JP2008532313A - 半導体加工のための一時的なウェハ結合法 - Google Patents

半導体加工のための一時的なウェハ結合法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008532313A
JP2008532313A JP2007558025A JP2007558025A JP2008532313A JP 2008532313 A JP2008532313 A JP 2008532313A JP 2007558025 A JP2007558025 A JP 2007558025A JP 2007558025 A JP2007558025 A JP 2007558025A JP 2008532313 A JP2008532313 A JP 2008532313A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
optionally
film
substrate
adhesive composition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007558025A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5068674B2 (ja
Inventor
ゲオフレイ・ブルース・ガードナー
ブライアン・ロバート・ハークネス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dow Silicones Corp
Original Assignee
Dow Corning Corp
Dow Silicones Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dow Corning Corp, Dow Silicones Corp filed Critical Dow Corning Corp
Publication of JP2008532313A publication Critical patent/JP2008532313A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5068674B2 publication Critical patent/JP5068674B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J183/00Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J183/04Polysiloxanes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L83/00Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon only; Compositions of derivatives of such polymers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J5/00Adhesive processes in general; Adhesive processes not provided for elsewhere, e.g. relating to primers
    • C09J5/06Adhesive processes in general; Adhesive processes not provided for elsewhere, e.g. relating to primers involving heating of the applied adhesive
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/52Mounting semiconductor bodies in containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L21/6836Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2203/00Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils
    • C09J2203/326Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils for bonding electronic components such as wafers, chips or semiconductors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2301/00Additional features of adhesives in the form of films or foils
    • C09J2301/50Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by process specific features
    • C09J2301/502Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by process specific features process for debonding adherents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2483/00Presence of polysiloxane
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/76Making of isolation regions between components
    • H01L21/762Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers
    • H01L21/7624Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers using semiconductor on insulator [SOI] technology
    • H01L21/76251Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers using semiconductor on insulator [SOI] technology using bonding techniques
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68327Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/6834Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used to protect an active side of a device or wafer

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

一時的にウェハを結合する方法であって、付加反応硬化型接着性組成物を使用する。前記接着性組成物は、(A)1分子あたり平均少なくとも二つのケイ素結合不飽和有機基を有するポリオルガノシロキサン、(B)組成物を硬化するのに十分な量の、1分子あたり平均少なくとも二つのケイ素結合水素原子を有するオルガノシリコン化合物、(C)触媒量のヒドロシリル化触媒、及び(D)触媒を含んでよい。前記組成物を硬化することによって調製されるフィルムはエッチング液で除去可能である。

