DE3237365A1 - Anordnung zur erzeugung von mustern von pruefsignalen bei einem pruefgeraet - Google Patents

Anordnung zur erzeugung von mustern von pruefsignalen bei einem pruefgeraet

Info

Publication number
DE3237365A1
DE3237365A1 DE19823237365 DE3237365A DE3237365A1 DE 3237365 A1 DE3237365 A1 DE 3237365A1 DE 19823237365 DE19823237365 DE 19823237365 DE 3237365 A DE3237365 A DE 3237365A DE 3237365 A1 DE3237365 A1 DE 3237365A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test
bit
memory
test signal
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19823237365
Other languages
English (en)
Other versions
DE3237365C2 (de
Inventor
Franz Dipl.-Ing. Herrmann (FH), 7957 Schlemmerhofen
Rolf Dipl.-Ing. Tannhäuser (FH), 8033 Krailling
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19823237365 priority Critical patent/DE3237365A1/de
Publication of DE3237365A1 publication Critical patent/DE3237365A1/de
Priority to US06/859,847 priority patent/US4692920A/en
Application granted granted Critical
Publication of DE3237365C2 publication Critical patent/DE3237365C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31919Storing and outputting test patterns
    • G01R31/31921Storing and outputting test patterns using compression techniques, e.g. patterns sequencer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT - ^ Unser Zeichen Berlin und München ' VPA g2 ρ , 9 3 3 QE
Anordnung zur Erzeugung von Mustern von Prüfsignalen bei einem Prüfgerät .
Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Erzeugung von Mustern von PrüfSignalen bei einem Prüfgerät, die über Anschlußelemente einem zu testenden Prüfling zugeführt werden oder mit vom Prüfling abgegebenen über die Anschlußelemente übertragenen Ausgangssignalen verglichen werden.
Prüflinge mit einer Vielzahl von elektronischen Bauelementen, z.B. Flachbaugruppen, müssen vor dem Einbau z.B. in ein Datenverärbeitungssystem auf Fehlerfreiheit geprüft werden. Dazu werden sie mit Hilfe eines Prüfgeräts, das die zur Prüfung des Prüflings erforderlichen Prüfsignale erzeugt und die von dem Prüfling abgegebenen Ausgangssignale überprüft, getestet. Da mit derartigen Prüfgeräten, z.B. auch LSI Baugruppen getestet werden müssen, die mit hohen Geschwindigkeiten arbeiten, müssen die dazu notwendigen Prüfsignale im Prüfgerät ebenfalls mit hoher Geschwindigkeit erzeugt werden. Die Prüfsignale werden enfcweder über Anschlußelemente, z.B. Anschlußstifte, zum Prüfling übertragen oder mit vom Prüfling über die Anschlußelemente zum Prüfgerät übertragenen Ausgangssignale verglichen.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, eine Anordnung zur Erzeugung von Mustern von Prüfsignalen anzugeben, durch die Prüfsignale in hoher Geschwindigkeit erzeugt werden und die trotzdem einen geringen Aufwand erfordert. Diese Aufgabe wird bei einer Anordnung der eingangs angegebenen Art dadurch gelöst, daß jedem Anschlußelement jeweils ein PrüfSignalgenerator zugeordnet ist,
Il 1 The - 7-10.1982
BAD ORIGINAL
% 82 ρ t 9 3 9 DE
