JP2008109094A - 素子搭載用基板および半導体モジュール - Google Patents

素子搭載用基板および半導体モジュール Download PDF

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Shunichi Imaoka
俊一 今岡
Tetsuo Sawai
徹郎 澤井
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Abstract

【課題】差動信号の伝送特性に優れ、且つ、小型化された素子搭載用基板を提供する。
【解決手段】素子搭載用基板は、配線層8と、導電層2と導電層3に設けられ、互いに対向して平行に配置された信号配線2a,3aと、配線層8の上面側に設けられた一対のパッド電極5a,5bと、配線層8の下面側に設けられた一対のパッド電極7a,7bと、各絶縁層を貫通して設けられ、上下の導電層間を電気的に接続する導体部1b,4b,6bと、配線層8の上面側に搭載された回路素子9と、この回路素子9に設けられ、一対のパッド電極5a,5bと導電部材10a,10bを介して接続された一対の信号電極9a,9bと、を備え、パッド電極5aから信号配線2aを介したパッド電極7aまでの線路と、パッド電極5bから信号配線3aを介したパッド電極7bまでの線路とにより等長な一対の差動伝送線路が構成される。
【選択図】図2

Description

本発明は、素子搭載用基板に関し、特に差動伝送線路を有する素子搭載用基板に関する。
電子機器に使用される回路装置の信号処理速度や転送速度などの高速化に伴い、データ転送として、従来のシングルエンド伝送方式から差動伝送方式が採用されるようになっている。差動伝送方式とは、1つの信号から正相信号と逆相信号の2相の信号を発生し、2本の信号線を用いて伝送する方式である。この方式では、正相信号と逆相信号の信号線間が電磁気的に結合するため、2相の信号線が互いに信号電流とリターン電流経路の関係となり、従来のシングルエンド伝送方式と比べて、差動モードの電磁放射ノイズを減らすことができ、且つ、高速に伝送することができる。
近年では、回路装置の小型化・高密度化に伴い、回路装置を構成する配線基板にもその小面積化が求められている。しかしながら、差動伝送方式を採用する場合には、1つの信号に対して2本の信号線を必要とするため、配線基板上に形成される信号関係の配線が2倍になり、従来のシングルエンド伝送方式よりも配線基板上の配線効率が悪くなるという問題がある。このような問題を克服するために、2つの信号線を積層した状態で、信号線を互いに対向させて平行に配置することにより差動伝送する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に開示される配線基板では、2つの信号配線(信号線)が配線基板内部で対向して平行に積層配置されるとともに、それぞれが埋め込みビアを介して配線基板の最上層に形成された接続パッド(電極パッド)と接続されている。さらに、こうした接続パッドを介して2つの集積回路チップ(回路素子)が配線基板の最上層に搭載され、互いに接続されている。
特開2001−210959号公報
ところで、差動信号を伝送する信号線を実際の回路装置(素子搭載用基板)に採用する場合には、差動ペア内の正相信号と逆相信号の電気的等価性の確保のため、信号線を含む2つの伝送経路全体を等長な線路とする必要がある。しかしながら、上記配線基板では、埋め込みビアの線路長(ビア深さ)が2つの信号線で異なるため、信号線を含む全体の等長性が崩れ、これによる差動インピーダンスの不整合が生じる。このため、反射ノイズが発生して配線基板上の回路素子に誤動作を生じさせてしまうという問題点を有している。
本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、差動信号の伝送特性に優れ、且つ、小型化された素子搭載用基板を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明に係る素子搭載用基板は、導電層と絶縁層とが交互に複数積層された配線層と、配線層の一方の主面に設けられた一対の第1の電極と、配線層内の異なる導電層に設けられ、互いに対向して平行に配置された信号配線と、配線層の他方の主面に設けられた一対の第2の電極と、絶縁層を貫通して設けられ、第1の電極と信号配線との間および信号配線と第2の電極との間をそれぞれ電気的に接続する導体部と、を備え、第1の電極の一方から第2の電極の一方までの第1の線路と、第1の電極の他方から第2の電極の他方までの第2の線路とにより、等長な一対の差動伝送線路が構成されていることを特徴とする。
この発明によれば、配線層内において信号配線を互いに対向して平行に積層配置した状態で、素子搭載用基板の第1の電極と第2の電極との間におけるこうした信号配線を介した2つの線路を、一対の等長な差動伝送線路とすることが可能となる。このため、所定の信号を正確に伝送させ、搭載される回路素子を正常に作動させることが可能な素子搭載用基板とすることができる。また、信号配線を同一平面で平行に配置する場合に比べて信号配線の占有面積を削減できるので、こうした信号配線を有する素子搭載用基板の小型化を実現することが可能となる。
