JP2008539394A - プローブカードアセンブリの熱により誘起される運動に対処するための装置と方法 - Google Patents
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Abstract
Description
しばしば、プローブカードアセンブリ108を、加熱(または冷却)された試料台106を有するプローバ102に設置した直後に、プローブカードアセンブリ108は、熱により誘起される運動を受ける。プローブカードアセンブリ108の前側と後側との間で、十分な温度平衡が達成された後にのみ、運動は停止し、プローブカードアセンブリ108の位置は安定する。もちろん、かかる平衡は、プローブカードアセンブリ108の前側の温度が、後側の温度と全く等しい完全平衡である必要はなく、むしろ、前側の温度および後側の温度は、プローブカードアセンブリ108の構造が熱による運動に抵抗することができるように、十分に近ければよい。かかる温度平衡またはほぼ平衡に達するまでの所要時間は、しばしば「熱平衡時間」または「熱浸漬時間」と称する。
このようにして、補強板202が試験ヘッドプレート121にボルト締めされ、またプローブヘッドアセンブリ222が補強板202に取り付けられるので、補強板202がプローブヘッドアセンブリ222に機械的安定性を提供し得ることは、明白である。補強板202は、その強度および熱による運動に抵抗する能力のために選択され得る。例えば、補強板202(およびタブ226)は、通常配線基板204よりも強力で、運動、たわみ、ゆがみなどに対してより抵抗力のある金属(例えば、アルミニウム)を備え得る(例えば、上述のように、配線基板204は一般的にプリント回路基板材料から作られる)。補強板202(およびタブ226)が作られる他の金属の限定されない例は、鋼鉄、チタニウム、ニッケル、エックスインバー(ex invar)、コバール、黒鉛エポキシ、金属マトリクス材、セラミックなどを含む。さらに、前述の任意の材料の合金、または前述の任意の材料と他の材料との混合物も使用され得る。補強板202およびタブ226が、プローブヘッドアセンブリ222をプローバヘッドプレート121に取り付ける金属構造を形成し得ることは明白である。
図7Aおよび図7Bに示すように、トラス構造604は、補強板202に固定され得る。トラス構造604は、適切な任意の手段を利用して、補強板202に固定され得る。図7Aおよび図7Bでは、複数のねじ(またはボルト)614が、トラス構造604の穴(図示せず)を貫通し、補強板202の対応する穴(図示せず)にねじ込まれる。図7Aおよび図7Bに示す例示的なトラス構造604では、ねじ614の一部は、トラス構造604の主部を貫通し、またねじ614の一部は、トラス構造604の主部から延伸したアーム628を貫通する。
プローブヘッドアセンブリ1322の温度制御デバイス1340は、プローブ1324a〜1324dおよび端子1344の不整列を修正するために働かされ得る。すなわち、温度制御デバイス1340は、プローブヘッドアセンブリ1322を加熱するように働かされ得るので、その結果として、それはダイ1312と同じくらい、またはほぼ同じくらい膨張する。図13Cでは、温度制御デバイス1340によって引き起こされるプローブヘッドアセンブリ1322の追加的な膨張を、矢印1332によって表す。図13Cに示すように、この膨張はプローブ1324a〜1324dを、端子1344に対して再整列させる。
図16は、図15の1510および1512を実施するための例示的なシステムを示す。図16に示すように、システム1600は、メモリ1604に保存されているソフトウェア(マイクロコードまたはファームウェアを含むが、これに限定されない)に従って動作するプロセッサ1604を含み得る。プロセッサ1604はモニター1606から入力1610を受信し、またモニター1606からの入力1610が、プローブおよびダイ端子が整列していないことを示しているかどうかを決定する(図15の1510)ことができ、整列していない場合には、制御信号1612をプローブヘッドアセンブリの温度制御デバイス1608に出力する(図15の1512)ことができる。温度制御デバイス1608は、図13A〜図13Cおよび図14A〜図14Dに関連して上述した、任意の温度制御デバイスであり得る。
Claims (31)
- 試験装置に取り付けられるように構成される補強構造と、
試験される電子デバイスと接するように配置される複数のプローブを備えるプローブ構造であって、該補強構造が該プローブ構造の運動に抵抗するように、該補強構造に固定して取り付けられる、プローブ構造と、
該プローブ構造に電気的インターフェースを提供するように構成される配線基板であって、該補強構造に可動的に取り付けられる、配線基板と、
を備える、プローブカードアセンブリ。 - 前記補強構造は、前記配線基板よりも大きな機械的強度を有する、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記補強構造は金属の構造である、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブ構造は、前記補強構造に直接機械的に取り付けられる、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記配線基板は、該配線基板が前記補強構造に取り付けられる位置から、放射状に膨張または収縮することができる、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記配線基板が前記補強構造に取り付けられる前記位置は、該配線基板の中央の位置である、請