JP2003031637A - 基板搬送装置 - Google Patents

基板搬送装置

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JP2003031637A
JP2003031637A JP2001215905A JP2001215905A JP2003031637A JP 2003031637 A JP2003031637 A JP 2003031637A JP 2001215905 A JP2001215905 A JP 2001215905A JP 2001215905 A JP2001215905 A JP 2001215905A JP 2003031637 A JP2003031637 A JP 2003031637A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 緩衝用の搬送装置のフットプリントを可及的
に小さくすることができる基板搬送装置を提供するこ
と。 【解決手段】 1枚の基板G1が第1の搬送部と第3の
搬送部とにまたがって搬送されているときであって、第
1の搬送部A1上にある当該1枚の基板の面積よりも第
3の搬送部A3上にある面積が大きくなったときに、第
3及び第2の搬送部A3及びA2をリフトアップすると
ともに、第3の搬送部A3の搬送速度を第1の搬送部A
1による搬送速度V1から第2の搬送部A2による搬送
速度と同じV2に変える。これにより、小さいフットプ
リントで緩衝用の搬送部である第3の搬送部A3を設け
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶デバイスの製
造工程において、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal D
isplay:LCD)等に使用されるガラス基板を搬送する
基板搬送装置に関する。
【0002】
【従来の技術】LCDの製造工程において、LCD用の
ガラス基板上にITO(Indium Tin Oxide)の薄膜や電
極パターンを形成するために、半導体デバイスの製造に
用いられるものと同様のフォトリソグラフィ技術が利用
される。フォトリソグラフィ技術では、フォトレジスト
をガラス基板に塗布し、これを露光し、さらに現像す
る。
【0003】これらレジスト塗布、露光及び現像の一連
の処理は、従来から、塗布、現像、ベーキング、あるい
は洗浄等の各処理を行う塗布現像処理システムによって
行われている。例えば、現像処理及び洗浄処理において
は、搬送ローラを複数備えたコロ式の搬送装置によりガ
ラス基板を水平に搬送させながらそれぞれ処理を行って
いる。このような搬送装置においては各処理工程に応じ
た搬送速度が必要であるため、例えば速度が異なる2つ
の搬送装置により基板を連続的に搬送させている。この
場合、これら2つの搬送装置の間に、当該2つの搬送速
度の間で速度を可変とする緩衝用の搬送装置が設けられ
ている。この緩衝用の搬送装置もコロ式とされている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
ガラス基板は大型化の傾向にあることから、かかる緩衝
用の搬送装置が占めるスペースも増大化が必至であり、
これによるフットプリントの問題が生じている。
【0005】一方において、この緩衝用の搬送装置を設
けないで、上記速度の異なる2つの搬送装置を直接繋い
で基板を搬送させるとすると、例えば1枚の基板が当該
2つの搬送装置にまたがった瞬間は、どちらかの搬送装
置の搬送ローラが基板に対して擦れながら空転する可能
性があり、これにより基板が損傷するおそれがある。
【0006】以上のような事情に鑑み、本発明の目的
は、緩衝用の搬送装置のフットプリントを可及的に小さ
くすることができる基板搬送装置を提供することにあ
る。
【0007】また、本発明の別の目的は、緩衝用の搬送
装置を有する搬送装置全体の搬送効率を向上させること
ができる基板搬送装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、回転する複数のローラ上に基板を載置さ
せて基板を搬送させる第1の搬送部と、回転する複数の
ローラ上に基板を載置させて、前記第1の搬送部の搬送
速度と異なる速度で基板を搬送させる第2の搬送部と、
前記第1の搬送部と前記第2の搬送部との間に接続して
配置され、搬送方向の長さが基板の搬送方向1辺より短
い長さを有し、回転する複数のローラ上に基板を載置さ
せて、前記第1の搬送部から搬送される基板を前記第2