上記構成において、素子搭載用基板と、素子搭載用基板の配線層の一方の主面に設けられた回路素子とを備え、一対の第1の電極に回路素子の一対の信号電極がそれぞれ電気的に接続され、一対の第2の電極が外部引出電極として機能することを特徴とする。このようにすることで、素子搭載用基板に搭載された回路素子からの所定の信号を外部に正確に、且つ、高速に伝送させることができる。
本発明によれば、信号の伝送特性に優れ、且つ、小型化された素子搭載用基板が提供される。
以下、本発明を具現化した実施形態について図面に基づいて説明する。なお、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
(第1の実施形態)
図1は本発明の第1の実施形態に係る素子搭載用基板および半導体モジュールの構成を示す平面図である。図2(A)は図1中のX−X線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図であり、図2(B)は図1中のY−Y線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図である。
第1の実施形態の素子搭載用基板100は、導電層2,3,5,7および絶縁層1,4,6が交互に複数積層された配線層8と、導電層2と導電層3に設けられ、互いに対向して平行に配置された信号配線2a,3aと、配線層8の上面側の導電層5に設けられた一対のパッド電極5a,5bと、配線層8の下面側の導電層7に設けられた一対のパッド電極7a,7bと、各絶縁層を貫通して設けられ、上下の導電層間を電気的に接続する導体部1b,4b,6bと、を備える。また、第1の実施形態の半導体モジュール150は、素子搭載用基板100と、素子搭載用基板100の配線層8の一方の主面である上面側に搭載された回路素子9と、この回路素子9に設けられ、一対のパッド電極5a,5bと導電部材10a,10bを介して接続された一対の信号電極9a,9bと、を備える。これにより、素子搭載用基板100およびそれを備えた半導体モジュール150は、パッド電極5aから信号配線2aを介してのパッド電極7aまでの線路と、パッド電極5bから信号配線3aを介してのパッド電極7bまでの線路とにより一対の差動伝送線路が構成されている。
絶縁層1は導電層2と導電層3との間に設けられている。絶縁層1により導電層2と導電層3との間が電気的に絶縁されている。絶縁層1にはエポキシ樹脂を主成分とする膜が採用され、その厚さは、たとえば、約80μmである。ここで、エポキシ樹脂を主成分とする絶縁層1としては、編み込まれたガラス繊維に樹脂を含浸させたタイプの膜であってもよく、あるいは、絶縁層1に約2μm〜10μm程度の直径を有するフィラーが添加された膜であってもよい。このフィラーとしては、アルミナ(Al)、シリカ(SiO)、窒化アルミニウム(AlN)、窒化シリコン(SiN)、及び窒化ホウ素(BN)などがある。こうしたフィラーの重量充填率は約30%〜約80%が好適である。
導電層2および導電層3は絶縁層1の上下面にそれぞれ形成されている。導電層2および導電層3には、たとえば、銅(Cu)やアルミニウム(Al)などの金属が採用され、その厚さは、たとえば、約20μmである。導電層2は信号配線2aおよびビアランド2bなどの所定の配線パターンに加工され、導電層3は信号配線3aおよびビアランド3bなどの所定の配線パターンに加工されている。ここで、信号配線2aと信号配線3aとは、所定の領域Aにおいて互いに対向して平行に配置され、差動信号を伝送する一対の信号配線を構成している。
導電層2と導電層3との間の絶縁層1には、その上面から下面にかけて接続孔1aを有しており、その接続孔1a内には銅などからなる導体部1bが形成されている。この導体部1bは、所定の位置に配置され、絶縁層1の上下面に形成された導電層2と導電層3とを電気的に接続している。
絶縁層4は絶縁層1の上面において導電層2を覆うように形成されている。絶縁層4により導電層2と導電層5との間が電気的に絶縁されている。絶縁層4には、絶縁層1と同じ組成を有する材料が採用され、その膜厚は、たとえば、約60μmである。
導電層5は絶縁層4の上面に形成されている。導電層5には、導電層2,3と同じ金属が採用され、その膜厚は、たとえば、約20μmである。導電層5は一対のパッド電極5a,5bや配線部(図示せず)などの所定の配線パターンに加工されている。この一対のパッド電極5a,5bには回路素子9の一対の信号電極9a,9bが導電部材10a,10bを介して電気的に接続されている。
導電層2と導電層5との間の絶縁層4には、その上面から下面にかけて接続孔4aを有しており、その接続孔4a内には銅などからなる導体部4bが形成されている。この導体部4bは、所定の位置に配置され、絶縁層4の上下面に形成された導電層2と導電層5とを電気的に接続している。
絶縁層6は絶縁層1の下面において導電層3を覆うように形成されている。絶縁層6により導電層3と導電層7との間が電気的に絶縁されている。絶縁層6には、絶縁層1と同じ組成を有する材料が採用され、その膜厚は、たとえば、約60μmである。
