DE10100569A1 - Treiberschaltung für Anzeigevorrichtung - Google Patents
Treiberschaltung für AnzeigevorrichtungInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Ansteuerung von Anzeigevorrichtungen und eine Anzeigevorrichtung mit einer Treiberschaltung. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Testen von Treiberschaltungen. Derartige Treiberschaltungen haben entschiedenen Einfluss auf die Qualität der Anzeigevorrichtungen. Deshalb muss, um die Qualität sicherzustellen, die Treiberschaltung umfassend getestet werden, mit möglichst geringer Testzeit und geringem Aufwand. Um einen derartigen Test zu ermöglichen, ist eine Anordnung zur Ansteuerung von Anzeigevorrichtungen vorgesehen, DOLLAR A mit M Leitungen, die mit A¶N¶ Ausgangsstufen gekoppelt sind, die wenigstens eine Multiplexeinrichtung (4) und wenigstens eine Verstärkereinheit (5) enthalten und die M Leitungen an eine erste Schaltvorrichtung (2) gekoppelt sind, die ein Unterbrechen einer Spannungszufuhr zu den M Leitungen ermöglicht und in wenigstens einer Ausgangsstufe (A¶N¶) eine zweite Schaltvorrichtung (3) vorgesehen ist, um die Ausgangsstufe (A¶N¶) auf ein festlegbares Potential zu schalten. Dadurch wird ein Test ermöglicht, der digital durchführbar ist.
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Ansteuerung von Anzeigevorrichtungen und
eine Anzeigevorrichtung mit einer Treiberschaltung. Des weiteren betrifft die Erfindung
ein Verfahren zum Testen von Treiberschaltungen.
Der Displaytechnik kommt in den nächsten Jahren eine immer wichtigere Rolle in der
Informations- und Kommunikationstechnik zu. Als Schnittstelle zwischen Mensch und
digitaler Welt besitzt die Anzeigevorrichtung eine zentrale Bedeutung für die Akzeptanz
moderner Informationssysteme. Insbesondere transportable Geräte wie z. B. Notebooks,
Telefone, Digitalkameras, Personal Digital Assistent (PDA) sind ohne den Einsatz von
Flachdisplays nicht realisierbar.
Dabei kommt den Aktiv-Matrix-Displays eine ganz besondere Bedeutung zu, da mittels
dieser Anzeigevorrichtung schnelle Bildänderungen, z. B. die Darstellung eines
Mousezeigers, realisierbar sind. Bei dieser Aktiv Matrix LCD-Technik werden die
Bildpunkte oder Pixel aktiv angesteuert. Die dabei am häufigsten eingesetzte Variante
arbeitet mit Dünnschichttransistoren (TFT-LCD). Dabei ermöglichen Transistoren aus
Silizium, die direkt in jeden Bildpunkt integriert sind, das Speichern der Bildsignale im
Bildpunkt. Um unterschiedliche Graustufen bzw. Farben bei der Anzeige von
Informationen zu realisieren, ist es erforderlich die Displays oder Anzeigevorrichtungen
mit entsprechend unterschiedlichen Spannungen über einen großen Spannungsbereich
anzusteuern. Für diese Ansteuerung der Anzeigevorrichtung oder Displays werden
Treiberschaltungen verwendet.
Aktiv-Matrix-Display (TFT-Displays) bestehen typischerweise aus einem Glas mit nach
außen geführten Anschlüssen, an die Treiberschaltungen angeschlossen sind. Diese
Treiberschaltungen wandeln die Bildsignale, die auf einem Display dargestellt werden
sollen. Die Bildinformationen sind in Speichern als digitale Signale gespeichert. Diese
digitalen Signale müssen in analoge Signale umgewandelt werden, so dass mittels einer
analogen Spannung eine entsprechende Lichtstärke zur Anzeige gebracht werden kann. Die
für diese Wandlung erforderlichen Digital-Analog-Konverter müssen digitale Signale in
Spannungen umwandeln, die über einen Bereich von weniger als 20 mV bis zu mehr als 10 V
gehen.