Description

本出願は、35 U.S.C.§119(e)の下で2005年3月1日に出願された米国仮出願第60/657,630の利益を主張する。米国仮出願第60/657,630は参照することによりここに組み込まれる。
本発明は、付加反応硬化型接着性組成物を用いて基板にウェハを結合する方法に関する。
市場の圧力によって製造業者はより薄いダイパッケージの実現に取り組んでいるが、パッケージの全高さを減少する一つの方法はシリコンダイの薄化とされてきた。薄化工程は、ダイシングよりも前に、シリコンウェハ上で最も効果的に実施される。しかしながら、ウェハがより大きくなり且つダイがより薄くなると、ウェハ全体の構造的完全性は低減される。その結果、大きくて薄いウェハは、従来の装置及び材料を用いて加工される場合に破壊される可能性がある。
この問題に対して提案された一つの解決方法は、ウェハを補強基板(他のウェハ又はウェハキャリア等)に接着接合して機械的強度を増加し、例えば薄化等所望の加工を実施し、ダイシングの前にウェハを取り外すことである。この加工において接着剤及び基板は機械的な支持体として働き、加工の間構造的な安定性を提供する。
半導体業界には、ウェハの加工を可能にする特性を有する接着剤を用いた一時的なウェハ結合加工に対する必要性が存在する。接着剤は工業的な条件を満たす方法(スプレーコーティング、印刷、ディッピング、又はスピンコーティング)によって塗布されうるべきであり、200℃を超える温度において数時間加工されることに耐えうるべきであり、通常使用される様々な電子的化学薬品に対して強いものであるべきであり、命令によりウェハからきれいに除去されるべきである。
米国特許第2,676,182号明細書 米国特許第4,584,355号明細書 米国特許第4,591,622号明細書 米国特許第4,585,836号明細書 米国特許第3,159,601号明細書 米国特許第3,220,972号明細書 米国特許第3,296,291号明細書 米国特許第3,419,593号明細書 米国特許第3,516,946号明細書 米国特許第3,814,730号明細書 米国特許第3,989,668号明細書 米国特許第4,784,879号明細書 米国特許第5,036,117号明細書 米国特許第5,175,325号明細書 欧州特許第0347895 B号明細書 米国特許第4,766,176号明細書 米国特許第5,017,654号明細書 米国特許第6,169,142号明細書 欧州特許第1101167 A2号明細書 米国特許第4,087,585号明細書 米国特許第5,194,649号明細書 米国特許第5,248,715号明細書 米国特許第5,744,507号明細書 米国特許第5,248,715号明細書 欧州特許第0493791 A1号明細書 欧州特許第0497349 B1号明細書
本発明はウェハ加工方法に関する。前記方法は、
(1)第1基板に付加反応硬化型接着性組成物を塗布することによってフィルムを形成する段階と、
任意に、(2)段階(1)の生成物を加熱する段階と、
(3)第2基板を前記フィルムに付着させるが、前記第1基板及び第2基板のうち少なくとも一つが半導体ウェハである段階と、
(4)前記フィルムを硬化して、硬化フィルムを形成する段階と、
(5)前記半導体ウェハを加工する段階と、
(6)エッチング液で前記硬化フィルムを除去する段階と、を含む。
全ての量、比率、及びパーセンテージは、他に特に示さない限り、重量によるものである。
接着性組成物
本発明の方法において使用される接着性組成物は、その硬化反応で実質的な副生成物を生成しない、どのような接着剤であってもよい。接着性組成物は、付加反応硬化型接着性組成物であってよい。付加反応硬化型接着性組成物は、アクリレート硬化型、エポキシ硬化型、ヒドロシリル化硬化型、及びメタクリレート硬化型のものを含むが、これらに制限されるわけではない。本発明の方法において用いられるヒドロシリル化硬化型接着性組成物は、
(A)1分子あたり平均して少なくとも二つのケイ素結合不飽和有機基を含むポリオルガノシロキサンと、
(B)組成物を硬化するのに十分な量の、1分子あたり平均して少なくとも二つのケイ素結合水素原子を含むオルガノシリコン化合物と、
(C)触媒量のヒドロシリル化触媒と、を含む。
成分(A) ポリオルガノシロキサン
成分(A)は1分子あたり平均して少なくとも二つのケイ素結合不飽和有機基を含むポリオルガノシロキサンを少なくとも一つ含む。これらの不飽和有機基はヒドロシリル化反応を行なうことが可能であり、アルケニル基によって例示される。ポリオルガノシロキサンは直鎖、分岐、又は樹脂状構造であってよい。ポリオルガノシロキサンはホモポリマー又はコポリマーであってよい。不飽和有機基は2〜10個の炭素原子を有してよく、例えばビニル、アリル、ブテニル及びヘキセニル等のアルケニル基で例示されるが、これらに制限されるわけではない。ポリオルガノシロキサン中の不飽和有機基は末端に、ペンダント位置に、又は末端及びペンダント位置の両方に位置してよい。
ポリオルガノシロキサン中の他のケイ素結合有機基は、脂肪族不飽和構造を持たない有機基である。これらの有機基は、脂肪族不飽和構造を持たない、一価の炭化水素基及び一価のハロゲン化炭化水素基から独立に選択されてよい。これらの一価基は、1〜20個の炭素原子、又は1〜10個の炭素原子を有してよく、例えばメチル、エチル、プロピル、ペンチル、オクチル、ウンデシル、及びオクタデシル等のアルキル;例えばシクロヘキシル等のシクロアルキル;例えばフェニル、トリル、キシリル、ベンジル、及び2−フェニルエチル等のアリール;及び例えば3,3,3−トリフルオロプロピル、3−クロロプロピル及びジクロロフェニル等のハロゲン化炭化水素基によって例示されるが、これらに制限されるわけではない。ポリオルガノシロキサン中で脂肪族不飽和構造を持たない有機基の、少なくとも50%、又は少なくとも80%がメチルであってよい。
25℃におけるポリオルガノシロキサンの粘度は分子量及び構造で変化するが、0.001〜100,000パスカル・秒(Pa・s)、又は0.01〜10,000Pa・s、又は0.01〜1,000Pa・sであってよい。
接着性組成物において有効なポリオルガノシロキサンの例としては、以下の化学式を有するポリオルガノシロキサンが挙げられるが、これらに制限されるわけではない。
Figure 2008532313
上記式で、Me、Vi及びPhはメチル、ビニル及びフェニルを各々示し、下付文字aはポリオルガノシロキサンの粘度が0.001〜100,000Pa・sであるような値を有する。
接着性組成物における使用に適したポリオルガノシロキサンを調製する方法、例えば対応するオルガノハロシランの加水分解及び縮合反応又は環状ポリオルガノシロキサンの平衡重合等が従来技術で知られている。
ポリオルガノシロキサン樹脂の例としては、基本的にR SiO1/2単位及びSiO4/2単位からなるMQ樹脂、基本的にRSiO3/2単位及びR SiO2/2単位からなるTD樹脂、基本的にR SiO1/2単位及びRSiO3/2単位からなるMT樹脂、基本的にR SiO1/2単位、RSiO3/2単位及びR SiO2/2単位から成るMTD樹脂、が挙げられ、各Rは一価の炭化水素基及び一価のハロゲン化炭化水素基から独立に選択される。Rで表される前記一価基は1〜20個、又は1〜10個の炭素原子を有するものであってよい。
で表される一価基の例としては、メチル、エチル、プロピル、ペンチル、オクチル、ウンデシル、及びオクタデシル等のアルキル;シクロヘキシル等のシクロアルキル;ビニル、アリル、ブテニル、及びヘキセニル等のアルケニル;フェニル、トリル、キシリル、ベンジル、及び2−フェニルエチル等のアリール;及び、3,3,3−トリフルオロプロピル、3−クロロプロピル、及びジクロロフェニル等のハロゲン化炭化水素基が挙げられるが、これらに制限されるわけではない。あるいは、前記ポリオルガノシロキサン樹脂中の、少なくとも3分の1、又は実質的に全てのR基がメチルであってよい。例示的なポリオルガノシロキサン樹脂は基本的に(CHSiO1/2シロキサン単位及びSiO4/2から成り、SiO4/2単位に対する(CHSiO1/2単位のモル比は0.6〜1.9である。
前記ポリオルガノポリシロキサン樹脂はヒドロシリル化反応を行なうことが可能な不飽和有機基、例えばアルケニル基等を平均3〜30モルパーセント含んでよい。樹脂中の不飽和有機基のモルパーセントとは、樹脂中のシロキサン単位の全モル数に対する樹脂中の不飽和有機基含有シロキサン単位のモル数の比に100を掛けたものである。
前記ポリオルガノシロキサン樹脂は当技術分野で知られた方法で調製されてよい。例えば、ポリオルガノシロキサン樹脂は少なくともアルケニルを含むエンドブロッキング剤を用いて、Daudtらによるシリカヒドロゾルキャッピングプロセスによって生成されたコポリマー樹脂を処理することによって調製されてよい。Daudtらによる前記手法は、米国特許第2,676,182号明細書に開示されている。
簡単にいえば、Daudtらの方法は、酸性条件下でシリカヒドロゾルを、例えばトリメチルクロロシラン等の加水分解性トリオルガノシラン、例えばヘキサメチルジシロキサン等のシロキサン、又はそれらの混合物と反応させ、M単位及びQ単位を有するコポリマーを回収することを含む。結果として得られるコポリマーは重量にして2から5%のヒドロキシル基を含む可能性がある。
前記ポリオルガノシロキサン樹脂は、2重量パーセント未満のケイ素原子に結合したヒドロキシル基を含んでよく、Daudtらによる前記生成物と、アルケニル含有エンドブロッキング剤とを又はアルケニル含有エンドブロッキング剤と最終生成物中にアルケニル基を3〜30モルパーセント与えるのに十分な量で且つ不飽和脂肪族を含まないエンドブロッキング剤との混合物とを、反応させることにより調製されてよい。エンドブロッキング剤の例としては、シラザン、シロキサン、及びシランが挙げられるが、これらに制限されるわけではない。エンドブロッキング剤として適当なものは当技術分野で知られており、米国特許第4,584,355号明細書;米国特許第4,591,622号明細書;及び米国特許第4,585,836号明細書に例示される。前記ポリオルガノシロキサン樹脂を調製するために、単一のエンドブロッキング剤またはエンドブロッキング剤の混合物が用いられてよい。
成分(A)は単一のポリオルガノシロキサン、又は、構造、粘度、平均分子量、シロキサン単位、及びシーケンスのうち少なくとも一つの性質が異なる二つ以上のポリオルガノシロキサンを含む混合物であってよい。組成物に加えられてよい成分(A)の正確な量は様々な因子に依存し、該因子は成分(A)及び(B)の種類、及び組成物中の成分(B)の量、及び組成物の成分中のヒドロシリル化反応を行なうことが可能な不飽和有機基に対するケイ素結合水素原子の比(SiH:ビニル比)を含む。しかしながら、成分(A)の量は組成物の重量に基づいて20%〜80%であってよい。
成分(B) オルガノシリコン化合物
成分(B)は1分子あたり少なくとも平均二つのケイ素原子結合水素原子を含む、少なくとも一つのオルガノシリコン化合物である。一般的には、成分(A)中の1分子あたりのアルケニル基の平均数と成分(B)中の1分子あたりのケイ素原子結合水素原子の平均数との合計が4以上のときに架橋が起こると理解される。成分(B)中のケイ素原子結合水素原子は末端に、ペンダント位置に、又は末端及びペンダント位置の両方に位置してよい。
前記オルガノシリコン化合物は、オルガノシラン又はオルガノハイドロジェンシロキサンであってよい。前記オルガノシランはモノシラン、ジシラン、トリシラン、又はポリシランであってよい。同様に、前記オルガノハイドロジェンシロキサンはジシロキサン、トリシロキサン、またはポリシロキサンであってよい。前記オルガノシリコン化合物はオルガノハイドロジェンシロキサンであってよく、又は前記オルガノシリコン化合物はオルガノハイドロジェンポリシロキサンであってよい。前記オルガノシリコン化合物の構造は鎖状、分岐状、環状または樹脂状であってよい。前記オルガノシリコン化合物中の有機基の少なくとも50パーセントはメチルであってよい。
オルガノシランの例としては、例えばジフェニルシラン及び2−クロロエチルシラン等のモノシラン;例えば1,4−ビス(ジメチルシリル)ベンゼン、ビス[(p−ジメチルシリル)フェニル]エーテル、及び1,4−ジメチルジシリレザン等のジシラン;例えば1,3,5−トリス(ジメチルシリル)ベンゼン及び1,3,5−トリメチルー1,3,5−トリシラン等のトリシラン;及び例えばポリ(メチルシリレン)フェニレン、及びポリ(メチルシリレン)メチレン等のポリシラン、が挙げられるが、これらに制限されるわけではない。
オルガノハイドロジェンシロキサンの例としては、例えば1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン及び1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサン等のジシロキサン;例えばフェニルトリス(ジメチルシロキシ)シラン及び1,3,5−トリメチルシクロトリシロキサン等のトリシロキサン;及び例えばトリメチルシロキシ末端ポリ(メチルハイドロジェンシロキサン)、トリメチルシロキシ末端ポリ(ジメチルシロキサン/メチルハイドロジェンシロキサン)、ジメチルハイドロジェンシロキシ末端ポリ(メチルハイドロジェンシロキサン)等のポリシロキサン、及び基本的にH(CHSiO1/2単位、(CHSiO1/2単位、及びSiO4/2単位からなる樹脂、が挙げられるが、これらに制限されるわけではない。
成分(B)は単一のオルガノシリコン化合物であってもよいし、または以下の性質、すなわち構造、平均分子量、粘度、シラン単位、シロキサン単位、及びシーケンスの中の少なくとも一つの性質において異なる、二つまたはそれ以上の化合物を含む組み合わせであってよい。
本発明の接着性組成物中の成分(B)の量は、前記組成物を硬化するのに十分なものである。成分(B)の正確な量は所望される硬化の程度に依存し、硬化の程度は一般的にSiH:ビニル比の増加に従って増加する。成分(B)の量は、成分(A)中のアルケニル基一つに対してケイ素結合水素原子0.5〜3個を与えるのに十分な濃度であってよい。あるいは、成分(B)の濃度は成分(A)中のアルケニル基一つに対してケイ素結合水素原子を0.7〜1.2個与えるのに十分な濃度である。しかしながら、成分(B)の量は組成物の重量に基づいて20%〜80%であってよい。
ケイ素結合水素原子を有するオルガノシリコン化合物を調製する方法は当技術分野で知られている。例えば、オルガノポリシランはナトリウムまたはリチウム金属存在下における炭化水素系溶媒中のクロロシランの反応(ウルツ反応)によって調製されてよい。オルガノポリシロキサンはオルガノハロシランの加水分解及び縮合反応によって調製されてよい。
成分(A)と成分(B)の相溶性を改善するために、各成分中の支配的な有機基が同じものであってよい。例えば、この有機基はメチルであってよい。
成分(C) 触媒
適切なヒドロシリル化触媒は従来技術で知られており、商業的に入手可能である。成分(C)は、白金、ロジウム、ルテニウム、パラジウム、オスミウム、及びイリジウム金属から選択される白金族金属、又はそれらの有機金属化合物、又はそれらの組合せを含んでよい。成分(C)は、例えば塩化白金酸、塩化白金酸六水和物、二塩化白金、白金アセチルアセトナート等の化合物、及び前記化合物の低分子量オルガノポリシロキサンとの錯体、又はマトリックス内若しくはコアシェル型構造内にマイクロカプセル化された白金化合物等で例示される。低分子量オルガノポリシロキサンの白金錯体は、1,3−ジエテニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン白金錯体を含む。これらの錯体は樹脂マトリックス中にマイクロカプセル化されてよい。
成分(C)に関して適切なヒドロシリル化触媒は、例えば米国特許第3,159,601号明細書;第3,220,972号明細書;第3,296,291号明細書;第3,419,593号明細書;第3,516,946号明細書;第3,814,730号明細書;第3,989,668号明細書;第4,784,879号明細書;第5,036,117号明細書;及び第5,175,325号明細書及び欧州特許第0347895 B号明細書に開示される。マイクロカプセル化されたヒドロシリル化触媒及びそれらを調製する方法は、米国特許第4,766,176号明細書及びそこで引用されている参考文献;及び米国特許第5,017,654号明細書において例示されるように、従来技術で知られている。
成分(C)の濃度は、ここに記述される方法においては、加熱された際に成分(A)と(B)のヒドロシリル化反応に対して触媒の働きをするのに十分なものである。成分(C)の量は、成分(A)、(B)及び(C)を合わせた重量に対して白金族金属が0.1〜1000ppm、又は白金族金属が0.5〜100ppm、又は白金族金属が1〜25ppmであってよい。白金族金属が1ppm以下では硬化速度が遅い可能性がある。白金族金属を100ppmを超えて使用してもコスト的に不利であるか、又は接着性組成物の安定性を低減する可能性がある。
任意の成分
接着性組成物は、本発明の方法における接着性組成物の硬化に悪影響を及ぼさないならば、一つ以上の任意の成分をさらに含んでよい。任意の成分の例としては、(D)溶媒、(E)抑制剤、(F)フィラー、(G)処理剤、(H)スペーサ、(I)接着促進剤、(J)界面活性剤、(K)顔料又は染料等の着色剤、及びそれらの組合せが挙げられるが、これらに制限されるわけではない。
成分(D) 溶媒
接着性組成物は任意にさらに溶媒を含んでよい。適切な溶媒は従来技術で知られており、商業的に入手可能である。溶媒は3〜20個の炭素原子を有する有機溶媒であってよい。溶媒の例としては、例えばノナン、デカリン及びドデカン等の脂肪族炭化水素、例えばメシチレン、キシレン及びトルエン等の芳香族炭化水素;例えば酢酸エチル及びγ−ブチロラクトン等のエステル;例えばn−ブチルエーテル及びポリエチレングリコールモノメチルエーテル等のエーテル;例えばメチルイソブチルケトン及びメチルペンチルケトン等のケトン;例えば鎖状、分岐状、及び環状のポリジメチルシロキサン等のシリコーン流体、及びそのような溶媒の混合物が挙げられる。接着性組成物中の特定の溶媒の最適な濃度は、通常の実験によって容易に決定することができる。しかしながら、溶媒の量は組成物の重量に対して0〜95%、又は1〜95%であってよい。