の搬送部へ搬送させる第3の搬送部と、1枚の基板が前
記第1の搬送部と前記第3の搬送部とにまたがって搬送
されているときであって、前記1枚の基板の前記第1の
搬送部のローラ上にある面積よりも前記第3の搬送部の
ローラ上にある面積が大くなったときに、前記第3の搬
送部を前記第2の搬送部に接続させた状態で前記第1の
搬送部から離間させる手段とを具備する。
【0009】このような構成によれば、基板の全面が第
3の搬送部のローラ上になくても基板を第3の搬送部か
ら第2の搬送部へ連続して搬送させることができる。す
なわち、例えば、従来は緩衝用の搬送部の搬送方向長さ
を基板の搬送方向1辺の長さ以上を必要としていたが、
本発明によれば、小さいフットプリントで緩衝用の搬送
部である第3の搬送部を設けることができる。
【0010】また、例えば従来のように基板の搬送方向
1辺の長さ以上の緩衝用の搬送部を離間させないで基板
を搬送させる場合に比べ、本発明では、第1の搬送部に
おいて基板同士の距離を詰めて搬送させることができる
ので、搬送効率及び処理効率を向上させることができ
る。
【0011】本発明の一の形態によれば、前記第3の搬
送部の搬送方向の長さは、基板の搬送方向1辺のほぼ半
分である。
【0012】本発明の一の形態によれば、前記第3の搬
送部のローラ上に基板がないときは前記第3の搬送部の
搬送速度を前記第1の搬送部の搬送速度と等しくし、前
記第3の搬送部を前記第1の搬送部から離間させた直後
に、前記第3の搬送部による基板の搬送速度を、前記第
2の搬送部の搬送速度と等しくする手段を更に具備す
る。このように、第3の搬送部を前記第1の搬送部から
離間させたときに、前記第3の搬送部による基板の搬送
速度を、前記第2の搬送部の搬送速度と等しくすること
により搬送効率を向上させるとともに、例えば従来のよ
うに、ローラが基板に対し擦れながら空転することがな
いので、基板の損傷を防止することができる。
【0013】本発明の一の形態によれば、前記第3の搬
送部により搬送される基板の搬送後端が前記第3の搬送
部の搬送上流端を通過した直後に、前記第3の搬送部を
前記第2の搬送部に接続させた状態で前記第1の搬送部
に接続させる手段と、前記第2の搬送部により搬送され
る基板の搬送後端が前記第2の搬送部の搬送上流端を通
過した直後に、前記第3の搬送部の搬送速度を前記第1
の搬送部の搬送速度と等しくする手段とを更に具備す
る。これにより、第1の搬送部によって複数の基板が連
続して搬送される場合には、当該複数の基板を連続して
前記第2の搬送部へ搬送することができる。
【0014】本発明の一の形態によれば、前記第3の搬
送部の搬送下流端に搬送されて来る基板の搬送先端を検
知する第1のセンサを更に具備する。この第1のセンサ
による当該基板の搬送先端の検知に基づいて、上記のよ
うに第3の搬送部を前記第1の搬送部から離間させるこ
とができる。
【0015】本発明の一の形態によれば、前記第3の搬
送部の搬送上流端に搬送される基板の搬送後端を検知す
る第2のセンサを更に具備する。この第2のセンサによ
る当該基板の搬送後端の検知に基づいて、上記のよう
に、第3の搬送部により搬送される基板の搬送後端が第
3の搬送部の搬送上流端を通過した直後に、前記第3の
搬送部を前記第1の搬送部に接続させることができる。
【0016】本発明の一の形態によれば、前記第1の搬
送部により搬送される基板上に現像液を供給する手段を
更に具備し、前記第3の搬送部及び前記第2の搬送部に
より、前記第1の搬送部の搬送速度より遅い速度で基板
を搬送させながら現像を行う。これにより、例えば、現
像液の基板に対する液盛りを第1の搬送部による速い搬
送速度で行い、液盛り後の放置現像処理を第3の搬送部
及び前記第2の搬送部による遅い搬送速度で行うことが
できる。すなわち、各処理に応じた速度で効率的に基板
を搬送させることができる。
【0017】本発明の一の形態によれば、前記第1の搬
送部により搬送される基板上に現像液を供給して現像を
行う手段と、前記第2の搬送部により、前記第1の搬送
部による搬送速度より速い速度で基板を搬送させながら
該基板上にリンス液を供給して前記現像液を洗い流す手
段とを更に具備する。これにより、搬送及びフットプリ
ントの高効率を維持しつつ、現像処理及びリンス処理に
応じた搬送速度で基板を搬送させることができる。
【0018】本発明の一の形態によれば、前記第1の搬
送部により搬送される基板を回転により洗浄するロール
ブラシと、前記第2の搬送部により、前記第1の搬送部
の搬送速度より速い速度で基板を搬送させながら該基板
上に高圧洗浄液を供給する手段と、前記第2の搬送部に