Anzeigeeinheiten werden als Module verkauft, die sich aus dem Aktiv-Matrix TFT-
Displays und der Treiberschaltung zusammensetzen. Der Qualität der Treiber-IC's kommt
dabei eine besondere Bedeutung zu. Da diese Treiberschaltungen mehrere hundert
Anschlüsse der Anzeigevorrichtung treiben müssen, ist es sehr aufwendig, diesen Treiber-
Schaltkreis zu testen. Der Testvorgang für diese Treiberschaltungen hat einen entscheiden
den Einfluss auf die Qualität der Anzeigevorrichtung und somit auch auf den Preis der
Endgeräte. Deshalb sollte die Testzeit so niedrig wie möglich sein. Aufwendige Präzisions
messgeräte für den Testvorgang wirken sich ebenfalls negativ auf den Preis der End
produkte aus. Nur mit einer sehr hohen Qualität jedes einzelnen Treiberschaltkreises
können hohe Ausbeuten von Anzeigemodulen und deshalb auch niedrige Kosten bei den
Endprodukten erreicht werden.
Da Treiberschaltkreise hauptsächlich aus einer großen Anzahl von Digital-Analog-
Konvertern bestehen, kann die Qualität dieser Geräte nur garantiert werden, wenn diese
Digital-Analog-Konverter ernsthaft getestet werden. Aufgrund der Digital-Analog Wand
lung der digitalen Bildsignale lassen sich Standardtestmethoden für digitale Logik für diese
Treiberschaltung nicht anwenden. Da sehr viele unterschiedliche Spannungswerte über
einen großen Bereich erzeugt und getestet werden müssen, ist ein Test für die Treiber
schaltkreise sehr aufwendig.
Einem Treiberschaltkreis werden typischerweise mehrere analoge Spannungen zugeführt,
aus denen Auswahleinheiten Spannungen in Abhängigkeit von den digitalen Bildsignalen
auswählen, die dann zu einem entsprechenden Ausgang des Treiberschaltkreises durchge
schaltet und verstärkt werden. Bspw. enthält ein Treiberschaltkreis 64 Leitungen auf denen
analoge Spannungen anliegen und 400 Ausgangsstufen, wodurch wenigstens 25.600
einzelne analoge Spannungswerte getestet werden müssten.
Ein Test jedes einzelnen analogen Spannungswertes nimmt sehr viel Zeit in Anspruch, da
jeder einzelne Wert programmiert und direkt überprüft werden muss. Jede auswählbare
analoge Spannung muss an jedem Ausgang der Treiberschaltung überprüft werden. Die
hohe Anzahl von Ausgängen eines derartigen Treiberschaltkreises erfordert eine gleich
zeitige parallele Messung von möglicherweise 400 und mehr analogen Ausgängen. Die
Messung von vielen analogen Ausgängen mit einer Genauigkeit von 0,2% des gesamten
Spannungsbereichs erfordert sehr teures Testequipment. Ein derartiger funktioneller Test
führt zu sehr hohen Testkosten und schlägt sich in einer sehr langen Testzeit nieder. Bei
funktionellen Tests, wie dem eben beschriebenen, können auch Fehler auftreten, die bei
der Herstellung der Wafer entstehen, die nicht oder nur zur unzuverlässig detektiert
werden können. Kritische Defekte, wie bspw. Leckströme zwischen den Leitungen, die die
analogen Spannungen führen und den Ausgangsleitungen können nur detektiert werden,
wenn der eine Digital-Analog-Konverter für die M-Leitung eine Spannung führt, die sehr
stark von der Spannung der Ausgangsleitung abweicht. Sogenannte funktionelle Tests sind
bekannterweise nicht so aussagekräftig wie Testverfahren und -anordnungen, bei denen
defektorientiert getestet wird.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb eine Treiberschaltung bereit zu stellen, die innerhalb
kurzer Zeit und mit sehr hoher Fehlerabdeckung zu testen ist.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass eine Anordnung zur Ansteuerung von Anzeigevor
richtungen mit M Leitungen vorgesehen ist, die mit wenigstens einer Multiplexeinrichtung
und an eine erste Schaltvorrichtung gekoppelt sind, die ein Unterbrechen einer Spannungs
zufuhr zu den M Leitungen ermöglicht und mit wenigstens einer an die M Leitungen
gekoppelten zweiten Schaltvorrichtung, mittels derer wenigstens eine der M Leitungen auf
ein festlegbares Potential schaltbar ist.