成分(E) 抑制剤
前記成分(A)、(B)及び(C)を混合することによって、室温で硬化が開始してよい。作用時間または「ポットライフ」をより長くするため、接着性組成物に任意の成分(E)、抑制剤、を加えることによって室温条件下での触媒活性を遅延又は抑制してもよい。抑制剤は室温において本発明の接着性組成物の硬化を遅らせるが、高温における組成物の硬化は妨害しない。適切な抑制剤としては、例えば3−メチル−3−ペンテン−1−イン及び3,5−ジメチル−3−ヘキセン−1−イン等の様々な「エン−イン」系;例えば、3,5−ジメチル−1−ヘキシン−3−オール、1−エチニル−1−シクロヘキサノール、2−フェニル−3−ブチン−2−オール等のアセチレンアルコール;例えば周知のフマル酸及びマレイン酸ジアルキル、ジアルケニル及びジアルコキシアルキル等の、マレイン酸塩及びフマル酸塩;およびシクロビニルシロキサンが挙げられる。
接着性組成物中の抑制剤の量は、高温における硬化を妨害することなく又は過大に長引かせることなく室温での組成物の硬化を遅延させるのに十分な量である。この量は、使用される特定の抑制剤、成分(C)の性質及び量、及び成分(B)の性質に依存して変わるだろう。しかしながら、抑制剤濃度が白金族金属1モルあたり抑制剤1モル程度まで低くても、十分な保存安定性及び硬化速度をもたらす可能性がある。抑制剤濃度が白金族金属1モルあたり抑制剤500モルまで、またはそれ以上使用される可能性がある。特定の接着性組成物における特定の抑制剤の最適な濃度は、当業者が通常の実験によって決定できるだろう。
成分(F)
任意の成分(F)はフィラーである。成分(F)は熱伝導性フィラー、補強フィラー、又はそれらの組合せを含んでよい。成分(F)に関して適切な熱伝導性フィラーとして、金属粒子、金属酸化物粒子、及びそれらの組合せが挙げられる。成分(F)に関して適切な熱伝導性フィラーとして、窒化アルミニウム;酸化アルミニウム;チタン酸バリウム;酸化ベリリウム;窒化ホウ素;ダイヤモンド;グラファイト;酸化マグネシウム;銅、金、ニッケル又は銀等の金属粒子;シリコンカーバイド;タングステンカーバイド;酸化亜鉛、及びそれらの組合せが挙げられる。
熱伝導性フィラーは従来技術で知られており、商業的に入手可能である。例えば米国特許第6,169,142号明細書(第4カラム、第7−33行目)を参照されたい。例えば、CB−A20S及びAl−43−Meは粒子サイズが異なる酸化アルミニウムフィラーであり昭和電工株式会社から商業的に入手可能である。また、AA−04、AA−2及びAA18は酸化アルミニウムフィラーであり住友化学株式会社から商業的に入手可能である。銀フィラーは、米国マサチューセッツ州アトルバラのMetalor Technologies U.S.A. Corp.から商業的に入手可能である。窒化ホウ素フィラーは米国オハイオ州クリーブランドのAdvanced Ceramics Corporationから商業的に入手可能である。
補強フィラーとしては、シリカ、及び、例えば細断されたケブラー(登録商標)等の細断された繊維が挙げられる。
粒子サイズ及び粒子サイズ分布が異なるフィラーを組み合わせたものが、成分(F)として使用されてよい。
成分G 処理剤
フィラーは任意に成分(G)、処理剤、で表面処理されてよい。処理剤及び処理方法は従来技術で知られている。例えば米国特許第6,169,142号明細書(第4カラム、第42行目から第5カラム第2行目)を参照されたい。
処理剤は化学式R Si(OR(4−c)を有するアルコキシシランであってよい。ここで、cは1、2又は3;又はcは3である。Rは1〜50個の炭素原子、又は8〜30個の炭素原子、又は1〜18個の炭素原子を有する置換又は無置換の一価の炭化水素基である。Rは、例えばヘキシル、オクチル、ドデシル、テトラデシル、ヘキサデシル及びオクタデシル等のアルキル基;及び、例えばベンジル、フェニル及びフェニルエチル等の芳香族基によって例示される。Rは、飽和又は不飽和であってよく、分岐状又は非分岐状であってよく、及び無置換であってよい。Rは、飽和されていてよく、非分岐状であってよく、及び無置換であってよい。
は少なくとも一つの炭素原子を有する無置換の飽和炭化水素基である。Rは1〜4個の炭素原子、又は1〜2個の炭素原子を有してよい。成分(G)は、ヘキシルトリメトキシシラン、オクチルトリエトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、ドデシルトリメトキシシラン、テトラデシルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、オクタデシルトリメトキシシラン、オクタデシルトリエトキシシラン及びそれらの組合せによって例示される。
アルコキシ−官能化オリゴシロキサンが成分(G)として使用されてもよい。アルコキシ−官能化オリゴシロキサン及びそれらを調製する方法は従来技術で知られている。例えば、欧州特許第1101167 A2号明細書を参照されたい。例えば、適切なアルコキシ−官能化オリゴシロキサンは化学式(RO)Si(OSiR 4−dであるものを含む。この化学式において、dは1、2若しくは3であり、又はdは3である。Rは炭素原子数1〜10の飽和及び不飽和一価炭化水素基から各々独立に選択されてよい。Rは少なくとも11個の炭素原子を有する飽和又は不飽和一価炭化水素基であってよい。Rは各々アルキル基であってよい。
金属フィラーは、例えばオクタデシルメルカプタン等のアルキルチオール、及び例えばオレイン酸等の脂肪酸、ステアリン酸、チタン酸塩、チタネートカップリング剤、ジルコネートカップリング剤、及びそれらの組合せで処理されてよい。
アルミナ又は不活性化窒化アルミニウムに関する処理剤は、アルコキシシリル官能化アルキルメチルポリシロキサン(例えば、R Si(OR10(4−e−f)の部分的な加水分解縮合物又は共加水分解縮合物又は混合物)、加水分解性基がシラザン、アシルオキシ又はオキシムである同様の材料を含み得る。これら全てにおいて、例えば上記化学式におけるR等、Siに結合された基は不飽和一価炭化水素又は一価芳香族官能化炭化水素である。Rは一価の炭化水素基であり、R10は炭素原子数1から4の一価の炭化水素基である。上記化学式において、eは1、2又は3であり、fは0、1又は2であるが、ただしe+fは1、2又は3である。当業者であれば、フィラーの分散性を向上するために通常の実験によって特定の処理剤を最適化することが可能であろう。
成分(H)
任意の成分(H)はスペーサである。スペーサは有機粒子、無機粒子又はそれらの組合せを含んでよい。スペーサは熱伝導性、電気伝導性又はそれら両方を有してよい。スペーサは少なくとも25マイクロメータから250マイクロメータまでの粒子サイズを有してよい。スペーサは単分散ビーズを含んでよい。スペーサは、ポリスチレン、ガラス、過フッ化炭化水素ポリマー、及びそれらの組合せによって例示されるが、これらに制限されるわけではない。スペーサは、フィラーに加えて、又はフィラーのかわりに、フィラーの全て又は一部として添加されてよい。スペーサは成分(G)で処理されてよい。
成分(I)
成分(I)は接着促進剤である。成分(I)は遷移金属キレート、アルコキシシラン、アルコキシシランとヒドロキシ官能化ポリオルガノシロキサンとの組み合わせ、又はそれらの組み合わせを含んでよい。
成分(I)は不飽和又はエポキシ官能化化合物であってよい。適切なエポキシ官能化化合物は従来技術で知られており、商業的に入手可能である。例えば、米国特許第4,087,585号明細書;第5,194,649号明細書;第5,248,715号明細書;及び第5,744,507号明細書カラム4−5を参照されたい。成分(I)は不飽和又はエポキシ官能化アルコキシシランを含んでよい。例えば、官能化アルコキシシランは化学式R11 Si(OR12(4−g)の化合物であってよく、gは1、2又は3、又はgは1である。
各R11は、少なくとも一つのR11が不飽和有機基又はエポキシ官能化有機基であるという条件下で、独立に一価の有機基である。R11のためのエポキシ官能化有機基は、3−グリシドキシプロピル及び(エポキシシクロヘキシル)エチルによって例示される。R11のための不飽和有機基は、3−メタクリロイルオキシプロピル、3−アクリロイルオキシプロピル、及び例えばビニル、アリル、ヘキセニル、ウンデシレニル等の不飽和一価炭化水素基によって例示される。
各R12は独立に炭素原子数1から4個、又は1から2個の無置換、飽和炭化水素基である。R12は、メチル、エチル、プロピル、及びブチルによって例示される。
適切なエポキシ官能化アルコキシシランの例としては、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、(エポキシシクロヘキシル)エチルジメトキシシラン、(エポキシシクロヘキシル)エチルジエトキシシラン、及びそれらの組み合わせが挙げられる。適切な不飽和アルコキシシランの例としては、ビニルトリメトキシシラン、アリルトリメトキシシラン、アリルトリエトキシシラン、ヘキセニルトリメトキシシラン、ウンデシレニルトリメトキシシラン、3−メタクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロイルオキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−アクリロイルオキシプロピルトリエトキシシラン、及びそれらの組み合わせが挙げられる。
成分(I)は、例えば、上述したような、例えばヒドロキシ末端ポリオルガノシロキサンとエポキシ官能化アルコキシシランとの反応生成物等のエポキシ官能化シロキサン、又はヒドロキシ末端ポリオルガノシロキサンとエポキシ官能化アルコキシシランとの物理的なブレンドを含んでよい。成分(I)はエポキシ官能化アルコキシシランとエポキシ官能化シロキサンとの混合物を含んでよい。例えば、成分(I)は、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランと、ヒドロキシ末端メチルビニルシロキサンと3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランとの反応生成物との混合物によって、又は3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランとヒドロキシ末端メチルビニルシロキサンとの混合物によって、又は3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランとヒドロキシ末端メチルビニル/ジメチルシロキサンコポリマーとの混合物によって例示される。反応生成物としてよりもむしろ物理的ブレンドとして使用されるとき、これらの成分はマルチ−パートキット内で分離して保存されてよい。
適切な遷移金属キレートは、チタネート、例えばジルコニウムアセチルアセトナート等のジルコネート、例えばアルミニウムアセチルアセトナート等のアルミニウムキレート、及びそれらの組み合わせを含む。遷移金属キレート及びそれらの調製方法は従来技術で知られている。例えば米国特許第5,248,715号明細書、欧州特許第0493791 A1号明細書、及び欧州特許第0497349 B1号明細書を参照されたい。
本発明の接着性組成物は、単一の部分に成分(A)から(C)を含むワンパート(one−part)組成物であってもよいし、又は二つ以上の部分に成分(A)から(C)を含むマルチパート(multi−part)組成物であってもよい。マルチパート組成物では、抑制剤が共存しない場合には、典型的には成分(A)、(B)及び(C)は同一の部分内には存在しない。マルチパート接着性組成物は、成分(A)の一部及び成分(B)の一部を含む第1部分と、成分(A)の残りの部分と成分(C)の全てを含む第2部分とを含んでもよい。
本発明のワンパートシリコーン組成物は成分(A)から(C)と任意の成分とを、上述のように、所定の量で溶媒を用いて室温で混合、または用いずに室温で混合することによって調製されてよい。前記シリコーン組成物がすぐに使用されるのであれば、各成分を加える順番は重要なことではないが、前記ヒドロシリル化触媒は、前記組成物が早い段階で硬化するのを防止するため温度が約30℃以下の状態で最後に加えられてよい。または、本発明の前記マルチパートシリコーン組成物は各部分に対して設計された特定の成分を組み合わせて調製されてよい。
方法
本発明はウェハ結合方法に関する。前記方法は、
(1)第1基板に付加反応硬化型接着性組成物を塗布する段階と、
任意に、(2)段階(1)の製造物を加熱;それによってフィルムを形成する段階と、
(3)第2基板を前記フィルムに付着させるが、前記第1基板及び第2基板のうち少なくとも一つが半導体ウェハである段階と、
(4)前記フィルムを硬化して、硬化フィルムを形成する段階と、
(5)前記半導体ウェハを加工する段階と、
(6)エッチング液で前記硬化フィルムを除去する段階と、を含む。
段階(1)は、例えばスピンコーティング、ディッピング、噴霧、又は印刷等どのような従来方法を用いて実施されてもよい。又は、接着性組成物は速度500から6,000rpmで5から60秒間スピンコーティングすることによって塗布されてよい。スピンコーティング法で塗布される接着性組成物の体積は0.1から5ミリリットル(mL)であってよい。スピン速度、スピン時間、及び接着性組成物の体積は、0.1から200マイクロメータ(μm)の厚みを有するフィルムを形成するために調節されてよい。第1基板は半導体ウェハ又はウェハキャリアであってよい。接着性組成物は、パターニングされたフィーチャ又は上部に堆積されたデバイス、例えば、集積回路又は微小電気機械システム(MEMS)デバイスを有する半導体ウェハの表面に塗布されてよい。
段階(2)は接着性組成物を従来の方法で加熱することによって実施されてよい。加熱時間及び温度は、選択された特定の接着性組成物及び段階(2)の目的に依存する。段階(2)は、接着性組成物中に溶媒が存在するとき溶媒の少なくとも一部を除去する目的で;又は接着性組成物を部分的に固化する目的で;又はその両方の目的で実施されてよい。上述のヒドロシリル化硬化型接着性組成物の溶媒除去に関して、段階(2)は溶媒を除去するのに十分な温度及び時間で実施されてよいが、温度はヒドロシリル化硬化型接着性組成物が硬化する温度と比較して低く、例えば50℃から120℃で最大5分間加熱することによって実施されてよい。上述のヒドロシリル化硬化型接着性組成物の部分的固化に関して、段階(2)はヒドロシリル化硬化型接着性組成物を最大200℃で1から30分間加熱することによって、又はヒドロシリル化硬化型接着性組成物を80から200℃の温度で2から4分間加熱することによって実施されてよい。
段階(3)は、どのような従来方法によって実施されてもよい。例えば、第2基板をフィルムと接触させて共に圧縮してよい。
段階(4)は、フィルムが硬化するのに十分な温度及び時間フィルムを加熱することによって実施されてよく、例えば上述のヒドロシリル化硬化型接着性組成物に関して、段階(4)は温度150℃から250℃で30から120分間加熱することによって実施されてよい。
段階(5)は、例えば薄化、電気めっき、メタライゼーション、プラズマ処理、フォトレジスト工程、誘電体コーティング、及びそれらの組合せ等、どのような従来方法で実施されてもよい。エッチング液は(i)有機溶媒及び(ii)塩基又は酸を含んでよい。有機溶媒は、例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、イソプロパノール、n−ブタノール、イソブタノール、tert−ブタノール及びそれらの組合せ等の一価アルコール;エチレングリコール及びプロピレングリコール等の二価アルコール及びそれらの組合せ;エチレングリコールエーテル及びプロピレングリコールエーテル等のモノエーテル及びそれらの組合せ;エチレンジグリコールエーテル、プロピレンジグリコールエーテル、1−メトキシ−2−プロパノール等のジエーテル及びそれらの組合せ;N−メチルピロリドン、テトラヒドロフラン、ジメチルスルホキシド、ガンマ−ブチロラクトン、及びジメチルアセトアミド等の非プロトン性極性溶媒、及びそれらの組合せであってよい。
エッチング液は水を含んでよいが、水の量はエッチング液重量の25%以下、又はエッチング液重量の6%以下、又はエッチング液重量の3%以下であり、又はエッチング液は無水物である。理論にとらわれることを望まないが、水はフィルムの除去時間を延ばす可能性があると考えられる。
塩基は、例えば水酸化アンモニウム、水酸化セシウム、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、及びそれらの組合せ等の無機塩基を含んでよい。あるいは、塩基はホスファゼン;水酸化テトラメチルアンモニウム、水酸化テトラエチルアンモニウム、水酸化テトラブチルアンモニウム及び水酸化テトラプロピルアンモニウムを含む水酸化テトラアルキルアンモニウム;及びそれらの組合せ等の有機塩基を含んでよい。エッチング液中の塩基の量は、少なくとも0.01%、最大で溶媒中における塩基の溶解度の限界と同等の量まで、又は最大10%であってよい。
酸は、塩酸、フッ化水素酸、硝酸、硫酸又はそれらの組合せ等の無機酸を含んでよい。あるいは、酸は有機スルホン酸等の有機酸を含んでよい。有機スルホン酸の例としては、ドデシルベンゼンスルホン酸、メチルスルホン酸、トルエンスルホン酸、及びそれらの組合せが挙げられる。エッチング液中の酸の量は、少なくとも0.01%、最大で溶媒中における酸の溶解度の限界と同等の量まで、又は最大10%であってよい。
エッチング液は、噴霧又は浸漬を含むどのような従来方法によって塗布されてもよい。エッチング液への露出は、例えば浸漬によるものであってよい。浸漬の正確な時間及び温度は、段階(6)の間加熱が実施されるかどうか、及び接着性組成物の正確な成分等の様々な因子に依存する。しかしながら、浸漬は室温で1分から72時間、又は24時間から72時間実施されてよい。浸漬時間は温度が高いと短くなる可能性がある。あるいは、エッチング液への露出は、フィルムを除去するのに十分な時間フィルムがエッチング液に露出されるような連続的噴霧によるものであってよい。エッチング液への露出は室温又は高温において実施されてよい。露出の間、温度は15℃から150℃であってよい。温度が高いほどエッチング速度が大きくなることが予想される。

