CN100383542C - 检测电路板的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种检测电路板的方法，它是通过微处理器记录合格电路板上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数，掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数；再与通过微处理器记录待检测电路板上所述上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数，所述掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数；并将两者检测数据进行比较，即可判断所检测的电路板是否合格。采用上述技术方案，本发明避免了出现主观产生的误判现象。根据本发明制作的检测装置成本低廉，检测效率高。
Description
技术领域
本发明涉及电子检测技术，具体地说对电路板的检测方法。
背景技术
在电子行业对电路板生产检验过程中，为了判断电路板是否合格，需要设置一道工序检验电路板某几个测试点在上电、断电时的逻辑电平(高、低电平两种状态)及后来的逻辑电平变化和各点变化的先后次序(对先后的时间差精度要求并不很高)。这道工序往往用多个指示灯显示被测点的状态，靠人眼观察灯的状态变化、及各个灯变化次序(即时序)。这种靠人眼观察的方法很容易出现主观误判。
发明内容
本发明要解决的技术问题是靠微处理器监测整个过程，最终输出是否合格的结果，以避免人为误判现象。
实现上述目的的技术方案：一种检测电路板的方法，包括如下步骤：
1)确定测试点；
2)在电路板上选择一个当电路板上电时立即出现高电平、断电时立即出现低电平的信号点作为微处理器的基准信号接入点；
3)将合格电路板上步骤1)所述的各测试点接入微处理器各引脚(P1)和将步骤2)所述信号点接入微处理器作为基准信号，通过微处理器记录合格电路板上各测试点的如下检测数据：上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数，掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数；
4)将待检测电路板上步骤1)所述的各测试点接入微处理器各引脚(P1)和将步骤2)所述信号点接入微处理器作为基准信号，通过微处理器记录待检测电路板上步骤1)所述各测试点的如下检测数据：步骤3)所述上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数，步骤3)所述掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数；
5)在步骤4)进行的过程中，同时将微处理器记录的待检测电路板检测数据与步骤3)记录的合格电路板对应检测数据进行比较；
6)若步骤5)的比较结果不相等，则给出出错信息；否则，继续执行步骤4)，待步骤5)执行完毕，给出合格信息。
采用上述技术方案，本发明有益的技术效果在于：通过用微处理器自动检测电路板各被测点的状态、变化并发出检测信息，避免出现主观产生的误判现象。根据本发明制作的检测装置成本低廉，检测效率高，经济效益明显。
附图说明
图1是一种检测电路板的方法的测试学习模式流程图。
图2是一种检测电路板的方法的测试模式流程图。
图3(a)、(b)、(c)分别是上电“数据表”结构的一种示例。
图4是实现检测电路板的方法的电路原理图。
图5是对应图3的引脚状态变化时序图。
具体实施方式
结合图1-4，一种检测电路板的方法，包括如下步骤：
1)确定测试点8个；
2)在电路板上选择一个当电路板上电时立即出现高电平、断电时立即出现低电平的信号点作为微处理器的基准信号接入点；
3)将合格电路板上步骤1)所述的各测试点接入微处理器各引脚(P10-P17)，将步骤2)所述信号点接入微处理器INT0作为基准信号(NORM)；
4)上电“引脚状态变化次数”存储空间清0，对上电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”存储单元每个字节置OFFH；
5)基准信号上升沿到时，开计时器，取引脚P1检测的测试点电位的变化状态数据(如图3(a)所示)，并保存在存储器第一地址空间，还保存到存储器第二地址空间对应“上电时引脚状态”存储单元；
6)检测是否超出给定的上电学习测试等待时间5秒，若超时，则转步骤10，否则继续顺序执行；
7)取引脚P1数据，判断是否与第一地址空间存储数据相等，若相等则返回上一步执行，否则继续顺序执行；
8)根据不等的位找出状态变化脚，并对该脚对应上电“引脚状态变化次数”内存单元加1(图3(c)所示)，判断是否超出2次，若超出2次，则给出出错信息，否则，将引脚数据传输给第一地址空间单元(图3(c)所示)，顺序执行；
9)并在存储器第一地址空间(根据该脚目前状态变化次数及哪个脚变化)记录下该引脚的上电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”(图3(a)、(b)所示)，转步骤6)；
10)将第一地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”等“数据表”保存到存储器第二地址空间“数据表”存储单元，发上电学习完毕提示信息；
11)对掉电“引脚状态变化次数”存储空间清0，对掉电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”存储单元每个字节置OFFH；
12)当基准信号下降沿到时，开计时器，取引脚(P1)检测的测试点电位的变化状态数据，并分别保存到存储器第一地址空间和存储器第二地址空间对应的“掉电时引脚状态”存储单元；