導電層7は絶縁層6の下面に形成されている。導電層7には、導電層2,3と同じ金属が採用され、その膜厚は、たとえば、約20μmである。導電層7は一対のパッド電極7a,7bや配線部(図示せず)などの所定の配線パターンに加工されている。ここでは、この一対のパッド電極7a,7bは回路素子9からの信号を外部へ伝送するための外部引出電極として機能する。
導電層3と導電層7との間の絶縁層6には、その下面から上面にかけて接続孔6aを有しており、その接続孔6a内には銅などからなる導体部6bが形成されている。この導体部6bは、所定の位置に配置され、絶縁層6の上下面に形成された導電層3と導電層7とを電気的に接続している。
配線層8は上記した導電層2,3,5,7および絶縁層1,4,6により4層構造の配線層を構成して形成されている。
回路素子9は、たとえば、ICチップやLSIチップなどの半導体素子である。ここでは、その上面に一対の信号電極9a,9bを備えるLSIチップを採用している。回路素子9は所定の領域の絶縁層4の上に接着層(図示せず)を介して装着されている。
導電部材10a,10bは、金線などが採用され、導電層5のパッド電極5a,5bと回路素子9の信号電極9a,9bとをそれぞれ電気的にワイヤボンディング接続している。なお、配線層8(絶縁層4)上に設けられた回路素子9を外界からの影響から保護するために、回路素子9を覆うようにエポキシ樹脂からなる封止樹脂層(図示せず)を形成するなどしてもよい。
本実施形態に係る素子搭載用基板100においては、パッド電極5aと信号配線2aとの間を電気的に接続する導体部4bと、信号配線2aとパッド電極7aとの間を電気的に接続する導体部1b,6bとの長さの和が、パッド電極5bと信号配線3aとの間を電気的に接続する導体部1b,4bと、信号配線3aとパッド電極7bとの間を電気的に接続する導体部6bとの長さの和と等しくなるように構成されている。また、本実施形態に係る素子搭載用基板100においては、信号配線2aが配置された導電層2における信号配線2aを含む配線長と、信号配線3aが配置された導電層3における信号配線3aを含む配線長とが等しく構成されている。
以上説明した本実施形態の素子搭載用基板およびそれを備える半導体モジュールによれば、以下のような効果を得ることができるようになる。
(1)配線層8内において信号配線2a,3aを互いに対向して平行に積層配置した状態で、素子搭載用基板のパッド電極5a,5bとパッド電極7a,7bとの間におけるこうした信号配線2a,3aを介した2つの線路を、一対の等長な差動伝送線路とすることが可能となる。これは、パッド電極5aから信号配線2aに至る線路長とパッド電極5bから信号配線3aに至る線路長との差(導体部1bの深さに相当)が、信号配線2aからパッド電極7aに至る線路と信号配線3aからパッド電極7bに至る線路長との差によって相殺されることによる。このため、差動インピーダンスの不整合を抑制することができるので、所定の信号を正確に伝送させ、搭載される回路素子を正常に作動させることが可能な素子搭載用基板とすることができる。
(2)信号配線2a,3aを互いに対向して平行に積層配置したことで、信号配線を同一平面で平行に配置する場合に比べて信号配線の占有面積を削減できるので、こうした信号配線を有する素子搭載用基板の小型化を実現することが可能となる。
(3)回路素子9の一対の信号電極9a,9bを一対のパッド電極5a,5bにそれぞれ電気的に接続し、一対のパッド電極7a,7bを回路素子9の信号を外部に伝送するための外部引出電極として機能させたことで、素子搭載用基板に搭載された回路素子9からの所定の信号を外部に正確に、且つ、高速に伝送させることができる。
なお、上記実施形態では、4層構造の配線層8における例を示したが、本発明はこれに限らず、たとえば、2層構造あるいは5層構造以上の構造を有する配線層にも適用可能である。この場合、一対の信号配線を配線層内の異なる導電層間で互いに対向して平行に配置して設けるとともに、配線層の一方の主面に設けられた一対のパッド電極と、配線層の他方の主面に設けられた一対のパッド電極とを、各導電層を素子搭載用基板の鉛直方向に貫通して設けられた導体部を介して接続することで、同様の効果を享受することができる。
上記実施形態では、回路素子9を搭載した素子搭載用基板および半導体モジュールの例を示したが、本発明はこれに限らず、たとえば、回路素子9を搭載していない状態の素子搭載用基板であってもよい。
上記実施形態では、素子搭載用基板の一対のパッド電極7a,7bを外部引出電極として機能させた例を示したが、本発明はこれに限らず、たとえば、素子搭載用基板の下面に別の回路素子を搭載し、素子搭載用基板の一対のパッド電極7a,7bにこの回路素子の一対の信号電極をそれぞれ接続するようにしてもよい。このようにすることで、素子搭載用基板の上面の回路素子9と下面の回路素子との間で、所定の信号を正確に、且つ、高速に伝送させることができる。さらに、素子搭載用基板の上面側の回路素子9と下面側の回路素子とを重畳して配置した場合には、素子搭載用基板をさらに小型化することが可能となる。以下このような実施形態について詳述する。