これらの例は本発明を当業者に説明することを意図しており、クレームで説明される本発明の範囲を制限するものとして解釈されるべきではない。
例1
組成物は、(A1)ビニル官能化シリコーン樹脂71%及び(B1)Si−H官能化ポリジメチルシロキサン29%を(D1)メシチレンに溶解することによって調製される。これに(C1)白金アセチルアセトナート20ppmを加え、結果として得られる接着性組成物はウェハ上にスピンコートされる。ウェハは、その後穏やかな条件で焼成され残ったメシチレン溶媒が除去される。その後第2のウェハが結果として得られたフィルム上に配置され、250℃で2分間硬化される。ウェハは互いに接着する。
例2
ヒドロシリル化硬化型接着性組成物は半導体ウェハの表面に塗布される。この例において、一つのヒドロシリル化硬化型接着性組成物はダウコーニング(登録商標)WL−5150であり、米国ミシガン州ミッドランドのダウコーニング社から商業的に入手可能である。この例における第2のヒドロシリル化硬化型接着性組成物は、MeSiO1/2及びMeViSiO1/2単位を含むMQ樹脂58部、トリメチルシロキシ末端ジメチル、メチルハイドロジェンシロキサン21部、1,3,5−トリメチルベンゼン16部、及び白金アセチルアセトナート0.1%未満を含む。各ウェハは溶媒を除去してフィルムを形成する温度で加熱される。温度及び接着性組成物は表1に示される。
エッチング液に透過性を持つウェハキャリアは、1平方インチ(2.54平方センチメータ)の試験片に分割される。ウェハあたり三つの試験片がウェハ上のフィルムに指で2秒間押し付けることによって貼られる。フィルムは250℃で30分間加熱することによって硬化される。
各ウェハはペトリ皿に配置され、水酸化テトラメチルアンモニウム5水和物6%及びイソプロパノール94%を含むエッチング液40mLで覆われる。30分後、追加のエッチング液50mLが各ペトリ皿に加えられる。その後皿は表1に示された時間可動盤の上で穏やかに攪拌される。
各時間間隔において、試験片は、スパチュラを用いて手でウェハに軽度から中程度の大きさのせん断圧力を与えることによって、剥離に関して試験される。剥離した試験片の数及び与えられた相対力は表1に示される。
Figure 2008532313
(Mod)は試験片を剥離するために中程度の力を要したことを意味する。
(Lite)は試験片を剥離するために軽度の力を要したことを意味する。
付加反応硬化型接着性組成物は一時的なウェハ結合に関する方法において有効である。付加反応硬化型接着性組成物は硬化されてフィルムを形成してよく、前記フィルムは熱に対して安定で、化学的に不活性であってよく、商業的に入手可能なエッチング液によって除去されてよい。