Grundlegender Gedanke diese erfindungsgemäßen Anordnung ist ein defektorientierter
Test und ein dafür ausgerichtetes Verfahren. Mittels zusätzlicher Testhardware, die der
Ansteuervorrichtung oder Treiberschaltung zugefügt wird, ist es möglich, den Bedarf von
sehr vielen einzelnen analogen Messungen zu vermeiden, wobei die Fehlerabdeckung
jedoch gleich hoch bleibt und sogar verbessert wird.
Dazu wird in die M-Leitungen eine erste Schaltvorrichtung eingefügt. Diese erste Schalt
vorrichtung unterbricht die Spannungszufuhr, so dass eine bereits dort anliegende
Spannung nicht mehr getrieben wird und so lange gehalten wird, bis mögliche Leckströme
oder parasitären Kapazitäten eine Entladung nach sich ziehen. Die analogen Spannungen
auf den M-Leitungen sind über Multiplexeinrichtungen auswählbar. Die Multiplexein
richtungen werden von digitalen Signalen angesteuert. Mittels dieser digitalen Signale, die
die darzustellende Bildinformation enthalten, wird die als idealer Schalter fungierende
Multiplexeinrichtung derart beeinflusst, dass eine ausgewählte Spannung auf den M-
Leitungen zu einem Ausgang N durchgeschaltet wird.
Erfindungsgemäß ist eine zweite Schaltvorrichtung vorgesehen, mittels derer die durch die
Multiplexeinrichtung ausgewählte Spannung auf ein auswählbares Testbezugspotential
schaltbar ist. Dieses auswählbare oder festlegbare Testbezugspotential ist vorzugsweise als
Masse vorgesehen. Diese zweite Schaltvorrichtung verbindet die von der Multiplexein
richtung durchgeschaltete Spannung mit einem festlegbaren Testbezugspotential. Mittels
dieser zweiten Schaltvorrichtung ist es möglich, die nach dem Öffnen der ersten Schaltvor
richtung nicht mehr getriebenen M-Leitungen durch Steuerung der Multiplexeinrichtung
zu der zweiten Schaltvorrichtung durchzuschalten, die die somit ausgewählte Leitung M
auf ein festgelegtes Potential schaltet. Dieses Potential stellt sich im Normalfall auf der
ausgewählten Leitung ein und lässt sich einfach und unaufwendig überwachen. Liegt dieses
festgelegte Potential nicht auf der ausgewählten Leitung an, ist von einer fehlerhafter
Treiberschaltung auszugehen. Dadurch ist ein einfaches Testen auf die Funktionsfähigkeit
der Treiberschaltung möglich. Mögliche Leckströme zwischen unterschiedlichen M-
Leitungen können einfach detektiert werden, da bei Auswahl einer speziellen Leitung MI
und deren Durchschalten auf die zweite Schaltvorrichtung bei Vorliegen eines Leck
stromes, dieser Leckstrom über die zweite Leitung abfließen könnte, so dass beim Über
wachen des Ausgangs N oder der ausgewählten Leitung MI und der mit dieser fehlerhaft
verbundene weiteren Leitung nicht der erforderliche Pegel anliegen würde.
In einer bevorzugten Ausführungsform der erfinderischen Ansteuerungsschaltung sind die
M Leitungen mit AN Ausgangsstufen gekoppelt. In den Ausgangsstufen AN befindet sich
neben der Multiplexeinrichtung auch eine Verstärkereinheit. Dieser Verstärker mit
einstellbarem Verstärkungsfaktor ist hochohmig auf der Eingangsseite ausgelegt, wodurch
es ermöglicht wird, den entsprechenden Ausgang mit entsprechender Stärke zu treiben.
Die zweite Schaltvorrichtung ist vorzugsweise in wenigstens einer Ausgangsstufe ange
ordnet. Dadurch erreicht man, dass die vorhandenen Multiplexeinrichtungen effektiv
genutzt werden.