in dem die dem.Anschlußelement.zugeordneten Prüfsignale in kodierter Form gespeichert sind, und daß eine Adressensteuerung vorgesehen ist, die die in dem Prüfsignalgenerator gespeicherten kodierten, dem Anschlußelement zugeordneten Prüfsignale in richtiger Reihenfolge adressiert.
Der Aufwand ist besonders gering, wenn eine zentrale Adressensteuerung für alle Prüfsignalgeneratoren vorgesehen ist.
Der Prüfsignalgenerator kann aus einem Speicher bestehen, in dem die dem Anschlußelement zugeordneten kodierten Prüfsignale gespeichert sind und der mit der Adressensteuerung verbunden ist und aus einem Decodierer, der mit dem Speieher verbunden ist und der die codierten Prüfsignale in unccdierte Prüfsignale umwandelt.
Der Speicher kann dann klein gehalten werden, wenn die Prüfsignale im Speicher durch zwei Bit derart kodiert sind, daß das eine Bit angibt, ob der logische Pegel des Prüfsignales gegenüber dem vorausgehenden Pegel wechselt und das zweite Bit angibt, ob der Decodierer am Ausgang diesen Wechsel ausführen soll. Dann müssen im Speicher gleiche kodierte Prüfsignale nur einmal gespeichert sein und die Aufeinanderfolge der Prüfsignale kann durch die in der Adressensteuerung gespeicherten Adressen erfolgen.
Der Aufwand für den Speicher kann noch weiter verringert werden, wenn das zweite Bit "nicht im Speicher der Prüf-Signalgeneratoren, sondern zentral in einem Speicher der Adressensteüerung gespeichert ist.
Zweckmäßig ist es, wenn der Decodierer so aufgebaut ist, daß er sowohl kodierte Prüfsignale decodieren kann, als auch gespeicherte Prüfsignale"unbeeinflußt übertragen kann.
-y- VPA 82 P ί 939 OE
Die Adressensteuerung besteht zweckmäßigerweise aus einem Sequencer und einem vom Sequencer angesteuerten Mikroprogrammspeicher, in dem die Adressen des Speichers so gespeichert sind, daß der Speicher die Prüfsignale in gewünschter Reihenfolge abgibt. Die Reihenfolge'der Adressen im Mikroprogrammspeicher kann jederzeit geändert werden .
Andere Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
An Hand von Ausführungsbeispielen, die in den Figuren dargestellt sind, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigen
Fig. 1 ein Blockschaltbild der Anordnung, Fig. 2 eine erste Ausführungsform eines Decodierers, Fig. 3 eine zweite Ausführungsform des Decodierers, Fig. 4 eine Wahrheitstablle, aus der sich die Funktion der Decodierer ergibt,
Fig. 5 ein Beispiel der Aufeinanderfolge von kodierten PrüfSignalen.
Wie Fig. 1 zeigt, besteht ein Prüfsignalgenerator SCH jeweils aus einem Speicher PSP und einem Decodierer CD. Jeweils für ein Anschlußelement P ist jeweils ein Prüfsignalgenerator vorgesehen. Der Speicher PSP enthält die dem Anschlußelement Pl zugeordneten Prüfsignale in kodierter oder unkodierter Form. Die vom Speicher PSP abgegebenen Prüfsignale werden mit Hilfe des Decodierers CD decodiert und z.B. einer logischen Schaltung TS zugeführt. Der Ausgang der logischen Schaltung TS kann mit einem Sender verbunden sein, der die Prüfsignale auf das Anschlußelement P1 gibt bzw. mit einem Empfänger verbunden sein, der die Ausgangssignale vom Prüfling über das Anschlußelement empfängt und durch Vergleich bewertet. Im