Claims (12)

  1. (1)第1基板に付加反応硬化型接着性組成物を塗布することによってフィルムを形成する段階と、
    任意に、(2)段階(1)の生成物を加熱する段階と、
    (3)第2基板を前記フィルムに付着させるが、前記第1基板及び第2基板のうち少なくとも一つが半導体ウェハである段階と、
    (4)前記フィルムを硬化して、硬化フィルムを形成する段階と、
    (5)前記半導体ウェハを加工する段階と、
    (6)エッチング液で前記硬化フィルムを除去する段階と、を含む方法。
  2. 前記付加反応硬化型組成物がヒドロシリル化反応硬化型組成物であって、
    (A)1分子あたり平均して少なくとも二つのケイ素結合不飽和有機基を含むポリオルガノシロキサンと、
    (B)組成物を硬化するのに十分な量の、1分子あたり平均して少なくとも二つのケイ素結合水素原子を含むオルガノシリコン化合物と、
    (C)触媒量のヒドロシリル化触媒と、
    任意に、(D)溶媒と、
    任意に、(E)抑制剤と、
    任意に、(F)フィラーと、
    任意に、(G)処理剤と、
    任意に、(H)スペーサと、
    任意に、(I)接着促進剤と、
    任意に、(J)界面活性剤と、
    任意に、(K)着色剤と、を含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記段階(1)が、スピンコーティング、噴霧コーティング、ディッピング、又は印刷から選択される方法によって実施される、請求項1に記載の方法。
  4. 前記成分(A)がアルケニル官能化ポリオルガノシロキサン樹脂である、請求項1に記載の方法。
  5. 前記成分(B)が1分子あたり平均少なくとも二つのケイ素結合水素原子を含むオルガノハイドロジェンポリシロキサンである、請求項1に記載の方法。
  6. 前記成分(C)が白金アセチルアセトナートである、請求項1に記載の方法。
  7. 前記成分(D)がメシチレンである、請求項1に記載の方法。
  8. 前記第1基板が第1半導体ウェハであり、前記第2基板が第2半導体ウェハである、請求項1に記載の方法。
  9. 前記成分(D)が存在し、前記成分(D)を除去するために、前記段階(2)が温度50〜120℃で最大5分間加熱することによって実施される、請求項2に記載の方法。
  10. 前記段階(2)が最大温度200℃で1〜30分間加熱することにより前記フィルムを部分的に硬化する工程をさらに含む、請求項9に記載の方法。
  11. 前記段階(4)が温度150〜250℃で30〜120分間加熱することによって実施される、請求項1に記載の方法。
  12. 前記エッチング液が前記フィルムを溶解可能な酸又は塩基を含有する有機溶媒を含む、請求項1に記載の方法。
JP2007558025A 2005-03-01 2006-02-07 半導体加工のための一時的なウェハ結合法 Expired - Fee Related JP5068674B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US65763005P 2005-03-01 2005-03-01
US60/657,630 2005-03-01
PCT/US2006/004449 WO2006093639A1 (en) 2005-03-01 2006-02-07 Temporary wafer bonding method for semiconductor processing

