。ポリマーコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
ステンレス鋼製の骨ネジを、20MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー4μJ、パルス長15ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は1mmで、加熱プレスした黒鉛をアブレーションすることによりコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-5気圧(約0.01hPa)であった。コーティング厚みを、1μmであると測定した。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、3nmであると測定した。ダイヤモンドコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。炭素含量を98%より高いと測定し、sp3結合の割合は約86%であった。
20MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は10mmで加熱プレスしたC3N4Hxをアブレーションすることにより、ステンレス鋼製の骨ネジをコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-5気圧(約0.01hPa)であった。コーティング厚みを、1μmであると測定した。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、3nm未満であると測定した。窒化炭素コーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
30MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は10.2cmで、酸化形態のITO(90重量%のIn2O3、10重量%のSnO2)をアブレーションすることにより、300mm×400mmの大きさの薄銅板をコーティングした。酸素圧は10-4〜10-1mbar(10-4〜10-1hPa)の範囲で変動した。このプロセスにより、均一で透明なコーティングが得られた。コーティング厚みを110nmと測定した。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、2nm未満であると測定した。ITOコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
27MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は10.2cmで、金属ターゲット(90重量%のIn、10重量%のSn)由来のITOをアブレーションすることにより、300mm×400mmの大きさの薄銅板をコーティングした。酸素圧は10-4〜10-1mbar(10-4〜10-1hPa)の範囲で変動した。このプロセスにより、均一で透明なコーティングが得られた。コーティング厚みは40nmであった。平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、2nm未満であると測定した。ITOコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
4MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長24ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は15cmでクロムをアブレーションすることにより、図14にかかる金属製やすりをクロム金属でコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-4気圧(約0.1hPa)であった。このプロセスにより均一な金属的なコーティングが得られた。コーティングの厚みを320nmと測定し、平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、2nm未満であると測定した。クロムコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
6MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長24ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は5cmで、焼結したC3N4Hx材料をアブレーションすることにより、実施例13にかかる金属製やすりをコーティングした。真空レベルは、コーティングプロセスのあいだ10-4気圧(約0.1hPa)であった。このプロセスにより均一な金属的なコーティングが得られた。窒化炭素コーティングの厚みを390nmと測定し、平均表面粗さを、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、2nm未満であると測定した。窒化炭素(C3N4)コーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
4MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長24ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は3cmで焼結したC3N4Hx材料をアブレーションすることにより、図17にかかる金属電動弁を窒化炭素でコーティングした。窒素圧は10-4〜10-1mbar(10-4〜10-1hPa)の間で変動した。このプロセスにより均一なC3N4コーティングが得られた。窒化炭素コーティングの厚みを500nmと測定し、平均表面粗さは、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合2nm未満であると測定した。窒化炭素(C3N4)コーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
26MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は2.5cmで、活性酸素雰囲気中で酸化アルミニウムをアブレーションすることにより、図15にかかる車両モーターの金属製シリンダを酸化アルミニウムでコーティングした。酸素圧は10-4〜10-1mbar(10-4〜10-1hPa)の間で変動した。このプロセスにより均一で透明なコーティングが得られた。酸化アルミニウムコーティングの厚みを2.3μmと測定し、平均表面粗さは、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合2nm未満であると測定した。酸化アルミニウムコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。
9MHzのパルス繰り返し速度、パルスエネルギー5μJ、パルス長20ps、ターゲット材とコーティングすべき表面との間の距離は2.5cmで、活性酸素雰囲気中でチタン金属をアブレーションすることにより、図20にかかる金属製蛇口を酸化チタンでコーティングした。酸素圧は10-4〜10-1mbar(10-4〜10-1hPa)の間で変動した。このプロセスにより均一で透明なコーティングが得られた。酸化アルミニウムコーティングの厚みを25nmと測定し、平均表面粗さは、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合2nm未満であると測定した。酸化アルミニウムコーティングの測定したどの領域にもピンホールは見出せなかった。コーティングした物体を有機物の汚れにさらし、その後その物体を光および特定の湿度にさらした。このコーティングは自浄性を有していた。
Claims (33)