In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist die erste Schaltvorrichtung derart
ausgeführt, das ein separates Unterbrechen der M Leitungen ermöglicht wird. Dadurch
wird beim Test ein weiterer Freiheitsgrad eingeführt.
Es lassen sich mittels der erfindungsgemäßen Treiberschaltung Leckströme zwischen
einzelnen Leitungen der M-Leitungen detektieren. Ebenso ist eine Fehlauswahl der
Multiplexeinrichtungen detektierbar, bspw. wenn vorgesehen ist, Leitung M1 auszu
wählen, obwohl M2 ausgewählt wurde.
Bei einem zu hohen Durchgangswiderstand eines Schalters in der Multiplexeinrichtung,
lässt sich ebenso feststellen, dass die Spannung der Leitung M nicht oder mit Verzögerung
durchgeschaltet wird. Weiterhin lassen sich Leckströme zwischen einer M-Leitung und
einem Ausgang N detektieren. Dabei erweist sich ein Test insofern als schwierig, da der
Leckstrom nur dann auftritt, wenn die entsprechende Multiplexeinrichtung auch die
entsprechende M-Leitung ausgewählt hat. Mittels dieser zusätzlichen Tests ist eine erhöhte
Testabdeckung möglich.
Erfindungsgemäß werden die M-Leitungen mit einer Spannung getrieben, die bspw. ein
digitales Signal 1 darstellt. Mittels der ersten Schaltvorrichtung werden die M-Leitungen
von der Spannungsversorgung getrennt und in einen Tristate-Zustand versetzt.
Durch die Anordnung der zweiten Schaltvorrichtung in wenigstens einigen der Ausgangs
stufen wird es ermöglicht, alle M-Leitungen der Reihe nach auf ein Testbezugspotential zu
schalten. Nachdem die erste Schaltvorrichtung geöffnet wurde, behalten die M-Leitungen
ihren Spannungswert für eine gewisse Zeit bis interne parasitäre Kapazitäten eine Ent
ladung nach sich ziehen. Demzufolge ist am Ausgang N für diese Zeit der gleiche
Spannungswert messbar, wie auf der Leitung M. Durch das nun folgende Schließen aller
zweiten Schaltvorrichtungen ist es möglich, wenigstens einige die M-Leitungen auf das
Testbezugspotential zu schalten und an den M-Leitungen zu kontrollieren, welche der M-
Leitungen auf Null geschaltet werden. Falls ein Leckstrom zwischen einer auf das Test
bezugspotential geschalteten Leitung und einer nichtgetriebenen Leitung M existiert, wird
die nichtgetriebene Leitung M auch auf das Testbezugspotential geschaltet.
In einer vorzugsweisen Anordnung zum Testen dieser Treiberschaltungen werden in einem
Testmodus die M-Leitungen alle miteinander verbunden und mit einer gemeinsamen
gleichen Spannung getrieben. Nachdem sich eine Spannung auf diesen Leitungen aufge
baut hat, wird die erste Schaltvorrichtung geöffnet und alle Leitungen führen die selbe
Spannung. In den Ausgangsstufen in denen keine zweiten Schaltvorrichtungen angeordnet
sind, lässt sich am Ausgang N die auf den M-Leitungen eingestellte Spannung überprüfen.
An den Ausgängen N der Ausgangsstufen in denen die zweiten Schaltvorrichtungen vor
handen sind und in denen die zweiten Schaltvorrichtungen geschlossen sind, lässt sich
überprüfen, ob die Ausgänge auf das Testbezugspotential geschaltet sind oder nicht.
Gleichzeitig lässt sich an den übrigen nicht mit zweiten Schaltvorrichtungen versehenen
Ausgangsstufen überprüfen, ob auch von diesen Ausgangsstufen die Ausgänge auf das
Testbezugspotential geschaltet werden. Daraus kann man ableiten, dass zwischen
entsprechend ausgewählten Leitungen M ein Kurzschluss vorherrschen könnte.
