CN109144528B - 一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法及系统 - Google Patents

一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法及系统，该方法包括：检测出SPI Flash芯片的引脚数量，进而根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号，能够实现不需要人为的去查看芯片上的具体型号，实现自动检测出SPI Flash芯片的具体型号，然后自动对该SPI Flash芯片进行测试与读写。

Description

一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法及系统
技术领域
本发明涉及SPI Flash技术领域，尤其涉及一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法及系统。
背景技术
SPI(Serial Peripheral Interface，串行外围设备接口)是一种常见的时钟同步串行通信接口，Flash按接口包括串行Flash。
消费领域，工业领域中，大规模大批量的使用着SPI Flash，在使用过程中需要对SPI Flash做测试与烧录，传统的模式是在测试烧录时，需要人为的去仔细查看芯片上的具体型号，然后在测试烧录系统中选择此芯片型号来做测试烧录，这样存在人为选错型号，看不清型号时不知道怎么选的困扰。
发明内容
本发明提供一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法及系统，能够实现不需要人为的去查看芯片上的具体型号，实现自动检测出SPI Flash芯片的具体型号，然后自动对SPI Flash芯片进行测试与读写。
根据本发明的一个方面，提供一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，包括：
检测出SPI Flash芯片的引脚数量；
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号。
其中，所述检测出SPI Flash芯片的引脚数量，包括：
假设SPI Flash芯片的引脚数量是16脚，在所述SPI Flash芯片的第一引脚上加高电平，其它引脚加低电平，再对所述第一引脚的电平进行检测，如果检测出所述第一引脚的电平没有变化，则检测出所述SPI Flash芯片的引脚数量是8脚，如果检测出所述第一引脚的电平由高变低，则检测出所述SPI Flash芯片的引脚数量是16脚。
其中，所述根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号，包括：
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是8脚时，针对所述SPI Flash芯片引脚的三种排序方式建立三种模型，依次用所述三种模型的脚位分布来给所述SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，在所述每种脚位供电模型中，电压每抬升一个台阶，读取一次所述SPI Flash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据所述唯一编码ID在所述数据库中匹配到所述SPI Flash芯片的具体型号。
其中，所述根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号，包括：
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是16脚时，给所述SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，电压每抬升一个台阶，读取一次所述SPI Flash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据所述唯一编码ID在所述数据库中匹配到所述SPI Flash芯片的具体型号。
其中，在所述根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号之后，还包括：
根据所述在数据库中匹配出的所述SPI Flash芯片的具体型号，自动对所述SPIFlash芯片进行测试与读写。
根据本发明的另一个方面，提供一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，包括：
检测单元、匹配单元；
所述检测单元，用于检测出SPI Flash芯片的引脚数量；
所述匹配单元，用于根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号。
其中，所述检测单元，具体用于：
假设SPI Flash芯片的引脚数量是16脚，在所述SPI Flash芯片的第一引脚上加高电平，其它引脚加低电平，再对所述第一引脚的电平进行检测，如果检测出所述第一引脚的电平没有变化，则检测出所述SPI Flash芯片的引脚数量是8脚，如果检测出所述第一引脚的电平由高变低，则检测出所述SPI Flash芯片的引脚数量是16脚。
其中，所述匹配单元，具体用于：
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是8脚时，针对所述SPI Flash芯片引脚的三种排序方式建立三种模型，依次用所述三种模型的脚位分布来给所述SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，在所述每种脚位供电模型中，电压每抬升一个台阶，读取一次所述SPI Flash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据所述唯一编码ID在所述数据库中匹配到所述SPI Flash芯片的具体型号。
其中，所述匹配单元，具体用于：
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是16脚时，给所述SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，电压每抬升一个台阶，读取一次所述SPI Flash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据所述唯一编码ID在所述数据库中匹配到所述SPI Flash芯片的具体型号。
其中，所述自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，还包括：
读写单元，用于根据所述在数据库中匹配出的所述SPI Flash芯片的具体型号，自动对所述SPI Flash芯片进行测试与读写。
本发明提供的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，包括：检测出SPIFlash芯片的引脚数量，进而根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号，能够实现不需要人为的去查看芯片上的具体型号，实现自动检测出SPI Flash芯片的具体型号，然后自动对该SPI Flash芯片进行测试与读写。
本发明提供的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，包括：检测单元、匹配单元；检测单元，用于检测出SPI Flash芯片的引脚数量；匹配单元，用于根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号；能够实现不需要人为的去查看芯片上的具体型号，实现自动检测出SPI Flash芯片的具体型号，然后自动对SPI Flash芯片进行测试与读写。