13)检测是否超出给定的5秒掉电学习测试等待时间，若超时，则转步骤17，否则继续顺序执行；
14)取引脚P1数据，判断是否与第一地址空间存储数据相等，若相等则返回上一步执行，否则继续顺序执行；
15)根据不等的位找出状态变化脚，并对该脚对应掉电“引脚状态变化次数”内存单元加1，判断引脚状态变化次数是否超出2次，若超出2次，则给出出错信息，否则将引脚数据传输给第一地址空间单元，继续顺序执行；
16)在存储器第一地址空间(根据该脚目前状态变化次数及哪个脚变化)记录下该引脚的掉电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”，转步骤13)；
17)将第一地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”等“数据表”保存到存储器第二地址空间“数据表”存储单元，发掉电学习完毕提示信息；
18)将待检测电路板按步骤1)所述的各测试点接入微处理器各引脚(P10-P17)，按步骤2)所述信号点接入微处理器INT0作为基准信号(NORM)；
19)对上电“引脚状态变化次数”存储空间清0，对上电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”存储单元每个字节置OFFH；
20)当基准信号上升沿到时，开计时器，取引脚(P1)数据，并保存在存储器第一地址空间，并与存储器第二地址空间对应“上电时引脚状态”数据比较是否相等，若不相等，则发出出错信息，否则顺序执行；
21)检测是否超出给定的上电测试等待时间5秒，若超时，则发出出错信息，否则继续顺序执行；
22)取引脚P1数据，判断是否与第一地址空间存储数据相等，若相等则返回上一步执行，否则继续顺序执行；
23)根据不等的位找出状态变化脚，并对该脚对应上电“引脚状态变化次数”内存单元加1，判断引脚状态变化次数是否超出2次，若超出2次，则给出出错信息，否则，将引脚数据传输给第一地址空间单元，顺序执行；
24)在存储器第一地址空间(根据该脚目前状态变化次数及哪个脚变化)记录下该引脚的上电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”；
25)将存储器第一地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”与保存到存储器第二地址空间的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”对比，若不相等，则转步骤17)，否则，发合格提示信息，顺序执行下一步骤；
26)对掉电“引脚状态变化次数”存储空间清0，对掉电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”存储单元每个字节置OFFH；
27)当基准信号下降沿到时，开计时器，取引脚(P1)检测的测试点电位的变化状态数据，保存到存储器第一地址空间，并比较存储器第一地址空间与存储器第二地址空间对应的“掉电时引脚状态”存储单元数据是否相等，若不相等，则发出出错信息，否则继续顺序执行；
28)检测是否超出给定的掉电测试等待时间5秒，若超时，则转步骤14，否则继续顺序执行；
29)取引脚(P1)数据，判断是否与第一地址空间存储数据相等，若相等则返回上一步执行，否则继续顺序执行；
30)根据不等的位找出状态变化脚，并对该脚对应掉电“引脚状态变化次数”内存单元加1，判断引脚状态变化次数是否超出2次，若超出2次，则给出出错信息，否则，将引脚数据传输给第一地址空间单元，顺序执行；
31)在存储器第一地址空间(根据该脚目前状态变化次数及哪个脚变化)记录下该引脚的掉电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”；
32) 将第一地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”与存储器第二地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”对比，若不相等，则转步骤24)，否则，发合格提示信息。
在图5中画出了对应于上电时图3(a)、(b)、(c)的引脚P1.0-1.7状态变化时序图，下电时的“数据表”存储结构与之相同。
在实际中，为了进行掉电保护，存储器第一地址空间采用内存储器，存储器第二地址空间采用是外存储器，可将合格电路板上各测试点的检测数据存贮在外存储器上，外存储器优选EEPROM存储器，将待检测电路板上各测试点的检测数据存储在内存储器上。
检测电路板的装置，如图4所示，包括微处理器、外存储器IC2、指示灯(D1、D2)和模式键SW1。IC1为微处理器，振荡外接电路为微处理器提供时钟，微处理器的复位电路为上电瞬间低电平复位，而后5V通过R2对C3充电，IC1的RESET脚变为高电平。IC2为使用I2C总线协议读写的掉电数据不丢失的EEPROM存储器，SCL脚为时钟总线，SDA脚为数据总线，分别接到微处理器P0.1脚和P0.0脚，通过这两个脚完成对存储器的读写，在这里用于保存数据表(见附图3)。显示电路部分D1为模式指示灯，D2为忙指示灯，Q3、Q4构成两个射随器分别驱动D1、D2指示灯。被测信号输入部分IN0～IN7为被监测的逻辑电平输入脚，NORM为基准信号输入脚，IN0～IN7的时序是相对于NORM基准信号来说的。模式键SW1在按下闭合时IC1的13脚得到低电平，松开则得到高电平。发声电路的Q1、Q2、Q3复合管构成射随器，驱动扬声器SP1发出提示声。
