DE4344294A1 - Vorrichtung und Verfahren zum Testen der Funktion einer integrierten Schaltung - Google Patents

Description

Diese Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Testen der Funktion einer integrierten Schaltung (im folgenden als eine "IC" bezeichnet).

Fig. 8 zeigt ein Diagramm, das eine interne Unterschei­ dungsschaltung einer bekannten Funktionstestvorrichtung zum Testen des Funktion einer IC veranschaulicht. Wie in Fig. 8 veranschaulicht, bezeichnet ein Bezugszeichen 9 eine IC, die bezüglich ihrer Funktionen im Funktionstest getestet werden soll. Wenn der Funktionstest durchgeführt wird, wird die IC 9 elektrisch mittels eines Testkontakt­ stifts 14 mit einer internen Unterscheidungsschaltung der bekannten Funktionstestvorrichtung verbunden, so daß die IC 9 getestet wird. Fig. 6 ist ein Blockdiagramm der IC 9.

Die Struktur der Unterscheidungsschaltung der bekannten Funktionstestvorrichtung wird nun beschrieben, wobei sie eine Bezugssignal-Erzeugungseinheit 1 zum Erzeugen eines Bezugssignals (im folgenden als "DO" bezeichnet) für die Funktionstestvorrichtung umfaßt, eine Startzeitpunkt­ signal-Erzeugungsschaltung 2 (im folgenden als eine "SET­ ZEN-Erzeugungsschaltung" bezeichnet) zum Erzeugen eines Unterscheidungs-Startzeitpunktsignals (im folgenden als "SETZEN" bezeichnet), eine Beendigungszeitpunktsignal- Erzeugungsschaltung 3 (im folgenden als eine "RÜCKSETZEN- Erzeugungsschaltung" bezeichnet) zum Erzeugen eines Unterscheidungs-Beendigungszeitpunktsignals (im folgenden als "RÜCKSETZEN" bezeichnet) und ein RS-Flip-Flop 4 zum Erzeugen eines Unterscheidungsbereichssignals (im folgen­ den als "WIND" bezeichnet), das einen Unterscheidungszeit­ bereich unter Verwendung des von der SETZEN-Erzeugungs­ schaltung 2 erzeugten Zeitpunktsignals SETZEN und des von der RÜCKSETZEN-Erzeugungsschaltung 3 erzeugten Beendi­ gungszeitpunktsignals RÜCKSETZEN anzeigt. Die Unterschei­ dungsschaltung der Testvorrichtung umfaßt weiterhin einen Testmusterspeicher 5 zum Speichern von Testmusterdaten (im folgenden als "DATEN" bezeichnet) zum Schalten zwischen Hochpegelunterscheidung und Niedrigpegelunterscheidung und ein D-Flip-Flop 6 zum Erzeugen eines Signals (im folgenden als "SDATEN" bezeichnet) mittels Speichern der vom Test­ musterspeicher 5 übertragenen Testmusterdaten DATEN mit­ tels des Zeitpunktsignals SETZEN von der SETZEN-Erzeu­ gungsschaltung 2. Die Unterschiedungsschaltung der Test­ vorrichtung umfaßt außerdem weiterhin ein UND-Gatter 7 zum Erzeugen eines logischen Produktsignals (im folgenden als "HWIND" bezeichnet), das das logische Produkt des vom RS- Flip-Flop 4 gelieferten Unterscheidungsbereichssignals WIND und des vom D-Flip-Flop 6 gelieferten Signals SDATEN anzeigt, und ein anderes UND-Gatter 8 zum Erzeugen eines logischen Produktsignals (im folgenden als "NWIND" be­ zeichnet), das das logische Produkt des Unterscheidungs­ bereichssignals WIND und eines inversen Signals SDATEN von SDATEN anzeigt.

Bezugszeichen 10 bezeichnet eine Hochpegel-Vergleichsspan­ nungs-Erzeugungsschaltung zum Empfangen von vorhergesagten Hochpegel-Vergleichsspannungsdaten, die von einer Steuer­ schaltung 19 übertragen werden, die die Funktionstestvor­ richtung steuert, und zum Liefern einer Hochpegel- Vergleichsspannung entsprechend den Daten von der Steuer­ schaltung 19. Bezugszeichen 11 bezeichnet eine Potential­ vergleichsschaltung zum Erzeugen eines Hochpegel-Ver­ gleichssignals (im folgenden als "HCOM" bezeichnet) mit­ tels Vergleichen eines Potentials einer Ausgangsspannung (im folgenden als "DAUS" bezeichnet), die von der zu tes­ tenden IC 9 geliefert wird, mit dem Potential der Hochpegel-Vergleichsspannung. 12 bezeichnet eine Niedrig­ pegel-Vergleichsspannungs-Erzeugungsschaltung zum Empfan­ gen von vorhergesagten Niedrigpegel-Vergleichsspannungs­ daten, die von der Steuerschaltung 19 übertragen werden, und zum Liefern einer Niedrigpegel-Vergleichsspannung entsprechend den von der Steuerschaltung 19 übertragenen Daten. 13 bezeichnet eine Potentialvergleichsschaltung zum Erzeugen eines Niedrigpegel-Vergleichssignals (im folgen­ den als "NCOM" bezeichnet) mittels Vergleichen des Poten­ tials der Ausgangsspannung DAUS der zu testenden IC 9 mit dem Potential der Niedrigpegel-Vergleichsspannung. 15 be­ zeichnet ein UND-Gatter zum Erzeugen eines Hochpegel De­ fektsignals (im folgenden als "HERR 1" bezeichnet), das das logische Produkt des von der Potentialvergleichsschal­ tung 11 gelieferten Hochpegel-Vergleichssignals HCOM und des vom UND-Gatter 7 gelieferten logischen Produktsignals HWIND ist. 16 bezeichnet ein UND-Gatter zum Erzeugen eines Niedrigpegel-Defektsignals (im folgenden als "NERR 1" be­ zeichnet), das das logische Produkt des von der Potential­ vergleichsschaltung 13 gelieferten Niedrigpegel-Ver­ gleichssignals NCOM und des vom UND-Gatter 8 gelieferten logischen Produktsignals NWIND ist. 17 bezeichnet eine Speicherschaltung zum Speichern des Hochpegel-Defektsig­ nals HERR 1, 18 eine Speicherschaltung zum Speichern des Niedrigpegel-Defektsignals NERR 1. 20 bezeichnet eine Sig­ nalleitung zum Übertragen des gespeicherten Hochpegel- Defektsignals HERR 1, das von der Speicherschaltung 17 gespeichert ist, zur Steuerschaltung 19. 21 bezeichnet ebenso eine Signalleitung zum Übertragen des gespeicherten Niedrigpegel-Defektsignals NERR 1, das durch die Spei­ cherschaltung 18 gespeichert ist, zur Steuerschaltung 19. 22 bezeichnet eine Signalleitung zum Übertragen von von der Steuerschaltung 19 gelieferten Setz-Daten zur SETZEN- Erzeugungsschaltung 2, zur RÜCKSETZEN-Erzeugungsschaltung 3, zum Testmusterspeicher 5 und zu den Vergleichsspannung­ serzeugungsschaltungen 10 und 12.