BAD ORfGJMAi/
.-£- VPA 82 P 1939 DE
Ausführungsbeispiel der Fig. 1 ist nur der Sender SG dargestellt, nicht der Empfänger. Im folgenden wird deshalb nur dieser Fall erläutert.
Um die im Speicher PSP enthaltenen kodierten Prüfsignale in richtiger Reihenfolge an das zugeordnete Anschlußelement P abgeben zu können, ist eine Adressensteuerung vorgesehen. Im Ausführungsbeispiel der Fig. 1 ist für alle PrüfSignalgeneratoren SCH eine einzige zentrale Adressensteuerung vorgesehen. Diese besteht aus einem Sequencer SE und einem änderbaren Mikroprogrammspeicher MPS. Im Mikroprogrammspeicher MPS sind die Adressen für die Speicerh PSP der PrüfSignalgeneratoren gespeichert. Der Mikroprogramm-
-r VPA 82 P ί 9 3 9 OE - «-
speicher MPS wird seinerseits von dem Sequencer SE adressiert .
Um die Erzeugung der Adressen zu beschleunigen, kann sowohl zwischen dem Sequencer SE und dem Mikroprogrammspeicher MPS ein Ztfischenregister PR1 als auch am Ende des Mikroprogrammspeichers MPS ein zweites Zwischenregister PR2 angeordnet sein. Auf diese Weise kann vom Sequencer SE bereits die Adresse des nächsten Mikroprogrammwortes im Mikro-Programmspeicher MPS erzeugt werden, während das vorhergehende Mikroprogrammwort erst aus dem Mikroprogrammspeicher MPS ausgelesen wird bzw. das vorhergehende Mikroprogrammwort kann noch im zweiten Zwischenregister PR2 gespeichert sein, während bereits das nächste Mikroprogrammwort aus dem Mikroprogrammspeicher MPS ausgelesen wird- Der Aufbau ^dressensteuerung mit Hilfe eines Sequencers SE, eines Mikroprogrammspeichers MPS und zweier Zwischenregister PR1 und PR2 ist als solcher bekannt. Der Sequencer kann z.B. ein AM2910 von Advanced Micro Devices sein.
Zwischen dem zweiten Zwischenregister PR2 und dem Speicher PSP des Prüfsignalgenerators kann ein Adressenregister ADR angeordnet sein, um in der Gesamtschaltung auftretende Laufzeiten auszugleichen. Das Adressenregister ADR ist jedoch nicht unbedingt notwendig, dessen Funktion kann auch von dem zweiten Zwischenregister PR2 übernommen werden. Sowohl die Adressensteuerung als auch der Prüfsignalgenerator werden mit Hilfe eines Taktes TO gesteuert.
Um gewünschte Prüfsignale über die Anschlußelemente P1 und P2 abzugeben,' adressiert der Sequencer SE den Mikroprogrammspeicher MPS. Dieser gibt die Adressen für den Speicher PSP ab, in dem die Prüfsignale in kodierter Form gespeichert sind. Der Decodierer CD wandelt die kodierten Prüfsignale in unkodierte Prüfsignale um, die über die logische Schaltung TS dem Sender SG zugeführt werden. Der Sender SG
■*- VPA 82 P ί 9 3 9 DE
gibt dann die Prüfsignale am Anschlußelement P1 in einer Form ab, die für den Prüfling geeignet ist. Die Reihenfolge, in der. die Prüfsignale abgegeben werden, wird mit Hilfe des Sequencers SE und des Mikroprogrammspeichers MPS festgelegt.