工作过程：被测电路板各个测试点输入到微处理器IC1的P1.0～P1.7任意脚(测试点不能超过8个)，在电路板上选择一个当电路板上电时立即出现高电平、断电时立即出现低电平的信号点作为微处理器的基准信号接入点接微处理器IC1的输入脚IN0。按模式键进入学习模式，对合格的电路板上电一瞬间在存储器第二地址空间记录下当时输入到微处理器P1.0～P1.7脚的逻辑状态，如图3(a)所示，同时忙指示灯亮(等待5秒钟学习时间后自动变暗)，接下来在5秒内在存储器第二地址空间记录下P1.0～P1.7各引脚电平变化后的状态及变化时的时间(变化一次记录一次)，如图3(b)所示。如果某引脚电平变化次数超过2次则发出出错提示声(因此本装置限制用于被测电路板上电5秒内测试点电平不再变化且各引脚变化次数上电、断电最多都不超过2次的场合)。如果未发出出错提示声5秒后忙指示灯灭并发出上电学习完毕提示声。此时可以对被测的合格电路板断电，掉电一瞬间在存储器第二地址空间记录下当时输入到微处理器P1.0～P1.7脚的掉电逻辑状态，同时忙指示灯亮。接下来在5秒内在存储器第二地址空间记录下P1.0～P1.7各引脚电平变化后的状态及变化时的时间，如果某引脚电平变化次数超过2次则发出出错提示声，这时应重新学习。如果未发出出错提示声5秒后忙指示灯灭并发出掉电学习完毕提示声，接下来自动返回测试模式。测试模式下过程相似，只是数据记录在内存，再与学习时记录在存储器第二地址空间的数据比较。上电一瞬间在内存记录下当时输入到微处理器P1.0～P1.7脚的上电逻辑状态，与学习时记录在存储器第二地址空间的数据比较，如果不等则发出出错提示声，相等则接下来在内存记录下P1.0～P1.7各引脚电平变化后的状态及变化时的时间(如果某引脚电平变化2次以上则发出出错提示声)，有引脚变化一次就与存储器第二地址空间学习时记录的对应数据表比较一次，一旦数据完全相同则发出上电测试合格提示声，如果5秒过后数据还不相同则发出出错提示声。如果听到上电测试合格提示声便可对被测电路板断电，测试断电时各引脚的状态及其变化过程与上电测试相同。
必须指出，上述实施例只对本发明作出的一个非限定性举例说明。但本领域的技术人员会理解，在没有偏离本发明的宗旨和范围下，可以对本发明作出各种修改、替换和变更。如：上述实施例将引脚状态变化次数设定为2次(这是最常用的情况)，测试等待时间设定为5秒。当合格电路板与上述设定不一致时，可根据需要灵活设定。这些修改、替换和变更仍属本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种检测电路板的方法，包括如下步骤：
1)确定测试点；
2)在电路板上选择一个当电路板上电时立即出现高电平、断电时立即出现低电平的信号点作为微处理器的基准信号接入点；
3)将合格电路板上步骤1)所述的各测试点接入微处理器各引脚P1和将步骤2)所述信号点接入微处理器作为基准信号，通过微处理器记录合格电路板上各测试点的如下检测数据：上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数，掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数；
4)将待检测电路板上步骤1)所述的各测试点接入微处理器各引脚P1和将步骤2)所述信号点接入微处理器作为基准信号，通过微处理器记录待检测电路板上步骤1)所述各测试点的如下检测数据：步骤3)所述上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数，步骤3)所述掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数；
5)在步骤4)进行的过程中，同时将微处理器记录的待检测电路板检测数据与步骤3)记录的合格电路板对应检测数据进行比较；
6)若步骤5)的比较结果不相等，则给出出错信息；否则，继续执行步骤4)，待步骤5)执行完毕，给出合格信息。
2.根据权利要求1所述检测电路板的方法，其特征在于：所述步骤3)记录合格电路板上各测试点的检测数据过程包括：
1)对上电“引脚状态变化次数”存储空间清0，对上电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”存储单元每个字节置0FFH；
2)当基准信号上升沿到时，开计时器，取引脚P1检测的测试点电位的变化状态数据，并保存在存储器第一地址空间，还保存到存储器第二地址空间对应“上电时引脚状态”存储单元；
3)检测是否超出给定的上电学习测试等待时间，若超时，则转步骤7)，否则继续顺序执行；
4)取引脚P1数据，判断是否与第一地址空间存储数据相等，若相等则返回上一步执行，否则继续顺序执行；
5)根据不等的位找出状态变化脚，并对该脚对应上电“引脚状态变化次数”内存单元加1，并将引脚数据传输给第一地址空间单元；
6)并在存储器第一地址空间记录下该状态变化脚的上电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”，转步骤3)；
7)将第一地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”等“数据表”保存到存储器第二地址空间“数据表”存储单元，发上电学习完毕提示信息；
8)对掉电“引脚状态变化次数”存储空间清0，对掉电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”存储单元每个字节置0FFH；
9)当基准信号下降沿到时，开计时器，取引脚P1检测的测试点电位的变化状态数据，并分别保存到存储器第一地址空间和存储器第二地址空间对应的“掉电时引脚状态”存储单元；
10)检测是否超出给定的掉电学习测试等待时间，若超时，则转步骤14，否则继续顺序执行；
11)取引脚P1数据，判断是否与第一地址空间存储数据相等，若相等则返回上一步执行，否则继续顺序执行；
12)根据不等的位找出状态变化脚，并对该脚对应掉电“引脚状态变化次数”内存单元加1，并将引脚数据传输给第一地址空间单元；
13)在存储器第一地址空间记录下该状态变化脚的掉电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”，转步骤10)；
14)将第一地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”等“数据表”保存到存储器第二地址空间“数据表”存储单元，发掉电学习完毕提示信息；
所述权项1中步骤4)记录待检测电路板上各测试点的检测数据过程包括：
15)对上电“引脚状态变化次数”存储空间清0，对上电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”存储单元每个字节置0FFH；
16)当基准信号上升沿到时，开计时器，取引脚P1数据，并保存在存储器第一地址空间，并与存储器第二地址空间对应“上电时引脚状态”数据比较是否相等，若不相等，则发出出错信息，否则顺序执行；
17)检测是否超出给定的上电测试等待时间，若超时，则发出出错信息，否则继续顺序执行；
18)取引脚P1数据，判断是否与第一地址空间存储数据相等，若相等则返回上一步执行，否则继续顺序执行；
19)根据不等的位找出状态变化脚，并对该脚对应上电“引脚状态变化次数”内存单元加1，并将引脚数据传输给第一地址空间单元；
20)在存储器第一地址空间记录下该引脚的上电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”；
21)将存储器第一地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”与保存到存储器第二地址空间的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”对比，若不相等，则转步骤
17)，否则，发合格提示信息，顺序执行下一步骤；
22)对掉电“引脚状态变化次数”存储空间清0，对掉电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”存储单元每个字节置0FFH；
23)当基准信号下降沿到时，开计时器，取引脚P1检测的测试点电位的变化状态数据，保存到存储器第一地址空间，并比较存储器第一地址空间与存储器第二地址空间对应的“掉电时引脚状态”存储单元数据是否相等，若不相等，则发出出错信息，否则继续顺序执行；
24)检测是否超出给定的掉电测试等待时间，若超时，则转步骤14)，否则继续顺序执行；
25)取引脚P1数据，判断是否与第一地址空间存储数据相等，若相等则返回上一步执行，否则继续顺序执行；
26)根据不等的位找出状态变化脚，并对该脚对应掉电“引脚状态变化次数”内存单元加1，并将引脚数据传输给第一地址空间单元；
27)在存储器第一地址空间记录下该引脚的掉电“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”；
28)将第一地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”与存储器第二地址空间存储的“引脚变化后状态”、“引脚变化时的时间”和“引脚状态变化次数”对比，若不相等，则转步骤24)，否则，发合格提示信息。
3.根据权利要求1所述检测电路板的方法，其特征在于：将合格电路板上各测试点的检测数据存贮在外存储器上，将待检测电路板上各测试点的检测数据存储在内存储器上。
4.根据权利要求2所述检测电路板的方法，其特征在于：所述存储器第一地址空间是内存储器，所述存储器第二地址空间是外存储器。
5.根据权利要求2或4所述检测电路板的方法，其特征在于：设置引脚状态变化次数上限值，当引脚状态变化次数超过设定的上限值时，发出出错信息。
6.根据权利要求5所述检测电路板的方法，其特征在于：设置引脚状态变化次数上限值为2次。
7.根据权利要求1-4任意一项所述检测电路板的方法，其特征在于：设置掉电测试等待时间为5秒。
8.根据权利要求3或4所述检测电路板的方法，其特征在于：所述存储器是EEPROM存储器。
9.一种检测电路板的装置，其特征在于：包括微处理器、存储器、扬声器和模式键，微处理器的基准信号来自电路板上电时立即出现高电平、断电时立即出现低电平的信号点，来自电路板上各测试点的检测信号接入微处理器的输入口，微处理器用于将从合格电路板上检测的上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数和掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数存入存储器；并将从待检测电路板上检测的所述上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数和所述掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数与存入存储器的数据进行比较，将比较结果输出给扬声器，模式键，接微处理器用于控制其工作状态。
10.根据权利要求9所述检测电路板的装置，其特征在于：所述微处理器上还接有工作指示灯。
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- 2003-11-07 CN CNB2003101109215A patent/CN100383542C/zh not_active Expired - Fee Related
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