Die Funktion der Unterscheidungsschaltung der bekannten, in Fig. 8 gezeigten IC-Funktionstestvorrichtung wird im folgenden beschrieben. Ein Vorgang, der durchgeführt wer­ den muß, bevor der Funktionstest durchgeführt wird, wird nun beschrieben. Die Steuerschaltung 19 überträgt über die Signalleitung 22 die Startzeitpunktdaten zur SETZEN-Erzeu­ gungsschaltung 2 mit denen das RS-Flip-Flop 4 das Unter­ scheidungsbereichssignal WIND liefert, überträgt die Been­ digungszeitpunktdaten zur RÜCKSETZEN-Erzeugungsschaltung 4 mit denen das RS-Flip-Flop 4 das Liefern des Unterschei­ dungsbereichsignals WIND stoppt, überträgt alle Testmus­ terdaten DATEN, die erforderlich sind, um die Funktionen zu testen, zum Testmusterspeicher 5, überträgt die vorher­ gesagten Hochpegel-Vergleichsspannungsdaten zur Hochpegel- Vergleichsspannungserzeugungsschaltung 10 und überträgt die vorhergesagten Niedrigpegel-Vergleichsspannungsdaten zur Niedrigpegel-Vergleichsspannungserzeugungsschaltung 12.

Ein Vorgang, der während des Funktionstests durchgeführt werden muß, wird im folgenden beschrieben. Fig. 9 ist eine Impulsübersicht der Funktions-Ablaufsteuerung der Unter­ scheidungsschaltung der IC-Funktionstestvorrichtung. Die SETZEN-Erzeugungsschaltung 2 empfängt das Bezugssignal DO von der Bezugssignal-Erzeugungseinheit 1, verzögert das Bezugssignal DO in einem Zeitintervall entsprechend der Menge der Startzeitpunktdaten, die von der Steuerschaltung 19 übertragen werden, und erzeugt das Unterscheidungs- Startzeitpunktsignal SETZEN. Die RÜCKSETZEN-Erzeugungs­ schaltung 3 empfängt das von der Bezugssignal- Erzeugungseinheit 1 gelieferte Bezugssignal DO, verzögert das Bezugssignal DO in einem Zeitintervall entsprechend der Menge der Beendigungszeitpunktdaten, die von der Steuerschaltung 19 übertragen werden, und liefert das Unterscheidungs-Beendigungszeitpunktsignal RÜCKSETZEN. Das RS-Flip-Flop 4 empfängt die Zeitpunktsignale SETZEN und RÜCKSETZEN und erzeugt das Unterscheidungsbereichssignal WIND. Das Unterscheidungs-Startzeitpunktsignal SETZEN dient als die Setz-Eingabe für das RS-Flip-Flop 4 und das Unterscheidungs-Beendigungszeitpunktsignal RÜCKSETZEN di­ ent als Rücksetz-Eingabe für das RS-Flip-Flop 4. Das heißt, das Unterscheidungsbereichssignal WIND wird ein Hochpegel-Signal während eines Zeitraums von der Anstiegs­ zeit des SETZEN bis zur Anstiegszeit des RÜCKSETZEN, wie in Fig. 9 gezeigt. Der Testmusterspeicher 5 triggert das Bezugssignal DO, um aufeinanderfolgend die Testmusterdaten DATEN zuzuführen. Das D-Flip-Flop 6 empfängt die Testmus­ terdaten DATEN, die vom Testmusterspeicher 5 übertragen werden, und das Unterscheidungs-Startzeitpunktsignal SET­ ZEN, um das Signal SDATEN zu liefern. Die Testmusterdaten DATEN sind eine Dateneingabe und das Zeitpunktsignal SET­ ZEN ist eine Takteingabe. Deshalb wird das Signal SDATEN mittels Speichern der Testmusterdaten DATEN zur Anstiegs­ zeit des Zeitpunktsignals SETZEN erzeugt. Als ein Resultat wird Information des Signals SDATEN bis zur Anstiegszeit des nächsten SETZEN gehalten, den Zeitabschnitt über­ schreitend. Wenn der Pegel des Unterscheidungsbereichssig­ nals WIND hoch ist, während der Pegel von SDATEN hoch ist, wie im N-ten Zeitabschnitt in Fig. 9 gezeigt, empfängt das UND-Gatter 7 das Unterscheidungsbereichssignal WIND und gibt das logische Produktsignal HWIND auf einem hohen Pe­ gel aus. Daher wird eine Hochpegel-Unterscheidung in dem Zeitabschnitt durchgeführt, in dem der Pegel des logischen Produktsignals HWIND hoch ist. Wenn der Pegel des Unter­ scheidungsbereichssignals WIND während des Zeitabschnitts hoch ist, in dem der Pegel von SDATEN niedrig ist, wie im N+1-ten Zeitabschnitt in Fig. 9 gezeigt, empfängt das UND- Gatter 8 das Unterscheidungsbereichssignal WIND und gibt das logische Produktsignal NWIND auf hohem Pegel aus. Des­ halb wird eine Niedrigpegel-Unterscheidung in dem Zeit­ abschnitt durchgeführt, in dem der Pegel des logischen Produktsignals NWIND hoch ist.

Die Funktionstestbeurteilung ist derart definiert, daß eine Defekt-Niedrigpegel-Unterscheidung gemacht wird, wenn das Potential der Ausgangsspannung DAUS von der IC 9 höher als die Hochpegel-Vergleichsspannung im Hochpegel-Unter­ scheidungs-Zeitabschnitt wird. Eine Defekt-Niedrigpegel- Unterscheidung wird gemacht, wenn das Potential der Aus­ gangsspannung DAUS der IC 9 niedriger wird als die Niedrigpegel-Vergleichsspannung im Niedrigpegel-Unter­ scheidungs-Zeitabschnitt. Die Spannungserzeugungsschaltung erzeugt eine Hochpegel-Vergleichsspannung entsprechend den vorhergesagten Hochpegel-Vergleichsspannungsdaten, die von der Steuerschaltung 19 geliefert werden. Die Poten­ tialvergleichsschaltung 11 liefert das Vergleichssignal HCOM durch Empfangen der Hochpegel-Vergleichsspannung an einem positiven Vergleichsanschluß und der Ausgangsspan­ nung DAUS von der IC 9 an einem negativem Vergleichsansch­ luß und Vergleichen der Hochpegel-Vergleichsspannung und der Ausgangsspannung DAUS von der IC 9. Der Pegel des Vergleichssignals HCOM wird hoch, wenn das Potential der Ausgangsspannung DAUS von der IC 9 höher ist als der der Hochpegel-Vergleichsspannung, andererseits wird derselbe in einem entgegengesetzten Fall niedrig. Das UND-Gatter 15 empfängt das vom UND-Gatter 7 übertragene logische Pro­ duktsignal HWIND und das Vergleichssignal HCOM, um das Signal HERR 1 zu erzeugen. Wie im N-ten Zeitabschnitt in Fig. 9 gezeigt, überträgt das UND-Gatter 15 das Hochpegel HERR 1, wenn der Pegel des Vergleichssignals HCOM während des Zeitabschnitts hoch ist, in dem das logische Produkt­ signal HWIND hoch ist. Daher zeigt das UND-Gatter 15 an, daß es einen Zeitabschnitt während des Hochpegel- Unterscheidungs-Zeitabschnitts gab, in dem die Defekt- Hochpegel-Unterscheidung gemacht wurde, wobei die Unter­ scheidung in Übereinstimmung mit dem Ergebnis des Ver­ gleichs mit der Hochpegelspannung gemacht wird, der durch die Potentialvergleichsschaltung 11 durchgeführt wird. Die Speicherschaltung 17 speichert HERR 1, um über die Signal­ leitung 20 zur Steuerschaltung 19 Information zu übertra­ gen, die anzeigt, daß die Hochpegel-Defekt-Unterscheidung gemacht wurde.