より基板上にエアを供給して液切り乾燥する手段とを更
に具備する。これにより、搬送及びフットプリントの高
効率を維持しつつ、ロールブラシによる洗浄処理及び高
圧洗浄処理に応じた搬送速度で基板を搬送させることが
できる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき説明する。
【0020】図1は本発明の搬送装置が適用されるLC
D基板の塗布現像処理システムを示す平面図であり、図
2はその正面図、また図3はその背面図である。
【0021】この塗布現像処理システム1は、複数のガ
ラス基板Gを収容するカセットCを載置するカセットス
テーション2と、基板Gにレジスト塗布および現像を含
む一連の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた
処理部3と、露光装置32との間で基板Gの受け渡しを
行うためのインターフェース部4とを備えており、処理
部3の両端にそれぞれカセットステーション2及びイン
ターフェース部4が配置されている。
【0022】カセットステーション2は、カセットCと
処理部3との間でLCD基板の搬送を行うための搬送機
構10を備えている。そして、カセットステーション2
においてカセットCの搬入出が行われる。また、搬送機
構10はカセットの配列方向に沿って設けられた搬送路
12上を移動可能な搬送アーム11を備え、この搬送ア
ーム11によりカセットCと処理部3との間で基板Gの
搬送が行われる。
【0023】処理部3には、カセットステーション2に
おけるカセットCの配列方向(Y方向)に垂直方向(X
方向)に延設された主搬送部3aと、この主搬送部3a
に沿って、レジスト塗布処理ユニット(CT)を含む各
処理ユニットが並設された上流部3b及び現像処理ユニ
ット(DEV)18を含む各処理ユニットが並設された
下流部3cとが設けられている。
【0024】主搬送部3aには、X方向に延設された搬
送路31と、この搬送路31に沿って移動可能に構成さ
れガラス基板GをX方向に搬送する搬送シャトル23と
が設けられている。この搬送シャトル23は、例えば支
持ピンにより基板Gを保持して搬送するようになってい
る。また、主搬送部3aのインターフェース部4側端部
には、処理部3とインターフェース部4との間で基板G
の受け渡しを行う垂直搬送ユニット7が設けられてい
る。
【0025】上流部3bにおいて、カセットステーショ
ン2側端部には、基板Gに洗浄処理を施すスクラバ洗浄
処理ユニット(SCR)20が設けられ、このスクラバ
洗浄処理ユニット(SCR)20の上段に基板G上の有
機物を除去するためのエキシマUV処理ユニット(e−
UV)19が配設されている。スクラバ洗浄処理ユニッ
ト(SCR)20には、本発明に係る基板搬送装置が設
けられており、これについては後述する。
【0026】スクラバ洗浄処理ユニット(SCR)20
の隣には、ガラス基板Gに対して熱的処理を行うユニッ
トが多段に積み上げられた熱処理系ブロック24及び2
5が配置されている。これら熱処理系ブロック24と2
5との間には、垂直搬送ユニット5が配置され、搬送ア
ーム5aがZ方向及び水平方向に移動可能とされ、かつ
θ方向に回動可能とされているので、両ブロック24及
び25における各熱処理系ユニットにアクセスして基板
Gの搬送が行われるようになっている。なお、上記処理
部3における垂直搬送ユニット7についてもこの垂直搬
送ユニット5と同一の構成を有している。
【0027】図2に示すように、熱処理系ブロック24
には、基板Gにレジスト塗布前の加熱処理を施すベーキ
ングユニット(BAKE)が2段、HMDSガスにより
疎水化処理を施すアドヒージョンユニット(AD)が下
から順に積層されている。一方、熱処理系ブロック25
には、基板Gに冷却処理を施すクーリングユニット(C
OL)が2段、アドヒージョンユニット(AD)が下か
ら順に積層されている。
【0028】熱処理系ブロック25に隣接してレジスト
処理ブロック15がX方向に延設されている。このレジ
スト処理ブロック15は、基板Gにレジストを塗布する
レジスト塗布処理ユニット(CT)と、減圧により前記
塗布されたレジストを乾燥させる減圧乾燥ユニット(V
D)と、基板Gの周縁部のレジストを除去するエッジリ
ムーバ(ER)とが一体的に設けられて構成されてい
る。このレジスト処理ブロック15には、レジスト塗布
処理ユニット(CT)からエッジリムーバ(ER)にか
けて移動する図示しないサブアームが設けられており、
このサブアームによりレジスト処理ブロック15内で基
板Gが搬送されるようになっている。