Fig. 5 zeigt ein Beispiel für die Kodierung der Prüfsignale und für die erforderliche Speicherung der Prüfsignale im Speicher PSP. Es sei angenommen, daß über drei Anschlußelemente P1, P2 und P3 die in Spalte 1 der Figur angegebenen Prüfsignale übertragen werden sollen. Die Aufeinanderfolge der logischen Pegel der Prüfsignale ist wie der Dualcode aufgebaut. Diese Prüfsignale sind nun im Speicher PSP mit Hilfe zweier Bits kodiert. Das eine Bit gibt an, ob der logische Pegel des Prüfsignals sich gegenüber dem logischen Pegel des vorhergehenden Prüfsignals ändert; •dies wird durch das Bit I angegeben. Das andere Bit gibt an, ob der Decodierer CD diesem Wechsel des logischen Pegels ausführen soll; dieses Bit ist in Fig. 5 mit W bezeichnet.
Die kodierten Prüfsignale für die Anschlußelemente P1, P2, P3 ergeben sich aus Fig. 5 und sind mit W1I1, W2I2 und W3I3 benannt. In der ersten Zeile ist der Ausgangszustand dargestellt. Dabei ist der logische Pegel 0. Da im folgenden der Decodierer CD immer einen Wechsel des logischen Pegel ausführen soll, wenn ein solcher vorgelegen hat,ist jeweils das andere Bit W1, W2, W3 gesetzt, also 1. Für das Anschlußelement· P3 ändert sich der logische Pegel in jeder Zeile. Aus diesem Grunde ist 13 immer logisch 1. Für das Anschlußele.ment P2 ändert sich der logische Pegel des Prüfsignals nach jedem zweiten Prüfsignal. Entsprechend ändert sich das Bit 12 ebenfalls nach jedem zweiten Prüfsignal. Schließlich wechselt der logische Pegel für das Anschlußelement P1 nur einmal, nach dem vierten Prüfsignal. Ent-
■£ VPA 82 P ί 9 3 9 OE
sprechend ist für das Bit 11 nur ein Wechsel, nämlich in der fünften Zeile gezeigt.
Werden die Kodierungen für WI auf Gleichheit überprüft, dann stellt man fest, daß die Kodierungen in Zeile 2, 4, .6,8 der Tabelle identisch ist. Diesen Kodierungen kann man somit eine einzige Adresse AD1 zuordnen. Entsprechend ist die Kodierung in Zeile 3 und Zeile 7 identisch. Auch hier ■ kann den beiden Kodierungen eine gemeinsame Adresse AD2 zugeordnet werden. Die weiteren Kodierungen unterscheiden sich, ihnen wird eine Adresse-.ADO und AD3 zugeordnet. Wenn also am den Anschlußelementen P die in Fig. 5 in Spalte angegebenen Prüfsignale erzeugt werden sollen, und zur Kodierung dieser Prüfsignale der in Fig. 5 angegebene Kode benutzt wird, dann müssen im Ausführungsbeispiel der Fig. im Speicher PSP nur vier Codeworte gespeichert werden, nämlich die, denen die Adresse ADO, AD1, AD2 und AD3 zugeordnet sind. Die richtige Reihenfolge der Prüfsignale nach Fig. 5 an den Anschlußelementen P wird dadurch erreicht, daß die Adressen ADO bis AD3 der in Spalte 2 der Fig. 5 angegebenen Reihenfolge von der Adressensteuerung erzeugt und an den Speicher PSP angelegt werden.
Da eine zentrale Adressensteuerung verwendet wird, müssen im Ausführungsbeispiel der Fig. 5 im Speiche· PSP jeweils vier kodierte Prüfzeichen gespeichert sein. Würde eine dezentrale Adressensteuerung verwendet werden, müßten für das Anschlußelement P1 z.B. nur zwei kodierte Prüfzeichen gespeichert werden.
30