求項5に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記補強構造に取り付けられるトラス構造をさらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記トラス構造に対して前記補強構造の配向を選択的に変化させるように構成される調整機構をさらに備える、請求項7に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記調整機構は、差動ねじアセンブリを備える、請求項8に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記調整機構は、前記補強構造の形状を選択的に変化させるように構成される、請求項8に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記補強板に対して前記プローブ構造の配向を選択的に変化させるように構成される調整整機構さらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記調整機構は、差動ねじアセンブリを備える、請求項11に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記調整機構は、前記補強板の形状を選択的に変化させるように構成される、請求項11に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブカードアセンブリの片側から該プローブカードアセンブリの反対側への、熱の伝達を促進するための手段をさらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブ構造が前記補強構造に取り付けられている間に、該補強構造に対して該プローブ構造の位置を調整するための手段をさらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記電子デバイスは半導体ダイを備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブ構造は、前記プローブが取り付けられる表面を有するプローブ基板を備え、前記補強構造は、該プローブ基板の該表面に略垂直となる方向への、該プローブ構造の運動に抵抗する、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブ構造は、前記プローブが取り付けられる表面を有するプローブ基板を備え、前記配線基板は、該プローブ基板の該表面に略平行となる方向へ、該補強構造に対して移動可能である、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブ構造は、前記プローブが取り付けられる表面を有するプローブ基板を備え、前記プローブカードアセンブリは、該表面に略平行となる方向へ、該プローブ構造を選択的に熱により膨張および/または収縮させるための手段をさらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブの横方向の位置を、選択的に制御するための手段をさらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブ構造の温度を変えるように構成される、熱制御要素をさらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記プローブ構造の運動に抵抗するために、前記試験装置の構造要素によって係合されるように構成される、スタッド構造をさらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- 前記補強構造の外側部分は、前記試験装置に取り付けられるように構成され、前記プローブカードアセンブリは、該補強構造の内側部分の運動に抵抗するために、該試験装置の構造要素によって係合されるように構成されるスタッド構造をさらに備える、請求項1に記載のプローブカードアセンブリ。
- プローブカードアセンブリを作る方法であって、
試験装置に取り付けられるように構成される補強構造を提供するステップと、
該補強構造がプローブ構造の運動に抵抗するように、該プローブ構造を該補強構造に固定して取り付けるステップであって、該プローブ構造は、試験される電子デバイスと接するように構成される複数のプローブを備える、ステップと、
配線基板が該補強構造に対して可動となるように、該配線基板を該補強構造に取り付けるステップであって、該配線基板は、該プローブ構造と該試験装置との間の電気的インターフェースを提供する、ステップと、
を包含する、方法。 - 前記補強構造は、前記インターフェース構造よりも大きな機械的強度を有する、請求項24に記載の方法。
- 前記補強構造は金属の構造である、請求項24に記載の方法。
- 前記配線基板が、前記補強構造に取り付けられる位置から放射状に膨張または収縮することができるように、該配線基板を該補強構造に取り付けるステップ、をさらに包含する、請求項24に記載の方法。
- 前記位置は、前記配線基板の中央の位置である、請求項27に記載の方法。
- トラス構造を前記補強構造に取り付けるステップ、をさらに包含する、請求項24に記載の方法。
- 前記プローブカードアセンブリの片側から該プローブカードアセンブリの反対側への、熱伝達コンジットを提供するステップ、をさらに包含する、請求項29に記載の方法。
- 前記電子デバイスは、半導体ダイを備える、請求項24に記載の方法。
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