Vorteil dieser erfindungsgemäßen Anordnung ist, dass die Treiberschaltung für eine
Anzeigeeinrichtung fast ausschließlich digital getestet werden kann, wodurch sich die
Testzeit signifikant verringert. Gleichzeitig benötigt man für einen digitalen Test weitaus
einfachere Test- und Messgeräte als für analoge Messungen. Aufgrund des digitalen
Testsignals lassen sich sehr viele Testzustände realisieren, wodurch eine sehr hohe Fehler
abdeckung erreichbar ist. Aufgrund des digitalen Charakters der Testmethode ist die ganze
Testanordnung sehr robust gegen Störungen durch elektromagnetische Einstrahlung.
Die Aufgabe wird ebenfalls durch eine Anzeigevorrichtung mit einer Treiberschaltung
gelöst, bei der die N-Ausgänge der Treiberschaltung mit N Anschlüssen der Anzeigevor
richtung verbunden sind.
Des weiteren wird die Aufgabe auch durch ein Verfahren zum Testen von Treiber
schaltungen gelöst, bei dem der Treiberschaltung wenigstens eine Spannung auf M
Leitungen zugeführt wird und bei dem die M Leitungen mit einer ersten Schaltvorrichtung
gekoppelt werden und mittels der ersten Schaltvorrichtung die Spannungszufuhr zu den M
Leitungen unterbrochen wird und bei dem mit wenigstens einer Multiplexeinrichtung, die
mit den M Leitungen gekoppelt ist, eine der M Leitungen ausgewählt wird, und bei dem
mit einer zweiten Schaltvorrichtungen die zugeführte Spannung auf der ausgewählten
Leitung auf ein Testbezugspotential geschaltet wird.
Die Erfindung wird nun anhand von in den Zeichnungen dargestellten Ausführungs
beispielen näher beschrieben und erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine Prinzipschaltung einer erfindungsgemäßen Treiberschaltung.
Fig. 2 eine detaillierte Schaltungsanordnung einer erfindungsgemäßen
Treiberschaltung
Fig. 3 eine Anordnung zum Treiben einer Anzeigevorrichtung.
Fig. 1 zeigt die M-Leitungen, die auch als Spannungsbus verstanden werden können. Dabei
umfassen die M-Leitungen bei einem 6 Bit D/A Wandler in der Regel 64 einzelne
Leitungen. Die M-Leitungen sind mit der ersten Schaltvorrichtung 2 gekoppelt. Diese
erste Schaltvorrichtung 2 ermöglicht ein Unterbrechen der Spannungszufuhr zu den M-
Leitungen. An diese M-Leitungen sind N Ausgangsstufen AN angeschlossen, wobei jede
Ausgangsstufe AN mit wenigstens einem Teil der M-Leitungen verbunden ist. In der Regel
sind jedoch alle M-Leitungen mit jeder Ausgangsstufe AN verbunden, da jeder Anschluss
einer Anzeigevorrichtung mit jeder Spannung versorgt werden muss, um in dem ent
sprechenden Anzeigenbereich eine Bildinformation darzustellen. In den Ausgangstufen AN
sind jeweils Multiplexeinrichtungen 4 vorhanden. Diese Multiplexeinrichtungen 4 sind zur
Auswahl einer der anliegenden Spannungen, die über die M-Leitungen zugeführt werden,
vorgesehen. Die Multiplexeinrichtungen 4 sind mit einem Verstärker 5 gekoppelt, der die
ausgewählte Spannung an den Ausgang N weiterleitet. In wenigstens einer Ausgangsstufe
AN ist eine zweite Schaltvorrichtung 3 vorgesehen. Diese zweite Schaltvorrichtung 3 ist
dazu vorgesehen, das zur Ausgangsstufe AN durchgeschaltete Potential auf ein Testbezugs
potential zu schalten. Diese zweite Schaltvorrichtung 3 kann auch in allen Ausgangsstufen
AN angeordnet sein. Ebenso ist es denkbar, dass die zweiten Schaltvorrichtungen 3 in den
Ausgangsstufen AN auf unterschiedliche Testbezugspotentiale schalten. Die zweiten Schalt
vorrichtungen können auch außerhalb der Ausgangsstufen angeordnet sein. Auch die
Multiplexeinrichtungen 4 können außerhalb der Ausgangsstufen angeordnet sein.
In Fig. 2 ist die eben beschriebene Schaltungsanordnung detaillierter dargestellt. Die
Leitungen M1 bis Mi werden von einem Spannungsgenerator 7 mit einer oder mehreren
Spannungen versorgt. Diese Leitungen M1 bis Mi werden allen Ausgangsstufen A1 bis AN
zugeführt. Diese Leitungen M1 bis Mi werden in den Ausgangsstufen jeweils der Multi
plexeinrichtungen 4 zugeführt. Diese Multiplexeinrichtungen 4 schalten in Abhängigkeit
eines digitalen Signals E1 bis EN eine entsprechende Spannung zur Ausgangsstufe AN durch.
Die erste Schaltvorrichtung 2 ist in der Lage die Leitungen M1 bis Mi separat voneinander
zu unterbrechen. Sie ist gegebenenfalls auch in der Lage die Leitungen M1 bis Mi mit
einander zu verbinden und somit zu ermöglichen allen Leitungen M1 bis Mi eine
Spannung zuzuführen.
Fig. 3 zeigt ein Aktiv-Matrix-TFT-Display, welches typischerweise aus einem Displayglas
10 besteht, mit herausgeführten Anschlüssen 13. Die Sourcetreiber 11 und Gatetreiber 12
steuern dabei jeweils die Anschlüsse 13 an. Die Sourcetreiber 11 weisen typischerweise
mehrere hundert Ausgänge auf, mittels derer auf den Anschlüssen 13 am Display 10 ein
analoger Spannungswert eingestellt wird.
Claims (10)
1. Anordnung zur Ansteuerung einer Anzeigevorrichtung
mit M Leitungen, die mit wenigstens einer Multiplexeinrichtung (4) und an eine erste
Schaltvorrichtung (2) gekoppelt sind, die ein Unterbrechen einer Spannungszufuhr zu den
M Leitungen ermöglicht und mit wenigstens einer an die M Leitungen gekoppelten
zweiten Schaltvorrichtung (3), mittels derer wenigstens eine der M Leitungen auf ein
festlegbares Potential schaltbar ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die M Leitungen mit AN Ausgangsstufen gekoppelt sind, die wenigstens eine
Multiplexeinrichtung (4) und wenigstens eine Verstärkereinheit (5) enthalten und in
wenigstens einer Ausgangsstufe (AN) eine zweite Schaltvorrichtung (3) vorgesehen ist, um
die Ausgangsstufe (AN) auf ein festlegbares Potential zu schalten.
3. Anordnung flach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass zweite Schaltvorrichtungen (3) in allen Ausgangsstufen AN enthalten sind.
4. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die von einem digitalen Signal steuerbare Multiplexeinrichtung (4) vorgesehen ist,
eine auf den M Leitungen anliegende Spannung zur Ausgangsstufe AN durchzuschalten.
5. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die zweite Schaltvorrichtung (3) in der Ausgangsstufe (AN) die von der
Multiplexeinrichtung (4) ausgewählte Leitung M auf ein Testbezugspotential schaltet.
6. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die erste Schaltvorrichtung (2) in einem Testmodus die M Leitungen mit einem
gemeinsamen Potential verbindet und von diesem Potential trennt.
7. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass ein Spannungsgenerator wenigstens eine Spannung zur Zuführung zu den M
Leitungen generiert.
8. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Schaltvorrichtungen (2, 3) separat steuerbar sind.
9. Anzeigevorrichtung mit einer Treiberschaltung nach den Ansprüchen 1 bis 8, bei der
die Ausgangsstufen (AN) mit N Anschlüssen einer Anzeigevorrichtung verbunden sind.
10. Verfahren zum Testen einer Treiberschaltung, bei dem der Treiberschaltung
wenigstens eine Spannung auf M Leitungen zugeführt wird und bei der die M Leitungen
mit einer ersten Schaltvorrichtung (2) gekoppelt werden und mittels der ersten
Schaltvorrichtung (2) die Spannungszufuhr zu den M Leitungen unterbrochen wird und
bei dem mit wenigstens einer Multiplexeinrichtung, die mit den M Leitungen gekoppelt
ist, eine der M Leitungen ausgewählt wird,
und bei dem mit einer zweiten Schaltvorrichtungen (3) die zugeführte Spannung auf der
ausgewählten Leitung auf ein Testbezugspotential geschaltet wird.
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