- 金属製品の特定の表面をレーザーアブレーションによってコーティングするための方法であって、コーティングすべき均一な表面積が少なくとも0.2dm2を備え、前記コーティングが、パルス状レーザー光線が前記レーザー光線を反射するための少なくとも1つのミラーを備える回転光学スキャナを用いて走査される超短パルスレーザー堆積を用いて実施されることを特徴とする方法。
- 前記均一な表面積が少なくとも0.5dm2を備えることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記均一な表面積が少なくとも1.0dm2を備えることを特徴とする、請求項1または請求項2に記載の方法。
- 前記レーザー堆積の用いるパルス周波数が少なくとも1MHzであることを特徴とする、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記レーザーアブレーションが10-1〜10-12気圧(約100hPa〜約10-9hPa)の真空下で実施されることを特徴とする、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の方法。
- 前記レーザーアブレーションが10-1〜10-4気圧(約100hPa〜約10-1hPa)の真空下で実施されることを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 前記ターゲット材と前記コーティングすべき均一な表面積との間の距離が25cm未満、好ましくは15cm未満、最も好ましくは10cm未満であることを特徴とする、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の方法。
- 欠陥のないコーティングを生成するために、前記ターゲット材のアブレーションされた表面が繰り返しアブレーションされてもよいことを特徴とする、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の方法。
- 原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、前記均一な表面積上に生成したコーティングの平均表面粗さが100nm未満であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記均一な表面積に生成したコーティングの光の透過率が88%以上、好ましくは90%以上、最も好ましくは92%以上であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記均一な表面積上に生成したコーティングが1mm2あたり1個未満のピンホールを含み、好ましくは1cm2あたり1個未満のピンホールを含み、最も好ましくは前記均一な表面積においてピンホールを含まないことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記均一な表面積上の前記コーティングの最初の50%が1000nm、好ましくは100nm、最も好ましくは30nmを超える直径を有する粒子を含まない様式で、前記均一な表面積がコーティングされることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記金属製品の均一な表面積が金属、金属酸化物、金属窒化物、金属炭化物またはこれらの混合物でコーティングされることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記金属製品の均一な表面積が90原子%を超える炭素、70%を超えるsp3結合を含む炭素材料でコーティングされることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記金属製品の均一な表面積が炭素、窒素および/またはホウ素を様々な比で含む材料でコーティングされることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記金属製品の均一な表面積が有機ポリマー材料でコーティングされることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記均一な表面積が無機材料でコーティングされることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記金属製品の均一な表面積が多層コーティングでコーティングされることを特徴とする、請求項1から請求項17のいずれか1項に記載の方法。
- 前記金属製品の均一な表面上の前記コーティングの厚みが20nm〜20μmの間、好ましくは100nm〜5μmの間であることを特徴とする、請求項1から請求項18のいずれか1項に記載の方法。
- レーザーアブレーションによりコーティングされた特定の表面を含む金属製品であって、前記コーティングされた均一な表面積が少なくとも0.2dm2を備え、かつ前記コーティングは、パルス状レーザー光線が前記レーザー光線を反射するための少なくとも1つのミラーを備える回転光学スキャナを用いて走査される超短パルスレーザー堆積を用いて実施されることを特徴とする、金属製品。
- 前記均一な表面積が少なくとも0.5dm2を備えることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記均一な表面積が少なくとも1.0dm2を備えることを特徴とする、請求項20または請求項21に記載の金属製品。
- 前記均一な表面積上に生成したコーティングの平均表面粗さが、原子間力顕微鏡(AFM)を用いて1μm2の領域から走査した場合、100nm未満であることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記均一な表面積上に生成したコーティングの光の透過率が88%以上、好ましくは90%以上、最も好ましくは92%以上であることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記均一な表面積上に生成したコーティングが1mm2あたり1個未満のピンホールを含み、好ましくは1cm2あたり1個未満のピンホールを含み、最も好ましくは前記均一な表面積においてピンホールを含まないことを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記均一な表面積上の前記コーティングの最初の50%が1000nm、好ましくは100nm、最も好ましくは30nmを超える直径を有する粒子を含まない様式で、前記均一な表面積がコーティングされることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記金属製品の均一な表面積が金属、金属酸化物、金属窒化物、金属炭化物またはこれらの混合物でコーティングされることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記金属製品の均一な表面積が90原子%を超える炭素、70%を超えるsp3結合を含む炭素材料でコーティングされることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記金属製品の均一な表面積が炭素、窒素および/またはホウ素を様々な比で含む材料でコーティングされることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記金属製品の均一な表面積が有機ポリマー材料でコーティングされることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記均一な表面積が無機材料でコーティングされることを特徴とする、請求項20に記載の金属製品。
- 前記金属製品の均一な表面積が多層コーティングでコーティングされることを特徴とする、請求項20から請求項31のいずれか1項に記載の金属製品。
- 前記金属製品の均一な表面上のコーティングの厚みが20nm〜20μmの間、好ましくは100nm〜5μmの間であることを特徴とする、請求項20から請求項32のいずれか1項に記載の金属製品。
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