Die Spannungserzeugungsschaltung 12 erzeugt die Niedrigpegel-Vergleichsspannung, die den von der Steuer­ schaltung 19 übertragenen Niedrigpegel-Vergleichsspan­ nungsdaten entspricht. Die Potentialvergleichsschaltung 13 empfängt die Ausgangsspannung DAUS der IC 9 an ihrem posi­ tiven Vergleichsanschluß und die Niedrigpegel-Vergleichs­ spannung an ihrem negativen Vergleichsanschluß, um die Niedrigpegel-Vergleichsspannung und die Ausgangsspannung DAUS der IC 9 zu vergleichen, um das Vergleichssignal NCOM zu liefern. Der Pegel des Vergleichssignals NCOM wird hoch, wenn die Ausgangsspannung DAUS von der IC 9 niedri­ ger ist als die Niedrigpegel-Vergleichsspannung. Derselbe wird im entgegengesetzten Fall niedrig. Gemäß dem veran­ schaulichten Beispiel der Ausgabe überträgt das UND-Gatter 16 das Hochpegel NERR 1, wenn der Pegel des Vergleichssig­ nals NCOM während der Zeitabschnitts hoch ist, in dem das logische Produktsignal NWIND hoch ist, wie im N+1-ten Zeitabschnitt in Fig. 9 gezeigt. D.h., das UND-Gatter 16 zeigt an, daß es einen Zeitabschnitt während des Niedrigpegel-Unterscheidungs-Zeitabschnitts gab, in dem die Defekt-Niedrigpegel-Unterscheidung gemacht wurde, wo­ bei die Unterscheidung in Übereinstimmung mit dem Ergebnis des Vergleichs der Niedrigpegelspannung gemacht wird, der durch die Potentialvergleichsschaltung 13 durchgeführt wird. Die Speicherschaltung 18 speichert NERR 1, um über die Signalleitung 21 zur Steuerschaltung 19 Information zu übertragen, die anzeigt, daß die Defekt-Niedrigpegel- Unterscheidung gemacht wurde. Als ein Ergebnis wird die Information, die anzeigt, daß die Defekt-Hochpegel- Unterscheidung gemacht wurde, und die Information, die anzeigt, daß die Defekt-Niedrigpegel-Unterscheidung ge­ macht wurde, für die Steuerschaltung 19 verwendet, um das Ergebnis des Funktionstests zu erkennen, dem die IC 9 un­ terzogen wurde, ob das Ergebnis zufriedenstellend war oder nicht.

Wenn das RÜCKSETZEN eingerichtet wird, um den Zeitab­ schnitt wie in Fig. 10 gezeigt zu überschreiten, werden die zur Anstiegszeit des Unterscheidungs-Startzeitpunkt­ signals SETZEN im N-ten Zeitabschnitt gespeicherten SDATEN bis zur Anstiegszeit des Unterscheidungs-Startzeitpunkt­ signals SETZEN im N+1-ten Zeitabschnitt gehalten. Der Hochpegel-Zeitabschnitt des Unterscheidungsbereichsignals WIND geht vom Anstiegszeitpunkt des Unterscheidungs-Start­ zeitpunktsignals SETZEN im N-ten Zeitabschnitt bis zum Anstiegszeitpunkt des Unterscheidungs-Beendigungszeit­ punktsignals RÜCKSETZEN im N+1-ten Zeitabschnitt. Das UND- Gatter 7 überträgt das logische Produktsignal HWIND, das zwei Zeitabschnitte überschreitet in Übereinstimmung mit SDATEN und dem Unterscheidungsbereichssignal WIND. Als ein Ergebnis kann die Unterscheidungsschaltung der IC Funk­ tionstestvorrichtung die Hochpegelunterscheidung, die zwei Zeitabschnitte überschreitet, ausführen. Ebenso überträgt das UND-Gatter 8 das logische Produktsignal NWIND, das zwei Zeitabschnitte überschreitet, als ein Ergebnis einer ähnlichen Anordnung wie gezeigt, vom N+1-ten Zeitabschnitt zum N+2-ten Zeitabschnitt. Deshalb ist die Unterschei­ dungsschaltung der IC-Funktionstestvorrichtung in der Lage, den die zwei Zeitabschnitte überschreitenden Nie­ drigpegel zu unterscheiden.

Im Trend der Erniedrigung des Potentials der integrierten Schaltungen wurden Versuche durchgeführt, um die elektri­ schen Charakteristiken von integrierten Schaltungen auf niedrigen Spannungspegeln zu verwirklichen. Daher werden Funktionstests manchmal derart durchgeführt, daß Spannung mit niedrigem Potential an eine Netzspannung Vcc der IC 9 angelegt wird. Jedoch bewirkt der Wechsel von Vcc, daß die elektrischen Charakteristiken der IC 9 den Ausgabezeit­ punkt der Ausgabedaten DAUS von der IC 9 verändern, wie in Fig. 7 gezeigt. D.h. der Ausgabezeitpunkt für die Aus­ gangsspannung DAUS ist um ΔT verzögert, wenn Vcc eine nie­ drige Spannung ist, verglichen mit einem Fall, in dem es eine hohe Spannung ist. Da die bekannte IC Unterschei­ dungsschaltung zum Durchführen des Funktionstests wie vorstehend beschrieben aufgebaut ist, entsteht das Pro­ blem, daß Daten zum Setzen des Zeitpunkts der SETZEN- Erzeugungsschaltung 2 und die für die RÜCKSETZEN- Erzeugungsschaltung 3 verändert werden müssen, um den Un­ terscheidungsbereich entsprechend der Veränderung im Aus­ gabezeitpunkt der Ausgabedaten DAUS von der IC 9 zwischen den zwei Fällen zu verändern, in denen der Funktionstest mittels Anlegen einer hohen Spannung an Vcc und derselbe mittels Anlegen einer niedrigen Spannung an Vcc durch­ geführt wird.

Ausgabedaten sind als DAUS 1 definiert, wenn der Funk­ tionstest durchgeführt wird, während eine hohe Spannung an die Netzspannung Vcc der zu testenden IC 9 angelegt wird, wie im N-ten Zeitabschnitt in Fig. 11 gezeigt. In diesem Fall enthält der Bereich, in dem der Pegel von HWIND hoch ist, d. h., der Hochpegel-Unterscheidungsbereich, keinen Zeitbereich, in dem das Hochpegel-Vergleichssignal HCOM hoch ist. Daher ergibt der durch die Potentialvergleichs­ schaltung 11 durchgeführte Hochpegel-Spannungsvergleich, daß die Ausgangsspannung DAUS 1 der zu testenden IC 9 die Hochpegel-Vergleichsspannung nicht überschreitet. Als ein Ergebnis wird kein Hochpegel HERR 1 übertragen und deshalb gibt es keinen Zeitbereich, in dem der Defekt-Hochbereich unterschieden wird. Jedoch, wenn niedrige Spannung an die Netzspannung Vcc angelegt wird, um den Funktionstest durchzuführen, wird die Ausgangsspannung DAUS II der zu testenden IC 9 um ΔT_II verzögert, wie in Fig. 11 gezeigt. Dies führt zu einer Tatsache, daß der Zeitbereich, in dem der Pegel von HCOM hoch ist, verzögert wird. Als ein Er­ gebnis enthält der Hochpegel-Unterscheidungsbereich zwangsläufig den Zeitbereich, in dem der Pegel des Hochpegel-Vergleichssignals HCOM hoch ist. Als ein Ergeb­ nis wird im vorstehenden Zeitbereich, wie durch eine ge­ strichelte Linie gezeigt, HERR 1 mit einem hohen Pegel übertragen und deshalb wird ein Defekt-Hochpegel un­ erwünscht unterschieden.

Wenn der Funktionstest durchgeführt wird, während eine hohe Spannung angelegt wird, gibt es keinen Zeitbereich im Niedrigpegel-Unterscheidungsbereich, wie im N+1-ten Zeit­ abschnitt in Fig. 11 gezeigt, in dem der Hochpegel NCOM übertragen wird. Daher wird kein Hochpegel NERR 1 übertra­ gen und daher gibt es keinen Zeitbereich, in dem die Defekt-Niedrigpegel-Unterscheidung gemacht wird. Jedoch, wenn der Test durch Anlegen einer niedrigen Spannung durchgeführt wird, wird die Ausgangsspannung DAUS II von der IC 9 unerwünscht um ΔT_II verzögert. In diesem Fall gibt es den Zeitbereich im Niedrigpegel-Unterscheidungs­ bereich, in dem ein höher Pegel NCOM übertragen wird. Als ein Ergebnis wird das Hochpegel NERR 1 im vorstehenden Zeitbereich übertragen, wie durch eine gestrichelte Linie angezeigt, und daher wird der Defekt-Niedrigpegel un­ erwünscht unterschieden.

Die vorliegende Erfindung hat die Aufgabe die vorstehenden Probleme zu lösen und es ist daher eine Aufgabe der vor­ liegenden Erfindung, eine IC-Funktionstestvorrichtung zu erhalten, die eine Unterscheidungsschaltung enthält, die fähig ist, das Ergebnis eines Funktionstests unabhängig von einer Veränderung im Ausgabezeitpunkt der Ausgabedaten DAUS der IC zu unterscheiden.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch eine Vor­ richtung zum Testen der Funktion einer IC mit: einem Testkontaktstift, der elektrisch mit der zu testenden IC in Kontakt kommt; und eine Unterscheidungsschaltung, wobei die Unterscheidungsschaltung folgendes umfaßt: einen ers­ ten Zeitpunktsignal-Erzeugungsteil zum Übertragen einen Unterscheidungs-Startzeitpunktsignals, das als ein Start­ punkt für einen Unterscheidungszeitbereich dient; einen zweiten Zeitpunktsignal-Erzeugungsteil zum Übertragen eines Unterscheidungs-Beendigungszeitpunktsignal, das als ein Endpunkt des Unterscheidungszeitbereichs dient; einen Testmuster-Übertragungsteil, der ein Testmuster speichert und das Testmuster ansprechend auf das vom ersten Zeitpunktsignal-Erzeugungsteil zugeführte Unterscheidungs- Startzeitpunktsignal überträgt; einem Spannungsvergleichs- und Unterscheidungsteil, der die Ausgangsspannung der zu testenden IC und vorhergesagte Spannungsdaten, die in der Vorrichtung zum Testen der Funktion für jedes Testmuster eingestellt sind, einem Vergleich unterzieht und unter­ scheidet, in einem Unterscheidungszeitbereich in Überein­ stimmung mit dem Testmuster, um ein Nichtdefekt- Unterscheidungssignal in einem Zeitbereich zu übertragen, in dem die Ausgangsspannung und die vorhergesagten Span­ nungsdaten miteinander im Unterscheidungszeitbereich über­ einstimmen; einem Unterscheidungssignal-Übertragungsteil zum Übertragen eines Unterscheidungssignals, dessen Start­ punkt des Unterscheidungs-Startzeitpunktsignal ist und dessen Endpunkt der Ausgabezeitpunkt des vom Span­ nungsvergleichs- und Unterscheidungsteil übertragenen Nichtdefekt-Unterscheidungssignals ist, für jedes Testmus­ ter und in Übereinstimmung mit dem Testmuster; und einem Unterscheidungsinformation-Übertragungsteil, der das Un­ terscheidungssignal zum Unterscheidungs-Beendigungszeit­ punkt speichert, der der Endpunkt des Unterscheidungszeit­ bereichs ist, um Nichtdefekt/Defekt-Unterscheidungsinfor­ mation zu übertragen, während eine Nichtdefekt- Unterscheidung gemacht wird, wenn die Unterscheidungszeit­ bereich den Zeitbereich enthält, in dem das Nichtdefekt- Unterscheidungssignal übertragen wird und in dem die Aus­ gangsspannung der zu testenden IC und die vorhergesagten Daten miteinander übereinstimmen.

Erfindungsgemäß wird eine Unterscheidung derart gemacht, daß eine Nichtdefekt-Unterscheidung gemacht wird, wenn ein Unterscheidungszeitbereich, der mit dem vom ersten Zeitpunktsignal-Erzeugungsteil übertragenen Zeitpunkt be­ ginnt und dem Zeitpunkt endet, die vom zweiten Zeitpunktsignal-Erzeugungsteil übertragen wird, einen Zeitbereich enthält, in dem Ausgabedaten DAUS der IC und vorhergesagte Spannungsdaten miteinander übereinstimmen, so daß der Funktionstest unabhängig von der Veränderung im Ausgabezeitpunkt der Ausgabedaten DAUS der IC durchgeführt werden kann.

Die Erfindung wird nachstehend anhand von einem Ausführungsbeispiel unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 einen Schaltplan, der ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;

Fig. 2 eine Impulsübersicht einer Hochpegel-Unterschei­ dungsfunktion gemäß dem Ausführungsbeispiel der vorliegen­ den Erfindung;

Fig. 3 eine Impulsübersicht einer Niedrigpegel-Unterschei­ dungsfunktion gemäß dem Ausführungsbeispiel der vorliegen­ den Erfindung;

Fig. 4 eine Impulsübersicht einer Hochpegel-Unterschei­ dungsfunktion, die mit niedriger Spannung durchgeführt ist, gemäß dem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Er­ findung;

Fig. 5 eine Impulsübersicht einer Hochpegel-Unterschei­ dungsfunktion, die mit einer niedrigeren Spannung durch­ geführt wird, gemäß dem Ausführungsbeispiel der vorliegen­ den Erfindung;

Fig. 6 ein Blockdiagramm, das eine zu testende IC veran­ schaulicht;

Fig. 7 eine Impulsübersicht, die die Veränderung im Ausga­ bezeitpunkt der IC veranschaulicht, die aufgrund der Veränderung in der Netzspannung auftritt;

Fig. 8 einen Schaltplan, der ein bekanntes Beispiel zeigt;

Fig. 9 eine Impulsübersicht, die die Unterscheidungsfunk­ tion des bekannten Beispiels veranschaulicht;

Fig. 10 eine Impulsübersicht, die die Unterscheidungsfunk­ tion des bekannten Beispiels veranschaulicht; und

Fig. 11 eine Impulsübersicht, die die Hochpegel-Unter­ scheidungsfunktion gemäß dem bekannten Beispiel zeigt, die mit niedriger Spannung durchgeführt wird.

Fig. 1 ist ein Schaltplan, der ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen IC-Funktionstestvorrichtung ver­ anschaulicht. Ähnlich der bekannten Vorrichtung wird die zu testende IC 9 mittels eines Testkontaktstifts 14 elek­ trisch mit der internen Unterscheidungsschaltung der in Figur gezeigten Funktionstestvorrichtung verbunden. Da die Elemente 1 bis 14 und 19 bis 22 dieselben sind, wie die der bekannten Funktionstestvorrichtung, werden dieselben Bezugszeichen verwendet und ihre Beschreibungen hier weg­ gelassen. Wie in Fig. 1 veranschaulicht, bezeichnet Be­ zugszeichen 23 ein UND-Gatter, das das von der SETZEN Erzeugungsschaltung 2, die als ein erster Zeitpunktsignal- Erzeugungsteil dient, gelieferte Unterscheidungs-Start­ zeitpunktsignal SETZEN und vom D-Flip-Flop 6 gelieferte SDATEN, um ein Hochpegel-Unterscheidungs-Startzeitpunkt­ signal (im folgenden als "HSETZEN" bezeichnet) zu übertra­ gen, das ein logisches Produktsignal von SETZEN und SDATEN ist. 24 bezeichnet ein UND-Gatter zum Übertragen eines Niedrigpegel-Unterscheidungs-Startzeitpunktsignals (im folgenden als "NSETZEN" bezeichnet), das ein logisches Produktsignal des Zeitpunktsignals SETZEN und eines inver­ sen Signals von SDATEN ist. 25 bezeichnet ein UND- Gatter, das die Ausgangsspannung DAUS der IC 9 empfängt, das von der Potentialvergleichsschaltung 11 übertragene inverse Signal HCOM des Hochpegel-Vergleichssignals HCOM und das vom UND-Gatter 7 übertragene HWIND, um ein Nichtdefekt-Hochpegel-Unterscheidungssignal (im folgenden als "HGO" bezeichnet) zu übertragen, das das logische Pro­ dukt von HCOM und HWIND ist. 26 bezeichnet ein RS-Flip- Flop, das ein Unterscheidungssignal-Übertragungsteil bil­ det, zum Übertragen eines Hochpegel-Unterscheidungssignals (im folgenden als "HJUD" bezeichnet) in Übereinstimmung mit dem Nichtdefekt-Hochpegel-Unterscheidungssignal HGO und dem vom UND-Gatter 23 übertragenen Hochpegel-Unter­ scheidungs-Startzeitpunktsignal HSETZEN. 27 bezeichnet ein D-Flip-Flop, das das Hochpegel-Unterscheidungssignal HJUD mit dem Unterscheidungs-Beendigungszeitpunktsignal RÜCK­ SETZEN speichert, das von der RÜCKSETZEN-Erzeugungs­ schaltung 3, die als ein zweiter Zeitpunktsignal-Erzeu­ gungsteil dient, geliefert wird, um ein Defekt-Hochpegel- Unterscheidungssignal (im folgenden als "HERR 2" bezeich­ net) zu übertragen. 28 bezeichnet eine Speicherschaltung, die HERR 2 speichert, um Defekt/Nichtdefekt-Unterschei­ dungssignalinformation über die Signalleitung 20 zur Steuerschaltung 19 zu übertragen. Bezugszeichen 29 be­ zeichnet ein UND-Gatter zum Übertragen eines Nichtdefekt- Niedrigpegel-Unterscheidungssignals (im folgenden als "NGO" bezeichnet), das das logische Produkt eines Inver­ sionssignals des von der Potentialvergleichsschaltung 13 übertragenen Niedrigpegel-Vergleichssignals NCOM und des vom UND-Gatter 8 übertragenen logischen Produktsignals NWIND ist. 30 bezeichnet eine RS-Flip-Flop zum Übertragen eines Niedrigpegel-Unterscheidungssignals - (im folgenden als "NJUD" bezeichnet) in Übereinstimmung mit dem Nichtdefekt-Niedrigpegel-Unterscheidungssignal NGO und dem vom UND-Gatter 24 übertragenen logischen Produktsignal NSETZEN. 31 bezeichnet ein D-Flip-Flop, das das Niedrig­ pegel-Unterscheidungssignal NJUD mit dem von der RÜCK­ SETZEN-Erzeugungsschaltung 3 übertragenen Unterschei­ dungs-Beendigungszeitpunktsignal RÜCKSETZEN speichert, um ein Defekt-Niedrigpegel-Unterscheidungssignal (im folgen­ den als "NERR 2" bezeichnet) zu übertragen. 32 bezeichnet eine Speicherschaltung, die das Defekt-Niedrigpegel- Unterscheidungssignal NERR 2 speichert, um Nichtdefekt/De­ fekt-Unterscheidungsinformation über die Signalleitung 21 zur Steuerschaltung 19 zu übertragen. Die UND-Gatter 7 und 8, die Spannungserzeugungsschaltungen 10 und 12, die Po­ tentialvergleichsschaltungen 11 und 13 und die UND-Gatter 25 und 29 bilden einen Spannungsvergleichs- und Unter­ scheidungsteil, der die Ausgangsspannung DAUS der IC 9 mit den vorhergesagten Spannungsdaten vergleicht, um eine Un­ terscheidung für jeden der hohen und niedrigen Pegel in Übereinstimmung mit den Testmusterdaten zu machen, um das Nichtdefekt-Hochpegel-Unterscheidungssignal HGO und das Nichtdefekt-Niedrigpegel-Unterscheidungssignal NGO in dem Zeitbereich zu übertragen, in dem die Ausgangsspannung DAUS und die vorhergesagten Spannungsdaten miteinander übereinstimmen. Die UND-Gatter 23 und 34 und die RS-Flip- Flops 26 und 30 bilden einen Unterscheidungssignal-Über­ tragungsteil zum Übertragen des Hochpegel-Unterscheidungs­ signals HJUD und des Niedrigpegel-Unterscheidungssignals NJUD für jeden der niedrigen und hohen Pegel in Überein­ stimmung mit den Testmusterdaten. Die D-Flip-Flops 27 und 31 und die Speicherschaltungen 28 und 32 bilden einen Unterscheidungsinformation-Übertragungsteil zum Übertragen von Nichtdefekt/Defekt-Unterscheidungsinformation.

Die Funktion des in Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird im folgenden beschrieben. Zuerst wird der vorhergehende Vorgang zum Durchführen des Funktionstests ähnlich dem bekannten Beispiel durch­ geführt. Da der vorhergehende Vorgang derselbe ist, wie im bekannten Beispiel, wird seine Beschreibung weggelassen. Ähnlich dem bekannten Beispiel erzeugt die SETZEN- Erzeugungsschaltung 2 das Unterscheidungs-Startzeitpunkt­ signal SETZEN und die RÜCKSETZEN-Erzeugungsschaltung 3 das Unterscheidungs-Beendigungszeitpunktsignal RÜCKSETZEN. Das D-Flip-Flop 6 liefert das Signal SDATEN, das durch Spei­ chern der vom Testmusterspeicher 5 gelieferten Testmuster­ daten DATEN erzeugt wird, zur Anstiegszeit des Unterscheidungs-Startzeitpunktsignals SETZEN. Das D-Flip- Flop 6 und der Testmusterspeicher 5 bilden einen Testmuster-Übertragungsteil. Das UND-Gatter 7 empfängt das Signal SDATEN und das vom RS-Flip-Flop 4 gelieferte Un­ terscheidungsbereichssignal WIND und erzeugt das logische Produktsignal HWIND, das den Hochpegel-Unterscheidungs­ zeitbereich anzeigt. Das UND-Gatter 8 empfängt das Inver­ sionssignal von SDATEN und das Unterscheidungsbe­ reichssignal WIND und überträgt das logische Produktsignal NWIND. Die Potentialvergleichsschaltung 11 empfängt an einem positiven Vergleichsanschluß die Hochpegel- Vergleichsspannung, die von der Spannungserzeugungsschal­ tung 10 gemäß den von der Steuerschaltung 19 gelieferten vorhergesagten Hochpegel-Vergleichsspannungsdaten erzeugt ist, und empfängt an einem negativen Vergleichsanschluß die Ausgangsspannung DAUS der IC 9, um das Potential der Hochpegel-Vergleichsspannung und das der Ausgangsspannung DAUS der IC 9 zu vergleichen und das Vergleichssignal HCOM zu erzeugen. Die Potentialvergleichsschaltung 13 empfängt an einem positiven Anschluß die Ausgangsspannung DAUS der IC 9 und an einem negativen Anschluß die Niedrigpegel- Vergleichsspannung, die durch die Vergleichsspannungs- Erzeugungsschaltung 12 gemäß den von der Steuerschaltung 19 gelieferten vorhergesagten Niedrigpegel-Vergleichsspan­ nungsdaten erzeugt ist, um das Potential von DAUS und das der Niedrigpegel-Vergleichsspannung zu vergleichen, um das Vergleichssignal NCOM zu erzeugen.

Die Hochpegel-Unterscheidung wird wie folgt durchgeführt. Fig. 2 ist eine Impulsübersicht, die den Funktionsablauf eines Beispiels der Hochpegel-Unterscheidung veranschau­ licht. In einem in Fig. 2 gezeigten Fall, in dem der Pegel von SETZEN hoch ist, während der Pegel von SDATEN, die durch das Speichern der Testmusterdaten DATEN zur An­ stiegszeit des Unterscheidungs-Startzeitpunktsignals SET­ ZEN erzeugt werden, hoch ist, empfängt das UND-Gatter 23 das Zeitpunktsignal SETZEN, um das logische Produktsignal HSETZEN von SETZEN und SDATEN zu übertragen. Das UND- Gatter 25 empfängt , das das Inversionssignal des Vergleichssignals HCOM ist, und das vom UND-Gatter 7 ge­ lieferte HWIND, um das Nichtdefekt-Unterscheidungssignal HGO zu übertragen, das das logische Produkt von HCOM und HWIND ist. Wenn der Pegel von in dem Zeitabschnitt hoch ist, in dem das logische Produktsignal HWIND hoch ist, wie im in Fig. 2 gezeigten N-ten Zeitabschnitt ge­ zeigt, überträgt das UND-Gatter 25 das Nichtdefekt- Hochpegel-Unterscheidungssignal HGO. Wenn der Pegel von in dem Zeitabschnitt überhaupt nicht hoch wird, in dem der Pegel des logischen Produktsignals HWIND hoch ist, wie im N+1-ten Zeitabschnitt in Fig. 2 gezeigt, behält das UND-Gatter 25 den Niedrigpegel des Nichtdefekt-Hochpegel- Unterscheidungssignals HGO bei. Das RS-Flip-Flop 26 empfängt das vom UND-Gatter 23 gelieferte logische Pro­ duktsignal HSETZEN als Setz-Eingabe und empfängt das Nichtdefekt-Hochpegel-Unterscheidungssignal HGO als Rück­ setz-Eingabe, um das Hochpegel-Unterscheidungssignal HJUD zu übertragen. Deshalb wird der Hochpegel des Hochpegel- Unterscheidungssignals HJUD von dem Zeitpunkt, an dem das Hochpegel HSETZEN empfangen wird, bis zu dem Zeitpunkt, an dem das Nichtdefekt-Hochpegel-Unterscheidungssignal HGO empfangen wird, beibehalten. Das D-Flip-Flop 27 empfängt das Hochpegel-Unterscheidungssignal HJUD und das von der RÜCKSETZEN-Erzeugungsschaltung 3 gelieferte Unterschei­ dungs-Beendigungszeitpunktsignal RÜCKSETZEN, um das De­ fekt-Hochpegel-Unterscheidungssignal HERR 2 zu übertragen. Das Hochpegel-Unterscheidungssignal HJUD dient als eine Dateneingabe für das D-Flip-Flop 27 und das Unterschei­ dungs-Beendigungszeitpunktsignal RÜCKSETZEN als eine Tak­ teingabe für das D-Flip-Flop 27. Daher ist das Defekt- Hochpegel-Unterscheidungssignal HERR 2 ein Signal, das durch Speichern des Hochpegel-Unterscheidungssignals HJUD zur Anstiegszeit von RÜCKSETZEN erzeugt wird. Wenn der Pegel von HJUD zu dem Zeitpunkt niedrig ist, zu dem der Pegel von RÜCKSETZEN hoch wird, dann überträgt das D-Flip- Flop 27 ein Niedrigpegel HERR 2, wie im N-ten Zeitab­ schnitt in Fig. 2 gezeigt. D.h., es zeigt an, daß es den Zeitabschnitt, in dem eine Nichtdefekt-Hochpegel-Unter­ scheidung in Übereinstimmung mit dem Hochpegel-Spannungs­ vergleich, der durch die Potentialvergleichsschaltung 11 durchgeführt wird, im Hochpegel-Unterscheidungszeitab­ schnitt gab. Wenn der Pegel von HJUD zur Anstiegszeit von RÜCKSETZEN hoch ist, wie im N+1-ten Zeitabschnitt gezeigt, überträgt das D-Flip-Flop 27 ein Hochpegel HERR 2. D. h., es zeigt an, daß der Hochpegel-Unterscheidungszeitab­ schnitt den Zeitbereich nicht einschließt, in dem der Nichtdefekt-Hochpegel in Übereinstimmung mit dem Ergebnis des Hochpegel-Spannungsvergleichs, der durch die Poten­ tial-Vergleichsschaltung 11 durchgeführt wurde, unter­ schieden wurde. Als ein Ergebnis wird eine Tatsache, daß die Defekt-Hochpegel-Unterscheidung gemacht wurde, ange­ zeigt. Die Speicherschaltung 28 speichert HERR 2, um der Steuerschaltung 19 über die Signalleitung 20 Information zu übertragen, die das Ergebnis der Nichtdefekt/Defekt- Unterscheidung anzeigt.

Die Niedrigpegel-Unterscheidung wird wie folgt durch­ geführt. Fig. 3 ist eine Impulsübersicht der Funktion der Niedrigpegel-Unterscheidung. Wenn der Pegel des Unter­ scheidungs-Startzeitpunktsignals SETZEN in dem Zeitab­ schnitt hoch ist, in dem der Pegel von SDATEN niedrig ist, empfängt das UND-Gatter 24 das Zeitpunktsignal SETZEN und überträgt das logische Produktsignal NSETZEN. Das UND- Gatter 29 empfängt , das das Inversionssignal des Vergleichssignals NCON ist, und das logische Produktsignal NWIND und überträgt das Nichtdefekt-Unterscheidungssignal NGO, das das logische Produkt von und NWIND ist. Wenn der Pegel von in dem Zeitabschnitt hoch ist, in dem der Pegel des logischen Produktsignals hoch ist, wie im N-ten Zeitabschnitt in Fig. 3 gezeigt, überträgt das UND- Gatter 29 das Nichtdefekt-Hochpegel-Unterscheidungssignal NGO. Wenn der Pegel von während des Zeitabschnitts, in dem das logische Produktsignal NWIND hoch ist, wie im N+1-ten Zeitabschnitt in Fig. 3 gezeigt, überhaupt nicht hoch wird, dann behält das UND-Gatter 29 das Nichtdefekt- Unterscheidungssignal NGO auf niedrigem Pegel bei. Das RS-Flip-Flop 30 empfängt das Nichtdefekt-Unterschei­ dungssignal NGO und NSETZEN und überträgt das Niedrig­ pegel-Unterscheidungssignal NJUD. Das Nichtdefekt-Unter­ scheidungssignal NSETZEN dient als Setz-Eingabe für das RS-Flip-Flop 30 und NGO dient als Rücksetz-Eingabe für das RS-Flip-Flop 30. Daher wird das Niedrigpegel-Unterschei­ dungssignal NJUD auf hohem Pegel vom Zeitpunkt, zu dem das Hochpegel NSETZEN empfangen wird, bis zum Zeitpunkt, zu dem das Hochpegel NGO empfangen wird, beibehalten. Das D-Flip-Flop 31 empfängt das Niedrig-Pegel-Unterscheidungs­ signal NJUD und das Unterscheidungs-Beendigungszeit­ punktsignal RÜCKSETZEN, das von der RÜCKSETZEN-Erzeu­ gungsschaltung 3 geliefert wird, um das Defekt- Niedrigpegel-Unterscheidungssignal NERR 2 zu übertragen. Das Niedrigpegel-Unterscheidungssignal NJUD dient als Daten-Eingabe für das D-Flip-Flop 31 und das Unterscheidungs-Beendigungszeitpunktsignal RÜCKSETZEN als Takt-Eingabe für das D-Flip-Flop 31. Deshalb ist das Defekt-Niedrigpegel-Unterscheidungssignal HERR 2 ein Sig­ nal, das zur Anstiegszeit des RÜCKSETZEN gespeichert wird. Wenn der Pegel von NJUD zu dem Zeitpunkt niedrig ist, in dem der Pegel von RÜCKSETZEN hoch wird, wie in N-ten Zei­ tabschnitt in Fig. 3 gezeigt, überträgt das D-Flip-Flop 31 das Niedrigpegel NERR 2. D. h., eine Tatsache wird, in Übereinstimmung mit dem Ergebnis des Vergleichs der Hochpegel- Spannung, der durch die Spannungs- Vergleichsschaltung 13 durchgeführt wird, angezeigt, das der Zeitabschnitt, der als Nichtdefekt-Niedrigpegel un­ terschieden wurde, im Niedrigpegel-Unterscheidungszeit­ abschnitt vorhanden war. Wenn der Pegel des Niedrigpegel- Unterscheidungssignals NJUD zur Anstiegszeit von RÜCKSET­ ZEN hoch ist, wie im N+1-ten Zeitabschnitt in Fig. 3 ge­ zeigt, überträgt das D-Flip-Flop 31 das Hochpegel NERR 2. D. h. eine Tatsache wird, in Übereinstimmung mit dem Ergeb­ nis des Vergleichs der Niedrigpegel-Spannung, der durch die Potential-Vergleichsschaltung 13 durchgeführt wird, angezeigt, daß der Niedrigpegel-Unterscheidungszeitab­ schnitt den Zeitabschnitt nicht enthält, in dem der Nichtdefekt-Niedrigpegel unterschieden wurde. Insbesondere die Tatsache, daß ein Defekt-Niedrigpegel unterschieden wurde, wird angezeigt. Die Speicherschaltung 32 speichert NERR 2 und überträgt über die Signalleitung 21 an die Steuerschaltung 19 Information, die das Ergebnis der Nichtdefekt/Defekt-Niedrigpegel-Unterscheidung anzeigt. Als ein Ergebnis ist die Steuerschaltung 19 in der Lage, das Ergebnis des Funktionstests zu erkennen, ob das Ergeb­ nis zufriedenstellend oder defekt war, in Übereinstimmung mit der Information, die das Ergebnis der Defekt- Hochpegel-Unterscheidung und das der Defekt-Niedrigpegel- Unterscheidung anzeigt.

Nun wird ein Funktionstest beschrieben, bei dem Netzspan­ nungen Vcc1, Vcc2 oder Vcc3 an die zu testende IC 9 ange­ legt werden. Die Potentialunterschiede zwischen den Netzspannungspegeln genügen folgender Bedingung: Vcc1 < Vcc2 < Vcc3. Wenn das Potential der Energieversorgungs­ spannung, die an die zu testende IC 9 angelegt wird, von Vcc1 auf Vcc2 geändert wurde, wie in Fig. 4 gezeigt, verzögert die elektrische Charakteristik der IC 9 den Zeitpunkt, an dem die Ausgangsspannung DAUS von DAUS 1 auf DAUS 2 geht, um ΔT1. Die Unterscheidungsschaltung der er­ findungsgemäßen Funktionstestvorrichtung ist in der Lage, die Notwendigkeit des Veränderns der Zeitpunkteinstellda­ ten für die SETZEN-Erzeugungsschaltung 2 und für die RÜCKSETZEN-Erzeugungsschaltung 3 zwischen dem Fall, in dem der Funktionstest unter Verwendung der Netzspannung Vcc1 durchgeführt wird, und dem Fall, in dem der Test unter Verwendung der Netzspannung Vcc2 durchgeführt wird, zu eliminieren und die zwei Funktionstests, die die Netzspan­ nung Vcc1 und die Netzspannung Vcc2 verwenden, können je­ der durchgeführt werden. Der Vorgang wird im folgenden beschrieben. Zuerst werden die elektrischen Charakteristi­ ken der IC 9 verwendet, um den Bezugsausgabezeitpunkt für DAUS 1 vorherzusagen, wenn die Netzspannung Vcc1 angelegt wird, und den für DAUS 2, wenn die Netzspannung Vcc2 ange­ legt wird. Der Zeitablauf für das Unterscheidungs- Startzeitpunktsignal SETZEN muß vor dem vorhergesagten Ausgabezeitpunkt für DAUS 1 festgesetzt werden und der Zeitpunkt für das Unterscheidungs-Beendigungssignal RÜCK­ SETZEN muß nach dem vorhergesagten Ausgabezeitpunkt für das vorhergesagte DAUS 2 festgesetzt werden. Wenn die er­ findungsgemäße Unterscheidungsschaltung die zwei Arten von Funktionstests in Übereinstimmung mit dem vorstehenden Funktionsvorgang durchgeführt hat, kann die Notwendigkeit vom Verändern der Daten zum Einstellen des Zeitpunkts der SETZEN-Erzeugungsschaltung 2 und der Daten zum Einstellen des Zeitpunkts der RÜCKSETZEN-Erzeugungsschaltung 3 elimi­ niert werden, während unterschieden wird, ob DAUS 1 und DAUS 2 defekt sind oder nicht.

Wenn die Netzspannung weiter auf Vcc3 erniedrigt wurde, kann beurteilt werden, daß der Ausgabezeitpunkt für DAUS 3 um ΔT2 gegenüber dem Ausgabezeitpunkt für DAUS 1 verzögert ist, wie in Fig. 5 gezeigt, und daher überschreitet der Ausgabezeitpunkt für DAUS 3 den Zeitabschnitt. In diesem Fall ermöglicht das Einstellen des Zeitpunkts von RÜCKSET­ ZEN zum Überschreiten des Zeitabschnitts dem Nichtdefekt/ Defekt-Unterscheidungsbereich, zum Überschreiten von zwei Zeitabschnitten gesetzt zu werden. D. h., auch wenn DAUS 1 im N-ten Zeitabschnitt geliefert wird und DAUS 3 im N+1-ten Zeitabschnitt, kann der durch die erfindungsgemäße Unterscheidungsschaltung durchgeführte Funktionstest in Übereinstimmung mit den vorstehenden Vorgang die Notwen­ digkeit des Veränderns der Daten zum Einstellen des Zeit­ punkts der SETZEN-Erzeugungsschaltung 2 und der Daten zum Einstellen des Zeitpunkts der RÜCKSETZEN-Erzeugungsschal­ tung 3 eliminieren, während unterschieden wird, ob DAUS 1 und DAUS 3 nicht defekt sind.

Wie vorstehend beschrieben, ist die erfindungsgemäße Un­ terscheidung derart angeordnet, daß das von der SETZEN- Erzeugungsschaltung 2 gelieferte Zeitpunktsignal SETZEN als ein Startpunkt verwendet wird und das von der RÜCK­ SETZEN-Erzeugungsschaltung 3 gelieferte Signal RÜCKSETZEN als Endpunkt verwendet wird und eine Nichtdefekt-Unter­ scheidung gemacht wird, wenn der Unterscheidungszeitbe­ reich vom Startpunkt bis zum Endpunkt einen Zeitbereich enthält, in dem die Ausgabedaten der zu testenden IC 9 und die vorhergesagten Spannungsdaten in der Vorrichtung zum Testen der Funktionen der IC 9 miteinander übereinstimmen. Daher kann die Notwendigkeit des Veränderns der Daten zum Einstellen des Zeitpunkts der SETZEN-Erzeugungsschaltung 2 und des der RÜCKSETZEN-Erzeugungsschaltung 3 eliminiert werden, unabhängig davon, ob es der Fall ist, in dem hohe Spannung an die Netzspannung Vcc der zu testenden IC 9 angelegt wird, oder der Fall, in dem niedrige Spannung an Vcc angelegt wird, um jeden Funktionstest durchzuführen. Auch, wenn der Zeitpunkt, zu dem die Ausgangsspannung DAUS von der zu testenden IC 9 geliefert wird, den Zeitab­ schnitt überschreitet, kann der Funktionstest exakt durch­ geführt werden, während die Notwendigkeit des Veränderns der Testmusterdaten zum Anpaßbarsein an den Zeitpunkt eli­ miniert ist.

Claims (2)

1. Vorrichtung zum Testen der Funktion einer integrierten Schaltung (IC) mit:
einem Testkontaktstift (14) zum elektrischen Kontaktieren der zu testenden IC (9); und
einer Unterscheidungsschaltung zum Testen der Funktion der IC (9);
dadurch gekennzeichnet, daß die Unterscheidungsschaltung folgendes umfaßt:
einen ersten Zeitpunktsignal-Erzeugungsteil (2) zum Lief­ ern eines Unterscheidungs-Startzeitpunktsignals (SETZEN), das als ein Startpunkt eines Unterscheidungszeitbereichs dient;
einen zweiten Zeitpunktsignal-Erzeugungsteil (3) zum Lief­ ern eines Unterscheidungs-Beendigungszeitpunktsignals (RÜCKSETZEN), das als ein Endpunkt des Unterscheidungs­ zeitbereichs dient;
einen Testmuster-Übertragungsteil (5, 6) zum Speichern und Übertragen von Testmusterdaten (DATEN) ansprechend auf das Unterscheidungs-Startzeitpunktsignal (SETZEN), das vom er­ sten Zeitpunktsignal-Erzeugungsteil (2) geliefert wird;
ein Spannungsvergleichs- und Unterscheidungsteil (7, 8, 10 bis 13, 25, 29) zum Unterscheiden, mittels Vergleichen der Ausgangsspannung (DAUS) der zu testenden IC (9) mit vor­ hergesagten Spannungsdaten, die in der Vorrichtung einge­ stellt sind, in Übereinstimmung mit jedem der Testmuster­ daten (DATEN) im Unterscheidungszeitbereich, und zum Über­ tragen eines Nichtdefekt-Unterscheidungssignals (HGO, NGO) in einem Zeitbereich, in dem die Ausgangsspannung (DAUS) und die vorhergesagten Spannungsdaten im Unterscheidungs­ zeitbereich miteinander übereinstimmen;
einen Unterscheidungssignal-Übertragungsteil (23, 26, 30, 34) zum Übertragen eines Unterscheidungssignals (HJUD, NJUD), das am Startpunkt beginnt und an einem Ausgabezeit­ punkt des vom Spannungsvergleichs- und Unterscheidungsteil (7, 8, 10 bis 13, 25, 29) übertragenen Nichtdefekt- Unterscheidungssignal (HGO, NGO) endet, in Übereinstimmung mit jedem der Testmusterdaten (DATEN); und
einen Unterscheidungsinformations-Übertragungsteil (27, 28, 31, 32) zum Übertragen einer Nichtdefekt/Defekt- Unterscheidungsinformation mittels Speichern des Unter­ scheidungssignals (HJUD, NJUD) zum Unterscheidungs-Beendi­ gungszeitpunkt, der der Endpunkt des Unterscheidungsbe­ reichs ist, auf der Grundlage dessen eine Nichtdefekt- Unterscheidung gemacht wird, wenn der Unterscheidungsbe­ reich den Zeitbereich enthält, in dem das Nichtdefekt- Unterscheidungssignal (HGO, NGO) übertragen wird, vor al­ lem, in dem die Ausgangsspannung (DAUS) von der zu testen­ den IC (9) und die vorhergesagten Spannungsdaten mitein­ ander übereinstimmen.

2. Verfahren zum Testen der Funktion einer integrierten Schaltung (IC), das folgende Schritte umfaßt:
Vorbereiten einer Funktionstestvorrichtung zum Testen ein­ er IC (9) in einem Funktionstest;
Elektrisches Verbinden der zu testenden IC (9) mit einer Unterscheidungsschaltung der Funktionstestvorrichtung mit­ tels eines Testkontaktstifts (14);
Übertragen von Daten einschließlich Testmusterdaten (DATEN) und vorhergesagten Spannungsdaten an jeden Teil der Unterscheidungsschaltung zur Verwendung im Funktions­ test;
Unterscheiden mittels Vergleichen einer Ausgangsspannung (DAUS) der zu testenden IC (9) mit den vorhergesagten Spannungsdaten in Übereinstimmung mit jedem der Testmus­ termusterdaten (DATEN) in einem Unterscheidungszeitbe­ reich, um ein Nichtdefekt-Unterscheidungssignal in einem Zeitbereich zu erzeugen, in dem die Ausgangsspannung (DAUS) und die vorhergesagten Spannungsdaten miteinander übereinstimmen; und
Durchführen einer Nichtdefekt/Defekt-Unterscheidung auf der Grundlage davon, daß eine Nichtdefekt-Unterscheidung gemacht wird, wenn der Unterscheidungszeitbereich den Zeitbereich einschließt, in dem das Nichtdefekt-Unter­ scheidungssignal übertragen wird.