Die in den Speichern PSP gespeicherten Prüfsignale, die durch zwei Bit W und I kodiert sind, müssen bevor sie den Anschlußelementen P zugeführt werden, decodiert werden. Dies erfolgt mit Hilfe des Decodierers CD. Er wandelt die logischen Pegel der kodierten Prüfsignaie wieder in den
BAD
-r- VPA 82 P ί 9 3 9 DE
logischen Pegel des Prüfsignales um.
Eine e.rste Schaltungsanordnung für den Decodierer CD ergibt sich aus Fig. 2. Diese besteht aus einem D_Kippglied DK, einem ersten Multiplexer MU1 und einem zweiten Multiplexer MU2. Dem Steuereingang des zweiten Multiplexers MU-2 wird das Bit W, dem Steuereingang des ersten Multiplexers MUl das Bit I zugeführt- Das Bit I liegt weiterhin am ersten Eingang des Multiplexers MU2 an. Der zweite Eingang des Multiplexers MU2 ist mit dem Ausgang des Multiplexers MU1 verbunden- Der Ausgang des Multiplexers MU2 ist an den D Eingang des Kippgliedes DK angeschlossen. Der Ausgang Q des Kippgliedes DK, der den Ausgang für das Prüfsignal bildet, ist mit dem ersten Eingang des Multiplexers MU1 verbunden, der invertierende Ausgang des Kippgliedes DK ist an dem zweiten Eingang des Mulitplexers .MU1 angeschlossen. Dem Takteingang des bistabilen KippgliedesDK wird der Takt TO zugeführt.
Aus der Wahrheitstabelle-der Fig. 4 ergibt.sich, welches Ausgangssignal sich am Ausgang des Decodierers ergibt, wenn die entsprechenden Bit W und I am Eingang anliegen. Der Wert des Ausgangssignals ist in Spalte 3 dargestellt. Wenn das Bit W logisch 0 ist, dann ändert der Decodierer nach 25Fig. 2 den Wert des Bits I nicht. Ist dagegen der logische Wert des Bits W4, dann erscheint am Ausgang des Decodierers der Wert des vorhergehenden Prüfsignales, der noch im Kippglied DK gespeichert ist, wenn das Bit I logisch 0 ist, dagegen der invertierte Wert des vorhergehenden Signales, wenn Bit I den logischen Wert 1 hat.
Mit der Schaltungsanordnung gemäß Fig. 2 ist es somit möglich, das Bit I unverändert zum Ausgang durchzuschalten, es ist aber auch möglich, dieses Bit I, das die Wechselinformation enthält, wieder zu decodieren. Dies geschieht in
VPA
82 P 1 9 3 9 DE
Abhängigkeit des Bits W. Der Ausgang A des Kodierers nach Fig. 2 ist mit der Torschaltung TS verbunden, der weitere Signale S1, S2, S3 und S4 zugeführt werden können. Diese Signale S werden dann zum Sender SG durchgeschaltet,wenn entsprechende Freigabesignale EM1 bis EN4 vorliegen. Tritt dagegen das Signal am Ausgang A auf, dann wird dieses auf jeden Fall zum Sender SG durchgeschaltet, da am anderen Eingang der entsprechenden UND-Schaltung eine logische 1 anliegt. Schließlich wird dem Rücksetzeingang R des Kippgliedes DK ein Rücksetzsignal RT zu Beginn zugeführt, um das Kippglied DK auf einen definierten Ausgangszustand zu bringen.
Eine andere mögliche .Ausführungsform des Decodierers CD ergibt sich aus Fig. 3- Hier ist als Decodierer ein JK Kippglied dargestellt. Dessen Funktion ergibt sich ebenfalls aus der Wahrheitstabelle der Fig. 4 und zwar aus Spalte Das JK Kippgliedgibt an seinem Ausgang B die in Spalte angegebenen logischen Werte ab, wenn die in Spalte 1 und Spalte 2 für W und I anliegenden Werte vorliegen.
9 Patentansprüche
5 Figuren
BAD ORIGINAL