附图说明
图1为本发明自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法的流程示意图；
图2为本发明自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明作进一步的详细描述。特别指出的是，以下实施例仅用于说明本发明，但不对本发明的范围进行限定。同样的，以下实施例仅为本发明的部分实施例而非全部实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，能够实现不需要人为的去查看芯片上的具体型号，实现自动检测出SPI Flash芯片的具体型号，然后自动对SPI Flash芯片进行测试与读写。
请参见图1，图1为本发明自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法的流程示意图，本发明自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，包括：
S101：检测出SPI Flash芯片的引脚数量。
其中，该检测出SPI Flash芯片的引脚数量，可以包括：
假设SPI Flash芯片的引脚数量是16脚，在该SPI Flash芯片的第一引脚上加高电平，其它引脚加低电平，再对该第一引脚的电平进行检测，如果检测出该第一引脚的电平没有变化，则检测出该SPI Flash芯片的引脚数量是8脚，如果检测出该第一引脚的电平由高变低，则检测出该SPI Flash芯片的引脚数量是16脚。
S102：根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号。
其中，该根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号，可以包括：
根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是8脚时，针对该SPI Flash芯片引脚的三种排序方式建立三种模型，依次用该三种模型的脚位分布来给该SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，在该每种脚位供电模型中，电压每抬升一个台阶，读取一次该SPI Flash芯片的ID(IDentification，唯一编码)，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据该唯一编码ID在该数据库中匹配到该SPI Flash芯片的具体型号。
其中，该根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号，可以包括：
根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是16脚时，给该SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，电压每抬升一个台阶，读取一次该SPIFlash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据该唯一编码ID在该数据库中匹配到该SPI Flash芯片的具体型号。
其中，在该根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号之后，还可以包括：
根据该在数据库中匹配出的该SPI Flash芯片的具体型号，自动对该SPI Flash芯片进行测试与读写。
本发明提供的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，在8脚的SPI Flash中，有三种排序，我们软件中内建这三种模型，依次用三种模型的脚位分布来给芯片上电，电压可以从1.2V逐渐调整至5V。在每种脚位供电模型中，电压每抬升一个台阶，系统读取一次芯片ID，当读到数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有ID比对，如果正确匹配到数据库中相应ID后，调取相应芯片电气参数进行读写操作，来实现芯片的测试与烧录。
本发明提供的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，16脚的芯片因为目前只有一种脚位分布，所以我们直接给芯片上电，依照8脚位芯片的查找方法找出芯片的ID，以此来实现SPI Flash的具体型号的识别。电压依次用1.8与3.3V两种模式，然后两次读写，找到匹配数据库内的ID，来实现SPI Flash的具体型号的识别。
本发明还提供一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，能够实现不需要人为的去查看芯片上的具体型号，实现自动检测出SPI Flash芯片的具体型号，然后自动对SPI Flash芯片进行测试与读写。
请参见图2，图2为本发明自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统的结构示意图，本发明自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统20，包括：检测单元21、匹配单元22。
检测单元21，用于检测出SPI Flash芯片的引脚数量。
匹配单元22，用于根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号。
可选地，检测单元21，可以具体用于：
假设SPI Flash芯片的引脚数量是16脚，在该SPI Flash芯片的第一引脚上加高电平，其它引脚加低电平，再对该第一引脚的电平进行检测，如果检测出该第一引脚的电平没有变化，则检测出该SPI Flash芯片的引脚数量是8脚，如果检测出该第一引脚的电平由高变低，则检测出该SPI Flash芯片的引脚数量是16脚。
可选地，匹配单元22，可以具体用于：
根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是8脚时，针对该SPI Flash芯片引脚的三种排序方式建立三种模型，依次用该三种模型的脚位分布来给该SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，在该每种脚位供电模型中，电压每抬升一个台阶，读取一次该SPI Flash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据该唯一编码ID在该数据库中匹配到该SPI Flash芯片的具体型号。
可选地，匹配单元22，可以具体用于：
根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是16脚时，给该SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，电压每抬升一个台阶，读取一次该SPIFlash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据该唯一编码ID在该数据库中匹配到该SPI Flash芯片的具体型号。
可选地，本发明自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统20，还可以包括：
读写单元(图中未标示)，用于根据该在数据库中匹配出的该SPI Flash芯片的具体型号，自动对该SPI Flash芯片进行测试与读写。
本发明提供的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，在8脚的SPI Flash中，有三种排序，我们软件中内建这三种模型，依次用三种模型的脚位分布来给芯片上电，电压可以从1.2V逐渐调整至5V。在每种脚位供电模型中，电压每抬升一个台阶，系统读取一次芯片ID，当读到数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有ID比对，如果正确匹配到数据库中相应ID后，调取相应芯片电气参数进行读写操作，来实现芯片的测试与烧录。
本发明提供的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，16脚的芯片因为目前只有一种脚位分布，所以我们直接给芯片上电，依照8脚位芯片的查找方法找出芯片的ID，以此来实现SPI Flash的具体型号的识别。电压依次用1.8与3.3V两种模式，然后两次读写，找到匹配数据库内的ID，来实现SPI Flash的具体型号的识别。
本发明提供的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，包括：检测出SPIFlash芯片的引脚数量，进而根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号，能够实现不需要人为的去查看芯片上的具体型号，实现自动检测出SPI Flash芯片的具体型号，然后自动对该SPI Flash芯片进行测试与读写。
本发明提供的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，包括：检测单元、匹配单元；检测单元，用于检测出SPI Flash芯片的引脚数量；匹配单元，用于根据该检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配该SPI Flash芯片的具体型号；能够实现不需要人为的去查看芯片上的具体型号，实现自动检测出SPI Flash芯片的具体型号，然后自动对SPI Flash芯片进行测试与读写。
在本发明所提供的几个实施方式中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施方式仅仅是示意性的，例如，模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。
另外，在本发明各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本发明各个实施方式方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅为本发明的部分实施例，并非因此限制本发明的保护范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效装置或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，其特征在于，包括：
检测出SPI Flash芯片的引脚数量，包括：
假设SPI Flash芯片的引脚数量是16脚，在所述SPI Flash芯片的第一引脚上加高电平，其它引脚加低电平，再对所述第一引脚的电平进行检测，如果检测出所述第一引脚的电平没有变化，则检测出所述SPIFlash芯片的引脚数量是8脚，如果检测出所述第一引脚的电平由高变低，则检测出所述SPI Flash芯片的引脚数量是16脚；
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号，包括：
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是8脚时，针对所述SPI Flash芯片引脚的三种排序方式建立三种模型，依次用所述三种模型的脚位分布来给所述SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，在所述每种脚位供电模型中，电压每抬升一个台阶，读取一次所述SPI Flash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据所述唯一编码ID在所述数据库中匹配到所述SPI Flash芯片的具体型号。
2.如权利要求1所述的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，其特征在于，所述根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号，包括：
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是16脚时，给所述SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，电压每抬升一个台阶，读取一次所述SPIFlash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据所述唯一编码ID在所述数据库中匹配到所述SPI Flash芯片的具体型号。
3.如权利要求1或2所述的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的方法，其特征在于，在所述根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号之后，还包括：
根据所述在数据库中匹配出的所述SPI Flash芯片的具体型号，自动对所述SPI Flash芯片进行测试与读写。
4.一种自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，其特征在于，包括：
检测单元、匹配单元；
所述检测单元，用于检测出SPI Flash芯片的引脚数量，具体用于：假设SPI Flash芯片的引脚数量是16脚，在所述SPI Flash芯片的第一引脚上加高电平，其它引脚加低电平，再对所述第一引脚的电平进行检测，如果检测出所述第一引脚的电平没有变化，则检测出所述SPI Flash芯片的引脚数量是8脚，如果检测出所述第一引脚的电平由高变低，则检测出所述SPIFlash芯片的引脚数量是16脚；
所述匹配单元，用于根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量，通过逐级加电试探的方式读取芯片的ID号码，在数据库中匹配所述SPI Flash芯片的具体型号，具体用于：根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是8脚时，针对所述SPI Flash芯片引脚的三种排序方式建立三种模型，依次用所述三种模型的脚位分布来给所述SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，在所述每种脚位供电模型中，电压每抬升一个台阶，读取一次所述SPI Flash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据所述唯一编码ID在所述数据库中匹配到所述SPI Flash芯片的具体型号。
5.如权利要求4所述的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，其特征在于，所述匹配单元，具体用于：
根据所述检测出的SPI Flash芯片的引脚数量是16脚时，给所述SPI Flash芯片上电，电压从第一预设阈值逐渐调整到第二预设阈值，电压每抬升一个台阶，读取一次所述SPIFlash芯片的唯一编码ID，当读到的数据不为全0或1时，停止调整电压，并将读取到的数据与数据库中已有唯一编码ID比对，如果正确匹配到数据库中相应唯一编码ID，则根据所述唯一编码ID在所述数据库中匹配到所述SPI Flash芯片的具体型号。
6.如权利要求4或5所述的自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，其特征在于，所述自动检测引脚识别SPI Flash具体型号的系统，还包括：
读写单元，用于根据所述在数据库中匹配出的所述SPI Flash芯片的具体型号，自动对所述SPI Flash芯片进行测试与读写。
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