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008532313A true JP2008532313A (ja) 2008-08-14
JP5068674B2 JP5068674B2 (ja) 2012-11-07

Family

ID=36570541

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007558025A Expired - Fee Related JP5068674B2 (ja) 2005-03-01 2006-02-07 半導体加工のための一時的なウェハ結合法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7541264B2 (ja)
EP (1) EP1854136A1 (ja)
JP (1) JP5068674B2 (ja)
KR (1) KR101278460B1 (ja)
TW (1) TWI397131B (ja)
WO (1) WO2006093639A1 (ja)

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008030454A (ja) * 2006-07-28 2008-02-14 United Technol Corp <Utc> 複合構造の製造方法および複合構造アセンブリ
JP2010070599A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Dow Corning Toray Co Ltd 液状ダイボンディング剤
WO2010098151A1 (ja) * 2009-02-24 2010-09-02 日本電気株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP2012144616A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Shin-Etsu Chemical Co Ltd 仮接着材組成物、及び薄型ウエハの製造方法
JP2012229333A (ja) * 2011-04-26 2012-11-22 Shin-Etsu Chemical Co Ltd オルガノポリシロキサン、オルガノポリシロキサンを含む仮接着剤組成物、及びそれを用いた薄型ウエハの製造方法
JP2013082801A (ja) * 2011-10-07 2013-05-09 Shin-Etsu Chemical Co Ltd 仮接着剤組成物、及びそれを用いた薄型ウエハの製造方法
JP2013520009A (ja) * 2010-02-12 2013-05-30 ダウ コーニング コーポレーション 半導体加工のための一時的ウェハー接着方法
KR20130098926A (ko) * 2012-02-28 2013-09-05 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 부재, 웨이퍼 가공용 가접착재 및 박형 웨이퍼의 제조 방법
JP2013179135A (ja) * 2012-02-28 2013-09-09 Shin Etsu Chem Co Ltd ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
JP2013235939A (ja) * 2012-05-08 2013-11-21 Shin Etsu Chem Co Ltd ウエハ加工用仮接着材、それを用いたウエハ加工用部材、ウエハ加工体、及び薄型ウエハの作製方法
WO2015141156A1 (ja) * 2014-03-18 2015-09-24 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
KR20170016331A (ko) 2014-06-10 2017-02-13 닛산 가가쿠 고교 가부시키 가이샤 가접착제를 이용한 적층체
WO2018216732A1 (ja) 2017-05-24 2018-11-29 日産化学株式会社 エポキシ変性ポリシロキサンを含有する仮接着剤
WO2019009365A1 (ja) 2017-07-06 2019-01-10 日産化学株式会社 フェニル基含有ポリシロキサンを含有する仮接着剤
KR20190019932A (ko) 2016-06-22 2019-02-27 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 폴리디메틸실록산을 함유하는 접착제
JP2019522686A (ja) * 2016-05-16 2019-08-15 ダウ シリコーンズ コーポレーション 少なくとも1種の非直鎖状オルガノポリシロキサンを含む接着剥離層
JP2019527373A (ja) * 2016-05-16 2019-09-26 ダウ シリコーンズ コーポレーション 少なくとも1種のフルオロシリコン化合物を含む剥離層
KR20190120234A (ko) 2017-03-03 2019-10-23 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 이물제거용 코팅막 형성 조성물
WO2022114112A1 (ja) 2020-11-30 2022-06-02 日産化学株式会社 積層体、積層体の製造方法、及び半導体基板の製造方法

Families Citing this family (71)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8076216B2 (en) * 2008-11-11 2011-12-13 Advanced Inquiry Systems, Inc. Methods and apparatus for thinning, testing and singulating a semiconductor wafer
US8268449B2 (en) 2006-02-06 2012-09-18 Brewer Science Inc. Thermal- and chemical-resistant acid protection coating material and spin-on thermoplastic adhesive
US20080200011A1 (en) 2006-10-06 2008-08-21 Pillalamarri Sunil K High-temperature, spin-on, bonding compositions for temporary wafer bonding using sliding approach
US7713835B2 (en) 2006-10-06 2010-05-11 Brewer Science Inc. Thermally decomposable spin-on bonding compositions for temporary wafer bonding
JP5061308B2 (ja) * 2007-01-05 2012-10-31 フジコピアン株式会社 密着シート
JP5788173B2 (ja) 2007-06-25 2015-09-30 ブルーワー サイエンス アイ エヌシー. 高温スピンオン仮接合用組成物
JP5124227B2 (ja) * 2007-10-01 2013-01-23 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器
DE112009000140B4 (de) 2008-01-24 2022-06-15 Brewer Science, Inc. Verfahren zum reversiblen Anbringen eines Vorrichtungswafers an einem Trägersubstrat und ein daraus erhaltener Gegenstand
US8092628B2 (en) 2008-10-31 2012-01-10 Brewer Science Inc. Cyclic olefin compositions for temporary wafer bonding
US8771927B2 (en) 2009-04-15 2014-07-08 Brewer Science Inc. Acid-etch resistant, protective coatings
US8366873B2 (en) 2010-04-15 2013-02-05 Suss Microtec Lithography, Gmbh Debonding equipment and methods for debonding temporary bonded wafers
US8950459B2 (en) 2009-04-16 2015-02-10 Suss Microtec Lithography Gmbh Debonding temporarily bonded semiconductor wafers
JP4850931B2 (ja) * 2009-06-18 2012-01-11 信越化学工業株式会社 付加反応硬化型シリコーン粘着剤組成物および粘着テープ
US8742009B2 (en) 2010-06-04 2014-06-03 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Temporary adhesive composition, and method of producing thin wafer
US8852391B2 (en) 2010-06-21 2014-10-07 Brewer Science Inc. Method and apparatus for removing a reversibly mounted device wafer from a carrier substrate
US9263314B2 (en) 2010-08-06 2016-02-16 Brewer Science Inc. Multiple bonding layers for thin-wafer handling
KR101455046B1 (ko) 2010-12-29 2014-10-28 스미토모 베이클라이트 가부시키가이샤 일시적 접착용 폴리머 조성물
CN103403855B (zh) * 2011-02-28 2017-02-22 道康宁公司 晶片结合系统及其结合与剥离的方法
DE102011079687A1 (de) * 2011-07-22 2013-01-24 Wacker Chemie Ag Temporäre Verklebung von chemisch ähnlichen Substraten
JP5846060B2 (ja) 2011-07-27 2016-01-20 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
JP5958262B2 (ja) 2011-10-28 2016-07-27 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
US10543662B2 (en) 2012-02-08 2020-01-28 Corning Incorporated Device modified substrate article and methods for making
TWI534238B (zh) 2012-04-24 2016-05-21 信越化學工業股份有限公司 Wafer processing body, wafer processing member, temporary processing material for wafer processing, and manufacturing method of thin wafer
US9882007B2 (en) * 2012-07-03 2018-01-30 Rfhic Corporation Handle for semiconductor-on-diamond wafers and method of manufacture
JP5975528B2 (ja) 2012-10-11 2016-08-23 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
US9269623B2 (en) 2012-10-25 2016-02-23 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Ephemeral bonding
US9157014B2 (en) 2012-11-29 2015-10-13 Micron Technology, Inc. Adhesives including a filler material and related methods
JP6059631B2 (ja) 2012-11-30 2017-01-11 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
US10014177B2 (en) 2012-12-13 2018-07-03 Corning Incorporated Methods for processing electronic devices
TWI617437B (zh) 2012-12-13 2018-03-11 康寧公司 促進控制薄片與載體間接合之處理
US10086584B2 (en) 2012-12-13 2018-10-02 Corning Incorporated Glass articles and methods for controlled bonding of glass sheets with carriers
US9340443B2 (en) 2012-12-13 2016-05-17 Corning Incorporated Bulk annealing of glass sheets
US10000675B2 (en) * 2013-03-03 2018-06-19 John Cleaon Moore Temporary adhesive with tunable adhesion force sufficient for processing thin solid materials
JP5975918B2 (ja) * 2013-03-27 2016-08-23 富士フイルム株式会社 半導体装置製造用仮接合用積層体、および、半導体装置の製造方法
JP6224509B2 (ja) 2013-05-14 2017-11-01 信越化学工業株式会社 ウエハ用仮接着材料、それらを用いた仮接着用フィルム、及びウエハ加工体並びにそれらを使用した薄型ウエハの製造方法
KR20150011072A (ko) 2013-07-22 2015-01-30 삼성전자주식회사 임시 접착제 조성물 및 이를 이용한 반도체 소자의 제조 방법
US10510576B2 (en) 2013-10-14 2019-12-17 Corning Incorporated Carrier-bonding methods and articles for semiconductor and interposer processing
US9315696B2 (en) 2013-10-31 2016-04-19 Dow Global Technologies Llc Ephemeral bonding
JP6770432B2 (ja) 2014-01-27 2020-10-14 コーニング インコーポレイテッド 薄いシートの担体との制御された結合のための物品および方法
WO2015115060A1 (ja) 2014-01-29 2015-08-06 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
JP6411537B2 (ja) * 2014-03-06 2018-10-24 ヘンケル・アクチェンゲゼルシャフト・ウント・コムパニー・コマンディットゲゼルシャフト・アウフ・アクチェンHenkel AG & Co. KGaA 単結晶アルミナ充填ダイアタッチペースト
SG11201608442TA (en) 2014-04-09 2016-11-29 Corning Inc Device modified substrate article and methods for making
JP6193813B2 (ja) 2014-06-10 2017-09-06 信越化学工業株式会社 ウエハ加工用仮接着材料、ウエハ加工体及びこれらを使用する薄型ウエハの製造方法
JP6404787B2 (ja) 2014-09-26 2018-10-17 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
JP6225894B2 (ja) 2014-12-24 2017-11-08 信越化学工業株式会社 ウエハの仮接着方法及び薄型ウエハの製造方法
JP6325432B2 (ja) 2014-12-25 2018-05-16 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
US9644118B2 (en) 2015-03-03 2017-05-09 Dow Global Technologies Llc Method of releasably attaching a semiconductor substrate to a carrier
EP3297824A1 (en) 2015-05-19 2018-03-28 Corning Incorporated Articles and methods for bonding sheets with carriers
JP7106276B2 (ja) 2015-06-26 2022-07-26 コーニング インコーポレイテッド シート及び担体を有する物品及び方法
JP6443241B2 (ja) 2015-06-30 2018-12-26 信越化学工業株式会社 ウエハ加工用仮接着材、ウエハ加工体、及び薄型ウエハの製造方法
JP6589766B2 (ja) 2015-08-18 2019-10-16 信越化学工業株式会社 ウエハ加工用接着材、ウエハ積層体及び薄型ウエハの製造方法
JP6588404B2 (ja) 2015-10-08 2019-10-09 信越化学工業株式会社 仮接着方法及び薄型ウエハの製造方法
JP6502824B2 (ja) 2015-10-19 2019-04-17 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
JP6463664B2 (ja) 2015-11-27 2019-02-06 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体及びウエハ加工方法
TW201825623A (zh) 2016-08-30 2018-07-16 美商康寧公司 用於片材接合的矽氧烷電漿聚合物
TWI810161B (zh) 2016-08-31 2023-08-01 美商康寧公司 具以可控制式黏結的薄片之製品及製作其之方法
US10147631B2 (en) 2016-09-26 2018-12-04 Dow Silicones Corporation Fluoro-silicone compositions as temporary bonding adhesives
US10170301B2 (en) 2017-03-29 2019-01-01 International Business Machines Corporation Adhesion of polymers on silicon substrates
JP6788549B2 (ja) 2017-06-05 2020-11-25 信越化学工業株式会社 基板加工用仮接着フィルムロール、薄型基板の製造方法
JP7260523B2 (ja) 2017-08-18 2023-04-18 コーニング インコーポレイテッド ポリカチオン性高分子を使用した一時的結合
WO2019049588A1 (en) 2017-09-07 2019-03-14 Mapper Lithography Ip B.V. METHODS AND SYSTEMS FOR COATING A SUBSTRATE
US11331692B2 (en) 2017-12-15 2022-05-17 Corning Incorporated Methods for treating a substrate and method for making articles comprising bonded sheets
JP7045765B2 (ja) 2018-04-16 2022-04-01 信越化学工業株式会社 回路付基板加工体及び回路付基板加工方法
EP3790038A4 (en) * 2018-05-01 2022-01-12 Nissan Chemical Corporation TEMPORARY ADHESIVE WITH POLYSILOXANE CONTAINING A HEAT RESISTANT POLYMERIZATION INHIBITOR
JP6998838B2 (ja) 2018-06-04 2022-01-18 信越化学工業株式会社 薄型基板の製造方法
CN114521211A (zh) 2019-09-30 2022-05-20 信越化学工业株式会社 晶圆加工体、晶圆加工用临时粘合材料及薄型晶圆的制造方法
KR102172003B1 (ko) * 2019-11-28 2020-11-02 (주)매그나텍 접착제 대체 기판 제조 방법
WO2021112070A1 (ja) 2019-12-02 2021-06-10 信越化学工業株式会社 ウエハ加工用仮接着剤、ウエハ積層体及び薄型ウエハの製造方法
US11970639B2 (en) 2020-04-30 2024-04-30 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Temporary adhesive for wafer processing, wafer laminate and method for producing thin wafer
US20230178412A1 (en) 2020-06-12 2023-06-08 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Temporary adhesion method, device wafer processing method, laminate for temporary adhesion, and laminate for device wafer processing
TWI818806B (zh) * 2022-11-18 2023-10-11 力晶積成電子製造股份有限公司 晶圓接合方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006054024A2 (fr) * 2004-11-17 2006-05-26 Stmicroelectronics Sa Amincissement d'une plaquette semiconductrice

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2676182A (en) * 1950-09-13 1954-04-20 Dow Corning Copolymeric siloxanes and methods of preparing them
US3220972A (en) * 1962-07-02 1965-11-30 Gen Electric Organosilicon process using a chloroplatinic acid reaction product as the catalyst
US3159601A (en) * 1962-07-02 1964-12-01 Gen Electric Platinum-olefin complex catalyzed addition of hydrogen- and alkenyl-substituted siloxanes
US3296291A (en) * 1962-07-02 1967-01-03 Gen Electric Reaction of silanes with unsaturated olefinic compounds
NL131800C (ja) * 1965-05-17
US3416946A (en) * 1965-12-01 1968-12-17 Schladitz Whiskers Ag Method and apparatus for coating the inner surface of a capillary system
US3516946A (en) 1967-09-29 1970-06-23 Gen Electric Platinum catalyst composition for hydrosilation reactions
US3814730A (en) * 1970-08-06 1974-06-04 Gen Electric Platinum complexes of unsaturated siloxanes and platinum containing organopolysiloxanes
US3989668A (en) * 1975-07-14 1976-11-02 Dow Corning Corporation Method of making a silicone elastomer and the elastomer prepared thereby
US4087585A (en) * 1977-05-23 1978-05-02 Dow Corning Corporation Self-adhering silicone compositions and preparations thereof
US4584355A (en) * 1984-10-29 1986-04-22 Dow Corning Corporation Silicone pressure-sensitive adhesive process and product with improved lap-shear stability-I
US4585836A (en) * 1984-10-29 1986-04-29 Dow Corning Corporation Silicone pressure-sensitive adhesive process and product with improved lap-shear stability-II
US4591622A (en) * 1984-10-29 1986-05-27 Dow Corning Corporation Silicone pressure-sensitive adhesive process and product thereof
US4784879A (en) * 1987-07-20 1988-11-15 Dow Corning Corporation Method for preparing a microencapsulated compound of a platinum group metal
US4766176A (en) * 1987-07-20 1988-08-23 Dow Corning Corporation Storage stable heat curable organosiloxane compositions containing microencapsulated platinum-containing catalysts
JP2630993B2 (ja) 1988-06-23 1997-07-16 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 ヒドロシリル化反応用白金系触媒含有粒状物およびその製造方法
JPH0214244A (ja) * 1988-06-30 1990-01-18 Toray Dow Corning Silicone Co Ltd 加熱硬化性オルガノポリシロキサン組成物
US5036117A (en) * 1989-11-03 1991-07-30 Dow Corning Corporation Heat-curable silicone compositions having improved bath life
JPH04222871A (ja) 1990-12-25 1992-08-12 Toray Dow Corning Silicone Co Ltd 硬化性オルガノポリシロキサン組成物
JP3029680B2 (ja) * 1991-01-29 2000-04-04 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 オルガノペンタシロキサンおよびその製造方法
JP3270489B2 (ja) 1991-01-30 2002-04-02 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 硬化性オルガノポリシロキサン組成物
GB9103191D0 (en) * 1991-02-14 1991-04-03 Dow Corning Platinum complexes and use thereof
US5248715A (en) * 1992-07-30 1993-09-28 Dow Corning Corporation Self-adhering silicone rubber with low compression set
JP3055401B2 (ja) * 1994-08-29 2000-06-26 信越半導体株式会社 ワークの平面研削方法及び装置
JP2832184B2 (ja) * 1996-08-08 1998-12-02 直江津電子工業株式会社 シリコン半導体デスクリート用ウエハの製造方法
US5683527A (en) * 1996-12-30 1997-11-04 Dow Corning Corporation Foamable organosiloxane compositions curable to silicone foams having improved adhesion
JP3444199B2 (ja) * 1998-06-17 2003-09-08 信越化学工業株式会社 熱伝導性シリコーンゴム組成物及びその製造方法
EP1101167B1 (en) 1998-07-24 2006-04-12 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for achieving deterministic memory allocation response in a computer system
US6617674B2 (en) * 2001-02-20 2003-09-09 Dow Corning Corporation Semiconductor package and method of preparing same
US6907176B2 (en) * 2002-06-24 2005-06-14 Dow Corning Corporation Planar optical waveguide assembly and method of preparing same
CN1809790A (zh) 2003-06-23 2006-07-26 陶氏康宁公司 使用灰度级光刻蚀法的粘合方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006054024A2 (fr) * 2004-11-17 2006-05-26 Stmicroelectronics Sa Amincissement d'une plaquette semiconductrice