Claims (9)

  1. 82 ρ t g3g
    Patentansprüche
    Anordnung zur Erzeugung von Mustern von PrüfSignalen bei einem Prüfgerät, die über Anschlußelemente einem zu testenden Prüfling zugeführt werden oder mit vom Prüfling abgegebenen über die Anschlußelemente übertragenen Ausgangssignalen verglichen werden, dadurch g e k e η η zeichnet , daß jedem Anschlußelement (P) jeweils ein Prüfsignalgenerator (PSP, CD) zugeordnet ist, in dem die dem Anschlußelement (P) zugeordneten Prüfsignale in kodierter Form gespeichert sind und daß eine Adressensteuerung (SE, MPS) vorgesehen ist, die die im Prüfsignalgenerator gespeicherten kodierten dem Anschlußelement (P) zugeordneten Prüfsignale in der richtigen Reihenfolge adressiert.
  2. 2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch g e k e η η zeichnet , daß nur eine zentrale Adressensteuerung für alle PrüfSignalgeneratoren vorgesehen ist.
  3. 3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, g e k e η η zeichnet durch den Prüfsignalgenerator aus einem Speicher (PSP), in dem die dem Änschlußelement (P) zugeordneten kodierten Prüfsignale gespeichert sind und der mit der Adressensteuerung (SE,MPS) verbunden ist, und aus einem Decodierer (CD), der mit dem Speicher verbunden ist und der die kodierten Prüfsignale in unkodierte Prüfsignale umwandelt.
  4. 4. Anordnung, nach Anspruch 3, dadurch g e k e η η zeichnet , daß die Prüfsignale im Speicher (PSP) durch zwei Bit derart kodiert sind, daß das eine Bit (I) angibt, ob der logische Pegel des Prüfsignals gegenüber dem vorausgehenden Prüfsignal wechselt und das zweite Bit (W) angibt, ob der Decodierer am Ausgang diesen Wechsel ausführen soll.
    -H- VPA 82 P ί 9 3 9 DE
  5. 5 - Anordnung nach Anspruch 3, dadurch g e k e η η zeichnet , daß die Prüfsignale derart kodiert sind, daß das eine Bit (I) angibt, ob der logische Pegel des Prüfsignals gegenüber dem vorausgehenden Prüfsignal wechselt und das zweite Bit (W) angibt, ob der Decodierer am Ausgang diesen Wechsel ausführen soll, und daß das eine Bit (I) im Speicher (PSP) jedes Prüfsignalgenerators (PSP, CD) gespeichert ist, während das andere Bit (W) in einem Speicher (MPS) der Adressensteuerung (SE1MPS) für alle PrüfSignalgeneratoren gemeinsam gespeichert ist.
  6. 6. Anordnung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch ge kennzeichnet , daß der Decodierer (CD) so aufgebaut ist, daß er die im Speicher (PSP) gespeicherten Prüfsignale sowohl decodieren kann als auch unbeeinflußt übertragen kann.
  7. 7. Anordnung nach Anspruch 6 gekennzeich net durch den Decodierer (CD) aus einem D-Kippglied (DK), dessen Takteingang ein Taktsignal (TO) zugeführt wird und das am Ausgang (A) das Prüfsignal abgibt, aus einem ersten Multiplexer (MU1), an dessen Steuereingang (G) das eine Bit (I) anliegt, dessen erster Eingang mit dem Ausgang des D-Kippgliedes (Q) und dessen zweiter Eingang mit dem invertierenden Ausgang des D-Kippgliedes verbunden ist und aus einem zweiten Multiplexer (MU2), an dessen Steuereingang (G) das andere Bit (W) anliegt, dessen Ausgang mit dem D Eingang des D-Kippgliedes (DK) verbunden ist, an dessen einem Eingang das eine Bit (I) anliegt und dessen anderer Eingang mit dem Ausgang des ersten Multiplexers (MU1) verbunden ist.
  8. 8. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch g e k e η η zeichnet , daß der Decodierer (CD) aus einem JK-Kippglied besteht.
    -^ VPA S2P 19 3-9 DE
  9. 9. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
    gekennzeichnet durch die Adressensteuerung aus einem Sequencer (SE) und einem vom Sequencer angesteuerten Mikroprogrammspeicher (MPS), in dem die Adressen für den Speicher (PSP) gespeichert sind.
DE19823237365 1982-10-08 1982-10-08 Anordnung zur erzeugung von mustern von pruefsignalen bei einem pruefgeraet Granted DE3237365A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19823237365 DE3237365A1 (de) 1982-10-08 1982-10-08 Anordnung zur erzeugung von mustern von pruefsignalen bei einem pruefgeraet
US06/859,847 US4692920A (en) 1982-10-08 1986-04-30 Apparatus for generating patterns of test signals