【0029】レジスト処理ブロック15に隣接して多段
構成の熱処理系ブロック26が配設されており、この熱
処理系ブロック26には、基板Gにレジスト塗布後の加
熱処理を行うプリベーキングユニット(PREBAK
E)が3段積層されている。
【0030】下流部3cにおいては、図3に示すよう
に、インターフェース部4側端部には、熱処理系ブロッ
ク29が設けられており、これには、クーリングユニッ
ト(COL)、露光後現像処理前の加熱処理を行うポス
トエクスポージャーベーキングユニット(PEBAK
E)が2段、下から順に積層されている。
【0031】熱処理系ブロック29に隣接して現像処理
を行う現像処理ユニット(DEV)18がX方向に延設
されている。この現像処理ユニット(DEV)18の隣
には熱処理系ブロック28及び27が配置され、これら
熱処理系ブロック28と27との間には、上記垂直搬送
ユニット5と同一の構成を有し、両ブロック28及び2
7における各熱処理系ユニットにアクセス可能な垂直搬
送ユニット6が設けられている。また、現像処理ユニッ
ト(DEV)18端部の上には、i線処理ユニット(i
―UV)33が設けられている。現像処理ユニット(D
EV)18には、上記の基板搬送装置と同様の構成を有
する搬送装置が設けられている。
【0032】熱処理系ブロック28には、クーリングユ
ニット(COL)、基板Gに現像後の加熱処理を行うポ
ストベーキングユニット(POBAKE)が2段、下か
ら順に積層されている。一方、熱処理系ブロック27も
同様に、クーリングユニット(COL)、ポストベーキ
ングユニット(POBAKE)が2段、下から順に積層
されている。
【0033】インターフェース部4には、正面側にタイ
トラー及び周辺露光ユニット(Titler/EE)2
2が設けられ、垂直搬送ユニット7に隣接してエクステ
ンションクーリングユニット(EXTCOL)35が、
また背面側にはバッファカセット34が配置されてお
り、これらタイトラー及び周辺露光ユニット(Titl
er/EE)22とエクステンションクーリングユニッ
ト(EXTCOL)35とバッファカセット34と隣接
した露光装置32との間で基板Gの受け渡しを行う垂直
搬送ユニット8が配置されている。この垂直搬送ユニッ
ト8も上記垂直搬送ユニット5と同一の構成を有してい
る。
【0034】図4は、本発明の一実施形態に係る搬送装
置を含む現像処理ユニット(DEV)18の模式的な側
面図である。この現像処理ユニット(DEV)18に
は、現像室36、リンス室37及び液切り乾燥室38
が、基板Gの搬送上流側から順に配設されている。これ
らの各室36、37及び38には、上流側から搬送装置
71、72及び73が延設されている。また、各室3
6、37及び38には、現像液を吐出する現像液ノズル
61、リンス液を吐出するリンスノズル62、基板に液
切り用のエアを吹き付けて乾燥させるエアナイフ63が
設けられている。各室の間には、基板Gが搬入出される
ための開口部65が形成されており、シャッタ部材64
がこの開口部65を開閉可能に設けられている。現像室
36の搬送装置71は、上流側に第1の搬送部A1が配
置され、下流側に第2の搬送部A2が配置されており、
これら間に緩衝用の第3の搬送部A3が配置されてい
る。
【0035】図5及び図6は、この第1の搬送部A1の
一実施形態に係る平面図及び側面図である。なお、第2
の搬送部A2、第3の搬送部A3、搬送装置72及び7
3は、基板Gの搬送方向長さ以外の構成については、第
1の搬送部A1とほぼ同様であり、第2及び第3の搬送
部A2及びA3についても後述する。
【0036】この搬送装置A1の架台60の側部にはモ
ータ44が取り付けられ、このモータ44により軸部材
54が回転可能にガラス基板Gの搬送方向(X方向)に
沿って軸架されている。架台60の上部左右には保持部
41が搬送方向に延設されている。これら保持部41間
には、ベアリング45により軸支された複数のシャフト
53が掛け渡されており、これらシャフト53にはガラ
ス基板Gの両端を支持するとともに回転により搬送する
1対の搬送ローラ43が取り付けられ、また、端部には
それぞれねじ歯車49が取り付けられている。上記軸部
材54には、これらのねじ歯車49にそれぞれ対応して
噛合するねじ歯車52が取り付けられており、これによ
り搬送ローラ43がモータ44の駆動により回転し基板
Gが搬送されるようになっている。
【0037】1対の搬送ローラ43にはそれぞれ載置部
43aが設けられており、この載置部43a上にガラス
基板Gが載置されるようになっている。また、載置部4
3aにはその基板Gの載置面に沿って図示しないOリン
グが装着され基板Gの搬送時における衝撃が吸収される
ようになっている。
【0038】装置端部には、基板Gの受け渡しを行うた
めの複数の受け渡しピン46が配置され、図6に示すよ
うに、これら複数の受け渡しピン46は駆動部58の昇
降駆動により連結部材47を介して一体的に、架台60
の上部に設けられた開口部60aから昇降されるように
なっている。
【0039】この受け渡しピン46により、熱処理系ブ
ロック29の最下段と熱処理系ブロック28の最下段と
の間で基板の受け渡しが可能となり、また、スクラバ洗
浄処理ユニット(SCR)20においては、搬送機構1
0及び熱処理系ブロック24の最下段との間で基板の受
け渡しが可能となる。
【0040】図7及び図8は、第1及び第2の搬送部A
1及びA2の間に配置された第3の搬送部A3の側面図
である。この第3の搬送部A3には、リフト支持部材6
6を介して保持部41をリフトアップさせるためのリフ
トアップモータMが設けられている。このリフトアップ
モータMのリフトアップ動作により基板Gを搬送させな
がら持ち上げるようになっている。第2の搬送部A2も
同様に、リフトアップモータMが設けられており、基板
Gを搬送させながら持ち上げるようになっている。
【0041】この第3の搬送部A3の搬送方向の長さ
は、基板Gの搬送方向1辺より短く構成されており、本
実施形態では、例えば基板Gの搬送方向1辺のほぼ半分
の長さを有し、より好ましくは、半分よりやや大きい程
度がよい。
【0042】本実施形態では、例えばこの第1の搬送部
A1による搬送速度をV1、第2の搬送部A2による搬
送速度をV1よりも遅いV2と設定し、第3の搬送部A
3による搬送速度はV2からV1まで可変とする。
【0043】なお、第3の搬送部A3における軸部材5
4は、例えば、タイミングベルト68を介してモータ4
4の回転駆動を搬送ローラ43に伝えるようになってい
る。
【0044】以上のように構成された塗布現像処理シス
テム1の処理工程については、先ずカセットC内の基板
Gが処理部3部における上流部3bに搬送される。上流
部3bでは、エキシマUV処理ユニット(e−UV)1
9において表面改質・有機物除去処理が行われ、次にス
クラバ洗浄処理ユニット(SCR)20において、搬送
装置により基板Gが略水平に搬送されながら洗浄処理及
び乾燥処理等が行われる。続いて熱処理系ブロック24
の最下段部で垂直搬送ユニットにおける搬送アーム5a
により基板Gが取り出され、同熱処理系ブロック24の
ベーキングユニット(BAKE)にて加熱処理、アドヒ
ージョンユニット(AD)にて疎水化処理が行われ、熱
処理系ブロック25のクーリングユニット(COL)に
よる冷却処理が行われる。
【0045】次に、基板Gは搬送アーム5aから搬送シ
ャトル23に受け渡される。そしてレジスト塗布処理ユ
ニット(CT)に搬送され、レジストの塗布処理が行わ
れた後、減圧乾燥処理ユニット(VD)にて減圧乾燥処
理、エッジリムーバ(ER)にて基板周縁のレジスト除
去処理が順次行われる。
【0046】次に、基板Gは搬送シャトル23から垂直
搬送ユニット7の搬送アームに受け渡され、熱処理系ブ
ロック26におけるプリベーキングユニット(PREB
AKE)にて加熱処理が行われた後、熱処理系ブロック
29におけるクーリングユニット(COL)にて冷却処
理が行われる。続いて基板Gはエクステンションクーリ
ングユニット(EXTCOL)35にて冷却処理される
とともに露光装置にて露光処理される。
【0047】次に、基板Gは垂直搬送ユニット8及び7
の搬送アームを介して熱処理系ブロック29のポストエ
クスポージャーベーキングユニット(PEBAKE)に
搬送され、ここで加熱処理が行われた後、クーリングユ
ニット(COL)にて冷却処理が行われる。そして基板
Gは垂直搬送ユニット7の搬送アームを介して熱処理系
ブロック29の最下段において搬送装置の受け渡しピン
46に受け渡され、基板Gは搬送装置71〜73により
略水平に搬送されながら現像処理、リンス処理及び乾燥
処理が行われる。
【0048】次に、基板Gは熱処理系ブロック28にお
ける最下段から垂直搬送ユニット6の搬送アーム6aに
より受け渡され、熱処理系ブロック28又は27におけ
るポストベーキングユニット(POBAKE)にて加熱
処理が行われ、クーリングユニット(COL)にて冷却
処理が行われる。そして基板Gは搬送機構10に受け渡
されカセットCに収容される。
【0049】次に図9及び図10を参照して、現像処理
ユニット(DEV)18における処理について説明す
る。
【0050】図9(a)に示すように、例えば、基板G
