DE2914128C2 - Verfahren zur Fehlerortung in einer digitalen Schaltung und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Fehlerortung in einer digitalen Schaltung und Prüfgerät zur Durchführung des VerfahrensInfo
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- DE2914128C2 DE2914128C2 DE2914128A DE2914128A DE2914128C2 DE 2914128 C2 DE2914128 C2 DE 2914128C2 DE 2914128 A DE2914128 A DE 2914128A DE 2914128 A DE2914128 A DE 2914128A DE 2914128 C2 DE2914128 C2 DE 2914128C2
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Description
a) Feststellen, ob der Knotenpunkt vorangehend bereits getestet und fehlerhaft gefunden wurde und, falls
nicht
b) Prüfen dieses Knotens und
c) Speichern einer Fehlerinformation, welche die Zeit des Auftretens des früheren des tatsächlichen
anfänglichen Obergangs zwischen logischen Weiten des zu testenden Knotenpunktes und eines bekannten richtigen anfänglichen Obergangs zwischen logischen Weiten desselben darstellt,
d) falls der Knoten bereits vorangehend geprüft wurde, identifizieren einer Rückkopplungsschleife der
digitalen Schaltungselemente,
e) Prüfen irgendeines Eingangsknotens der Rückkopplungsschleife von digitalen Schaltungselementen, um
festzustellen, ob das Verhalten fehlerhaft ist, und
f) wenn keiner der Eingangsknoten der Rückkopplungsschleife fehlerhaft ist, Feststellen, welcher Knoten-
punkt der Rückkopplungsschleife der gespeicherten frühesten Fehlerinformation zugeordnet ist
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Schritt des Anlegens einer vorbestimmten
Folge von Prüfsignalen den Schritt des Anlegens einer Folge von Prüfwörtern enthält, und daß die Fehlerinformation
eine Zahl enthält, die den Zeitpunkt des Auftretens desjenigen Prüfwortes darstellt, welches den
früheren anfänglichen Übergang und einen bekannten richtigen anfänglichen Übergang erzeugt
3. Verfahren nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch den Schritt des Anzeigens einer Information, welche
ein digitales Schaltungselement identifiziert, dessen Ausgang mit dem festgestellten Knotenpunkt verbunden
ist, welcher der gespeicherten frühesten Fehlerinformation zugeordnet ist
4. Verfahren nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch den Schritt des anfänglichen Speicherns des bekannten
richtigen Verhaltens der Schaltungsknoten und Aufsuchen des betreffenden bekannten richtigen Verhaltens
aus dem Speicher, beim Durchführen des Vergleichsschrittes der beiden Verhaltensweisen.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet daß der Schritt des Speichers der Fehlerinformation
durch Speichern in einer Tabelle bewirkt wird, und zwar in Speicherplätzen, welchen die die relevanten
Knotenpunkte identifizierenden Informationen zugeordnet sind.
6. Verfahren nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch den Schritt des Speicherns einer maximalen Anfangsfehlernummer
des zu testenden Knotens in der Tabelle für jeden der Knotenpunkte, welcher geprüft und als
einen richtigen Anfangszustand aufweisend gefunden wurde.
7. Verfahren nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch den Schritt der anfänglichen Speicherung eines
Bildverzeichnisses, welches die in der digitalen Schaltung enthaltenen Verbindungen definiert wobei dieses
Bildverzeichnis dazu verwendet wird, zu bestimmen, welcher der Knotenpunkte als nächstes zu prüfen ist
und der Bedienungsperson ein Befehl angezeigt wird, welcher angibt, welcher der Knotenpunkte als nächstes
zu prüfen ist.
8. Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 7, welche Einrichtungen
zum Anlegen der vorbestimmten Folge von Prüfsignalen an die Eingänge der digitalen Schaltung sowie
Vergleichseinrichtungen zum Vergleichen der Verhaltensweisen des zu prüfenden Knotenpunkts mit bekannten
Verhaltensweisen desselben enthält, gekennzeichnet durch Speichereinrichtungen (30) zum Speichern
der Fehlerinformation, durch einen Tastkopf (13) zum Prüfen eines ausgewählten Knotenpunktes der
digitalen Schaltung (18), und durch Verarbeitungseinrichtungen (28, 29), welche mit dem Tastkopf und mit
den Vergleichseinrichtungen gekoppelt sind und dazu dienen, festzustellen, ob ein zu prüfender Knotenpunkt
fehlerhaft ist oder nicht
9. Prüfgerät nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch Anzeigeeinrichtungen (16), welche mit den Verarbeitungseinrichtungen
(28, 29) gekoppelt sind und dazu dienen, einer Bedienungsperson Befehle anzuzeigen,
weiche angeben, welcher Knotenpunkt als nächstes zu prüfen ist.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fehlerortung in einer digitalen Schaltung, gemäß dem Oberbegriff
des Patentanspruchs 1, sowie ein Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens gemäß Oberbegriff des Patentan-Il
60 Spruchs 8.
Tp. Moderne komplexe elektronische Einrichtungen werden üblicherweise unter Verwendung gedruckter Schal-
[,, tungskarten hergestellt, auf welchen eine große Anzahl integrierter Schaltungen und anderer Komponenten
i| angeordnet sind. Die Hersteller solcher komplexer elektronischer Einrichtungen sind verpflichtet, solche instal-
h. lierten Einrichtungen zu warten. Eine solche Wartung schließt das Prüfen der elektronischen Einrichtungen ein,
65 um fehlerhafte Komponenten festzustellen und zu reparieren bzw. auszuwechseln. Es ist somit erforderlich,
ff gedruckte Schaltungskarten (im folgenden werden diese der Einfachheit halber als »Schaltungskarten« oder »zu
prüfende Schaltungskarten« bezeichnet) am Ort der elektronischen Einrichtung zu prüfen. Eine solche Prüfung
wird im folgenden als »Feldwartungstest« bezeichnet, im Gegensatz zum »Fabriktest«, bei welchem der Herstel-
ler die Prüfung von Schaltungskarten durchführt, welche zu diesem Zwecke und zur Reparatur eingeschickt
werden müssen, da bekannte Feldprüfgeräte nicht in der Lage sind, fehlerhafte Komponenten am Ort der
installierten elektronischen Einrichtung festzustellen, so daß das Wartungspersonal !(welches normalerweise
nicht so gründlich ausgebildet ist, daß es alle für die Reparatur von auf gedruckten Schaltungskarten vorkommenden Logikschaltungen erforderlichen Einzelheiten kennt) Reparaturen nicht an Ort und Stelle durchführen
kann. . . \ . ' . "'
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Die bisher für die Feldwartungsprüfung von gedruckten Schaltungskarten verwendeten Prüfgeräte waren
lediglich in der Lage, die einen Feuer verursachende Schaltungskarte innerhalb einer elektronischen Einrichtung aufgrund einer »Gut-Schlecht-Prüfung« ausfindig zu machen. Die höchstentwickelten bekannten Feldprüfgeräte sind in der Lage, eine Kennzeichenprüfung einzelner Knoten auf der zu prüfenden Schaltungskarte
durchzuführen, wodurch der Bedienungsperson ermöglicht wird, die durch das Verhalten verschiedener Knoten
auf der zu prüfenden Schaltungskarte erzeugten Kennzeichen mit entsprechenden bekannten »Gut-Kennzeichen« bekannter einwandfreier Schaltungskarten zu vergleichen, welche zuvor gemessen und in eine schematische Darstellung eingetragen wurden. Bei der Verwendung solcher Feldprüfgeräte ist es erforderlich, daß die
Bedienungsperson auf detaillierte Darstellungen und Instruktionen für die betreffende zu prüfende Schaltungskarte zurückgreift, um festzustellen, welche Knoten zu messen und wie das richtige Verhalten bzw. die richtige
Anzeige sein muß. ' .
Selbst die höchstentwickelten Feldprüfgeräte gestatten jedoch nicht die Ortung von Fehlern auf Schaltungskarten für solche Knoten, welche in Rückkopplungsschleifen der logischen Schaltungen der zu prüfenden
Schaltungskarte enthalten sind. Leider weisen viele oder sogar die meisten digitalen elektronischen Schaltungskarten solche Schleifen auf. Häufig enthalten die Schleifen mehrere Knoten und häufig sind mehrere solcher
Schleifen auf einer einzigen zu prüfenden Schaftungskarte vorhanden.
Komplexe und teure Fabrikprüfgeräte sind in der Lage, jeden Knoten einer Schaltung zu prüfen und Fehler
durch Vergleichen mit einem bekannten fehlerfreien Ansprechen oder Verhalten an jedem betreffenden Knoten
festzustellen. Bei einem solchen Prüfgerät ist es erforderlich, daß der gesamte Datenstrom für jeden Knoten der
Schaltung, und zwar sowohl für die fehlerfreie Schaltungskarte und für die zu prüfende Vorrichtung gespeichert sein muß, so daß die Speicheranforderungen für ein solches Fabrikprüfgerät, welches eine so umfassende
Prüfung vorzunehmen vermag, extrem hoch sind. Die Kosten, Komplexität und die mechanische Größe eines
solchen Fabrikprüfgerätes machen es unmöglich, die bei einem solchen Fabrikprüfgerät angewandten Verfahren
in Feldprüfgeräten zu verwenden.
Aus diesem Grunde ist es erforderlich, daß Hersteller von hochentwickelten digitalen elektronischen Geräten
ein großes Lager von fehlerfreien Schaltungskanen als Ersatzteile halten müssen. Solche als Ersatzteile dienenden Schaltungskarten müssen zu dem Aufstellungs- bzw. Installationsort der zu prüfenden elektronischen
Einrichtung oder Anlage transportiert werden. Die gegenwärtigen unzureichenden Feldprüfgeräte werden
deshalb im wesentlichen dazu verwendet, lediglich fehlerhafte Schaltungskarten festzustellen, welche durch
entsprechende fehlerfreie Schaltungskarten ersetzt werden, und die fehlerhaften Schaltungskarten werden an
die Fabrik zurückgesandt, um dort eine umfassende Fehlerortungsanalyse mittels eines Fabrikprüfgerätes
durchzuführen und die Reparatur durch Fabrikpersonal durchzuführen, wobei üblicherweise lediglich das durch
das Fabrikprüfgerät festgestellte fehlerhafte Bauelement herausgenommen und ersetzt wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der gattungsgemäßen Art anzugeben, das verhältnismäßig einfach und billig und für die Anwendung im Wartungsdienst vor Ort geeignet und doch in der Lage ist,
einen hohen Fehleranteil in digitalen Schaltungen einzugrenzen bzw. zu orten sowie ein Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens anzugeben.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren mit den im Kennzeichen des Patentanspruchs 1 angegebenen
Verfahrensschritten sowie durch ein Prüfgerät mit den im Kennzeichen des Patentanspruchs 8 angegebenen
Merkmalen.
Aufgrund der angegebenen Schritte läßt sich ein hoher Anteil von fehlerhaften Bauelementen in digitalen
Schaltungen feststellen, wobei fehlerhaften Knoten zugeordnete Komponenten in Rückkopplungsschleifen auf
einfache Art identifiziert werden können.
Zweckmäßige Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens sowie des Geräts zur Durchführung
dieses Verfahrens ergeben sich aus den Ansprüchen 2 bis 7 bzw. 9.
Unter dem in den Patentansprüchen und in der folgenden Beschreibung verwendeten Ausdruck »Knoten«
wird ein Schaltungspunkt verstanden, welcher ein Eingang oder ein Ausgang für ein digitales Schaltungselement
ist; unter dem Ausdruck »Schleife« wird ein endloser Schaltungspfad verstanden; und mit dem Ausdruck
»Schleifeneingangsknoten« wird ein Eingang zu einem in einer Schleife vorhandenen digitalen Schaltungselement verstanden, welcher nicht mit einem Ausgang eines in der Schleife enthaltenen digitalen Schaltungselements verbunden ist
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand von Zeichnungen beschrieben. In diesen
zeigt
F i g. 1A eine perspektivische Ansicht eines Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen tragbaren digitalen
Prüfgerätes und einer zu prüfenden Schaltungskarte,
F i g. 1B das Tastenfeld, die Anzeige und das Mehrfachmeßinstrument des in F i g. 1A dargestellten digitalen
Prüfgerätes,
F i g. 2 ein Blockschaltbild des Prozessorsystems und der Prozessor-Sammelleitung einschließlich der elektrorüschen Schaltungen, die erforderlich sind, um die Verbindung zwischen der zu prüfenden Schaltungskarte und
der Prozessor-Sammelleitung herzustellen,
F i g. 3Β eine Logikschaltung eines Teils einer der Treiber/Sensor-Schaltungen welche in der F i g. 3A dargestellten
Treiber/Sensor-Einheit verwendet werden,
F i g. 3C eine Logikschaltung des übrigen Teils der Treiber/Sensor-Schaltung der F i g. 3B,
F i g. 3D den Aufbau einer der in F i g. 3B enthaltenen Halteschaltungen,
F i g. 4 ein detaillierteres Blockschaltbild der in F i g. 2 enthaltenen Prozessor-Einheit,
F i g. 4 ein detaillierteres Blockschaltbild der in F i g. 2 enthaltenen Prozessor-Einheit,
F i g. 5 ein ausführlicheres Blockschaltbild der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Einheit der F i g. 2,
F i g. 6A ein detailliertes Blockschaltbild eines Teils der Anschlußeinheit für Peripheriegeräte der F i g. 2,
F i g. 6B ein detailliertes Blockschaltbild des übrigen Teils der Anschluß-Einheit für Peripheriegeräte der
Fig. 2,
ίο Fig.7A—7H in Kombination ein Fiußdiagramm des Fehlerortungs- und Schleifen-Aufbrech-Algorithmus,
welcher im Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Prüfgerät und dem erfindungsgemäßen Fehlerortungsverfahren
verwendet wird, und
Fig.8 ein Blockschaltbild mit den Grundfunktionskomponenten des Mikroprozessor-Bausteins 210 der
F i g. 5 in Verbindung mit einem Speichersystem.
is Das erfindungsgemäße digitale Prüfgerät, das auch als tragbarer Wartungsprozessor bezeichnet wird, ist ein
Prozessor-orientiertes tragbares Prüfgerät, das insbesondere zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten geeignet
ist. Es ist ein digitales logisches Schaltungsprüfgerät, welches Fehler auf digitalen gedruckten Schaltungskarten
feststellen und orten kann. Aufgrund seines transportablen Aufbaus und seiner Fähigkeit, Fehler automatisch zu
orten, ist es für zahlreiche Feldwartungs- bzw. Kundendienstanwendungen geeignet Da das Prüfgerät ein auf
einem Allzweck-Mikroprozessor aufgebautes Datenverarbeitungssystem ist, können mit ihm auch eine Reihe
anderer Wartungs- oder Kundendienstaufgaben durchgeführt werden, wie dies im folgenden noch beschrieben
wird.
Das vollständige tragbare Prüfgerät tO ist in F i g. 1A dargestellt Eine zu prüfende gedruckte Schaltungskarte
18 ist in eine Steckerleiste 19 des Prüfgeräts eingesteckt Es sei darauf hingewiesen, daß verschiedene Komponenten
auf der Schaltungskarte 18 mit Buchstaben bezeichnet sind; durch diese Bezeichnungen ist es möglich,
daß das Prüfgerät die Bedienungsperson informiert, welche Knoten während eines Fehlerortungsvorgangs
jeweils zu untersuchen sind, wie dies im folgenden noch näher beschrieben wird. Ein Tastenfeld 12 ermöglicht
der Bedienungsperson, Daten und Befehle in das Prüfgerät einzugeben.
Das Tastenfeld und ein Anzeigefeld sind in F i g. 1B im einzelnen dargestellt, woraus ersichtlich ist, daß eine
Anzahl von Tasten umschaltbare und nicht umschaltbare Zeichen und außerdem einzelne Wortbefehle, wie
beispielsweise RUN, CATALOG, usw, tragen. Die »oberen« oder »umgeschalteten« Zeichen werden durch
Betätigen der Umschalttaste eingegeben; die Befehlsworte werden durch Verwendung einer Befehlstaste oder
CMD-(Command-)Taste eingegeben. Das Bedienungsfeld des Prüfgerätes 10 enthält ferner eine Anzeigeeinheit
16, welche ein Anzeigefeld 16' besitzt, das alphanumerische Zeichen anzeigt, die Informationen über den
Zustand des Prüfgerätes, Instruktionen an die Bedienungsperson oder gerade von der Bedienungsperson eingegebene
Informationen wiedergeben. Auf dem Bedienungsfeld befindet sich ferner ein Mehrfach-Meßinstrument
17, dessen Zweck noch im einzelnen beschrieben wird.
Ein Meßfühler 13 wird von der Bedienungsperson dazu verwendet, verschiedene Knoten der zu prüfenden
Schaltungskarte 18 in Abhängigkeit von auf der Anzeigeeinheit 16 angezeigten Instruktionen zu untersuchen,
und zwar gemäß einem gesteuerten Untersuchungssystem und -verfahren, welches im folgenden noch näher
beschrieben wird.
Das Prüfgerät wird von dem in Fig. IB dargestellten Tastenfeld gesteuert Das Tastenfeld 12 besitzt drei
Ebenen von Zeichen, so daß es sowohl als ein Standard-Tastenfeld, beispielsweise zur typen- oder zeichenmäßigen
Eingabe von Angaben, als auch als flexibles Steuerfeld mit einer Ein-Tasten-Eingabe von Befehlen dienen
kann. Das Normal-Tastenfeld wird durch die nicht umgeschalteten Tasten gebildet, welche Buchstaben, Zahlen
sowie verschiedene Interpunktionszeichen, wie Punkt, Komma und Semikolon, enthalten. Die alphanumerischen
Zeichen werden durch Großbuchstaben gebildet
Die Umschalttaste wird in herkömmlicher Weise zur Eingabe von Zeichen und Symbolen des »Umschalt«-
oder oberen Bereichs der Tasten verwendet nämlich zur Eingabe der übrigen Interpunktionszeichen sowie
verschiedener Sieueriunkiiuncfi. Die Eingäbe eines »Uinschalt«- oder »oberen« Zeichens erfolgt in der Weise,
daß die Umschalttaste unten gehalten und die gewünschte Taste gedrückt wird.
Die Befehlstaste CMD wird dazu verwendet, um Anweisungs-Kennwörter einzugeben, welche als Systembefehle
oder in Programmanweisungen verwendet werden können. Dadurch ist es möglich, Systembefehle durch
eine einzige Betätigungsoperation einzugeben, wodurch Schreib- bzw. Eingabefehler vermieden werden. Die
Befehlstaste CMD wird unten gehalten und die das gewünschte Kennwort in ihrem unteren Teil tragende Taste
wird gedrückt Jedes Kennwort kann allerdings auch durch Eintippen des vollständigen Kennwortes, wie
beispielsweise REWIND, ohne Verwendung der Befehlstaste CMD eingegeben werden.
Ein »Zwischenraum« oder »Abstand« kann durch Drücken der Leertaste an der Unterseite des Tastenfeldes
herbeigeführt werden, jedoch wird immer dann, wenn ein Kennzeichen unter Verwendung der Befehlstaste
eingegeben wurde, nach diesem Kennwort automatisch ein Zwischenraum vorgesehen.
Das Tastenfeld 12 enthält drei spezielle Operationstasten, nämlich die ATTENTION-Taste ATTN, die EXE-CUTE-Taste
und eine DELETE-Taste DEL Die Bedienungsperson kann das Prüfgerät 10 zu jeder Zeit durch
Drücken der ATTN-Taste unterbrechen. Dadurch gelangt das Prüfgerät in einen BEREIT-Zustand, in welchem
es einen neuen Befehl erwartet Die EXECUTE-Taste wird gedrückt, um eine in das Tastenfeld eingegebene
Zeile auszuführen; wenn die Zeile am Beginn eine »Zeilennummer« enthält, dann wird die in diese Zeile
eingetastete Information von einer Tastenfeld-Pufferschaltung beim Drücken der Execute-Taste in den Hauptspeicher
des Prüfgeräts ,übertragen. Ist jedoch keine einleitende Zeilennummer vorhanden, dann wird der Befehl
oder die Programmanweisung unmittelbar nach dem Drücken der Execute-Taste ausgeführt Wird die Delete-
Taste DEL gedrückt, dann wird das letzte in die Tastenfeld-Pufferschaitung eingegebene Zeichen gelöscht.
Die Prüfgerät-Anzeigeeinheit 16 zeigt Nachrichten und Zustandsinformationen auf einem sechzehn Zeichen
umfassenden alphanumerischen LED-Anzeigefeld 16' an. Das alphanumerische Anzeigefeld wird von einem
Anzeige-Pufferspeicher gesteuert, welcher die letzten sechzehn Zeichen anzeigt, welche in einem Tastenfeld-Pufferspeicher
mit 256 Zeichen gespeichert sind. Eine Anzahl von individuellen LED-Anzeigefeldern geben die
Betriebsart des Prüfgerätes und die Prüfergebnisse an. Es sind folgende individuelle Angaben möglich: VON
(Spannung ist an die zu prüfende Schaltungskarte angelegt); RUN (das Prüfgerät führt ein Programm aus, das
Prüfprogramm wird ausgeführt); PASS (die zu prüfende Schaltungskarte hat das Prüfprogramm durchlaufen);
FAIL (die zu prüfende Schaltungskarte wurde vom Prüfprogramm erfolglos durchlaufen); NPR (kein Druck —
dieses Kennwort dient zum Unterdrücken des Drucks von Fehlernachrichten); und DMM (das digitale Mehrfaeh-Meßinstrument
ist verwendungsbereit).
Die auf dem Tastenfeld 12 angegebenen Systembefehls-Kennwörter beinhalten eine Anzahl von Prüfgerät-Grund-Kennwörtern,
eine Anzahl von »Schaltungskarten-Prüf-Kennwort-Befehlen«, eine Anzahl von »Programmerzeugungs-Kennwort-Befehlen«,
ein »Verzeichnis-Erstellen-Befehl«, und eine Anzahl von »Prüfgerät-Operationsart-Kennwort-Befehlen«.
Im folgenden ist eine Liste verschiedener Befehls-Kennwörter wiedergegeben, welche beim Betrieb des Prüfgerät-Systems verwendet werden; diejenigen Kennwort-Befehle, welche
mit einem Sternchen (*) versehen sind, können durch Drücken der CMD-Taste und der entsprechenden Kennwort-Taste
und anschließendes Drücken der Execute-Taste eingegeben werden.
Schaltungskarten- Prüf- Kennwort- Befehle
CATALOG·
LOAD·
RUN"
REWIND· DMM*
RETENS
Programmerzeugung-Kennwort-Befehle
SCRATCH
LIST*
RESEQ
MERGE
RESEQ
MERGE
35 Verzeichnis-Erstellen-Befehle
ERASE
LENGTH
MARK NAME»
Prüfgerät-Operationsart-Kennwort-Befehle
ROF·
PR/NPR*
SNGL*
CONT*
Die obengenannten Kennwörter werden als Systembefehle verwendet, welche entweder unmittelbar ausgeführt werden oder dazu verwendet werden, das Prüfgerät in verschiedene Operations- oder Betriebsarten
einzustellen. Das Prüfgerät muß sich im Bereit-Zustand befinden, um die obengenannten Kennwörter eingeben
zu können, von denen die meisten durch Drücken der CMD-Taste und der entsprechenden Kennwort-Taste und
darauffolgendes Drücken der Execute-Taste eingegeben werden können. Wenn die CMD- und Kennwort-Ta- eo
sten verwendet werden, dann werden der Zwischenraum (Leertaste) und/oder andere erforderliche Interpunktionszeichen nach dem Kennwort ebenfalls eingegeben. Wird jedoch das Kennwort unter Verwendung einzelner
Buchstaben eingetippt, dann müssen der Zwischenraum und andere erforderlichen Interpunktionszeichen über
das Tastenfeld eingegeben werden.
Die obengenannten »Schaltungskarten-Prüfbefehle« werden dazu verwendet, ein Prüfprogramm für eine zu
prüfende Schaltungskarte zu finden, zu laden und ablaufen zu lassen, die Magnetbandkassette zurücklaufen zu
lassen und das digitale Mehrfach-Meßinstrument zu verwenden. Der Laden-Befehl wird verwendet, um Angaben von der Magnetbandkassette oder der Speicherscheibe eines zentralen Computers in den Speicher des
Prüfgeräts zu laden. Der RUN-Befehl wird verwendet, um mit der Ausführung des in dem Speicher des
Prüfgeräts enthaltenen Prüfprogramms zu beginnen. Das Programm kann in Lauf gesetzt werden beginnend mit
der am niedrigsten numerierten Zeile oder mit einer mit einer bestimmen Zeilennummer bezeichneten Zeile. Der
REWIND-Befehl wird verwendet, um die Magnetbandkassette zurückzuspulen, so daß sie ohne die Gefahr einer
Bandbeschädigung entnommen werden kann. Der DMM-Befehl wird verwendet, um Spannungen, Ströme und
Widerstände zu messen und um die Meßwerte auf dem LED-Anzeigefeld 16' anzuzeigen. Der RETENS-Bef°H'
wird verwendet, um eine gleichmäßige Spannung des Magnetbandes herbeizuführen und um die Magnetbandkassette
in schnellem Vorlauf bis zum Bandende zu betätigen und dann den Bandrücklauf zu bewirken.
Die »Programmerzeugungs-Befehle« werden verwendet, wenn neue Verzeichnisse eingelegt werden sollen.
Der SCRATCH-Befehl wird verwendet, um den Prüfgerät-Speicher zu löschen, so daß ein neues Programm vom
Tastenfeld eingegeben werden kann. Der LIST-Befehl wird verwendet, um die Angabenzeilen in dem Prüfgerät-Speicher
aufzulisten; ausgewählte Angabenzeilen können durch Verwendung der Zeilennummern aufgelistet
werden. Der RESEQ-Befehl wird verwendet, um die Zeilennummern des PrUfpr~>g/aziims umzunumerieren,
entweder um zusätzliche nicht verwendete Zeilennummern zwischen den Tests vorzusehen oder um die Zeilen
vor dem Verschmelzen mit einem anderen Prüfprogramm, das die gleichen Zeilennummern verwendet, umzunumerieren.
Der MERGE-Befehl wird verwendet, um ein sichergestelltes Verzeichnis oder sichergestellte Angaben
auf einer Magnetbandkassette oder auf der Speicherscheibe eines zentralen Rechners mit dem Programm in
dem Prüfgeräte-Speicher zu verschmelzen.
Die »Verzeichnis-Ersteilen«-Befehle werden verwendet, wenn auf der Magnetbandkassette Verzeichnisse
erstellt oder geändert werden sollen. Der ERASE-Befehl wird verwendet, um eine neue Magnetbandkassette für
eine anfängliche Markierung eines Verzeichnis-Raumes vorzubereiten oder um alle Verzeichnisse auf vorhandenen
Bandkassetten für eine neue Markierung von Verzeichnis-Raum zu löschen. Der LENGTH-Befehl wird
verwendet, um die Länge des Prüfprogramms, der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Routine und der Bildteile
des Speichers zu bestimmen. Der MARK-Befehl wird verwendet, um auf der Magnetbandkassette eine bestimmte
Anzahl von Verzeichnissen mit einer definierten Länge zu schaffen. Der N ΑΜΕ-Befehl wird verwendet.
um dem Programm im Speicher einen Namen zuzuordnen. Der SAVE-Befehl wird verwendet, um das in dem
Prüfgeräte-Speicher befindliche Programm entweder in die Magnetbandkassette oder in die Speicherscheibe
des zentralen Rechners abzuspeichern. Der DATE-Befehl wird verwendet, die vorliegende Datums- bzw.
Zeit-Zuordnung zu bestimmen und erforderlichenfalls diese Zuordnung zu ändern.
Die Prüfgerät-Operations-Befehle werden verwendet, die Operationsarten des Prüfgerätes zu ändern, und
werden in großem Ausmaß während der Fehlerbeseitigung im Prüfprogramm verwendet und können auch
während der Schaltkarten-Prüfung benutzt werden, um aussetzende oder intermittierende Fehler festzustellen.
Der SOE-(StOp on end)-Befehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart, in welcher die Prüfprogramm-Durchführung
bei der END-Anweisung anhält; wenn keine Fehler festgestellt wurden, dann leuchtet das PASS-Licht
auf dem Anzeigefeld 16 auf.
Der SOF-(StOp on fault)-Befehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart, in welcher die Prüfprogramm-Durchführung
bei der ersten Feststellung eines Fehlers anhält und das FAIL-Licht des Anzeigefeldes 16 leuchtet auf.
Es wird eine Standard-Fehlernachricht ausgedrückt, falls das Prüfgerät nicht in der NPR-(No print)-Betriebsart
arbeitet
Der ROE-(Restard on end)-Bpiehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart, in welcher die Prüfprogrammausführung
nach der END-Anweisung erneut gestartet wird; das PASS-Licht wird eingeschaltet, wenn kein Fehler
festgestellt wurde und das Programm läuft erneut ab, wobei es entweder mit der ersten Zeile oder mit einer
Zeilennummer beginnt, welche in den ROE-Befehl angegeben ist. Die ROE-Betriebsart kann verwendet werden,
um das Prüfprogramm so durchzuführen, daß ausgewählte Signale mit einem Oszilloskop beobachtet werden
können. Falls die ROE- und SOF-Betriebsarten zusammen verwendet werden, dann läuft das Prüfprogramm so
lange, bis an der Schaltungskarte alle Prüfvorgänge bzw. Tests durchgeführt wurden und es hält immer dann an,
wenn ein intermittierender Fehler einen Prüffehler verursacht
Der ROF-(Restart on fault)-Befehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart, in welcher die Prüfprogrammdurchführung
wieder gestartet wird, sobald ein Fehler festgestellt wurde. Das FAIL-Licht wird eingeschaltet und
das Programm läuft wieder, wobei es entweder mit der ersten Zeile oder mit einer Zeilennummer beginnt
weiche in cbm ROF-Befeh! angegeben ist
Der COF-(Centinue on fault)-Befehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart in welcher die Prüfprogrammdurchführung
fortfährt selbst wenn ein Fehler festgestellt wurde. Das FAIL-Licht wird eingeschaltet, es werden
jedoch keine »Gelenkte-Abtastung«-Befehle gedruckt Der COF-Befehl gestattet die Durchführung des gesamten
Prüfprogramms bis zu seinem Ende, unabhängig vom Vorhandensein eines Fehlers.
Der PR-(Print)-Befehl wird verwendet um das Drucken von Fehlernachrichten durch den Drucker vorzubereiten.
Der NPR-(no print)-Befehl wird verwendet, um das Drucken von Fehlernachrichten durch den Drucker
zu verhindern.
Der SNGL-(Single)-Befehl wird verwendet, um eine Zeile des Prüfprogramms durchzuführen. Er kann verwendet werden, um schrittweise durch das Programm zu gehen, wobei eine Zeile pro Schritt ausgeführt wird, oder von einer programmierten STOP-Anweisung zur Ausfuhrung einer Zeile fortzufahren. Der CONT-(Continue)-Befehl wird verwendet um nach einer programmierten STOP-Anweisung oder der Verwendung eines SNGL-Befehls die normale Programmdurchführung wieder aufzunehmen.
Der SNGL-(Single)-Befehl wird verwendet, um eine Zeile des Prüfprogramms durchzuführen. Er kann verwendet werden, um schrittweise durch das Programm zu gehen, wobei eine Zeile pro Schritt ausgeführt wird, oder von einer programmierten STOP-Anweisung zur Ausfuhrung einer Zeile fortzufahren. Der CONT-(Continue)-Befehl wird verwendet um nach einer programmierten STOP-Anweisung oder der Verwendung eines SNGL-Befehls die normale Programmdurchführung wieder aufzunehmen.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, enthält der elektronische Teil des Prüfgeräts ein vollständiges Sammelleitungs-
b5 orientiertes Datenverarbeitungssystem 25, welches eine zweiseitig gerichtete Drei-Zustands-Hauptsammelleitung
27 enthält welche mit sechs gedruckten Schahungskarten verbunden ist, nämlich einer Hauptprozessor-Schaltungskarte
28, einer Hochgeschwindigkeits-Stift-Steüerprozessor-Schaitungskarte 29, einer Speicher-Schaltungskarte
30, einer programmierbaren Bezugs-Schaltungskarte 31, einer Bedienungsfeld-Schaltungskarte
32 und einer Anschlußschaltung-Schaltungskarte 33 für periphere Einheiten.
Der geführte Tastkopf 13 ist mit der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Schaltungskarte (mit dem in F i g. 5
dargestellten Prioritäts-Codierer 150 derselben) verbunden, wodurch ein beim Prüfen eines Knotens auf der zu
prüfenden Schaltungskarte erzeugtes Kennzeichen in das Prozessor- oder Verarbeitungssystem 25 eingegeben
wird.
Die Bedienungsfeld-Schaltungskarte 32 ist mit einer Anzeigeeinheit 35 verbunden, welche das Anzeigefeld 16
(F i g. 1 B) und zugeordnete elektronische Schaltungen enthält, wie beispielsweise Zeichengeneratorschaltungen
und Treiberschaltungen zum Umformen von von der Hauptsammelleitung 27 und von dem Bedienungsfeld 32
kommenden Informationen in ein zum Erzeugen der gewünschten alphanumerischen Ausgabeinformationen
erforderliches Format. Mit der Bedienungsfeld-Schaltungskarte 32 ist ferner eine Einheit 36 verbunden, welche
das Tastenfeld und das digitale Vielfach-Meßinstrument umfaßt. Die Ausgabeinformation des digitalen Meßinstruments
der Einheit 36 wird auf dem Anzeigefeld 16 angezeigt In der Einheit 36 enthaltene Tastenfeld-Abtastschaltungen
tasten das Tastenfeld 12 ab, um die von der Bedienungsperson vorgenommenen Tastenbetätigungen
zu identifizieren und die entsprechenden Informationen in das für die Übertragung auf die Hauptsammelleitung
27 erforderliche Format zu bringen.
Die Hochgeschwindigkeits-Stift-Steuerprozessor-Schaätungskarte 29 verbindet die Hauptsammeüeitung 27
(welche eine Sechzehn-Bit-Sammelleitung ist) und die Treiber-Sensor-Schaltungskarten 4t, 42 und 43. Leitergruppen
45 und 47 werden allgemein als »Anschlußstift-Sammelleitungen« bezeichnet; es sei darauf hingewiesen,
daß die darin enthaltenen Leiter nicht zweiseitig gerichtet sind. Die Bezugszeichen 48,49 und 50 bezeichnen
drei Gruppen von vierundsechzig „Anschlußstiften« der in F i g. 1A dargestellten Randkontakt-Anschlußleisten.
\§ Jeder »Stift« ist entweder als Eingang zu oder Ausgang von der zu prüfenden Schaltungskarte programmierbar.
|| Die Anschlußschaltung-Schaltungskarte 33 für periphere Einheiten erleichtert die Datenübertragung zwi-
|? sehen der Hauptsammelleitung 27 und einem Drucker, einer Kassetteneinheit, einem akustischen Koppler, einer
f| Sandeinheit und einer RS-232-Verbindungseinheit
fe Zum besseren Verständnis des Zusammenarbeitens der verschiedenen in F i g. 2 dargestellten Elemente des 2s
Ir Prüfgeräts bei der Fehlerortung innerhalb einer zu prüfenden Schaltungskarte ist es zweckmäßig, drei Elemente
it, der F i g. 2 näher kennenzulernen, welche bei dem Fehlerortungs-Verfahren von wesentlicher Bedeutung sind.
| ; Unter Bezugnahme auf die F i g. 3A werden die Hauptbestandteile der Treiber-Sensor-Schaltungskarte 41
£* beschrieben. (Die Treiber-Sensor-Schaltungskarten 42 und 43 entsprechen vollständig der Treiber-Sensor-
Schaltungskarte 41.) Dekodierschaltungen 55A und 55B enthalten zusammen vierundsechzig Dekodier-Tor-■a
schaltungen, welche von der Anschlußstift-Sammelleitung 47 eine Acht-Bit-Adresse aufnehmen. Die Acht-Bit-
Adresse bestimmt einen von den 192 programmierbaren Eingangs-Ausgangsstiften auf einem der drei Treiber-
^ Sensor-Schaltungskarten 41,42,43, von denen jede vierundsechzig Dekodier-Torschaltungen und vierundsech-
p zig Eingangs-Ausgangsstifte aufweist Die Dekodierschaitungen 55A und 55B erzeugen ein Auswählsignal auf
p einem ausgewählten von vierundsechzig Auswählleitern 57 A oder 575, wodurch eine von vierundsechzig
v. Schaltungen in den Blöcken 58/4 und 58B ausgewählt wird, weiche im folgenden gelegentlich als »Stift-Steuer-
M schaltungen« bezeichnet werden. Die Fehlerleiter 59A und 59B stellen jeweils die logische ODER-Funktion der
£| zweiunddreißig Fehlerausgänge 94 der zweiunddreißig Stift-Steuerschaltungen 58A bzw. 5SB dar. (Siehe die
11 folgende Beschreibung der F i g. 3A.) Der Aufbau und die Arbeitsweise der Dekodierschaltungen 55A und 55 B
"'Ι sind bekannt so daß sich eine nähere Beschreibung derselben erübrigt
• Jede Stift-Steuerschaltung in den Blöcken 58A und 5SB wird verwendet um einen mit dieser Stif t-Steuerschal-
: j, tung verbundenen Eingangs-Ausgangsstift entweder anzusteuern oder abzutasten. Die Stiftsteuerung 7OA, 7OB
fß ist mit dem Eingang/Ausgang 100 in den F i g. 3B und 3C verbunden. Es sei darauf hingewiesen, daß der erste Teil
f| der Stiftsteuerschaltung 70A B in Fig.3B und der übrige Teil in Fig.3C dargestellt ist Die übrigen 191
:f Stiftsteuerschaltungen der F i g. 3A entsprechen der Stiftsteuerschaltung 7OA, B.
tö Unter Bezugnahme auf die F i g. 3B und 3C sei darauf hingewiesen, daß die Stiftsteuerschaltung 7OA unter
{i. Steuerung durch das Programm vier separate Betriebsarten ausführen kann, welche durch vier mögliche
ύ Zustände der an die Eingänge 71 und 72 angelegten Eingangssignale A bzw. B bestimmt werden. Diese vier
,jg Betriebsarten sind:
:| ■
|! (1) Liefern eines logischen Eingangssignals an den Eingangs-Ausgangsstift 100 der F i g. 3C, wenn A = B = 1;
f: wenn das an den Eingang iö3 der F i g. 3B angelegte H-Eingangssignal eine logische »i« ist, dann führt der
Stift 100 eine logische »1«, und wenn //eine logische »0« ist dann führt der Stift 100 eine logische »0«;
(2) Abtasten des Eingangs-Ausgangsstiftes 100 der F i g. 3C, wenn A — B — 0;
(3) Liefern eines positiven (pull-up) Stromes von einem Milliampere, welcher in den Eingangs-Ausgangsstift
100 hineinfließt, während dieser Stift 100 abgetastet wird, wenn A ~ 1 und B = 0;und
(4) Liefern eines negativen (pull-down) Stromes von einem Milliampere, welcher aus dem Stift 100 herausfließt
während der Stift 100 abgetastet wird, wenn A = O und B=I. Die obigen Betriebsarten sind in der Tabelle
1 zusammengefaßt
Wie aus F i g. 3B ersichtlich ist enthält die Stift-Steuerschaltung 7OA eine »Oberwachen«- oder »Monitor«-Halteschaltung
75, welche dem Prüfgerät gestattet, entweder an einem oder mehreren der Ausgangsstifte
der zu prüfenden Schaltungskarte festgestellte Fehler zu überwachen oder zu ignorieren. (Es sei darauf hingewiesen,
daß ein Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungskarte lediglich einer der Eingangs-Ausgangsstifte des
Prüfgeräts ist welcher als ein Ausgang programmiert ist) Der Informationseingang der Überwachen-Halte- es
schaltung 75 ist mit dem Oberwachen-Eingang 104 verbunden, an welchen ein mit Mbezeichnetes Oberwachenoder
Monitor-Signal angelegt wird
0 0 χ Abtasten (drei Zustände)
1 0 χ Abtasten (1 mA Quellenstrom)
0 1 χ Abtaster. (1 mA Senkenstrom)
1 1 0 Treiben auf VL (niedriger Pegel)
1 1 1 Treiben auf V« (hoher Pegel)
Die Stiftsteuerschaltung 70A enthält ferner eine »Zustandw-Halteschaltung 74, deren Informationoeingang mit
dem Eingang 101 verbunden ist Wenn die Stiftsteuerschaltung 70A als Empfänger programmiert ist, dann wird
die tatsächlich an dem entsprechenden Ausgang der zu prüfenden Schaltungskarte festgestellte Information
durch die Vergleichsstufe 106 in F i g. 3C festgestellt und als Signal /auf den Knoten 101 gegeben, welcher an den
is Eingang der Zustand-Halteschaltung 74 zurückgeführt wird.
Die Stiftsteuerschaltung 70A enthält eine erste Reihe von Halteschaltungen, welche die Halteschaltungen 76,
78 und 80 (Fi g. 3B) enthält, deren Informationseingänge mit dem A-Eingang 71, dem B-Eingang 72 bzw. dem
//-Eingang 103 verbunden sind Die Takteingangssignale für die Halteschaltungen 76,78 und 80 werden durch
verschiedene der in F i g. 3B dargestellten logischen Verknüpfungsglieder erzeugt Die Einzelheiten sind für die
Erfindung jedoch nicht von Bedeutung und werden deshalb nicht näher beschrieben. (Die Ausdrücke »Halteschaltung« und »Flip-Flop« werden im folgenden untereinander austauschbar verwendet)
Die Stif!steuerschaltung 7OA enthält eine zweite Reihe von Halteschal'ungen, nämlich die Halteschaltungen
77,79 und 81, deren Informationseingänge mit den Ausgängen der Halteschaltungen 76,78 bzw. 80 verbunden
sind, welche die erste Reihe von Halteschaltungen darstellen. Die Takteingänge der Halteschaltungen 77,79 und
81 sind mit dem Austastimpuls-Eingang UO verbunden. (Die Halteschaltungen 76 bis 81 sind durch die in
F i g. 3D gezeigte Schaltung realisiert) Dieses Merkmal gestattet es dem Prüfgerät, entweder Eingangsstiftänderungen aufeinanderfolgend vorzunehmen, wobei jeweils nur ein Eingangsstift seinen Zustand ändert, oder in
einem sogenannten »Breitseiten«-Betrieb, wobei alle Eingangsstiftänderungen der zu prüfenden Schaltungskarte gleichzeitig erfolgen. Nach einem programmierbaren Austastimpuls, welcher der Eingangsstiftänderung folgt,
werden die Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltungskarte gleichzeitig in der Zustand-Halteschaltung
gespeichert, wo sie später geprüft werden können, um ein Signal zu erzeugen, welches anzeigt ob einer oder
mehrere der Ausgänge der zu prüfenden Schaltungskarte fehlen bzw. fehlerhaft sind.
Diese Arbeitsweise wird erreicht durch (1) Speicherung des gewünschten Eingangs zu der zu prüfenden
Schaltungskarte oder (2) Speicherung des erwarteten Ergebnisses von der zu prüfenden Schaltungskarte in die
Halteschaltung 80 (welche auch als »Hoch/Niedrig-Halteschaltung« bezeichnet wird) jeder der zur Prüfung der
Schaltungskarte verwendeten Stiftsteuerschaltungen 70. Nachdem alle Informationen nacheinander von dem
Prozessor erhalten und in der Hoch/Niedrig-Halteschaltung 80 jedes verwendeten Eingangs/Ausgangsstiftes
gespeichert wurden, wird ein Austastimpuls XS an den Austastimpuls-Eingang HO angelegt welcher gleichzeitig
das thigangsprüfmuster an alle Eingänge der Treiberteile 70Ä der Stifttreiberschaltungen 70A B angelegt,
deren Eingangs/Ausgangsstifte 100 mit den Eingängen der zu prüfenden Schaltungskarte verbunden sind.
Die Gruppe von Verknüpfungsgliedern 115,116,117,118 und 118' der F i g. 3C empfängt die Signale A 'und B
von den Halteschaltungen 77 bzw. 79 der zweiten Reihe und benutzen die A- und ß'-Signale, um Stromqueilen-Schaltungen 119,120,121 und 122 gemäß der Tabelle 1 zu erregen. (Wie bereits erwähnt, nehmen A', B' und H'
die Werte A, B und H an, wenn das Austastsignal XS angelegt wird.) Wenn die Stromquellenschaltung 119 durch
das Ausgangssignal des UND-Gliedes 115 als Ergebnis der Bedingung A — 1, B — 0 aktiviert ist, erzeugt sie
einen Strom von einem Milliampere, welcher in den Eingangs/Ausgangsknoten 100 hineinfließt, während die
anderen drei Stromquellenschaltungen abgeschaltet bleiben. In ähnlicher Weise entnimmt die Stromquellenschaltung 121 einen Strom von einem Milliampere aus dem Eingangs/Ausgangsstift 100, wenn A = O und S=I.
Die Stromquellenschaltung 120 ändert den Knoten 100 auf Vh Volt, wenn A = 1 und B = 1. Schließlich bringt
die Stromquellenschaltung 122 den Eingangs/Ausgangsstift 100 auf VL Volt wenn A <= 1 und B = 1.
Der Eingangs/Ausgangsstift 100 der F i g. 3C ist mit dem Treiber/Sensor-Steckerstift 23C und mit einem
Anschluß eines Schalters 26C verbunden. Der andere Anschluß des Schalters 26Cist mit dem Randkontaktstekkerstift 22C und mit dem Randkoniaktstift 46 verbunden, welcher mit einem entsprechenden Anschlußstift der
zu prüfenden Schaltungskarte in Verbindung steht, wodurch ein Informationsaustausch zwischen der Treiber/
Ein Fachmann ist ohne weiteres in der Lage, zu überprüfen, daß die in F i g. 3B dargestellten Verknüpfungsglieder die in den Tabellen 2 und 3 wiedergegebenen Wahrheitswerttafeln für den Ablauf der Fehlersuche an den
Eingangs/Ausgangsstiften 100 für verschiedene Betriebsarten realisieren.
Die Operation ist im wesentlichen die, daß dann, wenn die TF-(TeSt fault on any pin — Prüffehler an einem
Stift)- oder TMF-(TeSt monitored fault — Prüfungs-Überwachungsfehler)-Funktionen aufgrund der in der
Tabelle 1 angegebenen Logiksignaleingänge erzeugt werden, die Fehlerleitung 94 in Fig. 3B sich auf einem
niedrigen Pegel befindet, wenn an dem Eingangs/Ausgangsstift 100 ein Fehler festgestellt wird und sich auf
einem hohen Pegel befindet, wenn an diesem Eingangs/Ausgangsstift 100 kein Fehler festgestellt wird.
CS j | M | B | A | H | Prüffehler oder Prüfungs-Überwachungs-Fehler | Funktion | το |
X ( | ) | 0 | 0 | 0 | Prüffehler oder Prüfungs-Überwachungs-Fehler | Keine Operation | 1 |
O | X | X | X | Prüfzustand | Prüffehlerfirgendein Fehler) | 0 | |
1 ( | ) | 0 | 0 | 1 | Prüfzustand | Prüfungs-Überwachungs-Fehler | 0 |
1 ( | ) | 0 | 1 | 0 | Prüfzustand | 1 | |
1 ( | ) | 1 | X | X | Vernachlässigung (d. h. nicht überwacht) | ||
0 | 0 | 0 | Ausgang niedrig | ||||
] | 0 | 0 | 1 | Ausgang hoch | |||
0 | 1 | 0 | Ausgang niedrig: 1 mA, Quellenstrom | ||||
0 | 1 | 1 | Ausgang hoch: 1 mA, Quellenstrom | ||||
1 | 1 | 0 | 0 | Ausgang niedrig: 1 m A, Senkenstrom | |||
1 | 0 | 1 | Ausgang hoch: 1 mA, Senkenstrom | ||||
1 | 1 | 0 | Eingang / — niedrig | ||||
1 | 1 | 1 | 1 | Eingang / - hoch | |||
Tabelle 3 | |||||||
Funktion | Bedingung | ||||||
kein Fehler | |||||||
Fehler | |||||||
Zustand rückgestellt | |||||||
Zustand eingestellt | |||||||
Es sei daran erinnert, daß 192 Stiftsteuerschaltungen entsprechend der Schaltung 70 und gemüß Fig.2 drei
Treiber/Sensor-Schaltungskarten vorhanden sind. Sechs Gruppen von zweiunddreißig Fehlerleitungen, wie
beispielsweise 94, werden einer logischen ODER-Funktion unterzogen, um sechs Gruppen von »Gruppen-Fehler-Leiter« zu erhalten, welche einem Prioritäts-Codierer 150 des in F ί g. 5 dargestellten Hochgeschwindigkeitsprozessors zugeführt werden, wie dies im folgenden beschrieben wird. Das Kabel 13' des geführten Tastkopfes
wird als ein weiterer Eingang zu dem Prioritäts-Codierer 150 verwendet
Wenn der Hochgeschwindigkeitsprozessor eine Anzeige für einen festgestellten Fehler empfängt, dann wird
eine diesen Fehler darstellende Information durch den Hochgeschwindigkeitsprozessor auf die Hauptsammelleitung 27 gegeben, von wo aus sie zu dem Hauptprozessor 28 übertragen wird. Der Hauptprozessor tritt dann
aufgrund dieser Fehlerinformation in Tätigkeit
Es sei darauf hingewiesen, daß die »Fehle; leiter« tatsächlich drei verschiedene Arten von Informationen
aufweisen können. Erstens können sie die Information enthalten, daß an mindestens einem Stift der zu prüfenden
Schaltungskarte ein Fehler festgestellt wurde. Zweitens können die Fehlerleitungen Informationen führen,
welche anzeigen, daß an einem speziell adressierten Stift ein Fehler festgestellt wurde. Schließlich können die
Fehlerleitungen auch Informationen führen, welche anzeigen, ob ein adressierter Stift einen hohen oder einen
niedrigen Pegel aufweist. Die zuletzt genannte Betriebsart wird verwendet. Daten von dem Stift der zu prüfenden Schaltungskarte abzulesen und diese in ein Schieberegister einzuschieben.
Die Steuereingangssignale A, B und M zu der Stiftsteuerschaltung 7OA bestimmen, ob der Fehlerleitungsausgang 94 (SO) den festgehaltenen logischen Zustand eines adressierten Eingangs/Ausgangsstiftes, das Vorhandensein eines adressierten, überwachten Eingangs/Ausgangsstiftes, oder das Vorhandensein eines Fehlers auf
irgendeinem der überwachten Stifte anzeigt. Diese Flexibilität ermöglicht einem System, alle 192 Eingangs/Ausgangsstifte parallel zu prüfen, um festzustellen, ob irgendein Fehler auf irgendeinem überwachten Stift vorhanden ist Wenn ein solcher Fehler vorhanden ist, dann ruft das System jeden Eingangs/Ausgangsstift in einer
vorbestimmten Auswählreihenfolge auf und führt FehlerprUfungen duch.
Es sei darauf hingewiesen, daß das Prüfgerät sowohl ein »Breitseite«-Prüfgerät als auch ein »Serie«-Prüfgerät
simulieren kann, obwohl das Prüfgerät vom Prinzip her ein »Serie«- oder »Aufeinanderfolge«-Prüfgerät ist,
welches gleichzeitig nur einen einzigen Eingangs/Ausgangsstift prüft Aufgrund der doppelten Flip-Flop-Reihe
in jeder der Stift-Steuerschaltungen, wie 70A, B in den F i g. 3B und 3C, kann die seriell angelegte Information
jedoch in der ersten Reihe von Flip-Flops (d. h. Flip-Flops 76,78 und 80 in F i g. 3B) gespeichert werden und dann
gleichzeitig in die zweite Flip-Flop-Reihe (d. h. 77,79 und 81 in F i g. 3B) und zu den Eingangs/Ausgangsstiften
der zu prüfenden Schaltungskarte während der Vorderflanke des Signals XS weitergegeben werden. Die
»Breitseite«-Betriebsart ist häufig für die Prüfung solcher Schaltungskarten oder Vorrichtungen zweckmäßiger,
welche Mikroprozessor-Sammelleitungen enthalten. (In manchen Fällen ist es auch zweckmäßig, wenn das
Prüfgerä' in der Lage ist, andere »Breitseite-Betriebsart«-Prüfgeräte zu emulieren, so daß zuvor für solche
»Breitseite-Betriebsart«-Prüfgeräte geschriebene Prüfprogramme auf einfache Weise zur Verwendung in dem
erfindungsgemäßen tragbaren Prüfgerät übersetzt werden können. Es sei darauf hingewiesen, daß für eine
»Breitseitew-Prüfung einer Schaltungskarte geschriebene Prüfprogramme normalerweise die zu prüfende Schaltungskarte nicht einwandfrei prüfen, wenn ein aufeinanderfolgendes Anlegen an die Eingänge derselben erfolgt.)
Es sind sechs AS-Austastleitungen, wie die Leitung 110 in F i g. 3B, vorhanden, und zwar jeweils eine für jede
Gruppe (wie 58-4 in F i g. 3A) von zweiunddreißig Stiftsteuerschaltungen, um in den Hoch/Niedrig-Halteschaltungen (wie der Halteschaltung 80 in F i g. 3B) jeder Gruppe von zweiunddreißig Stift-Halteschaltungen gespei-
29 t4 128
cherte Information in die zweite Reihe von Halteschaltungen (wie die Halteschaltung 81 in F i g. 3B) zu bringen.
. Hinterflanke des Austastsignals JCS wird das von jedem der Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte
aufgrund des eingegebenen Prüfmusters empfangene oder festgestellte Verhalten (I) in die entsprechende
Wie bereits erwähnt, wird das zu erwartende Zustands-Verhalten bzw. die zu erwartende Reaktion der zu
prüfenden Schaltungskarte für jede Treiber/Sensor-Schaltung anfangs in die Hoch/Niedrig-Halteschaltung
durch das //-Eingangssignal eingegeben. Der erwartete Zustand wird während der Vorderflanke des Signals XS
in die Hakeschaltung 81 eingetastet Der Ausgang der Halteschaltung 81 wird an den Eingang einer EXKLU-
to SIV-ODER-Schaltung 75Λ (Fig.3B) angelegt Der tatsächlich festgestellte Verhaltens-Zustand des entsprechenden Ausgangs der zu prüfenden Schaitungskarte ist das Signal /, welches während der Rückflanke des
Signals XS in die Zustand-Halteschaltung 74 eingegeben wird, von wo aus das tatsächliche Verhalten in die
EXCLUSIV-QDER-Schaltung 75A gegeben wird, wodurch ein Fehlersignal erzeugt wird, wenn das festgestellte
Verhalten der zu prüf enden Schaltungskarte von dem erwarteten Zustand verschieden ist
Unter Bezugnahme auf die F i g. 5 wird nunmehr der Hochgeschwindigkeits-Stift-Steuerprozessor 29* (welcher den Hauptbestandteil der auf der Schaltungskarte 29 der F i g. 2 befindlichen Schaltung bildet) beschrieben,
welcher die Verbindung herstellt zwischen der Hauptsammelleitung 27, welche eine Sechzehn-Bit-Sammelleitung ist, und den »Anschlußstift-Sammelleitungen« 45 und 47, welche aus etwa zwanzig Leitungen bestehen,
welche zu den drei Treiber/Sensor-Schaltungskarten 41,42 und 43 verlaufen bzw. von diesen kommen.
Die Stift-Sammelleitung-Eingangsleiter 45 enthalten sechs über eine logische ODER-Funktion verknüpfte
»Gruppenfehlerleitungen«, wie die Leitungen 59Λ und 59£ in Fig.3A. Die Gruppenfehlerleitungen führen
jeweils die logische ODER-Funktion von zweiunddreißig Fehlerleitungen, wie beispielsweise der Fehlerleitung
94 in Fig.3B. Die Stift-Sammelleitungsleiter 45 enthalten ferner den Tastkopfleiter 13' der Fig.2. Die Stift-Sammelleitungs-Ausgangsleiter 47 enthalten die oben erwähnte Acht-Bit-Adressen-Sammelleitung, welche da-
zu verwendet wird, einen von 192 Stift-Steuerschaltungen auszuwählen. Die Stift-Sammelleitungs-Ausgangsleiter 47 enthalten ferner die A-, B-, H-, M-, XS- und AS-Eingänge zu dex in F i g. 3B gezeigten Stift-Steuerschaltung.
Unter weiterer Bezugnahme auf die F i g. 5 sei darauf hingewiesen, daß eine Taktschaltung 153 eine Anzahl
herkömmlicher Zähler, Register, Flip-Flops und einige Steuerverknüpfungs-Schaltungen enthält, um program
mierbare Hochgeschwindigkeits-Taktsignale zu erzeugen, welche zur Steuerung der Arbeitsweise des Hochge-
schwindigkeits-Prozessors verwendet werden. Der Bereich der Zykluszeit der programmierbaren Taktsignale
reicht von 150 Nanosekunden zu etwa 12,5 Mikrosekunden in Schritten von 50 Nanosekunden. Die Taktschaltung 153 enthält ein Register, welches von der Hauptsammelleitung 27 geladen wird, um die programmierbare
Zykluszeit des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu bestimmen. Die Zykluszeit des Hochgeschwindigkeits-Pro
zessors steuert die Schrittfolgegeschwindigkeit, mit welcher das Prüfgerät während der Prüfung einer Schal
tungskarte von einem Eingangs/Ausgangs-Stift zum anderen fortschaltet Die Taktschaltung 153 kann auf
einfache Weise unter Verwendung von Halteschaltungen, von Flip-Flops und von Zählern als Hauptbestandteile
derselben realisiert werden.
Ein Steuerpufferspeicher 154 dient dazu, dem Hauptprozessor 28 (F i g. 2) das Lesen der gerade durch den
Hochgeschwindigkeitsprozessor ausgeführten Adresse zu ermöglichen. Sein Hauptverwendurigszweck ist jedoch die Fehlerdiagnose.
Das Zustands-Register 155 ist ein Lese/Schreib-Speicher, welcher verschiedene Markierungen und Zustandsinformationen enthält Mehrere Eingangs- und Ausgangssignale werden zwischen dem Zustands-Register 155
und verschiedenen Verknüpfungsgliedern des Prüfgerätes übertragen, wie dies durch die Bezugszeichen 156 und
157 angedeutet ist Ein Bit des Zustands-Registers gibt an, ob das Prüfgerät in der oben erwähnten !»Breitseite«-Betriebsart oder in der »Serie«-Betriebsart arbeitet, wobei die zuletzt genannte Betriebsart diejenige ist in
welcher gleichzeitig nur ein Eingangs/Ausgangs-Stift geändert wird. Einige der Informationen, beispielsweise
ein »Laufen/Halten«-Bit und drei Programmarkierungen, für das Zustands-Register 155 kommen von dem
Hauptprozessor 28. Andere Informationen für das Zustands-Register 155 kommen von dem Hochgeschwindig
keitsprozessor selbst wie beispielsweise der Zustand der Fehlerleitungen und der Zustand des »Daten-Einga-
be«-Registers 159 und des »Daten-Ausgabe«-Registers 160. Der Hauptprozessor 28 ist in der Lage, das Zustands-Register 155 als eine Speicherstelle zu lesen, während der Hochgeschwindigkeitsprozessor das Zustands-Register 155 als eine Quelle für Steuersignale verwendet. Das Zustands-Register 155 kann auf einfache Weise
durch Verwendung von Registern und Pufferspeichern realisiert werden.
Das »Daten-Eingabe«-Register 159 und das »Daten-Ausgabe«-Register 160 enthalten Halteschaltungen mit
Drei-Zustands-Ausgängen.
Ein Speicher mit wahlfreiem Zugriff (Random Access Memory — RAM) 163 ist als ein Speicher mit 1024
Wörtern zu sechzehn Bits organisiert. Die Befehle für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor sind in diesem
Speicher 163 (RAM) gespeichert. Die in Verbindung mit dem Hochgeschwindigkeits-Anschluß 170 und der
Hochgeschwindigkeits-Sammelleitung 45' verwendeten Daten können ebenfalls in dem RAM 163 gespeichert
sein.
Ein Schieberegister 166 ist ein parallel ladbares und parallel lesbares Sechszehn-Bit-Schieberegister. Ein von
einem CRC-Generator 180 kommendes CRC-Zeichen kann seriell in das Schieberegister 166 eingeschoben
werden, so daß das CRC-Zeichen in einem parallelen Format ausgelesen und auf die Sammelleitung 161 (welche
eine interne Sechzehn-Bit-Sammelleitung des Hochgeschwindigkeits-Prozessors ist) und über das »Daten-Ausgabe«-Register 160 und die Hauptsammelleitung 27 zu dem Hauptprozessor 28 ausgegeben wird. Von der
Stift-Steuerelektronikschaltung 151 zu dem seriellen Eingang des Schieberegisters 166 führt eine einzelne
Leitung 201, welche ein schnelles Lesen von sechzehn Eingangs/Ausgangs-Stiften der zu prüfenden Schaltungs-
karte durch den Hauptprozessor 28 erlaubt Der Zustand solcher Eingangs/Ausgangs-Stifte kann mittels sechzehn
Schiebeoperationen schnell in das Schieberegister 166 geschoben werden, so daß der Hauptprozessor 28
diese Information dann in einem parallelen Format über die interne Sammelleitung 161 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors
und das »Daten-Ausgabe«-Register 160 lesen kann. Diese Fähigkeit ist bei <ier Prüfung von
Schaltungskarten zweckmäßig, welche Mikroprozessoren enthalten.
Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor besitzt einen »Daten-Ausschiebena-Befebl welcher in der Lage ist die
Werte der H-, M-, A-. und B-Eingänge zu einer adressierten der Stift-Steuerschaltungen, wie der Schaltung 7OA
B der F i g. 3B und 3C, zu übermitteln, pine solche Information könnte durch Befehle vom Hauptprozessor 28
angegeben werden, jedoch kann sie srwünschtenfalls statt dessen auch in.,die in das Schieberegister 166
einzuschiebende Information eingebaut werden und durch die in dem Befehlsregister 169 enthaltende Information
zu den Leitern der Anschlußstift-Sammeüeitung 47 ausgeschoben werden, und zwar aufgrund von sechzehn
Schiebeoperationen, und gelangt dann über die Stift-Steuerlogikschaltung 151 des Hochgescbwindigkeits-Prozessors
29' zu der adressierten Stift-Steuerschaltung 70A, R Diese Fähigkeit ist zweckmäßig für die schnelle
Übertragung von Daten'auf der Hauptsammelleitung 27 zu der zu prüfenden Schaltungskarte. Dies ist beispielsweise
von großem Vorteil für die Prüfung von Schaltungsktrten, welche einen Mikroprozessor enthalten, da es
in diesem Fall normalerweise erforderlich ist, da/$ das Prüfgerät sechzehn Informationsbits zu der Mikroprozessor-Sammelleitung
der zu prüfenden Schaltungskarte liefert
Die Mikro-Steuereinheit 165 ist realisiert durch Verwendung einer integrierten Mikro-Steuerschaltungseinheit,
welche im wesentlichen eine Adressen-Steuereinheit ist, d. h. eine Adressenfolgeschaltung. Sie enthält die
nächste Adresse für den Zugriff zu dem RAM 163. Die Mikro-Steuereinheit 165 besitzt die Fähigkeit, Unterprogramme
und Schleifen durchzuführen.
Eine Multiplex-Einheit 167 besitzt eine Anzahl von Eingängen von dem Prioritäts-Codiererabschnitt 150 der
Steuerlogikschaltung 151 und dem Befehlsregister 169. Der Prioritäts-Codierer besitzt vier Ausgange. Einer
dieser Ausgänge zeigt an, ob eine der sechs Gruppen von Fehlerleitungen, wie beispielsweise 58/4 oder 58B in
F i g. 3A, einen festgestellten Fehler auf einem Eingangs/Ausgangs-Stift anzeigt Die anderen drei Ausgänge
zeigen an, weiche der sechs Gruppen-Fehlerleitungen, von denen Fehlersignale festgestellt wurden, die höchste
Priorität besitzt Um die Durchführung von Verzweigungsoperationen durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor
zu ermöglichen, wird normalerweise der Sprungbefehl in das Befehlsregister 169 gegeben. Die zehn
stellenwertmäßig niedrigsten Bits des Befehls werden in die Multiplexer-Einheit 167 und von dort in die
Steuereinheit 165 übertragen. Der Sprungbefehl wird dann ausgeführt Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor
enthält einen »Springen-bei-Unterfehlerw-Befehl (»Jump on sub-fault« instruction), welcher unmittelbar auf eine
bestimmte Adresse verzweigt, welche auf den vier Ausgängen des Prioritäts-Codierers basiert. Die Funktion der
Multiplexer-Einheit 167 besteht darin, diese Verzweigungsoperation zu ermöglichen.
Der Zähler 168 wird durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor verwendet, um Schleifenbefehle auszuführen.
Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor enthält einen »Zähler-Vermindern-und-Verzweigen-wennnicht-Ow-Befehl,
worin der Zähler um eine Einheit vermindert wird. Wenn der Inhalt des Zählers 168 gleich Null
ist dann wird in dem Zustandsregister 155 ein Markierungsbit gesetzt In der Mikro-Steuereinheit 165 befindet
1% sich ein Register, welches eine Adresse enthält zu welcher eine Verzweigung erfolgt, wenn der Zählerinhalt
ψ nicht gleich Null ist
Il Wie bereits erwähnt wird der Ausgang des Tastkopfes 13 in den Prioritäts-Codierer 150 des Hochgeschwin-
ff* digkeits-Prozessors 29' eingegeben; siehe F i g. 5 und F i g. 2. Der von dem Tastkopf 13 empfangene Datenstrom
P (als Ergebnis der Abtastung eines Knotens auf der zu prüfenden Schaltungskarte) wird über den Leiter 179 zu
den Eingängen des CRC-Zeichengenerators 180 und dem Stift-Zustand-RAM 181 eingegeben. Der Stift-Zustand-Speicher-RAM
181 ist ein serieller Tausend-Bit-Speicher mit wahlfreiem Zugriff (Random access memory
i, — RAM). Die ersten tausend Zustände des geprüften Knotens sind in dem Stift-Zustand-RAM 181 gespeichert
• j und von dieser Information, welche in den Hauptprozessor eingegeben wird, wird die Eingabeprüfnummer des
'•'r ersten Übergangs des geprüften Knotens bestimmt und in der später näher beschriebenen Weise in der
Geschehenstabelle des Hauptspeichers gespeichert Wenn während der ersten tausend Prüfungen kein Übergang
oder Sprung des geprüften Knotens auftritt, wird eine maximal mögliche Eingangsprüfnummer in der
Geschehenstabelle gespeichert um die Feststellung zu sichern, daß der geprüfte bzw. abgetastete Knoten nicht
die Quelle eines Fehlers in einer Schleife der Schaltung der zu prüfenden Schaltungskarte ist, wie dies aus der
folgenden Beschreibung noch deutlich wird.
. Es ist auch möglich, statt des Stift-Zustands-Speichers RAM 181 eine Schaltung 181' zu verwenden, um die
'Λ\ Zeit (d. h. die Eingangsprüfnummer) des ersten Übergangs des gerade zu prüfenden Knotens festzustellen. Die
ρ Eingangsprüfnummer wird dann direkt in parallelem Format über die Hauptsammelleitung 27 in den Hauptpro-
ψ zessor 28 eingegeben. Die Schaltung 181' kann auf einfache Weise durch Verwendung eines Zählers, eines
S Flip-Flops, welches den ursprünglichen Zustand des zu prüfenden Knotens speichert, und durch einige EXCLU-
J"!, SIV-ODER-Schaltungen realisiert werden.
f{( Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor 29' besitzt eine begrenzte Gruppe von Defehlen, welche auf die Mani-
.'■ pulation von Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte gerichtet ist und die Ergebnisse derselben abfragt bzw.
abtastet. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor besitzt zwei voneinander unabhängige Betriebsarten. Die erste
ist in der Lage, in der »Verzweigungs«-(»Bypass«-)- oder Einzelschritt-Betriebsart zu arbeiten. In dieser Betriebsart
wird ein Befehl von dem Hauptprozessor in de;: Hochgeschwindigkeits-Prozessor gegeben. Der
Hochgeschwindigkeits-Prozessor wirkt lediglich als eine Übertragungs- bzw. Übersetzungs-Vorrichtung und als
eine Zeitgabe-Einrichtung, um die Übertragung von Befehlen in das Stift-Untersystem zu erleichtern. Unter
Bezugnahme auf F i g. 5 sei darauf hingewiesen, daß der Befehl von dem Hauptprozessor 28 auf die Hauptsammelleitung
27 übertragen wird und von dort auf die Sammelleitung 161 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors
und von dort wiederum über das Befehlsregister 169 und die Stift-Steuerschaltung 151 zu den »Stift-Sammellei-
tungs«-Leitern 47.
Die Stift-Steuerschaltung 151 enthält verschiedene Tor- bzw. Verknüpfungsschaltungen, welche von einem
Fachmann auf einfache Weise realisiert werden können, um die erforderlichen Verknüpfungs- und Pufferfunktionen
in Abhängigkeit von von den Leitern 172 des Lesespeichers ROM 171 kommenden Signalen durchzuführen,
um Informationen von dem Schieberegister 166 oder dem Befehlsregister 169 zu entsprechenden Leitern
der Stift-Sammelleitung 47 zu schieben. Beispielsweise liefern acht Bits des Befehlsregisters 169 die Adresse, um
eine von den 192 Treiber/Sensor-Schaltungen auszuwählen; diese acht Bits werden an entsprechende Leiter der
Stift-Sammelleitung 47 mit Hilfe von herkömmlichen Pufferschaltungen in der Stift-Steuerschaltung 151 angelegt
Andere Signale der Stift-Sammelleitungen 47 und 45 umfassen gesteuerte Verknüpfungsfunktionen, welche
ίο komplizierter aufgebaut sind, sich jedoch vom Fachmann ohne weiteres realisieren lassen.
Die Arbeitsweise des Hochgeschwindigkeits-Prozessors in der »Verzweigen«-Betriebsart ist so, daß der
Hochgeschwindigkeits-Prozessor tatsächlich seine eigenen Befehle ausführt In der »Verzweigen«-Betriebsart
tastet der ROM-Teil des Hochgeschwindigkeits-Prozessors kontinuierlich das »Dateneingabe«-Register 159 ab.
Immer dann, wenn Daten in dem »Dateneingabe«-Register 159 festgestellt werden, werden diese Daten, zu der
Sammelleitung 161 übertragen und in das Befehlsregister 169 gebracht, wo einige von ihnen durch den Lesespeicher
ROM 171 dekodiert werden, um die erforderlichen Aktivierungssignale auf den Leitern 172 zu erzeugen,
um die Befehle oder Daten über die Stift-Steuerlogikschaltung 151 zu den entsprechenden Leitern der »Stift-Sammelleitungs«-Leiter
47 zu übertragen. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor versucht dann, einen nächsten
Befehl von dem RAM 163 zu erhalten, wird jedoch dazu veranlaßt, in den H ALT-Zustand zurückzufallen.
Die zweite Betriebsart für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor ist die »Verarbeitungs«-(»Process«)-Betriebsart. In dieser Betriebsart gelangen die acht höherwertigen Bits aus dem Befehlsregister 169 in den ROM 171 und werden dekodiert, um Steuersignale auf den Leitern 172 zu erzeugen, welche zu verschiedenen anderen Elementen des Hochgeschwindigkeits-Prozessors geleitet werden, um die Ursprungs- und Bestimmungseinheiten für innerhalb des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu übertragende Daten zu steuern. Um den RAM 163 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu laden, führt der letztere typischerweise einen Sprung in eine Stellung aus, welche als »Adresse-minus-1« bezeichnet wird, die Adresse ist die Adresse des Befehls, welcher von dem RAM 163 geladen werden soll. Der Befehl wird über die Sammelleitung 161 in das Befehlsregister 169 geladen und von hier gelangt er über die Multiplexer-Einheit 167 in die Mikro-Steuereinheit 165. Diese wird automatisch in aufsteigendem Sinne fortgeschaltet, wenn sie damit beginnt, den Inhalt der adressierten Speicherstellung abzurufen. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor geht an diesem Punkt in die HALT-Betriebsart und das Adressenregister des RAM wird geladen. Normalerweise würde der nächste Befehl sein, Daten in die adressierte Stelle des RAM einzugeben.
Die zweite Betriebsart für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor ist die »Verarbeitungs«-(»Process«)-Betriebsart. In dieser Betriebsart gelangen die acht höherwertigen Bits aus dem Befehlsregister 169 in den ROM 171 und werden dekodiert, um Steuersignale auf den Leitern 172 zu erzeugen, welche zu verschiedenen anderen Elementen des Hochgeschwindigkeits-Prozessors geleitet werden, um die Ursprungs- und Bestimmungseinheiten für innerhalb des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu übertragende Daten zu steuern. Um den RAM 163 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu laden, führt der letztere typischerweise einen Sprung in eine Stellung aus, welche als »Adresse-minus-1« bezeichnet wird, die Adresse ist die Adresse des Befehls, welcher von dem RAM 163 geladen werden soll. Der Befehl wird über die Sammelleitung 161 in das Befehlsregister 169 geladen und von hier gelangt er über die Multiplexer-Einheit 167 in die Mikro-Steuereinheit 165. Diese wird automatisch in aufsteigendem Sinne fortgeschaltet, wenn sie damit beginnt, den Inhalt der adressierten Speicherstellung abzurufen. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor geht an diesem Punkt in die HALT-Betriebsart und das Adressenregister des RAM wird geladen. Normalerweise würde der nächste Befehl sein, Daten in die adressierte Stelle des RAM einzugeben.
Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor 29' kann dazu verwendet werden, verschiedene Funktionen in dem
Prüfgerät durchzuführen. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor kann als Taktgenerator verwendet werden, um
die Prüfung von Schaltungskarten zu erleichtern, welche Hochgeschwindigkeits-Takteingangssignale benötigen.
In dem RAM 163 kann ein Programm gespeichert werden, um solche Taktsignale zu erzeugen. Während der
Hochgeschwindigkeits-Prozessor solche Taktsignale erzeugt, gestattet er Unterbrechungen von dem Hauptprozessor
28 zu geeigneten Zeitpunkten. Das Hauptprüfprogramm für die zu prüfende Schaltungskarte ist selbstverständlich
in dem Hauptprozessor 28 gespeichert Der Hauptprozessor 28 kann somit mit dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor
in einer »verwobenen« Weise zusammenarbeiten, während der Hochgeschwindigkeits-Prozessor
als Taktgenerator arbeitet, wobei er sowohl die erforderlichen Prüfmuster für die zu prüfende Schaltungskarte
als auch die für die zu prüfende Schaltungskarte erforderlichen Hochgeschwindigkeits-Taktsignale
liefert Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor wird ferner dazu verwendet als Obersetzer für von dem Haupt-■
prozessor 28 kommenden Befehlen hoher Ebene zu dienen, um die Anpassung zwischen der Hauptsammelleitung
27 und den Stift-Sammelleitungen 45,48 zu erleichtern. In dieser Betriebsart ist ein kleines Übersetzungsprogramm
in dem RAM 163 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors gespeichert, um die jeweilige Art und Weise
zu interpretieren, in welcher auf der Hauptsammelleitung 27 vorhandene Information auf die gewünschten
Eingabe/Ausgabe-Stifte der zu prüfenden Schaltungskarte aufzufächern ist Wenn somit der in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor
gespeicherte Mikrocode einen Befehl höherer Ebene von dem Hauptprozessor 28 empfängt leitet der Mikrocode diesen Befehl zu dem entsprechenden Stift der zu prüfender. Scha'tungskarie.
Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor kann außerdem eine Synchronisierungs-Funktion ausführen, um zu
bewirken, daß das Prüfgerät mit einer zu prüfenden Schaltungskarte, welche ihre eigene Zeitgabe erzeugt,
synchronisiert wird. Bei dieser Betriebsart verwendet der in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor gespeicherte
Mikrocode einen WARTEN-Befehl, um den Rest des Prüfgerätes so lange »einzufrieren«, bis sich ein bestimmtes
Signal von der zu prüfenden Schaltungskarte ändert An diesem Punkt kann der Hochgeschwindigkeits-Prozessor
seinen eigenen Mikrocode weiter ausführen oder er kann weitere Befehle vom Hauptprozessor 28
übersetzen oder interpretieren, um die weitere Ausführung des Prüfprogramms für die zu prüfende Schaltungskarte zu erleichtern.
Dies ist ein wesentlicher Vorteil, da selbst die meisten bekannten »Fabrikprüfgeräte« schwerwiegende Probleme
beim Prüfen asynchroner Vorrichtungen, beispielsweise von als Hauptbestandteil einen Mikroprozessor
aufweisenden Schaltungskarten, aufweisen. Es ist häufig erforderlich, den Mikroprozessor einer solchen Schaltungskarte
herauszuziehen und nur die übrigen Komponenten der zu prüfenden Schaltungskarte zu prüfen oder
spezielle Merkmale in solche Schaltungskarten einzubauen, um das Prüfen zu erleichtern, wodurch sich jedoch
das Produkt zusätzlich verteuert
Eine andere Anwendung der »Daten-Ausschieben«-Befehle besteht in der Verwendung des Prüfgerätes als
ein Lesespeiclier-(Read only memory — ROM)-Programmiergerät Die Schieberegisterbefehle werden verwendet,
um Adressen-Stifte bzw. Adressen-Anschlüsse des zu programmierenden Lesespeichers ROM unter Verwendung
eines »Daten-Axisschiebenw-Befehls zu »erstellen«. In ähnlicher Weise werden auch die Daten-An-
Schlüsse oder Daten-Stifte unter Verwendung von »Daten-Ausschiebenw-Befehlen »erstellt«. Um die in den zu
programmierenden Lesespeicher geschriebenen Daten zu prüfen, werden »Daten-Einschiebenw-Befehle verwendet,
um die Daten in das Schieberegister und von dort in den Hauptprozessor zu bekommen, welcher die
Feststellung trifft, ob die eingeschriebenen Daten richtig sind.
Die X-Anschluß-Schaltung 170 ermöglicht eine Pufferung zwischen der Hochgeschwindigkeits-Sammelleitung
45' und der internen Sammelleitung 161 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors. Diese Sammelleitung kann
in bestimmten Fällen verwendet werden, um Eingaben in das System mit hoher Geschwindigkeit vorzunehmen.
Mit der Sammelleitung 45' des Hochgeschwindigkeits-Prozessors kann beispielsweise ein Hochgeschwindigkeits-Pseudozufallszahl-Generator
verbunden sein, um an die zu prüfende Schaltungskarte Pseudezufalls-Eingangsprüfmuster
anzulegen.
Die Anschlußschaltungs-Schaltungskarte 33 für periphere Einheiten ist verantwortlich für die Erzeugung von
Adressendekodier- und Sammelleitungs-Antwortsignalen für alle peripheren Einheiten des Systems, unabhängig
davon, welcher Schaltungskarte die peripheren Einheiten zugeordnet sind. Die Anschlußschaltung-Schaltungskarte
33 erzeugt die Funktion der Anpassung zwischen der Hauptsammelleitung 27 und dem peripheren
Untersystem, welches eine Bandeinheit, eine Kassetteneinheit, einen Drucker, eine Verbindungseinheit und
einen Akustikkoppler enthält Ein Blockschaltbild dieser Anschlußschaltung-Schaltungskarte 33 für periphere
Einheiten ist in den F i g. 6A und 6B dargestellt, worin die Hauptsammelleitung 27 verschiedene Leiter enthält,
welche zu Adressendekodier-Schaltungen 251,252 und 253 und zu zwei Universal-Synchron-Asynchron-Empfänger-Übertragern
USART 254 und 255 und zu einer Bandanschlußschaltungs-Einheit 256 führen. Die beiden
Empfänger-Sender-Einheiten 254 und 255 können auf einfache Weise durch kommerziell erhältliche integrierte
Schaltungen realisiert werden. Die Drucker-Steuerschaltung 260 enthält im wesentlichen eine Acht-Bit-Haltschaltung,
ein Flip-Flop und einige Pufferspeicher. Das Bell-System-kompatible MODEM 261 kann durch eine
große Anzahl verschiedener kommerziell erhältlicher Modems realisiert werden.
Die Bezugs-Schaltungskarte 31 ist ebenfalls mit der Hauptsammelleitung 27 verbunden, um Informationen zur
Steuerung von vierzehn programmierbaren Spannungsquellen aufzunehmen, welche durch 0,1 -Volt-Inkremente
auf Spannungen in einem Bereich von —12,8 Volt bis +12,7 Volt eingestellt werden können, und zwar mit Hilfe
verschiedener kommerziell erhältlicher Digital-Analog-Wandler in Form von integrierten Schaltungen. Neun
dieser vierzehn programmierbaren Spannungen werden verwendet, um die Spannungspegel der Stift-Steuerschaltungen
auf den drei Treiber/Sensor-Schaltungskarten zu programmieren. Diese Spannungen können programmiert
werden, um logische Pegel einzustellen, die mit einer beliebigen Kombination von drei verschiedenen
Logikschaltungs-Technologien der zu prüfenden Schaltungskarte kompatibel sind, beispielsweise der Transistor-Transistor-Logik,
der MOS-Logik und der Emitter-gekoppelten Logik. Für jede verschiedene Gruppe von
Logikpegeln wird für eine logische »1«, eine logische »0« und einen Schwellenwertpegel ein programmierter
Wert erstellt Die Bezugsschaltungskarte 31 liefert außerdem zwei Steuersignale, welche die festen +12 VoIt-
und —12 Volt-Pegel steuern, welche an die zu prüfende Schaltungskarte angelegt werden können. Die Bezugs-Schaltungskarte
31 liefert ferner vier andere programmierbare Bezugsspannungen für vier programmierbare
Spannungsquellen, die an die zu prüfende Schaltungskarte angelegt werden können. Eine Spannungsquelle für
vierzehn Spannungen ist programmierbar, um die Bezugsspannung für den Prüf- oder Abtastvorgang einzustellen.
Die Bezugs-Schaltungskarte 31 ist vom Tastenfeld her programmierbar. Die Bedienungsfeld-Schaltungskarte
32 ist verantwortlich für die von der Bedienungsperson vorgenommenen Tastenfeldeingaben. Die Bedienungsfeld-Schaltungskarte
enthält auch logische Schaltungen, zur Steuerung ties digitalen Mehrfach-Meßinstruments
(DMM) mit welchem Spannungen, Widerstände und Ströme gemessen werden können, und zur Anzeige
der Meßwerte dieses Meßinstruments.
Wie aus F i g. 4 ersichtlich, enthält die Prozessor-Schaltungskarte 28 im wesentlichen ein Mikroprozessor-Chip-System
210. Dieses Mikroprozessor-System enthält ein Datenchip 212, welches im wesentlichen die Funktion
einer arithmetischen logischen Einheit ausführt, verschiedene Register einschließlich eines Befehlsregisters,
und ein Adressensystem, Eingabe/Ausgabe-Verknüpfungsschaltungen und andere solche Elemente, welche zur
Durchführung herkömmlicher Datenverarbeitung mit gespeichertem Programm erforderlich sind. Die Chipgruppe
enthält ferner eine integrierte Schaltung 211, welche als Steuerchip bezeichnet wird; dieses ist im
wesentlichen eine kundenprogrammierbare Logikanordnung, welche von dem Hersteller so ausgebildet ist daß
sie den individuellen Befehlsgruppen des Benutzers gerecht wird. Die individuelle Befehlsgruppe des Benutzers
wird durch ein Chip 213 dekodiert, welches als Mikrocode-Chip oder ROM-Chip bezeichnet wird; dieser
Baustein ist ein Lesespeicher (Read only memory — ROM) mit 512 Wörtern zu 22 Bits, welcher die von dem
Benutzer bevorzugten Befehlsgruppen dekodiert, um Signale zu erzeugen, welche für den Betrieb des Systems
erforderlich sind, wie beispielsweise das Vorladen der MOS-Sammelleitung 27' bei jedem Operationszyklus. Mit
der Sammelleitung 27' können jedoch auch weitere Lesespeicher gekoppelt sein, um Mikrocodes zu liefern,
welche zur Bildung weiterer Befehle, welche vom Benutzer gewünscht werden, dienen.
In F i g. 8 sind einige der internen Grundbausteine eines Prozessors dargestellt, welcher durch das in F i g. 2
gezeigte Mikroprozessor-Chip-System 210 realisiert sein kann. Die aus F i g. 8 ersichtliche Eingabe/Ausgabe-Fufferschaltung
273 steuert die Eingabe und Ausgabe von Befehlen, Daten und Adresseninformationen zwisehen
der internen Sammelleitung 27' und der Hauptsammelleitung 27. Das Mikroprozessor-Chip-System 210
enthält eine arithmetische und logische Einheit 278 zur Durchführung verschiedener arithmetischer Operationen
und kann durch Verwendung verschiedener bekannter Schaltungen und Logik-Techniken realisiert werden. Die
arithmetische, und logische Einheit 278 ist mit der internen Sammelleitung 27' gekoppelt und zwar über eine
Vielzahl von Leitern 279, welche Leiter zur Eingabe von Operanden in die arithmetische und lpgische Einheit 278
und Leiter zur Aufnahme der Rechenergebnisse von der arithmetischen und logischen Einheit 278 enthalten.
Das Mikroprozessor-Chip-System 210 enthält ferner einen Registerteil 276, welcher mehrere Register enthält,
die mit der internen Sammelleitung 27' über Leiter gekoppelt sind, welche allgemein mit dem Bezugszeichen 277
versehen sind. Die verschiedenen Register in dem Registerteil 276 enthalten typischerweise einen Programmzähler,
einen »Stapelzeiger« (Stack pointer), ein Indexregister, einen oder mehrere Akkumulatoren, welche in
Verbindung mit der arithmetischen und logischen Einheit 278 verwendet werden, ein Register zur Speicherung
von Markierungen und verschiedene andere Kurzzeitregister. Ein Befehlsregister 280 ist mit der internen
Sammelleitung 27' gekoppelt. Der Befehl wird mittels des Befehlsdekodierers 283 dekodiert, welcher Steuersignale
auf Leitern 281 erzeugt, die zu allen für das Mikroprozessor-Chip System 210 dargestellten Elementen
geleitet werden, um die Datenübertragungs- und Verknüpfungsfunktionen durchzuführen, die zur Ausführung
des laufenden Befehls erforderlich sind. Aus F i g. 8 ist ferner ersichtlich, daß ein Speichersystem 286 mit der
Hauptsammelleitung 27 verbunden ist. Das Speichersystem 286 enthält eine Speicheranordnung, welche ver-
schiedene Unterabschnitte, beispielsweise 288 und 288' usw„ enthalten kann. Die Speicheranordnung kann in
verschiedene Unterabschnitte zur Schaffung von Speicherräumen unterteilt werden "-eiche durch von dem
Hauptprogramm erstellte Adressengrenzen definiert werden. Teile eines solchen Speicherraumes können Speicherzellen
mit wahlfreiem Zugriff und andere Teile Lesespeicherzellen oder programmierbare Lesespeicherzellen
enthalten. Typischerweise ist diese Speicheranordnung aus einer Vielzahl von integrierten Schaitungschips
(nicht gezeigt) aufgebaut, von denen jedes interne Adressendekodier- und Eingabe/Ausgabe-Schaltungen enthält.
Die Schaltung 287 enthält Daten-Eingabe/Ausgabe-Puffer und Adressenregister, welche über eine Datensammelleitung
291 bzw. eine Speicheradressen-Sammelleitung 290 mit der Speicheranordnung verbunden sind.
Es sei darauf hingewiesen, daß die verschiedenen durch den Hauptprozessor 28 ausführbaren Befehle für die
Fehlerortung und die Schleifen-Aufbrech-Merkmale der vorliegenden Erfindung nicht wesentlich sind. Jeder
Prozessor mit geeigneter Kapazität, welcher eine große Anzahl unterschiedlicher Befehlsgruppen aufweist,
kann dazu verwendet werden, den in den Fi g. 7A bis 7F dargestellten Algorithmus zu realisieren, und zwar in
der Weise, daß das Prüfgerät der Erfindung die genannten und beanspruchten Fehlerortungsvorcänge ausführt
Die »Spannungs-ein-Rückstellen^Power-on-resetJ-Schaltung 217 der Prozessor-Schaltungskarte 28 wartet,
bis die Spannungen der Spannungsversorgung stabil sind und erzeugt dann »Spannung-ein-Rücksiellenw-lmp"·!
κ se, welche das Mikroprozessor-System dazu veranlassen, den ersten Befehl aus einer festen Speicherstelle
abzurufen, um das Mikroprozessor-System in Gang zu setzen.
Die Unterbrechen-Schaltung 220 der Prozessor-Schaltungskarte 28 unterbricht den Mikroprozessor, um von
dem Tastenfeld Bedienungsperson-»Achtungs«-Signale und von dem Speicher »Sammelleitung-bereit«-Signale
unterzubringen. Die Unterbrechen-Schaltung 220 hindert den Prozessor 28 daran, Zugriff zu dem Speicher 30
(siehe F i g. 2) zu erhalten, während der Speicher 30 aufgefrischt wird. Die »Achtung«-Eingabe ATTN ist der
einzige Hardware-Unterbrechen-Befehl, den das System aufweist Wenn das Mikroprozessor-System durch das
»Achtung«-Signal unterbrochen wird, beendet es die Ausführung des laufenden Befehls und leitet die Ausführung
eines Unterbrechen-Unterbefehls ein, in welchem es die verschiedenen Einrichtungen des Systems abfragt,
welche in der Lage sind, den Prozessor zu unterbrechen, um die Quelle der Unterbrechung festzustellen. Es
bestimmt dann eine geeignete Aktion in Abhängigkeit von der Unterbrechung und führt diese Aktion aus.
Die Speicher-Schaltungskarte 30 der F i g. 2 enthält den Hauptspeicher des Prüfgeräts und führt die Funktion
der Speicherung des Prüfprogramms für die zu prüfende Schaltungskarte und der Bild- und Kennzeichen-Aufzeichnung
für die zu prüfende Schaltungskarte und des im folgenden beschriebenen Fehlerortungs-Algorithmus
aus.
In der Beschreibung wird angenommen, daß die zu prüfende Vorrichtung eine gedruckte Schaltungskarte ist
Zu Beginn unterzieht das Prüfgerät die zu prüfende Schaltungskarte einer »Gut-Schlecht«-Prüfung durch
Anlegen eines Musters logischer Signale, welche durch das Prüfprogramm für diese Schaltungskarte erstellt
werden, an die Eingangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte und durch Vergleichen des Verhaltens bzw. der
Antworten an den Ausgangsstiften der zu prüfenden Schaltungskarten mit den bekannten richtigen Verhaltensmustern
für diese Schaltungskarte. Die bekannten richtigen Verhaltensmuster sind in dem Prüfprogramm
enthalten, welches in dem Speicher des Prüfgeräts gespeichert ist und werden vorübergehend in die Hoch/Niedrig-Flip-Flops
jeder der Stift-Steuerschaltungen 70Λ, ß geladen, wie dies im vorangehenden beschrieben wurde,
wenn die Stift-Zustand-Prüfung für die »Gut-Schlecht«-Prüfung vorbereitet wird. (Wenn die »Gut-Schlecht«-Prüfung
unter Verwendung der Kennzeichenanalyse durchgeführt wird, werden die Kennzeichen in
Abhängigkeit von den Ausgängen der zu prüfenden Schaltungskarte erzeugt und mit den richtigen in dem
Kennzeichenverzeichnis gespeicherten Kennzeichen verglichen.) Wenn die zu prüfende Schaltungskarte fehlerfrei
durchläuft, dann leuchtet auf dem Anzeigefeld ein »Durchlaufen«-(»Pass«)-Signal auf. Die zu prüfende
Schaltungskarte wird dann aus dem Prüfgerät herausgezogen und von der Bedienungsperson durch die nächste
zu prüfende Schaltungskarte ersetzt
Wenn die zu prüfende Schaltungskarte die »Gut-Schlecht«-Prüfung nicht besteht, dann muß das Prüfgerät
feststellen, welche Ausgangsstifte der Schaltungskarte fehlerhaft sind. Zur Bestimmung, welcher Ausgangsstift
oder welche Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte den »Gut-Schlecht«-Test nicht bestanden haben,
führt das Prüfgerät eine einfache Auswählroutine durch, bei welcher es jeweils einen Ausgangsstift der zu
prüfenden Schaltungskarte adressiert und diesen durch Vergleichen mit dem erwarteten Ergebnis prüft, wodurch
alle fehlerhaften Ausgangsstifte identifiziert werden. Die Einzelheiten dieser Auswählroutine sind sehr
einfach und werden deshalb nicht im einzelnen beschrieben.
Das Prüfgerät tritt dann in eine Diagnose-Betriebsart ein, um den Fehler zu orten. Das Prüfgerät zeigt
automatisch Prüfbefehle bzw. Prüfanweisungen auf seinem Anzeigefeld an, um die Bedienungsperson anzuweisen,
einen bestimmten Knoten, welcher durch den Fehlerortungsalgorithmus ausgewählt wurde, mit der Meßsonde
zu untersuchen. Der im folgenden näher beschriebene Fehlerortungsalgorithrnus leitet die durch die
Bedienungsperson gehandhabte Meßsonde von Knoten zu Knoten, und zwar längs eines Pfades, der an einem
fehlerhaften Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungskarte beginnt in Richtung der Eingangsstifte der Schaltungskarte,
und ortet die fehlerhafte Komponente der zu prüfenden Schaltungskarte, so daß diese an Ort und
Stelle durch die Bedienungsperson repariert werden kann, so daß das unnötige Austauschen von Schaltungskarten
vermieden wird. Das Prüfgerät prüft die zu prüfende Schaltungskarte gemäß einem Prüfprogramm für diese
Art von Schaltungskarte, welches in dem Hauptprozessorspeicher gespeichert ist Das Prüfprogramm bestimmt,
welche Eingangsprüfsignalmuster an die verschiedenen Eingänge der zu prüfenden Schaltungskarte anzulegen
sind und bestimmt ferner, welche Ausgangsmuster an den verschiedenen Ausgängen der zu prüfenden Schaltungskarte
in Abhängigkeit von den angelegten Eingangsprüfsignalen zu erwarten sind. Der Zweck des Prüfprogramms
besteht darin, die Schaltungen auf der Schaltungskarte zu untersuchen, so daß falsche Operationen,
welche sich aufgrund eines falschen Ansprechens an irgendeinem Knoten der zu prüfenden Schaltungskarte
ergeben, an den Ausgängen der zu prüfenden Schaltungskarte festgestellt werden können. Die Prüfprogramm-Eingangsmuster
müssen zur Feststellung eines Fehlers zwei Dinge berücksichtigen. Erstens müssen sie alle
Schaltungsknoten umfassen, um zu prüfen, ob irgendein Knoten sich nicht richtig verhält Zweitens müssen die
Eingangsprüfmuster ein beliebiges unrichtiges Ansprechen an einem internen Knoten der zu prüfenden Schaltungskarte
an einem Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungskarte in Erscheinung treten lassen.
Das Prüfgerät verwendet eine modifizierte Version der bekannten BASIC-Sprache sowohl für die Steuerbefehle
als auch für die Prüfprogrammsprache, Da die Standard-BASIC-Sprache keine Angaben bzw, Anweisungen
für die Prüfung gedruckter Schaltungskarten enthält, wurde die modifizierte BASIC-Sprache, welche im
folgenden als Prüfgerät-(PSP)-BASIC-Sprache bezeichnet wird, durch »Prüf-Angaben« erweitert, welche ähnlich
denjenigen sind, welche bei den meisten heute verwendeten kommerziellen Prüfsystemen verwendet werden.
Diese Prüfangaben spezifizieren Eingabe/Ausgabe-Stifte als Eingänge zu oder Ausgänge von der zu
prüfenden Schaltungskarte und setzen die logischen Pegel auf diesen Eingangs- oder Ausgangs-Stiften hoch
oder niedrig. Fehler an bestimmten Ausgangsstiften können entweder überwacht oder vernachlässigt werden.
Ferner können bestimmte Ausgangsstifte geprüft werden, wonach das Prüfprogramm auf verschiedene Routinen
springen kann, und zwar in Abhängigkeit von den logischen Zuständen, welche an den genannten Ausgangsstiften
festgestellt wurden.
Das tragbare Wartungsprüfgerät (Portable service processor — PSP) der Erfindung spricht auf einen Prüfbefehl
von dem Tastenfeld an, um eine »Gut-Schlecht«-Prüfung der zu prüfenden Schaltungskarte auszuführen.
Diese Prüfung wird mit einer sehr hohen Geschwindigkeit ausgeführt und wenn die Schaltungskarte diese
Prüfung »durchläuft« oder »besteht«, zeigt eine Anzeigevorrichtung an, daß die Vorrichtung die Prüfung
innerhalb etwa einer Sekunde durchlaufen oder bestanden hat Alle Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte
werden während einer »Gut-Schlecht«-Prüfung gleichzeitig geprüft Wenn eine visuelle »Bestanden«-
oder »Durchlaufen«-(PASS)-Anzeige erhalten wird, dann entnimmt die Bedienungsperson die zu prüfende
Schaltungskarte (oder die Kabel-Steckerverbindungen, wenn andere Einrichtungen als eine Schaltungskarte
geprüft werden) und verbindet die nächste zu prüfende Schaltungskarte mit dem Prüfgerät
Wenn die zu prüfende Schaltungskarte die Kennzeichen-Analyse-Prüfung an jedem Ausgangsknoten nicht
besteht, dann geht das Prüfgerät in ein Kennzeichen-Analyse-Prüfverfahren mit »automatisch geführtem Tastkopf«,
wobei das Anzeigefeld die Bedienungsperson darüber informiert, welcher Knoten jeweils als nächstes mit
dem Tastkopf zu prüfen ist Die verschiedenen Knoten auf der zu prüfenden Schaltungskarte (oder auf einem
anderen zu prüfenden Produkt) sind durch beliebige bekannte Mittel gekennzeichnet, beispielsweise durch
Bezeichnen der einzelnen Komponenten durch Buchstaben, wie dies in F i g. 1A dargestellt ist, so daß die Knoten
von der Bedienungsperson auf einfache Weise festgestellt oder ermittelt werden können.
Die gesteuerte Tastkopf-Handhabung ist ein Fehlerortungskonzept, welches zusätzlich zu dem Prüfprogramm
für die zu prüfende Schaltungskarte eine Datengrundlage benötigt Diese Datengrundlage besteht aus
einem »Bild« der zu prüfenden Schaltungskarte, welches alle Schaltungsverbindungen beschreibt Die Datengrundlage
enthält ferner das Knotenverhaltensmuster, welches zuvor von einer einwandfreien bekannten Schaltungskarte
der betreffenden Art »gelernt« wurde. Wenn das Prüfprogramm von dem Prüfgerät ausgeführt wird,
dann bewirkt ein »Fehler«, welcher in Richtung eines Ausgangsstiftes der zu prüfenden Schaltungskarte fortschreitet,
ein unrichtiges Kennzeichenverhalten an allen Knoten entlang eines Pfades von dem fehlerhaften
Element oder der den Fehler bewirkenden Bedingung zu dem betreffenden Ausgangsstift einer zu prüfenden
Schaltungskarte. Die System-Software des Prüfgeräts liefert das »Tastkopf-Führungs-Konzept« durch Bestimmen
der Folge von Knoten, welche von einer Bedienungsperson mit dem Tastkopf zu prüfen sind um von dem
fehlerhaften Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungskarte nach rückwärts in Richtung des Fehlers fortzijschreiten,
wie dies unter Bezugnahme auf die Fi g. 7A bis 7G im folgenden näher beschrieben wird. An jedem
Logikelement (welches üblicherweise eine integrierte Schaltung ist) entlang dieses Pfades, wenn ein Ausgangsstift
des zu prüfenden Elements ein unrichtiges Verhalten zeigt, führt der »Tastkopf-Leit-Algorithmus« die
Bedienungsperson zu dem vorangehenden Logikelement dieses Pfades zurück. Die Tastkopf-Leit-Folge fährt
fort, um die Bedienungsperson anzuweisen, Knoten entlang des Pfades der unrichtigen Knoten-Verhaltensmuster
mit dem Tastkopf zu prüfen, und zwar so lange, bis eine Logikschaltung erreicht ist, welche an allen ihren
Eingangsknoten ein richtiges Eingangs-Verhaltensmuster und ein fehlerhaftes Ausgangs-Verhalten aufweist
Dieses inkorrekte Ausgangsverhalten befindet sich an der Stelle des fehlerhaften Knotens. Dieser Knoten ist mit
dem Namen oder der Lage des Logikelements und der Ausgangsstiftnummer bezeichnet Es ist eine »Belastungsliste«
(Load list) vorgesehen, welche die Eingangsstifte von anderen Logikelementen oder integrierten
Schaltungen enthält, an welche das Signal ebenfalls geführt ist Die tatsächliche Fehlerstelle kann die Treiberlogikschaltung
oder integrierte Schaltung, der Eingang der empfangenden integrierten Schaltung oder ein Fehler
des Knoten-Leiters sein, der diese beiden verbindet
Verschiedene Arten von gespeicherten Verhaltensmustern werden in dem Prüfgerät verwendet, um eine
Fehlerortungsauflösung bis zu einem einzelnen Knoten zu erhalten. Diese Verhaltensmuster werden automatisch
»gelernt«. Bei dieser »Lern«-Betriebsart mißt das Prüfgerät die Kennzeichen an allen Eingängen und
Ausgängen und an den Ausgangsstiften jedes Logikelements oder jeder integrierten Schaltung der zu prüfenden
Schaltungskarte. Der Zweck dieser »Lern«-Betriebsart ist es, die Kennzeichen von einer bekannten einwandfreien zu prüfenden Schaltungskarte in das Kennzeichen-Verzeichnis (welches, wie vorangehend erwähnt, in Wirklichkeit ein Teil des Bildspeichers ist) einzugeben. Das Prüfgerät läßt das Prüfprogramm in der im folgenden
beschriebenen ASIG-Betriebsart laufen, und zwar einmal für jeden Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungs
ktrte. Dieses Verfahren bringt das Kennzeichenverzeichnis für alle Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungs
karte automatisch auf den neuesten Stand. Der »Lern«-Betriebsart-Algorithmus bestimmt dann den ersten
Logikelement-Ausgangsstift (welchen er in dem Bild-Speicher findet). Er weist dann die Bedienungsperson an,
diesen Ausgangsstift mit dem Tastkopf zu prüfen und wenn das Kennzeichen in dem Verzeichnis nicht das
gleiche ist wie das abgetastete Kennzeichen, dann wird das Verzeichnis mit dem neu festgestellten Kennzeichen
ίο auf den neuesten Stand gebracht (nachdem einige Vorkehrungen getroffen wurden, um Fehlabtastungen oder
Kontaktunterbrechungen zwischen Tastkopf und Knoten festzustellen). Dieses Verfahren wird für jeden Knoten
der zu prüfenden Schaltungskarte wiederholt, welcher durch den »Lern«-Betriebsart-Algorithmus bestimmt
wird, bis die bekannten richtigen Kennzeichen für alle in dem Bildspeicher genannten Knoten auf den neuesten
Stand gebracht sind oder von dem Prüfgerät »gelernt« wurden.
Die »Prüf«-Betriebsart wird verwendet als eine »Doppelprüfung« sowohl für die gelernten Kennzeichen und
für die in dem Bildspeicher spezifizierten Verbindungen. Ein Kennzeichen wird an jedem Eingangsstift jedes
Logikelementes oder jeder integrierten Schaltung der zu prüfenden Schaltungskarte gemessen. Wenn das bei
der Prüfung der bekannten einwandfreien Schaltungskarte erhaltene gemessene Kennzeichen nicht mit dem
zuvor »gelernten« Kennzeichen des gleichen Knotens für die gleiche zu prüfende Schaltungskarte überein
stimmt, dann zeigt das Prüfgerät eine Nichtübereinstimmung an. Dies ermöglicht der Bedienungsperson, ver
schiedene mögliche Fälle von Nichtübereinstimmungen zu identifizieren und zu korrigieren, und zwar einschließlich von Fehlern wie
(1) Abtasten des falschen Knotens während der »Lerne-Betriebsart,
(2) es wird gerade der falsche Knoten während der Knoten-Nachprüfung abgetastet, oder
(3) das Vorhandensein eines Bildfehlers infolge der unrichtigen Beschreibung in dem Bildspeicher von der
Topologie der zu prüfenden Schaltungskarte.
geladen wird. Das Bildverzeichnis enthält Informationen, welche alle Verbindungen zwischen den Knoten und
Komponenten der zu prüfenden Schaltungskarte definieren.
Während der Abtastung jedes Knotens mit dem Prüfkopf legt das in dem Prüfgerät gespeicherte Prüfprogramm das entsprechende Eingangs-Prüfmuster an die Eingänge der zu prüfenden Schaltungskarte an, wodurch
an den abzutastenden Knoten, wenn die Bedienungsperson den Meßkopf 13 an den bezeichneten Knoten hält,
ein Bitmuster erzeugt wird. Die an dem Knoten gemessenen Daten werden in einen CRC-Kennzeichengenerator 180 (F i g. 5) eingegeben, welcher ein CRC-Kennzeichen erzeugt, das mit einem bekannten fehlerfreien
Kennzeichen (welches von dem Hauptprozessor aus dem Kennzeichenverzeichnis abgerufen wird) für den
abgetasteten Knoten verglichen wird. Wenn der Pfad von dem fehlerhaften Ausgangsstift der zu prüfenden
Schaltungskarte nacheinander entlang eines Schaltungspfades oder mehrerer Schaltungspfade in Richtung eines
oder Mehrerer Eingänge der zu prüfenden Schaltungskarte durch aufeinanderfolgendes Abtasten entsprechender Knoten mit dem Tastkopf verfolgt wird, dann werden an jedem abgetasteten Knoten fehlerhafte Kennzeichen gefunden, bis in der oben beschriebenen Weise ein fehlerhafter Knoten gefunden wird, welcher der
Ausgang einer Komponente ist, an deren sämtlichen Eingangsknoten fehlerfreie Kennzeichen gemessen werden. Diese Komponente ist mit großer Wahrscheinlichkeit die fehlerhafte Komponente. An diesem Punkt
bewirkt der automatische Fehlerortungsalgorithmus das Ausdrucken einer Nachricht, welche der Bedienungsperson anzeigt, daß an der betreffenden Komponente ein »wahrscheinlicher Fehler« vorliegt; die Bedienungsperson kann dann in der üblichen Weise die Schaltungskarte durch Ersetzen dieser Komponente durch eine
einwandfreie Komponente reparieren.
Es sei darauf hingewiesen, daß für jede solche Abtast-Operation nur etwa 10 Sekunden benötigt werden. Die
so Bedienungsperson braucht nicht auf umfangreiche schriftliche Dokumentationen oder Anweisungen zurückgreifen, welche das Prüfgerät oder die zu prüfende Vorrichtung bzw. die zu prüfende Schaltungskarte betreffen;
sie muß lediglich in der Lage sein, den jeweils abzutastenden Knoten aufgrund der ausgedruckten und/oder auf
dem Anzeigefeld des Prüfgerätes angezeigten Identifikationsnachricht zu erkennen und die Meßspitze an den
entsprechenden Knoten anzusetzen, so daß ein sicherer und zuverlässiger elektrischer Kontakt mit diesem
In den meisten Fällen ist der in der obigen Weise als wahrscheinlich angezeigte Fehler der tatsächliche Fehler.
Unter bestimmten besonderen Umständen braucht dies jedoch nicht der Fall zu sein. Beispielsweise kann
aufgrund einer gebrochenen gedruckten Leiterbahn eine »offene« Schaltung vorliegen. Der in den F i g. 7A bis
7F dargestellte Fehlerortungsalgorithmus prüft solche Bedingungen durch Anweisen der Bedienungsperson,
verschiedene Punkte einer Leiterbahn abzutasten und die Kennzeichen dieser verschiedenen Punkte jedesmal
zu vergleichen, wenn ein fehlerhaftes Kennzeichen für einen Knoten festgestellt wurde, wie dies im folgenden
erläutert wird.
Die Durchführung des erfindungsgemäßen Fehlerortungs-Verfahrens für eine zu prüfende Schaltungskarte
unter Verwendung der Technik des geleiteten Tastkopfes und der Kennzeichenanalyse besteht somit im wesent
liehen darin, daß zunächst eine »Gut-Schlecht«-Prüfung für jeden Ausgang der zu prüfenden Schaltungskarte
durch Ausführen eines Ein-Zustands-Prüf Vergleichs jedes Ausgangs mit dem bekannten richtigen Zustand für
eine gegebene Konfiguration von Eingangszuständen durchgeführt wird. Falls ein Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungskarte die »Gut-Schlecht«-Prüfung nicht besteht, dann verfolgt das Fehierprüfungs-Verfahren
beginnend mit dem fehlerhaften Ausgang aufgrund der Topologie der zu prQfenden Schaltungskarte den
fehlerhaften Pfad zurück, indem Kennzeichen oder Kennwerte an jedem Knoten (und zusätzliche Informationen, wenn der gerade gemessene Knoten in einer Schleife liegt, wie dies im folgenden noch beschrieben wird)
gemessen werden, bis eine Komponente gefunden wird, deren sämtiiche Eingänge einwandfrei und deren
Ausgang fehlerhaft ist ~
Um eine fälschliche Zurückweisung einer zu prüfenden Schaltungskarte aufgrund einer unsinnigen Abtastung
oder eines Wackelkontaktes zwischen dem Tastkopf und dem abzutastenden Knoten zu vermeiden, wird jeder
Kennzeichen-Analyse-Prüfvergleich dreimal vorgenommen, während .die Bedienungsperson den Tastkopf an
den betreffenden Knoten halt Wenn die drei Messungen alle fehlerhaft, jedoch unsinnig sind, dann erzeugt der
Algorithmus eine Information, durch welche die Bedienungsperson Ober das Anzeigefeld darauf aufmerksam
gemacht wird, daß sie eine schlechte Verbindung hergestellt hat Sie kann dann die Abtastung wiederholen, d. h.
den Meßkopf noch einmal ansetzen. Wenn irgendein richtiges Kennzeichen an dem Knoten erhalten wird, dann
wird angenommen, daß das Knotenverhalten richtig ist Der Fehlerortungsalgorithmus bewirkt dann, daß das
Prüfgerät die Bedienungsperson anweist, den nächsten Knoten in der Topologie der zu prüfenden Schaltungskarte abzutasten; das oben erwähnte Bildverzeichnis wird dazu verwendet, festzustellen bzw. zu bestimmen,
welcher Knoten als nächstes abzutasten ist
Wenn mehrere Kennzeichen, die von einem Ende einer solchen Knotenleiterbahn abgenommen wurden,
miteinander übereinstimmen, jedoch mit entsprechenden Kennzeichen an dem anderen Ende des gleichen
Leiters nicht übereinstimmen, dann besteht die Möglichkeit, daß die Leiterbahn gebrochen ist oder daß die
Bedienungsperson den falschen Knoten abtastet Wenn die von dem entgegengesetzten Ende der Knotenleiterbahn abgenommenen Kennzeichen mit denjenigen des ersten Endes nicht übereinstimmen, dann führt der
Algorithmus die Bedienungsperson wieder zu dem ersten Ende zurück, um dieses noch einmal abzutasten. Der
Algorithmus bewirkt eine »Fehlabtastung«-Anzeige auf dem Anzeigefeld, wenn die Bedienungsperson vier nicht
übereinstimmende Kennzeichen, und zwar zwei an jedem Ende der Knotsnleiterbahn, abgenommen hat
Die oben beschriebene Kennzeichen-Analyse-Technik versagt wenn sich in der digitalen Logikschaltung der
zu prüfenden Schaltungskarte eine Rückkopplungsschleife befindet Dies folgt daraus, daß ein Fehler im Verhalten an irgendeinem Knoten in einer digitalen Rückkopplungsschleife normalerweise sehr schnell um diese
Schleife fortschreitet um an jedem Knoten dieser Schleife ein fehlerhaftes Ansprechen zu bewirken, so daß das
einfache Verfahren der Fehlerverfolgung längs des Topologie-Musters einer zu prüfenden Schal tungskarte, bis
eine Komponente mit einem fehlerhaften Ausgang und fehlerfreien Eingängen gefunden ist unwirksam ist
Gemäß der Erfindung wurde ein neues Verfahren gefunden, mit welchem auch Fehler in Schleifen digitaler
Schaltungen geortet werden können, und zwar durch Bestimmen und Speichern des anfänglichen Zustands jedes
Knotens in der Schleife und Feststellen und Speichern der Zeit zu der jeder Knoten in der Schleife anfangs
gestört wurde. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren werden solche gespeicherten Informationen für eine zu
prüfende Schaltungskarte (mit darin enthaltenen digitalen Rückkopplungsschleifen) mit von bekannten einwandfreien Schaltungskarten des gleichen Typs erhaltenen Daten verglichen, um die fehlerhaften Komponenten
der zu prüfenden Schaltungskarte zu orten (mit einer überraschend hohen Erfolgsquote).
Die Hauptmerkmale des »Gut-Schlecht«- und Fehlerortungsalgorithmus des erfindungsgemäßen Prüfgerätes
sind in dem in den F i g. 7A bis 7H dargestellten Flußdiagramm veranschaulicht. Der in den F i g. ?A bis 7H
dargestellte Algorithmus bewirkt zunächst daß die zu prüfende Schaltungskarte einem »Gut-Schlecht«-Test
unterzogen wird, wie dies im vorangehenden beschrieben wurde. Dies wird dadurch erreicht daß gleichzeitig
alle Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte mit gespeicherten erwarteten Ergebnissen für jeden Stift
der zu prüfenden Schaltungskarte verglichen werden. Wenn die zu prüfende Schaltungskarte die Prüfung
besteht dann wird dieser Sachverhalt von dem Prüfgerät-Anzeigefeld angezeigt. Wenn die zu prüfende Schaltungskarte die Prüfung nicht besteht, dann geht das Prüfgerät automatisch in einen Teil des Algorithmus,
welcher alle Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte auswählt, um festzustellen, welcher der Stifte
einen Fehler aufweist wonach er die Bedienungsperson nacheinander anweist, beginnend von dem fehlerhaften
Ausgangsstift die einzelnen Knoten entlang eines Pfades in Richtung der Eingangsstifte abzutasten, wobei an
jedem abgetasteten Knoten eine Kennzeichenanalyse durchgeführt wird, bis der Fehler in der oben beschriebenen Weise geortet ist Wenn einer der Knoten auf der zu prüfenden Schaltungskarte sich innerhalb einer
digitalen Schleife befindet dann identifiziert der Algorithmus zunächst die Schleife und versucht dann innerhalb
der Schleife den Fehler zu orten.
Der in den F i g. 7A bis 7H dargestellte Algorithmus arbeitet in zwei verschiedenen Arten oder Betriebsweisen. Die erste, welche als ASIG-Betriebsart bezeichnet wird, nimmt an, daß die richtigen Kennzeichen-Verhalten
für das Prüfprogramm alle in dem Hauptspeicher gespeichert sind. Bei der ASIG-Betriebsart wird der Ausgang
des Kennzeichengenerators 180 (F i g. 5) für jedes an die Eingangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte
angelegte »Prüfwort« auf den neuesten Stand gebracht bis schließlich am Ende der Prüfung der Ausgang des
Kennzeichengenerators das Kennzeichen für einen bestimmten Ausgang oder Knoten der zu prüfenden Schaltungskarte darstellt Es wird jeweils gleichzeitig nur ein Ausgangsstift oder interner Knoten der zu prüfenden
Schaltungskarte geprüft.
Bei der zweiten Betriebsart, welche als CSIG- oder »bedingte« Betriebsart bezeichnet wird, liefert das
Prüfprogramm nicht nur die erforderlichen Erregungs- oder Anreizzustände an die Eingangsstifte der zu
prüfende! .Schaltungskarte, sondern liefert auch die erwarteten einzelnen Zustands-Verhaltensweisen für jeden
der Ausgangsstifte. Die erwarteten Verhaltensweisen an den Ausgangsstiften sind in den »Erwartetes-Ergebnis«- oder »Hoch/Niedrig«-Halteschaltungen der Stift-Steuerschaltungen oder Treiber/Sensor-Steuerschaltun-
gen gespeichert, wie dies im Zusammenhang mit den F i g. 3B und 3C bereits beschrieben wurde. Die tatsächlichen Verhaltensweisen an den Ausgangsstiften der zu prüfenden Schaltungskarte werden dann gleichzeitig mit
dem Inhalt der entsprechenden Hoch/Niedrig-Halteschaltungen verglichen und irgendein Fehler hat ein Fehler-
signal auf einer der Fehlerleitungen, wie beispielsweise der Leitung 94 in Fi g. 3B, und einer der Gruppenfehjer-IeitUBgen,wiebeispielsweise59A der F ig. 3A,zur Folge. -·-
In dem in den I?ig.7A bis 7H dargestellten Ablaufdiagramm enthält das Prüfprogramm erae Anzahl von
Anweisungen oder Angaben zwischen den Bezeichnungen SIG (Signature) und ESIG (End signature). (Diese
* Bezeichnungen oder »Marken« in den F i g. 7A bis 7H können als Eintrittspunkte in den Algorithmus angesehen
werden.) Jede Anweisung in dem Prüfprogramm entspricht einer unterschiedlichen Konfiguration von an Ae
Eingangsstifte der 2U prüfenden Schaltungskarte angelegten »Ausführungs«-(»Exercising4<)- öder Prufsignalen.
Selbstverständlich muß das Prüfprogramm sorgfältig geschrieben sein, um die verschiedenen zu prüfenden Stifte
und Knoten zu untersuchen, wenn die Ergebnisse der Kennzeichenanalyse oder der Süftzustandsprufung
ίο bedeutsam sein sollen. ,· _
Es sei nunmehr auf die Fig.7A Bezug genommen. Wenn die Bedienungsperson über das Tastenfeld den
Befehl RUN eingibt, was durch das Bezugszeichen 301 veranschaulicht wird, dann tritt das Prüfprogramm in die
Marke SIG ein, welche mit dem Bezugszeichen 303 versehen ist An dieser Stelle hat die SIG-Routine festzustellen, welcher Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungskarte zu prüfen ist Dies wird bewirkt durch Eintreten m
das Bild-Verzeichnis an der GETPIN-SteUe 305, jedesmal dann, wenn die SIG-Anweisung 303 ausgeführt wird.
Die Nummer des als nächstes zu prüfenden Ausgangsstiftes wird in eine als CURPIN bezeichnete Speicherstelle
gegeben und das erwartete Kennzeichen, welches aus dem Bild-Verzeichnis sntnommen wurde, wird in eine
OUTPTR genannte Speicherstelle gegeben. Eine mit ISIG bezeichnete Anweisung löscht das Kennzeichen. Eine
Vielzahl von Prüfwörtern (d.h. XWörter), welche einfach Anweisungen in dem Prüfprogramm 311 sind und
einer Konfiguration von an die Eingangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte angelegten Eingangssignalen
entsprechen, wird dann ausgeführt, wodurch der Kennzeichengenerator veranlaßt wird, ein Kennzeichen zu
erzeugen. (Dies erfolgt nur in der ASIG-Betriebsart wenn die Kimnzeichenprüfung, im Gegensatz zu der
Stift-Zustandsprüfung, wirksam ist) In der ESIG-Anweisung 307 wird das erzeugte Kennzeichen mit dem
bekannten richtigen Kennzeichen verglichen. ...,„,
Wenn in dem Hauptprozessorspeicher kein Bildverzeichnis enthalten ist dann wird eine Fehlernaciincht 306
gedruckt wie dies durch den Entscheidungsblock 309 angedeutet ist Wenn in dem Hauptprozessorspeicher ein
Bildverzeichnis enthalten ist dann wird der Algorithmus fortgesetzt
Wenn das Prüfprogramm in der CSIG-Betriebsart gestartet ist wie dies durch das Bezugszeichen 308 in
F i g. 7A angezeigt ist dann gibt die System-Software die Stiftnummer eines bestimmten der fehlerhaften Stifte
in die mit CURPIN bezeichnete Stelle und -1 in eine mit NXTPIN bezeichnete Stelle; dies wird durch Befehle
im Block 310 der F i g. 7A bewerkstelligt Die System-Software setzt dann eine mit ASIG bezeichnete Markierung und tritt in das Programm bei der SIG-Anweisung 303 ein. Das Prüfprogramm 311 wird dann von der
SIG-Anweisung 303 bis zu der ESIG-Anweisung 307 durchlaufen. Bei der SIG-Anweisung 303 führt dann der
Fehlerortungsalgorithmus das Prüfprogramm für den in CURPIN bezeichneten Stift aus.
Wenn sich das Anfangsprogramm in der CSIG-Betriebsart befindet dann vergleicht das Prüfprogramm alle
Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte mit dem jeweils erwarteten Ergebnis jedesmal dann, wenn
eine /C-Anweisung ausgeführt wird, wenn das Prüfprogramm zwischen SIG und ESIG läuft Beim Wiedereintreten des Algorithmus bei GOTSIG, wie dies durch das Bezugszeichen 313 in Fig.7A angezeigt ist werden
verschiedene Systemmarkierungen und örtliche Markierungen abgefragt, um festzustellen, welcher Teil des
Algorithmus als nächstes auszuführen ist Wenn eine mit PRBFLG bezeichnete Markierung gesetzt ist, dann
befindet sich das Prüfgerät in der Fehlerortungs-, Lern- oder Prüf-Betriebsart In der Fehlerortungs-Betriebsart
wird von der Kennzeichen-Prüfungs-Betriebsart eingetreten, wenn ein Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungskarte nicht das gleiche Kennzeichen oder den gleichen Zustand wie erwartet aufweist wie dies durch den
Entscheidungsblock 317 veranschaulicht ist. Wenn dieser Fall eintritt dann wird in den Algorithmus bei der
so das FAIL-Licht wird eingeschaltet; wie durch das Bezugszeichen 316 in F i g. 7B angezeigt wird das Kennzeichen und eine Stift-Identifizierinformation durch den Drucker gedruckt falls nicht das NRP-(Kein Druckdicht
auf dem Anzeigefeld 16 eingeschaltet ist An diesem Punkt ist die »Gut-Schlecht«-Prüfung der zu prüfenden
Schaltungskarte abgeschlossen.
Nachdem ein fehlerhafter Ausgangsstift der zu druckenden Schaltungskarte durch die Auswählroutine festge-
stellt ist, wird das Bildverzeichnis, welches Informationen bezüglich aller Knoten, Elemente und Verbindungen
auf der zu druckenden Schaltungskarte enthält veranlaßt die Bezeichnungen für alle Knoten, welche für diesen
fehlerhaften Stift in Frage kommen können, zur Verfügung zu stellen. (Wie im folgenden erläutert, prüft der
Algorithmus jeden der Eingangsknoten des Elements, welches den fehlerhaften Ausgangsstift elektrisch beeinflußt indem er die Bedienungsperson anweist jeden solchen Knoten mit dem Tastkopf abzutasten und indem es
eine Kennzeichenanalyse der Antwort oder des Verhaltens jedes Knotens auf das während dieser Abtastung
angelegte Signal-Prüfmuster durchführt. Wenn alle solche Eingangsknoten des betreffenden Elements gut sind,
dann bedeutet dies, daß das betreffende Element mit großer Wahrscheinlichkeit defekt ist. Wenn einer der
Eingänge fehlerhaft ist, dann spricht der Algorithmus das Bildverzeichnis an und identifiziert ein zweites
Element, welches auf diesen fehlerhaften Eingang einen Einfluß hat und fährt damit fort, alle Eingangsknoten
dieses zweiten Elements in der gleichen Weise wie bei dem ersten Element zu prüfen. Dieses Verfahren wird so
lange fortgeführt, bis ein Element gefunden ist, weiches einen fehlerhaften Ausgang und fehlerfreie Eingänge
aufweist.)
Wenn das erstemal ein fehlerhafter Ausgangsstift an der zu prüfenden Schaltungskarte festgestellt wird, tritt
der Algorithmus bei der ΙΝΓΤ-Anweisung 315 ein, welcher dann alle Drucker- und Knoteninformationen in der
Geschehenstabelle löscht, wie dies im folgenden noch beschrieben wird und ferner alle Zähler in dem Bildverzeichnis löscht, um die Software für einen frischen Durchlauf durch den Fehlerortungsteil des Algorithmus
vorzubereiten. ϊ ''-·'"
; ,
Der INIT-(Injtialize>Teil des Algorithmus ist in Fig.7B gezeigt Die Prüfprogramm-Steuermarkierungen
werden dann bei der Marke INITl abgefragt welche mit dem Bezugszeichen 319 versehen ist Wenn die
»Fortfahren bei Fehler«-(Continue on fail — COF)-Betriebsart aktiv ist was durch den Entscheidungsblock 321
bestimmt wird, dann kehrt die Steuerung zu dem Prüfprogramm zurück, um den nächsten Ausgangsstift der zu
prüfenden Schaltungskarte zu prüfea Wenn die »Erneuter-Start-bei-Fehler«-(Restart on fail — ROF}-Betriebsart aktiv ist was durch den Entscheidungsblock 323 bestimmt wird, dann wird die »Getan«-Markierung (Done ίο
Flag — DONFLG) gesetzt und der Algorithmus kehrt zu der RUN-Marke 301 zurück. Andernfalls tritt der
Algorithmus in seinen Fehlerortungsteil ein und setzt die Abtast-Markierung PRBFLG, wie dies durch den Block
325 angezeigt ist Der Algorithmus tritt bei BAD in eine Unterroutine ein, wie dies in Fig.7B durch das
Bezugszeichen 327 angezeigt ist
Die Funktion der Algorithmus-Unterroutine, weiche bei der BAD-Anweisung 327 beginnt besteht darin, eine
»Geschehenstabelle« (d. h. ein reservierter Teil des Hauptspeichers auf der Speicherschaltungskarte 30) aufrecht
zu erhalten, und zwar in der Folge der während einer gegebenen Abtastfolge gefundenen fehlerhaften Knoten.
Der BAD-Algorithmus bestimmt ob der gerade abgetastete Knoten bereits zuvor abgetastet wurde, wie dies
durch den Entscheidungsblock 329 angezeigt ist Falls nicht wird eine Information, welche repräsentativ ist für
die Eingangsprüfnummer, bei welcher der Knoten als fehlerhaft festgestellt wurde, in die Geschehenstabelle
eingeführt und zwar durch eine Unterroutine, welche durch den Block 331 dargestellt ist Die Geschehenstabelle
weist die Form einer Folge von »anfänglichen Fehler-Nummern« auf, von denen jede gleich ist der früheren von
(1) der Eingangsprüfnummer des anfänglichen Übergangs oder Sprungs des Ansprechens eines Knotens und (2)
ρ der Eingangsprüfnummer des ersten Übergangs oder Sprungs des bekannten richtigen Ansprechens dieses
■ί spricht bekannt ist können andere Informationen über diesen Knoten aus dem Bildverzeichnis entnommen
ι; werden. Die Geschehenstabelle enthält ferner einen Zeiger oder Hinweis zu der Stelle in dem Bildverzeichnis, in
[y welcher diesen Knoten betreffende Informationen gespeichert sind.
> Gemäß der Erfindung ist für einen Knoten, welcher aufgrund eines Vergleichs zwischen dem Kennzeichen
' ;■ dieses gemessenen Knotens während einer Abtastung und dem bekannten richtigen Kennzeichen dieses Kno-
tens, welches in dem Kennzeichenspeicher gespeichert ist als fehlerhaft erkannt wurde, die durch den Algorith-
h
mus in die Geschehenstabelle eingeführte Information die Prüfnummer des anfänglichen Übergangs des abgeta-
' ■ steten Knotens oder die Prüfnummer des bekannten richtigen anfänglichen Übergangs dieses Knotens, welcher
lh
in dem Kennzeichenspeicher gespeichert ist je nachdem welche dieser beiden Nummern kleiner (d. h. früher) ist
|l Diese kleinste Prüfnummer stellt die Zeit dar, zu welcher an dem abgetasteten Knoten ein Fehler auftrat, und
» »früheste fehlerhafte ursprüngliche Übergangsnummer«, welche in die Geschehenstabelle eingegeben wird, und
η
zwar in unmittelbarer Nähe zu einem Zeiger oder einer Hinweismarke, welche zu dem betreffenden Knoten in
1}
dem Bildverzeichnis weist
& Eine »Eingangsprüfnummer« (welche auch einfach als eine »Prüfnummer« bezeichnet wird) ist eine Zahl oder
|| Nummer, welche bei jedem an einen Eingang der zu prüfenden Schaltungskarte durch das Prüfgerät aufeinan-
p; derfolgend angelegten Prüfwort erhöht wird. Die Eingangsprüfnummer wird somit als eine Anzeige für die
j| relativen Zeiten verwendet zu denen verschiedene Ereignisse in dem Prüfgerät auftreten. Die Geschehenstabel-
·& Ie enthält somit eine chronologische Folge von bei der Abtastung mit dem Tastkopf gefundenen fehlerhaften
ff Knoten; sie enthält Informationen, welche durch Vergleichen des beim Abtasten eines Knotens erhaltenen
':
Eine vorläufige Identifikation einer Schleife erfolgt in der folgenden Weise. Jedesmal dann, wenn einen neuen
,· fehlerhaften Knoten betreffende Informationen in die Geschehenstabelle (in Block 331 der F i g. 7B) eingegeben
*'.■.. werden, wird eine »Markierung« in ein »Markierungs-Bit« in die betreffende Stelle der Geschehenstabelle
eingegeben. Wenn der Algorithmus feststellt daß er bereits bei dem logischen Element, welches mit dem gerade
abgetasteten Knoten verbunden ist gewesen ist dann tastet der Algorithmus die Geschehenstabelle ab und
»löscht« alle darauffolgenden Markierungen für diejenigen Eintragungen, welche Markierungen aufweisen, mit
Hilfe einer durch den Block 333 dargestellten Unterroutine. Die »verdächtige« oder »unentschiedene« Schleife
besteht dann aus dem letzten markierten Knoten und allen folgenden unmarkierten (d. h. gelöschten) Knoten in
der Geschehenstabeile.
Nachdem eine verdächtige, jedoch noch unentschiedene Schleife auf diese Weise identifiziert wurde, geht der
Algorithmus in die BACK-Unterroutine (Bezugszeichen 338) der F i g. 7 F, um alle übrigen Eingänge (welche als
»Schleifeneingangsknoten« der betreffenden Schleife bezeichnet werden) aller Elemente in der unentschiedenen
Schleife zu prüfen, um alle anderen möglichen Eingänge zu der ungelösten Schleife zu testen, um festzustellen,
ob der in der ungelösten Schleife ermittelte fehlerhafte Knoten durch andere dieser Eingänge erzeugt wurde.
Der Code nach der Marke BAD (Bezugszeichen 327) fügt somit in die Geschehenstabelle Knoten ein oder
markiert die Grenzen durch Löschen der Markierungsbits vorangehender Eintragungen in die Geschehenstabelle. Von einer dieser Verzweigungen geht die BAD-Unterroutine in die Stellung NEXT (Bezugszeichen 335),
welche der Eintrittspunkt in einen Teil des in F i g. 7C gezeigten Algorithmus ist. Der NEXT-Teil des Algorithmus bestimmt, welcher Knoten als nächstes durch die Bedienungsperson abzutasten ist. Der Algorithmus prüft
zuerst (in dem Entscheidungsblock 339), ob noch mehr Eingänge zu dem Element vorhanden sind, welches mit
dem zuvor abgetasteten Knoten verbunden ist. Ist dies der Fall, dann geht der Algorithmus in die oben erwähnte
BACK-Anweisung, welche durch das Bezugszeichen 338 in den Fig.7C und 7F angezeigt ist. Wenn alle
Eingänge dieses Elements nicht abgetastet sind, dann geht der Algorithmus zum nächsten Knoten dieses
Elements, wie dies durch den Block 341 angedeutet ist (Es sei daran erinnert, daß in dem Bildverzeichnis
verschiedene Markierungen und Zähler vorhanden sind, welche während der Durchführung der NEXT-Unterroutine
auf den neuesten Stand gebracht werden. Demzufolge »weiß« das Bildverzeichnis welcher Knoten des
Elements als nächstes abzutasten ist.)
Das durch die NEXT-Unterroutine durchgeführte Verfahren besteht darin, die fehlerhaften Knoten längs
eines Pfades in Richtung der Eingänge der zu prüfenden Schaltungskarte so lange zurückzuverfolgen, bis ein
logisches Element gefunden wird, dessen sämtliche Eingänge fehlerfrei sind und dessen Ausgang fehlerhaft ist,
ίο oder bis eine unentschiedene Schleife festgestellt ist. (Die »Abtast-Ansteuerung«-, »Keine-Abtastung«-, »Gleitender-Stift«-
und »Draht-ODER«-Bedingungen, welche durch die Entscheidungsblöcke 346,342,344 und 343
angezeigt sind, werden in der NEXT-Unterroutine behandelt, jedoch wird von einer Erläuterung derselben
abgesehen, da dies für die Erfindung ohne Bedeutung ist Für »Keine-Abtastung«-Knoten geht der Algorithmus
in die BAD-Unterroutine.)
Immer dann, wenn alle Eingänge zu einem Logikelement abgetastet und durch die NEXT-Unterroutine
geprüft wurden, geht der Algorithmus zu dem BACK-Teil des Algorithmus (dargestellt in F i g. 7F) in Abhängigkeit
von dem Entscheidungsblock 339. Dies bedeutet mit anderen Worten, daß jedesmal dann, wenn der
Algorithmus in die NEXT-Unterroutine der F i g. 7C geht und feststellt, daß alle Eingänge des gerade abgetasteten
Logikelements geprüft wurden, der Algorithmus dann zu der BACK-Unterroutine der F i g. 7 F springt
Der Zweck der BACK-Unterroutine 338 besteht darin, irgendwelche anderen Eingänge (d. h. irgendwelche
anderen Schleifeneingangsknoten) zu irgendeinem Logikelement in der identifizierten Schleife zu finden, welche
unrichtige Kennzeichen aufweisen und welche nicht von irgendeinem anderen Punkt in der gleichen Schleife
zurückgeführt sind. Dies bedeutet mit anderen Worten, daß der Algorithmus von dem Punkt, an welchem eine
identifizierte Schleife als solche identifiziert wird »zurückläuft«, um zu versuchen, einen »Fluchtweg« (d. h. einen
Eingang zu der Schleife, dessen Eingang nicht von einem anderen Knoten innerhalb der Schleife zurückgeführt
ist) zu finden, welcher die Quelle der an den verschiedenen Knoten innerhalb der identifizierten Schleife
festgestellten Fehler sein könnte.
Bei Vorhandensein einer Schleife bewirkt der Entscheidungsblock 349 der F i g. 7F daß der Code an der Stelle
BACK die Geschehenstabelle verwendet, um durch alle Logikelemente in der Schleife »zurückzulaufen«, bis für
alle Eingänge zu der Schleife richtige Verhaltensweisen festgestellt oder ein »Fluchtweg«, d. h. ein fehlerhafter
Eingang, gefunden wurde. Irgendein fehlerhafter Eingang (d. h. irgendein Schleifeneingangsknoten mit einem
unrichtigen Verhalten), »bricht« die Schleife und beginnt einen neuen Abtastpfad in Richtung zu den Signalquellen,
d. h. in Richtung der durch das Prüfgerät an die zu prüfende Schaltungskarte angelegten Prüfeingangssignale.
Wenn an dem Entscheidungsblock 349 der F i g. 7F beim Eintreten in die Unterroutine BACK keine Schleife
festgestellt wird, dann entspricht der letzte Knoten in der Geschehenstabelle dem Knoten, welcher die Quelle
des Fehlers ist und die Stelle PRINT (Bezugszeichen 352) wird dann aufgerufen und das Prüfgerät druckt den
Namen der Komponente als wahrscheinlichen Fehler aus, welche dem letzten Knoten in der Geschehenstabelle
entspricht
Bei dem Verfahren des »Zurücklaufens« beginnt die Unterroutine BACK am »Ende« der Geschehenstabelle
(d. h. bei der ersten Eintragung in diese) und prüft alle Eingänge des letzten in Frage kommenden Logikelements
und arbeitet in Richtung der »Spitze« oder des »Anfangspunktes« der Schleife, wie dies durch die Blöcke 381 und
383 in Fig.7F angezeigt ist Falls sie zu dem markierten Logikelement am Anfang der Schleife kommt und
herausfindet, daß alle seine Eingänge fehlerfrei sind (siehe Block 339 in F i g. 7C), dann hat sie herausgefunden,
daß der Fehler, welcher die unrichtigen Kennzeichen innerhalb der Schleife verursacht tatsächlich innerhalb der
Schleife liegt und nicht von irgendwoher außerhalb der Schleife kommt Während eines »Rücklaufs« werden die
Schleifen immer vom Ende her bis zum Anfang geprüft; vorangehende »Markierungen« werden für jede
Eintragung gelöscht und zwar bis zu der Eintragung, welche der ersten Markierung entspricht Wenn während
der Durchführung der BACK-Routine festgestellt wird, daß ein Eingang zu der Schleife fehlerhaft ist welcher
so Eingang nicht von einem anderen Punkt der Schleife beeinflußt wird, dann wird der Knoten und seine entsprechende
Kennzeichen-Vergleichsinformation als eine neue Eintragung in die Geschehenstabelle eingegeben, und
zwar in der BAD-Unterroutine der Fig.7B. Der Algorithmus würde dann die Abtastung von dem letzten
Knoten in Richtung des an die Eingänge der zu prüfenden Schaltungskarte angelegten Prüfmusters weiterleiten,
bis ein Eingang erreicht ist oder eine andere Komponente mit einem fehlerhaften Ausgang und fehlerfreien
Eingängen gefunden oder eine andere verdächtige Schleife identifiziert wurde.
Wenn jedoch der fehlerhafte Eingang mit einem anderen Punkt der Schleife verbunden ist, wird keine
Eintragung für diesen fehlerhaften Eingang in die Geschehenstabelle vorgenommen.
Es sei angenommen, daß der Algorithmus in die BACK-Unterroutine geht und dann feststellt, daß kein
Fluchtweg aus der zweifelhaften Schleife vorhanden ist Dies bedeutet, daß alle Eingangsstifte zu der zweifelhaften
Schleife geprüft worden sind und als fehlerfrei gefunden wurden. Deshalb können die als fehlerhaft festgestellten
Knoten innerhalb der Schleife durch keinen Schleifengang von außerhalb der Schleife her verursacht
sein. Aus diesem Grunde ist kein »Fluchtweg« aus der Schleife vorhanden und der Fehler muß innerhalb der
Schleife liegen; die Schleife muß nun »aufgelöst« werden, um die fehlerhafte Komponente zu orten, welche die
falschen Kennzeichen an den Knoten der Schleife verursacht Der Algorithmus geht dann in die Stellung BRKLP
(Schleife aufbrechen — Break loop), was in F i g. 7F durch das Bezugszeichen 351 angezeigt wird.
Der Code an der Stelle BRKLP verwendet die von den erwarteten Kennzeichen (d. h. die Eingangsprüfnummer
an welcher jeder Knoten fehlerhaft wurde), welche in der Geschehenstabelle gespeichert sind, abgeleiteten
Informationen, um festzustellen, welcher Knoten eine Quelle des Problems war.
Der Weg, in welcher die Information von der Geschehenstabelle durch den BRKLP-Teil des Algorithmus
(angezeigt durch das Bezugszeichen 353 in Fig. 7F) verwendet wird, ist wie folgt: Der Algorithmus »vandert«
durch die Geschehenstabelle von der Eintragung, welche dem als erstes abgetasteten Knoten der Schleife
entspricht zu dem Ende der Schleife. Die Geschehenstabelle ist eine chronologische Aufzeichnung der Folge, in
welcher die falschen Kennzeichen während der Abtastfolge aufgcfundsn wurden. Jede Fehlereintragung in die
Geschehenstabelle enthält die oben erwähnte »früheste fehlerhafte anfängliche Übergangsnummer« und den
»Zeiger« bzw. »Hinweis« auf den entsprechenden Knoten.
Der Algorithmus vergleicht jede vorangehend gespeicherte Eingangsprüfnummer (an welcher jeder Knoten
versagte) mit der als nächstes gespeicherten Eingangsprüfnummer und »behält sich« die kleinere (d. h. die
frühere) der beiden und vergleicht diese mit der nächsten gespeicherten Eingangsprüfnummer in der Geschehenstabelle, so daß, nachdem das Ende der Schleife erreicht ist, nur die kleinste (früheste) Eingangsprüfnummer
in der Geschehenstabelle »vermerkt« ist Der Algorithmus »vermerkt sich« solche allmählich kleiner werdenden
Eingangsprüfnummern mit Hilfe einer »Eingangsprüfnummer-Variablen« der BRKLP-Unterroutine. Jedesmal
dann, wenn die BRKLP-Unterroutine während der oben erwähnten »Wanderung« durch die Geschehenstabelle
einer anderen iii der Geschehenstäbeile gespeicherten Eingangsprüfnummer »begegnet«, wird die Eingangsprüfhummer-Variable gleich dem Wert der angetroffenen Eingangsprüfnummer gesetzt, wenn die angetroffene
Eingangsprüfnummer kleiner oder gleich ist dem gegenwärtigen Wert der Eingangsprüfnummer-Variablen. Es
wird angenommen, daß der Knoten, welcher der frühesten Prüfnummer entspricht, der fehlerhafte Knoten ist,
und es wird angenommen, daß das diesen Knoten steuernde Element das fehlerhafte Logikelement ist und sein
Identifikationszeichen wird als wahrscheinlicher Fehler ausgedruckt.
Der Block 353 der F i g. 7 F ist in den F i g. 7G und 7 H im einzelnen dargestellt, worin die durch den Block 353
in F i g. 7F dargestellte Unterroutine bei der BRKLP-Anweisung 351 beginnt Beginnend mit der Eintragung der
Geschehenstabelle, welche dem als erstes abgetasteten Knoten der Schleife entspricht, setzt der Algorithmus
den vorliegenden Wert einer Eingangsprüfnummer-Variablen auf den maximal erlaubten Wert, wie dies durch
den Block 401 veranschaulicht ist (Der maximal erlaubte Wert der Eingangsprüfnummer-Variablen ist die
maximal erlaubte Zahl (d. h. lauter »Einsen«), welche in der oben erwähnten Prüfgeräte-Speicherstelle gespeichert werden kann, in welcher die Eingangsprüfnummer gespeichert ist Der Algorithmus beginnt mit seiner
»Wanderung« durch die Geschehenstabelle, wie dies oben erläutert wurde. Der Algorithmus vergleicht den
vorliegenden Wert (der Eingangsnummer-Variablen) mit dem Wert der Eingangsprüfnummer, welche in der
ersten Stelle der Geschehenstabelle gespeichert ist und stellt fest, ob die Eingangsprüfnummer, welche in der
ersten Stelle der Geschehenstabelie gespeichert ist, gleich oder kleiner ist als der vorliegende (d. h. der höchst
erlaubte Wort) der Eingangsprüfnummer-Variablen, wie dies in dem Entscheidungsblock 403 veranschaulicht ist.
Wenn der in der vorliegenden (d. h. der ersten) Stelle der Geschehenstabelle gespeicherte Wert kleiner oder
gleich dem gegenwärtigen Wert der Eingahgsprüfnummer ist dann setzt der Algorithmus die Prüfnummer-Variable auf den Wert welcher in der vorliegenden (ersten) Stelle der Geschehenstabelle gespeichert ist, wie dies in
Block 405 angezeigt ist Der Algorithmus »vermerkt sich« den neuen Wert der Prüfnummer-Variablen und die
Stelle der Geschehenstabelle, in welcher dieser Wert gespeichert ist wie dies im Block 407 angezeigt ist. Der
Algorithmus prüft dann die nächste (zweite) Eintragung in die Geschehenstabelle, was durch den Block 409
veranschaulicht ist
Der Algorithmus stellt dann fest ob alle. Eintragungen in die Geschehenstabelle geprüft wurden oder nicht,
wie dies durch den Entscheidungsblock 411 veranschaulicht ist Falls nicht, tritt der Algorithmus erneut in das
Ablaufdiagramm der F i g. 7G ein, und zwar am Eingang des Entscheidungsblocks 403, und wiederholt die obigen
Schritte. Nachdem alle Eintragungen in die Geschehenstabelle geprüft worden sind, wird die Prüfnummer-Variable auf die niedrigste oder späteste Eingahgsprüfnummer gesetzt welche an irgendeiner Stelle der Geschehenstabelle gespeichert ist und die entsprechende Stelle der Geschehenstabelle wird »vermerkt«. Der Algorith-
mus tritt dann aus dem Entscheidungsblock 411 aus und gelangt in den Entscheidungsblock 413 der F i g. 7H. In
dem Entscheidungsblock 413 bestimmt der Algorithmus, ob der vorliegende Wert der Prüfnummer-Variablen
gleich der nächstmöglichen Zahl ist und falls dies der Fall ist schließt der Algorithmus daraus, daß die Schleife
unaufbrechbar ist was durch den Block 417 veranschaulicht wird. Wenn der vorliegende Wert der Prüfnummer-Variablen nicht gleich dem höchstmöglichen Wert ist dann stellt der Algorithmus fest ob die Prüfnummer-Va-
nable gleich allen EingängSpFufnüinnicm der Schleife, Weiche in der GeSChchcnStabcüc gespeichert Sind, iSt, WaS
durch den Entscheidungsblock 415 veranschaulicht ist um festzustellen, ob die Schleife eine asynchrone Schleife
ist Wenn die Prüfhummer-Variable gleich allen in der Geschehenstabelle gespeicherten Eingangsprüfnummern
der Schleife ist dann ist die Schleife asynchron. Wenn die Schleife asynchron ist dann schließt der Algorithmus
ebenfalls, daß die Schleife unaufbrechbar ist, was durch den Block 417 angezeigt wird. Ist die Schleife nicht
asynchron, dann zeigt die zuletzt »vermerkte« Stelle der Geschehenstabelle, worin der niedrigste Wert der
Eingangsprüfnummer-Variablen gefunden wurde, den fehlerhaften Knoten der Schleife an. An diesem Punkt ist
die Schleife aufgelöst und das Ergebnis wird ausgedruckt wie dies durch die Anweisung 351 und den Block 421
dargestellt ist
Das in der Geschehenstabelle gespeicherte chronologische Abtastgeschehen wird nicht ausgedruckt wenn die
Schleife »gebrochen« werden kann. Wenn die Daten jedoch unzureichend sind, um die Ursache für die unrichtigen Kennzeichen festzustellen oder wenn die Schleife asynchron ist (d. h. alle Knoten der Schleife versagen
gleichzeitig, da Iceine Verzögerungselemente in der Schleife enthalten sind), dann werden alle Knoten der
Schleife als mögliche Fehlerquellen ausgedruckt
Wie bereits oben erwähnt ist der Schleifenaufbrech-Algorithmus nicht in der Lage, einen Fehler in einer
asynchronen Schleife zu orten. Um festzustellen, ob eine Schleife asynchron ist führt ein Teil 415 des Schleifenaufbrech-Algorithmus einen Durchlauf durch die Schleife aus, um festzustellen, ob sich darin ein Verzögerungselement befindet Falls kein Verzögerungselement vorhanden ist dann macht der Algorithmus keinen Versuch,
die Schleife zu brechen.
Falls PRBFLG gesetzt ist, tritt der Algorithmus immer dann, wenn die ESIG-Anweisung 307 in Fig.7A
ausgeführt wird, in die Marke NORMAL ein (was durch das Bezugszeichen 355 in F i g. 7D angezeigt wird). Dies
ist der Teil des Algorithmus, welcher eine folgerichtige Abtastung sicherstellt und eine Falschabtastung identifiziert.
Unter Bezugnahme auf die F i g. 7D sei darauf hingewiesen, daß der Code an der Marke NORMAL (Bezugizeichen 355) folgerichtige Kennzeichen sicherstellt, indem das Prüfprogramm so lange durchlaufen wird, bis ein
fehlerfreies Kennzeichen gefunden wurde (dargestellt durch den Entscheidungsblock 357) oder bis zwei verschiedene ungleiche fehlerhafte Kennzeichen gefunden sind (dargestellt durch den Entscheidungsblock 361)
ίο oder bis drei gleiche fehlerhafte Kennzeichen erhalten wurden, was durch den Entscheidungsblock 359 dargestellt ist Wenn zwei verschiedene fehlerhafte Kennzeichen gefunden wurden, dann wird das Wort »WIDERSINNIG« (»INCONSISTENT«) ausgedruckt (dargestellt durch Block 363 in Fig.7E) und das Wort »RETRY«
(»Versuche noch einmal«) wird angezeigt Die Bedienungsperson kann nun die LVüiung wiederholen (durch
Eintasten von »Y«) oder abbrechen (durch Eintasten von »N«), was durch den Entscheidungsblock 365 darge
stellt wird. (Wenn nach irgendwelchen Abtast-Anweisungen ein »P« eingetastet wurde, dann werden die Kenn
zeichen sowohl für fehlerfreie als auch für fehlerhafte Knoten ausgedruckt)
An der in Fig.7D mit dem Bezugszeichen 337 versehenen Marke PROBE druckt der Algorithmus den als
nächsten abzutastenden Knoten aus und zeigt ihn auf dem Anzeigefeld an (dargestellt durch das Bezugszeichen
375), wartet auf die von der Bedienungsperson zu drückende Leertaste (angezeigt durch das Bezugszeichen 377)
und kehrt dann zu der System-Software zurück. Der Algorithmus führt dann das Prüfprogramm von SlG
(Bezugszeichen 303) bis ESIG (Bezugszeichen 307) aus, nimmt das Kennzeichen von dem abgetasteten Knoten
auf und verzweigt dann zu der Marke NORMAL (Bezugszeichen 355 in F i g. 7D).
Eine Unterroutine an der Marke VP (Bezugszeichen 369 in F i g. 7E) prüft die Abtastrichtigkeit durch Sicherstellen, daß irgendein fehlerhaftes Kennzeichen an zwei verschiedenen Stellen jeder fehlerhaften Knotenleiter-
bahn festgestellt werden muß, bevor der Knoten als fehlerhaft bezeichnet wird. Diese Stellen sind normalerweise die entgegengesetzten Enden einer den abzutastenden Knoten bildenden Leiterbahnen. Ein Versagen dieser
Forderung hat die Anzeige einer »RETRY«-(»Versuche-noch-einmal«)-Nachricht zur Folge, wie dies durch die
Entscheidungsblöcke 370,371 und 372 angezeigt wird. Die Bedienungsperson kann dann die Abtastung wieder
holen oder abbrechen, wie dies durch den Entscheidungsblock 365 und die Marke ABORT veranschaulicht wird,
so Falls der Knoten fehlerfrei ist schreitet der Algorithmus zu der Stelle NEXT, was durch den Entscheidungsblock
370 und die Marke 335 veranschaulicht wird. Ist der Knoten fehlerhaft dann schreitet der Algorithmus in die
Stelle BAD, was durch den Entscheidungsblock 371 und die Marke 327 veranschaulicht wird. Wenn der Algorith-— mus von gegenüberliegenden Enden einer den Knoten bildenden Leiterbahn das gleiche fehlerhafte Kennzei
chens erhält, oder wenn insgesamt vier Abtastversuche durchgeführt wurden, dann wird der Knoten von dem
Algorithmus als fehlerhaft bezeichnet wie dies durch das Bezugszeichen 372 veranschaulicht wird. Jedoch
bezeichnet der Algorithmus jedesmal dann, wenn er ein fehlerfreies Ergebnis erhält den Knoten als fehlerfrei
oder gut Wenn die an verschiedenen Stellen des gleichen Knotens gemessenen Kennzeichen beide fehlerhaft
aber ungleich sind, dann nimmt der Algorithmus weitere Kennzeichen. Wenn an dem anderen Ende des Knotens
der Algorithmus zwei gleiche fehlerhafte Kennzeichen erhält dann druckt dieser die Nachricht »OFFEN ODER
FEHLABTASTUNG« aus, wie dies durch das Bezugszeichen 379 in F i g. 7E veranschaulicht ist
Das erfindungsgemäße automatische Fehlerortungssystem und das entsprechende erfindungsgemäße Verfahren führt zu einer wesentlichen Bedienungserleichterung des Systems für die Bedienungsperson und ermöglicht
dieser, fehlerhafte Komponenten aufzuspüren, ohne daß ein Schaltplan des zu prüfenden Gerätes oder der zu
prüfenden Schaltungskarte zu Rate gezogen werden müssen.
Diese interaktiven Merkmale gestatten es der Bedienungsperson, mit dem System während der Ausführung
eines Prüfprogramms wechselseitig zusammenzuarbeiten und die Störungssuche auf der zu prüfenden Schaltungskarte in etwa der gleichen Weise durchzuführen, wie sie dies in einem Labor unter Verwendung verschiedener elektronischer Einrichtungen tun würde, indem sie an die zu prüfende Schaltungskarte Prüfeingangssignale anlegen würde und deren Einfluß zur Eingrenzung bzw. Ortung eines bestimmten Fehlers Knoten nach
Knoten prüfen würde.
Das PfGfgefSi kann ferner eine »Bciastur.gsHstcs (»Load !ist«) ausdrücker., wenn es in der automatischen
Fehlerortungs-fietriebsweise arbeitet Dies gestattet der Bedienungsperson, den Schaltungsbetrieb auch dann
weiterzuverfolgen, wenn das Ersetzen eines als möglicherweise fehlerhaft angezeigten Bauelements zu keinem
fehlerfreien Betrieb der zu prüfenden Schaltungskarte führt. Diese »Belastungsliste« zeigt an, welche Knoten
von einem bestimmten Knoten angesteuert werden und ferner die durch die Kennzeichenanalyse erhaltenen
Ergebnisse, wobei diese Kennzeichenanalyse durch die Software in Abhängigkeit von dem bei den Abtastvorgängen erhaltenen Verhaltensmustern durchgeführt wurde. Die Bedienungsperson kann dann in der Lage sein,
die zu prüfende Schaltungskarte ohne die Zuhilfenahme umfangreicher Beschreibungen oder Dokumentationen
zu reparieren, selbst dann, wenn die automatische Fehlerortungsroutine nicht in der Lage ist, den Fehler genau
zu bezeichnen. Normalerweise kann angenommen werden, daß dann, wenn das Kennzeichen eines bestimmten
Knotens fehlerhaft ist, das diesen Knoten oder diese Komponente ansteuernde Chip oder Bauelement einwand-
freie Kennzeichen aufweist Unter bestimmten Bedingungen kann diese Annahme jedoch falsch sein. Wie bereits
erwähnt, kann in der Verdrahtung der gedruckten Schaltungskarte ein Kurzschluß vorhanden sein oder der
Eingang einer folgenden Komponente, welche mit dem betreffenden Knoten verbunden ist, kann defekt sein und
dadurch den Fehler verursachen. Unter diesen Bedingungen ist es sehr nützlich, im Besitz der gedruckten
»Belastungsliste« zu sein.
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* 25
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65
Claims (1)
1. Verfahren zur Fehlerortung in einer digitalen Schaltung, die eine Vielzahl von über Knotenpunkte
miteinander verbundene Schaltungselemente enthält, unter Prüfen einer Folge der Knotenpunkte, unter Anlegen einer vorbestimmten Folge von Prüfsignalen an Eingänge der digitalen Schaltung und unter Ver
gleichen des Verhaltens des zu prüfenden Knotenpunkts mit bekannten richtigen Verhaltensmustern, g e -kennzeichnet durch dieSchritte
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/895,892 US4194113A (en) | 1978-04-13 | 1978-04-13 | Method and apparatus for isolating faults in a logic circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2914128A1 DE2914128A1 (de) | 1979-10-25 |
DE2914128C2 true DE2914128C2 (de) | 1985-09-26 |
Family
ID=25405238
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2914128A Expired DE2914128C2 (de) | 1978-04-13 | 1979-04-07 | Verfahren zur Fehlerortung in einer digitalen Schaltung und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4194113A (de) |
JP (1) | JPS54138350A (de) |
BE (1) | BE875533A (de) |
DE (1) | DE2914128C2 (de) |
FR (1) | FR2422991A1 (de) |
GB (1) | GB2019012B (de) |
NL (1) | NL191272C (de) |
SE (1) | SE430631B (de) |
Families Citing this family (104)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5585264A (en) * | 1978-12-23 | 1980-06-27 | Toshiba Corp | Function test evaluation device for integrated circuit |
JPS5585265A (en) * | 1978-12-23 | 1980-06-27 | Toshiba Corp | Function test evaluation device for integrated circuit |
US4267594A (en) * | 1979-06-22 | 1981-05-12 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Decommutator patchboard verifier |
US4308615A (en) * | 1979-09-17 | 1981-12-29 | Honeywell Information Systems Inc. | Microprocessor based maintenance system |
US4339819A (en) * | 1980-06-17 | 1982-07-13 | Zehntel, Inc. | Programmable sequence generator for in-circuit digital testing |
US4348760A (en) * | 1980-09-25 | 1982-09-07 | Lockheed Corporation | Digital-fault loop probe and system |
FR2495350A1 (fr) * | 1980-12-03 | 1982-06-04 | Lazare Rene | Testeur specifique a modules, automatise et portable |
US4381563A (en) * | 1980-12-18 | 1983-04-26 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for visually presenting analytical representations of digital signals |
US4393498A (en) * | 1981-01-22 | 1983-07-12 | The Boeing Company | Method and apparatus for testing systems that communicate over digital buses by transmitting and receiving signals in the form of standardized multi-bit binary encoded words |
US4510572A (en) * | 1981-12-28 | 1985-04-09 | Data I/O Corporation | Signature analysis system for testing digital circuits |
US4459693A (en) * | 1982-01-26 | 1984-07-10 | Genrad, Inc. | Method of and apparatus for the automatic diagnosis of the failure of electrical devices connected to common bus nodes and the like |
DE3208136A1 (de) * | 1982-03-06 | 1983-09-15 | Rohde & Schwarz GmbH & Co KG, 8000 München | Elektronisches messgeraet |
US4441183A (en) * | 1982-03-22 | 1984-04-03 | Western Electric Company, Inc. | Apparatus for testing digital and analog circuits |
DE3267548D1 (en) * | 1982-05-28 | 1986-01-02 | Ibm Deutschland | Process and device for an automatic optical inspection |
US4527272A (en) * | 1982-12-06 | 1985-07-02 | Tektronix, Inc. | Signature analysis using random probing and signature memory |
US4551837A (en) * | 1983-03-25 | 1985-11-05 | International Telephone & Telegraph Corp. | High speed operational recurring signature evaluator for digital equipment tester |
US4625312A (en) * | 1983-10-06 | 1986-11-25 | Honeywell Information Systems Inc. | Test and maintenance method and apparatus for investigation of intermittent faults in a data processing system |
JPS6089771A (ja) * | 1983-10-21 | 1985-05-20 | Syst Baransu:Kk | ボ−ドチエツカ |
US4612638A (en) * | 1984-04-09 | 1986-09-16 | Chrysler Corporation | Diagnostic protection circuit and method using tri-state control and positive feedback |
US4625313A (en) * | 1984-07-06 | 1986-11-25 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for testing electronic equipment |
GB8428405D0 (en) * | 1984-11-09 | 1984-12-19 | Membrain Ltd | Automatic test equipment |
JPS61292755A (ja) * | 1985-06-20 | 1986-12-23 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
FR2583884B1 (fr) * | 1985-06-25 | 1987-09-04 | Electricite De France | Procede et installation informatiques d'aide au depannage des reseaux |
US4709366A (en) * | 1985-07-29 | 1987-11-24 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Computer assisted fault isolation in circuit board testing |
US4713815A (en) * | 1986-03-12 | 1987-12-15 | International Business Machines Corp. | Automatic fault location system for electronic devices |
US4771428A (en) * | 1986-04-10 | 1988-09-13 | Cadic Inc. | Circuit testing system |
WO1988005918A1 (en) * | 1987-02-06 | 1988-08-11 | Analytics Incorporated | Maintenance system |
US4796259A (en) * | 1987-05-21 | 1989-01-03 | Genrad, Inc. | Guided probe system and method for at-speed PC board testing |
JPS63291134A (ja) * | 1987-05-22 | 1988-11-29 | Toshiba Corp | 論理集積回路 |
DE3822761A1 (de) * | 1988-07-05 | 1990-01-11 | Siemens Ag | Verfahren zur pruefung einer elektronischen baugruppe |
US5032789A (en) * | 1989-06-19 | 1991-07-16 | Hewlett-Packard Company | Modular/concurrent board tester |
US5127009A (en) * | 1989-08-29 | 1992-06-30 | Genrad, Inc. | Method and apparatus for circuit board testing with controlled backdrive stress |
US5068814A (en) * | 1989-11-07 | 1991-11-26 | Array Analysis, Inc. | Interactive adaptive inference system |
US5081626A (en) * | 1989-12-08 | 1992-01-14 | Hughes Aircraft Company | System for detection and location of events |
US5224103A (en) * | 1990-07-16 | 1993-06-29 | North American Philips Corporation | Processing device and method of programming such a processing device |
US5446742A (en) * | 1990-08-01 | 1995-08-29 | Zilog, Inc. | Techniques for developing integrated circuit test programs and their use in testing actual circuits |
US5122753A (en) * | 1990-12-20 | 1992-06-16 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Method of testing electrical components for defects |
DE4142393A1 (de) * | 1990-12-28 | 1992-07-02 | Gen Electric | Verfahren und anordnung zum isolieren von fehlerhaften komponenten in einem system |
JP2884847B2 (ja) * | 1991-10-03 | 1999-04-19 | 三菱電機株式会社 | 故障検出機能を備えた半導体集積回路装置の製造方法 |
EP0557628B1 (de) * | 1992-02-25 | 1999-06-09 | Hewlett-Packard Company | Testsystem für Schaltkreise |
TW272270B (de) * | 1992-08-28 | 1996-03-11 | Compaq Computer Corp | |
US5594741A (en) * | 1993-03-31 | 1997-01-14 | Digital Equipment Corporation | Method for control of random test vector generation |
US5410547A (en) * | 1993-06-17 | 1995-04-25 | Cirrus Logic, Inc. | Video controller IC with built-in test circuit and method of testing |
US5504432A (en) | 1993-08-31 | 1996-04-02 | Hewlett-Packard Company | System and method for detecting short, opens and connected pins on a printed circuit board using automatic test equipment |
US5390194A (en) * | 1993-11-17 | 1995-02-14 | Grumman Aerospace Corporation | ATG test station |
SE515553C2 (sv) * | 1996-06-28 | 2001-08-27 | Ericsson Telefon Ab L M | Kretskortstest |
JPH10269100A (ja) * | 1997-03-25 | 1998-10-09 | Mitsubishi Electric Corp | ボード配線故障検出装置 |
US6628607B1 (en) | 1999-07-09 | 2003-09-30 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for loop breaking on a serial bus |
US6691096B1 (en) | 1999-10-28 | 2004-02-10 | Apple Computer, Inc. | General purpose data container method and apparatus for implementing AV/C descriptors |
US6959343B1 (en) | 1999-11-01 | 2005-10-25 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for dynamic link driver configuration |
US6671768B1 (en) | 1999-11-01 | 2003-12-30 | Apple Computer, Inc. | System and method for providing dynamic configuration ROM using double image buffers for use with serial bus devices |
US8762446B1 (en) | 1999-11-02 | 2014-06-24 | Apple Inc. | Bridged distributed device control over multiple transports method and apparatus |
US6813663B1 (en) | 1999-11-02 | 2004-11-02 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for supporting and presenting multiple serial bus nodes using distinct configuration ROM images |
US6631426B1 (en) | 1999-11-02 | 2003-10-07 | Apple Computer, Inc. | Automatic ID allocation for AV/C entities |
US6618750B1 (en) | 1999-11-02 | 2003-09-09 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for determining communication paths |
US6636914B1 (en) | 1999-11-05 | 2003-10-21 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for arbitration and fairness on a full-duplex bus using dual phases |
US6587904B1 (en) | 1999-11-05 | 2003-07-01 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for preventing loops in a full-duplex bus |
US6457086B1 (en) * | 1999-11-16 | 2002-09-24 | Apple Computers, Inc. | Method and apparatus for accelerating detection of serial bus device speed signals |
US6639918B1 (en) * | 2000-01-18 | 2003-10-28 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for border node behavior on a full-duplex bus |
US7266617B1 (en) | 2000-01-18 | 2007-09-04 | Apple Inc. | Method and apparatus for border node behavior on a full-duplex bus |
US7421507B2 (en) * | 2000-02-16 | 2008-09-02 | Apple Inc. | Transmission of AV/C transactions over multiple transports method and apparatus |
US7050453B1 (en) * | 2000-02-17 | 2006-05-23 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for ensuring compatibility on a high performance serial bus |
US6831928B1 (en) | 2000-02-17 | 2004-12-14 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for ensuring compatibility on a high performance serial bus |
US6618785B1 (en) | 2000-04-21 | 2003-09-09 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for automatic detection and healing of signal pair crossover on a high performance serial bus |
US6718497B1 (en) | 2000-04-21 | 2004-04-06 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for generating jitter test patterns on a high performance serial bus |
DE10100569A1 (de) * | 2001-01-09 | 2002-07-11 | Koninkl Philips Electronics Nv | Treiberschaltung für Anzeigevorrichtung |
US6754864B2 (en) | 2001-02-22 | 2004-06-22 | International Business Machines Corporation | System and method to predetermine a bitmap of a self-tested embedded array |
US6851612B2 (en) | 2001-07-20 | 2005-02-08 | Siemens Building Technologies, Inc. | Portable diagnostic device |
US7085980B2 (en) * | 2002-05-02 | 2006-08-01 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for determining the failing operation of a device-under-test |
US6889368B1 (en) * | 2002-10-25 | 2005-05-03 | Xilinx, Inc. | Method and apparatus for localizing faults within a programmable logic device |
US7145344B2 (en) | 2002-10-25 | 2006-12-05 | Xilinx, Inc. | Method and circuits for localizing defective interconnect resources in programmable logic devices |
US7417973B1 (en) | 2002-12-31 | 2008-08-26 | Apple Inc. | Method, apparatus and computer program product for ensuring node participation in a network bus |
US7457302B1 (en) | 2002-12-31 | 2008-11-25 | Apple Inc. | Enhancement to loop healing for malconfigured bus prevention |
US7353284B2 (en) * | 2003-06-13 | 2008-04-01 | Apple Inc. | Synchronized transmission of audio and video data from a computer to a client via an interface |
US20040255338A1 (en) * | 2003-06-13 | 2004-12-16 | Apple Computer, Inc. | Interface for sending synchronized audio and video data |
US7668099B2 (en) * | 2003-06-13 | 2010-02-23 | Apple Inc. | Synthesis of vertical blanking signal |
US8275910B1 (en) | 2003-07-02 | 2012-09-25 | Apple Inc. | Source packet bridge |
US7073109B2 (en) * | 2003-09-30 | 2006-07-04 | Agilent Technologies, Inc. | Method and system for graphical pin assignment and/or verification |
CN100383542C (zh) * | 2003-11-07 | 2008-04-23 | 深圳创维-Rgb电子有限公司 | 检测电路板的方法及装置 |
US7788567B1 (en) | 2003-11-18 | 2010-08-31 | Apple Inc. | Symbol encoding for tolerance to single byte errors |
US7995606B1 (en) | 2003-12-03 | 2011-08-09 | Apple Inc. | Fly-by and ack-accelerated arbitration for broadcast packets |
US7502338B1 (en) | 2003-12-19 | 2009-03-10 | Apple Inc. | De-emphasis training on a point-to-point connection |
US7237135B1 (en) | 2003-12-29 | 2007-06-26 | Apple Inc. | Cyclemaster synchronization in a distributed bridge |
US7308517B1 (en) | 2003-12-29 | 2007-12-11 | Apple Inc. | Gap count analysis for a high speed serialized bus |
US20050231358A1 (en) * | 2004-04-19 | 2005-10-20 | Company Steven L | Search engine for singles with (GPS) position data |
US7360130B2 (en) * | 2004-05-24 | 2008-04-15 | Jed Margolin | Memory with integrated programmable controller |
US7259665B2 (en) * | 2004-10-27 | 2007-08-21 | International Business Machines Corporation | Battery backed service indicator aids for field maintenance |
EP1946132B1 (de) * | 2005-11-04 | 2010-04-14 | Nxp B.V. | Verfahren und testvorrichtung zur prüfung integrierter schaltungen |
US7512914B2 (en) * | 2006-05-26 | 2009-03-31 | Inventec Corporation | Method of improving electronic component testability rate |
US7693081B1 (en) * | 2006-06-28 | 2010-04-06 | Alcatel Lucent | Integrated IP DSLAM test monitor |
US8483108B2 (en) * | 2006-07-24 | 2013-07-09 | Apple Inc. | Apparatus and methods for de-emphasis training on a point-to-point connection |
JP2008129601A (ja) * | 2006-11-21 | 2008-06-05 | Lg Electronics Inc | 平面表示装置非接触式検査用電気光学モジュレータ組立体、これを用いた検査装置及び検査方法、並びにこの検査方法を用いた平板表示装置の製造方法 |
US7739070B2 (en) * | 2007-08-28 | 2010-06-15 | Agilent Technologies, Inc. | Standardized interfaces for proprietary instruments |
US8095841B2 (en) * | 2008-08-19 | 2012-01-10 | Formfactor, Inc. | Method and apparatus for testing semiconductor devices with autonomous expected value generation |
US8464143B2 (en) * | 2009-01-12 | 2013-06-11 | Board Of Regents Of The Nevada System Of Higher Education | Error detection method |
US8185780B2 (en) | 2010-05-04 | 2012-05-22 | International Business Machines Corporation | Visually marking failed components |
JP5533935B2 (ja) * | 2012-05-10 | 2014-06-25 | トヨタ自動車株式会社 | ソフトウェア配信システム、ソフトウェア配信方法 |
US8990646B2 (en) * | 2012-05-31 | 2015-03-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Memory error test routine |
US8863072B1 (en) * | 2013-06-19 | 2014-10-14 | Altera Corporation | FPGA and OS image build tool |
US9062968B2 (en) * | 2013-07-23 | 2015-06-23 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | PCB loading apparatus for measuring thickness of printed circuit board stack |
FI126901B (en) | 2014-09-12 | 2017-07-31 | Enics Ag | Procedure and system for testing an electronic device |
EP3579074B1 (de) * | 2018-06-07 | 2021-01-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Computerimplementiertes verfahren und vorrichtung zur auflösung von geschlossenen schleifen bei der automatischen fehlerbaumanalyse eines mehrkomponentensystems |
CN110412521B (zh) * | 2019-06-29 | 2022-08-30 | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) | 数字相控阵天线的离散控制信号检测方法 |
CN113741386A (zh) * | 2021-07-29 | 2021-12-03 | 东风电驱动系统有限公司 | 整车控制器线路板程序自动写入及功能检测装置及方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3976864A (en) * | 1974-09-03 | 1976-08-24 | Hewlett-Packard Company | Apparatus and method for testing digital circuits |
US4097797A (en) * | 1974-10-17 | 1978-06-27 | Burroughs Corporation | Apparatus for testing electrical circuit units such as printed circuit cards |
US3931506A (en) * | 1974-12-30 | 1976-01-06 | Zehntel, Inc. | Programmable tester |
US4108358A (en) * | 1977-03-22 | 1978-08-22 | The Bendix Corporation | Portable circuit tester |
US4125763A (en) * | 1977-07-15 | 1978-11-14 | Fluke Trendar Corporation | Automatic tester for microprocessor board |
-
1978
- 1978-04-13 US US05/895,892 patent/US4194113A/en not_active Expired - Lifetime
-
1979
- 1979-03-30 NL NL7902515A patent/NL191272C/xx not_active IP Right Cessation
- 1979-04-06 SE SE7903081A patent/SE430631B/sv not_active IP Right Cessation
- 1979-04-07 DE DE2914128A patent/DE2914128C2/de not_active Expired
- 1979-04-12 JP JP4371479A patent/JPS54138350A/ja active Granted
- 1979-04-12 GB GB7913036A patent/GB2019012B/en not_active Expired
- 1979-04-12 BE BE0/194567A patent/BE875533A/xx not_active IP Right Cessation
- 1979-04-13 FR FR7909408A patent/FR2422991A1/fr active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7902515A (nl) | 1979-10-16 |
FR2422991B1 (de) | 1984-04-20 |
GB2019012B (en) | 1982-06-23 |
GB2019012A (en) | 1979-10-24 |
NL191272B (nl) | 1994-11-16 |
NL191272C (nl) | 1995-04-18 |
BE875533A (fr) | 1979-07-31 |
SE7903081L (sv) | 1979-10-14 |
JPS6256540B2 (de) | 1987-11-26 |
JPS54138350A (en) | 1979-10-26 |
US4194113A (en) | 1980-03-18 |
SE430631B (sv) | 1983-11-28 |
FR2422991A1 (fr) | 1979-11-09 |
DE2914128A1 (de) | 1979-10-25 |
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