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19823237365 DE3237365A1 (de) 1982-10-08 1982-10-08 Anordnung zur erzeugung von mustern von pruefsignalen bei einem pruefgeraet

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3237365A1 true DE3237365A1 (de) 1984-04-12
DE3237365C2 DE3237365C2 (de) 1987-08-13

Family

ID=6175290

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19823237365 Granted DE3237365A1 (de) 1982-10-08 1982-10-08 Anordnung zur erzeugung von mustern von pruefsignalen bei einem pruefgeraet

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4692920A (de)
DE (1) DE3237365A1 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0165865A2 (de) * 1984-06-14 1985-12-27 Fairchild Semiconductor Corporation Verfahren und Gerät zum Prüfen von integrierten Schaltungen
DE3515802A1 (de) * 1985-05-02 1986-11-06 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zur schnellen erzeugung von grossen pruefdatenwortmengen in einer pruefeinrichtung
DE3900248A1 (de) * 1988-01-06 1989-07-27 Teradyne Inc Steuersystem fuer einen automatischen schaltungstester
US5638051A (en) * 1991-10-25 1997-06-10 Siemens Aktiengesellschaft Method and apparatus for monitoring an electrical drive

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62195572A (ja) * 1986-02-21 1987-08-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体テスト装置
FR2605112B1 (fr) * 1986-10-10 1989-04-07 Thomson Csf Dispositif et procede de generation de vecteurs de test et procede de test pour circuit integre
US4862399A (en) * 1987-08-31 1989-08-29 General Electric Company Method for generating efficient testsets for a class of digital circuits
US4905172A (en) * 1988-07-21 1990-02-27 Tektronix, Inc. Method of generating and transmitting digitally distorted test signals
JP2813237B2 (ja) * 1990-06-08 1998-10-22 株式会社アドバンテスト Ic試験用クロック遅延時間の設定方法
DE4135287A1 (de) * 1991-10-25 1993-04-29 Siemens Ag Verfahren und einrichtung zur ueberpruefung eines elektrischen antriebs
GB2307051B (en) * 1995-11-06 1999-11-03 Marconi Instruments Ltd An equipment for testing electronic circuitry
DE19781563C2 (de) * 1996-11-29 2001-02-15 Advantest Corp Mustergenerator
JP3848255B2 (ja) * 2000-10-18 2006-11-22 株式会社アドバンテスト 電子デバイス設計支援装置、電子デバイス設計支援方法、電子デバイス製造方法、及びプログラム
US20020198696A1 (en) * 2001-06-08 2002-12-26 Hector Sanchez Method and apparatus for designing and making an integrated circuit

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1591223A1 (de) * 1966-10-10 1970-12-23 Ibm Automatisch arbeitendes Pruefgeraet fuer elektronische Schaltkreise
DE2914674A1 (de) * 1978-04-13 1979-10-25 Ncr Co Pruefgeraet zum pruefen gedruckter schaltungskarten

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US932005A (en) * 1903-07-31 1909-08-24 United Shoe Machinery Ab Machine for making lacing-hooks.
US930005A (en) * 1909-02-13 1909-08-03 Jerome Weaver Jr Clothes-marker.
GB1121324A (en) * 1964-09-25 1968-07-24 Solartron Electronic Group An improved method of testing dynamic response
US3924181A (en) * 1973-10-16 1975-12-02 Hughes Aircraft Co Test circuitry employing a cyclic code generator
US4293950A (en) * 1978-04-03 1981-10-06 Nippon Telegraph And Telephone Public Corporation Test pattern generating apparatus
US4204633A (en) * 1978-11-20 1980-05-27 International Business Machines Corporation Logic chip test system with path oriented decision making test pattern generator
JPS5914840B2 (ja) * 1979-10-19 1984-04-06 日本電信電話株式会社 半導体メモリ試験用パタ−ン発生装置
US4414665A (en) * 1979-11-21 1983-11-08 Nippon Telegraph & Telephone Public Corp. Semiconductor memory device test apparatus
GB2070300B (en) * 1980-02-27 1984-01-25 Racal Automation Ltd Electrical testing apparatus and methods
DE3016738C2 (de) * 1980-04-30 1988-06-16 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur Übertragung eines Bitmusterfeldes in einen Speicher und Schaltungsanordnung zur Ausübung des Verfahrens
US4429389A (en) * 1981-05-26 1984-01-31 Burroughs Corporation Test pattern address generator
US4451918A (en) * 1981-10-09 1984-05-29 Teradyne, Inc. Test signal reloader
US4450560A (en) * 1981-10-09 1984-05-22 Teradyne, Inc. Tester for LSI devices and memory devices
US4442519A (en) * 1982-03-05 1984-04-10 International Business Machines Corporation Memory address sequence generator
US4493079A (en) * 1982-08-18 1985-01-08 Fairchild Camera & Instrument Corp. Method and system for selectively loading test data into test data storage means of automatic digital test equipment