1が第1の搬送部A1上を速度V1で搬送しており、次
の基板G2が受け渡しピン46に受け渡される。このと
きの第3の搬送部A3の搬送速度は第1の搬送部A1と
同一のV1である。同図(b)に示すように、基板G1
が搬送されながら現像液ノズル61により現像液が盛ら
れる。同図(c)に示すように、基板G1が第3の搬送
部A3まで搬送され、基板G1の搬送先端が第3の搬送
部A3の下流端まで搬送されてくると、例えば反射式の
光センサS1が当該基板の搬送先端を検知する。この検
知を基に、同図(d)に示すように第3の搬送部A3及
び第2の搬送部A2が同時にリフトアップされるととも
に、第3の搬送部A3の搬送速度がV2に変更され第2
の搬送部A2の速度に同一とされる。
【0051】すなわち、基板G1の液盛りが終了する
と、放置現像するために放置時間が必要となるので、V
1>V2とし、放置現像処理時の搬送距離を可及的に小
さくしている。ここで、V1>V2であるので基板G2
と基板G1との距離は小さくなっていく。
【0052】そして、図10(a)に示すように、基板
G1が第3の搬送部A3から第2の搬送部A2へ搬送さ
れ、基板Gの搬送後端が第3の搬送部A3の上流端に来
たときに、当該基板Gの後端が通過した直後を例えば反
射式の光センサS2が検知する。この検知を基に、同図
(b)に示すように第3の搬送部A3及び第2の搬送部
A2を同時に下降させる。このとき基板G2は現像液の
液盛りが行われている。そして同図(c)に示すよう
に、基板G1の搬送後端が第3の搬送部A3の下流端を
通過した直後を光センサS1により検知する。そしてこ
の検知を基に、第3の搬送部A3の搬送速度をV1に変
える。これにより、基板G1との距離を縮めて搬送され
てくる基板G2に対して、基板G1と同様の搬送動作を
繰り返す。
【0053】以上のように、本実施形態によれば、1枚
の基板G1が第1の搬送部と第3の搬送部とにまたがっ
て搬送されているときであって、第1の搬送部A1上に
ある当該1枚の基板の面積よりも第3の搬送部A3上に
ある面積が大きくなったときに、第3及び第2の搬送部
A3及びA2をリフトアップするとともに、第3の搬送
部A3の搬送速度をV2としているので、基板G1の全
面が第3の搬送部A3上になくても基板G1を第3の搬
送部A3から第2の搬送部A3へ連続して搬送させるこ
とができる。すなわち、従来は緩衝用の搬送部の搬送方
向長さを基板の搬送方向1辺の長さ以上を必要としてい
たが、本実施形態によれば、小さいフットプリントで緩
衝用の搬送部である第3の搬送部A3を設けることがで
きる。
【0054】また、従来のように基板の搬送方向1辺の
長さ以上の緩衝用の搬送部をリフトアップさせないで基
板を搬送させる場合に比べ、本実施形態では、第1の搬
送部A1において基板同士の距離を詰めて搬送させるこ
とができるので、搬送効率及び処理効率を向上させるこ
とができる。
【0055】図11は、上記スクラバ洗浄処理ユニット
(SCR)20を示す模式的な側面図である。このスク
ラバ洗浄処理ユニット(SCR)20には、ブラシ洗浄
室74、高圧洗浄室75及び液切り乾燥室76が、基板
Gの搬送上流側から順に配設されている。これら各室7
4、75及び76には、上流側から第1の搬送部B1、
第3の搬送部B3及び第2の搬送部B2が延設されてい
る。この搬送部B1、B2及びB3は、それぞれ上記第
1〜第3の搬送部A1〜A3に対応しているが、本実施
形態の搬送速度の設定は、現像処理ユニット(DEV)
18における搬送速度の設定と異なる。B1、B2の搬
送速度をV1、V2とすると、V1<V2としている。
【0056】また、各室74、75及び76には、基板
Gを回転により擦って洗浄するロールブラシ81、高圧
で基板Gに洗浄水を供給して洗浄する高圧洗浄ノズル8
2、基板に液切り用のエアを吹き付けて乾燥させるエア
ナイフ83が設けられている。高圧洗浄ノズル82及び
エアナイフ83は昇降駆動部85によってそれぞれ昇降
可能に設けられている。
【0057】図12に示すように、ブラシ洗浄室74で
洗浄された基板Gが、第1の搬送部B1及び第3の搬送
部B3にまたがったときに、第3の搬送部B3及び第2
の搬送部B2を同時にリフトアップさせるとともに、搬
送部B3の速度をV2に変えて搬送部B2と同一にす
る。また、このB3及びB2のリフトアップとともに、
高圧洗浄ノズル82及びエアナイフ83を、B3及びB
2のリフトアップ分の高さだけ上昇させ洗浄処理及び乾
燥処理を続行する。これにより、基板Gが高圧洗浄ノズ
ル82及びエアナイフ83に近づくことなく処理が行え
る。
【0058】本実施形態によれば、搬送及びフットプリ
ントの高効率を維持しつつ、ロールブラシによる洗浄処
理及び高圧洗浄処理に応じた搬送速度で基板を搬送させ
ることができる。
【0059】本発明は以上説明した実施形態には限定さ
れるものではなく、種々の変形が可能である。
【0060】例えば、上記実施形態では、第3の搬送部
A3又はB3の搬送速度をV2〜V1とし可変とした
が、これに限らず、第3の搬送部A3又はB3の搬送ロ
ーラを駆動させるモータ44を設けずにフリーとするこ
とも可能である。この場合、第3の搬送部A3又はB3
では、第1の搬送部A1又はB1から搬送される基板の
移動力により基板を搬送させることができる。
【0061】また、現像処理ユニット(DEV)におい
て、搬送装置71と搬送装置72との間に本発明に係る
緩衝用の搬送部を配置し、搬送装置72による搬送速度
を搬送装置71による搬送速度より速くするようにして
もよい。これにより、搬送及びフットプリントの高効率
を維持しつつ、現像処理及びリンス処理に応じた搬送速
度で基板を搬送させるようにすることができる。
【0062】また、現像処理ユニット(DEV)におい
て、搬送装置72及び73を搬送装置71のように3つ
の搬送部A1〜A3に分けるようにしてもよい。
【0063】更に、上記スクラバ洗浄処理ユニット(S
CR)20において、高圧洗浄室75の下流側に、超音
波洗浄水を供給するための超音波洗浄室を更に配置させ
る構成としてもよい。
【0064】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
緩衝用の搬送装置のフットプリントを可及的に小さくす
ることができる。また、緩衝用の搬送装置を有する搬送
装置全体の搬送効率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用される塗布現像処理システムの全
体構成を示す平面図である。
【図2】図1に示す塗布現像処理システムの正面図であ
る。
【図3】図1に示す塗布現像処理システムの背面図であ
る。
【図4】一実施形態に係る現像処理ユニットの模式的な
側面図である。
【図5】本発明の一実施形態に係る第1の搬送部の平面
図である。
【図6】図5に示す第1の搬送部の側面図である。
【図7】第1の搬送部と第2の搬送部との間に配置され
た第3の搬送部の側面図である。
【図8】第2の搬送部及び第3の搬送部のリフトアップ
状態を示す側面図である。
【図9】本発明の一実施形態に係る搬送動作を示す作用
図である。
【図10】同作用図である。
【図11】一実施形態に係るスクラバ洗浄処理ユニット
の模式的な側面図である。
【図12】図11に示すスクラバ洗浄処理ユニットにお
ける搬送装置の作用を示す模式的な側面図である。
【符号の説明】 G…ガラス基板 A1…第1の搬送部 A2…第2の搬送部 A3…第3の搬送部 M…リフトアップモータ V1、V2…速度 S1、S2…光センサ 18…現像処理ユニット 20…スクラバ洗浄処理ユニット 36…現像室 37…リンス室 38…液切り乾燥室 41…保持部 43…搬送ローラ 61…現像液ノズル 62…リンスノズル 63…エアナイフ 66…リフト支持部材 74…ブラシ洗浄室 75…高圧洗浄室 76…液切り乾燥室 81…ロールブラシ 82…高圧洗浄ノズル 83…エアナイフ 85…昇降駆動部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/13 101 G02F 1/13 101 5F031 1/1333 500 1/1333 500 5F046 G03F 7/20 501 G03F 7/20 501 H01L 21/027 H01L 21/30 502J 562 Fターム(参考) 2H088 FA17 FA21 FA24 FA30 HA01 MA20 2H090 JA06 JB02 JC07 JC08 JC19 2H097 DB20 LA12 3F033 BA01 BA02 BB14 BC03 BC07 BC09 3F044 AA13 AB03 AB10 AB23 CA05 CA10 CD08 5F031 CA05 FA02 FA11 FA12 FA14 GA02 GA47 GA48 GA49 GA53 GA57 HA05 HA33 HA48 HA57 HA58 HA60 JA06 JA22 JA36 LA13 LA14 MA02 MA03 MA06 MA23 MA24 MA26 PA02 5F046 AA17 CD01 CD03 CD06

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転する複数のローラ上に基板を載置さ
    せて基板を搬送させる第1の搬送部と、 回転する複数のローラ上に基板を載置させて、前記第1
    の搬送部の搬送速度と異なる速度で基板を搬送させる第
    2の搬送部と、 前記第1の搬送部と前記第2の搬送部との間に接続して
    配置され、搬送方向の長さが基板の搬送方向1辺より短
    い長さを有し、回転する複数のローラ上に基板を載置さ
    せて、前記第1の搬送部から搬送される基板を前記第2
    の搬送部へ搬送させる第3の搬送部と、 1枚の基板が前記第1の搬送部と前記第3の搬送部とに
    またがって搬送されているときであって、前記1枚の基
    板の前記第1の搬送部のローラ上にある面積よりも前記
    第3の搬送部のローラ上にある面積が大くなったとき
    に、前記第3の搬送部を前記第2の搬送部に接続させた
    状態で前記第1の搬送部から離間させる手段とを具備す
    ることを特徴とする基板搬送装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の基板搬送装置におい
    て、 前記第3の搬送部の搬送方向の長さは、基板の搬送方向
    1辺のほぼ半分であることを特徴とする基板搬送装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は請求項2に記載の基板搬送
    装置において、 前記第3の搬送部のローラ上に基板がないときは前記第
    3の搬送部の搬送速度を前記第1の搬送部の搬送速度と
    等しくし、前記第3の搬送部を前記第1の搬送部から離
    間させた直後に、前記第3の搬送部による基板の搬送速
    度を、前記第2の搬送部の搬送速度と等しくする手段を
    更に具備することを特徴とする基板搬送装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の基板搬送装置におい
    て、 前記第3の搬送部により搬送される基板の搬送後端が前
    記第3の搬送部の搬送上流端を通過した直後に、前記第
    3の搬送部を前記第2の搬送部に接続させた状態で前記
    第1の搬送部に接続させる手段と、 前記第2の搬送部により搬送される基板の搬送後端が前
    記第2の搬送部の搬送上流端を通過した直後に、前記第
    3の搬送部の搬送速度を前記第1の搬送部の搬送速度と
    等しくする手段とを更に具備することを特徴とする基板
    搬送装置。
  5. 【請求項5】 請求項2から請求項4のうちいずれか1
    項に記載の基板搬送装置において、 前記第3の搬送部の搬送下流端に搬送されて来る基板の
    搬送先端を検知する第1のセンサを更に具備することを
    特徴とする基板搬送装置。
  6. 【請求項6】 請求項2から請求項5のうちいずれか1
    項に記載の基板搬送装置において、 前記第3の搬送部の搬送上流端に搬送される基板の搬送
    後端を検知する第2のセンサを更に具備することを特徴
    とする基板搬送装置。
  7. 【請求項7】 請求項1から請求項6のうちいずれか1
    項に記載の基板搬送装置において、 前記第1の搬送部により搬送される基板上に現像液を供
    給する手段を更に具備し、 前記第3の搬送部及び前記第2の搬送部により、前記第
    1の搬送部の搬送速度より遅い速度で基板を搬送させな
    がら現像を行うことを特徴とする基板搬送装置。
  8. 【請求項8】 請求項1から請求項6のうちいずれか1
    項に記載の基板搬送装置において、 前記第1の搬送部により搬送される基板上に現像液を供
    給して現像を行う手段と、 前記第2の搬送部により、前記第1の搬送部による搬送
    速度より速い速度で基板を搬送させながら該基板上にリ
    ンス液を供給して前記現像液を洗い流す手段とを更に具
    備することを特徴とする基板搬送装置。
  9. 【請求項9】 請求項1から請求項6のうちいずれか1
    項に記載の基板搬送装置において、 前記第1の搬送部により搬送される基板を回転により洗
    浄するロールブラシと、 前記第2の搬送部により、前記第1の搬送部の搬送速度
    より速い速度で基板を搬送させながら該基板上に高圧洗
    浄液を供給する手段と、 前記第2の搬送部により基板上にエアを供給して液切り
    乾燥する手段とを更に具備することを特徴とする基板搬
    送装置。
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