(第2の実施形態)
図3は本発明の第2の実施形態に係る素子搭載用基板および半導体モジュールの構成を示す平面図である。図4(A)は図3中のX−X線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図であり、図4(B)は図3中のY−Y線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図である。
半導体モジュール250は、素子搭載用基板200の配線層8の下面側の導電層7に複数のパッド電極7cが設けられている。本実施形態に係る回路素子11は、BGAタイプのICチップであり、平たいパッケージの下面に外部入出力用のパッド(不図示)が格子状に並んでおり、このパッドとパッド電極7cとが半田ボール12を介して接続されている。図3、図4に示す半導体モジュール250では、パッド電極5aから信号配線2aを介してのパッド電極7aまでの線路と、パッド電極5bから信号配線3aを介してのパッド電極7bまでの線路とにより等長な一対の差動伝送線路が構成されている。なお、回路素子9および回路素子11のパッド電極同士を等長な一対の差動伝達線路で接続してもよい。
(第3の実施形態)
図5は本発明の第3の実施形態に係る素子搭載用基板および半導体モジュールの構成を示す平面図である。図6(A)は図5中のX−X線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図であり、図6(B)は図5中のY−Y線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図である。
第3の実施形態に係る半導体モジュール350は、第1の実施形態に係る半導体モジュール150における回路素子9に加えて、回路素子9を搭載した面と反対側の面に更に回路素子13を搭載している。なお、本実施形態に係る素子搭載用基板300は、第1の実施形態に係る素子搭載用基板100と実質的に同じなため、同一の要素には同一の符号を付して説明を適宜省略する。
回路素子13は、たとえば、ICチップやLSIチップなどの半導体素子である。本実施形態では、回路素子13の下面に複数対の信号電極14a,14b,15a,15bを備えるLSIチップを採用している。回路素子13は所定の領域の絶縁層6の上に接着層(図示せず)を介して装着されている。
導電部材16a,16bは、金線などが採用され、導電層7のパッド電極7a,7bと回路素子13の信号電極14a,14bとをそれぞれ電気的にワイヤボンディング接続している。また、導電部材17a,17bは、金線などが採用され、導電層7のパッド電極18a,18bと回路素子13の信号電極15a,15bとをそれぞれ電気的にワイヤボンディング接続している。なお、配線層8(絶縁層6)上に設けられた回路素子13を外界からの影響から保護するために、回路素子13を覆うようにエポキシ樹脂からなる封止樹脂層(図示せず)を形成するなどしてもよい。
(第4の実施形態)
本実施形態では、上述の各実施形態で説明した半導体モジュールをマザーボードにはめ込んで実装する方法について説明する。図7は、第4の実施形態に係るマザーボードへの半導体モジュールの実装状態を示した模式図である。マザーボード440は、電子装置を構成するための複数の部品を積載可能に構成されている電子回路基板である。本実施形態に係るマザーボード440は、積載される半導体モジュール450が備える素子搭載用基板400の一方の面に設けられている回路素子411と干渉しないように貫通孔420が形成されている。
半導体モジュール450における素子搭載用基板400は、回路素子409と回路素子411とを電気的に接続する互いに等長な一対の差動伝送線路402と、回路素子409とマザーボード440とを電気的に接続する互いに等長な一対の差動伝送線路403とを有する。なお、図7に示すそれぞれの差動伝送線路402,403は、便宜上一本の線で示しているが、2本の配線で対をなしている点は前述の各実施形態で説明した素子搭載用基板と同様である。
(第5の実施形態)
本実施形態では、上述の各実施形態で説明した半導体モジュールをマザーボードに垂直に実装する方法について説明する。図8は、第5の実施形態に係るマザーボードへの半導体モジュールの実装状態を示した模式図である。本実施形態に係るマザーボード540は、実装される半導体モジュール550の端部が挿入され固定されるように構成されている挿入口520が形成されている。半導体モジュール550は、挿入口520に挿入された状態で端部に設けられている外部接続端子522がマザーボード540に形成されている不図示の電極と接触し、固定される。
半導体モジュール550における素子搭載用基板500は、回路素子509と回路素子511とを電気的に接続する互いに等長な一対の差動伝送線路502,503と、回路素子509とマザーボード540とを電気的に接続する互いに等長な一対の差動伝送線路504と、回路素子511とマザーボード540とを電気的に接続する互いに等長な一対の差動伝送線路505とを有する。なお、図8に示すそれぞれの差動伝送線路502,503,504,505は、便宜上一本の線で示しているが、2本の配線で対をなしている点は前述の各実施形態で説明した素子搭載用基板と同様である。