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1591223A1 (de) * 1966-10-10 1970-12-23 Ibm Automatisch arbeitendes Pruefgeraet fuer elektronische Schaltkreise
DE2914674A1 (de) * 1978-04-13 1979-10-25 Ncr Co Pruefgeraet zum pruefen gedruckter schaltungskarten

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0165865A2 (de) * 1984-06-14 1985-12-27 Fairchild Semiconductor Corporation Verfahren und Gerät zum Prüfen von integrierten Schaltungen
EP0165865A3 (de) * 1984-06-14 1988-12-14 Fairchild Semiconductor Corporation Verfahren und Gerät zum Prüfen von integrierten Schaltungen
DE3515802A1 (de) * 1985-05-02 1986-11-06 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zur schnellen erzeugung von grossen pruefdatenwortmengen in einer pruefeinrichtung
DE3900248A1 (de) * 1988-01-06 1989-07-27 Teradyne Inc Steuersystem fuer einen automatischen schaltungstester
US5638051A (en) * 1991-10-25 1997-06-10 Siemens Aktiengesellschaft Method and apparatus for monitoring an electrical drive

Also Published As

Publication number Publication date
DE3237365C2 (de) 1987-08-13
US4692920A (en) 1987-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2614000C2 (de) Diagnoseeinrichtung zur Prüfung von Funktionseinheiten
DE69531040T2 (de) Datenübertragungsmodul für zeitmultiplexsteuerungssysteme
DE3237365C2 (de)
DE2023741A1 (de) Testeinrichtung für komplexe, eine Vielzahl von Anschlußstiften aufweisende Funktionslogikschaltungen
DE2256135C3 (de) Verfahren zum Prüfen von monolithisch integrierten Halbleiterschaltungen
DE3515802C2 (de)
DE2725396C3 (de)
EP0186724A1 (de) Prüf- und Diagnoseeinrichtung für Digitalrechner
DE2400064A1 (de) Speicherpruefanordnung und diese verwendendes endgeraetsystem in einem datenverarbeitungssystem
DE2610411A1 (de) Datenverarbeitungsanlage
EP0224707B1 (de) Schaltungsanordnung zum selbsttätigen Überwachen mehrerer analoger elektrischer Signale
EP0325318B1 (de) Vermittlungsanlage
DE2433885C3 (de) Vorrichtung zum Synchronisieren der Eingansschaltung eines elektronischen Testinstruments auf zu prüfende Signalfolgen
DE3727941A1 (de) Integrierte halbleiter-logikschaltungsanordnung
EP0201634B1 (de) Digitaler Wortgenerator zur automatischen Erzeugung periodischer Dauerzeichen aus n-bit-Wörtern aller Wortgewichte und deren Permutationen
DE1191144B (de) Einrichtung zum Nachweis von Fehlern und zum Feststellen des Fehlerortes
DE3819706A1 (de) Vorrichtung zum erzeugen einer linear auftretenden maximallaengencodefolge
EP0508061B1 (de) Schaltungsanordnung zum Testen integrierter Schaltungen
DE2524129C3 (de) Zeitsteuereinheit für die Steuerung logischer Schaltungen
DE2903383C2 (de) Separates Testgerät für adressierbare Schaltungen
EP0013885B1 (de) Verfahren zur Vermeidung von unerwünschten Paritätsfehlersignalen bei der Paritätprüfung eines Registerfeldes und Paritätsprüfeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE2654473A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur uebertragung von sich asynchron aendernden datenwoertern
DE3237208C2 (de)
DE3215074A1 (de) Anordnung zur anpassung einer pruefeinrichtung an einen pruefling
DE10338678B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Testen von zu testenden Schaltungseinheiten

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee