JP2003121867A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4006304B2 (ja) * 2002-09-10 2007-11-14 株式会社 日立ディスプレイズ 画像表示装置
US7956976B1 (en) * 2002-09-10 2011-06-07 Hitachi Displays, Ltd. Liquid crystal display device
JP2004163493A (ja) * 2002-11-11 2004-06-10 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
KR100917009B1 (ko) * 2003-02-10 2009-09-10 삼성전자주식회사 트랜지스터의 구동 방법과 쉬프트 레지스터의 구동 방법및 이를 수행하기 위한 쉬프트 레지스터
KR100965176B1 (ko) * 2003-04-07 2010-06-24 삼성전자주식회사 디지털 엑스레이 디텍터용 어레이 패널 및 이의 제조 방법
KR100984345B1 (ko) * 2003-05-30 2010-09-30 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
US7714820B2 (en) 2003-06-27 2010-05-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Contact structure of conductive films and thin film transistor array panel including the same
KR100951357B1 (ko) * 2003-08-19 2010-04-08 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
KR100560787B1 (ko) * 2003-11-05 2006-03-13 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광표시장치
JP4546723B2 (ja) * 2003-12-10 2010-09-15 シャープ株式会社 表示装置用基板及びそれを用いた液晶表示装置
KR100982122B1 (ko) * 2003-12-30 2010-09-14 엘지디스플레이 주식회사 수평 전계 인가형 박막 트랜지스터 기판의 불량 화소암점화 방법
US7391053B2 (en) * 2004-05-28 2008-06-24 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Inspection substrate for display device
KR20050117303A (ko) * 2004-06-10 2005-12-14 삼성전자주식회사 표시 장치
KR101075599B1 (ko) * 2004-06-23 2011-10-20 삼성전자주식회사 표시장치
TWI382264B (zh) 2004-07-27 2013-01-11 Samsung Display Co Ltd 薄膜電晶體陣列面板及包括此面板之顯示器裝置
JP4744824B2 (ja) * 2004-08-06 2011-08-10 東芝モバイルディスプレイ株式会社 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置
JP2006078764A (ja) * 2004-09-09 2006-03-23 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示装置
JP4790292B2 (ja) 2004-10-25 2011-10-12 三星電子株式会社 アレイ基板及びこれを有する表示装置
KR101100883B1 (ko) 2004-11-08 2012-01-02 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판
KR101093229B1 (ko) * 2005-01-06 2011-12-13 삼성전자주식회사 어레이 기판 및 이를 갖는 표시장치
US7714589B2 (en) * 2005-11-15 2010-05-11 Photon Dynamics, Inc. Array test using the shorting bar and high frequency clock signal for the inspection of TFT-LCD with integrated driver IC
KR101209042B1 (ko) * 2005-11-30 2012-12-06 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 검사 방법
KR101115026B1 (ko) * 2006-01-10 2012-03-06 삼성전자주식회사 게이트 드라이버와 이를 구비한 박막 트랜지스터 기판 및액정 표시 장치
KR101275248B1 (ko) * 2006-06-12 2013-06-14 삼성디스플레이 주식회사 게이트 구동회로 및 이를 갖는 표시장치
US8174478B2 (en) * 2006-06-12 2012-05-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Gate driving circuit and display apparatus having the same
KR100996536B1 (ko) * 2006-06-23 2010-11-24 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 광센서 회로 및 이를 이용한 백라이트제어장치
JP2008026507A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Sony Corp 表示装置および表示装置の検査方法
JP4860699B2 (ja) * 2006-08-31 2012-01-25 シャープ株式会社 表示パネルおよびそれを備えた表示装置
KR101304416B1 (ko) 2006-11-10 2013-09-05 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그의 제조 방법
TWI453711B (zh) * 2007-03-21 2014-09-21 Semiconductor Energy Lab 顯示裝置
KR100884463B1 (ko) * 2007-07-31 2009-02-20 삼성모바일디스플레이주식회사 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법
JP5182993B2 (ja) 2008-03-31 2013-04-17 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置及びその作製方法
TWI392944B (zh) * 2009-05-19 2013-04-11 Au Optronics Corp 面板、液晶顯示器及面板的形成方法
WO2011148424A1 (ja) * 2010-05-27 2011-12-01 パナソニック株式会社 表示装置用薄膜半導体装置、表示装置及び表示装置用薄膜半導体装置の製造方法
WO2012157720A1 (ja) * 2011-05-18 2012-11-22 シャープ株式会社 液晶パネル、液晶表示装置
CN102306479A (zh) * 2011-07-04 2012-01-04 深圳市华星光电技术有限公司 一种适用于psva与阵列的测试电路
KR101813719B1 (ko) 2011-07-19 2017-12-29 엘지디스플레이 주식회사 박막트랜지스터 어레이 기판의 제조 방법
CN103163670B (zh) * 2011-12-19 2016-03-02 上海中航光电子有限公司 一种液晶显示装置的检测开关
KR102050438B1 (ko) * 2012-11-29 2020-01-09 엘지디스플레이 주식회사 산화물 박막 트랜지스터의 제조 방법
TWI498877B (zh) 2013-04-26 2015-09-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd 顯示面板
CN103345080B (zh) * 2013-07-10 2017-01-25 深圳市华星光电技术有限公司 一种快速测试切换装置及相应的tft‑lcd阵列基板
CN103698911A (zh) * 2013-12-09 2014-04-02 合肥京东方光电科技有限公司 一种阵列基板及显示装置
US20150179666A1 (en) * 2013-12-25 2015-06-25 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Wiring structure of array substrate
CN104280970B (zh) 2014-11-06 2017-12-22 上海天马微电子有限公司 阵列基板及液晶显示面板
CN104375294B (zh) * 2014-11-24 2017-03-15 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示面板的检测电路及其检测方法
US9601070B2 (en) 2014-11-24 2017-03-21 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Method for performing detection on display panel
CN105404065A (zh) * 2015-12-04 2016-03-16 深圳市华星光电技术有限公司 薄膜晶体管数组结构
KR102436255B1 (ko) * 2015-12-30 2022-08-26 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN105867033B (zh) * 2016-06-13 2019-06-14 厦门天马微电子有限公司 阵列基板以及液晶显示面板
KR102489594B1 (ko) * 2016-07-29 2023-01-18 엘지디스플레이 주식회사 협 베젤을 갖는 표시장치
US10847106B2 (en) * 2017-02-09 2020-11-24 L3 Technologies, Inc. Fault-tolerant liquid crystal displays for avionics systems
CN108831360A (zh) 2018-06-22 2018-11-16 京东方科技集团股份有限公司 栅极驱动信号检测电路、方法和显示装置
CN109493770A (zh) * 2018-11-15 2019-03-19 昆山龙腾光电有限公司 显示面板及其检测方法
JP7217650B2 (ja) * 2019-03-18 2023-02-03 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP2020154251A (ja) * 2019-03-22 2020-09-24 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及び検査方法
CN110189723B (zh) * 2019-06-27 2021-08-06 京东方科技集团股份有限公司 调节方法、调节装置、驱动方法、透明显示装置
CN111983860B (zh) * 2020-08-10 2022-07-29 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板和显示装置
CN116569244A (zh) * 2020-12-08 2023-08-08 京瓷株式会社 显示装置以及复合型显示装置
TWI762218B (zh) * 2021-02-25 2022-04-21 友達光電股份有限公司 驅動電路檢測系統
CN114690493B (zh) * 2022-03-18 2024-04-09 武汉华星光电技术有限公司 显示面板

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2653099B2 (ja) * 1988-05-17 1997-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクスパネル，投写型表示装置及びビューファインダー
JP2566175B2 (ja) * 1990-04-27 1996-12-25 セイコー電子工業株式会社 半導体装置及びその製造方法
US6067062A (en) * 1990-09-05 2000-05-23 Seiko Instruments Inc. Light valve device
JPH055866A (ja) * 1991-06-28 1993-01-14 Sharp Corp アクテイブマトリクス基板の検査方法
JP3203841B2 (ja) * 1992-12-21 2001-08-27 松下電器産業株式会社 液晶表示デバイス
SG59936A1 (en) * 1993-02-10 1999-02-22 Seiko Epson Corp Active matrix circuit boad thin-film transistor and a manufacturing method of these
KR100223153B1 (ko) * 1996-05-23 1999-10-15 구자홍 액티브 매트릭스 액정표시장치의 제조방법 및 액티브매트릭스액정표시장치
JP3538844B2 (ja) * 1997-07-23 2004-06-14 セイコーエプソン株式会社 液晶装置、液晶装置の製造方法及び電子機器
JP3667548B2 (ja) * 1998-03-27 2005-07-06 シャープ株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
JP4202571B2 (ja) * 1999-12-21 2008-12-24 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 液晶表示装置およびその製造方法
JP2001265248A (ja) * 2000-03-14 2001-09-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法
KR100596965B1 (ko) * 2000-03-17 2006-07-04 삼성전자주식회사 구동신호 인가모듈, 이를 적용한 액정표시패널 어셈블리 및 이 액정표시패널 어셈블리의 구동신호 검사 방법

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