以上、本発明を上述の各実施形態を参照して説明したが、本発明は上述の各実施形態に限定されるものではなく、各実施形態の構成を適宜組み合わせたものや置換したものについても本発明に含まれるものである。また、当業者の知識に基づいて各種の設計変更等の変形を各実施形態に対して加えることも可能であり、そのような変形が加えられた実施形態も本発明の範囲に含まれうる。
本発明の第1実施形態に係る素子搭載用基板および半導体モジュールの構成を示す平面図。 (A)、(B)図1中のX−X線およびY−Y線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図。 本発明の第2実施形態に係る素子搭載用基板および半導体モジュールの構成を示す平面図。 (A)、(B)図3中のX−X線およびY−Y線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図。 本発明の第3実施形態に係る素子搭載用基板および半導体モジュールの構成を示す平面図。 (A)、(B)図5中のX−X線およびY−Y線に沿った素子搭載用基板および半導体モジュールの断面図。 第4の実施形態に係るマザーボードへの半導体モジュールの実装状態を示した模式図。 第5の実施形態に係るマザーボードへの半導体モジュールの実装状態を示した模式図。
符号の説明
1 絶縁層、 1a 接続孔、 1b 導体部、 2 導電層、 2a 信号配線、 2b ビアランド、 3 導電層、 3a 信号配線、 3b ビアランド、 4 絶縁層、 4a 接続孔、 4b 導体部、 5 導電層、 5a パッド電極、 5b パッド電極、 6 絶縁層、 6a 接続孔、 6b 導体部、 7 導電層、 7a パッド電極、 7b パッド電極、 7c パッド電極、 8 配線層、 9 回路素子、 9a 信号電極、 9b 信号電極、 10a 導電部材、 10b 導電部材、 100 素子搭載用基板、 150 半導体モジュール。

Claims (5)

  1. 導電層と絶縁層とが交互に複数積層された配線層と、
    前記配線層の一方の主面に設けられた一対の第1の電極と、
    前記配線層内の異なる導電層に設けられ、互いに対向して平行に配置された信号配線と、
    前記配線層の他方の主面に設けられた一対の第2の電極と、
    前記絶縁層を貫通して設けられ、前記第1の電極と前記信号配線との間および前記信号配線と前記第2の電極との間をそれぞれ電気的に接続する導体部と、
    を備え、
    前記第1の電極の一方から前記第2の電極の一方までの第1の線路と、前記第1の電極の他方から前記第2の電極の他方までの第2の線路とにより、等長な一対の差動伝送線路が構成されている素子搭載用基板。
  2. 前記第1の線路における前記導体部は、一方の主面から他方の主面に向かって絶縁層に一つずつ設けられており、前記第2の線路における前記導体部は、一方の主面から他方の主面に向かって絶縁層に一つずつ設けられていることを特徴とする請求項1に記載の素子搭載用基板。
  3. 導電層と絶縁層とが交互に複数積層された配線層と、
    前記配線層の一方の主面に設けられた一対の第1の電極と、
    前記配線層内の異なる導電層に設けられ、互いに対向して平行に配置された一対の信号配線と、
    前記配線層の他方の主面に設けられた一対の第2の電極と、
    前記絶縁層を貫通して設けられ、前記一対の第1の電極の一方と前記一対の信号配線の一方との間を電気的に接続する第1の導体部と、
    前記絶縁層を貫通して設けられ、前記一対の信号配線の一方と前記一対の第2の電極の一方との間を電気的に接続する第2の導体部と、
    前記絶縁層を貫通して設けられ、前記一対の第1の電極の他方と前記一対の信号配線の他方との間を電気的に接続する第3の導体部と、
    前記絶縁層を貫通して設けられ、前記一対の信号配線の他方と前記一対の第2の電極の他方との間を電気的に接続する第4の導体部と、
    を備え、
    前記一対の信号配線の一方が配置された導電層における前記一対の信号配線の一方を含む配線長と、前記一対の信号配線の他方が配置された導電層における前記一対の信号配線の他方を含む配線長とが等しく、
    配線層の主面と垂直な方向における前記第1の導体部と前記第2の導体部との長さの和が、配線層の主面と垂直な方向における前記第3の導体部と前記第4の導体部との長さの和と等しく、
    前記第1の電極の一方から前記第2の電極の一方までの第1の線路と、前記第1の電極の他方から前記第2の電極の他方までの第2の線路とにより、等長な一対の差動伝送線路が構成されている素子搭載用基板。
  4. 請求項1乃至3のいずれかに記載の素子搭載用基板と、
    前記素子搭載用基板の前記配線層の一方の主面に設けられた回路素子とを備え、
    前記一対の第1の電極に前記回路素子の一対の信号電極がそれぞれ電気的に接続され、前記一対の第2の電極が外部引出電極として機能することを特徴とする半導体モジュール。