Cited By (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008030454A (ja) * 2006-07-28 2008-02-14 United Technol Corp <Utc> 複合構造の製造方法および複合構造アセンブリ
JP2010070599A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Dow Corning Toray Co Ltd 液状ダイボンディング剤
JP5617835B2 (ja) * 2009-02-24 2014-11-05 日本電気株式会社 半導体装置およびその製造方法
WO2010098151A1 (ja) * 2009-02-24 2010-09-02 日本電気株式会社 半導体装置およびその製造方法
JPWO2010098151A1 (ja) * 2009-02-24 2012-08-30 日本電気株式会社 半導体装置およびその製造方法
US8536629B2 (en) 2009-02-24 2013-09-17 Nec Corporation Semiconductor device and method for manufacturing the same
JP2013520009A (ja) * 2010-02-12 2013-05-30 ダウ コーニング コーポレーション 半導体加工のための一時的ウェハー接着方法
JP2012144616A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Shin-Etsu Chemical Co Ltd 仮接着材組成物、及び薄型ウエハの製造方法
JP2012229333A (ja) * 2011-04-26 2012-11-22 Shin-Etsu Chemical Co Ltd オルガノポリシロキサン、オルガノポリシロキサンを含む仮接着剤組成物、及びそれを用いた薄型ウエハの製造方法
JP2013082801A (ja) * 2011-10-07 2013-05-09 Shin-Etsu Chemical Co Ltd 仮接着剤組成物、及びそれを用いた薄型ウエハの製造方法
KR101813291B1 (ko) * 2011-10-07 2018-01-30 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 가접착제 조성물 및 이를 이용한 박형 웨이퍼의 제조 방법
KR20130098926A (ko) * 2012-02-28 2013-09-05 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 부재, 웨이퍼 가공용 가접착재 및 박형 웨이퍼의 제조 방법
US8999817B2 (en) 2012-02-28 2015-04-07 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Wafer process body, wafer processing member, wafer processing temporary adhesive material, and method for manufacturing thin wafer
JP2013179135A (ja) * 2012-02-28 2013-09-09 Shin Etsu Chem Co Ltd ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
JP2013235939A (ja) * 2012-05-08 2013-11-21 Shin Etsu Chem Co Ltd ウエハ加工用仮接着材、それを用いたウエハ加工用部材、ウエハ加工体、及び薄型ウエハの作製方法
WO2015141156A1 (ja) * 2014-03-18 2015-09-24 信越化学工業株式会社 ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
US10242902B2 (en) 2014-03-18 2019-03-26 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer
KR20170016331A (ko) 2014-06-10 2017-02-13 닛산 가가쿠 고교 가부시키 가이샤 가접착제를 이용한 적층체
US10903106B2 (en) 2014-06-10 2021-01-26 Nissan Chemical Industries, Ltd. Layered body of temporary adhesive
JP2019522686A (ja) * 2016-05-16 2019-08-15 ダウ シリコーンズ コーポレーション 少なくとも1種の非直鎖状オルガノポリシロキサンを含む接着剥離層
JP2019527373A (ja) * 2016-05-16 2019-09-26 ダウ シリコーンズ コーポレーション 少なくとも1種のフルオロシリコン化合物を含む剥離層
US11183415B2 (en) 2016-06-22 2021-11-23 Nissan Chemical Corporation Adhesive containing polydimethyl siloxane
KR20190019932A (ko) 2016-06-22 2019-02-27 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 폴리디메틸실록산을 함유하는 접착제
KR20190120234A (ko) 2017-03-03 2019-10-23 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 이물제거용 코팅막 형성 조성물
US11319514B2 (en) 2017-03-03 2022-05-03 Nissan Chemical Corporation Composition for forming a coating film for removing foreign matters
KR20200010207A (ko) 2017-05-24 2020-01-30 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 에폭시변성 폴리실록산을 함유하는 가접착제
WO2018216732A1 (ja) 2017-05-24 2018-11-29 日産化学株式会社 エポキシ変性ポリシロキサンを含有する仮接着剤
KR20230074835A (ko) 2017-05-24 2023-05-31 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 에폭시변성 폴리실록산을 함유하는 가접착제
KR20200026895A (ko) 2017-07-06 2020-03-11 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 페닐기함유 폴리실록산을 함유하는 가접착제
WO2019009365A1 (ja) 2017-07-06 2019-01-10 日産化学株式会社 フェニル基含有ポリシロキサンを含有する仮接着剤
US11345837B2 (en) 2017-07-06 2022-05-31 Nissan Chemical Corporation Temporary adhesive containing phenyl group-containing polysiloxane
WO2022114112A1 (ja) 2020-11-30 2022-06-02 日産化学株式会社 積層体、積層体の製造方法、及び半導体基板の製造方法
KR20230112633A (ko) 2020-11-30 2023-07-27 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 적층체, 적층체의 제조 방법, 및 반도체 기판의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006093639A1 (en) 2006-09-08
US7541264B2 (en) 2009-06-02
KR20070110310A (ko) 2007-11-16
TWI397131B (zh) 2013-05-21
TW200636877A (en) 2006-10-16
EP1854136A1 (en) 2007-11-14
US20080090380A1 (en) 2008-04-17
KR101278460B1 (ko) 2013-07-02
JP5068674B2 (ja) 2012-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5068674B2 (ja) 半導体加工のための一時的なウェハ結合法
JP6001568B2 (ja) ウェハ接着システム、及びその接着並びに剥離方法
JP5687230B2 (ja) ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法
US8647964B2 (en) Temporary wafer bonding method for semiconductor processing
KR101633956B1 (ko) 가접착재 조성물 및 박형 웨이퍼의 제조 방법
EP2634794A1 (en) Wafer-adhesive-support composite, wafer support with adhesive layer for processing wafer, adhesive layer for use in temporarily supporting wafer during processing, and method of manufacturing a thin wafer
JP5409695B2 (ja) オルガノポリシロキサン、オルガノポリシロキサンを含む仮接着剤組成物、及びそれを用いた薄型ウエハの製造方法
KR102384435B1 (ko) 금속-폴리오르가노실록산
KR102553390B1 (ko) 압력에 민감한 접착제 조성물 및 그것을 준비하기 위한 제조 방법과 유연한 유기 발광 다이오드 애플리케이션에서의 사용
KR20120028847A (ko) 반도체 소자의 제조 방법
KR20210027360A (ko) 정착 첨가제 및 이의 제조 및 사용 방법
WO2020235605A1 (ja) 洗浄剤組成物、基板の洗浄方法及び支持体又は基板の洗浄方法
EP4071223A1 (en) Wafer processing temporary adhesive, wafer laminate, thin wafer manufacturing method
KR20200097857A (ko) 반도체 웨이퍼 접합 방법
KR20230170009A (ko) 감압성 접착제 조성물, 이의 제조 방법 및 플렉시블 유기 발광 다이오드 응용에서의 이의 용도

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081010

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120327

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120329

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120625

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120717

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120815

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150824

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees