DE2914678C2 - Verfahren zum Prüfen einer asynchron arbeitenden digitalen Schaltung und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents

Description

einem Treiber/Sensor-Steckerstift, einem Randkontaktsteckerstift und einem Randkontaktstift der Anschlußsteckerkarte der F i g. 2 und 3,

F i g. 6 eine perspektivische schematische Ansicht, aus welcher der ungefähre Aufbau und die elektrischen Verbindungen einer in Verbindung mit dem in F i g. 1 dargestellten tragbaren Prüfgerät verwendeten Gruppenschaltungskarte ersichtlich ist,

F i g. 7 ein Blockschaltbild des in dem tragbaren Prüfgerät gemäß F i g. 1 verwendeten Hochgeschwindigkeits-Prozessors,

F i g. 8A ein Flußdiagramm, welches die notwendigen Schritte zur Erzeugung einer eine Sammelleitung definierenden Unterroutine anzeigt, welche in dem Speicher des in Fig. 7 dargestellten Hochgeschwindigkeits-Prozessors gespeichert ist,

F i g. 8B eine schematische Ansicht der Operationsschritte des Hauptprozessors des in F i g. 1 dargestellten Prüfgerätes, welcher in Abhängigkeit von einer gemäß den in Fi g. 8A dargestellten Schritten erzeugten Unterroutine arbeitet, und

F i g. 9 eine schematische Ansicht eines Schaltungsblockes, welcher dazu verwendet wird, das Arbeiten des Hochgeschwindigkeitprozessor-Taktgenerators während der Ausführung eines WAIT-(Warten-)Befehls zu sperren.

Unter Bezugnahme auf die Zeichnungen, insbesondere auf die F i g. 1 bis 5, sei darauf hingewiesen, daß das erfindungsgemäße tragbare Prüfgerät eine Anschlußsteckerkarte 12 enthält Diese ermöglicht die Herstellung elektrischer Verbindungen zwischen dem tragbaren Prüfgerät und einer zu prüfenden Schaltungskarte 14. Ober die Anschlußsteckerkarte 12 kann das Prüfgerät direkt mit den Randkontakten der meisten zu prüfenden Schaltungskarten verbunden werden, ohne daß hierzu spezielle Adapter erforderlich sind.

Die Anschlußsteckerkarte 12 besitzt drei Randkontaktsteckerleisten 16,18 und 20, wie dies aus den F i g. 1 und 2 ersichtlich ist Die Steckerleiste 16, in welche die Randkontakte der zu prüfenden Schaltungskarte 14 eingesteckt werden können, weist zwei Reihen mit neunzig Stiften auf, die jeweils einen Mittenabstand von 3,96 Millimeter besitzen. Die Steckerleiste 18 enthält zwei Reihen von einhundertzehn Stiften, weiche einen Mittenabstand von 3,18 Millimeter aufweisen. Die Steckerleiste 20 enthält zwei Reihen von einhundertachtundzwanzig Stiften, welche einen Mittenabstand von 2,54 Millimeter aufweisen. Diese drei Steckerleisten haben somit die bei kommerziell erhältlichen Vorrichtungen am häufigsten vorkommenden Stiftabstände, so daß das Prüfgerät die meisten mit Randkontakten versehenen gedruckten Schaltungskarten aufnehmen kann.

Die Anschlußsteckerkarte 12 enthält ferner eine Doppelreihe von »Randkontakt-Steckerstiften«, welche allgemein mit dem Bezugszeichen 22 versehen sind. Die Randkontakt-Steckerstifte 22 dienen zum Verbinden mit einer »Gruppenkarte« 40, welche unter Bezugnahme auf die F i g. 6 beschrieben wird. Die Randkontakt-Steckerstifte 22 besitzen einen Mittenabstand von 2,54 Millimeter und sind mit entsprechenden der 256 Stifte der Steckerleiste 20 verbunden. Die 220 Stifte der Stek-ΐί€Γι€ΐ5ΐ€ ίο Siiiu Hlit äüSgcwauitcü ucf näiiuiCüiuüiCi- Steckerstifte 22 verbunden. Die ersten 180 Stifte der Steckerleiste 16 sind mit entsprechenden der ersten 180 Randkontakt-Steckerstifte 22 verbunden. Die Randkontakt-Steckerstifte 22 ermöglichen einen externen Zugriff zu den mit diesen verbundenen Randkontakt-Anschlußstiften. Es ist somit ersichtlich, daß entsprechende Randkontakt-Anschlußstifte der Randkontakt-Steckerleisten 16, 18 und 20 parallel miteinander verbunden sind; die parallele Verbindung verschiedener, einander entsprechender Anschlußstifte ist in F i g. 3B dargestellt, welche im folgenden näher beschrieben wird.

Die Anschlußsteckerkarte 12 enthält ferner eine Doppelreihe von Treiber/Sensor-Steckerstiften 23. Diese dienen zur Verbindung der Ausgänge der einzelnen, nicht gezeigten Treiber/Sensor-Schaltiingen mit verschiedenen anderen Anschlüssen der zu prüfenden Schaltungskarte. Eine solche Verbindung zu verschiedenen anderen Anschlüssen wird hergestellt durch die obenerwähnte »Gruppenkarte« 40 und durch öffnen entsprechender, im folgenden näher beschriebener »DIP-Schalter«. Dies bedeutet, daß verschiedene der Treiber/Sensor-Steckerstifte 23 mit verschiedenen der Randkontakt-Steckerstifte 22 mittels der Gruppenkarte 40 verbunden werden können.

Die Treiber/Sensor-Steckerstifte 23 ermöglichen Zugriff zu bestimmten der Treiber/Sensor-Schaltungen, welche elektrisch von den Randkontakt-Steckerstiften 22 durch öffnen von entsprechenden der DIP-Schalter 26 abgetrennt wurden. Jedes DIP-Schalterpaket, beispielsweise 26' in F i g. 2, enthält acht Kippschalter, beispielsweise 26ß in Fig.3B, von denen jeder im geschlossenen Zustand einen Treiber/Sensor-Schaltungsausgang und einen damit verbundenen Treiber/Sensor-Steckerstift mit einem entsprechenden der Randkontakt-Steckerstifte 22 verbindet. Die DIP-Schalter befinden sich normalerweise in ihrer geschlossenen Stellung, können jedoch bei der Vorbereitung zum Prüfen einer bestimmten gedruckten Schaltungskarte oder einer Gruppe von gedruckten Schaltungskarten geöffnet werden. Wenn beispielsweise eine zu prüfende gedruckte Schaltungskarte eine Spannung benötigt, welche den ±15 Volt-Bereich überschreitet, gegenüber welchem die Treiber/Sensor-Schaltungen geschützt werden müssen, dann sollen die entsprechenden DIP-Schalter 26 geöffnet werden, bevor die Gruppenkarte eingesteckt wird, um solche hohen Versorgungsspannungen an die Spannungsversorgungsanschlüsse der zv prüfenden Schaltungskarte zu liefern. Die DIP-Schalter 26 können auch in ihrer offenen Stellung gelassen werden, wenn die zu prüfende Schaltungskarte Ausgangsspannungen erzeugt, welche den ±15 Volt-Bereich überschreiten, um eine Beschädigung der Treiber/Sensor-Schaltungen durch solche den zulässigen Bereich überschreitende Spannungen zu vermeiden.

Wenn ferner die zu prüfende Schaltungskarte eine

so Verbindung von Treiber/Sensor-Schaltungsausgängen mit Randkontaktstiften verlangt, deren Numerierung über 191 liegt, dann können mit nicht verwendeten Treiber/Sensor-Schaltungen verbundene Treiber/Sensor-Steckerstifte 23 von den ihnen zugeordneten Randkon-

taktstiften durch öffnen der entsprechenden DIP-Schalter 26 getrennt werden, und es können die von den Treiber/Sensor-Steckerstiften 23 kommenden Signale mittels einer geeigneten Gruppenkarte 40 zu Randkontakt-Steckerstiften 22 geleitet werden, welche den Randkontaktstiften entsprechen, welche diese Treiber/ Sensor-Ausgangssignale benötigen.

Die Dlr-Schdiier 26 werden somit verwendet, um Treiber/Sensor-Ausgänge von entsprechenden Randkontaktstiften abzutrennen, wenn entweder

(1) der Treiber/Sensor-Ausgang statt zu dem entsprechenden Randkontaktstift woandershin zu leiten ist oder

(2) der entsprechende Randkontaktstift eine Spannung oder ein Signal aufnehmen soll, welche bzw. welches von dem Ausgangssignal des entsprechenden Treiber/Sensor-Schaltungsausgangs abweicht. Beispielsweise kann es erforderlich sein, daß der entsprechende Randkontaktstift das Anlegen einer Versorgungsspannung benötigt

Die Anschlußsteckerkarte 12 enthält ferner eine Vielzahl von Stromversorgungs-Steckerstiften und Masse-Steckerstiften 34 bzw. 32 (Fig.2). Die Stromversorgmngs-Steckerstifte 32 und 34 sind individuell mit verschiedenen konstanten und programmierbaren, in dem Prüfgerät enthaltenen Spannungsversorgungs-Ausgängen verbunden. Über die Spannungsversorgungs-Stekkerstifte 34 legt eine Gruppenkarte Versorgungsspannungen an vorbesiirnmte Randkoniakt-Steckerstifte 22 und damit an die entsprechenden Spannungsversorgtmgs-Anschlußstifte der zu prüfenden Schaltungskarte.

,Es sei darauf hingewiesen, daß die Anschlußsteckerkarte 12 auch eine Gruppe von Steckerstiften 35 aufweist, welche mit der internen Hochgeschwindigkeits-Sammelleitung 161 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors der F i g. 7 für einen externen Zugriff zu der internen Hochgeschwindigkeits-Sammelleitung gekoppelt sind.

Die Gruppenkarte 40 ist in F i g. 6 in perspektivischer Darstellung gezeigt und erscheint in F i g. 4 teilweise als Seitenansicht Die Gruppenkarte 40 ist eine lange schmale Karte mit Vorrichtungen zum Anbringen von Steckern oder Sockeln, welche in bestimmte Randkontakt-Steckerstifte 22, Treiber/Sensor-Steckerstifte 23 und/oder Spannungsversorgungs-Steckerstifte 32, 34 eingesteckt werden können. Verschiedene Leiter der Gruppenkarte verbinden bestimmte Gruppen der obengenannten Steckerstifte, so daß verschiedene Versorgungsspannungen an einen Randkontakt-Steckerstift 22 angelegt werden können, welche mit den Versorgungsspannungs-Eingängen der zu prüfenden Schaltungskarte verbunden sind. Die Leiter der Gruppenkarte 40 liefern ferner Ausgangssignale von nicht benutzten Treiber/Sensor-Steckerstiften 23 zu Randkontakt-Steckerstiften, welche mit Eingangsstiften oder Ausgangsstiften der zu prüfenden Schaltungskarte verbunden sind, welche eine Numerierung von höher als 191 aufeisen oder weiche so angeordnet sind, daß sie nicht direkt in eine der Randkontakt-Steckerleisten 16, 18 oder 20 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors eingesteckt werden können.

Das Ziel der oben beschriebenen Anordnung von Steckerstiften, DIP-Schaltern und der Gruppenkarte mit den zugehörigen Steckern bzw. Steckerleisten ist es, eine elektrische Verbindung von Versorgungsspannungen, Bezugsspannungen bzw. Masse und verschiedenen Treiber/Sensor-Ausgangssignalen zu »nicht entsprechenden« Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte herzustellen, falls dies für eine bestimmte zu prüfende Schaltungskarte erforderlich sein sollte. Diese Anordnung ist aufgrund der Tatsache erforderlich, daß die meisten elektronischen Geräte und Gerätefamilien mindestens eine »Mutter-Karte« besitzen, welche mit einer Vielzahl von Randkontakt-Steckerleisten versehen ist, um darin eine Vielzahl von gedruckten Schaltungskarten aufzunehmen. Die Stiftdefinitionen für die Versorgungsspannungen, Taktsignale und die verschiedenen Datensammelleitungen und dergleichen sind normalerweise für alle gedruckten Schaltungskarten, welche in eine bestimmte Mutter-Karte eingesteckt sind, und auch für eine vollständige Geräte- oder Produktfamilie oder -gruppe die gleichen. Somit kann üblicherweise eine einzige Gruppenkarte verwendet werden, um alle gedruckten Schaltungskarten einer bestimmten Gerätegruppe zu Prüfzwecken mit dem Prüfgerät zu verbinden.

Es sei darauf hingewiesen, daß einige gedruckte Schaltungskarten Anschlußteile aufweisen, welche nicht von Randkontakt-Steckerleisten 16, 18 oder 20 des Prüfgerätes aufgenommen werden können. Solche Anschlußteile können jedoch mit dem Prüfgerät unter Zuhilfenahme spezieller Kabel, welche an ihren beiden Enden mit Sockeln, Steckern oder dergleichen versehen sind, elektrisch verbunden werden. Die Stecker an dem einen Ende können mit geeigneten Treiber/Sensor-Steckerstiften oder Versorgungsspannungs-Steckerstiften und die Stecker an dem anderen Ende können mit den Stiften des auf andere Weise nicht anschließbaren Anschlußteils der zu prüfenden Schaltungskarte verbunden werden.

Die Fig.3A zeigt eine vergrößerte Ansicht eines Teils der Anschlußsteckerkarte 12 der Fig.2. Die F i g. 3B veranschaulicht, wie die mit Null und Eins bezeichneten Randkontaktstifte mit entsprechenden Randkontakt-Steckerstiften 22, Treiber/Sensor-Stekkerstiften 23 und DIP-Schaltern 26 verbunden sind. Wie oben bereits erläutert, sind einander entsprechende Randkontaktstifte miteinander und mit entsprechenden Randkontakt-Steckerstiften 22 verbunden. Somit sind in F i g. 3B die Randkontakt-Steckerleistenstifte 42,44 und 46 mit einem Leiter 60 verbunden. Der Leiter 60 ist mit einem Randkontakt-Steckerstift 22/4 und mit der einen Anschlußklemme eines Schalters 26Λ verbunden, welcher einer der Schalter 26 des DIP-Schalterbausteins 26' ist Der andere Anschluß des Schalters 26Λ ist mit dem Treiber/Sensor-Steckerstift 23Λ verbunden. In ähnlicher Weise sind die Randkontakt-Steckerleistenstifte 41,43 und 45 und die Randkontaktstecker 43 und 45 und die Randkontakt-Steckerstifte 22B alle mit dem Leiter 62 verbunden, welcher mit dem einen Anschluß eines Schalters 265 verbunden ist, welcher ebenfalls einer der Schalter 26 der Schalterbaugruppe 26 ist Der andere Anschluß des Schalters 26Z? ist mit dem Treiber/Sensor-Steckerstift 23B verbunden. Die übrigen Randkontaktstifte, Randkontakt-Steckerstifte, DIP-Schalter und Treiber/Sensor-Steckerstifte der Fig.2 und Fig.3A sind in ähnlicher Weise miteinander verbunden.

F i g. 4 ist eine Seitenansicht der Anschlußsteckerkarte 12 mit den Kontaktstiften der Randkontakt-Steckerleisten 16,18 und 20. F i g. 4 zeigt ferner in einer Teilansieht, wie ein Stecker einer Gruppenkarte 40 in Randkontakt-Steckerstifte 23Λ und 23B eingesteckt ist.

In Fig.5 ist schematisch veranschaulicht, wie die Treiber/Sensor-Schaltung 54/4 mit dem Treiber/Sensor-Steckerstift 23Cverbunden ist Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung weisen die Treiber/Sensor-Steckerstifte einen oberen Teil auf, welcher sich oben aus der Verbindungssteckerkarte 12 herauserstreckt und besitzen ferner einen unteren Teil, welcher sich unter der Verbindungssteckerkarte 12 herauserstreckt und direkt mit der Eingangs/Ausgangsklemme der entsprechenden Treiber/Sensor-Schaltung verbunden ist. Der Treiber/Sensor-Steckerstift ist mit einem Anschluß des Schalters 26C verbunden, dessen anderer Anschluß mit dem Randkontakt-Steckerstift 22C und mit den Randkontaktstiften 42,44 und 46 verbunden ist, wie dies aus F i g. 3B ersichtlich ist

Gemäß F i g. 6 besitzt die Gruppenkarte 60 eine lange schmale Karte 40', auf welcher sich eine Anzahl Leiter,

•/i/i,

wie 80, 81 und 82, befinden. Die Gruppenkarte 40 enthält ferner eine Anzahl von Anschlußteilen, wie 70, 72 und 73, welche durch Buchsensteckerleisten gebildet werden, welche Gruppen von Steckerstiften, beispielsweise die Gruppen 65 und 66, aufnehmen können. Die Steckerstifte 65 können beispielsweise Gruppen von Treiber/Sensor-Steckerstiften sein, welche aus der Oberfläche der Anschlußsteckerkarte 12 herausragen; die Anschlußstifte 66 können Randkontakt-Steckerstifte sein. Die sich von dem Anschlußteil 70 weg erstrekkenden Leiter 77,78 und 79 sind mit Leitern 82,81 bzw. 80 der schmalen Karte 40 verbunden. Entsprechende, sich von ausgewählten Stiften des Anschlußteils 72 weg erstreckende Leiter 77', 78' und 79' sind mit den Leitern 82, 81 bzw. 80 verbunden. Das Anschlußteil 72 kann in die Steckerstifte 66 eingesteckt werden. An die Treiber/ Sensor-Steckerstifte 65 angelegte Treiber/Sensor-Ausgangssignale gelangen somit auf Leiter der Karte 40' und von dort zu entsprechenden Randkontakt-Steckerstiften der Gruppe 66 und von da zu entsprechenden Randkontaktstiften. Es sei darauf hingewiesen, daß die DIP-Schalter, welche mit mit den Leiterbahnen auf der Karte 40' verbundenen Treiber/Sensor-Steckerstiften verbunden sind, in ihrer offenen Stellung sein müssen. Durch die gestrichelten Linien 7OA und 72A wird angedeutet, daß die Anschlußteile 70 und 72 erforderlichenfalls mit. der Seite der schmalen Karte 40' fest verbunden sein können.

Das Anschlußteil 73 ist mittels Leitern 83, 84 und 85 mit anderen Leitern als den Leitern 80,81 und 82 auf der schmalen Karte 40' verbunden. Das Anschlußteil 73 kann in Spannungsversorgungs-Anschlußstifte, beispielsweise 32, 34, eingesteckt werden, so daß entsprechende Versorgungsspannungen über entsprechende Leiter 83', 84' und 85' an verschiedene der Randkontakt-Steckerstifte 66 angelegt werden können.

Bekannte tragbare Prüfgeräte für digitale Schaltungskarten benötigten komplizierte, unhandliche und teure Anpassungsschaltungskarten, um Spannungsversorgungssignale und Eingangsprüfsignale von dem tragbaren Prüfgerät zu den betreffenden Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte zu leiten und um an den Ausgangsstiften der zu prüfenden Schaltungskarte erzeugte Signale zu entsprechenden Sensor-Schaltungen des Prüfgerätes zu leiten. Die Kombination der oben beschriebenen »parallelgeschalteten« Randkontakt-Stekkerleisten mit den drei gebräuchlichsten Stiftabständen, die Verbindung solcher Randkontakt-Steckerleistenstifte mit entsprechenden Randkontakt-Steckerstiften, DIP-Schaltern und Treiber/Sensor-Steckerstiften in Kombination mit der Gruppenkarte und den zugeordneten Anschluß- oder Verbindungselementen macht die Verwendung der obenerwähnten Anpassungsschaltungskarten in den meisten Fällen überflüssig, wenn programmierbare Treiber/Sensor-Schaltungen, welche individuell durch den Hauptprozessor des Prüfgerätes ausgewählt werden können, verwendet werden. Das Prüfprogramm des Hauptprozessors des Prüfgerätes kann geschrieben werden, um die Betriebsart jeder Treiber/Sensor-Schaltung zu steuern und die Prüfdaten ausgewählten der Treiber/Sensor-Schaltungen zuzuführen, welche durch den Prüfgeräte-Programmierer ausgewählt und bestimmt wurden.

Obwohl die obenerwähnten Elemente der Anschlußstecker-Schaltungskarte 12 wesentlich dazu beitragen, die komplexen Anpassungs-Schaltungskarten zu eliminieren, soll häufig ein tragbares Prüfgerät für gedruckte Schaltungskarten mit hohen Geschwindigkeiten arbeiten, welche für eine bequeme und umfassende Prüfung und Fehlerortung bei gedruckten Schaltungskarten erforderlich sind. Bis jetzt war es nur mit den obenerwähnten »Fabrikprüfgeräten« möglich, einen solchen Hochgeschwindigkeits-Betrieb und eine solche Fehlerortung durchzuführen. Allerdings enthalten Fabrikprüfgeräte wesentlich mehr Speicherschaltungen, Multiplex-Schaltungen und Hochgeschwindigkeits-Hauptprozessor-Schaltungen als dies aus Kosten- und Raumgründen für den Einbau in tragbare Prüfgeräte für gedruckte Schaltungskarten vertretbar ist. Für tragbare Prüfgeräte, welche die obenerwähnte umfassende Hochgeschwindigkeits-Prüfung und Fehlerortung für gedruckte digitale Schaltungskarten durchführen sollen, besteht somit ein Teil der Lösung des Problems, die umfangreichen Anpassungs-Schaltungskarten bei gleichzeitigem Erreichen von Hochgeschwindigkeits-Prüfoperationen zu eliminieren, darin, den Umfang der in dem Prüfgerät benötigten Hochgeschwindigkeits-Speicherschaltungen, Hochgeschwindigkeits-Multiplexschaltungen und Hochgeschwindigkeits-Hauptprozessor-Schaltungen auf ein Mindestmaß zu reduzieren. Ein anderer Teil der Lösung liegt auf programmtechnischem Gebiet, um zu erreichen, daß Daten mit hoher Geschwindigkeit von dem Hauptprozessor zu den entsprechenden Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte gelangen.

Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel wird ein Hochgeschwindigkeits-Prozessor verwendet, welcher so programmierbar ist, daß er mit einer Maschinenzyklus-Geschwindigkeit arbeitet, welche ein Vielfaches der Geschwindigkeit von vergleichsweise langsam arbeitenden Hauptprozessoren beträgt, welche in Abhängigkeit und gleichzeitig mit dem Hauptprozessor arbeiten, um in parallelem Format von dem Hauptprozessor empfangene Daten nacheinander an vorbestimmte von 192 Treiber/Sensor-Schaltungen zu leiten. Die schnelle sequentielle Ausgabe wird mit Hilfe einr Unterroutine erzielt, welche im folgenden als »H«-Verzeichnis (»H« file) bezeichnet wird und die Form eines Objekt-Codes für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor aufweist und in dem Hochgeschwindigkeits-Speicher gespeichert ist. Diese Unterroutine definiert Gruppen bestimmter Stifte der zu prüfenden Schaltungskarte als »Bestimmungs-Sammelleitungen« und leitet nacheinander Sechzehn-Bit-Datenwörter, von denen jedes in einem entsprechenden Einzelbefehl des Prüfprogramms enthalten ist, zu solchen »Bestimmungs-Sammelleitungen«.
Wie aus F i g. 7 ersichtlich ist, ist der Hauptprozessor 28", welcher ein Prüfprogramm zum Prüfen der Schaltungskarte speichert, mit einer Haupt-Sammelleitung 27 verbunden. Die Elemente des Hochgeschwindigkeits-Prozessors, welche hauptsächlich für das obenerwähnte »Hochgeschwindigkeits-Verschieben« eines Datenwortes von dem Hauptprozessor zu einer vorbestimmten »Bestimmungs-Sammelleitung« der zu prüfenden Schaltungskarte benötigt werden, enthalten die interne Sammelleitung 161, ein parallel-ladbares serielles Schieberegister 166, einen Speicher mit wahlfreiem Zugriff (RAM) 163 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors, eine Mikro-Steuereinheit 165, ein Befehlsregister 169, einen Nur-Lesespeicher (ROM) 171 und eine Steuerschaltung 151. Diese Elemente des Hochgeschwindigkeits-Prozessors arbeiten in der Weise zusammen, um die Ausführung einer Serie eines »Daten-Ausschieben«-(SDO-)Befehls zu ermöglichen, welcher ein Datenwort, das zuvor in das serielle Schieberegister 166 parallel geladen wurde, sequentiell zu der Stiftsteuerschaltung 151 mit einer

vorbestimmten Maschinenzyklus-Geschwindigkeit des Hochgeschwindigkeits-Prozessors verschiebt. Der vorbestimmte Bestimmungsort für jedes Datenbit wird durch einen Objekt-Code des Hochgeschwindigkeits-Prozessors als ein Argument eines entsprechenden SDO-Befehls, welcher in dem Hochgeschwindigkeitsspeicher 163 gespeichert ist, angegeben. Wenn jeder SDO-Befehl und sein zugeordnetes Argument in Abhängigkeit von der Mikro-Steuereinheit 165 aus dem RAM-Speicher 163 in das Befehlsregister 169 geladen wird, dann wird das entsprechende Bit des Datenwortes in dem Serienregister 166 in die Stiftsteuerschaltung 151 geschoben. Der Lesespeicher 171 dekodiert den augenblicklich im Befehlsregister 169 befindlichen SDO-Befehl, um verschiedene Steuersignale auf der Steuer-Sammelleitung 172 zu erzeugen, deren Leiter mit verschiedenen Elementen des Hochgeschwindigkeits-Prozessors verbunden sind, um die Ausführung des augenblicklichen SDO-Befehls zu ermöglichen.

Das aus dem seriellen Schieberegister 166 gerade ausgeschobene Bit des Datenwortes gelangt über einen Leiter 202 und Leiteinrichtungen, welche die Stiftsteuerschaltung 151 und einen der Leiter der Sammelleitung 47 umfassen, an einen Eingang einer ausgewählten Treiber/Sensor-Schaltung, wie beispielsweise die Treiber/ Sensor-Schaltung 54/4 in Fig.5. Die »Argument«-Bits des augenblicklich in dem Befehlsregister 169 befindlichen Befehls werden zu der Stiftsteuerschaltung 151 ausgeblendet, um eine Acht-Bit-Adresse zum Auswählen einer der 192 Treiber/Sensor-Schaltungen, wie beispielsweise der Schaltung 54/4 in F i g. 5 zu erzeugen. Die Acht-Bit-Adresse wird über die Sammelleitung 47 an eine nicht gezeigte Dekodierschaltung angelegt, welche ein Auswählsignal an einer ausgewählten von 192 Auswählleitern (nicht gezeigt) liefert Die Auswählleiter sind mit nicht gezeigten Verknüpfungsgliedern verbunden, über welche Bits des aus dem Schieberegister 166 ausgeschobenen Datenwortes an ausgewählte Treiber/ Sensor-Schaltungen geliefert werden. Andere von dem ROM-Lesespeicher 171 bei der Dekodierung des augenblicklichen Befehls in dem Befehlsregister 169 erzeugte Signale bewirken die Erzeugung von Steuersignalen auf der Sammelleitung 47, welche zu der ausgewählten Treiber/Sensor-Schaltung übertragen werden, um die Betriebsart und die Zeitgabe für den Betrieb der ausgewählten Treiber/Sensor-Schaltung in der im folgenden beschriebenen Weise zu steuern.

Der Prüfgerät-Programmierer verwendet eine Programmsprache, welche als PSP-BASlC bezeichnet wird und die meisten Befehle der bekannten Programmiersprache BASIC verwendet und ferner eine Anzahl zusätzlicher Befehle enthält, welche zur Verwendung in einem computergesteuerten Gerät zur Prüfung logischer Schaltungen und Systemen, wie digitalen gedruckten Schaltungskarten, geeignet sind.

Die MikroSteuereinheit 165 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors ist ein kommerziell erhältlicher Baustein, welcher im Zusammenarbeiten mit den anderen Elementen der F i g. 7 als ein getrennter Prozessor arbeitet und Befehle ausführt, die im Objektcode im RAM-Speicher 163 gespeichert sind.

Um zu erreichen, daß der Hochgeschwindigkeits-Prozessor mit dem Hauptprozessor des Prüfgerätes in der Weise zusammenarbeitet, daß Datenwörter in der oben beschriebenen Weise mit hoher Geschwindigkeit zu einer vorbestimmten Bestimmungs-Sammelleitung geleitet werden, muß der Prüfgerät-Programmierer anfangs eine die Bestimmungs-Sammelleitung in Form eines Objektcodes des Hochgeschwindigkeits-Prozessors definierende Unterroutine in den Speicher 163 (F i g. 7) des Hochgeschwindigkeits-Prozessors laden. Die Unterroutine enthält eine Folge von »Daten-Ausschieben«-(SDO-)Befehlen, welche jeweils einen vorbestimmten Stift der zu prüfenden Schaltungskarte definieren, welcher das entsprechende Bit des aus dem Hauptprozessor in das serielle Schieberegister 166 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors geladenen Daten-Wortes aufnehmen soll. Die Gruppe derjenigen Stifte, welche als Argumente der entsprechenden SDO-Befeh-Ie der die Sammelleitung definierenden Unterroutine spezifiziert sind, wird im folgenden als »Bestimmungs-Sammelleitung« bezeichnet.

Eine die Sammelleitung definierende SDO-Unterroutine wird verwendet, wenn der Hochgeschwindigkeits-Prozessor als Hilfs-Hochgeschwindigkeits-Prozessor in Verbindung mit dem wesentlich langsameren Hauptprozessor 28" verwendet wird.

Eine Anzahl einleitender Schritte gemäß dem in F i g. 8A dargestellten Flußdiagramm sind erforderlich, um die eine Sammelleitung definierende SDO-Unterroutine in einer für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor verwendbaren Form zu erhalten. Der Prüfgerät-Programmierer schreibt zu Beginn ein Programm in der PSP-BASIC-Sprache, welches die eine Sammelleitung definierende Unterroutine darstellenden Befehle enthält Diese Unterroutine enthält eine Folge von SDO-Befehlen, welche in der Hochgeschwindigkeits- Prozessor-Sprache geschrieben sind, wobei jeder der SDO-Befehle in seinem Argument eine Stiftnummer der zu prüfenden Schaltungskarte enthält und dieser Stift der Bestimmungsort ist für das betreffende Bit des Datenwortes, für welches die Bestimmungs-Sammelleitung in der eine Sammelleitung definierenden Unterroutine definiert ist. Diese Unterroutine wird in den Hauptprozessor eingegeben und in seinem Hauptspeicher gespeichert (Block 211 der Fig.8A). Das Hauptprozessor-Programm enthält Befehle, um das Prüfgerät als Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Assembler zu betreiben. Die eine Sammelleitung definierende Unterroutine »läuft gegen« den Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Assembler, um den Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Objektcode für die eine Sammelleitung definierende SDO-Unterroutine zu erzeugen (Block 212 in F i g. 8A).

Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Objektcode für die eine Sammelleitung definierende SDO-Unterroutine wird im folgenden als »H«-Verzeichnis bezeichnet.

Der Prüfgerät-Programmierer speichert dann das H-Verzeichnis auf Magnetband. Bei dem hier beschriebenen Ausführungsbeispiel der Erfindung wird das H-Verzeichnis von dem Magnetband in den Hauptspeicher des Prüfgerätes geladen (Block 214 der F i g. 8A). Wie im folgenden erläutert, wird das Η-Verzeichnis von dem Hauptspeicher während des Ablaufs des Prüfprogramms in den Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Speicher 163 übertragen. Nun ist das Prüfgerät zur Ausführung des Prüfprogramms bereit welches dann die eine Sammelleitung definierende Unterroutine aufrufen kann, um die Hochgeschwindigkeits-Eingabe eines Datenwortes von dem Hauptprozessor auf die vorbestimmte Bestimmungs-Sammelleitung durchzuführen.

Die oben beschriebene, eine Sammelleitung definierende Unterroutine, welche in der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Sprache in den Hauptprozessor geschrieben wurde, kann beispielsweise folgende Form besitzen:

ISR
SDO 47

SDO 93
SDOl
SDO 199
SDO 132

HLT

Die obige, eine Sammelleitung definierende Unterroutine enthält einen »Eingang-zum-Schieberegister«-(ISR-)Befehl, welchem eine Reihe von SDO-Befehlen folgen, die jeweils als Teil ihres Arguments die Adresse eines Anschlußstiftes der zu prüfenden Schaltungskarte bezeichnen, welcher der Bestimmungsort des Datenbits des in dem Schieberegister 166 befindlichen, dem SDO-Befehl entsprechenden Datenwortes ist. Dieser Folge schließt sich ein HLT-(Halt-)Befehl an. Das obige Programm enthält ferner Befehle für den Betrieb des Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Assemblers, um das obenerwähnte Η-Verzeichnis herzustellen und dieses auf Magnetband zu laden. Der Prüfgerät-Programmierer kann dann das H-Verzeichnis von dem Magnetband in den Hauptprozessor-Speicher laden und kann ferner das Prüfprogramm für die zu prüfende Schaltungskarte vom Magnetband in den Hauptprozessor-Speicher laden (Block 214 in F i g. 8A). Nach Beendigung des letzten Schrittes des in Fig.8A dargestellten Flußdiagramms ist das Prüfgerät bereit, das Prüfprogramm zu fahren.

Das in Fig.8B dargestellte Flußdiagramm zeigt die Schritte zum Verschieben eines Datenwortes von dem Hauptprozessor zu den obigen vorbestimmten Stiften der Bestimmungs-Sammelleitung während der Ausführung des Prüfprogramms im Hauptspeicher. Das Prüfprogramm enthält einen Befehl, welcher das augenblicklich im Hauptprozessor-Speicher befindliche H-Verzeichnis in vorbestimmte Adressen des Hochgeschwindigkeits-Speichers 163 lädt Das Prüfprogramm für die zu prüfende Schaltungskarte führt seine verschiedenen Befehle aus, bis eine schnelle Übertragung des Datenwortes zu der Bestimmungs-Sammelleitung ausgeführt werden soll, welche in dem H-Verzeichnis definiert ist. Das Prüfprogramm führt dann einen »Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Ladenw-iLHSP-JBefehl aus, welcher das H-Verzeichnis von dem Hauptprozessor-Speicher in Speicherstellen des Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Speichers 163 lädt, und zwar beginnend mit einer Speicherstelle des Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Speichers 163, welche durch das Argument des LHSP-Befehls bezeichnet wird (Block 221 in Fig.8B). Der nächste Befehl des Prüfgeräte-Programms ist ein »Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Laden-Ende«-(ELHSP-)Befehl.

Das Prüfprogramm führt als nächstes einen »Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Starten-und-Fortführen«- (RHSPC-)Befehl aus, welcher als Argument die erste Hochgeschwindigkeits-Prozessor^HSP-JSpeicheradresse der gewünschten, eine Sammelleitung definierende Unterroutine in dem HSP-Speicher 163 enthält (Block 222 der F i g. 8B). Dadurch wird die Ausführung des obigen ISR-Befehls bewirkt Der RHSPC-Befehl leitet die Ausführung einer augenblicklich in einer durch das Argument des RHSPC-Befehls definierten Speicherstelle des HSP-Speichers enthaltenen Unterroutine ein. Dieser Befehl bewirkt nicht nur das Starten der HSP-Unterroutine, sondern bewirkt automatisch, daß der Hauptprozessor mit der Ausführung darauf folgender Befehle in dem Prüfgerät-Grundprogramm mit seiner normalen Zyklusgeschwindigkeit fortfährt.

Wenn der ISR-Befehl sich in dem HSP-Befehlsregister 169 befindet, dann veranlaßt er den Hochgeschwindigkeits-Prozessor dazu, das nächste Sechzehn-Bit-Wort von dem Hauptprozessor zu laden, welches in ίο diesem Fall das Sechzehn-Bit-Datenwort ist, welches in parallelem Format in das serielle Schieberegister 166 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu laden ist Wenn der ISR-Befehl ausgeführt ist, bewirkt er ferner, daß der Hochgeschwindigkeits-Prozessor »wartet«, bis das obige Sechzehn-Bit-Datenwort in das Schieberegister 166 geladen ist

Unterdessen, d. h,, sobald der Hauptprozessor die Durchführung des RHSPC-Befehls beendet hat, führt dieser den nächsten Befehl des Prüfprogramms aus, der ein »Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Schreiben«-(WHSP-)Befehl ist, welcher das genannte Sechzehn-Bit-Datenwort auf die Hauptsammelleitung 27 überträgt, wonach der Hochgeschwindigkeits-Prozessor in Abhängigkeit von dem obigen ISR-Befehl und dem Befehlsregister 169 das Datenwort unmittelbar in paralleler Form über das »Daten-Eingabe«-Register 159 in das Schieberegister 166 lädt (Block. 223 der F i g. 8B). Es sei darauf hingeweisen, daß das Argument des WHSP-Befehls das Sechzehn-Bit-Datenwort ist Sobald das Datenwort in das Schieberegister 166 geladen ist, führt der Hochgeschwindigkeits-Prozessor die anschließende Folge von SDO-Befehlen der eine Sammelleitung definierenden Unterroutine aus, bis entweder alle sechzehn Bits aus dem Schieberegister 166 geschoben sind oder bis der HLT-Befehl erreicht ist, unabhängig von der wesentlich langsameren Arbeitsweise des Hauptprozessors. (Es sei darauf hingewiesen, daß der Hochgeschwindigkeits-Prozessor durch Eingeben einer Zahl in die HSP-Taktschaltung 153 programmiert werden kann, um fünfzig- bis einhundertmal schneller zu arbeiten als der Hauptprozessor.) In der von dem Η-Verzeichnis in den HSP-Speicher 163 geladenen, eine Sammelleitung definierenden Unterroutine schließt sich der Folge von SDO-Befehlen ein HLT-(Halt-)Befehl an, um die Ausführung des nächsten Befehls in dem HSP-Speicher 163 zu verhindern. Der Prüfgerät-Hauptprozessor führt zwischenzeitlich einen SHSP-(Stop-HSP-) Befehl (Block 225 der F i g. 8B) aus, sobald die Durchführung des WHSP-Befehls beendet ist. Aufgrund des SHSP-Befehls wartet der Hauptprozessor während der durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor ausgeführten, eine Sammelleitung definierenden Unterroutine auf den HLT-Befehl. Nachdem der obige HLT-Befehl durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor ausgeführt ist, fährt der Hauptprozessor damit fort, darauffolgende Befehle des Prüfprogramms auszuführen.

Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor besitzt ferner die Fähigkeit, »Daten-Einschieben-(SDI-)Befehle auszuführen, um Daten von Stiften einer vorbestimmten »Quellen-Sammelleitung« oder »Ausgangs-Sammelleitung« einer zu prüfenden Schaltungskarte schnell und aufeinanderfolgend in das serielle Schieberegister 166 der Fig.7 einzuschieben; die Daten können dann in einem parallelen Format ausgegeben und dem Hauptprozessor zugeführt werden. Die vorbestimmte »Quellen-Sammelleitung« enthält eine Vielzahl von Stiften, welche durch eine in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor gespeicherte, eine Sammelleitung definierende

SDI-Unterroutine definiert werden, und zwar in im wesentlichen der gleichen Weise, wie die vorangehend erwähnten »Bestimmungs-Sammelleitungen« durch eine Vielzahl von Stiften dargestellt werden, welche durch die in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor gespeicherten obenerwähnten, eine Sammelleitung definierenden SDO-UnteiToutinen definiert werden. Wenn die eine Sammelleitung definierende SDI-LTnterroutine durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor ausgeführt wird, werden Datenbits nacheinander von den vorbestimmten Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte über den seriellen Dateneingang 201 in das serielle Schieberegister 166 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors eingegeben. Wenn ein vollständiges Sechzehn-Bit-Wort in dieser Weise seriell in das Schieberegister 166 eingegeben worden ist, dann wird dieses Sechzehn-Bit-Wort in paralleler Form auf entsprechende Leiter der internen Sammelleitung 161 gegeben und mittels einer »Daten-Ausgabe«-Pufferschaltung 160 an entsprechende Leiter der Hauptsammeüeitung 27 angelegt und gelangt von dort zu dem Hauptprozessor. Die Hochgeschwindigkeits-Übertragung von Daten von einer zu prüfenden Schaltungskarte zu dem Hauptprozessor wird somit in analoger Weise durchgeführt, wie das oben bereits beschriebene Verfahren zum Weiterleiten eines Wortes in paralleler Form von dem Hauptprozessor zu einer vorbestimmten Bestimmungs-Sammelleitung der zu prüfenden Schaltungskarte. Das Zusammenarbeiten des Hauptprozessors und des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zum Speichern und Ausführen einer eine Sammelleitung definierenden Unterroutine, welche eine Vielzahl von SDI-Befehlen aufweist, welche wiederum Argumente besitzen, die eine »Quellen-Sammelleitung«, d.h. verschiedene Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte, definieren, ist vollständig analog mit der Arbeitsweise der obenerwähnten, eine Sammelleitung definierenden Unterroutinen für die »Bestimmungs-Sammelleitungen«.

Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor erlaubt dem Prüfgerät die Prüfung von asynchron arbeitenden gedruckten Schaltungskarten oder anderen asynchron arbeitenden Einrichtungen, wie gedruckte Schaltungskarten, welche einen Mikroprozessor oder einen frei laufenden Taktgenerator enthalten. Bei bekannten Prüfgeräten für gedruckte Schaltungskarten war es nur unter großen Schwierigkeiten möglich, asynchron arbeitende gedruckte Schaltungskarten zu prüfen.

Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor kann vier verschiedene »Warten«-Befehle ausführen, und zwar »Warten-auf-hohes-Stiftpotentiak.wWarten-auf-niedriges-Stiftpotential«, »Warten-auf-Fehler« und »Wartcnauf-keinen-Fehler«. Die Arbeitsweise des Hochgeschwindigkeits-Prozessors beim Ausführen jedes dieser vier WARTEN-Befehle ist im wesentlichen die gleiche. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor hat die Aufgabe, die von dem HSP-Taktgenerator 153 in F i g. 7 erzeugten HSP-Taktsignale auszusetzen oder »einzufrieren«, bis die von dem betreffenden WARTEN-Befehl bezeichnete Bedingung angetroffen wird. Die Ausführung des betreffenden WARTEN-Befehls leitet das Aussetzen des entsprechEnder. Takizykius des HSP-Taktgcncrators 153 ein, wodurch die Durchführung weiterer Befehle durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor verhindert wird. Eine den Taktgenerator 153 darstellende Schaltung kann durch Zusammenschalten von Zählerschaltungen und anderen herkömmlichen Verknüpfungs- und Zeitgabeschaltungen von einem Fachmann auf einfache Weise realisiert werden. Wenn die von dem betreffenden WARTEN-Befehl angegebene Bedingung angetroffen wird, dann wird die Aussetzung des augenblicklichen HSP-Maschinenzyklus beendet Um festzustellen, ob die angegebene Bedingung vorhanden ist enthält der Hochgeschwindigkeits-Prozessor eine EXCLUSIV-ODER-Schaltung 251, welche in F i g. 9 dargestellt ist; ein Eingang dieser Schaltung ist ein dekodierter Ausgang 253 des ROM-Speichers 171, wodurch ein WARTEN-Befehl in dem Befehlsregister 169 angezeigt wird. Andere Ausgänge des ROM-Speichers 171. welche durch Dekodieren des WARTEN-Befehls in dem Befehlsregister 169 erzeugt wurden, bewirken das Auftreten entsprechender »Stift-Potential-hoch«-, »Stift-Potential-niedrig«-, »Fehler«- oder »Kein-Fehler«-Bedingungen, um ein zweites Eingangssignal am Eingang 255 der EXCLUSIV-ODER-Schaltung 251 zu erzeugen. Ist eine Obereinstimmung der Signale an den Eingängen 253 und 255 gegeben, dann erzeugt die EXCLUSIV-ODER-Schaltung 251 ein Signal 172A, um die obenerwähnte Unterbrechung des augenblicklichen Taktzyklus der HSP-Taktschaltung 153 zu beenden. Selbstverständlich kann die EXCLUSIV-ODER-Schaltung 251 eine invertierende Ausgangsschaltung aufweisen, um die Polarität des am Ausgang 172Λ auftretenden Ausgangssignals erforderlichenfalls zu verändern.

Der Hauptprozessor reagiert auf den Hochgeschwindigkeits-Prozessor aufgrund verschiedener Markierungen, welche in dem Zustandsregister 155 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors gespeichert sind; dies ist die einzige Möglichkeit, durch welche der Hochgeschwindigkeits-Prozessor den Hauptprozessor zu steuern vermag. Der Hauptprozessor muß den Zustand der verschiedenen Markierungen in dem Zustandsregister 155 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors überwachen und wird so durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor gesteuert Die Art und Weise, in welcher der Hauptprozessor und der Hochgeschwindigkeits-Prozessor miteinander zusammenwirken, um dem Prüfgerät die Prüfung einer asynchron arbeitenden Schaltungskarte zu ermögiichen, ist wie folgt: Wenn der Hochgeschwindigkeits-Prozessor einen WARTEN-Befehl ausführt, setzt er in dem Zustandsregister 155 eine Markierung und unterbricht das Arbeiten des Taktgenerators 153, so daß der Betrieb des Hochgeschwindigkeits-Prozessors angehalten wird. Der Hauptprozessor liest den inhalt des Zustandsregisters 155 und stellt fest, daß die genannte Markierung gesetzt wurde und ändert dann, falls erforderlich, seine eigene Arbeitsweise. Wenn dann die durch den WARTEN-Befehl angegebene Bedingung auftritt.

beendet der Hochgeschwindigkeits-Prozessor die Unterbrechung des Taktgenerators 153 und fährt mit der Ausführung des WARTEN-Befehls und darauffolgenden Befehlen in dem HSP-Speicher 163 fort und stellt ferner die oben genannte Markierung im Zustandsregister 155 zurück. Der Hauptprozessor liest dann das Zustandsregister 155 und fährt mit seinem Arbeiten fort. Während der Hauptprozessor auf den Hochgeschwindigkeits-Prozessor »warten« muß, durchläuft der Hauptprozessor in einfacher Weise eine Schleife an der Markierung in dem Zustandsregister 155 und fährt mit

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rung durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor rückgestellt ist.

Die Arbeitsweise ist typischerweise derart, daß der Hauptprozessor einen Arbeitsablauf in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor einleitet, beispielsweise durch Aufrufen einer eine Sammelleitung definierenden Unterroutine in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor.

15 16

-and dann mit der Ausführung anderer Teile in dem Das Prüfgerät kann ferner Befehle in das Prüfpro-

Hauptprogramm fortfährt. Wenn der Hauptprozessor gramm einfügen, welche die Bedienungsperson anweieinen Punkt erreicht an welchem er weitere Daten von sen, wie das Prüfgerät anfänglich für einen Prüfvorgang dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor benötigt, dann vorzubereiten ist, wenn eine bestimmte Taste gedrückt prüft der Hauptprozessor entsprechende Markierungen 5 wurde. Der Hauptprozessor ruft die Stelle der dritten im Zustandsregister 155. Da der Hochgeschwindigkeits- Tabelle auf, welche durch das von dem Tastenfelddeko-Prozcssor wesentlich schneller arbeitet als der Haupt- dierer empfangene Signal definiert wird, wodurch angeprozessor, sind die erforderlichen Daten normalerweise zeigt wird, welche der Tasten gedruckt wurde. Von dieverfügbar; sind sie jedoch nicht verfügbar, dann wird ser Stelle erhält der Hauptprozessor den Binärcode, der Hauptprozessor so programmiert, daß er an der io welcher dem Kennwort, wie SOE, Name usw, welche Markierung Schleifen durchläuft, bis der Hochge- der gedrückten Taste zugeordnet sind, entspricht, von schwindigkeits-Prozessor die erforderlichen Daten er- der Adressenstelle der dritten Tabelle und gibt diesen in zeugt und die Markierung rückstellt Der Hauptprozes- das Hauptprozessor-Eingangspuffer ein. Der Hauptprosor liest dann das Datenausgabe-Register 160, um die zessor führt dann den durch die Information in dem genannten Daten zu erhalten. 15 Eingabepuffer dargestellten Befehl aus, indem es den

Das Prüfgerät ist in der Lage, einen »Binäre-Stiftzu- Inhalt des Eingangspuffers untersucht um die nächste nahme«-(BIP-)Befehl auszuführen, welcher die durch al- Operation zu bestimmen, wenn die EXECUTE-(Durch-Ie Bits auf einer durch den BIP-Befehl definierten Sam- führen-)Taste gedrückt wird. Kurz gesagt ist die Armelleitung dargestellte Binärzahl um Eins erhöht wobei beitsweise des Prüfgerätes in bezug auf die Befehlstaste die Sammelleitung eine Vielzahl von Stiften enthält 20 in Verbindung mit den Haupttasten im wesentlichen die welche durch das Argument des BIP-Befehls bezeichnet gleiche wie seine Arbeitsweise in bezug auf die Umsind. In ähnlicher Weise wird durch einen »Binäre-Stift- schalttaste, mit der Ausnahme, daß von der entspreverminderung«-(BDP-)BefehI die durch die Logikpegel chenden Tabelle eine Reihe von Buchstaben statt eines auf der Gruppe von Stiften, welche durch das Argument einzigen Buchstabens abgegeben wird,
des BDP-Befehls dargestellt werden, erzeugte Binärzahl 25 Ein Fachmann wird erkennen, daß das oben beschrievermindert Die BIP- und BDP-Befehle können inner- bene System die gewünschte Datenübertragung zu der halb einer FOR/NEXT-Schleife verwendet werden, um vorbestimmten Bestimmungs-Sammelleitung mit einer eine große Anzahl von Kombinationen von Logikzu- sehr hohen Geschwindigkeit und mit einem sehr gerinständen auf bestimmten Stiften zu erzeugen. gen Programmaufwand bewerkstelligt im Vergleich zu

Durch einen SPH-(Stiftverschiebung nach oben-)- 30 dem Programmaufwand, welcher erforderlich wäre, und einen SPL-(Stiftverschiebung nach unten-)Befehl wenn jedes Datenbit des Sechzehn-Bit-Datenwortes eiwerden jeweils die Bits einer Binärzahl, welche durch nen oder mehrere separate Befehle benötigen würde, die Logikzustände einer Gruppe von Stiften, welche um das sequentielle Verschieben des Datenbits zu dem durch die Argumente des SPH- oder SPL-Befehls spezi- betreffenden Stift der Bestimmungs-Sammelleitung zu fiziert werden, erzeugt werden, von links nach rechts 35 bewerkstelligen.

oder von rechts nach links geschoben. Der SPH-Befehl Für den Fachmann ist ferner ersichtlich, daß durch die

ersetzt das linke Bit durch eine logische »Eins« jedesmal Verwendung des Hochgeschwindigkeits-Prozessors in dann, wenn die Binärzahl nach rechts verschoben wird, Verbindung mit dem wesentlich langsamer arbeitenden während der SPL-Befehl bei jeder Verschiebung nach Hauptprozessor komplexe und teure Multiplexschallinks das rechte Bit der Binärzahl durch eine logische 40 tungskarten oder Gruppen gedruckter Schaltungskar- »Null« ersetzt. ten überflüssig werden. Nachdem die Bedienungsperson

Wenn das Prüfgerät einen bestimmten Stift auf der zu nach dem Laden des Prüfprogramms von dem Band die prüfenden Schaltungskarte adressiert oder aufruft dann ANLAUFEN-(RUN-)Taste gedrückt hat, wird das Prüfist die einzige auf den Fehlerleitern von dort erhaltene gerät durch das Prüfprogramm dazu veranlaßt beInformation die auf diesem Stift vorhandene Informa- 45 stimmte Anweisungen für die Bedienungsperson anzution. Die Information von dem Gruppenfehlerleiter in zeigen, nämlich, welche Gruppenkarte einzustecken ist, der Sammelleitung 45 wird in den Prioritätskodierer 150 welche Schalter der DIP-Schalterbaugruppen zu öffnen der F i g. 7 eingegeben und von diesem zu dem entspre- sind und welche Kabel oder Leitungen gegebenenfalls chenden Markierungsbit des Zustandsregisters 155, zu verwendet werden sollen, um verschiedene Steckerstifdem CRC-Generator 180 und zu dem Stift-Zustand- 50 te mit zusätzlichen Anschlußelementen auf der zu prü-RAM 181 geleitet. Falls erforderlich, »ändert« der fenden Schaltungskarte zu verbinden. Das Prüfpro-Hauptprozessor seine Arbeitsweise aufgrund der X- gramm enthält dann Befehle, durch welche das Prüfge-Markierung im Zustandsregister 155, welche durch die rät dazu veranlaßt wird, verschiedene Stifte zu prüfen, Ausführung eines WARTEN-Befehls durch den Hoch- um festzustellen, ob an diesen die richtigen Versorgeschwindigkeits-Prozessor gesetzt wird. Die Markie- 55 gungsspannungen auftreten. Das Prüfprogramm kann rung wird zurückgestellt, wenn die durch den betreffen- ferner verschiedene nicht verwendete Stifte der Grupden WARTEN-Befehl bezeichnete Bedingung angetrof- penkarte prüfen, welche miteinander in der Weise kurzfen wird. Kurz gesagt, wird das Ansprechen des Stiftes geschlossen werden, daß dadurch die Gruppenkarte durch die Stiftsteuerschaltung und durch den Prioritäts- identifiziert ist, wodurch geprüft werden kann, ob die kodierer hindurchgetastet und gelangt an einen Eingang 60 Bedienungsperson tatsächlich die richtige Gruppenkar-

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anderer Eingang ein dem gerade durchgeführten WAR- Ein auf die Tasten des Prüfgerät-Tastenfeldes anspre-

TEN-Befehl entsprechendes Signal aufweist. Von dem chender herkömmlicher Tastenfeld-Kodierer ist. auf der

Befehlsregister 169 kommende dekodierte Signale kor- mit dem Tastenfeld gekoppelten Bedienungsfeldplatte rigieren die Polarität des Ausgangs 172/1 der EXCLU- 65 angeordnet. Der Schaltungsbetrieb für die Befehlstaste

SIV-ODER-Schaltung in der Weise, daß das Aussetzen ist der gleiche wie für die Umschalttaste. Das Programm

des HSP-Taktgenerators beendet wird, wenn die spezi- des Hauptprozessors empfängt Signale von dem Ta-

fizierte Bedingung angetroffen wird. stenfeldkodierer, die anzeigen, welche Taste des Tasten-

17

feldes gedrückt wurde und ob die Umschalttaste oder die Befehlstaste gedrückt wurde. Diese Information wird in einem Puffer des Hauptprozessors gespeichert Der Hauptprozessor verwendet diese Information, um auf eine von drei Ebenen von Tastenfeld-Eingaben Be- s zug zu nehmen, nämlich:

(1) Weder die Befehlstaste noch die Umschalttaste wurde gedrückt,

(2) die Umschalttaste wurde gedrückt oder io

(3) die Befehlstaste wurde gedrückt

Es sei ferner darauf hingewiesen, daß in dem H-Verzeichnis zusätzliche, eine Sammelleitung definierende Unterroutinen gespeichert sein und durch das Prüfge- 15 rät-Prüfprogramm individuell aufgerufen werden können, so daß eine Vielzahl unterschiedlich definierter Bestimmungs-Sammelleitungen als Bestimmungsort für die Hochgeschwindigkeits-Datenübertragung von Daten aus dem Hauptprozessor ausgewählt werden kön- 20 nen.

In den in den Fig. 8A und 8B dargestellten Flußdiagrammen werden der Einfachheit halber verschiedene englischsprachige Ausdrücke oder Abkürzungen verwendet wobei BUS für Sammelleitung, HSP für Hoch- 25 geschwindigkeits-Prozessor und PSP (Portable service processor) für Prüfgerät steht

Hierzu 6 Blatt Zeichnungen

30

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Claims (5)

1 2 durch Statuseinrichtungen (155), welche in Abhän- Patentansprüche: : gigkeit von dem vorbestimmten der Befehle ein - :.\- Markierungssignal zu speichern vermögen, wobei

1. Verfahren zum Prüfen einer asynchron arbei- diese Statuseinrichtungen (155) durch den weiteren tenden digitalen Schaltung, bei dem die zu prüfende 5 Datenprozessor (29') überwacht werden.

digitale Schaltung mit einem Datenprozessor verbunden wird, der einen Taktgenerator aufweist, we!-
eher Taktsignale zur Steuerung des Arbeitens des

Datenprozessors erzeugen kann und bei dem ferner Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen einer

Befehle für den Datenprozessor gespeichert werden, io asynchron arbeitenden digitalen Schaltung gemäß dem

gekennzeichnetdurchdie Schritte: Oberbegriff des Patentanspruchs 1 sowie ein Prüfgerät

zur Durchführung des Verfahrens gemäß dem Oberbe-

— Abgeben von Prüfsignalen für die digitale griff des Patentanspruchs 3.

Schaltung, abhängig von den Taktsignalen, Eine zu prüfende digitale Schaltung kann eine ge-

— Sperren der Erzeugung der Taktsignale, abhän- 15 druckte Schaltungskarte sein. Eine Art einer gedruckten gig von einem ersten Signal, das unter Anspre- Schaltungskarte ist eine asynchron arbeitende, gedruckchen auf einen in dem Datenprozessor (29') te Schaltungskarte, beispielsweise eine solche, die einen wirksamen Befehl geliefert wird, und Mikroprozessor und/oder freilaufende Taktgenerator-

— Wiederaufnehmen der Er?eugung der Taktsi- schaltungen enthält Die US 39 76 940 offenbart ein gnale unter Ansprechen auf ein zweites Signal, 20 Prüfverfahren und eine Prüfvorrichtung der gattungsdas von der unter Prüfung befindlichen digita- gemäßen Art mit dem Nachteil, daß das Prüfen asynlen Schaltung (14) unter Ansprechen auf die chron arbeitender gedruckter Schaltungskarten ein sehr Prüfsignale geliefert wird. umfangreiches, komplexes Verfahren erfordert So müssen beispielsweise der Mikroprozessor und/oder die

2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet 25 Taktgeneratorschaltungen abgetrennt und herausgezodurch folgende Schritte: gen und dann der Rest der gedruckten Schaltungskarte

durch Anlegen von Prüfsignalen geprüft werden.

— Vorsehen eines weiteren Datenprozessors Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein beson-(28"), welcher ein Prüfprogramm für die digitale ders einfaches Verfahren zum Prüfen einer asynchron Schaltung (14) speichert wobei der Datenpro- 30 arbeitenden digitalen Schaltung, etwa einer digitalen zessor (29') mit einer höheren Maschinenzy- Schaltung mit einem Mikroprozessor und/oder einem klusgeschwindigkeit arbeitet als der weitere freilaufenden Taktgenerator, und ein Prüfgerät zur Datenprozessor (28"), und Durchführung des Verfahrens anzugeben.

— Speichern eines Markierungssignals in Abhän- Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung gelöst gigkeit von dem genannten Befehl, durch den 35 durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Kennzeider weitere Datenprozessor (28") veranlaßt chens des Patentanspruchs 1 bzw. durch ein Prüfgerät wird, das Markierungssignal abzutasten, und mit den Merkmalen des Kennzeichens des Patentan-

— Rückstellen des Markierungssignals in Abhän- Spruchs 3.

gigkeit von dem zweiten Signal. Bevorzugte Weiterbildungen des erfindungsgemäßen

40 Verfahrens bzw. des erfindungsgemäßen Prüfgerätes

3. Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.

nach Anspruch 1, mit einem Datenprozessor, der mit Die Aufhebung der normalen periodischen Erzeu-

der zu prüfenden, asynchron, digital arbeitenden gung der Taktsignale ermöglicht die Erzeugung von

Schaltung verbunden ist und einen Taktgenerator, Fehlersignalen durch asynchron arbeitende Prüfgeräte,

der Taktsignale zur Steuerung des Arbeitens des 45 etwa Mikroprozessoren, die variierende Zeitintervalle

Datenprozessors erzeugt, und eine Speichervorrich- für die Erzeugung von Ausgangssignalen abhängig von

tung zum Speichern von Befehlen für den Datenpro- der durchzuführenden Operation erfordern.

zessor aufweist, gekennzeichnet durch Taktsteuer- Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im fol-

mittel (251), die unter Ansprechen auf ein erstes, genden anhand der Zeichnung im einzelnen beschrie-

unter Ansprechen auf einen vorbestimmten der Be- 50 ben. Es zeigt

fehle geliefertes Signal das Arbeiten des Taktgene- Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Ausfüh-

rators (153) sperren, wodurch die Ausführung weite- rungsbeispiels eines erfindungsgemäßen tragbaren

rer Befehle durch den Datenprozessor (29') verhin- Prüfgerätes,

dert wird, wobei die Taktsteuermittel (251) unter F i g. 2 eine Draufsicht auf die Anschlußsteckerkarte

Ansprechen auf ein zweites, durch eine zu testende 55 des in F i g. 1 dargestellten tragbaren Prüfgerätes,

digitale Schaltung (14) erzeugtes Signal die Sper- F i g. 3A eine vergrößerte Teilansicht der in F i g. 2

rung des Taktgenerators (153) beendet, so daß wei- dargestellten Anschlußsteckerkarte,

tere Befehle des Datenprozessors (29') ausgeführt F i g. 3B eine schematische Ansicht der Verbindungen

werden können. der Randkontaktstifte, Schalter und Steckerstifte der in

4. Prüfgerät nach Anspruch 3, gekennzeichnet 60 F i g. 3A gezeigten Anordnung,

durch einen weiteren Datenprozessor (28"), welcher F i g. 4 eine Seitenansicht der in F i g. 3A dargestellten

mit dem ersten Datenprozessor (29') gekoppelt ist Anschlußschaltungskarte sowie deren Anordnung 711 ei-

und ein Prüfprogramm zum Prüfen der digitalen ner in dem tragbaren Prüfgerät der F i g. 1 enthaltenen

Schaltung (14) speichert, wobei der erste Datenpro- Mutter-Karte und einen Teil eines Anschlusses einer in zessor(29') mit einer höheren Maschinenzyklus-Ge- 65 Fig. 6 dargestellten Gruppenkarte, welche mit zwei

schwindigkeit arbeitet als der weitere Datenprozes- Steckerstiften der Anschlußsteckerkarte verbunden ist,

sor(28"). Fig. 5 eine schematische Darstellung der elektri-

5. Prüfgerät nach Anspruch 4, gekennzeichnet sehen Verbindung einer Trcibcr/Scnsor-Schaltung mit