  5. 請求項1乃至3のいずれかに記載の素子搭載用基板と、
    前記素子搭載用基板の前記配線層の一方の主面に設けられた第1の回路素子と、
    前記素子搭載用基板の前記配線層の他方の主面に設けられた第2の回路素子を備え、
    前記一対の第1の電極に前記第1の回路素子の一対の信号電極がそれぞれ電気的に接続され、前記一対の第2の電極に前記第2の回路素子の一対の信号電極がそれぞれ電気的に接続されていることを特徴とする半導体モジュール。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010087037A (ja) * 2008-09-29 2010-04-15 Kyocera Corp 差動伝送用多層配線基板
JP2010147792A (ja) * 2008-12-18 2010-07-01 Denso Corp 乗員保護システムのセンサ装置
JP2010177593A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Furukawa Electric Co Ltd:The 並列伝送モジュール
JP2012222103A (ja) * 2011-04-07 2012-11-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 安定化フィルタ
JP2013225544A (ja) * 2012-04-19 2013-10-31 Canon Inc プリント回路板
JP2021034536A (ja) * 2019-08-23 2021-03-01 日本特殊陶業株式会社 配線基板

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI678712B (zh) * 2018-09-27 2019-12-01 創意電子股份有限公司 電路板結構以及其傳輸導線結構
US11751323B2 (en) * 2021-07-27 2023-09-05 Dell Products L.P. Quad-trace structures for high-speed signaling

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1174644A (ja) * 1997-06-24 1999-03-16 Advantest Corp 多層プリント配線基板及びその自動配線方法
JP2000349192A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Canon Inc 半導体集積回路およびプリント配線板
JP2003218480A (ja) * 2002-01-25 2003-07-31 Mitsubishi Electric Corp プリント配線板及びその製造方法
JP2004158553A (ja) * 2002-11-05 2004-06-03 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2004289094A (ja) * 2003-01-29 2004-10-14 Kyocera Corp 配線基板
JP2004349406A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Konica Minolta Business Technologies Inc 差動伝送回路と、当該差動伝送回路を用いた画像処理装置
JP2005159080A (ja) * 2003-11-27 2005-06-16 Kyocera Corp 配線基板
JP2006128633A (ja) * 2004-09-28 2006-05-18 Canon Inc 多端子素子及びプリント配線板
JP2007149805A (ja) * 2005-11-25 2007-06-14 Funai Electric Co Ltd プリント配線板
JP2007288180A (ja) * 2006-03-24 2007-11-01 Kyocera Corp 配線構造、多層配線基板および電子装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3981076A (en) * 1974-11-27 1976-09-21 Commissariat A L'energie Atomique Method of connecting electronic microcomponents
US5334271A (en) * 1992-10-05 1994-08-02 W. L. Gore & Associates, Inc. Process for manufacture of twisted pair electrical cables having conductors of equal length
US5459284A (en) * 1993-08-31 1995-10-17 Motorola, Inc. Twisted-pair wire bond and method thereof
US5430247A (en) * 1993-08-31 1995-07-04 Motorola, Inc. Twisted-pair planar conductor line off-set structure
JP3961092B2 (ja) * 1997-06-03 2007-08-15 株式会社東芝 複合配線基板、フレキシブル基板、半導体装置、および複合配線基板の製造方法
US6353539B1 (en) * 1998-07-21 2002-03-05 Intel Corporation Method and apparatus for matched length routing of back-to-back package placement
FI20020522A0 (fi) * 2002-03-19 2002-03-19 Nokia Corp Tehonhallintajärjestely

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1174644A (ja) * 1997-06-24 1999-03-16 Advantest Corp 多層プリント配線基板及びその自動配線方法
JP2000349192A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Canon Inc 半導体集積回路およびプリント配線板
JP2003218480A (ja) * 2002-01-25 2003-07-31 Mitsubishi Electric Corp プリント配線板及びその製造方法
JP2004158553A (ja) * 2002-11-05 2004-06-03 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2004289094A (ja) * 2003-01-29 2004-10-14 Kyocera Corp 配線基板
JP2004349406A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Konica Minolta Business Technologies Inc 差動伝送回路と、当該差動伝送回路を用いた画像処理装置
JP2005159080A (ja) * 2003-11-27 2005-06-16 Kyocera Corp 配線基板
JP2006128633A (ja) * 2004-09-28 2006-05-18 Canon Inc 多端子素子及びプリント配線板
JP2007149805A (ja) * 2005-11-25 2007-06-14 Funai Electric Co Ltd プリント配線板
JP2007288180A (ja) * 2006-03-24 2007-11-01 Kyocera Corp 配線構造、多層配線基板および電子装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010087037A (ja) * 2008-09-29 2010-04-15 Kyocera Corp 差動伝送用多層配線基板
JP2010147792A (ja) * 2008-12-18 2010-07-01 Denso Corp 乗員保護システムのセンサ装置
JP4605484B2 (ja) * 2008-12-18 2011-01-05 株式会社デンソー 乗員保護システムのセンサ装置
US8194414B2 (en) 2008-12-18 2012-06-05 Denso Corporation Sensor device for occupant protection system
JP2010177593A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Furukawa Electric Co Ltd:The 並列伝送モジュール
JP2012222103A (ja) * 2011-04-07 2012-11-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 安定化フィルタ
JP2013225544A (ja) * 2012-04-19 2013-10-31 Canon Inc プリント回路板
US9345140B2 (en) 2012-04-19 2016-05-17 Canon Kabushiki Kaisha Printed circuit board
JP2021034536A (ja) * 2019-08-23 2021-03-01 日本特殊陶業株式会社 配線基板

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Publication number Publication date
US20080078571A1 (en) 2008-04-03

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